JP2016174136A - 面発光レーザアレイ、レーザ装置、点火装置、及び内燃機関 - Google Patents

面発光レーザアレイ、レーザ装置、点火装置、及び内燃機関 Download PDF

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一磨 泉谷
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雅之 沼田
Masayuki Numata
雅之 沼田
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Abstract

【課題】放熱性と耐食性を両立させることができる面発光レーザアレイを提供する。
【解決手段】 面発光レーザアレイは複数の発光部を有し、各発光部が、基板101上に順次積層された下部半導体DBR103、活性層105、上部半導体DBR107、レーザ光の射出領域を取り囲む上部電極113などを有している。下部半導体DBR103は、AlGa(1−x)As(0.95<x≦1)を含み、上部電極113は、厚さが2μm以上であり、複数の発光部における発光部間の領域も被覆している。
【選択図】図4

Description

本発明は、面発光レーザアレイ、レーザ装置、点火装置、及び内燃機関に係り、更に詳しくは、複数の発光部を有する面発光レーザアレイ、該面発光レーザアレイを有するレーザ装置及び点火装置、並びに前記点火装置を備える内燃機関に関する。
垂直共振器型の面発光レーザ(VCSEL:Vertical Cavity Surface Emitting Laser)は、基板に対して垂直な方向にレーザ発振を行う半導体レーザであり、温度に対する波長の安定性が非常に高く、また、アレイ化による高出力化が容易、といった特徴を有している。
例えば、特許文献1には、化合物半導体基板上に、下部半導体多層膜反射鏡、下部スペーサ層、活性層、上部スペーサ層、上部多層膜反射鏡を有する積層膜を形成し、該積層膜をドライエッチング法によってメサ構造に加工する工程を有する面発光レーザの製造方法が開示されている。
そして、面発光レーザがアレイ化された面発光レーザアレイは、高い出力でレーザ光を射出することができるため、様々な装置への応用が検討されている。
しかしながら、従来の面発光レーザアレイでは、放熱性と耐食性を両立させるのが困難であった。
本発明は、複数の発光部を有する面発光レーザアレイであって、各発光部は、反射鏡と、活性層と、レーザ光の射出領域を取り囲む電極とを含み、前記反射鏡は、AlGa(1−x)As(0.95<x≦1)を含み、前記電極は、前記複数の発光部における発光部間の領域も被覆している面発光レーザアレイである。
本発明の面発光レーザアレイによれば、放熱性と耐食性を両立させることができる。
本発明の一実施形態に係るエンジン300の概略を説明するための図である。 点火装置301を説明するための図である。 レーザ共振器206を説明するための図である。 面発光レーザアレイ201の構成を説明するための図である。 図5(A)及び図5(B)は、それぞれ面発光レーザアレイ201の基板を説明するための図である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その1)である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その2)である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その3)である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その4)である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その5)である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その6)である。 面発光レーザアレイ201の製造方法を説明するための図(その7)である。 AlGa1―xAsにおけるxの値と熱抵抗との関係を説明するための図である。 図14(A)及び図14(B)は、それぞれレーザアニール装置の概略構成を説明するための図である。 レーザ加工機の概略構成を説明するための図である。
「概要」
以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。図1には、一実施形態に係る内燃機関としてのエンジン300の主要部が模式図的に示されている。
このエンジン300は、点火装置301、燃料噴出機構302、排気機構303、燃焼室304、及びピストン305などを備えている。
エンジン300の動作について簡単に説明する。
(1)燃料噴出機構302が、燃料と空気の可燃性混合気を燃焼室304内に噴出させる(吸気)。
(2)ピストン305が上昇し、可燃性混合気を圧縮する(圧縮)。
(3)点火装置301が、燃焼室304内にレーザ光を射出する。これにより、燃料に点火される(着火)。
(4)燃焼ガスが発生し、ピストン305が降下する(燃焼)。
(5)排気機構303が、燃焼ガスを燃焼室304外へ排気する(排気)。
このように、吸気、圧縮、着火、燃焼、排気からなる一連の過程が繰り返される。そして、燃焼室304内の気体の体積変化に対応してピストン305が運動し、運動エネルギーを生じさせる。燃料には例えば天然ガスやガソリン等が用いられる。
なお、エンジン300は、該エンジン300の外部に設けられ、該エンジン300と電気的に接続されているエンジン制御装置の指示に基づいて、上記動作を行う。
点火装置301は、一例として図2に示されるように、レーザ装置200、射出光学系210、及び保護部材212などを有している。
射出光学系210は、レーザ装置200から射出される光を集光する。これにより、集光点で高いエネルギー密度を得ることができる。
保護部材212は、燃焼室304に臨んで設けられた透明の窓である。ここでは、一例として、保護部材212の材料としてサファイアガラスが用いられている。
レーザ装置200は、面発光レーザアレイ201、第1集光光学系203、光ファイバ204、第2集光光学系205、及びレーザ共振器206を備えている。なお、本明細書では、XYZ3次元直交座標系を用い、面発光レーザアレイ201からの光の射出方向を+Z方向として説明する。
面発光レーザアレイ201は、励起用光源であり、複数の発光部を有している。各発光部は、垂直共振器型の面発光レーザ(VCSEL:Vertical Cavity Surface Emitting Laser)である。
面発光レーザアレイは、射出される光の、温度による波長ずれが非常に少ないため、励起波長のずれによって特性が大きく変化するQスイッチレーザを励起するのに有利な光源である。そこで、面発光レーザアレイを励起用光源に用いると、環境の温度制御を簡易なものにできるという利点がある。
第1集光光学系203は、面発光レーザアレイ201から射出される光を集光する。
光ファイバ204は、第1集光光学系203によって光が集光される位置にコアの−Z側端面の中心が位置するように配置されている。
光ファイバ204を設けることによって、面発光レーザアレイ201をレーザ共振器206から離れた位置に置くことができる。これにより配置設計の自由度を増大させることができる。また、レーザ装置200を点火装置に用いる際に、熱源から面発光レーザアレイ201を遠ざけることができるため、エンジン300を冷却する方法の幅を広げることが可能である。
光ファイバ204に入射した光はコア内を伝播し、コアの+Z側端面から射出される。
第2集光光学系205は、光ファイバ204から射出された光の光路上に配置され、該光を集光する。第2集光光学系205で集光された光は、レーザ共振器206に入射する。
レーザ共振器206は、Qスイッチレーザであり、一例として図3に示されるように、レーザ媒質206a、及び可飽和吸収体206bを有している。
レーザ媒質206aは、共振器長が8mmの直方体形状のNd:YAG結晶である。可飽和吸収体206bは、長さが2mmの直方体形状のCr:YAG結晶である。
なお、ここでは、Nd:YAG結晶とCr:YAG結晶は接合されており、いわゆるコンポジット結晶となっている。また、Nd:YAG結晶及びCr:YAG結晶は、いずれもセラミックスである。
第2集光光学系205からの光は、レーザ媒質206aに入射される。すなわち、第2集光光学系205からの光によってレーザ媒質206aが励起される。なお、面発光レーザアレイ201から射出される光の波長は、YAG結晶において最も吸収効率の高い波長808nmであることが望ましい。そして、可飽和吸収体206bは、Qスイッチの動作を行う。
レーザ媒質206aの入射側(−Z側)の面、及び可飽和吸収体206bの射出側(+Z側)の面は光学研磨処理がなされ、ミラーの役割を果たしている。なお、以下では、便宜上、レーザ媒質206aの入射側の面を「第1の面」ともいい、可飽和吸収体206bの射出側の面を「第2の面」ともいう(図3参照)。
そして、第1の面及び第2の面には、面発光レーザアレイ201から射出される光の波長、及びレーザ共振器206から射出される光の波長に応じた誘電体膜がコーティングされている。
具体的には、第1の面には、波長が808nmの光に対して十分に高い透過率を示し、波長が1064nmの光に対して十分に高い反射率を示すコーティングがなされている。また、第2の面には、波長が1064nmの光に対して所望のしきい値が得られるように選択された反射率を示すコーティングがなされている。
これにより、レーザ共振器206内で光が共振し増幅される。ここでは、レーザ共振器206の共振器長は10(=8+2)mmである。
図2に戻り、駆動装置220は、エンジン制御装置222の指示に基づいて、面発光レーザアレイ201を駆動する。すなわち、駆動装置220は、エンジン300の動作における着火のタイミングで点火装置301から光が射出されるように、面発光レーザアレイ201を駆動する。なお、面発光レーザアレイ201における複数の発光部は、同時に点灯及び消灯される。
上記実施形態において、面発光レーザアレイ201をレーザ共振器206から離れた位置に置く必要がない場合は、光ファイバ204が設けられなくても良い。
また、ここでは、内燃機関として燃焼ガスによってピストンを運動させるエンジン(ピストンエンジン)の場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、ロータリーエンジンや、ガスタービンエンジンや、ジェットエンジンであっても良い。要するに、燃料を燃焼させて燃焼ガスを生成するものであれば良い。
また、排熱を利用して、動力や温熱や冷熱を取り出し、総合的にエネルギー効率を高めるシステムであるコジェネレーションに、点火装置301を用いても良い。
また、ここでは、点火装置301が内燃機関に用いられる場合について説明したが、これに限定されるものではない。
また、ここでは、レーザ装置200が点火装置に用いられる場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、レーザ加工機、レーザピーニング装置、テラヘルツ発生装置などに用いることができる。
「詳細」
次に、面発光レーザアレイ201の詳細について図4を用いて説明する。なお、図4は、面発光レーザアレイ201の一部のYZ断面図である。
面発光レーザアレイ201は、基板101、バッファ層102、下部半導体DBR103、下部スペーサ層104、活性層105、上部スペーサ層106、上部半導体DBR107、コンタクト層109、保護膜111、上部電極113、下部電極114などを有している。
基板101は、図5(A)に示されるように、基板表面の法線方向が、結晶方位[1 0 0]方向に対して、結晶方位[1 1 1]A方向に向かって15度(θ=15度)傾斜したn−GaAs単結晶基板である。すなわち、基板101は、いわゆる傾斜基板である。ここでは、図5(B)に示されるように、結晶方位[0 −1 1]方向が+X方向、結晶方位[0 1 −1]方向が−X方向となるように配置されている。そこで、傾斜基板の傾斜軸は、X軸方向に平行である。なお、−Y方向を「傾斜方向」ともいう。
図4(B)に戻り、バッファ層102は、基板101の+Z側の面上に積層され、n−GaAsからなる層である。
下部半導体DBR103は、バッファ層102の+Z側に積層され、n−AlAsからなる低屈折率層と、n−Al0.3Ga0.7Asからなる高屈折率層のペアを37.5ペア有している。
各屈折率層の間には、電気抵抗を低減するため、一方の組成から他方の組成へ向かって組成を徐々に変化させた厚さ20nmの組成傾斜層が設けられている。
そして、バッファ層102から約34.5ペア目までは、各屈折率層はいずれも、隣接する組成傾斜層の1/2を含んで、発振波長をλとするとλ/4の光学的厚さとなるように設定され、下部スペーサ層104に近い3ペアでは、隣接する組成傾斜層の1/2を含んで、高屈折率層の光学的厚さがλ/4、低屈折率層の光学的厚さが3λ/4となるように設定されている。
なお、光学的厚さがλ/4のとき、その層の実際の厚さDは、D=λ/4n(但し、nはその層の媒質の屈折率)である。
下部スペーサ層104は、下部半導体DBR103の+Z側に積層され、ノンドープのAlGaInPからなる層である。
活性層105は、下部スペーサ層104の+Z側に積層され、GaAsからなる量子井戸層と、Al0.3Ga0.7Asからなる障壁層とが交互に積層された3重量子井戸(TQW:Triple Quantum Well)構造の活性層である。
上部スペーサ層106は、活性層105の+Z側に積層され、ノンドープのAlGaInPからなる層である。
下部スペーサ層104と活性層105と上部スペーサ層106とからなる部分は、共振器構造体とも呼ばれており、隣接する組成傾斜層の1/2を含んで、その厚さが1波長の光学的厚さとなるように設定されている。なお、活性層105は、高い誘導放出確率が得られるように、電界の定在波分布における腹に対応する位置である共振器構造体の中央に設けられている。
上部半導体DBR107は、上部スペーサ層106の+Z側に積層され、p−Al0.9Ga0.1Asからなる低屈折率層とp−Al0.3Ga0.7Asからなる高屈折率層のペアを24ペア有している。
各屈折率層の間には組成傾斜層が設けられている。そして、各屈折率層はいずれも、隣接する組成傾斜層の1/2を含んで、λ/4の光学的厚さとなるように設定されている。
上部半導体DBR107における低屈折率層の1つには、p−AlAsからなる被選択酸化層108が厚さ30nmで挿入されている。この被選択酸化層108の挿入位置は、上部スペーサ層106から光学的にλ/4の距離だけ離れた位置である。
コンタクト層109は、上部半導体DBR107の+Z側に積層され、p−GaAsからなる層である。
保護膜111は、SiO又はSiNからなる膜である。
上部電極113は、配線部材によって電極パッドと電気的に接続されている。
次に、上記面発光レーザアレイ201の作成方法について説明する。
(1)有機金属気相成長法(MOCVD法)あるいは分子線エピタキシャル成長法(MBE法)による結晶成長によって、基板101上に、バッファ層102、下部半導体DBR103、下部スペーサ層104、活性層105、上部スペーサ層106、上部半導体DBR107、被選択酸化層108、コンタクト層109を形成する(図6参照)。なお、このように基板101上に複数の半導体層が積層されたものを、以下では、便宜上「積層体」ともいう。
III族の原料には、トリメチルアルミニウム(TMA)、トリメチルガリウム(TMG)、トリメチルインジウム(TMI)を用い、V族の原料には、フォスフィン(PH)、アルシン(AsH)を用いている。また、p型ドーパントの原料には四臭化炭素(CBr)、ジメチルジンク(DMZn)を用い、n型ドーパントの原料にはセレン化水素(HSe)を用いている。
(2)積層体の表面にメサ形状に対応するレジストパターンを形成する。具体的には、コンタクト層109上にフォトレジストを塗布し、露光装置による露光、現像を行うことにより、メサ形状に対応したレジストパターンを形成する。ここでは、メサの断面が一辺20μm〜25μmの正方形となるようにした。なお、コンタクト層109上に塗布されるレジストはポジレジストを用い、コンタクト露光により露光を行う。
(3)反応性イオンエッチング(RIE)などのドライエッチングによって、四角柱状のメサを形成する。ここでは、エッチングの底部は下部スペーサ層104中に位置するようにした。なお、ドライエッチングの条件を調整することにより、メサの側面の傾斜角を調整することができる。ここでは、基板101の表面に対し、メサの側面の傾斜角が70°〜80°となるように、ドライエッチングの条件を調整している。この場合は、配線部材の断線を抑制することができる。また、ここでは、メサの高さは3μmである。
(4)レジストパターンを除去する(図7参照)。
(5)積層体を水蒸気中で熱処理する。ここでは、メサの外周部から被選択酸化層108中のAlが選択的に酸化される。そして、メサの中央部に、Alの酸化層108aによって囲まれた酸化されていない領域108bを残留させる(図8参照)。これにより、発光部の駆動電流の経路をメサの中央部だけに制限する、酸化狭窄構造体が作成される。上記酸化されていない領域108bが電流通過領域(電流注入領域)である。ここでは、電流通過領域108bは、一辺の長さが約5μmの略正方形状である。
(6)プラズマCVD法を用いて、SiNからなる保護膜111を形成する(図9参照)。保護膜111の膜厚は150nm〜200nmであれば良く、150nmであるのが好ましい。
(7)メサ上面にコンタクトホールを形成するためのレジストパターンを作成する。
(8)BHF(バッファード・フッ酸)を用いたウエットエッチングにより、レジストパターンの開口部における保護膜111を除去する。
(9)レジストパターンを除去する(図10参照)。
(10)射出領域をマスクするためのレジストパターンを作成する。
(11)上部電極113の材料を蒸着する。ここでは、Cr/AuZn/Auからなる金属膜をEB(電子ビーム)蒸着により順次積層する。上部電極113の厚さはメサの高さ以上となるように設定されている。
(12)リフトオフにより、レジストパターンの形成されている領域上の金属膜を除去する。これにより、上部電極113が形成される(図11参照)。
(13)基板101の厚さが100μm〜300μmとなるまで、基板101の裏側を研磨した後、Cr(9nm)/AuGe(18nm)/Au(250nm)からなる金属膜をEB(電子ビーム)蒸着により順次積層し、下部電極114を形成する(図12参照)。なお、基板101の厚さは100μmが好ましい。
(14)400℃で5分間アニールし、上部電極113と下部電極114のオーミック導通をとる。これにより、メサは発光部となる。
(15)チップ毎に分割する。
ところで、図13には、AlGa1―xAsにおけるxの値と熱抵抗との関係が示されている。これによると、x=1、すなわち、AlAsの熱抵抗が最も小さい。そこで、面発光レーザアレイの放熱性を向上させるには、下部半導体DBRにおける低屈折率層の材料を熱抵抗の小さいAlAsとすることが望ましい。しかしながら、AlGa1−xAsにおけるxを大きくすると、水分による腐食(酸化)が生じやすいという特徴があり、特に0.95<x≦1になるとこれは顕著に現れ、空気中に含まれる水分によって腐食が生じてしまう。
また、発明者らは、0.95<x≦1とした場合に、エッチング底面から腐食が生じやすくなることを見出した。さらに、AlAsが空気に触れないような構造であっても、最表層に近い場所にAlAsがある場合には該最表層から徐々に水分が浸入し、腐食が生じる。そのため、下部半導体DBRにAlAsを用いる場合には複雑な工程を経て、水分が含まれない雰囲気中にチップを封止する必要があった。
発明者らは、電極がエッチング底面の上にも設けられていれば、該電極が空気中の水分の浸入を防ぐパッシベーション膜として機能し、最表層から徐々に水分が浸入するのを抑制できることを見出した。すなわち、上部電極113を発光部間の領域にも設けることで、下部半導体DBR103に0.95<x≦1であるAlGa1−xAsを用いることができる。これにより、従来よりも放熱性に優れ、かつ複雑な封止工程を必要としない面発光レーザアレイを実現することができる。
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る点火装置301では、射出光学系210によって、本発明の点火装置における「レーザ装置から射出されるレーザ光を集光する光学系」が構成されている。そして、本実施形態に係るレーザ装置200では、第1集光光学系203によって、本発明のレーザ装置における「面発光レーザアレイから射出されるレーザ光を集光する光学系」が構成され、光ファイバ204によって、本発明のレーザ装置における「伝送部材」が構成されている。
以上説明したように、本実施形態に係る面発光レーザアレイ201は、各発光部が、基板101上に順次積層された下部半導体DBR103、活性層105、上部半導体DBR107、レーザ光の射出領域を取り囲む上部電極113などを有し、下部半導体DBR103はAlAsを含み、上部電極113は、複数の発光部における発光部間の領域も被覆している。
この場合は、放熱性と耐食性を両立させることができる。なお、下部半導体DBR103は、AlAsに代えて、AlGa(1−x)As(1>x>0.95)を含んでいても良い。要するに、下部半導体DBR103は、AlGa(1−x)As(1≧x>0.95)を含んでいれば良い。
また、メサを形成する際のエッチング底面は下部スペーサ層104中にあり、下部スペーサ層104はInを含んでいる。これにより、エッチングの際にAlAsとのエッチング選択性が向上し、AlAsが最表層に露出するのを防ぐことができる。その結果、信頼性を向上させることができる。
また、下部半導体DBR103は、下部スペーサ層104に近い3ペアで、隣接する組成傾斜層の1/2を含んで、高屈折率層の光学的厚さがλ/4、低屈折率層の光学的厚さが3λ/4となるように設定されている。この場合、放熱性を更に向上させることができる。なお、下部半導体DBR103は、自然数をmとしたとき、光学的厚さが(2m+1)λ/4の低屈折率層を少なくとも1層含んでいれば良い。
そして、レーザ装置200は、面発光レーザアレイ201を有しているため、安定して高出力のレーザ光を射出することができる。また、レーザ装置200の長寿命化を図ることができる。
さらに、点火装置301は、レーザ装置200を備えているため、安定した点火を行うことができる。また、点火装置301の長寿命化を図ることができる。
また、エンジン300は、点火装置301を備えているため、結果として、安定性を向上させることができる。さらに、点火装置301のメンテナンス間隔を長くすることができる。
なお、上記実施形態において、上部電極113の厚さは限定されないが、2μm以上の厚膜とすると特に優れた効果が得られる。
また、上記実施形態において、面発光レーザアレイ201に代えて、反射鏡が外部に設けられるタイプの面発光レーザアレイが用いられても良い。
また、上記実施形態において、第1集光光学系203、第2集光光学系205及び射出光学系210は、いずれも単一のレンズからなっていても良いし、複数のレンズからなっていても良い。
また、上記実施形態では、面発光レーザアレイ201が励起用光源としてレーザ装置200に用いられる場合について説明したが、これに限定されるものではない。面発光レーザアレイ201が励起用ではない光源としてレーザ装置に用いられても良い。
《レーザアニール装置》
一例として図14(A)及び図14(B)にレーザ装置としてのレーザアニール装置1000の概略構成が示されている。このレーザアニール装置1000は、光源1010、光学系1020、テーブル装置1030、及び不図示の制御装置などを備えている。
光源1010は、面発光レーザアレイ201を有している。光学系1020は、光源1010から射出されたレーザ光を対象物Pの表面に導光する。テーブル装置1030は、対象物Pが載置されるテーブルを有している。該テーブルは、少なくともY軸方向に沿って移動することができる。
例えば、対象物Pがアモルファスシリコン(a−Si)の場合、レーザ光が照射されると、アモルファスシリコン(a−Si)は、温度が上昇し、その後、徐々に冷却されることによって結晶化し、ポリシリコン(p−Si)になる。
そして、レーザアニール装置1000は、光源1010が面発光レーザアレイ201を有しているため、安定的に処理効率を向上させることができる。
《レーザ加工機》
一例として図15にレーザ装置としてのレーザ加工機3000の概略構成が示されている。このレーザ加工機3000は、光源3010、光学系3100、対象物Pが載置されるテーブル3150、テーブル駆動装置3160、操作パネル3180及び制御装置3200などを備えている。
光源3010は、面発光レーザアレイ201を有し、制御装置3200の指示に基づいてレーザ光を射出する。光学系3100は、光源3010から射出されたレーザ光を対象物Pの表面近傍で集光させる。テーブル駆動装置3160は、制御装置3200の指示に基づいて、テーブル3150をX軸方向、Y軸方向、及びZ軸方向に移動させる。
操作パネル3180は、作業者が各種設定を行うための複数のキー、及び各種情報を表示するための表示器を有している。制御装置3200は、操作パネル3180からの各種設定情報に基づいて、光源3010及びテーブル駆動装置3160を制御する。
そして、レーザ加工機3000は、光源3010が面発光レーザアレイ201を有しているため、加工(例えば、切断や溶接)の処理効率を向上させることができる。
なお、レーザ加工機3000は、複数の光源3010を有しても良い。
また、面発光レーザアレイ201は、レーザアニール装置及びレーザ加工機以外のレーザ光を利用する装置にも好適である。例えば、面発光レーザアレイ201を表示装置の光源に用いても良い。
101…基板、102…バッファ層、103…下部半導体DBR(反射鏡)、104…下部スペーサ層、105…活性層、106…上部スペーサ層、107…上部半導体DBR、108…被選択酸化層、109…コンタクト層、111…保護膜、113…上部電極(電極)、114…下部電極、200…レーザ装置、201…面発光レーザアレイ、203…第1集光光学系(面発光レーザアレイから射出されるレーザ光を集光する光学系)、204…光ファイバ(伝送部材)、205…第2集光光学系、206…レーザ共振器、206a…レーザ媒質、206b…可飽和吸収体、210…射出光学系(レーザ装置から射出されるレーザ光を集光する光学系)、212…保護部材、220…駆動装置、222…エンジン制御装置、300…エンジン(内燃機関)、301…点火装置、302…燃料噴出機構、303…排気機構、304…燃焼室、305…ピストン、1000…レーザアニール装置(レーザ装置)、1010…光源、1020…光学系、1030…テーブル装置、3000…レーザ加工機(レーザ装置)、3010…光源、3100…光学系、3150…テーブル、3160…テーブル駆動装置、3180…操作パネル、3200…制御装置、P…対象物。
特開2005―191343号公報

Claims (13)

  1. 複数の発光部を有する面発光レーザアレイであって、
    各発光部は、反射鏡と、活性層と、レーザ光の射出領域を取り囲む電極とを含み、
    前記反射鏡は、AlGa(1−x)As(0.95<x≦1)を含み、
    前記電極は、前記複数の発光部における発光部間の領域も被覆している面発光レーザアレイ。
  2. 前記電極は、厚さが2μm以上であることを特徴とする請求項1に記載の面発光レーザアレイ。
  3. 前記複数の発光部はメサ構造を有し、
    前記電極の上面の高さは、前記メサ構造の高さ以上であることを特徴とする請求項1に記載の面発光レーザアレイ。
  4. 前記反射鏡は、AlAsを含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の面発光レーザアレイ。
  5. 前記複数の発光部における発光部間の領域は、最表層がInを含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の面発光レーザアレイ。
  6. 前記反射鏡は、多層膜の反射鏡であり、レーザ光の発振波長をλ、自然数をmとしたとき、光学的厚さが(2m+1)λ/4のAlAs層を少なくとも1層含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の面発光レーザアレイ。
  7. 対象物にレーザ光を照射するレーザ装置であって、
    請求項1〜6のいずれか一項に記載の面発光レーザアレイと、
    前記面発光レーザアレイから射出されるレーザ光を前記対象物に導光する光学系と、を備えるレーザ装置。
  8. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の面発光レーザアレイと、
    前記面発光レーザアレイから射出されるレーザ光を集光する光学系と、
    前記光学系を介したレーザ光を伝送する伝送部材と、を備えるレーザ装置。
  9. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の面発光レーザアレイと、
    前記面発光レーザアレイからのレーザ光が入射されるレーザ共振器と、を備えるレーザ装置。
  10. 前記レーザ共振器は、Qスイッチレーザであることを特徴とする請求項9に記載のレーザ装置。
  11. 前記レーザ共振器は、レーザ媒質及び可飽和吸収体を含むことを特徴とする請求項10に記載のレーザ装置。
  12. 請求項9〜11のいずれか一項に記載のレーザ装置と、
    前記レーザ装置から射出されるレーザ光を集光する光学系と、を備える点火装置。
  13. 燃料を燃焼させて燃焼ガスを生成する内燃機関において、
    前記燃料に点火するための請求項12に記載の点火装置を備えていることを特徴とする内燃機関。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018152467A (ja) * 2017-03-13 2018-09-27 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ素子、光源ユニット、レーザ装置、点火装置
US10530123B2 (en) 2017-03-17 2020-01-07 Ricoh Company, Ltd. Drive circuit and light emitting device
US11424595B2 (en) * 2018-01-09 2022-08-23 Oepic Semiconductors, Inc. Pillar confined backside emitting VCSEL
US11757255B2 (en) * 2018-01-26 2023-09-12 Oepic Semiconductors, Inc. Planarization of backside emitting VCSEL and method of manufacturing the same for array application

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6999877B2 (ja) * 2017-07-31 2022-01-19 セイコーエプソン株式会社 発光装置およびプロジェクター

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198613A (ja) * 2000-12-27 2002-07-12 Canon Inc 突起状構造を有する半導体素子およびその製造方法
JP2003086895A (ja) * 2001-09-14 2003-03-20 Toshiba Corp 垂直共振器型半導体発光素子
JP2006278572A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Fuji Xerox Co Ltd マルチスポット型面発光レーザおよびその製造方法
JP2008060322A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置、画像形成装置及び光通信システム
US20080205462A1 (en) * 2007-02-28 2008-08-28 Canon Kabushiki Kaisha Surface emitting laser array, production process thereof, and image forming apparatus having surface emitting laser array
JP2012195431A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子と面発光レーザアレイおよび製造方法とそれを用いた光走査装置と画像形成装置ならびに光送受信モジュールと光通信装置および電気機器
US20130272330A1 (en) * 2012-04-17 2013-10-17 Trilumina Corporation Multibeam array of top emitting vcsel elements
WO2014156544A1 (ja) * 2013-03-26 2014-10-02 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 半導体レーザー光源と固体レーザー装置を組み合わせた車載式点火装置

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5903590A (en) * 1996-05-20 1999-05-11 Sandia Corporation Vertical-cavity surface-emitting laser device
JP2005191343A (ja) 2003-12-26 2005-07-14 Ricoh Co Ltd 面発光レーザの製造方法および面発光レーザおよび光伝送システム
JP4515949B2 (ja) * 2005-03-31 2010-08-04 株式会社東芝 面型光半導体素子
JP5194432B2 (ja) 2005-11-30 2013-05-08 株式会社リコー 面発光レーザ素子
JP4548345B2 (ja) * 2006-01-12 2010-09-22 セイコーエプソン株式会社 面発光型半導体レーザ
JP4605024B2 (ja) * 2006-01-12 2011-01-05 セイコーエプソン株式会社 面発光型半導体レーザ
TW200929759A (en) 2007-11-14 2009-07-01 Ricoh Co Ltd Surface emitting laser, surface emitting laser array, optical scanning device, image forming apparatus, optical transmission module and optical transmission system
EP2243203B1 (en) 2008-02-12 2018-06-20 Ricoh Company, Ltd. Surface emitting laser element, surface emitting laser array, optical scanning device, and image forming apparatus
KR101292390B1 (ko) 2008-05-02 2013-08-01 가부시키가이샤 리코 수직 공진기형 면발광 레이저 소자, 수직 공진기형 면발광 레이저 어레이, 광 주사 장치 및 화상 형성 장치
JP5408477B2 (ja) 2008-05-13 2014-02-05 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5316783B2 (ja) 2008-05-15 2013-10-16 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5261754B2 (ja) 2008-11-27 2013-08-14 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5504784B2 (ja) 2009-03-18 2014-05-28 株式会社リコー 面発光レーザ、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5510899B2 (ja) 2009-09-18 2014-06-04 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置、及び画像形成装置
CN102598738A (zh) * 2009-10-14 2012-07-18 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于操作无线传感器网络中的节点的方法
JP5532321B2 (ja) 2009-11-17 2014-06-25 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5522595B2 (ja) 2009-11-27 2014-06-18 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5531584B2 (ja) 2009-11-27 2014-06-25 株式会社リコー 面発光型レーザーの製造方法、面発光型レーザー、面発光型レーザーアレイ素子、光走査装置及び画像形成装置
JP2011159943A (ja) 2010-01-08 2011-08-18 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP5721055B2 (ja) 2010-06-11 2015-05-20 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置、画像形成装置及び面発光レーザ素子の製造方法
JP5929259B2 (ja) 2011-05-17 2016-06-01 株式会社リコー 面発光レーザ素子、光走査装置及び画像形成装置
JP5999303B2 (ja) 2011-06-24 2016-09-28 株式会社リコー 面発光レーザアレイ及び画像形成装置
JP6085956B2 (ja) 2012-03-09 2017-03-01 株式会社リコー 面発光レーザアレイ素子、光走査装置及び画像形成装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198613A (ja) * 2000-12-27 2002-07-12 Canon Inc 突起状構造を有する半導体素子およびその製造方法
JP2003086895A (ja) * 2001-09-14 2003-03-20 Toshiba Corp 垂直共振器型半導体発光素子
JP2006278572A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Fuji Xerox Co Ltd マルチスポット型面発光レーザおよびその製造方法
JP2008060322A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置、画像形成装置及び光通信システム
US20080205462A1 (en) * 2007-02-28 2008-08-28 Canon Kabushiki Kaisha Surface emitting laser array, production process thereof, and image forming apparatus having surface emitting laser array
JP2012195431A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子と面発光レーザアレイおよび製造方法とそれを用いた光走査装置と画像形成装置ならびに光送受信モジュールと光通信装置および電気機器
US20130272330A1 (en) * 2012-04-17 2013-10-17 Trilumina Corporation Multibeam array of top emitting vcsel elements
WO2014156544A1 (ja) * 2013-03-26 2014-10-02 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 半導体レーザー光源と固体レーザー装置を組み合わせた車載式点火装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018152467A (ja) * 2017-03-13 2018-09-27 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ素子、光源ユニット、レーザ装置、点火装置
US10530123B2 (en) 2017-03-17 2020-01-07 Ricoh Company, Ltd. Drive circuit and light emitting device
US11424595B2 (en) * 2018-01-09 2022-08-23 Oepic Semiconductors, Inc. Pillar confined backside emitting VCSEL
US11757255B2 (en) * 2018-01-26 2023-09-12 Oepic Semiconductors, Inc. Planarization of backside emitting VCSEL and method of manufacturing the same for array application

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EP3271978B1 (en) 2022-11-30
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