JP2016051153A - 光学観察装置及び光学観察方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】広帯域光を出射する光源10と、第1端面20a及び第2端面20bを有し、第1端面及び第2端面において複数のコアの端面が2次元配列されたイメージファイバ20と、イメージファイバの第1端面側に設けられ、第1端面から出射された光を結像面Fに結像させる結像光学系30と、イメージファイバの第2端面側に設けられ、光軸上において軸上色収差を有し、第2端面から出射され観察対象物に向かう光を集束させる軸上収差光学系40と、を備え、イメージファイバは、光源から出射された光を第1端面から取り込んで第2端面へ伝達するとともに、観察対象物の表面で反射及び散乱し軸上収差光学系を介して集束され第2端面上の複数のコアごとに合焦した光を第2端面から取り込んで第1端面へ伝達する。
【選択図】図1
Description
図1は、第1実施形態に係る光学観察装置を例示する図である。図1(a)には、第1実施形態に係る光学観察装置1の構成図が表され、図1(b)には、イメージファイバ20の構成図が表される。
次に、第2実施形態に係る光学観察装置について説明する。
図5は、第2実施形態に係る光学観察装置を例示する図である。図5(a)には本実施形態に係る光学観察装置1Bの構成図が表され、図5(b)にはモニタMの表示例が表される。
図5(a)に表したように、本実施形態に係る光学観察装置1Bは、結像面Fに配置された撮像部60と、信号処理部70と、を備える。その他の構成は第1実施形態に係る光学観察装置1と同様である。
上記説明した光学観察装置1,1B及び光学観察方法において、ワークWに照射される広帯域光LS1は、スポット光でも、ライン光でもよい。また、広帯域光LS1とワークWとの相対的な位置を変化(走査)させてもよい。例えば、ライン光とワークWとの相対的な位置をライン方向と直交する方向に走査すれば、広い範囲でワークWの表面の3次元形状を把握することが可能になる。
10…光源
20…イメージファイバ
20a…第1端面
20b…第2端面
20c…コア
21…光源
30…結像レンズ
40…対物レンズ
50…ビームスプリッタ
60…撮像部
70…信号処理部
W…ワーク
Claims (5)
- 広帯域光を出射する光源と、
第1端面及び第2端面を有し、前記第1端面及び前記第2端面において複数のコアの端面が2次元配列されたイメージファイバと、
前記イメージファイバの前記第1端面側に設けられ、前記第1端面から出射された光を結像面に結像させる結像光学系と、
前記イメージファイバの前記第2端面側に設けられ、光軸上において軸上色収差を有し、前記第2端面から出射され観察対象物に向かう光を集束させる軸上収差光学系と、
を備え、
前記イメージファイバは、前記光源から出射された光を前記第1端面から取り込んで前記第2端面へ伝達するとともに、前記観察対象物の表面で反射及び散乱し前記軸上収差光学系を介して集束され前記第2端面上の前記複数のコアごとに合焦した光を前記第2端面から取り込んで前記第1端面へ伝達することを特徴とする光学観察装置。 - 前記軸上収差光学系は、前記複数のコアのそれぞれから出射し前記観察対象物の表面で反射及び散乱した光のうち、前記観察対象物の表面に合焦する波長の光を前記第2端面上の出射元のコアに結像させることを特徴とする請求項1記載の光学観察装置。
- 前記結像光学系は、前記軸上収差光学系と前記観察対象物との距離に対応した波長の光を前記結像面に結像させることを特徴とする請求項1または2に記載の光学観察装置。
- 前記光源は、白色光源であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の光学観察装置。
- 軸上色収差を有する軸上収差光学系を介して広帯域光を観察対象物に照射する工程と、
第1端面及び第2端面を有し、前記第1端面及び前記第2端面において複数のコアの端面が2次元配列されたイメージファイバを用いて、前記観察対象物の表面で反射及び散乱し前記軸上収差光学系を介して集束され前記第2端面上の前記複数のコアごとに合焦した光を前記第2端面から取り込んで前記第1端面へ伝達する工程と、
前記第1端面から出射された光を結像光学系を介して結像面に結像させる工程と、
を備えたことを特徴とする光学観察方法。
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