JP2015211068A - 半導体装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 104
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 107
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 61
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 46
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 23
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 3
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 abstract description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 68
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 28
- 102100040862 Dual specificity protein kinase CLK1 Human genes 0.000 description 24
- 102100040844 Dual specificity protein kinase CLK2 Human genes 0.000 description 24
- 101000749291 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK2 Proteins 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 20
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 101000749294 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK1 Proteins 0.000 description 5
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 206010065929 Cardiovascular insufficiency Diseases 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
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Abstract
【解決手段】半導体装置10を内部にパッケージングしたセンサモジュール100は、モジュール電源端子T101とモジュール出力端子T102及びT103を有しているが、データ通信専用端子は有していない。半導体装置10は、モジュール出力端子T102が非通常状態であるか否かをMON端子T15から検出し、モジュール出力端子T102が非通常状態であるときに通常モードからデータ通信モードに移行し、モジュール出力端子T103ないしはモジュール電源端子T101を流用してセンサモジュール100外部とのデータ通信を行う。
【選択図】図5
Description
図1は、半導体装置10の一構成例を示すブロック図である。本構成例の半導体装置10は、センサモジュール100(後出の図4、図5、図7、図9、及び、図11を参照)の内部にパッケージングされる信号処理用LSIであり、電源部11と、駆動部12と、信号処理部13と、インタフェイス部14と、記憶部15と、レベルシフタ部16と、セレクタ部17と、検出部18と、を有する。
図4は、センサモジュール100の通常使用形態を示すアプリケーション図である。センサモジュール100は、先出の半導体装置10と、センサ素子20と、サーミスタ素子30とをパッケージングして成る。
図13は、信号処理部13の第1構成例を示すブロック図である。本構成例の信号処理部13は、アナログ/デジタル変換部131と、デジタル信号プロセッサ132と、オープンドレイン出力部133と、トリミング処理部134と、を含む。
なお、本明細書中に開示されている種々の技術的特徴は、上記実施形態のほか、その技術的創作の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきであり、本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。
11 電源部(DC/DCコンバータ)
12 駆動部
13 信号処理部(センス回路)
131 アナログ/デジタル変換部
132 デジタル信号プロセッサ
132a デジタル処理部
132b 異常検出部
132c パルス生成部
133 オープンドレイン出力部(NMOSFET)
134 トリミング処理部
135 アナログ増幅部
136 異常検出部
137 電圧制御発振部
14 インタフェイス部
15 記憶部
16 レベルシフタ部
17 セレクタ部
18 検出部
20 センサ素子(信号源)
30 サーミスタ素子
100 センサモジュール
200 マイコン
300 試験装置
310 クロック生成部
320 ローレベル固定部
330 通信部
340 高周波印加部
350 高電圧印加部
T11〜T19 外部端子
T101 モジュール電源端子
T102、T103 モジュール出力端子
T104 モジュール接地端子
R1、R2 プルアップ抵抗
Claims (10)
- モジュール内にパッケージングされる半導体装置であって、
前記モジュールは、モジュール電源端子と少なくとも一つのモジュール出力端子とを有しているが、データ通信専用端子は有しておらず、
前記半導体装置は、装置外部とのデータ通信を行うインタフェイス部と、前記モジュール出力端子の一つが非通常状態であるか否かを検出する検出部と、を有しており、
前記インタフェイス部は、前記モジュール出力端子の一つが非通常状態であるときに、前記モジュール出力端子ないしは前記モジュール電源端子を流用して前記モジュール外部とのデータ通信を行うデータ通信モードに移行することを特徴とする半導体装置。 - 前記半導体装置は、前記モジュール電源端子に印加される電源電圧からこれに重畳されたクロック信号を抽出して前記インタフェイス部に与えるレベルシフタ部をさらに有し、
前記インタフェイス部は、前記クロック信号に同期してデータ通信を行う、
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記半導体装置は、前記電源電圧から内部電源電圧を生成して装置各部に供給する電源部をさらに有することを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
- 前記検出部の監視対象とされるモジュール出力端子は、通常時に所定周波数範囲内の周波数信号を出力するものであり、
前記検出部は、前記モジュール出力端子の論理レベルが所定期間に亘って固定されたときに当該モジュール出力端子が非通常状態であることを検出する、
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記検出部の監視対象とされるモジュール出力端子は、通常時に所定周波数範囲内のアナログ信号を出力するものであり、
前記検出部は、前記モジュール出力端子に前記所定周波数範囲外の高周波信号が印加されたときに当該モジュール出力端子が非通常状態であることを検出する、
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記検出部の監視対象とされるモジュール出力端子は、通常時に所定電圧値を上回らない電圧信号を出力するものであり、
前記検出部は、前記モジュール出力端子に前記所定電圧値を上回る高電圧が印加されたときに当該モジュール出力端子が非通常状態であることを検出する、
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記半導体装置は、データを不揮発的に格納する記憶部をさらに有し、
前記インタフェイス部は、前記モジュール外部と前記記憶部との間で前記データの読み書きを行う、
ことを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記半導体装置は、入力信号に応じた出力信号を生成して前記モジュール出力端子に出力する信号処理部をさらに有することを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載の半導体装置。
- 入力信号を生成する信号源と、前記入力信号に応じた出力信号を生成する請求項8に記載の半導体装置とをパッケージングして成ることを特徴とするモジュール。
- 前記信号源は、センサ素子であることを特徴とする請求項9に記載のモジュール。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014090194A JP6324189B2 (ja) | 2014-04-24 | 2014-04-24 | 半導体装置 |
US14/692,813 US10008284B2 (en) | 2014-04-24 | 2015-04-22 | Semiconductor device including an interface arranged to perform external data communications |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014090194A JP6324189B2 (ja) | 2014-04-24 | 2014-04-24 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015211068A true JP2015211068A (ja) | 2015-11-24 |
JP6324189B2 JP6324189B2 (ja) | 2018-05-16 |
Family
ID=54335393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014090194A Active JP6324189B2 (ja) | 2014-04-24 | 2014-04-24 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10008284B2 (ja) |
JP (1) | JP6324189B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7393380B2 (ja) * | 2021-04-21 | 2023-12-06 | 矢崎総業株式会社 | 通信システム及び通信システムの配置方法 |
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Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3960037B2 (ja) | 2001-12-21 | 2007-08-15 | 松下電器産業株式会社 | 温度補償型水晶発振器 |
JP2005114440A (ja) | 2003-10-06 | 2005-04-28 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 故障診断可能な静電容量検出型加速度センサ |
US9061592B2 (en) * | 2012-01-24 | 2015-06-23 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | System and method for detecting power integrator malfunction |
-
2014
- 2014-04-24 JP JP2014090194A patent/JP6324189B2/ja active Active
-
2015
- 2015-04-22 US US14/692,813 patent/US10008284B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10008284B2 (en) | 2018-06-26 |
JP6324189B2 (ja) | 2018-05-16 |
US20150310934A1 (en) | 2015-10-29 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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