JP2016093072A - 半導体電力変換装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1半導体素子を含んで電力変換を行う第1半導体モジュール20A〜20Cと、第1半導体素子に対して使用温度が高い第2半導体素子を含んで電力変換を行う第2半導体モジュール30A〜30Cと、第1半導体モジュール及び第2半導体モジュールを実装面41に実装し、冷却風通路44を有するヒートシンク40とを備え、ヒートシンク40は、冷却風通路44の上流側に形成した第1半導体モジュールを実装する第1実装面45と、冷却風通路44の下流側に形成した第2半導体モジュールを実装する第2実装面46と、第1実装面及び第2実装面間に形成したスリット47とを少なくとも有する。
【選択図】図1
Description
従来の電力変換装置として代表的な装置は、例えば図9に示すように、商用交流電源からある設定された周波数と電圧の交流電力を交流負荷に出力するインバータ装置が知られている。
また、インバータ回路400は、半導体スイッチング素子401及びこれに逆並列に接続されたダイオード402の並列回路403を2組直列に接続した3組のスイッチングアーム404A〜404Cを並列に接続した構成を有し、各スイッチングアーム404A〜404Cの接続中点が交流負荷500に接続されている。
発生損失が少ないダイオードを有するダイオード整流器と発生損失が大きい半導体スイッチング素子を有するインバータ回路とを冷却する場合に、例えば図10に示すように、ダイオード整流器200のダイオードアーム202A〜202Cをモジュール化した半導体モジュール203A〜203Cとインバータ回路400のスイッチングアーム404A〜404Cをモジュール化した半導体モジュール405A〜405Cとを熱抵抗の異なるヒートシンク600及び601上に実装し、冷却ファンによる通風路に対して上流側にヒートシンク600を配置し、下流側にヒートシンク601を配置することにより温度勾配を小さくすることが行われている(例えば、特許文献1参照)。
一方、炭化珪素(SiC)、窒化ガリウム系材料、又はダイヤモンド等の半導体により形成されたワイドバンドギャップ半導体は、最高使用温度は、200℃以上が可能である。
最高使用温度の異なる半導体モジュールをヒートシンク上に配置する場合、ヒートシンクは、最高使用温度の低いシリコン半導体に合わせて熱抵抗が設定されるため、使用温度の高いワイドバンドギャップ半導体は、動作可能な温度領域に対して、低い温度で使用することとなり、性能を有効利用できないことになる。
しかし、冷却風の上流側と下流側の半導体素子間で熱的な干渉を生じ、シリコン半導体の使用温度を超えないように、シリコン半導体とワイドバンドギャップ半導体との間隔を大きくする必要があり、ヒートシンクが大型化する。
特許文献2に記載されている半導体電力変換装置では、ヒートシンクのベース板に溝を形成した場合には、溝の下部ではヒートシンクが分断されていないので、熱伝導による熱流低減効果は限られたものとならざるを得ないという未解決の課題がある。
本発明の一態様に係る半導体電力変換装置10は、最高使用温度が125℃〜150℃程度に設定された複数例えば3個の第1半導体モジュール20a、20b及び20cと、最高使用温度が第1半導体モジュール20a〜20cより高い約200℃以上に設定された複数例えば3個の第2半導体モジュール30A、30B及び30Cとを備えている。
ヒートシンク40は、銅、アルミニウムやそれらの合金のように熱伝導率の高い金属材料で構成されている。このヒートシンク40は、例えばおもて面をモジュール実装面41とする実装板部42と、この実装板部42の裏面側に下方に突出して形成された複数の.放熱フィン43とで構成されている。
実装板部42のモジュール実装面41には、冷却風通路44の上流側に対向する位置に第1半導体モジュール20A〜20Cが実装された第1実装面45が形成され、冷却風通路44の下流側に対向する位置に第2半導体モジュール30A〜30Cが実装された第2実装面46が形成されている。ここで、第1実装面45には、第1半導体モジュール20A〜20Cが冷却風通路44とは交差する幅方向に所定間隔を保って整列されて実装されている。同様に、第2実装面46には、第2半導体モジュール30A〜30Cが第1半導体モジュール20A〜20Cと所定間隔を保って対向するように冷却風通路44とは交差する幅方向に所定間隔を保って整列されて実装されている。
ヒートシンク40の実装板部42のおもて面上の第1実装面45にインバータ装置のダイオード整流器を構成するダイオードアームを含むシリコン半導体素子で構成される第1半導体モジュール20A〜20Cをダイボンド接合等の接合方法によって接合する。同様に、実装板部42のおもて面上の第2実装面46にインバータ装置のインバータ回路を構成するスイッチングアームを含むワイドバンドギャップ半導体素子で構成される第2半導体モジュール30A〜30Cをダイボンド接合等の接合方法によって接合する。
このとき、インバータ装置を作動させると、ダイオード整流器を構成するダイオードアームを含む第1半導体モジュール20A〜20Cとインバータ回路を構成するスイッチングアームを含む第2半導体モジュール30A〜30Cとが自身の発生損失(定常損失やスイッチング損失)によって温度上昇が生じる。このとき、第1半導体モジュール20A〜20Cの最高使用温度が125℃〜150℃程度であり、第2半導体モジュール30A〜30Cの最高使用温度が200℃以上である。
このとき、第1半導体モジュール20A〜20Cは、冷却風通路44の上流側に対向する第1実装面45に実装され、第2半導体モジュール30A〜30Cは、冷却風通路44の下流側に対向する第2実装面に実装されている。このため、ヒートシンク40の熱抵抗を最高使用温度が低い第1半導体モジュール20A〜20Cに合わせて設定しておくことにより、冷却風通路44の上流側で冷却風が第1半導体モジュール20A〜20Cと熱交換されて、第1半導体モジュール20A〜20Cの発熱を放熱フィン43を介して放熱し、最高使用温度である125℃〜150℃程度以内に制御することができる。
なお、半導体電力変換装置10は、図示しないが筐体内に配置し、冷却ファン50によって筐体内で強制対流による冷却を行うこともできる。また、冷却ファン50を筐体に形成した冷却風排出口に臨ませるとともに、ヒートシンク40の冷却ファン50とは反対側の放熱フィン43を冷却風供給口に臨ませることにより、外気による冷却を行うこともできる。さらに、ヒートシンク40の冷却ファン50とは反対側に気体通路を有する熱交換器を配置して冷媒との熱交換を行って冷却風を得るようにしてもよい。
この第2の実施形態では、ヒートシンク40の実装板部42に形成したスリット形状を変更したものである。
すなわち、第2の実施形態では、前述した第1の実施形態におけるスリット47が第1半導体モジュール20A〜20Cと第2半導体モジュール30A〜30Cとの対向面にのみ形成するように3つに分断されたスリット47a〜47cで構成されている。
この第2の実施形態によると、実装板部42に形成したスリット47が3つのスリット47a〜47cに分割され、各スリット47a〜47cが第1半導体モジュール20A〜20Cと第2半導体モジュール30A〜30Cとの対向する位置にそれぞれ形成されている。このため、前述した第1の実施形態と同様の作用効果を得ることができるとともに、隣接するスリットの間すなわち第1半導体モジュール20A〜20Cと第2半導体モジュール30A〜30Cとの対向部以外についてはスリットが形成されておらず、実装板部42が分断されないで連続しているので、スリットを形成することによる実装板部42の機械的強度の低下を抑制して耐久性を向上させることができる。
この第3の実施形態は、ヒートシンクの実装板部に形成したスリットをより細かく形成するようにしたものである。
すなわち、第3の実施形態では、幅狭の複数のスリット47dを実装板部42の長手方向でその一部が重なるように千鳥状に配置するようにしたものである。
この第3の実施形態によると、幅狭のスリット47dを実装板部42の長手方向で一部が重なるように千鳥状に配置しているので、第1半導体モジュール20A〜20Cと第2半導体モジュール30A〜30Cとの間の熱伝導距離を長くすることができるとともに、スリット47d間の熱伝導路の断面積を小さくすることができる。したがって、してスリット形成位置での第1半導体モジュール20A〜20Cと第2半導体モジュール30A〜30Cとの間の熱伝導率を低下させることができ、熱的な干渉を低減する効果を第1の実施形態及び第2の実施形態に比較してさらに高めることができる。
さらに、上記各実施形態では、冷却ファン50として吸込形となるように配置した場合について説明したが、これに限定されるものではなく、ヒートシンク40の他端側に吐出形となるように配置して、冷却風通路に冷却風を供給するようにしてもよい。
20A〜20C…第1半導体モジュール
30A〜30C…第2半導体モジュール
40…ヒートシンク
41…モジュール実装面
42…実装板部
43…放熱フィン
44…冷却風通路
45…第1実装面
46…第2実装面
47、47a〜47d…スリット
50…冷却ファン
Claims (9)
- 第1半導体素子を含んで電力変換を行う第1半導体モジュールと、
前記第1半導体素子に対して使用温度が高い第2半導体素子を含んで電力変換を行う第2半導体モジュールと、
前記第1半導体モジュール及び前記第2半導体モジュールを実装面に実装し、冷却風通路を有するヒートシンクとを備え、
前記ヒートシンクは、前記冷却風通路の上流側に形成した前記第1半導体モジュールを実装する第1実装面と、前記冷却風通路の下流側に形成した前記第2半導体モジュールを実装する第2実装面と、前記第1実装面及び第2実装面間に形成したスリットとを少なくとも有する
ことを特徴とする半導体電力変換装置。 - 前記ヒートシンクは、前記第1実装面、前記第2実装面及び前記スリットを形成した実装板部と、該実装板部の前記第1実装面及び前記第2実装面とは反対側に設けられた前記冷却風通路を形成する複数の放熱フィンとで構成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体電力変換装置。
- 前記スリットは、前記冷却風通路と交差する方向に延長し、前記実装板部を貫通して形成されていることを特徴とする請求項2に記載の半導体電力変換装置。
- 前記ヒートシンクの冷却風通路の少なくとも一端側に冷却ファンが設けられていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体電力変換装置。
- 前記第1半導体素子はシリコン半導体素子で構成され、前記第2半導体素子はワイドバンドギャップ半導体素子で構成されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の半導体電力変換装置。
- 前記ヒートシンクは、前記第1実装面に、複数の前記第1半導体モジュールを前記冷却風通路に交差する方向に整列配置し、前記第2実装面に、複数の前記第2半導体モジュールを前記冷却風通路に交差する方向に整列させたことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の半導体電力変換装置。
- 前記スリットは、前記第1半導体モジュール及び前記第2半導体モジュール間を分断するように前記冷却風通路と交差する方向に延長して形成されていることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の半導体電力変換装置。
- 前記スリットは、互いに対向する第1半導体モジュール及び第2半導体モジュール間に前記冷却風通路と交差する方向に延長して形成されていることを特徴とする請求項6に記載の半導体電力変換装置。
- 前記スリットは、少なくとも互いに対向する第1半導体モジュール及び第2半導体モジュール間に前記冷却風通路と交差する方向に延長し、且つ複数並列して形成されていることを特徴とする請求項6に記載の半導体電力変換装置。
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