JP2015102545A - ダイクロイック・ビームコンバイナおよびスプリッタを含む光学吸収分光システム - Google Patents
ダイクロイック・ビームコンバイナおよびスプリッタを含む光学吸収分光システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015102545A JP2015102545A JP2014224369A JP2014224369A JP2015102545A JP 2015102545 A JP2015102545 A JP 2015102545A JP 2014224369 A JP2014224369 A JP 2014224369A JP 2014224369 A JP2014224369 A JP 2014224369A JP 2015102545 A JP2015102545 A JP 2015102545A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- wavelength
- sample
- dichroic beam
- transition region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 49
- 238000004847 absorption spectroscopy Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 93
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 85
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 69
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims description 39
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0237—Adjustable, e.g. focussing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/021—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or particular reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N21/3151—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using two sources of radiation of different wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J2003/1866—Monochromator for three or more wavelengths
- G01J2003/1876—Polychromator
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N2021/3155—Measuring in two spectral ranges, e.g. UV and visible
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Claims (20)
- 第1波長範囲内の第1波長を有する第1光(113、413)を放射するように構成されている第1光源(111、411)と、
前記第1波長範囲とは異なる第2波長範囲内の第2波長を有する第2光(114、414)を放射するように構成されている第2光源(112、412)と、
所定の第1反射率/透過率遷移領域を備えており、前記第1光の第1部分を透過するとともに、前記第2光の第2部分を反射して、結合光(116、416a)を提供するように構成されているダイクロイック・ビームコンバイナ(115、415)と、
入口アパーチャ(121、421)で受光した前記結合光を分光し、前記分光した光のサンプル波長範囲をサンプル光(123、423)として選択し、サンプルを照射するために前記選択したサンプル波長範囲を有する前記サンプル光を出口アパーチャ(122、422)から出力するように構成されている波長選択モジュール(120、420)と、
を備える光学吸収分光システム(100、400)。 - 前記ダイクロイック・ビームコンバイナは所定の第1反射率/透過率遷移領域を備えており、
前記第1光の前記第1部分および前記第2光の前記第2部分は、それぞれ前記第1波長および前記第2波長と前記所定の第1反射率/透過率遷移領域との関係に基づいて決定する、請求項1に記載のシステム。 - 前記第1光の前記第1部分は前記所定の第1反射率/透過率遷移領域より上の第1波長を有しており、前記第2光の前記第2部分は前記所定の第1反射率/透過率遷移領域より下の第2波長を有する、請求項2に記載のシステム。
- 前記第1光の前記第1部分は前記第1反射率/透過率遷移領域より下の第1波長を有しており、前記第2光の前記第2部分は前記所定の第1反射率/透過率遷移領域より上の第2波長を有する、請求項2に記載のシステム。
- 前記第1光源は白熱灯を備えており、前記第1波長範囲は約330nmから約3300nmであり、
前記第2光源は重水素ランプを備えており、前記第2波長範囲は約190nmから約330nmである、請求項2に記載のシステム。 - 前記結合光が前記第1および第2の波長範囲の両方を実質的に含むように、前記所定の第1反射率/透過率遷移領域は約330nmである、請求項5に記載のシステム。
- 前記測定光の第1部分を透過するとともに、前記サンプルから受光した前記測定光の第2部分を反射するように構成されており、前記測定光は前記サンプルが吸収した光を減じた前記サンプル光を備える、ダイクロイック・ビームスプリッタと、
前記測定光の前記透過第1部分を受光して検出するように構成されている第1光検出器と、
前記測定光の前記反射第2部分を受光して検出するように構成されている第2光検出器と、
をさらに備える、請求項2に記載のシステム。 - 前記ダイクロイック・ビームスプリッタは所定の第2反射率/透過率遷移領域を備えており、
前記測定光の前記第1部分および前記測定光の前記第2部分は、前記測定光の波長と前記所定の第2反射率/透過率遷移領域との関係に基づいて決定される、請求項7に記載のシステム。 - 前記所定の第2反射率/透過率遷移領域は、前記所定の第1反射率/透過率遷移領域とは異なる、請求項8に記載のシステム。
- 前記波長選択モジュールの前記出口アパーチャから放射される前記サンプル光の前記サンプル波長範囲は、前記所定の第2反射率/透過率遷移領域の下から前記所定の第2反射率/透過率遷移領域の上まで広がっている、請求項8に記載のシステム。
- 入口アパーチャ(121、421)で受光する光を分光し、前記分光した光のサンプル波長範囲をサンプル光(123、423)として選択し、前記選択したサンプル波長範囲を有する前記サンプル光を出口アパーチャ(122、422)から出力するように構成されている波長選択モジュール(120、420)と、
前記波長選択モジュールから前記サンプル光によって照射されるとき、測定光(143、443)を提供するサンプルを収容するように構成されているサンプルホルダ(140、440)と、
異なる波長範囲内の波長を有する対応する光を検出するように構成されている複数の光検出器(131、132、431、432、437)と、第1波長範囲内の波長を有する前記測定光の部分を前記複数の光検出器のうちの1つに透過するとともに、第2波長範囲内の波長を有する前記測定光の部分を前記複数の光検出器のうちの別の1つに反射するように構成されているダイクロイック・ビームスプリッタ(135、435、439)とを含み、前記第1および第2の波長範囲は前記ダイクロイック・ビームスプリッタの所定の第1反射率/透過率遷移領域によって画定され、前記測定光を検出するように構成されている検出モジュール(130、430)と、
を備える光学吸収分光システム(100、400)。 - 前記波長選択モジュールは、前記サンプル波長範囲の選択ができるように構成されているモノクロメータである、請求項11に記載のシステム。
- 異なる波長範囲内の波長を有する対応する光を放射するように構成されている複数の光源と、第3波長範囲内の波長を有する前記対応する光の部分を透過するとともに、第4波長範囲内の波長を有する前記対応する光の部分を反射して結合光を提供するように構成されているダイクロイック・ビームコンバイナとを含み、前記第3および第4の波長範囲は前記ダイクロイック・ビームコンバイナの所定の第2反射率/透過率遷移領域によって画定され、前記結合光を放射するように構成されている光源モジュールをさらに備えており、
前記波長選択モジュールは前記光源モジュールが放射する前記結合光を前記入口アパーチャで受光される光として受光するように構成されている、請求項11に記載のシステム。 - 前記第1光源は白熱灯を備えており、前記第2光源は重水素ランプを備える、請求項13に記載のシステム。
- 前記複数の光検出器のうちの少なくとも1つは前記測定光の近赤外(NIR)部分を検出するインジウム(In)/ガリウム(Ga)ヒ化物(As)光検出器を備えており、前記複数の光検出器のうちの少なくとも別の1つは前記測定光の紫外−可視(UV−Vis)部分を検出するシリコン光検出器を備える、請求項14に記載のシステム。
- 前記ダイクロイック・ビームコンバイナの前記所定の第2反射率/透過率遷移領域は、前記ダイクロイック・ビームスプリッタの前記所定の第1反射率/透過率遷移領域とは異なる、請求項13に記載のシステム。
- 第1波長範囲内の第1波長を有する第1光(413)を放射するように構成されている第1光源(411)と、
前記第1波長範囲とは異なる第2波長範囲内の第2波長を有する第2光(414)を放射するように構成されている第2光源(412)と、
前記第1波長範囲および前記第2波長範囲とは異なる第3波長範囲内の第3波長を有する第3光(418)を放射するように構成されている第3光源(417)と、
前記第1光の一部を透過するとともに、前記第2光の一部を反射して、第1結合光(416a)を提供するように構成されている第1ダイクロイック・ビームコンバイナ(415)と、
前記第1結合光の一部を透過するとともに、前記第3光の一部を反射して、第2結合光(416b)を提供するように構成されている第2ダイクロイック・ビームコンバイナ(419)と、
入口アパーチャ(421)で受光した前記第2結合光を分光し、前記分光された光のサンプル波長範囲をサンプル光(423)として選択し、サンプルを照射するために前記選択したサンプル波長範囲を有する前記サンプル光を出口アパーチャ(422)から出力するように構成されている波長選択モジュール(420)と、
を備える光学吸収分光システム(400)。 - 前記第1ダイクロイック・ビームコンバイナは所定の第1反射率/透過率遷移領域を備えており、前記第2ダイクロイック・ビームコンバイナは前記第1反射率/透過率遷移領域とは異なる所定の第2反射率/透過率遷移領域を備える、請求項17に記載のシステム。
- 前記サンプルから受光した測定光の一部を第4光として透過するとともに、前記サンプルから受光した前記測定光の一部を第5光として反射するように構成されており、前記測定光は前記サンプルが吸収する光を減じた前記サンプル光を備える、第1ダイクロイック・ビームスプリッタと、
前記第1ダイクロイック・ビームスプリッタから受光した前記第4光の一部を第6光として透過するとともに、前記第1ダイクロイック・ビームスプリッタから受光した前記第4光の一部を第7光として反射するように構成されている第2ダイクロイック・ビームスプリッタと、
前記第2ダイクロイック・ビームスプリッタから受光した前記第6光を受光して検出するように構成されている第1光検出器と、
前記第1ダイクロイック・ビームスプリッタから受光した前記第5光を受光して検出するように構成されている第2光検出器と、
前記第2ダイクロイック・ビームスプリッタから受光した前記第7光を受光して検出するように構成されている第3光検出器と、
をさらに備える、請求項18に記載のシステム。 - 前記第1ダイクロイック・ビームスプリッタは所定の第3反射率/透過率遷移領域を含み、前記第2ダイクロイック・ビームスプリッタは前記第1反射率/透過率遷移領域とは異なる所定の第4反射率/透過率遷移領域を含む、請求項19に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/085,840 | 2013-11-21 | ||
US14/085,840 US9151672B2 (en) | 2013-11-21 | 2013-11-21 | Optical absorption spectrometry system including dichroic beam combiner and splitter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015102545A true JP2015102545A (ja) | 2015-06-04 |
JP6549832B2 JP6549832B2 (ja) | 2019-07-24 |
Family
ID=52118359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014224369A Expired - Fee Related JP6549832B2 (ja) | 2013-11-21 | 2014-11-04 | ダイクロイック・ビームコンバイナおよびスプリッタを含む光学吸収分光システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9151672B2 (ja) |
JP (1) | JP6549832B2 (ja) |
CN (1) | CN104655279A (ja) |
GB (1) | GB2521921B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019514000A (ja) * | 2016-04-19 | 2019-05-30 | カスケイド テクノロジーズ ホールディングス リミテッド | レーザ検出システム及び方法 |
KR20200019240A (ko) * | 2017-08-01 | 2020-02-21 | 조에티스 서비시즈 엘엘씨 | 배지를 식별하기 위한 장치 및 관련 난 식별 장치 및 방법 |
KR102233677B1 (ko) * | 2019-10-25 | 2021-03-30 | 한국표준과학연구원 | 멀티스케일 두께 측정 광학 장치 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9515738B2 (en) * | 2013-12-17 | 2016-12-06 | Hisense Broadband Multimedia Technologies Co., Ltd. | Optical module |
ES2569550A1 (es) * | 2014-10-10 | 2016-05-11 | Consejo Superior De Investigaciones Científicas (Csic) | Espectrofotómetro |
US10180393B2 (en) | 2016-04-20 | 2019-01-15 | Cascade Technologies Holdings Limited | Sample cell |
CN106226253A (zh) * | 2016-07-29 | 2016-12-14 | 北京大学东莞光电研究院 | 一种快速确定植物吸收光谱的方法以及植物光照光谱区间 |
GB201700905D0 (en) | 2017-01-19 | 2017-03-08 | Cascade Tech Holdings Ltd | Close-Coupled Analyser |
CN108255008A (zh) * | 2018-01-24 | 2018-07-06 | 杭州昌松光学有限公司 | 一种多波长复用投影仪rgb合色装置 |
US11714004B2 (en) * | 2018-11-15 | 2023-08-01 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Measurements using systems having multiple spectrometers |
WO2020154245A1 (en) * | 2019-01-22 | 2020-07-30 | Georgia Tech Research Corporation | Microscale in-situ imaging of dynamic temperature and deformation fields |
WO2020163492A1 (en) * | 2019-02-06 | 2020-08-13 | California Institute Of Technology | Compact hyperspectral mid-infrared spectrometer |
JP7056627B2 (ja) * | 2019-05-17 | 2022-04-19 | 横河電機株式会社 | 分光分析装置及び分光分析方法 |
US11313722B2 (en) | 2019-11-08 | 2022-04-26 | California Institute Of Technology | Infrared spectrometer having dielectric-polymer-based spectral filter |
EP4189341A4 (en) * | 2020-08-03 | 2024-01-24 | Siemens Healthcare Diagnostics, Inc. | ABSORPTION SPECTROSCOPY ANALYZER AND METHOD OF USE |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11108830A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Hitachi Ltd | 吸光度測定方法、吸光度測定器および吸光度測定システム |
JP2007212429A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-08-23 | Chuo Denshi Keisoku Kk | ヘッドライトの光軸調整方法におけるエルボー点検出方法 |
US20110242534A1 (en) * | 2010-04-06 | 2011-10-06 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Apparatus for detecting particle |
JP2012112663A (ja) * | 2010-11-19 | 2012-06-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計 |
US20130278939A1 (en) * | 2010-11-30 | 2013-10-24 | Technische Universität Dresden | Apparatus for non-incremental position and form measurement of moving sold bodies |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4707133A (en) * | 1986-03-06 | 1987-11-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Apparatus for plasma diagnostics |
JPH0325352A (ja) | 1989-06-23 | 1991-02-04 | Hitachi Ltd | 火炎断層計測法 |
JPH0454437A (ja) | 1990-06-22 | 1992-02-21 | Hitachi Ltd | 散乱性物体の光吸収測定方法およびその装置 |
WO2000063680A1 (en) * | 1999-04-21 | 2000-10-26 | Chromagen | A novel scanning spectrophotometer for high throughput fluorescence detection |
EP1111333A4 (en) | 1999-06-29 | 2002-08-28 | Omron Tateisi Electronics Co | LIGHT SOURCE DEVICE, SPECTROSCOPE COMPRISING THE LIGHT SOURCE DEVICE AND LAYER THICKNESS SENSOR |
DE19948587A1 (de) | 1999-10-08 | 2001-04-12 | Dade Behring Marburg Gmbh | Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit |
JP2004327003A (ja) * | 2002-07-26 | 2004-11-18 | Sharp Corp | 光ピックアップ |
WO2006086382A2 (en) | 2005-02-08 | 2006-08-17 | Northrop Grumman Corporation | System and methods for use in detecting harmful aerosol particles |
CN100476406C (zh) * | 2005-10-21 | 2009-04-08 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种连续扫描荧光成像文检仪 |
KR100962522B1 (ko) | 2008-07-24 | 2010-06-14 | 한국표준과학연구원 | 3색 광원을 이용하는 멀티플렉스 cars 분광장치 |
GB0818822D0 (en) * | 2008-10-14 | 2008-11-19 | Edinburgh Instr | Reduction of stray light |
JP5532608B2 (ja) | 2009-01-16 | 2014-06-25 | 横河電機株式会社 | レーザガス分析方法 |
CN201449370U (zh) * | 2009-06-04 | 2010-05-05 | 南京大学 | 多波长核酸蛋白层析分离和检测装置 |
US8477304B2 (en) * | 2009-07-08 | 2013-07-02 | Battelle Memorial Institute | System and method for high precision isotope ratio destructive analysis |
KR101799518B1 (ko) | 2011-05-03 | 2017-11-21 | 삼성전자 주식회사 | 형광 검출 광학계 및 이를 포함하는 다채널 형광 검출 장치 |
US9279722B2 (en) | 2012-04-30 | 2016-03-08 | Agilent Technologies, Inc. | Optical emission system including dichroic beam combiner |
-
2013
- 2013-11-21 US US14/085,840 patent/US9151672B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-11-04 JP JP2014224369A patent/JP6549832B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2014-11-12 GB GB1420096.8A patent/GB2521921B/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-11-19 CN CN201410660889.6A patent/CN104655279A/zh active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11108830A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Hitachi Ltd | 吸光度測定方法、吸光度測定器および吸光度測定システム |
JP2007212429A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-08-23 | Chuo Denshi Keisoku Kk | ヘッドライトの光軸調整方法におけるエルボー点検出方法 |
US20110242534A1 (en) * | 2010-04-06 | 2011-10-06 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Apparatus for detecting particle |
JP2012112663A (ja) * | 2010-11-19 | 2012-06-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計 |
US20130278939A1 (en) * | 2010-11-30 | 2013-10-24 | Technische Universität Dresden | Apparatus for non-incremental position and form measurement of moving sold bodies |
Non-Patent Citations (6)
Title |
---|
"How to Build a Spectrofluorometer", HORIBA FLUOROLOG-3, JPN7018003059, 4 October 2013 (2013-10-04) * |
"Operation Manual Part number J81082 rev. B", TSCSPC TRIPLE ILLUMINATOR ON FLUOROLOG ACCESSORIES, JPN7018004248, 10 May 2005 (2005-05-10), US * |
"Visible/long-wave infrared dichroic beamsplitter", OPTICAL ENGINEERING, vol. Vol. 44, No. 6, JPN7018003061, June 2005 (2005-06-01), pages 063801 * |
"モジュール型蛍光分光測定装置 SPEX Fluorolog-3", READOUT HORIBA TECHNICAL REPORTS, vol. No. 28, JPN7018003062, March 2004 (2004-03-01), JP, pages pp. 76-79 * |
"理想の4波長ダイクロイックミラーの開発", レーザ顕微鏡研究会第36回講演会抄録集, JPN7018003063, 6 July 2010 (2010-07-06), JP * |
"近赤外蛍光分光測定装置 SPEX Fluorolog-NIR", 堀場 蛍光分光光度計, JPN7018003060, 7 April 2013 (2013-04-07), JP, pages [2018年8月28日検索] * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019514000A (ja) * | 2016-04-19 | 2019-05-30 | カスケイド テクノロジーズ ホールディングス リミテッド | レーザ検出システム及び方法 |
KR20200019240A (ko) * | 2017-08-01 | 2020-02-21 | 조에티스 서비시즈 엘엘씨 | 배지를 식별하기 위한 장치 및 관련 난 식별 장치 및 방법 |
JP2020530106A (ja) * | 2017-08-01 | 2020-10-15 | ゾエティス・サービシーズ・エルエルシー | 媒体を分析するための装置、ならびに関連する卵識別装置及び方法 |
JP7089017B2 (ja) | 2017-08-01 | 2022-06-21 | ゾエティス・サービシーズ・エルエルシー | 媒体を分析するための装置、ならびに関連する卵識別装置及び方法 |
KR102457640B1 (ko) | 2017-08-01 | 2022-10-21 | 조에티스 서비시즈 엘엘씨 | 배지를 식별하기 위한 장치 및 관련 난 식별 장치 및 방법 |
KR102233677B1 (ko) * | 2019-10-25 | 2021-03-30 | 한국표준과학연구원 | 멀티스케일 두께 측정 광학 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2521921A (en) | 2015-07-08 |
US9151672B2 (en) | 2015-10-06 |
CN104655279A (zh) | 2015-05-27 |
GB2521921B (en) | 2016-03-09 |
GB201420096D0 (en) | 2014-12-24 |
JP6549832B2 (ja) | 2019-07-24 |
US20150138533A1 (en) | 2015-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6549832B2 (ja) | ダイクロイック・ビームコンバイナおよびスプリッタを含む光学吸収分光システム | |
EP3344971B1 (en) | Reference switch architectures for noncontact sensing of substances | |
CN113899452A (zh) | 用于参考切换的多路复用和编码 | |
US9752933B2 (en) | Optical emission system including dichroic beam combiner | |
JP2016033484A (ja) | 参照光分岐用光学系 | |
CN114729882A (zh) | 分光分析装置以及分光分析方法 | |
US20170068023A1 (en) | Multi-band spectrum division device | |
US10451479B2 (en) | Multichannel ultra-sensitive optical spectroscopic detection | |
KR102112940B1 (ko) | 기준 방식들에서의 측정 시간 분포 | |
EP3006910A1 (en) | Illumination device and reflection-characteristics measurement device | |
CN102753949B (zh) | 分光光度计及其性能测定方法 | |
CN208537399U (zh) | 一种先分光的光谱仪 | |
CN106501184B (zh) | 光学玻璃测量装置及其测量方法 | |
WO2023009605A1 (en) | Differential path length sensing using monolithic, dual-wavelength light emitting diode | |
US11340114B2 (en) | Spectrum measurement system | |
WO2011134111A1 (en) | Optical spectrometer and method for enhancing signal intensity for optical spectroscopy | |
JP5929504B2 (ja) | 分光測定器 | |
US11092727B2 (en) | High-resolution single photodiode spectrometer using a narrowband optical filter | |
US9897484B1 (en) | Measuring wideband spectrum information in mobile devices via an integrated optical system that uses multiple spectral sensors, multiple light sources and MEMS actuation | |
TWI454684B (zh) | 生化檢測系統及其光源模組 | |
TW201350824A (zh) | 生化檢測系統 | |
WO2018003045A1 (ja) | アパーチャ機能を有するビームスプリッタ及びそのビームスプリッタを備えた検出器 | |
US11821836B2 (en) | Fully compensated optical gas sensing system and apparatus | |
JP2013160651A (ja) | ライン分光測定装置 | |
JP6750733B2 (ja) | 分光光度計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171101 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180829 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180906 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181204 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20181220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190419 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20190426 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190530 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190628 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6549832 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |