JP2016175781A - 誘電体磁器組成物および電子部品 - Google Patents
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Abstract
Description
(Ba1−x−y ,Cax ,Sry )m (Ti1−z−a ,Zrz ,Sna )O3の組成式で表される第1主組成物と、
(Ba1−α,Srα)nTiO3 の組成式で表わされる第2主組成物と、
酸化ビスマスからなる第1副成分と、を含有する誘電体磁器組成物であって、
0.01≦x≦0.30
0<y≦0.1
0.04≦z≦0.2
0≦a≦0.2
0.04≦z+a≦0.3
0≦α≦0.1
であり、
前記第1主組成物の含有量と前記第2主組成物の含有量との和を100重量部とし、前記第2主組成物の含有量をA重量部、前記第1副成分の含有量をB1重量部とする場合に、
5≦A≦40
0.97≦{(100−A)×m+A×n}×0.01≦1.03
0.3≦B1≦3
である。
図1に示すように、本発明の実施形態に係るセラミックコンデンサ2は、誘電体4と、その対向表面に形成された一対の電極6、8とを有する構成となっている。セラミックコンデンサの形状は、目的や用途に応じて適宜決定すればよいが、誘電体4が円板形状となっている円板型のコンデンサであることが好ましい。また、そのサイズは、目的や用途に応じて適宜決定すればよい。
電極6、8は、導電材で構成される。端子電極6、8に用いられる導電材は、特に限定されず、用途等に応じて適宜決定すればよい。前記導電材としては、たとえば、Ag、Cu、Ni等が挙げられる。
セラミックコンデンサ2の誘電体4は、本発明の実施形態に係る誘電体磁器組成物により構成される。誘電体4の厚みは、特に限定されず、用途等に応じて適宜決定すれば良い。
次に、セラミックコンデンサ2の製造方法について説明する。
まず、焼成後に図1に示す誘電体4を形成することとなる誘電体磁器組成物粉末を製造する。
焼成後の組成が表1、表2に示す組成となるように、前記主組成物原料を秤量した。秤量後に各原料を配合した。配合は、ボールミルで湿式混合撹拌を3時間行うことで実施した。湿式混合撹拌後の配合物を脱水乾燥した。脱水乾燥後に1170〜1210℃で仮焼成し、第1主組成物仮焼粉を得た。
焼成後の組成が表1、表2に示す組成となるように、前記主組成物原料を秤量した。秤量後に各原料を配合した。配合は、ボールミルで湿式混合撹拌を3時間行うことで実施した。湿式混合撹拌後の配合物を脱水乾燥した。脱水乾燥後に1170〜1210℃で仮焼成し、第2主組成物仮焼粉を得た。
前記焼結体の寸法および重量から、焼結体密度を算出した。焼結体密度が5.5g/cm3以上の場合を焼結性が良好であるとした。表1、2では、焼結体密度が5.5g/cm3 以上の場合を○、5.5g/cm3 未満の場合を×とした。基準を5.5g/cm3 としたのは、焼結体密度が5.5g/cm3 未満の場合に焼結体素地の強度が著しく低下してしまうためである。なお、焼結体密度が5.5g/cm3未満の試料については、以下の測定は不要であるとして実施しなかった。
比誘電率εは、前記コンデンサ試料に対し、基準温度20℃において、デジタルLCRメータにて、周波数1kHz、入力信号レベル(測定電圧)1.0Vrmsの条件下で測定された静電容量から算出した(単位なし)。比誘電率は高いほうが好ましく、本実施例では、8000以上を良好とした。
誘電損失(tanδ)は、前記コンデンサ試料に対し、基準温度20℃において、デジタルLCRメータにて、周波数1kHz、入力信号レベル(測定電圧)1.0Vrmsの条件下で測定した。誘電損失は低いほうが好ましく、本実施例では1.5%以下を良好とした。
交流破壊電圧(AC−Eb)は、前記コンデンサの試料の両端に交流電界を100V/sで徐々に印加し、100mAのもれ電流が流れた時点での電圧を測定し、単位厚み当たりの交流破壊電圧を求めた。交流破壊電圧は高いほうが好ましく、本実施例では、4.0kV/mm以上を良好とした。
前記コンデンサ試料に対し、−25℃〜85℃において、デジタルLCRメータにて、周波数1kHz、入力信号レベル(測定電圧)1Vrmsの条件で静電容量を測定し、基準温度20℃における静電容量に対する−25℃での静電容量の変化率および85℃での静電容量の変化率を算出した。本実施例ではE特性を満たす+20%〜−55%を好ましい範囲とした。
前記コンデンサ試料を、温度170℃雰囲気中で50Hzの交流電圧を誘電体1mmあたり3kV印加される状態にした。この状態で24時間保持した後に、上記の比誘電率、誘電損失、交流破壊電圧、温度特性を測定した。
試料4について焼結品を鏡面研磨し、EPMAで観察し、Ba、Ca、Ti、Zr、Zn、Bi等のマッピング分析を行った。EPMAの測定結果をもとに作成した試料4の誘電体の要部拡大断面図の概略図が図2である。BaおよびTiが存在する部分のうち、CaおよびZrが存在する部分を第1主組成物12が存在する部分とした。BaおよびTiが存在する部分のうち、CaおよびZrが存在しない部分を第2主組成物14が存在する部分とした。第1主組成物12、第2主組成物14のいずれとも異なる部分をその他の組成物16が存在する部分とした。その他の組成物16としては、たとえば副成分の偏析粒子等が挙げられる。なお、図2では粒界の記載を省略した。
試料1〜8より、第1主組成物の組成式中のx(Caの含有量)が0.01≦x≦0.30の場合(試料2〜7)は、xが0の場合(試料1)に比べ、交流破壊電圧および温度特性が良好になることが確認できた。またxが0.40の場合(試料8)に比べ、比誘電率が良好になることが確認できた。
4… 誘電体
6、8… 電極
12… 第1主組成物
14… 第2主組成物
16… その他の組成物
Claims (8)
- (Ba1−x−y ,Cax ,Sry )m (Ti1−z−a ,Zrz ,Sna )O3の組成式で表される第1主組成物と、
(Ba1−α,Srα)nTiO3 の組成式で表わされる第2主組成物と、
酸化ビスマスからなる第1副成分と、を含有する誘電体磁器組成物であって、
0.01≦x≦0.30
0<y≦0.1
0.04≦z≦0.2
0≦a≦0.2
0.04≦z+a≦0.3
0≦α≦0.1
であり、
前記第1主組成物の含有量と前記第2主組成物の含有量との和を100重量部とし、前記第2主組成物の含有量をA重量部、前記第1副成分の含有量をB1重量部とする場合に、
5≦A≦40
0.97≦{(100−A)×m+A×n}×0.01≦1.03
0.3≦B1≦3
であることを特徴とする誘電体磁器組成物。 - 5≦A≦30である請求項1に記載の誘電体磁器組成物。
- 0.3≦B1≦1.5である請求項1または2に記載の誘電体磁器組成物。
- 酸化亜鉛からなる第2副成分を含有し、前記第2副成分の含有量をB2重量部とする場合に、
0.45≦B2≦10である請求項1〜3のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。 - La、Ce、Pr、Pm、Nd、Sm、Eu、Gd、Yからなる群のうち少なくとも1種以上の酸化物からなる第3副成分を含有し、前記第3副成分の含有量を酸化物換算でB3重量部とする場合に、
0<B3≦0.3である請求項1〜4のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。 - Al、Ga、Si、Mg、In、Niからなる群のうち少なくとも1種以上の酸化物からなる第4副成分を含有し、前記第4副成分の含有量を酸化物換算でB4重量部とする場合に、
0.02≦B4≦1.5である請求項1〜5のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。 - Mn、Crからなる群のうち少なくとも1種以上の酸化物からなる第5副成分を含有し、前記第5副成分の含有量を酸化物換算でB5重量部とする場合に、
0.01≦B5≦0.6である請求項1〜6のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。 - 請求項1〜7のいずれかに記載の誘電体磁器組成物を含む電子部品。
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