JP2015143960A - 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置であって、被検者の第1状態を撮影した第1撮影画像と、被検者の第1状態とは異なる第2状態を撮影した第2撮影画像と、を取得する画像取得手段と、前記第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得し、前記第1眼鏡装用パラメータに基づいて、前記第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する解析手段と、を備える。
【選択図】 図1
Description
(2) 本開示の第1態様に係る眼鏡装用画像解析方法は、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析方法であって、被検者の第1状態を撮影した第1撮影画像と、被検者の第1状態とは異なる第2状態を撮影した第2撮影画像と、を取得する画像取得ステップと、前記第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得し、前記第1眼鏡装用パラメータに基づいて、前記第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する解析ステップと、を備えることを特徴とする。
(3) 本開示の第3態様に係る眼鏡装用画像解析プログラムは、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置において実行される眼鏡装用画像解析プログラムであって、前記眼鏡装用画像解析装置のプロセッサによって実行されることで、被検者の第1状態を撮影した第1撮影画像と、被検者の第1状態とは異なる第2状態を撮影した第2撮影画像と、を取得する画像取得ステップと、前記第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得し、前記第1眼鏡装用パラメータに基づいて、前記第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する解析ステップと、を前記眼鏡装用画像解析装置に実行させることを特徴とする。
本発明の実施形態に係る眼鏡装用画像解析装置1の概要について説明する。本実施形態に関わる眼鏡装用画像解析装置1は、照明光学系110、遠用測定光学系200、近用測定光学系300、光路切換ユニット400と、側方撮影光学系500、を主に備える。
例えば、制御部70は、第1眼鏡装用パラメータとして、被検者の眼又は眼鏡(例えば、眼鏡フレーム及びレンズ)に関する位置を規定するための位置情報を、第1撮影画像に基づいて取得する。制御部70は、表示手段に第2撮影画像を表示するとともに、位置情報に基づいて、表示手段上における第2撮影画像の表示領域に対し、第1撮影画像の位置情報に対応する指標を表示する。すなわち、制御部70は、第1撮影画像から検出した位置情報に基づいて、第1撮影画像から検出した部位の位置と対応する第2撮影画像上の位置に、対応表示を行う。制御部70は、指標の位置に基づいて第2眼鏡装用パラメータを取得する。例えば、第1眼鏡装用パラメータとして、レンズ下端を用いる場合、制御部70は、第1眼鏡装用パラメータとして、レンズの下端の位置情報を第1撮影画像に基づいて取得する。制御部70は、レンズの下端の位置情報に基づいて、第1撮影画像より取得したレンズの下端位置に対応する指標を第2撮影画像上の位置に重畳表示させる。制御部70は、指標に基づいて第2眼鏡装用パラメータを取得する。もちろん、被検者の眼又は眼鏡に関する位置を規定するための位置情報は、レンズの下端の位置情報に限定されない。被検者の眼又は眼鏡に関するものであれば適用することができる。例えば、フレームの上端や、ブリッジの位置等を用いる構成が挙げられる。
図1は、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1の外観の概略構成図である。図2は、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1に収納される光学系の概略構成図である。以下、図1及び図2を参照して、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1の構成について説明する。図1に示されるように、眼鏡装用画像解析装置の装置本体3の内部には、後述する種々の測定光学系、駆動系、制御系等が備わる。装置本体3の被検者側には呈示窓5が備わる。呈示窓6は、被検者に固視標を呈示する際に、固視光束を通過させる窓である。同じく装置本体3の被検者側には顔支持ユニット5が備わる。顔支持ユニット5は、被検者の顔を支持するためのユニットである。装置本体3の検者側には操作ユニット(操作部)10が備わる。なお、本実施例においては、第1状態として、遠方視状態を例に挙げて説明する。また、本実施例においては、第2状態として、近方視状態を例に挙げて説明する。もちろん、第1状態として、近方視状態を用いてもよい。第2状態として、遠方視状態を用いてもよい。
操作ユニット10は、入力された操作指示に応じた信号を後述する制御部70に出力する。本実施例における操作ユニット10は、タッチパネル式の表示部15が用いられる。すなわち、本実施例においては、操作ユニットと表示部が兼用される。もちろん、操作ユニットと表示部が別に設けられた構成であってもよい。例えば、操作ユニット10には、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。例えば、表示部15は、眼鏡装用パラメータ測定装置1の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、本体に接続されたディスプレイであってもよい。もちろん、タッチパネル式でなくともよい。例えば、パーソナルコンピュータ(以下、「PC」という。)のディスプレイを用いてもよい。また、例えば、複数のディスプレイが併用されてもよい。表示部15には、撮影された遠方視及び近方視状態の正面画像又は側方画像を含む各種画像が表示されてもよい。
顔支持ユニット5は、被検者の額を支持する。そして、顔支持ユニット5は、後述する測定光学系(例えば、遠用測定光学系200,近用測定光学系300,反射ミラー410等)と被検者との距離を一定にする。また、顔支持ユニット5は、被検者の左右方向に回転可能であり、被検者の顔の向きを調整することができる。これによって、被検者の顔の向きが左右方向のいずれかにずれている場合、被検者の顔が正面を向くように、顔支持ユニット30を回転させることができる。
次に、図2を参照して、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1に収納される光学系について説明する。本実施例の眼鏡装用画像解析装置1は、照明光学系110、遠用測定光学系200、近用測定光学系300、光路切換ユニット400と、側方撮影光学系500、を主に備える。
照明光学系110は、4つの光源110R,110L,111R,111L(図2では、110L、111Lを省略)を主に備える。照明光学系110は、光源110R,110L,111R,111Lによって、四方向から被検者の顔を照明する。もちろん、照明光学系100は上記の構成に限らない。光源の数はいくつでもよく、配置も任意でよい。照明光学系110は、光源によって被検者の顔を照明することができればよい。例えば、照明光学系110は、顔支持ユニット5の下部、呈示窓6の上部に設けられてもよい。
図2に基づいて、遠用測定光学系(以下、第1測定光学系とも言う)200について説明する。遠用測定光学系200は、眼鏡フレームに対する遠方視状態における被検眼Eの眼位置を測定するための光学系である。遠用測定光学系200は、第1の固視標投影光学系200aと第1の撮像光学系200bに分けられる。なお、遠用測定光学系200の測定光軸を光軸L1とする。
近用測定光学系(以下、第2測定光学系とも言う)300は、近方視状態における被検眼Eの眼位置を測定するための光学系である。近用測定光学系300は、第2の固視標投影光学系300aと第2の撮像光学系300bに分けられる。
近用測定光学系300は、光学系移動ユニット350を備える。光学系移動ユニット350は、近用測定光学系300を移動可能に保持する。光学系移動ユニット350は、近用測定のときに、後述する反射ミラー410の角度の変更にともなって、近用測定光学系300の全体を移動させることができる。
図2に戻って、光路切換ユニット400について説明する。光路切換ユニットは、遠用測定用光学系200と、近用測定用光学系300の光路を切り換える。また、光路切り換えユニット400は、近用測定時における被検者の視線方向を変化させる。
図3は、側方撮影光学系500の概略構成図を示している。側方撮影光学系500は、被検者を側方から撮影することによって被検者の側方画像を取得する。図3に示されるように、側方撮影光学系500は、被検者の顔が支持される位置の左右方向に固定されている。
図4は本実施例の制御系を示すブロック図である。制御部70は、CPU(プロセッサ)、RAM、ROM等を備える。制御部70のCPUは、眼鏡装用画像解析装置1の制御を司る。RAMは、各種情報を一時的に記憶する。制御部70のROMには、眼鏡装用画像解析装置1の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。
以下、本実施例における制御動作について、図5を参照して、説明する。図5は、本実施例における制御動作の流れについて説明するフローチャートである。本実施例においては、制御部70は、遠方視状態の被検者を撮影した第1撮影画像と、近方視状態の被検者を撮影した第2撮影画像と、を取得する。制御部70は、第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得する。制御部70は、第1眼鏡装用パラメータに基づいて、第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する。
初めに、遠方視状態における第1撮影画像が取得される。例えば、第1撮影画像としては、遠方視状態における、正面画像、側方画像等が用いられる。検者は操作ユニット10に入力し、遠用撮影モードに設定する。遠用撮影モードでは、遠方視状態の被検者の画像を撮影するために、各種光学系の制御が制御部70によって行われる。
第1撮影画像が取得されると、制御部70は、第1撮影画像の解析を開始し、第1眼鏡装用パラメータ(遠方視状態における眼鏡装用パラメータ)を取得する。例えば、制御部70は、画像解析において、眼鏡のフレーム情報や被検者の瞳孔情報等を検出する。制御部70は、表示部15に解析に用いた撮影画像とともに、検出結果を撮影画像に重畳表示させる。また、制御部70は、検出結果に基づいて、眼鏡フレームに対する被検眼Eの遠方視状態におけるアイポジション高さ等を算出し(S2)、表示部15に表示する。なお、本実施例においては、眼鏡のフレーム情報として、眼鏡フレーム位置を例に挙げて説明する。また、本実施例においては、被検者の瞳孔情報として、瞳孔位置を例に挙げて説明する。
遠用測定が終了すると、検者は操作ユニット10を操作し、近用撮影モードに設定する。近用撮影モードでは、近方視状態の被検者の画像を撮影するために、各種光学系の制御が制御部70によって行われる。なお、本実施例においては、検者の操作によって、遠用撮影モードと、近用撮影モードが設定される構成としたがこれに限定されない。例えば、制御部70は、遠用の測定が完了した場合に、遠用撮影モードから近用撮影モードへとモード切換えを行う構成としてもよい。
第2撮影画像が取得されると、制御部70は、第2撮影画像の解析を開始し、第2眼鏡装用パラメータ(近方視状態における眼鏡装用パラメータ)を取得する(S6)。例えば、制御部70は、画像解析において、眼鏡のフレーム情報や被検者の瞳孔情報等を検出する。制御部70は、表示部15に解析に用いた撮影画像とともに、検出結果を撮影画像に重畳表示させる。また、制御部70は、検出結果に基づいて、眼鏡フレームに対する被検眼Eの近方視状態におけるアイポジション高さ等を算出し、表示部15に表示する。
なお、本実施例においては、第1眼鏡装用パラメータに基づいて、表示部15上における第2撮影画像の表示領域に対し、第1眼鏡装用パラメータに対応する指標を表示する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。第1眼鏡装用パラメータとして、被検者の眼又は眼鏡に関する位置を規定するための位置情報を、第1撮影画像に基づいて取得し、位置情報に基づいて、第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する構成であってもよい。
5 顔支持ユニット
10 操作ユニット
15 表示部
70 制御部
72 メモリ
200 遠用測定光学系
300 近用測定光学系
400 光路切換ユニット
500 側方撮影光学系
Claims (7)
- 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置であって、
被検者の第1状態を撮影した第1撮影画像と、被検者の第1状態とは異なる第2状態を撮影した第2撮影画像と、を取得する画像取得手段と、
前記第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得し、前記第1眼鏡装用パラメータに基づいて、前記第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する解析手段と、を備えることを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 請求項1の眼鏡装用画像解析装置において、
前記画像取得手段は、前記第1撮影画像として、遠方視状態の被検者を撮影した撮影画像を取得し、前記第2撮影画像として、近方視状態の被検者を撮影した撮影画像を取得することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 請求項1又は2の眼鏡装用画像解析装置において、
前記解析手段は、前記第1眼鏡装用パラメータとして、前記被検者の眼又は眼鏡に関する位置を規定するための位置情報を、前記第1撮影画像に基づいて取得し、表示手段に前記第2撮影画像を表示するとともに、前記位置情報に基づいて、前記表示手段上における前記第2撮影画像の表示領域に対し、前記第1撮影画像の前記位置情報に対応する指標を表示し、前記指標に基づいて前記第2眼鏡装用パラメータを取得することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 請求項3の眼鏡装用画像解析装置において、
前記解析手段は、前記第1眼鏡装用パラメータとして、レンズの下端の位置情報を前記第1撮影画像に基づいて取得し、前記レンズの下端の位置情報に基づいて、前記第1撮影画像より取得した前記レンズの下端位置に対応する指標を前記第2撮影画像上の位置に重畳表示させ、前記指標に基づいて前記第2眼鏡装用パラメータを取得することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 請求項1又は2の眼鏡装用画像解析装置において、
前記解析手段は、前記第1眼鏡装用パラメータとして、前記被検者の眼又は眼鏡に関する位置を規定するための位置情報を、前記第1撮影画像に基づいて取得し、前記位置情報に基づいて、前記第2撮影画像を解析し、前記第2眼鏡装用パラメータを取得することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析方法であって、
被検者の第1状態を撮影した第1撮影画像と、被検者の第1状態とは異なる第2状態を撮影した第2撮影画像と、を取得する画像取得ステップと、
前記第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得し、前記第1眼鏡装用パラメータに基づいて、前記第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する解析ステップと、
を備えることを特徴とする眼鏡装用画像解析方法。 - 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置において実行される眼鏡装用画像解析プログラムであって、
前記眼鏡装用画像解析装置のプロセッサによって実行されることで、
被検者の第1状態を撮影した第1撮影画像と、被検者の第1状態とは異なる第2状態を撮影した第2撮影画像と、を取得する画像取得ステップと、
前記第1撮影画像を解析することによって、第1眼鏡装用パラメータを取得し、前記第1眼鏡装用パラメータに基づいて、前記第2撮影画像を解析し、第2眼鏡装用パラメータを取得する解析ステップと、
を前記眼鏡装用画像解析装置に実行させることを特徴とする眼鏡装用画像解析プログラム。
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