JP2016053525A - 光ファイバの温度・歪み分布測定方法および装置 - Google Patents
光ファイバの温度・歪み分布測定方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016053525A JP2016053525A JP2014179599A JP2014179599A JP2016053525A JP 2016053525 A JP2016053525 A JP 2016053525A JP 2014179599 A JP2014179599 A JP 2014179599A JP 2014179599 A JP2014179599 A JP 2014179599A JP 2016053525 A JP2016053525 A JP 2016053525A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scattered light
- rayleigh scattered
- phase noise
- influence
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 83
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 41
- 238000007430 reference method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 31
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 17
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000002168 optical frequency-domain reflectometry Methods 0.000 abstract description 22
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 2
- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
Description
(1)本発明に係わる温度・歪み分布測定方法は、第1乃至第9のステップを具備する。第1ステップは、光周波数を掃引される光源からの出力光を測定対象に入射して後方レイリー散乱光波形を得るとともに、出力光の位相雑音の影響を測定するステップである。第2ステップは第1ステップで得られた後方レイリー散乱光波形に対し第1ステップで測定された位相雑音の影響を補償するステップである。第3ステップは、第1ステップとは異なる時に光源からの出力光を測定対象に入射して後方レイリー散乱光波形を得るとともに、出力光の位相雑音の影響を測定するステップである。第4ステップは、第3ステップで得られた後方レイリー散乱光波形に対し第3ステップで測定された位相雑音の影響を補償するステップである。第5ステップは、第2ステップで位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形と、第4ステップで位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形とのそれぞれについて測定対象とする区間を抽出するステップである。第6ステップは、第5ステップで抽出された区間の波形を逆フーリエ変換して、第2ステップで位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルと、第4ステップで位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルとを算出するステップである。第7ステップは、第2ステップで位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルと、第4ステップで位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルとの相互相関により周波数シフト量を算出するステップである。第8ステップは、周波数シフト量に基づいて測定対象の温度・歪みを算出するステップである。第9ステップは、第5ステップ乃至第8ステップを繰り返して、測定対象における温度・歪みの光の伝播方向に対する分布を算出するステップである。
図1において、周波数掃引連続光光源1は連続光を出射する。周波数掃引連続光光源1は、連続光の周波数を時間に対して線形に掃引する。この出力光2は分岐素子3により分岐され、一方は参照干渉計6に参照光7として入射され、他方は主干渉計5に入射される(入射光13)。
[6] 次にデータ処理装置22は、Nτrefの遅延を与える参照干渉計6のビート信号に相当する位相XN(t)を、式(14)に示す位相X1(t)の連結により計算する。これにより、周波数掃引連続光光源1のコヒーレンス長を超える地点においても位相雑音の影響を補償することができる。
Claims (4)
- 光周波数を掃引される光源からの出力光を測定対象に入射して後方レイリー散乱光波形を得るとともに、前記出力光の位相雑音の影響を測定する第1ステップと、
前記第1ステップで得られた後方レイリー散乱光波形に対し前記第1ステップで測定された位相雑音の影響を補償する第2ステップと、
前記第1ステップとは異なる時に前記光源からの出力光を前記測定対象に入射して後方レイリー散乱光波形を得るとともに、前記出力光の位相雑音の影響を測定する第3ステップと、
前記第3ステップで得られた後方レイリー散乱光波形に対し前記第3ステップで測定された位相雑音の影響を補償する第4ステップと、
前記第2ステップで前記位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形と、前記第4ステップで前記位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形とのそれぞれについて測定対象とする区間を抽出する第5ステップと、
前記第5ステップで抽出された区間の波形を逆フーリエ変換して、前記第2ステップで前記位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルと、前記第4ステップで前記位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルとを算出する第6ステップと、
前記第2ステップで前記位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルと、前記第4ステップで前記位相雑音の影響を補償された後方レイリー散乱光波形に基づくレイリー散乱光スペクトルとの相互相関により周波数シフト量を算出する第7ステップと、
前記周波数シフト量に基づいて前記測定対象の温度・歪みを算出する第8ステップと、
前記第5ステップ乃至前記第8ステップを繰り返して、前記測定対象における温度・歪みの光の伝播方向に対する分布を算出する第9ステップとを具備することを特徴とする、光ファイバの温度・歪み分布測定方法。 - 前記第2ステップは、前記光源のコヒーレンス時間程度の遅延を与える参照干渉計から出力されるビート信号の位相を連結して前記光源の位相雑音の影響を補償する連結参照法により、前記第1ステップで得られた後方レイリー散乱光波形に対し前記第1ステップで測定された位相雑音の影響を補償し、
前記第4ステップは、前記連結参照法により、前記第3ステップで得られた後方レイリー散乱光波形に対し前記第3ステップで測定された位相雑音の影響を補償することを特徴とする、請求項1に記載の光ファイバの温度・歪み分布測定方法。 - 光周波数を掃引される光源から測定対象に入射された光の後方レイリー散乱光波形を得るデータ処理部を具備する光ファイバの温度・歪み分布測定装置において、
前記データ処理部は、
前記光源からの出力光を測定対象に入射して前記後方レイリー散乱光波形を得るとともに、前記出力光の位相雑音の影響を測定し、
前記後方レイリー散乱光波形に対し前記測定された位相雑音の影響を補償し、
前記後方レイリー散乱光波形の取得と当該後方レイリー散乱光波形に対する前記位相雑音の影響の補償とを複数回実施し、
前記位相雑音の影響を補償された複数の後方レイリー散乱光波形のそれぞれについて測定対象とする区間を抽出し、
前記抽出された区間の波形を逆フーリエ変換して、前記位相雑音の影響を補償された複数の後方レイリー散乱光波形のそれぞれに基づく複数のレイリー散乱光スペクトルを算出し、
前記複数のレイリー散乱光スペクトルの相互相関により周波数シフト量を算出し、
前記周波数シフト量に基づいて前記測定対象の温度・歪みを算出し、
前記区間を抽出することと、前記複数のレイリー散乱光スペクトルを算出することと、前記周波数シフト量を算出することと、前記温度・歪みを算出することとを繰り返して、前記測定対象における温度・歪みの光の伝播方向に対する分布を算出することを特徴とする、光ファイバの温度・歪み分布測定装置。 - さらに、前記光源のコヒーレンス時間程度の遅延を与える参照干渉計を具備し、
前記データ処理部は、前記参照干渉計から出力されるビート信号の位相を連結して前記光源の位相雑音の影響を補償する連結参照法により、前記後方レイリー散乱光波形に対し前記測定された位相雑音の影響を補償することを特徴とする、請求項3に記載の光ファイバの温度・歪み分布測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014179599A JP6236369B2 (ja) | 2014-09-03 | 2014-09-03 | 光ファイバの温度・歪み分布測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014179599A JP6236369B2 (ja) | 2014-09-03 | 2014-09-03 | 光ファイバの温度・歪み分布測定方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016053525A true JP2016053525A (ja) | 2016-04-14 |
JP6236369B2 JP6236369B2 (ja) | 2017-11-22 |
Family
ID=55745183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014179599A Active JP6236369B2 (ja) | 2014-09-03 | 2014-09-03 | 光ファイバの温度・歪み分布測定方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6236369B2 (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106872071A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-06-20 | 江苏骏龙光电科技股份有限公司 | 一种基于光频域反射技术的测温方法 |
JP2017194436A (ja) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | 日本電信電話株式会社 | インパルスレスポンス測定装置及びその測定方法 |
CN107328429A (zh) * | 2017-08-09 | 2017-11-07 | 武汉隽龙科技股份有限公司 | 光频域反射技术中可提高近距离传感稳定性的装置及方法 |
JP2018096787A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 日本電信電話株式会社 | 空間チャネル間伝搬遅延時間差測定方法及び空間チャネル間伝搬遅延時間差測定装置 |
JP2018146371A (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-20 | 日本電信電話株式会社 | 温度・歪センシング装置及び温度・歪センシング方法 |
JP2019020276A (ja) * | 2017-07-18 | 2019-02-07 | 日本電信電話株式会社 | 空間多重光伝送路評価装置及び方法 |
JP2019020143A (ja) * | 2017-07-11 | 2019-02-07 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバ振動検知センサおよびその方法 |
CN111678456A (zh) * | 2020-08-14 | 2020-09-18 | 武汉昊衡科技有限公司 | 温度与应变同时测量的ofdr装置及其测量方法 |
CN111735527A (zh) * | 2020-06-01 | 2020-10-02 | 哈尔滨工业大学 | 基于时域相位计算的光纤分布式振动传感方法 |
CN111811683A (zh) * | 2020-06-22 | 2020-10-23 | 西南交通大学 | 一种超导块材温升检测***及方法 |
CN111811682A (zh) * | 2020-06-22 | 2020-10-23 | 西南交通大学 | 一种超导磁悬浮装置温度检测***及方法 |
CN111879250A (zh) * | 2020-08-04 | 2020-11-03 | 小狗电器互联网科技(北京)股份有限公司 | 一种墙面检测方法、装置、扫地机及存储介质 |
CN112067155A (zh) * | 2020-11-11 | 2020-12-11 | 武汉昊衡科技有限公司 | 基于ofdr锂电池温度动态监测方法 |
CN113465528A (zh) * | 2021-08-09 | 2021-10-01 | 天津大学 | 基于光频域反射高速分布式应变测量***和方法 |
JP2022031310A (ja) * | 2017-07-26 | 2022-02-18 | テッラ15 プロプライエタリー リミテッド | 分布光学センシングシステム及び方法 |
CN114674352A (zh) * | 2022-03-31 | 2022-06-28 | 天津大学 | 基于瑞利散射光谱非相似性的分布式扰动传感和解调方法 |
WO2023021557A1 (ja) * | 2021-08-16 | 2023-02-23 | 日本電信電話株式会社 | センシングシステム、センシング方法、及び解析装置 |
WO2023047449A1 (ja) * | 2021-09-21 | 2023-03-30 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバセンシング装置及び方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060204165A1 (en) * | 2005-03-10 | 2006-09-14 | Luna Innovations Incorporated | Calculation of birefringence in a waveguide based on Rayleigh scatter |
JPWO2008105322A1 (ja) * | 2007-02-28 | 2010-06-03 | 日本電信電話株式会社 | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 |
JP2011232138A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Neubrex Co Ltd | 分布型光ファイバセンサ |
-
2014
- 2014-09-03 JP JP2014179599A patent/JP6236369B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060204165A1 (en) * | 2005-03-10 | 2006-09-14 | Luna Innovations Incorporated | Calculation of birefringence in a waveguide based on Rayleigh scatter |
JPWO2008105322A1 (ja) * | 2007-02-28 | 2010-06-03 | 日本電信電話株式会社 | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 |
JP2011232138A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Neubrex Co Ltd | 分布型光ファイバセンサ |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017194436A (ja) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | 日本電信電話株式会社 | インパルスレスポンス測定装置及びその測定方法 |
JP2018096787A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 日本電信電話株式会社 | 空間チャネル間伝搬遅延時間差測定方法及び空間チャネル間伝搬遅延時間差測定装置 |
CN106872071A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-06-20 | 江苏骏龙光电科技股份有限公司 | 一种基于光频域反射技术的测温方法 |
JP2018146371A (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-20 | 日本電信電話株式会社 | 温度・歪センシング装置及び温度・歪センシング方法 |
JP2019020143A (ja) * | 2017-07-11 | 2019-02-07 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバ振動検知センサおよびその方法 |
JP2019020276A (ja) * | 2017-07-18 | 2019-02-07 | 日本電信電話株式会社 | 空間多重光伝送路評価装置及び方法 |
JP2022031310A (ja) * | 2017-07-26 | 2022-02-18 | テッラ15 プロプライエタリー リミテッド | 分布光学センシングシステム及び方法 |
JP7293321B2 (ja) | 2017-07-26 | 2023-06-19 | テッラ15 プロプライエタリー リミテッド | 分布光学センシングシステム及び方法 |
CN107328429A (zh) * | 2017-08-09 | 2017-11-07 | 武汉隽龙科技股份有限公司 | 光频域反射技术中可提高近距离传感稳定性的装置及方法 |
CN107328429B (zh) * | 2017-08-09 | 2023-05-09 | 武汉昊衡科技有限公司 | 光频域反射技术中可提高近距离传感稳定性的装置及方法 |
CN111735527B (zh) * | 2020-06-01 | 2022-03-29 | 哈尔滨工业大学 | 基于时域相位计算的光纤分布式振动传感方法 |
CN111735527A (zh) * | 2020-06-01 | 2020-10-02 | 哈尔滨工业大学 | 基于时域相位计算的光纤分布式振动传感方法 |
CN111811682A (zh) * | 2020-06-22 | 2020-10-23 | 西南交通大学 | 一种超导磁悬浮装置温度检测***及方法 |
CN111811682B (zh) * | 2020-06-22 | 2021-12-07 | 西南交通大学 | 一种超导磁悬浮装置温度检测***及方法 |
CN111811683A (zh) * | 2020-06-22 | 2020-10-23 | 西南交通大学 | 一种超导块材温升检测***及方法 |
CN111879250A (zh) * | 2020-08-04 | 2020-11-03 | 小狗电器互联网科技(北京)股份有限公司 | 一种墙面检测方法、装置、扫地机及存储介质 |
CN111879250B (zh) * | 2020-08-04 | 2021-10-08 | 小狗电器互联网科技(北京)股份有限公司 | 一种墙面检测方法、装置、扫地机及存储介质 |
CN111678456A (zh) * | 2020-08-14 | 2020-09-18 | 武汉昊衡科技有限公司 | 温度与应变同时测量的ofdr装置及其测量方法 |
CN112067155A (zh) * | 2020-11-11 | 2020-12-11 | 武汉昊衡科技有限公司 | 基于ofdr锂电池温度动态监测方法 |
CN113465528B (zh) * | 2021-08-09 | 2022-08-23 | 天津大学 | 基于光频域反射高速分布式应变测量***和方法 |
CN113465528A (zh) * | 2021-08-09 | 2021-10-01 | 天津大学 | 基于光频域反射高速分布式应变测量***和方法 |
WO2023021557A1 (ja) * | 2021-08-16 | 2023-02-23 | 日本電信電話株式会社 | センシングシステム、センシング方法、及び解析装置 |
WO2023047449A1 (ja) * | 2021-09-21 | 2023-03-30 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバセンシング装置及び方法 |
CN114674352A (zh) * | 2022-03-31 | 2022-06-28 | 天津大学 | 基于瑞利散射光谱非相似性的分布式扰动传感和解调方法 |
CN114674352B (zh) * | 2022-03-31 | 2023-09-15 | 天津大学 | 基于瑞利散射光谱非相似性的分布式扰动传感和解调方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6236369B2 (ja) | 2017-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6236369B2 (ja) | 光ファイバの温度・歪み分布測定方法および装置 | |
US8149419B2 (en) | Optical reflectometry and optical reflectometer | |
JP6552983B2 (ja) | ブリルアン散乱測定方法およびブリルアン散乱測定装置 | |
JP6494459B2 (ja) | 振動分布測定方法及び振動分布測定装置 | |
JP6308160B2 (ja) | 光ファイバ歪み測定装置及び光ファイバ歪み測定方法 | |
JP6338153B2 (ja) | モード結合比率分布測定方法及びモード結合比率分布測定装置 | |
JP6358277B2 (ja) | 光ファイバ歪み及び温度測定装置並びに光ファイバ歪み及び温度測定方法 | |
JP6893137B2 (ja) | 光ファイバ振動検知センサおよびその方法 | |
JP7010147B2 (ja) | 振動分布測定システム、振動波形解析方法、振動波形解析装置、および解析プログラム | |
JP6647420B2 (ja) | ブリルアン散乱測定方法およびブリルアン散乱測定装置 | |
US11802809B2 (en) | Backscattering optical amplification device, optical pulse testing device, backscattering optical amplification method and optical pulse testing method | |
JP6796043B2 (ja) | 光反射測定装置及びその方法 | |
JP2017110953A (ja) | 伝搬モード間群遅延差測定方法及び伝搬モード間群遅延差測定システム | |
US11486791B2 (en) | Backscattering optical amplification device, optical pulse testing device, backscattering optical amplification method and optical pulse testing method | |
JP6411306B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 | |
JP6539931B2 (ja) | ブリルアン周波数シフト分布測定システム、ブリルアン周波数シフト分布測定装置、ブリルアン周波数シフト分布測定方法及びブリルアン周波数シフト分布測定プログラム | |
JP2015132562A (ja) | 分岐光線路の特性解析装置および分岐光線路の特性解析方法 | |
JP5207252B2 (ja) | 光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 | |
JP5371933B2 (ja) | レーザ光測定方法及びその測定装置 | |
JP6751371B2 (ja) | 空間モード分散測定方法及び空間モード分散測定装置 | |
JP6706192B2 (ja) | 空間チャネル間伝搬遅延時間差測定方法及び空間チャネル間伝搬遅延時間差測定装置 | |
RU2400783C1 (ru) | Способ идентификации многомодового оптического волокна с повышенной дифференциальной модовой задержкой | |
JP7173357B2 (ja) | 振動分布測定装置および方法 | |
JP6342857B2 (ja) | 光反射測定装置および光反射測定方法 | |
JP6259753B2 (ja) | 光反射計測装置及び光反射計測方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160920 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170726 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170808 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171002 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171024 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171030 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6236369 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |