JP2017096920A - 光学式測定プローブ較正 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- タッチ面(4)を備えかつ変位し得るタッチエレメント(3)を有する触覚式測定プローブ(2)の、信号をトリガするタッチ変位ITrを測定する較正装置(1)であって、
有利にはカメラ又はレーザ測定装置でありかつ前記タッチエレメント(3)の前記タッチ面(4)を検出する視野(9)を備えた検出器(5)と、基準面(8)を備えた基準エレメント(7)と、計算ユニット(6)とを含む較正装置(1)において、
前記タッチエレメント(3)の前記タッチ面(4)と、前記基準面(8)とが接触して信号がトリガされる際に、前記タッチ面(4)又は当該タッチ面(4)の複数の部分が、前記検出器(5)の前記視野(9)に入るように、前記基準エレメント(7)の前記基準面(8)が、前記検出器(5)の前記視野(9)に対して配置されており、
前記検出器(5)及び前記計算ユニット(6)は、前記タッチ面(4)の検出した部分から、前記タッチエレメント(3)の正確な位置を計算することができる、ことを特徴とする較正装置(1)。 - 前記基準エレメント(7)又は当該基準エレメント(7)の前記基準面(8)は、前記検出器(5)の前記視野(9)内又は当該視野(9)外に配置されている、
請求項1に記載の較正装置(1)。 - 前記基準エレメント(7)には1つ以上のノズル(10)が備え付けられており、
当該ノズル(10)は有利には前記基準面(8)に配向されている、
請求項1又は2に記載の較正装置(1)。 - 前記タッチエレメント(3)又は当該タッチエレメント(3)の前記タッチ面(4)は、球状又は頭蓋冠状に形成されている、
請求項1から3までのいずれか1項に記載の較正装置(1)。 - 前記較正装置(1)は付加的に工具、特にフライス工具の位置も検出して計算することが可能である、
請求項1から4までのいずれか1項に記載の較正装置(1)。 - 工作機械(11)用の座標測定システム(15)であって、請求項1から5までのいずれか1項に記載の較正装置(1)と、変位し得るタッチエレメント(3)及び当該タッチエレメント(3)に対応付けられているタッチ面(4)を備えた、前記工作機械(11)のツールヘッド(12)に緊締可能な触覚式測定プローブ(2)とを有し、
前記タッチエレメント(3)の、信号をトリガする前記タッチ変位ITrは、前記測定プローブの長手方向軸(14)の方向、当該方向に対して垂直な方向、又は、前記長手方向軸(14)に対して角度(α)だけ傾けた方向に行われる、
ことを特徴とする、工作機械(11)用の座標測定システム(15)。 - 前記タッチエレメント(3)は、押圧力又は引張力によって変位可能である、
請求項6に記載の、較正装置(1)を備えた工作機械(11)用の座標測定システム(15)。 - 前記計算ユニット(6)は、前記検出器(5)によって求めた前記タッチエレメント(3)の位置と、前記ツールヘッド(12)の位置とに基づいて、前記タッチエレメント(3)の、前記信号をトリガする前記タッチ変位ITrを計算することができる、
請求項6又は7に記載の、較正装置(1)を備えた工作機械(11)用の座標測定システム(15)。 - 請求項6から8までのいずれか1項に記載の座標測定システム(15)用の測定方法であって、
前記測定プローブ(2)の、信号をトリガする前記タッチ変位ITrを測定するため、まず前記測定プローブ(2)の前記タッチエレメント(3)と、前記基準エレメント(7)の前記基準面(8)とを接触させて、接触信号がトリガされるようにし、
つぎに前記座標測定システム(15)により、前記測定プローブ(2)の既知の長さに基づき、かつ、前記ツールヘッド(12)における前記測定プローブ(2)の緊締点(17)の位置と、前記較正装置(1)の前記検出器(5)及び前記計算ユニット(6)によって求めた、前記タッチエレメント(3)の位置とから、前記測定プローブ(2)の前記タッチ変位ITrを計算する、
座標測定システム(15)用の測定方法。 - 信号をトリガする前記タッチ変位ITrの測定の前に、前記測定プローブ(2)の長さをつぎのようにして求める、すなわち、
前記タッチエレメント(3)を他の対象体に接触させることなく、当該タッチエレメント(3)の前記タッチ面(4)又は当該タッチ面(4)の複数の部分を前記検出器(5)の前記視野(9)に入れ、
前記検出器(5)及び前記計算ユニット(6)により、前記タッチ面(4)の検出した部分から、前記タッチエレメント(3)の正確な位置を計算し、
前記計算ユニット(6)により、前記タッチエレメント(3)の求めた前記位置と、前記ツールヘッド(12)における前記測定プローブ(2)の前記緊締点(17)の位置とに基づいて、前記測定プローブ(2)の長さを計算する、
請求項9に記載の、座標測定システム(15)用の測定方法。 - 前記ツールヘッド(12)に前記測定プローブ(2)を新たに緊締する際に、変位し得る前記タッチエレメント(3)の位置を新たに検出する、
請求項9又は10に記載の、座標測定システム(15)用の測定方法。 - 請求項1から5までのいずれか1項に記載の較正装置(1)又は請求項6から8までのいずれか1項に記載の座標測定システム(15)を備えた工作機械(11)、特にフライス盤又は放電加工機械。
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