JP2016176800A - 変位又はひずみ算出プログラム、及び変位又はひずみ測定方法 - Google Patents
変位又はひずみ算出プログラム、及び変位又はひずみ測定方法 Download PDFInfo
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Abstract
Description
(1)主に画像のみを利用するため、ひずみゲージに比べて広い範囲を一度に、しかも容易に、コンクリート構造物等の変位やひずみを求めることができる。
(2)従来に比べ探索範囲が極めて小さいことから、計算時間が著しく圧縮され、すなわち計算に掛かるコストを大幅に抑えることができる。
(3)計算時間は短縮されても、従来と同等の精度でひずみ等を求めることができる。
20 画像
21 変形前画像
22 変形後画像
31 変形前角点
32 変形後角点主領域
40 主領域
51 変形前標点
52 変形後標点
60 サブセット
70 探索領域
Claims (5)
- 対象物の変形前後の画像を比較することで該対象物の変位又はひずみを求める機能を、コンピュータに実行させるプログラムにおいて、
変形前の画像内にある3以上の特徴点を、特定する変形前特徴点認識処理と、
3以上の前記特徴点で形成される領域内にある標点を含む、複数の画素からなるサブセットを作成するサブセット作成処理と、
変形後の画像内にある3以上の前記特徴点を、特定する変形後特徴点認識処理と、
対応する変形前後の前記特徴点を比較することによって、該特徴点の変位を求める特徴点変位算出処理と、
3以上の前記特徴点の変位に基づいて、変形後の画像内に前記標点を内挿する変形後標点内挿処理と、
変形後の画像内における前記標点位置に基づいて、探索領域を設定する探索領域設定処理と、
前記サブセット内の基準点を前記探索領域内で移動させながら、該サブセットの画像と最も近似するサブセット相当領域を、変形後の画像から探索するサブセット相当領域探索処理と、
前記サブセットの位置と前記サブセット相当領域の位置と、に基づいて前記対象物の変位又はひずみを求める変位又はひずみ算出処理と、を前記コンピュータに実行させる機能を備えた、ことを特徴とする変位又はひずみ算出プログラム。 - 前記サブセット相当領域内で、前記標点の位置を推定する変形後標点推定処理を、前記コンピュータに実行させる機能をさらに備え、
前記変形後標点推定処理によって推定された前記標点の位置が、前記サブセット相当領域の周縁にあるときは、前記探索領域を拡張して、再度前記サブセット相当領域探索処理を実行させる、ことを特徴とする請求項1記載の変位又はひずみ算出プログラム。 - 前記探索領域設定処理では、前記サブセットよりも小さい領域で前記探索領域を設定する、ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の変位又はひずみ算出プログラム。
- 対象物の変形前後の画像を比較することで該対象物の変位又はひずみを測定する方法において、
変形前の画像内にある3以上の特徴点を、抽出する変形前特徴点抽出工程と、
3以上の前記特徴点によって囲まれる主領域を形成するとともに、該主領域内にある標点を特定し、該標点を含んで複数の画素からなるサブセットを作成するサブセット作成工程と、
変形後の画像内にある3以上の前記特徴点を、抽出する変形後特徴点抽出工程と、
対応する変形前後の前記特徴点を比較することによって、該特徴点の変位を求める特徴点変位算出工程と、
3以上の前記特徴点の変位に基づいて、変形後の画像内に前記標点を内挿する変形後標点内挿工程と、
変形後の画像内における前記標点位置に基づいて、探索領域を設定する探索領域設定工程と、
前記サブセット内の基準点を前記探索領域内で移動させながら、該サブセットの画像と最も近似するサブセット相当領域を、変形後の画像から探索するサブセット相当領域探索工程と、
前記サブセットの位置と前記サブセット相当領域の位置と、に基づいて前記対象物の変位又はひずみを求める変位又はひずみ算出工程と、を備えたことを特徴とする変位又はひずみ測定方法。 - 前記サブセット相当領域内で、前記標点の位置を推定する変形後標点推定工程を、さらに備え、
前記変形後標点推定工程によって推定された前記標点の位置が、前記サブセット相当領域の周縁にあるときは、前記探索領域を拡張して、再度前記サブセット相当領域探索工程を行う、ことを特徴とする請求項4記載の変位又はひずみ測定方法。
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CN117490579A (zh) * | 2024-01-03 | 2024-02-02 | 苏州大学 | 一种基于图像视觉处理的基坑位移监测*** |
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CN104359406A (zh) * | 2014-10-16 | 2015-02-18 | 浙江大学 | 一种准分布式结构位移光学测量方法 |
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