JP2015176937A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】メモリチップM1が形成される半導体ウエハW1が薄型化したとしても、搬送などの際に、薄型化に起因する困難が生ずることを防止する。また、撓みなどにより、半導体ウエハW1にクラックが発生することを防止する。
【解決手段】互いに個片化された複数のメモリチップM1が表面に配置されたダイシングテープ63を作製する工程と、前記支持体の前記表面に複数のメモリチップM2を積層することにより、それぞれメモリチップM1及びメモリチップM2−1〜M2−3を積層してなる複数のチップ積層体Lを形成する工程と、ダイシングテープ63から複数のチップ積層体Lを取り上げる工程とを備えることを特徴とする。
【選択図】図7
【解決手段】互いに個片化された複数のメモリチップM1が表面に配置されたダイシングテープ63を作製する工程と、前記支持体の前記表面に複数のメモリチップM2を積層することにより、それぞれメモリチップM1及びメモリチップM2−1〜M2−3を積層してなる複数のチップ積層体Lを形成する工程と、ダイシングテープ63から複数のチップ積層体Lを取り上げる工程とを備えることを特徴とする。
【選択図】図7
Description
本発明は半導体装置の製造方法に関し、特に、複数の半導体チップが積層された構造を有する半導体装置の製造方法に関する。
複数の半導体チップを積層したチップ積層体を用いることにより、大記憶容量の半導体装置を実現する技術が知られている。特許文献1〜4には、そのような半導体装置の製造方法の例が開示されている。
特許文献1〜3に開示される製造方法では、ダイシングによって個片化された半導体チップを積層することによって、チップ積層体を製造している。しかし、この製造方法には、チップ積層体の製造効率が悪く、製造コストが高くなるという問題がある。
そこで近年、ダイシング前のウエハ(ベースウエハ)の表面に形成された複数の半導体チップのそれぞれに個片化された半導体チップを積層させ、その後、ベースウエハをダイシングすることによってチップ積層体を製造するという、いわゆるCoW(Chip on Wafer)方式が検討されている。このCoW方式によれば、ベースウエハ上の複数の半導体チップの相対的な位置が固定されていることから、半導体チップのハンドリングが容易となる。したがって、チップ積層体の製造効率が改善されるので、特許文献1〜3に開示される製造方法に比べて製造コストの低減というメリットが得られる。特許文献4には、CoW方式を採用した製造方法の一例が開示されている。
ところで近年、ベースウエハを薄型化することによって半導体装置を低背化しようとする動きが顕著になっている。しかしながら、上記従来のCoW方式では、ベースウエハを土台として使用していることから、ベースウエハが薄型化されると、搬送などの際に困難が生ずる。また、ベースウエハの薄型化に伴い、撓みなどによって、ベースウエハにクラックが発生しやすくなるという問題も発生する。したがって、薄型化したベースウエハにも対応できる、チップ積層体の製造方法が必要とされている。
本発明による半導体装置の製造方法は、互いに個片化された複数の第1の半導体チップが表面に配置された支持体を作製する工程と、前記支持体の前記表面に複数の第2の半導体チップを積層することにより、それぞれ前記第1の半導体チップと1つ以上の前記第2の半導体チップとを積層してなる複数のチップ積層体を形成する工程と、前記支持体から前記複数のチップ積層体を取り上げる工程とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、各第1の半導体チップを支持体の表面に配置した状態でチップ積層体の形成を行うので、第1の半導体チップが形成されるウエハ(ベースウエハ)が薄型化したとしても、搬送などの際に、薄型化に起因する困難が生ずることはない。また、撓みも発生しなくなるので、ベースウエハにクラックが発生することも防止される。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書では、本発明による半導体装置の製造方法について第1〜第3の実施の形態を挙げて説明するが、これらの実施の形態によって製造される半導体装置1の構成は共通である。そこで以下では、まず初めに完成品としての半導体装置1の構成について説明し、その後、第1〜第3の実施の形態について順次説明することとする。
まず、半導体装置1の構成について、図1〜図5を参照しながら説明する。
半導体装置1は、SiP(System in Package)と呼ばれる、1つのパッケージ内に複数の半導体チップを有するタイプの半導体装置である。SiPには様々な機能を持った複数の半導体チップが搭載されるが、半導体装置1は、図1に示すように、半導体チップとして、1枚のロジックチップCと、それぞれDRAM(Dynamic Random Access Memory)である4枚のメモリチップM1,M2−1〜M2−3とを備えて構成される。ただし、本発明の適用対象は、このような構成の半導体装置に限定されない。
ロジックチップC、メモリチップM2−3、メモリチップM2−2、メモリチップM2−1、及びメモリチップM1は、この順で配線基板B上に積層される。このようにすべてのチップを積層した構造は、一般に3D(Three Dimension)構造と呼ばれる。なお、メモリチップM1及びメモリチップM2−1〜M2−3は、チップ積層体Lを構成する。また、以下の説明では、メモリチップM2−3、メモリチップM2−2、及びメモリチップM2−1をメモリチップM2と総称し、メモリチップM1及びメモリチップM2をメモリチップMと総称する場合がある。
ロジックチップCは、例えばSoC(System on Chip)やMPU(Micro-Processing Unit)などのコントロール系の半導体チップであり、半導体基板の主面に設けられる回路層CL内に各種の回路が形成された構成を有している。ロジックチップCの主面には、それぞれ回路層CL内の回路に接続される複数の表面バンプ11が形成される。一方、ロジックチップCの裏面には、複数の裏面バンプ12が形成される。これら裏面バンプ12は、半導体基板を貫通する貫通電極13を介して、回路層CL内の回路に接続される。
メモリチップMは、例えばDRAM(Dynamic Random Access Memory)などのメモリ系の半導体チップであり、半導体基板の主面に設けられる回路層ML内に各種の回路が形成された構成を有している。メモリチップMの主面には、それぞれ回路層ML内の回路に接続される複数の表面バンプ15(第1及び第2の主面バンプ電極)が形成される。また、メモリチップM2の裏面には、複数の裏面バンプ16(裏面バンプ電極)が形成される。これら裏面バンプ16は、半導体基板を貫通する貫通電極17を介して、回路層ML内の回路に接続される。チップ積層体Lの最上層(配線基板Bから最も遠い層)に位置するメモリチップM1には、裏面バンプ16及び貫通電極17は設けられない。
配線基板Bは、ガラスクロス(ガラス繊維製の布)にエポキシ樹脂を含浸して形成した絶縁基材(ガラスエポキシ基材)20と、それぞれ絶縁基材20の一方の面(ロジックチップCの搭載面)に形成された接続パッド21及び絶縁膜24と、それぞれ絶縁基材20の他方の面に形成されたランド22及び絶縁膜25と、絶縁基材20を貫通して接続パッド21とランド22とを接続する導電経路23とを有して構成される。絶縁膜24,25としては、ソルダーレジストを用いることが好適である。
ランド22には、外部端子としてのはんだボール30が形成される。半導体装置1は、このはんだボール30を介して、図示しない実装基板上に実装される。接続パッド21には、はんだ層31を介して、ロジックチップCの表面バンプ11が接続される。また、ロジックチップCの裏面バンプ12はメモリチップM2−3の表面バンプ15に接続され、メモリチップM2−3の裏面バンプ16はメモリチップM2−2の表面バンプ15に接続され、メモリチップM2−2の裏面バンプ16はメモリチップM2−1の表面バンプ15に接続され、メモリチップM2−1の裏面バンプ16はメモリチップM1の表面バンプ15に接続される。図1には示していないが、裏面バンプ12,16と表面バンプ15の間も、はんだ層(後述する図5に示すはんだ層58)を介して接続される。これらの接続により、はんだボール30から各半導体チップに至る複数の信号パス及び電位供給パスが形成される。
配線基板Bの絶縁基材20とロジックチップCとの隙間には充填剤40が充填され、ロジックチップCとチップ積層体Lとの隙間には充填剤41が充填される。また、メモリチップM間には充填剤42が充填される。充填剤40〜42はいずれも、NCP(Non-conductive Paste)と呼ばれる非導電性の接着剤である。具体的には、エポキシ樹脂を主成分とする接着剤など、半導体チップ接着用の周知の非導電性の接着剤を充填剤40〜42として使用することが好適である。また、配線基板B上には、ロジックチップC及びチップ積層体Lの全体を覆う封止樹脂43が設けられる。封止樹脂43としては、エポキシ樹脂を主成分とする封止樹脂などの、周知の封止樹脂を使用することが好適である。
メモリチップMの構成について、詳しく説明する。まず初めにメモリチップM1は、図3に示すように、半導体基板50と、半導体基板50の一方の表面(メモリチップM1の主面M1m側の表面)に形成された回路層MLと、さらにその表面を覆う絶縁層51と、半導体基板50の一方の表面に形成された配線層L1と、回路層MLの表面に形成された配線層L2と、配線層L1と配線層L2とを接続するスルーホール導体52とを備えて構成される。なお、詳しい図示はしていないが、回路層MLにはDRAMのメモリセルアレイ及び周辺回路を構成する各種の回路要素(トランジスタ、キャパシタなど)が形成されており、配線層L1,L2は、これらの回路要素に接続される。
メモリチップM1の主面M1mには、図2(a)(b)に示すように、上述した複数の表面バンプ15に加え、複数のテストパッドTP及び複数の表面バンプ15a(補強バンプ)が配置される。テストパッドTPは、図3に示すように、絶縁層51に設けられた貫通孔H1から露出した配線層L2によって構成される。また、表面バンプ15は、図3に示すように、円柱状の銅ポスト54と、ニッケル(Ni)層及び金(Au)層によって構成されるめっき層55とによって構成される。銅ポスト54の一部は、絶縁層51に設けられた貫通孔H2に埋め込まれている。貫通孔H2の内表面及びその近傍に位置する絶縁層51の表面はめっきシード層53によって覆われており、銅ポスト54のうち貫通孔H2に埋め込まれた部分の下面は、めっきシード層53を介して配線層L2と導通している。めっき層55は、銅ポスト54の上面を覆うように形成される。表面バンプ15aの構造は、表面バンプ15の構造と同様である。
主面M1mは、図2(a)に示すように略長方形の形状を有しており、複数のテストパッドTPは、主面M1mの短辺方向の中央に、長辺方向に沿って一列に配置される。また、複数の表面バンプ15は、テストパッドTPの列の両側に、主面M1mの長辺方向に沿ってそれぞれ2列で配置される。各テストパッドTPは、図3にも示すように、近傍に存在するいずれかの表面バンプ15と、配線層L2によって接続されている。複数の表面バンプ15aは、主面M1mの2つの長辺の近傍に、長辺方向に沿って一列に配置される。表面バンプ15aは、半導体チップ間の接続を補強する役割とともに、電位供給パスとしての役割も果たす。
次にメモリチップM2は、図4と図2、図5と図3をそれぞれ比較すると理解されるように、半導体基板50の一方の表面(メモリチップM2の主面M2m側の表面)に形成される構成に関しては、メモリチップM1のものと同様の構成を有している。回路層ML内の回路構成まで含めてメモリチップM1と同じであるため、この部分の構成については、メモリチップM1と同じマスクパターンを用いて形成することができる。一方、メモリチップM2は、上でも述べたように、半導体基板50を貫通する貫通電極17と、貫通電極17の裏面M2b側の一端に設けられる裏面バンプ16とを有する点で、メモリチップM1と異なっている。以下、メモリチップM1との相違点に着目して説明する。
貫通電極17及び裏面バンプ16は、一部が半導体基板50に設けられた貫通孔H3内に埋め込まれ、残りの一部が裏面M2bから突出するように形成された導電体57を含んで構成される。この導電体57は、銅(Cu)により構成することが好適である。貫通電極17は、導電体57のうち貫通孔H3内に埋め込まれた部分によって構成される。貫通孔H3の内表面及びその近傍に位置する裏面M2bはめっきシード層56によって覆われており、貫通電極17は、めっきシード層56を介して配線層L1と導通している。裏面バンプ16は、導電体57のうち裏面M2bから突出するように形成された部分と、導電体57の下面を覆うように形成されたはんだ層58とによって構成される。
裏面バンプ16は、貫通電極17、配線層L1、スルーホール導体52、及び配線層L2を介して、同じメモリチップM2内のいずれかの表面バンプ15に接続される。裏面バンプ16には、裏面バンプ16と平面的に見て同じ位置にある表面バンプ15に接続されるものと、それ以外の表面バンプ15に接続されるものとがある。前者の裏面バンプ16は、いわゆるスルー型の信号パス又は電位供給パスを構成するもので、ロジックチップCに対して各メモリチップMを共通に接続するために用いられる。電位供給パスは、すべてこのスルー型である。一方、後者の裏面バンプ16は、いわゆるスタッガード型の信号パスを構成するもので、ロジックチップCと各メモリチップMとを個別に接続するために用いられる。スタッガード型の信号パスは、例えばチップセレクト信号の供給のために用いられる。
メモリチップM2では、表面バンプ15aに関しても、図4(b)に示すように、表面バンプ15と同様の貫通電極17a及び裏面バンプ16aが設けられる。貫通電極17a及び裏面バンプ16aの構造は、貫通電極17及び裏面バンプ16の構造と同様である。表面バンプ15aは上述したように電位供給パスを構成するものであることから、いずれの表面バンプ15aも、平面的に見て同じ位置にある裏面バンプ16aに接続される。
以上、半導体装置1の構成について説明した。次に、本発明の第1の実施の形態による半導体装置1の製造方法について、図6〜図11を参照しながら説明する。
まず初めに本製造方法の概略について説明すると、本製造方法では、まず複数のメモリチップM1を一枚の広い半導体ウエハ上に並べて形成し、同様に、複数のメモリチップM2を一枚の広い半導体ウエハ上に並べて形成する。後者については、メモリチップM2の形成が終了した後に半導体ウエハを切断し、個片化された複数のメモリチップM2を得る。前者についても同様に、メモリチップM1の形成が終了した後に半導体ウエハを切断し、個片化された複数のメモリチップM1を得る。ただしメモリチップM1に関しては、半導体ウエハの切断の前に、半導体ウエハの裏面(裏面M1b側の面)に支持体を貼り付ける。こうすることで、半導体ウエハを切断した後にも、各メモリチップM1の相対的な位置が変化しないようになる。その後、こうして支持体上に固定した各メモリチップM1の上に、それぞれ所定数ずつのメモリチップM2を接着していく。これによってメモリチップM1ごとにチップ積層体Lが形成され、その後支持体を除去することにより、個片化された複数のチップ積層体Lを得る。次に、こうして作製したチップ積層体Lを、別工程で作製されたロジックチップCとともに配線基板Bの上に搭載する。具体的には、まず、複数のロジックチップCを一枚の広い配線基板B上に並べて配置する。そして、各ロジックチップCの上に、1つずつチップ積層体Lを接着していく。すべてのロジックチップCについて作業が終わったら、最後にロジックチップCの間で配線基板Bを切断することにより、個々の半導体装置1が完成する。
以下、一枚の広い半導体ウエハ上に複数のメモリチップM1を形成し、個片化する工程(図6及び図7)、一枚の広い半導体ウエハ上に複数のメモリチップM2を形成し、個片化する工程(図8)、図6〜図8の工程で形成されたメモリチップM1,M2からチップ積層体Lを形成し、個片化する工程(図9、図10)、チップ積層体L及びロジックチップCから個々の半導体装置1を形成し、個片化する工程(図15)について、順に詳しく説明する。また、チップ積層体Lを形成した後に行う機能試験について、図11〜図14を参照しながら詳しく説明する。
まずメモリチップM1の形成工程に関して、この工程では、図7に示すように、半導体ウエハW1の主面W1mに、複数のメモリチップM1をマトリクス状に形成する。順を追って具体的に説明すると、まず初めに、半導体ウエハW1の主面W1mを、それぞれ1つのメモリチップM1を形成するための複数の領域に分け、各領域に、図6(a)に示すように、図3に示した半導体基板50の一方の表面に形成される構成のすべて(回路層ML、表面バンプ15、テストパッドTPなど)を形成する。
次に、図6(b)に示すように、半導体ウエハW1の主面W1mに、バックグラインドテープ60を貼り付ける。このとき、半導体ウエハW1の表面から突出している表面バンプ15及び表面バンプ15aは、バックグラインドテープ60の接着層に埋め込まれる。
続いて、図6(c)に示すように、バックグラインド用の砥石61を用いて、半導体ウエハW1の裏面W1bを研削する。これにより、半導体ウエハW1が薄型化される。研削後の半導体ウエハW1の厚みT1は、100μm程度とすることが好適である。
次に、図7に示すように、一方の表面に接着層62を有するダイシングテープ63(支持体)を用意し、これをリング状の治具64に張り渡す。つまり、ダイシングテープ63の周囲を治具64によって保持し、そのうえで、図6(d)に示すように、ダイシングテープ63の接着層62がある面の中央に半導体ウエハW1の裏面W1bの全体を貼り付ける。その後、図6(e)に示すように、バックグラインドテープ60を剥がす。
そして、図6(f)に示すように、ダイシング装置のダイシングブレード65によって、メモリチップM1間の領域で、主面W1m側から半導体ウエハW1をフルカットする。フルカットとは、図6(f)及び図7に示した切断溝Gの両側にある半導体ウエハW1が完全に切り離されるように、切断することをいう。この工程により、半導体ウエハW1の主面W1mに形成した複数のメモリチップM1のそれぞれが個片化される。ダイシングテープ63までは切断しないので、個片化後の各メモリチップM1の相対的位置は、ダイシングテープ63によって維持される。
次にメモリチップM2の形成工程に関して、この工程では、まず初めに図8(a)に示すように、メモリチップM1の場合と同様、半導体ウエハW2の主面W2mに複数のメモリチップM2をマトリクス状に形成する。この段階では、裏面バンプ16及び貫通電極17の形成はまだ行わない。
次に、図8(b)に示すように、半導体ウエハW2の主面W2mに、接着剤70を用いてウエハサポート基板71を貼り付ける。このとき、接着剤70の厚みは、半導体ウエハW2の表面から突出している表面バンプ15及び表面バンプ15aが、ウエハサポート基板71に接触しないように調整する。なお、ここでバックグラインドテープ60ではなくウエハサポート基板71を用いるのは、後の工程で、ウエハサポート基板71を貼り付けた状態で各メモリチップM2に裏面バンプ16及び貫通電極17を形成する必要があるためである。
続いて、図8(c)に示すように、バックグラインド用の砥石72を用いて、半導体ウエハW2の裏面W2bを研削する。これにより、半導体ウエハW2が薄型化される。研削後の半導体ウエハW2の厚みT2は、上述した半導体ウエハW1の厚みT1より薄い50μm程度とすることが好適である。このように半導体ウエハW2を薄くするのは、貫通電極17を設けるためである。
次に、ウエハサポート基板71を貼り付けた状態で、各メモリチップM2に裏面バンプ16及び貫通電極17を形成する。具体的には、図5に示したように、半導体ウエハW1に貫通孔H3を形成し、この貫通孔H3の内表面を含む全面にめっきシード層を形成する。次に、銅を成膜し、めっきシード層とともにパターニングする。これにより、図5に示しためっきシード層56及び導電体57を形成する。貫通電極17は、ここまでの工程によって完成する。一方、裏面バンプ16は、さらにはんだ層58を形成することによって完成する。
次に、図8(e)に示すように、一方の表面に接着層73を有するダイシングテープ74を、図7に示したリング状の治具64と同様の治具(図示せず)に張り渡し、接着層73がある面の中央に半導体ウエハW2の裏面W2bの全体を貼り付ける。その後、特定波長の光を照射することによって接着剤70を気化する(又は接着剤70の接着力を低下させる)ことにより、図8(f)に示すように、ウエハサポート基板71を除去する。
そして、図8(g)に示すように、ダイシング装置のダイシングブレード75によって、メモリチップM2間の領域で、主面W2m側から半導体ウエハW2をフルカットする。この工程により、半導体ウエハW2の主面W2mに形成した複数のメモリチップM2のそれぞれが個片化される。ダイシング後にはダイシングテープ74を剥がし、個々のメモリチップM2を完全に分離する。
次に、メモリチップM1,M2からチップ積層体Lを形成する工程では、まず内側に張り渡されたダイシングテープ63上に複数のメモリチップM1が配置された状態の治具64(図7参照)を、図示しないフリップチップボンディング装置のステージ上に、ダイシングテープ63の他方の表面(複数のメモリチップM1が配置されていない表面)を吸着保持した状態で載置する。そして、図9(a)に示すように、ボンディングツール80を用いて、ダイシングテープ63上の複数のメモリチップM1のそれぞれの主面M1mにそれぞれ3つのメモリチップM2を貼り付けていく。
ひとつのメモリチップM1に着目して具体的に説明すると、まず、メモリチップM1の表面バンプ15,15aと、対応するメモリチップM2−1の裏面バンプ16,16aとが電気的に接続されるように、メモリチップM1の主面M1mにメモリチップM2−1を積み重ねる。メモリチップM1とメモリチップM2−1の間は、充填剤42を用いて接着する。次に、メモリチップM2−1の表面バンプ15,15aと、対応するメモリチップM2−2の裏面バンプ16,16aとが電気的に接続されるように、メモリチップM2−1の主面M2mにメモリチップM2−2を積み重ねる。メモリチップM2−1とメモリチップM2−2の間も、充填剤42を用いて接着する。最後に、メモリチップM2−2の表面バンプ15,15aと、対応するメモリチップM2−3の裏面バンプ16,16aとが電気的に接続されるように、メモリチップM2−2の主面M2mにメモリチップM2−3を積み重ねる。メモリチップM2−2とメモリチップM2−3の間も、充填剤42を用いて接着する。
次に、図9(b)に示すように、所定の温度でキュアを行うことにより、チップ積層体L内の充填剤42を硬化する。キュアの温度は、例えば180℃とすることが好ましい。ここまでの工程により、メモリチップM1ごとにチップ積層体Lが作製される。この段階では、各メモリチップM1がまだダイシングテープ63に貼り付いた状態であることから、チップ積層体Lの相対的位置はダイシングテープ63によって固定されている。
ここで、図9(a)の工程を実施する前に、個々のメモリチップM1,M2について、所定の動作確認試験を行うことが好ましい。この動作確認試験は、後述するチップ積層体Lの試験と同様の方法により、行うことができる。試験の結果不良と判定されたメモリチップM1,M2は、チップ積層体Lの作製に利用しないことが好ましい。具体的には、図10に示すように、図7に示した各メモリチップM1のうち試験によって不良と判定されたメモリチップM1NGを除くメモリチップM1についてのみ、その上面に試験の結果良品と判定されたメモリチップM2を積層することにより、チップ積層体Lを作製することが好ましい。
メモリチップM1ごとのチップ積層体Lの作製が完了した後には、各チップ積層体Lの機能試験を実施する。具体的には、図9(c)に示すように、プローブカード110のプローブ針111を、各チップ積層体Lの最上面に露出しているメモリチップM2−3のテストパッドTPに接触させることにより、後述するウエハテストシステム(図12)からメモリチップM1,M2−1〜M2−3の機能試験を行う。
以下、チップ積層体Lの機能試験について詳しく説明する。以下では、まず初めにチップ積層体Lの機能試験に対応するためのメモリチップM内の構成について説明し、次いで、チップ積層体Lの機能試験を行うためのウエハテストシステムについて説明した後、機能試験の内容及び実施手順について説明する。
まずメモリチップM内の構成に関して、メモリチップMはいわゆるWide−IO DRAMであり、図11に示すように、それぞれ単独のDRAMとして動作する4つのチャネルChA〜ChDを備えている。メモリチップMに設けられる複数の表面バンプ15には、それぞれチャネルChA〜ChDに対応する通常アクセス用の表面バンプ15−2A〜15−2Dが含まれる。
なお、図11には通常アクセス用の表面バンプ15−2A〜15−2Dをそれぞれ1つずつしか図示していないが、実際には、チャネルChA〜ChDのそれぞれに対して、複数の表面バンプ15−2A〜15−2Dが設けられる。具体的には、コマンドアドレス信号が供給される複数のコマンドアドレスバンプ、クロック信号が供給されるクロックバンプ、チップセレクト信号が供給されるチップセレクトバンプ、クロックイネーブル信号が供給されるクロックイネーブルバンプ、及びデータの入出力を行うDQバンプのそれぞれが、通常アクセス用の表面バンプ15−2A〜15−2DとしてメモリチップMに設けられる。このうち、チップセレクトバンプとクロックイネーブルバンプは、上述したスタッガード型の信号パスに接続される。その他のバンプは、上述したスルー型の信号パスに接続される。
また、図11に示すように、メモリチップMには、テスト用としての表面バンプ15−1が設けられる。なお、図11には表面バンプ15−1を1つしか図示していないが、実際には複数の表面バンプ15−1が設けられる。各表面バンプ15−1はチャネルChA〜ChDに対して共通に設けられ、また、それぞれ1つずつのテストパッドTPに接続される。複数の表面バンプ15−1には、通常アクセス用の表面バンプ15−2A〜15−2Dと同様、テストコマンドアドレス信号が供給される複数のテストコマンドアドレスバンプ、テストクロック信号が供給されるテストクロックバンプ、テストチップセレクト信号が供給されるテストチップセレクトバンプ、テストクロックイネーブル信号が供給されるテストクロックイネーブルバンプ、及びテストデータの入出力を行うテストDQバンプが含まれる。このうち、テストチップセレクトバンプとテストクロックイネーブルバンプは、上述したスタッガード型の信号パスに接続される。その他のバンプは、上述したスルー型の信号パスに接続される。
次に、チャネルChA〜ChDの構成について説明する。ここで、チャネルChA〜ChDは互いに同じ構成を有していることから、以下、チャネルChAを例に説明する。
図11に示すように、チャネルChAは、メモリセルアレイ90とこれにアクセスするアクセス制御部91を備えている。アクセス制御部91は、コマンドアドレス信号に応じてメモリセルアレイ90にアクセスし、データの読み書きを行う。また、チャネルChAにはテスト回路92が含まれており、アクセス制御部91はテスト回路92から出力されるテスト制御信号TESTに応答して、テスト時に種々の動作を実行するよう構成される。
さらに、チャネルChAには不良アドレス保持部93が設けられている。アクセス制御部91は、指定されたアドレスが不良の場合、不良アドレス保持部93から供給される不良アドレス情報RDに応じて、冗長メモリセルへのアクセスを行う。また、アクセス制御部91は、強制パワーダウン制御部94から強制パワーダウンエントリ信号PDNが供給された場合には、周知のパワーダウンモード(低消費電力モード)で動作するよう構成される。
テスト回路92は、各種テスト信号に応じて、種々のテスト動作の実行を示すテスト制御信号TESTをアクセス制御部91に供給するよう構成される。なお、図11に示す例では、テスト回路92を各チャネル内に配置しているが、テスト回路92の一部をチャネルChA〜ChDで共有する構成としても構わない。
不良アドレス保持部93は、不良メモリセルのアドレスを保持する回路である。具体的には、複数のアンチヒューズ素子を備え、アンチヒューズ素子をプログラミングすることで、不良アドレスを記憶するよう構成される。
強制パワーダウン制御部94は、当該メモリチップMが不良品である場合に、強制パワーダウンエントリ信号PDNをアクセス制御部91に供給する機能を有する。具体的には、アンチヒューズ素子を含み、アンチヒューズ素子がプログラミングされると、強制パワーダウンエントリ信号PDNが活性化される。なお、強制パワーダウン制御部94をチャネル毎に設ける代わりに、強制パワーダウン制御部94を各チャネルに共通で設ける構成としても構わない。
次にウエハテストシステムの構成に関して、チップ積層体Lの機能試験で用いるウエハテストシステムは、図12に示すように、テスター100及びプローブカード110によって構成される。
テスター100は、入力部101を介して外部から入力される制御情報、及び、記憶部102に予め保存されたソフトウェアプログラムに応じて、制御部104で発生した各種テスト信号を、入出力ポート105を介してプローブカード110に供給する機能を有する。また、テスター100は、プローブカード110から供給されるテスト結果を入出力ポート105から受け取り、制御部104及び出力部103を介して、外部に出力する機能を有する。
プローブカード110は、複数のプローブ針111が接続された回路基板であり、プローブ針111を介して、テスター100からの各種テスト信号をテスト対象のチップ積層体Lに供給する機能を有する。また、プローブカード110は、プローブ針111を介して、テスト対象のチップ積層体Lからテスト結果を受け取り、受け取ったテスト結果をテスター100に供給する機能を有する。なお、図12では簡略化した図のみを描いているが、プローブカード110は、図10に示したすべてのチップ積層体L(一枚のダイシングテープ63上に貼り付けられたすべてのチップ積層体L)を同時にテストするために十分な数のプローブ針111を有している。実際にテストを行う際には、図13に示すように、プローブカード110に設けられたプローブ針111を、チップ積層体Lの最上面に露出したテストパッドTP(メモリチップM2−3のテストパッドTP)に接触させることにより、テスト信号の入出力を行う。
なお、プローブカード110に設けるプローブ針111の本数は、一枚のダイシングテープ63上に貼り付けられたチップ積層体Lの個数の半分のみを同時にテストできる数にとどめてもよい。この場合、2回のタッチダウン(テストパッドTPへの針当て)を行うことにより、すべてのチップ積層体Lをテストすることが可能になる。
プローブカード110に設けられた各プローブ針111の位置は、ダイシングテープ63上に貼り付けられたすべてのチップ積層体LのテストパッドTPの位置に合うように、精度よく設計されている。また、プローブカード110としては、カンチレバータイプ、ブレードタイプ、MEMSタイプ、及び薄膜タイプ等、様々なプローブカードを使用することが可能である。
次に、チップ積層体Lの機能試験の内容及び実施手順について説明する。この機能試験では、大きく分けて、簡易機能試験(Easy Function Test)、保持時間試験、動作試験、及びウエハレベルバーンインテストの4つの項目の試験が行われる。
簡易機能試験とは、ライト動作及びリード動作を正常に行えるか否かを確認するテストである。例えば、全セルに0又は1のデータを書き込み、それが読み出せるかどうかを確認するだけの簡単なテストである。簡易機能試験においては、メモリセルのデータの保持特性や、動作速度が規格を満たしているか等の確認はしない。
保持時間試験とは、メモリセルのデータの保持特性を確認するテストである。単純なものでは、メモリセルアレイにテストデータパターンを書き込み、所定のホールド期間経過後に、データを読み出す。また、ホールド期間中にワード線の活性/非活性を行うなど、テスト方法には様々なバリエーションがある。同様に、テストデータパターンにも様々なバリエーションがある。したがって、これらホールド期間中の動作のバリエーションとテストデータパターンのバリエーションの組み合わせから、多数のテスト項目が存在する。
動作試験とは、ライトリカバリ時間(Write Recovery time: tWR)や、サイクル間隔時間(RAS to CAS delay time: tRCD)のような、各種ACパラメータを評価する試験である。当然ながらこれらのACパラメータは規格を満たしている必要がある。動作試験には、測定するパラメータの種類に応じて多数のテスト項目が存在する。
ウエハレベルバーンインテストとは、ウエハを高温下におき、ウエハ上の各チップに高電圧を与えることで、初期不良を顕在化させる試験である。
上述した4つの試験項目のうち、簡易機能試験、保持時間試験、及び動作試験については、図12に示したウエハテストシステムを用いて行う。一方、ウエハレベルバーンインテストは、図12に示したウエハテストシステムではなく、図示しない専用のウエハレベルバーンインテストシステムを用いて行う。
以下、図14を参照しながら、チップ積層体Lの機能試験の実施手順について説明する。なお、以下で説明するステップS2〜S5及びステップS6〜S8の各試験は、高温条件と低温条件のそれぞれで少なくとも1度ずつ行う。なお、高温条件は50℃〜150℃であり、低温条件は−50℃〜−5℃である。
初めに、チップ積層体Lのウエハレベルバーンインテストを実施する(ステップS1)。これによって初期不良が見つかったチップ積層体Lについては、不良品として処理する。
次に、図12に示したウエハテストシステムを用いて、チップ積層体Lを構成する各メモリチップMに対し、簡易機能試験(ステップS2)、保持時間試験(ステップS3)、動作試験(ステップS4)を順次実施する。
次に、ステップS2〜S4の各試験の結果不良と判定されたメモリセルのアドレスを、図11に示した不良アドレス保持部93内のアンチヒューズに書き込む(ヒューズプログラミング。ステップS5)。これにより、不良メモリセルへのアクセスが冗長メモリセルへのアクセスに置き換えられる。ステップS5では、基準電源電圧の調整用のアンチヒューズ(図示せず)の調整も行う。
ここで、ヒューズプログラミングは、チップ積層体Lを形成する前の個々のメモリチップMの試験後にも行われる。この場合は、図11に示した強制パワーダウン制御部94内のアンチヒューズがプログラミングの対象となる。これにより、チップ積層体Lを形成する前の個々のメモリチップMの試験段階で行われる簡易機能試験、保持時間試験、及び動作試験の結果、不良と判定されたチャネルは、強制的にパワーダウンモードに設定される。
次に、図12に示したウエハテストシステムを再度用いて、チップ積層体Lを構成する各メモリチップMに対し、簡易機能試験(ステップS6)、保持時間試験(ステップS7)、動作試験(ステップS8)を再度順次実施する。ステップS6〜S8の各試験は、ステップS5のヒューズプログラミング工程により不良救済を行った後に、各々のメモリチップMが正常に動作、即ち、良品として動作するかどうかを確認するテストである。良品としての動作を確認できればよいので、ステップS7の保持時間試験のテスト項目数はステップS3の保持時間試験のテスト項目数より少なくしてもよく、ステップS8の動作試験のテスト項目数もステップS4の動作試験のテスト項目数より少なくしてもよい。
最後に、チップ積層体Lのパス/フェイルマップを作成する(ステップS9)。この工程は、不良品であるチップ積層体Lをダイシングテープ63上の位置情報として示すパス/フェイルマップを作成する工程である。これにより、不良であるチップ積層体Lの位置が特定される。パス/フェイルマップ作成工程は、チップ積層体Lを形成する前の個々のメモリチップMのテスト段階でも、不良であるメモリチップMを特定するために行うことが好ましい。
以上、チップ積層体Lの機能試験について説明した。
図9に戻る。チップ積層体Lの機能試験が完了したら、図14のステップS9で作成したパス/フェイルマップを参照しつつ、良品のチップ積層体Lのみをダイシングテープ63から取り上げる(ピックアップする)。これにより、図9(d)に示すように、それぞれ個片化された複数のチップ積層体Lが完成する。
次に、チップ積層体L及びロジックチップCから個々の半導体装置1を形成する工程では、まず図15(a)に示すように、一枚の広い絶縁基材20に接続パッド21、ランド22、導電経路23を形成し、さらに、ロジックチップCの搭載位置に開口部を有する絶縁膜24と、ランド22の位置に開口部を有する絶縁膜25とを形成する。次いで、複数のロジックチップCをマトリクス状に搭載する。このとき、各ロジックチップCの主面に設けられる複数の表面バンプ11のそれぞれを、対応する接続パッド21にはんだ層31を介して接続する。また、絶縁基材20とロジックチップCとの隙間に充填剤40を充填する。
次に、図15(b)に示すように、各ロジックチップCの上面にチップ積層体Lを1つずつ搭載する。このとき、メモリチップM2−3が一番下(ロジックチップC側)となるように、フェイスダウンでチップ積層体Lを搭載する。また、チップ積層体LのメモリチップM2−3側の表面に露出している複数の表面バンプ15のそれぞれを、対応するロジックチップCの裏面バンプ12に接続する。さらに、ロジックチップCとチップ積層体Lとの隙間に充填剤41を充填する。
続いて、図15(c)に示すように、絶縁基材20のチップ積層体Lを搭載した表面の全体を封止樹脂43によって覆う。封止樹脂43の厚みは、チップ積層体Lの全体が封止樹脂43によって覆われる程度とする。そして、図15(d)に示すように各ランド22の表面にはんだボール30を形成した後、図示しないダイシング装置によって、図15(e)に示すように、半導体装置1間の領域で全体をフルカットする。この工程により、複数の半導体装置1のそれぞれが個片化される。
以上説明したように、本実施の形態による半導体装置の製造方法によれば、各メモリチップM1をダイシングテープ63の表面に配置した状態でチップ積層体Lの形成を行うので、メモリチップM1が形成される半導体ウエハW1(ベースウエハ)が薄型化したとしても、搬送などの際に、薄型化に起因する困難が生ずることはない。また、撓みも発生しなくなるので、半導体ウエハW1にクラックが発生することも防止される。
さらに、ダイシングテープ63上に配置された複数のメモリチップM1の配列は、個片化された後(図6(f)の状態)においても維持される。したがって、図12に示したような通常のウエハ試験を行うためのウエハテストシステムを用いて、チップ積層体Lの機能試験を行うことが可能になる。
また、本実施の形態による半導体装置の製造方法によれば、ダイシングテープ63上にマトリクス状に配置された複数のメモリチップM1のうち試験によって不良と判定されたメモリチップM1NGについてはメモリチップM2を積層しないことから、図10に示すように、メモリチップM1NGの部分に凹部が生ずることになる。仮に、半導体ウエハW1が薄型化されていない場合には、チップ積層体Lの機能試験の前にこの凹部を樹脂によって埋める必要があり、その結果、プローブ針111がこの樹脂に接触して破損するおそれがあるが、本製造方法によれば、半導体ウエハW1が上述したように厚み100μm程度と薄型化されていることから、凹部を樹脂によって埋める必要がない。したがって、プローブ針111が破損する可能性が低減される。
また、本実施の形態による半導体装置の製造方法によれば、メモリチップM1に貫通電極17を形成していないので、貫通電極17を形成するための貫通孔に起因して半導体ウエハW1にクラックが生ずることも防止される。
次に、本発明の第2の実施の形態による半導体装置1の製造方法について、図16を参照しながら説明する。
本実施の形態による半導体装置1の製造方法は、バックグラインドテープ60を貼り付ける前の段階で半導体ウエハW1のダイシングを行う点で第1の実施の形態による半導体装置1の製造方法と相違し、その他の点では第1の実施の形態による半導体装置1の製造方法と同様である。以下、相違点に着目して説明する。
本実施の形態による半導体装置1の製造方法では、半導体ウエハW1の主面W1mに複数のメモリチップM1をマトリクス状に形成した(図16(a))後、バックグラインドテープ60を貼り付ける(図16(c))前に、図16(b)に示すように、ダイシング装置のダイシングブレード65を用いて、メモリチップM1間の領域で、主面W1m側から半導体ウエハW1をハーフカットする。ここでのカット量は、切断溝Gの深さが研削後の半導体ウエハW1の厚みT1(=100μm)以上となり、かつ半導体ウエハW1の強度が十分に保てる程度とする。
半導体ウエハW1をハーフカットした後、図16(c)に示すように、半導体ウエハW1の主面W1mにバックグラインドテープ60を貼り付ける。そして、図16(d)に示すように、バックグラインド用の砥石61を用いて半導体ウエハW1の裏面W1bを研削することによって、半導体ウエハW1を薄型化し、その厚みT1を100μm程度とする。この研削により、各メモリチップM1が切断溝Gで互いに分離される。分離後の各メモリチップM1の相対的位置は、バックグラインドテープ60によって維持される。
その後は、第1の実施の形態での工程と同様に、ダイシングテープ63の貼り付け(図16(e))及びバックグラインドテープ60の除去(図16(f))を行う。これにより、第1の実施の形態と同様、ダイシングテープ63上に複数のメモリチップM1が配置された状態が得られる。
以上説明したように、本実施の形態による半導体装置の製造方法によっても、各メモリチップM1をダイシングテープ63の表面に配置した状態で、チップ積層体Lの形成を行うことが可能になる。したがって、第1の実施の形態と同様、搬送などの際に半導体ウエハW1の薄型化に起因する困難が生ずることが防止され、また、半導体ウエハW1にクラックが発生することも防止される。
また、本実施の形態による半導体装置の製造方法によれば、半導体ウエハW1をフルカットする必要がないので、半導体ウエハW1の裏面W1bにチッピングが発生することを防止できる。
なお、本実施の形態では半導体ウエハW1のダイシングについて説明したが、半導体ウエハW2のダイシングにおいても同様に、ウエハサポート基板71を貼り付ける前の段階(図8(a)の工程と図8(b)の工程の間)でダイシングを行うこととしてもよい。
次に、本発明の第3の実施の形態による半導体装置1の製造方法について、図17を参照しながら説明する。
本実施の形態による半導体装置1の製造方法は、図17に示すレーザーダイシング装置66を用いて半導体ウエハW1のダイシングを行う点で第1の実施の形態による半導体装置1の製造方法と相違し、その他の点では第1の実施の形態による半導体装置1の製造方法と同様である。
本実施の形態による半導体装置の製造方法によっても、各メモリチップM1をダイシングテープ63の表面に配置した状態で、チップ積層体Lの形成を行うことが可能になる。したがって、第1の実施の形態と同様、搬送などの際に半導体ウエハW1の薄型化に起因する困難が生ずることが防止され、また、半導体ウエハW1にクラックが発生することも防止される。
また、本実施の形態による半導体装置の製造方法によれば、ダイシングブレード65を用いる場合のような振動が発生しないことから、ダイシングブレード65を用いて半導体ウエハW1のダイシングを行う場合に比べて、位置ズレのリスクを低減できる。したがって、チップ積層体Lの機能試験において、プローブ針111を精度よくテストパッドTPに接触させることが可能になる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
例えば、上記各実施の形態では、治具64に張り渡したダイシングテープ63を、複数のメモリチップM1の支持体として用いたが、薄型化かつ個片化された複数のメモリチップM1をハンドリング可能な構成であれば、支持体の構成は上記に限定されない。例えば、図18に示すように、所定の厚みを有する耐熱テープ67を支持体として用いることも可能である。
また、本発明の適用対象は、図1に示したような3D構造の半導体装置の製造方法に限られない。例えば、図19に示すように、一枚のシリコンインターポーザIP上にロジックチップCとチップ積層体Lとを並べて配置する構成の、いわゆる2.5D構造の半導体装置200の製造方法にも、本発明は好適に適用できる。なお、この場合のシリコンインターポーザIPは、主面に形成される回路層IPLと、主面に設けられて回路層IPL内の回路に接続される表面バンプ201と、裏面に設けられる裏面バンプ202と、裏面バンプ202と回路層IPL内の回路とを接続する貫通電極203とを有して構成される。配線基板Bの接続パッド21は、表面バンプ201に接続される。また、ロジックチップCの表面バンプ11及びメモリチップM2−3の表面バンプ15,15aはそれぞれ、裏面バンプ202に接続される。
また、上記実施の形態では、チップ積層体Lを1つのメモリチップM1と3つのメモリチップM2によって構成する例を取り上げたが、本発明は、チップ積層体Lを構成するメモリチップM2の枚数が1枚以上である場合に好適に適用可能である。
1 半導体装置
11 ロジックチップCの表面バンプ
12 ロジックチップCの裏面バンプ
13 ロジックチップCの貫通電極
15,15a メモリチップMの表面バンプ
16,16a メモリチップMの裏面バンプ
17,17a メモリチップMの貫通電極
20 絶縁基材
21 接続パッド
22 ランド
23 導電経路
24,25 絶縁膜
30 はんだボール
31,58 はんだ層
40〜42 充填剤
43 封止樹脂
50 半導体基板
51 絶縁層
52 スルーホール導体
53,56 めっきシード層
54 銅ポスト
55 めっき層
57 導電体
60 バックグラインドテープ
61,72 砥石
62,73 接着層
63,74 ダイシングテープ
64 治具
65,75 ダイシングブレード
66 レーザーダイシング装置
67 耐熱テープ
70 接着剤
71 ウエハサポート基板
80 ボンディングツール
90 メモリセルアレイ
91 アクセス制御部
92 テスト回路
93 不良アドレス保持部
94 強制パワーダウン制御部
100 ウエハテストシステム
100 テスター
101 入力部
102 記憶部
103 出力部
104 制御部
105 入出力ポート
110 プローブカード
111 プローブ針
200 半導体装置
201 シリコンインターポーザIPの表面バンプ
202 シリコンインターポーザIPの裏面バンプ
203 シリコンインターポーザIPの貫通電極
B 配線基板
C ロジックチップ
CL 回路層
ChA〜ChD チャネル
G 切断溝
H1〜H3 貫通孔
IP シリコンインターポーザ
IPL 回路層
L チップ積層体
L1,L2 配線層
M,M1,M2,M2−1〜M2−3 メモリチップ
M1b メモリチップM1の裏面
M1m メモリチップM1の主面
M2b メモリチップM2の裏面
M2m メモリチップM2の主面
ML 回路層
TP テストパッド
W1,W2 半導体ウエハ
W1b 半導体ウエハW1の裏面
W1m 半導体ウエハW1の主面
W2b 半導体ウエハW2の裏面
W2m 半導体ウエハW2の主面
11 ロジックチップCの表面バンプ
12 ロジックチップCの裏面バンプ
13 ロジックチップCの貫通電極
15,15a メモリチップMの表面バンプ
16,16a メモリチップMの裏面バンプ
17,17a メモリチップMの貫通電極
20 絶縁基材
21 接続パッド
22 ランド
23 導電経路
24,25 絶縁膜
30 はんだボール
31,58 はんだ層
40〜42 充填剤
43 封止樹脂
50 半導体基板
51 絶縁層
52 スルーホール導体
53,56 めっきシード層
54 銅ポスト
55 めっき層
57 導電体
60 バックグラインドテープ
61,72 砥石
62,73 接着層
63,74 ダイシングテープ
64 治具
65,75 ダイシングブレード
66 レーザーダイシング装置
67 耐熱テープ
70 接着剤
71 ウエハサポート基板
80 ボンディングツール
90 メモリセルアレイ
91 アクセス制御部
92 テスト回路
93 不良アドレス保持部
94 強制パワーダウン制御部
100 ウエハテストシステム
100 テスター
101 入力部
102 記憶部
103 出力部
104 制御部
105 入出力ポート
110 プローブカード
111 プローブ針
200 半導体装置
201 シリコンインターポーザIPの表面バンプ
202 シリコンインターポーザIPの裏面バンプ
203 シリコンインターポーザIPの貫通電極
B 配線基板
C ロジックチップ
CL 回路層
ChA〜ChD チャネル
G 切断溝
H1〜H3 貫通孔
IP シリコンインターポーザ
IPL 回路層
L チップ積層体
L1,L2 配線層
M,M1,M2,M2−1〜M2−3 メモリチップ
M1b メモリチップM1の裏面
M1m メモリチップM1の主面
M2b メモリチップM2の裏面
M2m メモリチップM2の主面
ML 回路層
TP テストパッド
W1,W2 半導体ウエハ
W1b 半導体ウエハW1の裏面
W1m 半導体ウエハW1の主面
W2b 半導体ウエハW2の裏面
W2m 半導体ウエハW2の主面
Claims (10)
- 互いに個片化された複数の第1の半導体チップが表面に配置された支持体を作製する工程と、
前記支持体の前記表面に複数の第2の半導体チップを積層することにより、それぞれ前記第1の半導体チップと1つ以上の前記第2の半導体チップとを積層してなる複数のチップ積層体を形成する工程と、
前記支持体から前記複数のチップ積層体を取り上げる工程と
を備えることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記複数の第1の半導体チップは、それぞれの主面に複数の第1の主面バンプ電極を有し、
前記複数の第2の半導体チップは、それぞれの裏面に複数の裏面バンプ電極を有し、
前記複数のチップ積層体のそれぞれは、前記第1の半導体チップの前記複数の第1の主面バンプ電極のそれぞれが、対応する前記第2の半導体チップの前記複数の裏面バンプ電極と電気的に接続されるように形成される
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記複数の第2の半導体チップのそれぞれは、
主面に形成された複数の第2の主面バンプ電極と、
前記複数の裏面バンプ電極ごとに設けられ、それぞれ対応する前記裏面バンプ電極と電気的に接続される複数の貫通電極と、
前記複数の貫通電極と前記複数の第2の主面バンプ電極とを電気的に接続する配線層とをさらに有する
ことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記複数の第2の半導体チップのそれぞれは、主面に形成され、かつ前記配線層によりそれぞれ前記複数の第2の主面バンプ電極のいずれかに接続された複数のテストパッドを有する
ことを特徴とする請求項3に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記複数のチップ積層体を形成した後、該複数のチップ積層体を互いに分離する前に、前記複数の第2の半導体チップそれぞれの前記複数のテストパッドにプローブ針を接触させることにより、前記複数のチップ積層体の機能試験を行う工程
をさらに備えることを特徴とする請求項4に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記支持体はダイシングテープであり、周囲を治具によって保持される
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記支持体を作製する工程は、
一枚の半導体ウエハの主面に複数の第1の半導体チップを形成する工程と、
前記半導体ウエハの裏面の研削により、前記半導体ウエハの厚みを低減する工程と、
研削後の前記半導体ウエハの裏面に前記支持体を貼り付ける工程とを含む
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記支持体を作製する工程は、前記支持体を貼り付けた前記半導体ウエハをフルカットすることにより、前記複数の第1の半導体チップを個片化する工程をさらに含む
ことを特徴とする請求項7に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記支持体を作製する工程は、前記半導体ウエハの裏面の研削前に、前記半導体ウエハをハーフカットする工程をさらに含み、
前記複数の第1の半導体チップは、前記研削によって個片化される
ことを特徴とする請求項7に記載の半導体装置の製造方法。 - 配線基板の表面に搭載された複数のロジックチップそれぞれの表面に前記複数のチップ積層体をひとつずつ積層する工程と、
前記配線基板を切断することにより、それぞれ前記複数のロジックチップのうちのひとつ及び前記複数のチップ積層体のうちのひとつを含む複数の半導体装置を作製する工程と
をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。
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---|---|---|---|
JP2014050948A JP2015176937A (ja) | 2014-03-14 | 2014-03-14 | 半導体装置の製造方法 |
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JP2014050948A JP2015176937A (ja) | 2014-03-14 | 2014-03-14 | 半導体装置の製造方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2015176937A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180041592A (ko) * | 2016-10-14 | 2018-04-24 | 가부시기가이샤 디스코 | 적층칩의 제조 방법 |
JP2021064193A (ja) * | 2019-10-15 | 2021-04-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
-
2014
- 2014-03-14 JP JP2014050948A patent/JP2015176937A/ja active Pending
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