JP2017031341A - 半導体接着用熱硬化型樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】(A)常温で液状であり、主鎖に脂肪族炭化水素基を有するビスマレイミド樹脂と、(B)アリル化ビスフェノールとエピクロルヒドリンとの重合物であるアリル化エポキシ樹脂と、(C)硬化剤と、(D)充填材と、(E)脂肪酸と、を必須成分とし、(A)成分と(B)成分との質量比(A)/(B)が50/50〜95/5であり、(E)成分の配合量が(A)成分と(B)成分の合計100質量部に対して、0.1〜0.5質量部である半導体接着用樹脂組成物、及び該半導体接着用樹脂組成物を用いて得られた半導体装置。
【選択図】図1
Description
本発明で使用される(A)成分は、常温で液状であり、主鎖に脂肪族炭化水素基を有するビスマレイミド樹脂であり、2つのマレイミド基を連結する主鎖となる基として、炭素数が1以上の脂肪族炭化水素基を有して構成されるものである。ここで、脂肪族炭化水素基は、直鎖状、分枝鎖状及び環状のいずれの形態でもよく、炭素数が6以上であることが好ましく、炭素数が12以上であることがより好ましく、炭素数が24以上であることが特に好ましい。また、この脂肪族炭化水素基はマレイミド基に直接結合していることが好ましい。
kとしては、2または3が好ましく、3がより好ましい。
本発明の半導体装置は、上記半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を介して、半導体素子を半導体素子支持部材上に接着、固定してなるものである。本発明の半導体装置は、公知の方法により製造でき、例えば、上記した本発明の半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を介して半導体素子をその支持部材であるリードフレームにマウントし、半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を加熱硬化させた後、リードフレームのリード部と半導体素子上の電極とをワイヤボンディングにより接続し、次いで、これらを封止樹脂により封止して製造することができる。
表1及び2に記載の配合となるように各成分を混合し、ロールで混練して半導体接着用のペースト状の熱硬化型樹脂組成物を製造した。なお、この実施例及び比較例で用いた材料は以下の通りである。
(B)成分:ジアリルビスフェノールAジグリシジルエーテル型エポキシ樹脂(日本化薬株式会社製、商品名:RE−810NM;エポキシ当量 223、加水分解性塩素150ppm(1N KOH−エタノール、ジオキサン溶媒、還流30分)
(D)成分:銀粉 (福田金属箔粉株式会社製、商品名:Ag−HWQ5.0;平均粒径5μm、球状)
(E)成分:(E−1)オレイン酸、(E−2)ステアリン酸、(E−3)ラウリン酸(以上、東京化成工業株式会社製)、
チクソ剤(2):脂肪酸アミド KD2(クローダジャパン社製、商品名)
カップリング剤:KBM−4803(信越化学工業株式会社製、商品名;グリシドキシオクチルトリメトキシシラン)
希釈剤:FA−513M(日立化成工業株式会社製、商品名;ジシクロペンタニルメタクリレ−ト)
[粘度]
東機産業株式会社製のE型粘度計(3°コーン)を用いて、25℃、0.5min−1の条件で粘度を測定した。
[チクソ性]
東機産業株式会社製のE型粘度計(3°コーン)を用いて、25℃、0.5min−1の条件で粘度η0.5を測定した。さらに25℃、5min−1の粘度η5.0を測定し、0.5min−1での粘度との比(η0.5/η5.0)からチクソ性を求めた。
調製後1日冷凍(−20度)保管した半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を25℃環境下にて1〜2時間解凍して測定した粘度η0と、常温で72時間保管した後の粘度η72をそれぞれ3°コーンのE型粘度計を用いて、25℃、0.5min−1の条件で測定した。得られた粘度から、下記式により粘度変化率を算出し、下記基準で保存安定性を判定した。
(粘度変化率)=(η72−η0)/η0×100(%)
○:±5%以内(良い)
△:±10%以内
×:±10%以上(悪い)
銅フレーム上にペーストを1mm3塗布し、すぐにプレパラート(18mm□ガラス板)をペーストの上に被せ、20gの加重を10秒間かけた際の、ペーストの広がり面積の直径を測定し、下記の判断基準で評価した。なお、評価測定は25℃条件で行った。
○:7mm以上(良い)
△:5mm以上7mm未満
×:5mm未満(悪い)
4mm×4mmのシリコンチップ(厚み300μm)をマウントした際の、フィレットの高さを計測し、次の基準により評価した。
○:シリコンチップ厚の75%未満
△:シリコンチップ厚の75%以上
×:シリコンチップ厚の100%以上
シリンジに各例の半導体接着用樹脂組成物を10g充填し、武蔵エンジニアリング社製のショットマスターを用い、温度25℃、湿度35%RH、ニードル径φ=0.3mm、吐出圧0.8kgf、ギャップ100μmの条件で、銅フレーム上に対するディスペンス試験を行った。光学顕微鏡を用いて100ショット後の糸引きによる角倒れ及び、シリンジ詰まり又は液ダレによる吐出なしの吐出不良数を測定した。作業性を下記に示す式より算出し、判定した。
(作業性)=吐出不良数/100×100(%)
○:5%未満(良い)
△:5%以上10%未満
×:10%以上(悪い)
6mm×6mmのシリコンチップを、半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を用いて銅フレーム上にマウントし、170℃で60分間加熱硬化させた。硬化後に垂直方向に引張り、接着強度測定装置を用い、260℃環境下での接着強度を測定した。
[吸湿後熱時接着強度]
6mm×6mmのシリコンチップを、半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を用いて銅フレーム上にマウントし、170℃で60分間加熱硬化させた。得られた半導体装置を、85℃、相対湿度85%、168時間で吸湿処理した後に、垂直方向に引張り、接着強度測定装置を用い、260℃環境下での接着強度を測定した。
4mm×4mmのシリコンチップを得られた樹脂組成物を用いて銅フレーム上にマウントし、オーブンを使用し170℃で60分間加熱硬化(OV硬化)させた。
これを、京セラケミカル(株)製のエポキシ樹脂封止材(商品名:KE−G3000D(K))を用い、下記の条件で成形したパッケージを85℃、相対湿度60%、168時間の吸湿処理を施した後、IRリフロー処理(260℃、10秒)を行い、パッケージの外部クラック(パッケージ表面のクラック)の発生の有無を顕微鏡(倍率:15倍)で観察し、その発生数を調べた。また、パッケージの内部クラックの発生数を超音波顕微鏡で観察した。5個のサンプル(N=5)について、外部クラック、内部クラックの何れかが発生したサンプル数の合計をクラックの発生したサンプル数とし、表1及び表2に示す。
チップサイズ:4mm×4mm(表面アルミニウム配線のみ)
リードフレーム:銅
封止材の成形:175℃、1分間
ポストモールドキュアー:175℃、6時間
Claims (6)
- (A)常温で液状であり、主鎖に脂肪族炭化水素基を有するビスマレイミド樹脂と、(B)アリル化ビスフェノールとエピクロルヒドリンとの重合物であるアリル化エポキシ樹脂と、(C)硬化剤と、(D)充填材と、(E)脂肪酸と、を必須成分とし、
前記(A)成分と前記(B)成分との質量比(A)/(B)が50/50〜95/5であり、
前記(E)成分の配合量が前記(A)成分と前記(B)成分の合計100質量部に対して、0.1〜0.8質量部であることを特徴とする半導体接着用熱硬化型樹脂組成物。 - 前記(D)成分が、銀粉であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の半導体接着用熱硬化型樹脂組成物。
- 前記(E)成分が、ステアリン酸、オレイン酸及びラウリン酸から選択される少なくとも1種であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の半導体接着用熱硬化型樹脂組成物。
- 請求項1乃至5のいずれか1項記載の半導体接着用熱硬化型樹脂組成物を介して、半導体素子を半導体素子支持部材上に接着してなることを特徴とする半導体装置。
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