JP2015200633A - サーミスタの温度特性補正装置及びサーミスタの温度特性補正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】より効率的に、サーミスタが検出した温度に応じて出力されるデータ値の特性を線形に補正する。
【解決手段】測定回路部2を、サーミスタ1に対して測定回路2(1〜3)を選択的に接続可能に構成し、それらの各測定回路2(1〜3)は、サーミスタ1が検出する異なる温度範囲についてその抵抗値の変化に応じた電圧変化にそれぞれ疑似線形特性を持たせるように設定する。CPU4は、測定回路部2が出力する電圧信号のA/D変換データ値の変化に応じて、サーミスタ1と各測定回路2(1〜3)との接続を切換えると共に、サーミスタ1に接続されている測定回路に対応する係数をフラッシュメモリ6より読み出して3次関数近似演算し、A/D変換値に応じた温度を求める。そして、要求される出力特性より導かれる出力変化量の閾値に応じて定義される領域について、各温度につき線形特性を成すように変換したデータを出力する。
【選択図】図8
【解決手段】測定回路部2を、サーミスタ1に対して測定回路2(1〜3)を選択的に接続可能に構成し、それらの各測定回路2(1〜3)は、サーミスタ1が検出する異なる温度範囲についてその抵抗値の変化に応じた電圧変化にそれぞれ疑似線形特性を持たせるように設定する。CPU4は、測定回路部2が出力する電圧信号のA/D変換データ値の変化に応じて、サーミスタ1と各測定回路2(1〜3)との接続を切換えると共に、サーミスタ1に接続されている測定回路に対応する係数をフラッシュメモリ6より読み出して3次関数近似演算し、A/D変換値に応じた温度を求める。そして、要求される出力特性より導かれる出力変化量の閾値に応じて定義される領域について、各温度につき線形特性を成すように変換したデータを出力する。
【選択図】図8
Description
本発明は、サーミスタが検出した温度に応じて出力されるデータ値の特性が線形となるように補正する装置及び方法に関する。
温度検出素子であるサーミスタが出力する電圧の特性は非線形であるため、そのままでは使い難いことから、出力電圧特性を線形に変換するための技術が従来様々に提案されている。例えば、特許文献1には、サーミスタの検知可能温度範囲−10℃〜+80℃を分3つの温度範囲(−10℃〜+20℃,+20℃〜+50℃,+50℃〜+80℃)に分割し、可変抵抗回路により夫々に異なる抵抗値R1,R2,R3を割り当てる。そして、サーミスタの検知温度が属する分割温度範囲に対応する抵抗値を発生させ、各温度範囲夫々において、検知温度の変化に対して温度検知回路部の出力電圧を略正比例に変化させる構成が開示されている。
しかしながら、特許文献1では、各温度範囲について正比例変化する範囲を設定するための明確な基準が無いため、本来は正比例変化する範囲であるにもかかわらず、使用範囲外として排除されている部分が存在する可能性がある。そのように排除される範囲があると、結果として温度範囲をカバーするために使用する抵抗素子数が多くなり、部品点数が徒に増加してしまう。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、より効率的に、サーミスタが検出した温度に応じて出力されるデータ値の特性を線形に補正できるサーミスタの温度特性補正装置及びサーミスタの温度特性補正方法を提供することにある。
請求項1記載のサーミスタの温度特性補正装置によれば、電圧変換回路は、複数の分圧抵抗回路がサーミスタに対して選択的に接続可能に構成されており、それらの各分圧抵抗値は、サーミスタが検出する異なる温度範囲について、サーミスタの抵抗値の変化に応じた電圧変化に、それぞれ疑似線形特性を持たせるように設定されている。すなわち、本来のサーミスタの抵抗値の変化は指数関数的特性を示すが、その抵抗値の変化を、分圧抵抗回路を介した電圧の変化として検出すると略線形を示す領域が得られる。
記憶回路には、各分圧抵抗回路によって付与される疑似線形特性を示す領域について、温度の変化に対して、分圧抵抗値が一定である場合に実際のA/D変換値が示す特性を予め多次関数近似した係数が記憶されている。演算回路は、電圧変換回路が出力する電圧信号のA/D変換データ値の変化に応じて、サーミスタと電圧変換回路における各分圧抵抗回路との接続を切換えると共に、サーミスタに接続されている分圧抵抗回路に対応する係数を記憶回路より読み出して多次関数近似演算を行う。これにより、各分圧抵抗回路における抵抗値に基づき、実際の特性より近い温度を連続的に得ることができる。そして、要求される出力特性より導かれる出力変化量の閾値に応じて定義される領域について、各温度について線形特性を成すように変換したデータを出力する。
このように構成すれば、サーミスタにより検出されて、温度特性補正装置より出力される温度データは、要求される出力特性を満たす範囲で線形となる。そして、そのために必要とされる分圧抵抗回路の数が最小限になるので、温度特性補正装置を従来よりも少ない部品数で構成できる。
(第1実施形態)
先ず、本実施形態において、検出した温度に対応したA/D変換データを得るための原理について説明する。図11に示すように、一般的なサーミスタの温度に対する抵抗値の変化は指数関数的特性を示す。このサーミスタの抵抗値の変化は、サーミスタを分圧抵抗回路等に接続し、電圧の変化をA/D変換して検出することが多い。この際、温度に応じたA/D変換値は図12(a)に示すようになり、低温域と高温域とで非線形に変化するが、それらの間の中温域では概ね線形な変化を示す。これを、以下では擬似線形特性領域と称す。
先ず、本実施形態において、検出した温度に対応したA/D変換データを得るための原理について説明する。図11に示すように、一般的なサーミスタの温度に対する抵抗値の変化は指数関数的特性を示す。このサーミスタの抵抗値の変化は、サーミスタを分圧抵抗回路等に接続し、電圧の変化をA/D変換して検出することが多い。この際、温度に応じたA/D変換値は図12(a)に示すようになり、低温域と高温域とで非線形に変化するが、それらの間の中温域では概ね線形な変化を示す。これを、以下では擬似線形特性領域と称す。
サーミスタによって温度を検出するに当たり、A/D変換値の擬似線形特性領域を使用できれば都合が良い。また、同じサーミスタであっても、擬似線形特性領域となる温度範囲や傾きは、接続される分圧抵抗回路の分圧抵抗値に応じて変化するので、特許文献1では、温度範囲に応じて可変抵抗回路の抵抗値を変化させている。
図12(a)に示す温度のA/D変換特性は、多次関数を用いて近似できるので、各分圧抵抗回路の分圧抵抗値に応じて多次関数近似演算して補正すれば、実際のA/D変換値に応じたより正確な温度を得ることができる。ここで、補正演算を行うに当たり、その精度がどの程度まで要求されるのかは、適用されるアプリケーションの仕様に応じて決まる。したがって、補正演算により仕様を満たす範囲が得られる擬似線形特性領域を、複数の分圧抵抗回路の接続を切換えて、それらを連結させて用いることで仕様を満たすようにする。最終的には、図12(b)に示すように、検出温度に応じたA/D変換データが線形(単調増加)となるように出力する。以下、より具体的に説明する。
図8(a)に示すように、本実施形態の温度特性補正装置は、サーミスタ1に接続される測定回路部2(電圧変換回路),検出部3,CPU4(演算回路),出力部5及びフラッシュメモリ6(記憶回路)で構成されている。測定回路部2は、複数例えば3つの測定回路2(1)〜2(3)(分圧抵抗回路)を備えている。測定回路2(1)〜2(3)は、電源とグランドとの間に、3つの抵抗素子R1〜R3と3つのスイッチSW(1〜3,4〜6,7〜9)とを直列に接続して構成されている。
例えば、測定回路2(1)は、抵抗素子R1及びR2の共通接続点,抵抗素子R2及びR3の共通接続点,抵抗素子R3とグランドとの間に、それぞれスイッチSW1,SW2,SW3が挿入されている。測定回路2(2)では、スイッチSW1,SW2,SW3に替えてスイッチSW4,SW5,SW6が、測定回路2(3)では同じくSW7,SW8,SW9が挿入されている。これらのスイッチSW1〜9のオンオフ切替えはCPU4により制御されて、測定回路2(1)〜2(3)のうち何れか1つがサーミスタ1に接続される。尚、図8(b)に示すように、抵抗素子R1〜R3の抵抗値は、測定回路2(1)〜2(3)それぞれにおいて異なる。
測定回路部2を介して出力される電圧信号は、検出部3に入力される。なお、検出部3には、抵抗素子R2の両端電圧が入力される。検出部3は、増幅回路及びA/D変換器を備えており、入力される電圧信号を増幅した後A/D変換してCPU4に出力する。フラッシュメモリ6には、CPU4が実行する制御プログラムや補正演算用の係数データ等が記憶されている。CPU4は、入力されるデータを読み込んで補正演算等を行った後、演算結果を出力部5に出力する。出力部5は、例えばSENT(Single Edge Nibble Transmission)等の通信規格に対応したインターフェイスであり(SENTトランスミッタ)、入力されるデータを通信規格に応じたデータフォーマットで外部に出力する。
尚、測定回路部2における測定回路は、必ずしも3つ抵抗素子を用いる必要はなく、例えば図9(a)に示すように2つの抵抗素子R1,R2を用いたり、図9(b)に示すように電流源と抵抗素子R1との直列回路で構成しても良い。また、電源電圧は例えば3.3Vであり、A/D変換のビット数は12ビットであるとする。
次に、本実施形態の作用について説明する。図1に示すように、サーミスタ1の抵抗値が温度に応じて変化すると(S1)、その変化は測定回路部2において電圧の変化になる(S2)。その電圧は、検出部3において増幅されて(S3)A/D変換されると(S4)、CPU4により補正演算が行われる(S5)。そして、要求される感度に応じて出力データ値の調整が行われ(S6)、出力部5により例えばSENT通信のデータフォーマットにより外部に出力される(S7)。尚、上記のステップS4では、A/D変換が行われると共に、そのA/D変換データ値に応じて測定回路2(1〜3)の選択も行われる。
図4(a)に示すように、3つの測定回路2(1〜3)を切換えて使用することで、概ね測定温度範囲−30℃〜180℃をカバーする。そして、各測定回路2(1〜3)について、それぞれの検出温度範囲とその温度範囲に応じて出力が期待されるA/D変換値とは、図5に示すように設定されている。ここで各測定回路2(1〜3)それぞれの期待A/D変換値は、擬似線形特性領域が得られる値域として選択されている。
例えば、測定回路の1つを介して得られるA/D変換値が、図10(a)のような特性を示す場合、図10(b)に示す各検出温度に応じた検出分解能[LSB/℃]は、低温域及び高温域で低下し、中温域で上昇する。この検出分解能がどこまで要求されるかに応じて、擬似線形特性領域と見なすことができる温度範囲が異なる。したがって、要求される検出分解能を例えば8LSB/℃と明確にすることで、1つの測定回路について擬似線形特性領域と見なせる温度範囲を最大限に確保できる。
そこで、ステップS4では、以下のように測定回路2(1〜3)の切換え制御を行う。図2に示すように、温度特性補正装置の起動時は、CPU4が、先ず最初に測定回路2(1〜3)のそれぞれに切り換えて得られるA/D変換値を読み込む(S11〜S13)。そして、各測定回路2(1〜3)を介して得られたA/D変換値が、それぞれ対応した期待値の範囲にあるかどうかに応じて、測定回路2(1〜3)の1つを初期選択する。
尚、図4(a)及び図5に示しているように、各測定回路2(1〜3)についての期待A/D変換値には、各測定回路2(1)及び2(2),測定回路2(2)及び(3)の間でオーバーラップする値域がある。これは、ヒステリシス特性を持たせて、測定回路2(1〜3)の切替を円滑に行うためである。
測定回路2(1)のA/D変換値のみが期待値であれば(S14:YES)、測定回路2(1)を初期選択し(S17)、測定回路2(3)のA/D変換値のみが期待値であれば(S18:YES)、測定回路2(3)を初期選択する(S19)。そして、測定回路2(1)及び2(2),又は測定回路2(2)及び2(3)のA/D変換値が期待値であれば(S16:YES)、測定回路2(2)を初期選択する(S17)。これは、測定回路2(2)が中温域に設定されているので、優先的に選択した方が、以降に切り替えを行う頻度が低下することが期待できるからである。
初期選択した以降のステップS4では、図3に示す処理となる。初期選択の結果に応じて、それぞれ測定回路2(1),2(2),2(3)によりA/D変換を行う(S21,S23,S26)。図5(a)に示すように、測定回路2(1),2(2)で使用するA/D変換値の下限はそれぞれα1,α2に設定されており、測定回路2(2),2(3)で使用するA/D変換値の上限はそれぞれβ2,β3に設定されている。測定回路2(1)でA/D変換を行った場合(S21)、そのA/D変換値がα1以下であれば(S22:YES)ステップS21に戻り、測定回路2(1)の使用を継続する。前記A/D変換値がα1を超えると(S22:NO)ステップS23に移行する。
測定回路2(2)でA/D変換を行った場合(S23)、そのA/D変換値がβ2以上であり(S24:YES)且つα2以下であれば(S25:YES)ステップS23に戻り、測定回路2(2)の使用を継続する。ステップS24で「NO」と判断するとステップS21に戻り、ステップS25で「NO」と判断するとステップS26に移行する。
測定回路2(3)でA/D変換を行った場合(S26)、そのA/D変換値がβ3以上であれば(S27:YES)ステップS26に戻り、測定回路2(3)の使用を継続する。ステップS27で「NO」と判断するとステップS23に移行する。
測定回路2(3)でA/D変換を行った場合(S26)、そのA/D変換値がβ3以上であれば(S27:YES)ステップS26に戻り、測定回路2(3)の使用を継続する。ステップS27で「NO」と判断するとステップS23に移行する。
再び図1を参照する。以上のように、ステップS4において測定回路2(1)〜2(3)を選択すると、CPU4は、A/D変換値について3次関数近似を用いて補正を行う(S5)。実際に得られたA/D変換値X1について、測定回路2(1)〜2(3)それぞれの抵抗値に応じたA/D変換特性として想定される3次関数の係数A〜Dを求めておき、予めフラッシュメモリ6に記憶しておく。そして、
Y1=AX1 3+BX1 2+CX1+D
により温度Y1を求める。このようにして得られた温度Y1は、図6(b)に示したような、実際のA/D変換特性を3次近似した曲線に応じた値となっている。
Y1=AX1 3+BX1 2+CX1+D
により温度Y1を求める。このようにして得られた温度Y1は、図6(b)に示したような、実際のA/D変換特性を3次近似した曲線に応じた値となっている。
最後に、図4(b)及び図6(c)に示すように、SENT通信において温度データを伝送する際に満たす必要がある出力特性(≒8LSB/℃)に従うデジタル値を出力するため、温度Y1を温度X2として出力関数に代入し、単調増加するデジタル値Y2を出力する。尚、E,Fは係数である。
Y2=EX2+F
以上のように処理した結果、図7に示すように、サーミスタ1による温度検出範囲−30°〜180℃の範囲について、要求される出力特性(検出精度)8LSB/℃が確保されている。尚、図6(c)の出典を記す(「SAEJ2716_Revised JAN2010 Page42 of 56」)。
Y2=EX2+F
以上のように処理した結果、図7に示すように、サーミスタ1による温度検出範囲−30°〜180℃の範囲について、要求される出力特性(検出精度)8LSB/℃が確保されている。尚、図6(c)の出典を記す(「SAEJ2716_Revised JAN2010 Page42 of 56」)。
以上のように本実施形態によれば、測定回路部2を、サーミスタ1に対して測定回路2(1)〜2(3)を選択的に接続可能に構成し、それらの各測定回路2(1)〜2(3)は、サーミスタ1が検出する異なる温度範囲について、サーミスタ1の抵抗値の変化に応じた電圧変化にそれぞれ疑似線形特性を持たせるように設定する。
CPU4は、測定回路部2が出力する電圧信号のA/D変換データ値の変化に応じて、サーミスタ1と各測定回路2(1)〜2(3)との接続を切換えると共に、サーミスタ1に接続されている測定回路に対応する係数をフラッシュメモリ6より読み出して3次関数近似演算を行い、A/D変換値に応じた温度を求める。そして、要求される出力特性より導かれる出力変化量の閾値に応じて定義される領域について、各温度につき線形特性を成すように変換したデータを出力する。
これにより、サーミスタ1により検出されて、温度特性補正装置より出力される温度データは、要求される出力特性を満たす範囲で線形となる。そして、そのために必要とされる測定回路の数が最小限になるので、温度特性補正装置を従来よりも少ない部品数で構成できる。また、CPU4は、サーミスタ1が検出する温度が上昇する過程における各測定回路2(1)〜2(3)との接続切換えを行うための閾値データと、サーミスタ1が検出する温度が低下する過程における前記接続切換えを行うための閾値データとに差を持たせているので、切換え制御を安定して行うことができる。
(第2実施形態)
以下、第1実施形態と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、異なる部分について説明する。図13に示すように、第2実施形態では、CPU4がステップS5,S6の間に、フィルタ処理の演算を実行する(S11)。このフィルタ処理は、測定回路2(1)〜2(3)の間で接続切替えを行う際に、3次関数近似した温度に対応するA/D変換値の変化を滑らかにするため、例えば重み付き平均処理として行う。
以下、第1実施形態と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、異なる部分について説明する。図13に示すように、第2実施形態では、CPU4がステップS5,S6の間に、フィルタ処理の演算を実行する(S11)。このフィルタ処理は、測定回路2(1)〜2(3)の間で接続切替えを行う際に、3次関数近似した温度に対応するA/D変換値の変化を滑らかにするため、例えば重み付き平均処理として行う。
例えば図14に示すように、最新のデータ,その1つ前,2つ前に得られたデータにそれぞれ係数α,β,γ(α+β+γ=1)を乗じてそれらを加算したものを今回の出力値とする。これにより、例えば測定回路2(1)から測定回路2(2)に切り換えた際のA/D変換値に多少のずれがあったとしても、そのずれに応じた変動がより小さくなるようにデータ値が補正される。
(第3実施形態)
第1実施形態の温度特性補正装置は、電圧変換回路2が測定回路2(1)〜2(3)を備えているので、例えばスイッチSW1〜SW9の何れかがOFF状態,又はON状態のまま固着したり、或いは、抵抗素子R1〜R3の抵抗値が経時変化して温度測定値が変動する可能性がある。そこで、第3実施形態では、上記のような異常を検出して故障判定をするための構成を備える。
第1実施形態の温度特性補正装置は、電圧変換回路2が測定回路2(1)〜2(3)を備えているので、例えばスイッチSW1〜SW9の何れかがOFF状態,又はON状態のまま固着したり、或いは、抵抗素子R1〜R3の抵抗値が経時変化して温度測定値が変動する可能性がある。そこで、第3実施形態では、上記のような異常を検出して故障判定をするための構成を備える。
図15に示すように、第3実施形態の温度特性補正装置は、第1実施形態の電圧変換回路2を、電圧変換回路11に置き換えている。電圧変換回路11は、測定回路部11M及び診断回路部11Dからなり、測定回路部11Mは、第1実施形態の電圧変換回路2と同じ構成である。また、診断回路部11Dは、測定回路部11Mの測定回路2(1)〜2(3)に対応して、それぞれ同じ抵抗値で構成される(図16参照)診断回路12(1)〜12(3)(診断用分圧抵抗回路)を備えている。
診断回路12(1)〜12(3)において、測定回路2(1)〜2(3)のスイッチSW1〜SW9に対応するスイッチは、スイッチSW11〜SW19となっている。そして、CPU4に替わるCPU13(演算回路)は、診断回路12(1)〜12(3)を用いて電圧変換回路11の故障診断(異常検出)を行う。
次に、第3実施形態の作用について説明する。図17に示すように、CPU13は、第1実施形態のステップS11〜S19を起動時処理として行い(S31)、温度測定に使用する測定回路2を選択する。そして、ステップS21〜S27を実行する通常処理を第1実施形態と同様に行ない、温度測定値(1)を得る(S32)。それに続いて、測定に使用した測定回路2に対応する診断回路12を用いて通常処理を同様に実行し、温度測定値(2)を得る(S33)。
次に、測定値(1)と測定値(2)との差の絶対値を求め、その差の絶対値が故障判定の閾値α以上か否かを判断する(S34)。前記絶対値が閾値α未満であれば(NO)ステップS32に戻り、通常動作を継続する。一方、前記絶対値が閾値α以上であれば(YES)故障と判定する(S35)。尚、閾値αは、予め設定してフラッシュメモリ6に格納しておく。
以上のように第3実施形態によれば、測定回路2(1)〜2(3)によりカバーされているサーミスタ1の検出温度範囲に対応する診断回路12(1)〜12(3)を備え、CPU13は、測定回路2(1)〜2(3)により得られた温度データと診断回路12(1)〜12(3)より得られた温度データとの差を求め、前記差の絶対値が閾値α以上となるか否かにより故障診断を行う。したがって、測定回路2又は診断回路12の少なくとも何れか一方に発生した、スイッチSWのON固着やOFF固着等による故障が検出可能となり、温度特性補正装置の信頼性を向上させることができる。
そして、診断回路12(1)〜12(3)の抵抗値を、対応する測定回路2(1)〜2(3)と同じ値に設定した。これにより、診断回路12(1)〜12(3)は、測定回路2(1)〜2(3)と同じ線形性を有することになるので、故障診断をより高い精度で行うことができる。
(第4実施形態)
図18に示すように、第4実施形態の温度特性補正装置は電圧変換回路14を備えており、電圧変換回路14は電圧変換回路11の診断回路部11Dを診断回路部14Dに置き換えたものである。診断回路部14Dは、測定回路2(1)〜2(3)に対応して診断回路15(4),15(5)(分圧抵抗回路)を備えている。診断回路15(4),15(5)における抵抗素子R1〜R3の各抵抗値は、図19に示す値となっている。
図18に示すように、第4実施形態の温度特性補正装置は電圧変換回路14を備えており、電圧変換回路14は電圧変換回路11の診断回路部11Dを診断回路部14Dに置き換えたものである。診断回路部14Dは、測定回路2(1)〜2(3)に対応して診断回路15(4),15(5)(分圧抵抗回路)を備えている。診断回路15(4),15(5)における抵抗素子R1〜R3の各抵抗値は、図19に示す値となっている。
図20(a)は図7と同じものであり、図20(b)は、診断回路15(4),15(5)について、測定回路2と同じ3次関数近似演算を行った結果である。すなわち、診断回路15(4),15(5)によって、測定回路2(1)〜2(3)と同じくサーミスタ1による温度検出範囲−30°〜180℃の範囲をカバーしており、誤差の最大値は約10LSBとなっている。これについては、線形性の厳密さを、測定回路2(1)〜2(3)よりも若干緩和した設定となっている。そして、診断回路15(4),15(5)について、上記3次関数近似演算を行うための係数は、予めフラッシュメモリ6に記憶されている。
次に、第4実施形態の作用について説明する。図21に示すように、CPU13に替わるCPU16(演算回路)は、ステップS31に続いて、診断回路15(4),15(5)を用いた起動時処理を行う(S36)。すなわち、測定対象の温度範囲が診断回路15(4),15(5)の何れに適合するかを判定する。そして、ステップS32の実行後は、診断回路15(4),15(5)の何れかにより温度測定値(2)を得る(S37)。以降はステップS34,S35を第3実施形態と同様に実行する。
以上のように第4実施形態によれば、測定回路2(1)〜2(3)に対応して、より少ない数の診断回路15(4),15(5)を備えて測定温度範囲をカバーするようにした。また、フラッシュメモリ6に、診断回路15(4),15(5)について、3次関数近似演算を行うための係数も予め記憶し、CPU16は、前記係数を読み出して、診断回路15(4),15(5)を介してA/D変換されたデータ値について3次関数近似演算により補正した温度を求め、疑似線形特性を線形特性に変換したデータを演算する。
そして、第3実施形態と同様に、診断回路12(1)〜12(3)より得られた温度データと診断回路15(4),15(5)より得られた温度データとの差を求めて故障診断を行う。これにより、故障診断精度については第3実施形態に及ばないが、診断回路15側に故障が発生する確率が低減するので、信頼性をより向上させることができる。
(第5実施形態)
図22に示すように、第5実施形態の温度特性補正装置は電圧変換回路17を備えており、電圧変換回路17は、第4実施形態の診断回路部14Dを診断回路部17Dに置き換えたものである。診断回路部17Dは、測定回路2(1)〜2(3)に対応して1つの診断回路15(6)のみを備えている。診断回路15(6)における抵抗素子R1〜R3の各抵抗値は、図23に示すように、測定温度範囲の中間領域に対応する測定回路2(2)と同じ値になっている。
図22に示すように、第5実施形態の温度特性補正装置は電圧変換回路17を備えており、電圧変換回路17は、第4実施形態の診断回路部14Dを診断回路部17Dに置き換えたものである。診断回路部17Dは、測定回路2(1)〜2(3)に対応して1つの診断回路15(6)のみを備えている。診断回路15(6)における抵抗素子R1〜R3の各抵抗値は、図23に示すように、測定温度範囲の中間領域に対応する測定回路2(2)と同じ値になっている。
そして、第5実施形態では、診断回路15(6)については、測定回路2について行っている3次関数近似演算よりも高い次数の関数近似演算を行う。図24は、6次関数近似演算と、8次関数近似演算とを行った結果を示しており、縦軸は、図20の2倍のスケールとなっている。すなわち、診断回路15(6)によって、測定回路2(1)〜2(3)と同じくサーミスタ1による温度検出範囲−30°〜180℃の範囲をカバーしており、6次関数近似演算における誤差の最大値は30LSB強であり、8次関数近似演算における誤差の最大値は20LSB弱である。
フラッシュメモリ6には、診断回路15(6)について、高次関数近似演算を行うための係数も予め記憶し、CPU16に替わるCPU18は、前記係数を読み出して、診断回路15(6)を介してA/D変換されたデータ値について高次関数近似演算により補正した温度を求め、疑似線形特性を線形特性に変換したデータを演算する。
そして、CPU18は、第3実施形態で図16に示すステップS33では、診断回路15(6)により温度測定値(2)を得て、以降はステップS34,S35を第3実施形態と同様に実行する。
以上のように第5実施形態によれば、診断回路15について使用する多次関数近似演算に、測定回路2について使用する3次関数近似演算よりも高次の関数を使用するので、線形性の厳密さを緩和して、診断回路15の数をより削減することが可能になる。そして、診断回路15(6)を1つだけ設け、その抵抗値を測定回路2(1)と同じ値に設定したので、極力高い信頼性を維持した状態で故障診断を行うことができる。
本発明は上記した、又は図面に記載した実施形態にのみ限定されるものではなく、以下のような変形又は拡張が可能である。
測定回路の数は「3」に限らず、測定対象とする温度範囲等に応じて適宜選択すれば良い。
補正は3次関数近似に限らず、2次又は4次以上の関数を用いても良い。
電源電圧やA/D変換のビット数等は、個別の設計に応じて適宜変更すれば良い。また、検出精度についても8LSB/℃に限ることはない。
測定回路の数は「3」に限らず、測定対象とする温度範囲等に応じて適宜選択すれば良い。
補正は3次関数近似に限らず、2次又は4次以上の関数を用いても良い。
電源電圧やA/D変換のビット数等は、個別の設計に応じて適宜変更すれば良い。また、検出精度についても8LSB/℃に限ることはない。
第3,第5実施形態において、診断回路12,15の抵抗値を、測定回路2と異なる値に設定しても良い。
診断回路12,15について行う高次関数近似演算は、6次,8次に限ることなく、測定回路側の次数よりも高い次数であれば良い。
出力部5は、SENT以外の通信規格に対応するものでも良い。また、出力部5は、必要に応じて設ければ良い。
記憶回路はフラッシュメモリ6に限ることはなく、SRAMやDRAMなどでも良い。
診断回路12,15について行う高次関数近似演算は、6次,8次に限ることなく、測定回路側の次数よりも高い次数であれば良い。
出力部5は、SENT以外の通信規格に対応するものでも良い。また、出力部5は、必要に応じて設ければ良い。
記憶回路はフラッシュメモリ6に限ることはなく、SRAMやDRAMなどでも良い。
図面中、1はサーミスタ、2は測定回路部(電圧変換回路),2(1)〜2(3)は測定回路(分圧抵抗回路)、3は検出部(A/D変換器)、4はCPU(演算回路)、6はフラッシュメモリ(記憶回路)を示す。
Claims (10)
- 分圧抵抗値が異なる複数の分圧抵抗回路(2(1)〜(3))を備え、各分圧抵抗回路にサーミスタ(1)が選択的に接続可能に構成され、前記各分圧抵抗値は、前記サーミスタが検出する異なる温度範囲について、前記サーミスタの抵抗値の変化に応じた電圧変化に、それぞれ疑似線形特性を持たせるように設定されている電圧変換回路(2)と、
この電圧変換回路が出力する電圧信号をA/D変換するA/D変換器(3)と、
前記A/D変換されたデータが入力され、演算を行う演算回路(4,13,16,18)と、
前記各分圧抵抗回路によって付与される疑似線形特性を線形特性に変換するため、予め多次関数近似した係数が記憶されている記憶回路(6)とを備え、
前記演算回路は、前記A/D変換されたデータ値の変化に応じて、前記サーミスタと前記電圧変換回路における各分圧抵抗回路との接続を切換えると共に、
前記サーミスタに接続されている分圧抵抗回路に対応する係数を前記記憶回路より読み出して、前記A/D変換されたデータ値について多次関数近似演算により補正した温度を求め、前記疑似線形特性を、要求される出力特性より導かれる出力変化量の閾値に応じて定義される領域について線形特性に変換したデータを出力することを特徴とするサーミスタの温度特性補正装置。 - 前記多次関数近似演算を、3次関数近似演算とすることを特徴とする請求項1記載のサーミスタの温度特性補正装置。
- 前記演算回路は、前記サーミスタが検出する温度が上昇する過程における前記サーミスタと前記各分圧抵抗回路との接続切換えを行うための閾値データと、前記サーミスタが検出する温度が低下する過程における前記接続切換えを行うための閾値データとに差を持たせることを特徴とする請求項1又は2記載のサーミスタの温度特性補正装置。
- 前記演算回路は、前記サーミスタと前記各分圧抵抗回路との接続切換えを行う前後に出力するデータについて、重み付き平均によるフィルタ演算処理を行うことを特徴とする請求項1から3の何れか一項に記載のサーミスタの温度特性補正装置。
- 前記複数の分圧抵抗回路によりカバーされている前記サーミスタの検出温度範囲に対応する故障診断用の分圧抵抗回路(以下、診断用分圧抵抗回路と称す)を備え、
前記A/D変換器は、前記診断用分圧抵抗回路(12,15)が出力する電圧信号もA/D変換し、
前記記憶回路には、前記診断用分圧抵抗回路についても、当該回路よって付与される疑似線形特性を線形特性に変換するため、予め多次関数近似した係数が記憶され、
前記演算回路(13,16,18)は、前記サーミスタに接続されている分圧抵抗回路に対応する診断用分圧抵抗回路の係数も前記記憶回路より読み出して、前記診断用分圧抵抗回路を介してA/D変換されたデータ値について多次関数近似演算により補正した温度を求め、前記疑似線形特性を前記線形特性に変換したデータを演算し、
前記分圧抵抗回路により得られたデータと、前記診断用分圧抵抗回路により得られたデータとの差を求め、前記差が所定の閾値以上となるか否かにより故障診断を行うことを特徴とする請求項1から4の何れか一項に記載のサーミスタの温度特性補正装置。 - 前記診断用分圧抵抗回路(12(1)〜12(3))は、前記複数の分圧抵抗回路に対応して複数設けられ、それぞれが対応する分圧抵抗回路と同じ抵抗値に設定されていことを特徴とする請求項5項記載のサーミスタの温度特性補正装置。
- 前記診断用分圧抵抗回路について使用する多次関数近似演算は、前記分圧抵抗回路について使用する多次関数近似演算よりも高次の関数を使用することを特徴とする請求項5項記載のサーミスタの温度特性補正装置。
- 前記診断用分圧抵抗回路を1つ(15(6))だけ設け、その抵抗値を、前記分圧抵抗回路の1つと同じ値に設定することを特徴とする請求項7項記載のサーミスタの温度特性補正装置。
- 分圧抵抗値が異なる複数の分圧抵抗回路を用い、前記各分圧抵抗値は、サーミスタが検出する異なる温度範囲について、前記サーミスタの抵抗値の変化に応じた電圧変化に、それぞれ疑似線形特性を持たせるように設定されており、
前記サーミスタが、前記分圧抵抗回路の何れかに接続された状態で出力される電圧信号をA/D変換し、
前記A/D変換されたデータ値の変化に応じて、前記サーミスタと前記電圧変換回路における各分圧抵抗回路との接続を切換え、
前記サーミスタに接続されている分圧抵抗回路によって付与される疑似線形特性を線形特性に変換するために、予め多次関数近似した係数を用いて多次関数近似演算を行い、前記疑似線形特性を、要求される出力特性より導かれる出力変化量の閾値に応じて定義される領域について線形特性に変換したデータを出力することを特徴とするサーミスタの温度特性補正方法。 - 前記多次関数近似演算を、3次関数近似演算とすることを特徴とする請求項9記載のサーミスタの温度特性補正方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018078823A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | アナログデジタル変換装置及びアナログデジタル変換方法 |
US10837843B2 (en) | 2016-11-09 | 2020-11-17 | Denso Corporation | Voltage measuring system |
CN113125032A (zh) * | 2019-12-30 | 2021-07-16 | 联合汽车电子有限公司 | 一种电机温度监测***的响应测量***及测量方法 |
CN118011134A (zh) * | 2024-04-09 | 2024-05-10 | 山东盈动智能科技有限公司 | 快速切换温度的电子元件测试方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242865A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 温度計測装置 |
JP2007113921A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Yokogawa Electric Corp | 変換演算装置 |
JP2008249582A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Hitachi High-Tech Control Systems Corp | 関数近似温度変換器 |
JP2011247780A (ja) * | 2010-05-27 | 2011-12-08 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 検出装置 |
-
2014
- 2014-12-24 JP JP2014260385A patent/JP2015200633A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242865A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 温度計測装置 |
JP2007113921A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Yokogawa Electric Corp | 変換演算装置 |
JP2008249582A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Hitachi High-Tech Control Systems Corp | 関数近似温度変換器 |
JP2011247780A (ja) * | 2010-05-27 | 2011-12-08 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 検出装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018078823A1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | アナログデジタル変換装置及びアナログデジタル変換方法 |
JP6338802B1 (ja) * | 2016-10-28 | 2018-06-06 | 三菱電機株式会社 | アナログデジタル変換装置及びアナログデジタル変換方法 |
DE112016007393T5 (de) | 2016-10-28 | 2019-07-25 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog-zu-Digital-Wandlungsvorrichtung und Analog-zu-Digital-Wandlungsverfahren |
US10608657B2 (en) | 2016-10-28 | 2020-03-31 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog-to-digital conversion apparatus and analog-to-digital conversion method |
DE112016007393B4 (de) | 2016-10-28 | 2021-12-30 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog-zu-Digital-Wandlungsvorrichtung und Analog-zu-Digital-Wandlungsverfahren |
US10837843B2 (en) | 2016-11-09 | 2020-11-17 | Denso Corporation | Voltage measuring system |
CN113125032A (zh) * | 2019-12-30 | 2021-07-16 | 联合汽车电子有限公司 | 一种电机温度监测***的响应测量***及测量方法 |
CN118011134A (zh) * | 2024-04-09 | 2024-05-10 | 山东盈动智能科技有限公司 | 快速切换温度的电子元件测试方法 |
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