JP2015152582A - イオントラップ質量分析装置及びイオントラップ質量分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】MS1スペクトルに基づいて、強度又はS/N比が所定範囲L内にある複数のピークP11,P12,P13に対応するイオンをMS2プリカーサイオンとして検出する。MS2プリカーサイオンとして検出された複数のイオンをイオントラップ内で一度に開裂させて質量分析を行うことにより、MS2スペクトルを測定する。
【選択図】 図3
Description
2 制御部
3 記憶部
11 イオン化部
12 イオントラップ
13 TOFMS
21 測定処理部
22 プリカーサイオン検出処理部
23 同定処理部
24 オンターゲット分離処理部
31 スペクトル記憶領域
32 データベース領域
111 ターゲット
131 飛行空間
132 イオン検出器
Claims (6)
- 試料をイオン化することにより得られるイオンをイオントラップに捕捉し、当該イオンを開裂させて質量分析を行うことによりMSn分析(nは2以上の整数)を行うためのイオントラップ質量分析装置であって、
イオン化された試料の質量分析を行うことによりMS1スペクトルを測定するMS1測定処理部と、
前記MS1スペクトルに基づいて、強度又はS/N比が所定範囲内にある複数のピークに対応するイオンをMS2プリカーサイオンとして検出するプリカーサイオン検出処理部と、
MS2プリカーサイオンとして検出された複数のイオンを前記イオントラップ内で一度に開裂させて質量分析を行うことにより、MS2スペクトルを測定するMS2測定処理部とを備えたことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 前記プリカーサイオン検出処理部は、前記MS2プリカーサイオンとして検出された複数のイオンのうち、所定の質量電荷比を質量差として隣接するピークの一方を除外することを特徴とする請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置。
- 前記MS2スペクトルを測定して得られたプロダクトイオンのうち、MS2プリカーサイオンの中の1個の質量電荷比から所定の質量電荷比を質量差として低質量側に位置するイオンのみを開裂させて質量分析を行うことにより、MS3スペクトルを測定するMS3測定処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載のイオントラップ質量分析装置。
- 前記MS2プリカーサイオンとして検出された複数のイオンの中に同定できない成分があった場合に、同定できなかった成分に対応するイオンについて、前記MS2測定処理部による処理を再度実行させるMS2再測定処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のイオントラップ質量分析装置。
- 前記MS2プリカーサイオンとして検出された複数のイオンの中に同定できない成分があった場合に、ターゲット上の試料を当該ターゲット上で分離する処理を行うオンターゲット分離処理部と、
前記オンターゲット分離処理部による処理が行われた試料に対して、前記MS1測定処理部による処理を再度実行させるMS1再測定処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のイオントラップ質量分析装置。 - 試料をイオン化することにより得られるイオンをイオントラップに捕捉し、当該イオンを開裂させて質量分析を行うことによりMSn分析(nは2以上の整数)を行うためのイオントラップ質量分析方法であって、
イオン化された試料の質量分析を行うことによりMS1スペクトルを測定するMS1測定ステップと、
前記MS1スペクトルに基づいて、強度又はS/N比が所定範囲内にある複数のピークに対応するイオンをMS2プリカーサイオンとして検出するプリカーサイオン検出ステップと、
MS2プリカーサイオンとして検出された複数のイオンを前記イオントラップ内で開裂させて質量分析を行うことにより、MS2スペクトルを測定するMS2測定ステップとを備えたことを特徴とするイオントラップ質量分析方法。
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