JP2015094653A - Pallet for mounting test piece of sealant - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To acquire a correct evaluation result of a tensile adhesion test.SOLUTION: A plurality of test pieces 10A are mounted on a plurality of pallets 20. Each of the test pieces 10A is positioned by a plurality of pairs of positioning pins 28 and a plurality of guide bars 32, such that a plurality of X-axis lines and a plurality of Y-axis lines are formed from the plurality of test pieces 10A. The plurality of pallets 20 are packaged while being piled up on a carriage. In a locking recess 30 of each pallet 20, an upper end of the positioning pin 28 of the pallet 20 that is disposed at a lower side is locked, thereby securing a space S of which the dimension is larger than a longitudinal side 1404 of the test piece 10A, between a bottom face 2204 of the pallet 20 that is positioned higher and a top face 2202 of the pallet 20 that is positioned lower. Any other auxiliary load than a dead weight is not applied to a sealant 12 of each test piece 10A.

Description

本発明は、シーリング材の試験体載置用のパレットに関する。   The present invention relates to a pallet for mounting a sealant specimen.

ビルや家屋などの建造物を構成する建築材同士、例えば外壁同士の間に打設する目地材としてシーリング材が広く用いられており、シーリング材により建築材同士の水密性あるいは気密性を確保している。
特許文献１には、シーリング材の性能評価試験の１つとして引張接着性試験（建築用シーリング材の試験方法（ＪＩＳ Ａ１４３９））を行なうことが開示されている。
引張接着性試験では、建築材料に見立てた一対の基板をシーリング材により接着することで試験体（Ｈ型試験体）を構成し、引張試験機を用いて一対の基板に引張力を加えて規定された複数の試験項目について試験を行なう。
ところで、シーリング材を開発するにあたっては、シーリング材の組成を異ならせた大量の試験体を作成し、それら大量の試験体について引張接着性試験を行なう必要がある。
そのため、自動的に引張接着性試験を行なうことで２４時間稼動を可能とし大量の試験体について引張接着性試験を行なうことが求められている。また、試験の自動化を図ることで、省人効果も期待できる。
そこで、試験を人の手を介さずに自動で行う方法として、複数の試験体を基板の厚さ方向に複数個積み重ねて収容するカセットを複数設け、それらカセットを自動搬送装置により引張試験機近傍まで搬送し、ロボットなどによりカセットから試験体を取り出して引張試験機に自動的に供給して試験を行なうことが考えられる。 Sealing materials are widely used as jointing materials for building materials such as buildings and houses, for example, between outer walls, ensuring the water-tightness or air-tightness between building materials. ing.
Patent Document 1 discloses performing a tensile adhesion test (a test method for building sealants (JIS A1439)) as one of performance evaluation tests for sealants.
In the tensile adhesion test, a test body (H-type test body) is constructed by bonding a pair of substrates that are considered building materials with a sealing material, and a tensile tester is used to apply a tensile force to the pair of substrates. The test is performed on the plurality of test items.
By the way, when developing a sealing material, it is necessary to prepare a large number of test bodies having different compositions of the sealing material and to perform a tensile adhesion test on the large number of test bodies.
Therefore, it is required to perform a 24-hour operation by automatically performing a tensile adhesion test, and to perform a tensile adhesion test on a large number of specimens. In addition, the labor saving effect can be expected by automating the test.
Therefore, as a method of automatically performing the test without human intervention, a plurality of cassettes for storing a plurality of test bodies in a stacking direction in the thickness direction of the substrate are provided, and these cassettes are arranged in the vicinity of the tensile tester by an automatic transfer device. It is conceivable that the test specimen is taken out from the cassette by a robot or the like and automatically supplied to a tensile testing machine for testing.

特開２０１１−１８５７１３号公報JP 2011-185713 A

しかしながら、上記のようなカセットを用いた場合、各試験体は、それよりも上部に位置する試験体全ての荷重が加わることになり、したがって、下部に位置する試験体ほどシーリング材に大きな予備荷重がかかる。
このような予備荷重は、シーリング材の変形を生じさせるため、引張接着性試験の評価結果を正しく得る上で不利が生じる。
本発明は前記事情に鑑み案出されたものであり、その目的は、引張接着性試験の評価結果を正しく得る上で有利なシーリング材の試験体載置用のパレットを提供することにある。 However, when the cassette as described above is used, each test body is subjected to the load of all the upper test bodies, so that the lower the test body, the larger the preload on the sealing material. It takes.
Since such a preload causes deformation of the sealing material, there is a disadvantage in correctly obtaining the evaluation result of the tensile adhesion test.
The present invention has been devised in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a pallet for placing a test piece of a sealing material, which is advantageous in correctly obtaining an evaluation result of a tensile adhesion test.

上記目的を達成するために請求項１記載の発明は、細長形状のシーリング材を、前記シーリング材の長手方向と直交する方向から前記シーリング材を挟むように取着された一対の基板を備え、前記基板は、一対の横辺と一対の縦辺を有する矩形板状を呈し、前記シーリング材は、前記一対の横辺の中央間にその長手方向を前記縦辺と平行させて延在し、前記シーリング材と前記一対の基板とで試験体が構成され、前記シーリング材の長手方向を上下方向に向けて複数の前記試験体が載置される矩形板状のパレットであって、前記一対の基板が対向する方向と直交する方向をＸ軸方向とし、前記一対の基板が対向する方向をＹ軸方向とした場合、前記パレットの上面に、前記複数の試験体がＸ軸方向とＹ軸方向に間隔をおいて載置されるように、各試験体が載置される前記パレットの上面箇所毎に設けられ、前記シーリング材を基準として前記Ｘ軸方向および前記Ｙ軸方向における前記試験体の位置決めを行なう位置決め手段と、前記パレットの上面の四隅から前記縦辺よりも大きい寸法で突出する位置決めピンと、前記パレットの下面の四隅に、下方に配置される前記パレットの前記位置決めピンの上端が係止され、上方に位置するパレットの下面と、下方に位置する前記パレットの上面との間に、前記試験体の縦辺よりも大きい寸法の隙間を確保する係止凹部とを備えることを特徴とするシーリング材の試験体載置用のパレットである。
請求項２記載の発明は、前記位置決め手段は、各試験体が載置される前記パレットの上面箇所毎に、各試験体の一対の基板の間で前記シーリング材の両側に近接した箇所に突設された複数組の一対のガイドピンで構成されていることを特徴とする。
請求項３記載の発明は、前記複数の試験体が前記位置決め手段により前記上面上でＹ軸方向に間隔をおきＸ軸方向に並べられて載置されることで複数のＸ軸列が構成され、前記複数の試験体が前記位置決め手段により前記上面上でＸ軸方向に間隔をおきＹ軸方向に並べられて載置されることで複数のＹ軸列が構成され、前記複数の試験体は前記各Ｘ軸列において、平面視した場合に、前記複数の試験体の一対の基板の横辺がそれぞれそれらの長手方向に沿って延在するように並べられて配置され、前記複数の試験体は前記各Ｙ軸列において、平面視した場合に、前記複数の試験体の一対の基板の横辺がそれぞれ平行するように並べられて配置され、前記パレットの上面に、Ｘ軸方向に間隔をおいてＹ軸方向に延在し、前記パレットの上面に載置された前記複数の試験体の前記横辺の両端に係止しＹ軸方向において前記複数の試験体の前記横辺の両端を揃える複数のガイドバーが設けられていることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 includes a pair of substrates attached to sandwich the sealing material in an elongated shape from a direction perpendicular to the longitudinal direction of the sealing material, The substrate has a rectangular plate shape having a pair of lateral sides and a pair of longitudinal sides, and the sealing material extends between the centers of the pair of lateral sides with its longitudinal direction parallel to the longitudinal sides, A test body is composed of the sealing material and the pair of substrates, and a rectangular plate-like pallet on which a plurality of the test bodies are placed with the longitudinal direction of the sealing material facing up and down. When the direction orthogonal to the direction in which the substrates are opposed is the X-axis direction, and the direction in which the pair of substrates is opposed is the Y-axis direction, the plurality of specimens are placed on the top surface of the pallet in the X-axis direction and the Y-axis direction. To be placed at intervals Positioning means provided for each upper surface portion of the pallet on which each test body is placed, positioning the test body in the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the sealing material, and an upper surface of the pallet Positioning pins protruding from the four corners with dimensions larger than the vertical sides, and the upper corners of the positioning pins of the pallet disposed below at the four corners of the lower surface of the pallet, and the lower surface of the pallet positioned above, A pallet for mounting a test piece of a sealing material, comprising a locking recess for securing a gap having a size larger than the vertical side of the test piece between an upper surface of the pallet located below. is there.
According to a second aspect of the present invention, the positioning means protrudes at a location close to both sides of the sealing material between a pair of substrates of each specimen for each upper surface location of the pallet on which each specimen is placed. It is composed of a plurality of pairs of guide pins provided.
According to a third aspect of the present invention, a plurality of X-axis arrays are configured by placing the plurality of test bodies on the upper surface by being arranged in the Y-axis direction at intervals in the Y-axis direction. The plurality of test specimens are arranged on the upper surface by the positioning means at intervals in the X-axis direction and arranged in the Y-axis direction to form a plurality of Y-axis arrays, and the plurality of test specimens are In each of the X-axis rows, when viewed in plan, the horizontal sides of a pair of substrates of the plurality of test bodies are arranged side by side so as to extend along their longitudinal directions, respectively, and the plurality of test bodies Are arranged so that the horizontal sides of the pair of substrates of the plurality of test bodies are parallel to each other when viewed in plan in each Y-axis row, and spaced apart in the X-axis direction on the top surface of the pallet. Extending in the Y-axis direction and mounted on the top surface of the pallet. And a plurality of guide bars in engagement locks the Y-axis direction at both ends of the lateral sides of the plurality of specimens that are aligned at both ends of the lateral sides of said plurality of test body is provided.

請求項１記載の発明によれば、試験体のなかで最も高い精度で形成されたシーリング材を基準として試験体の位置決めを行なうため、パレット上で試験体を正確に整然と並べて載置する上で有利となる。
また、位置決めピンと係止凹部とを設けたため、複数のパレットが積み重ねられた場合であっても、各試験体のシーリング材には、シーリング材の自重以外の予備荷重はかからない。
したがって、シーリング材の物性及び試験体寸法に何ら影響を与えることがなく、大量の試験体についての引張接着性試験の評価結果を自動、かつ正しく得る上で有利となる。
また、試験体を構成する一対の基板に対しても予備荷重がかからないため、基板の損傷や破損を確実に防止でき、引張接着性試験を効率よく、確実に行なう上で有利となる。
請求項２記載の発明によれば、位置決め手段を一対のガイドピンにより簡単に構成することができ、パレットのコストダウンを図る上で有利となる。
請求項３記載の発明によれば、Ｘ軸方向における試験体の位置決めをさらに高い精度で行なうことができ、引張接着性試験を確実に行う上で有利となる。 According to the first aspect of the present invention, in order to position the test body with reference to the sealing material formed with the highest accuracy among the test bodies, when placing the test bodies on the pallet accurately and orderly, It will be advantageous.
Moreover, since the positioning pin and the locking recess are provided, even when a plurality of pallets are stacked, no preload other than the weight of the sealing material is applied to the sealing material of each specimen.
Therefore, there is no influence on the physical properties of the sealing material and the size of the specimen, which is advantageous in automatically and correctly obtaining the evaluation results of the tensile adhesion test for a large number of specimens.
In addition, since a preload is not applied to the pair of substrates constituting the test body, the substrate can be reliably prevented from being damaged or broken, which is advantageous in conducting the tensile adhesion test efficiently and reliably.
According to the second aspect of the present invention, the positioning means can be easily configured by the pair of guide pins, which is advantageous in reducing the cost of the pallet.
According to the third aspect of the present invention, it is possible to position the specimen in the X-axis direction with higher accuracy, which is advantageous for reliably performing the tensile adhesion test.

（Ａ）は実施の形態に係るパレットの平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）は（Ａ）のＣ矢視図である。(A) is a top view of the pallet concerning an embodiment, (B) is a B arrow view of (A), and (C) is a C arrow view of (A). （Ａ）は実施の形態に係るパレットにＪＩＳ規格で規定された試験体が載置された状態を示す平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）は（Ａ）のＣ矢視図である。(A) is a top view which shows the state by which the test body prescribed | regulated by JIS specification was mounted in the pallet which concerns on embodiment, (B) is a B arrow view of (A), (C) is (A). FIG. （Ａ）は実施の形態に係るパレットが２段積み重ねられた状態を示す平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）は（Ａ）のＣ矢視図である。(A) is a top view which shows the state by which the pallet which concerns on embodiment was piled up two steps, (B) is B arrow view of (A), (C) is C arrow view of (A). （Ａ）は実施の形態に係るパレットに載置された試験体がチャック機構により取り出される状態を示す平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）は（Ａ）のＣ矢視図である。(A) is a top view which shows the state from which the test body mounted on the pallet which concerns on embodiment is taken out with a chuck mechanism, (B) is a B arrow view of (A), (C) is (A). FIG. （Ａ）はＪＩＳ規格で規定された試験体の斜視図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）は（Ａ）の（Ｃ）矢視図である。(A) is a perspective view of the test body prescribed | regulated by JIS specification, (B) is B arrow view of (A), (C) is (C) arrow view of (A). （Ａ）はパレット上で一対のガイドピンにより位置決めされた試験体の斜視図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図である。(A) is a perspective view of the test body positioned by a pair of guide pins on the pallet, and (B) is a view as viewed from arrow B in (A). （Ａ）は実施の形態に係るパレットにＩＳＯ規格で規定された試験体が載置された状態を示す平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）は（Ａ）のＣ矢視図である。(A) is a top view which shows the state by which the test body prescribed | regulated by ISO specification was mounted in the pallet which concerns on embodiment, (B) is a B arrow view of (A), (C) is (A). FIG.

次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
まず、試験体について説明する。なお、本実施の形態では、試験体が建築用シーリング材の試験方法（ＪＩＳ Ａ１４３９））で規定するＨ型試験体である場合について説明する。
図５（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、試験体１０Ａは、細長形状のシーリング材１２と、シーリング材１２の長手方向と直交する方向からシーリング材１２を挟むように取着された一対の基板１４とで構成されている。 Next, the present embodiment will be described with reference to the drawings.
First, the test specimen will be described. In the present embodiment, a case will be described in which the test body is an H-type test body defined by the architectural sealing material test method (JIS A1439).
As shown in FIGS. 5 (A), (B), and (C), the test body 10A is attached so that the elongated sealing material 12 and the sealing material 12 are sandwiched from the direction perpendicular to the longitudinal direction of the sealing material 12. A pair of substrates 14 are attached.

基板１４は、一対の横辺１４０２と一対の縦辺１４０４を有する矩形板状を呈し、本実施の形態では、一対の基板１４は、同形同大の正方形の板状を呈している。一対の基板１４の一辺は５０ｍｍであり、厚さは、例えば３ｍｍ、５ｍｍ、１０ｍｍ、２５ｍｍの何れかである。
基板１４は、アルミ、ガラス、モルタルなどの建築材料と同様の材料で構成されている。 The substrate 14 has a rectangular plate shape having a pair of horizontal sides 1402 and a pair of vertical sides 1404. In the present embodiment, the pair of substrates 14 has a square plate shape having the same shape and the same size. One side of the pair of substrates 14 is 50 mm, and the thickness is, for example, any of 3 mm, 5 mm, 10 mm, and 25 mm.
The board | substrate 14 is comprised with the material similar to building materials, such as aluminum, glass, and mortar.

シーリング材１２は、一対の横辺１４０２の中央間にその長手方向を縦辺１４０４と平行させて延在している。
シーリング材１２は、一対の基板１４が対向する方向の厚さＴが１２ｍｍ、一対の基板１４が対向する方向と直交する方向の幅Ｗが１２ｍｍであり、断面が正方形を呈している。
したがって、一対の基板１４の間隔は１２ｍｍである。
なお、シーリング材１２は一対の基板１４に接着されることで取着されるが、一対の基板１４のシーリング材１２が接着される接着面に予めプライマーを塗布するなど任意である。 The sealing material 12 extends between the center of the pair of horizontal sides 1402 with its longitudinal direction parallel to the vertical sides 1404.
The sealing material 12 has a thickness T of 12 mm in a direction in which the pair of substrates 14 face each other, a width W in a direction orthogonal to the direction in which the pair of substrates 14 face each other, and a cross section of a square.
Therefore, the distance between the pair of substrates 14 is 12 mm.
The sealing material 12 is attached by being bonded to the pair of substrates 14, but it is optional such as applying a primer in advance to the bonding surface to which the sealing material 12 of the pair of substrates 14 is bonded.

次に、本実施の形態に係るシーリング材１２の試験体載置用のパレット（以下パレットという）について説明する。
図２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、パレット２０は、複数の試験体１０Ａが位置決めされ、整然と並べて載置されるものである。 Next, a pallet (hereinafter referred to as a pallet) for mounting a test specimen of the sealing material 12 according to the present embodiment will be described.
As shown in FIGS. 2A, 2 </ b> B, and 2 </ b> C, the pallet 20 is configured such that a plurality of test bodies 10 </ b> A are positioned and placed in an orderly manner.

図１（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、パレット２０は、パレット本体２２と、位置決め手段２６と、位置決めピン２８と、係止凹部３０と、ガイドバー３２とを含んで構成されている。
パレット本体２２は、矩形板状を呈し、試験体１０Ａが載置される上面２２０２と、上面２２０２の反対の下面２２０４とを備えている。
なお、本実施の形態では、上面２２０２に位置決め手段２６により複数の試験体１０Ａが整然と並べられて載置された状態で、一対の基板１４が対向する方向と直交する方向をＸ軸方向とし、一対の基板１４が対向する方向をＹ軸方向とする。 As shown in FIGS. 1A, 1 </ b> B, and 1 </ b> C, the pallet 20 includes a pallet main body 22, positioning means 26, positioning pins 28, a locking recess 30, and a guide bar 32. It is configured.
The pallet body 22 has a rectangular plate shape, and includes an upper surface 2202 on which the test body 10A is placed and a lower surface 2204 opposite to the upper surface 2202.
In the present embodiment, the X-axis direction is a direction orthogonal to the direction in which the pair of substrates 14 are opposed in a state where the plurality of test bodies 10A are arranged and placed on the upper surface 2202 by the positioning means 26. A direction in which the pair of substrates 14 face each other is a Y-axis direction.

図２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、位置決め手段２６は、パレットの上面２２０２に、複数の試験体１０ＡがＸ軸方向とＹ軸方向に間隔をおいて載置されるように、各試験体１０Ａが載置されるパレットの上面２２０２箇所毎に設けられ、シーリング材を基準としてＸ軸方向およびＹ軸方向における試験体１０Ａの位置決めを行なうものである。   As shown in FIGS. 2A, 2B, and 2C, the positioning means 26 has a plurality of test bodies 10A placed on the top surface 2202 of the pallet at intervals in the X-axis direction and the Y-axis direction. As described above, the test body 10A is provided at each of 2202 locations on the upper surface of the pallet on which the test body 10A is placed, and the test body 10A is positioned in the X-axis direction and the Y-axis direction with reference to the sealing material.

本実施の形態では、位置決め手段２６は、上面２２０２に、複数の試験体１０ＡがＸ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ等間隔をおいて載置されるように、各試験体１０Ａが載置される上面２２０２箇所毎に、各試験体１０Ａの一対の基板１４の間でシーリング材１２の両側に近接した箇所に突設された複数組の一対のガイドピン２４で構成されている。
したがって、図２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）、図６（Ａ）、（Ｂ）に示すように、試験体１０Ａを、シーリング材１２の長手方向を上下方向に向け、一対のガイドピン２４の両側に一対の基板１４を位置させ、一対のガイドピン２４の間にシーリング材１２を位置させると、一対のガイドピン２４により１つの試験体１０ＡのＸ軸方向およびＹ軸方向における位置決めがなされる。 In the present embodiment, the positioning means 26 places each test body 10A on the upper surface 2202 so that the plurality of test bodies 10A are placed at equal intervals in the X-axis direction and the Y-axis direction, respectively. Each upper surface 2202 is composed of a plurality of pairs of guide pins 24 projecting at locations adjacent to both sides of the sealing material 12 between the pair of substrates 14 of each test body 10A.
Therefore, as shown in FIGS. 2 (A), (B), (C), and FIGS. 6 (A) and (B), the test body 10A is placed with the longitudinal direction of the sealing material 12 in the vertical direction and a pair of guides. When the pair of substrates 14 is positioned on both sides of the pins 24 and the sealing material 12 is positioned between the pair of guide pins 24, the pair of guide pins 24 positions one test body 10A in the X-axis direction and the Y-axis direction. Is made.

本実施の形態では、ガイドピン２４は、均一の外径で形成され、ガイドピン２４の直径は例えば１０ｍｍである。また、一対のガイドピン２４の外周面の間隔は例えば１４ｍｍであり、この一対のガイドピン２４で挟まれるシーリング材１２の幅Ｗは１２ｍｍであるため、試験体１０ＡがＸ軸方向において正規位置から２ｍｍの範囲で位置決めされることになる。
また、試験体１０Ａの一対の基板１４の間隔は１２ｍｍであり、ガイドピン２４の直径(１０ｍｍ）よりも大きい寸法であるため、試験体１０ＡがＹ軸方向において正規位置から２ｍｍの範囲で位置決めされることになる。 In the present embodiment, the guide pin 24 is formed with a uniform outer diameter, and the diameter of the guide pin 24 is, for example, 10 mm. Further, the interval between the outer peripheral surfaces of the pair of guide pins 24 is, for example, 14 mm, and the width W of the sealing material 12 sandwiched between the pair of guide pins 24 is 12 mm. Positioning is performed within a range of 2 mm.
Further, since the distance between the pair of substrates 14 of the test body 10A is 12 mm and is larger than the diameter (10 mm) of the guide pin 24, the test body 10A is positioned within a range of 2 mm from the normal position in the Y-axis direction. Will be.

図１（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、位置決めピン２８は、パレット本体２２の上面２２０２の四隅から基板１４の縦辺１４０４よりも大きい寸法で突出している。
位置決めピン２８の上部には、位置決めピン２８の上端からパレット本体２２に向かうにつれて半径が次第に大きくなるテーパ面２８０２となっており、このテーパ面２８０２は、位置決めピン２８を係止凹部３０へ円滑に挿入するためのガイド面として機能している。 As shown in FIGS. 1A, 1 </ b> B, and 1 </ b> C, the positioning pins 28 protrude from the four corners of the upper surface 2202 of the pallet main body 22 with a size larger than the vertical side 1404 of the substrate 14.
A taper surface 2802 having a radius that gradually increases from the upper end of the positioning pin 28 toward the pallet body 22 is formed on the upper portion of the positioning pin 28, and the tapered surface 2802 allows the positioning pin 28 to smoothly enter the locking recess 30. It functions as a guide surface for insertion.

図３（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、係止凹部３０は、パンレット本体の下面２２０４の四隅に設けられ、下方に配置されるパレット２０の位置決めピン２８の上端が係止されるものである。
係止凹部３０は、位置決めピン２８が係止されることにより、上方に位置するパレット２０の下面２２０４と、下方に位置するパレット２０の上面２２０２との間に、試験体１０Ａの縦辺１４０４（図５（Ａ））よりも大きい寸法の隙間Ｓを確保するように構成されている。 As shown in FIGS. 3A, 3B, and 3C, the locking recesses 30 are provided at the four corners of the lower surface 2204 of the panlet body, and the upper ends of the positioning pins 28 of the pallet 20 disposed below are engaged. It will be stopped.
When the positioning pin 28 is locked, the locking recess 30 is formed between the lower surface 2204 of the pallet 20 positioned above and the upper surface 2202 of the pallet 20 positioned below and the vertical side 1404 ( A gap S having a size larger than that of FIG.

図１（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、ガイドバー３２は、パレット本体２２の上面２２０２に、Ｘ軸方向に間隔をおいてＹ軸方向に延在して複数設けられている。
すなわち、図２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、複数の試験体１０Ａを、シーリング材１２の長手方向を上下方向に向け、一対のガイドピン２４の両側に一対の基板１４を位置させ、一対のガイドピン２４の間にシーリング材１２を位置させると共に、上面２２０２上でＹ軸方向に間隔をおきＸ軸方向に並べて載置することで複数のＸ軸列が構成される。
また、複数の試験体１０Ａを上面２２０２上でＸ軸方向に間隔をおきＹ軸方向に並べて載置することで複数のＹ軸列が構成される。
複数の試験体１０Ａは各Ｘ軸列において、平面視した場合に、複数の試験体１０Ａの一対の基板１４の横辺１４０２（図５（Ａ））がそれぞれそれらの長手方向に沿って延在するように並べられて配置される。
複数の試験体１０Ａは各Ｙ軸列において、平面視した場合に、複数の試験体１０Ａの一対の基板１４の横辺１４０２がそれぞれ平行するように並べられて配置される。 As shown in FIGS. 1A, 1B and 1C, a plurality of guide bars 32 are provided on the upper surface 2202 of the pallet body 22 so as to extend in the Y-axis direction with an interval in the X-axis direction. ing.
That is, as shown in FIGS. 2A, 2 </ b> B, and 2 </ b> C, the plurality of test bodies 10 </ b> A are arranged with a pair of substrates on both sides of the pair of guide pins 24 with the longitudinal direction of the sealing material 12 facing the vertical direction. 14, the sealing material 12 is positioned between the pair of guide pins 24, and a plurality of X-axis rows are configured by placing them on the upper surface 2202 in the X-axis direction with intervals in the Y-axis direction. The
Further, a plurality of Y-axis rows are configured by placing the plurality of test bodies 10A on the upper surface 2202 with an interval in the X-axis direction arranged side by side in the Y-axis direction.
When the plurality of test bodies 10A are viewed in plan in the respective X-axis rows, the lateral sides 1402 (FIG. 5A) of the pair of substrates 14 of the plurality of test bodies 10A respectively extend along their longitudinal directions. Are arranged side by side.
The plurality of test bodies 10A are arranged side by side so that the horizontal sides 1402 of the pair of substrates 14 of the plurality of test bodies 10A are parallel to each other when viewed in plan in each Y-axis row.

そして、各ガイドバー３２は、パレット２０の上面２２０２に載置された複数の試験体１０Ａの横辺１４０２の両端に係止することで、Ｙ軸方向において複数の試験体１０Ａの横辺１４０２の両端を揃え、複数の試験体１０ＡのＸ軸方向の位置決めを位置決め手段２６よりも高精度に行なう。
本実施の形態では、Ｘ軸列が７個の試験体１０Ａで構成され、Ｙ軸列が６個の試験体１０Ａで構成され、したがって、１つのパレット２０当たり４２個の試験体１０Ａが載置される。 Each guide bar 32 is engaged with both ends of the lateral sides 1402 of the plurality of test bodies 10A placed on the upper surface 2202 of the pallet 20, so that the lateral sides 1402 of the plurality of test bodies 10A in the Y-axis direction. Both ends are aligned, and the plurality of test bodies 10A are positioned with higher accuracy than the positioning means 26 in the X-axis direction.
In the present embodiment, the X axis array is composed of seven test bodies 10A, and the Y axis array is composed of six test bodies 10A. Therefore, 42 test bodies 10A per pallet 20 are placed. Is done.

次に、本実施の形態のパレット２０を用いた自動試験システムについて説明する。
自動試験システムは、複数のパレット２０に搭載された大量の試験体１０Ａの引張接着性試験を自動的に行なうものであり、複数のパレット２０、台車、第１の自動搬送装置、試験体供給排出装置、引張試験機、コンピュータ、第２の自動搬送装置などを含んで構成されている。 Next, an automatic test system using the pallet 20 of the present embodiment will be described.
The automatic test system automatically performs a tensile adhesiveness test on a large number of test bodies 10A mounted on a plurality of pallets 20, and includes a plurality of pallets 20, a carriage, a first automatic transfer device, and a specimen supply / discharge. An apparatus, a tensile tester, a computer, a second automatic transfer device, and the like are included.

複数のパレット２０には、図２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、複数の試験体１０Ａが載置されており、各試験体１０Ａは、複数組の一対の位置決めピン２８と、複数のガイドバー３２とによって位置決めされることにより、複数の試験体１０Ａにより複数のＸ軸列と複数のＹ軸列とが構成されている。
そして、複数のパレット２０は、図３（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、台車上に積み重ねられた状態で搭載される。
この場合、各パレット２０の係止凹部３０は、下方に配置されるパレット２０の位置決めピン２８の上端が係止されており、これにより、上方に位置するパレット２０の下面２２０４と、下方に位置するパレット２０の上面２２０２との間に、試験体１０Ａの縦辺１４０４よりも大きい寸法の隙間Ｓが確保されている。 As shown in FIGS. 2A, 2B, and 2C, a plurality of test bodies 10A are placed on the plurality of pallets 20, and each test body 10A has a plurality of pairs of positioning pins. By positioning with 28 and the plurality of guide bars 32, a plurality of X-axis rows and a plurality of Y-axis rows are constituted by the plurality of test bodies 10A.
Then, as shown in FIGS. 3B and 3C, the plurality of pallets 20 are mounted in a state where they are stacked on a carriage.
In this case, the locking recess 30 of each pallet 20 is locked at the upper end of the positioning pin 28 of the pallet 20 disposed below, so that the lower surface 2204 of the pallet 20 positioned above and the lower position 2204 of the pallet 20 are positioned below. A gap S having a size larger than the vertical side 1404 of the test body 10A is secured between the upper surface 2202 of the pallet 20 to be measured.

複数のパレット２０が搭載された台車が所定の搬送エリアに移動されると、第１の自動搬送装置が台車上に積み重ねられた複数のパレット２０から、例えば、最も上位に位置する１つのパレット２０あるいは最も下位に位置するパレット２０を取り出したのち、このパレット２０を所定の試験エリアまで搬送する。
パレット２０が試験エリアまで搬送されると、試験体供給排出装置によりパレット２０から１つの試験体１０Ａが取り出され、引張試験機に装着される。
試験体供給排出装置は、例えば、図４（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、試験体１０Ａの一対の基板１４のＸ軸方向の両端をそれぞれ挟むチャック爪４２を備えるハンドリング機構４０を備え、このハンドリング機構４０を用いて試験体１０Ａをパレット２０から取り出す。 When a cart loaded with a plurality of pallets 20 is moved to a predetermined transport area, for example, one pallet 20 positioned at the highest position from the plurality of pallets 20 stacked on the cart. Or after taking out the pallet 20 located in the lowest position, this pallet 20 is conveyed to a predetermined test area.
When the pallet 20 is conveyed to the test area, one test body 10A is taken out from the pallet 20 by the test body supply / discharge device, and is mounted on the tensile tester.
For example, as shown in FIGS. 4A, 4 </ b> B, and 4 </ b> C, the test body supply / discharge device includes a handling device including chuck claws 42 that sandwich both ends of the pair of substrates 14 of the test body 10 </ b> A in the X-axis direction. A mechanism 40 is provided, and the test body 10A is taken out from the pallet 20 using the handling mechanism 40.

また、引張試験機は、試験体１０Ａの一対の基板１４が対向する方向を上下方向（鉛直方向）に向けた状態で試験体１０Ａに引張力を加えるように構成されている。
したがって、試験体供給排出装置は、パレット２０上において一対の基板１４が対向する方向が水平方向に向いた試験体１０Ａを、一対の基板１４が対向する方向が鉛直方向を向くように試験体１０Ａを反転させる反転機構を備えている。
引張試験機は、試験体１０Ａが装着されたならば、予め定められた試験項目に従って引張接着性試験を行ない、試験結果をコンピュータに供給する。
コンピュータは、所定のアプリケーションプログラムに基づいて試験結果の保存や分析などの予め定められた処理を行なう。 Further, the tensile tester is configured to apply a tensile force to the test body 10A in a state where the direction in which the pair of substrates 14 of the test body 10A face each other is in the vertical direction (vertical direction).
Therefore, the test body supply / discharge device is configured so that the test body 10A in which the direction in which the pair of substrates 14 face on the pallet 20 faces in the horizontal direction is the test body 10A in which the direction in which the pair of substrates 14 face in the vertical direction. A reversing mechanism is provided for reversing.
When the test body 10A is mounted, the tensile tester performs a tensile adhesion test according to a predetermined test item and supplies the test result to the computer.
The computer performs predetermined processing such as storage and analysis of test results based on a predetermined application program.

引張試験機により試験体１０Ａについて引張接着性試験が終了したならば、試験体供給排出装置は、引張試験機から試験済みの試験体１０Ａを取り出し、試験済みの試験体１０Ａを収容するための容器に排出する。
試験体供給排出装置および引張試験機は、試験エリアに位置するパレット２０に載置された全ての試験体１０Ａの試験が終了するまで同様の処理を繰り返す。
パレット２０に載置された全ての試験体１０Ａの引張接着性試験が終了したならば、第２の自動搬送装置が空のパレット２０を試験エリアから所定の退避エリアまで搬送する。
また、第１の自動搬送装置は、台車上に積載された複数のパレット２０から次の１つのパレット２０を取り出したのち、このパレット２０を所定の試験エリアまで搬送する。
以下、このような処理を台車上のパレット２０が無くなるまで繰り返す。 When the tensile adhesion test for the test body 10A is completed by the tensile tester, the test body supply / discharge device takes out the tested test body 10A from the tensile tester and accommodates the tested test body 10A. To discharge.
The test body supply / discharge device and the tensile tester repeat the same processing until the test of all the test bodies 10A placed on the pallet 20 located in the test area is completed.
When the tensile adhesion test of all the test bodies 10A placed on the pallet 20 is completed, the second automatic transport device transports the empty pallet 20 from the test area to a predetermined retreat area.
Further, the first automatic transfer device takes out the next one pallet 20 from the plurality of pallets 20 loaded on the carriage, and then transfers the pallet 20 to a predetermined test area.
Hereinafter, such a process is repeated until the pallet 20 on the carriage disappears.

なお、第１、第２の自走搬送装置は、空気シリンダ、電動シリンダ、ロボットなど従来公知の様々なアクチュエータ、及び運動機構を組み合わせることによって構成される。
また、試験体供給排出装置は、前記のハンドリング機構４０を備えるロボット（単軸〜多軸）や複数の空気シリンダ、電動シリンダ、その他ガイド等を組み合わせるなど従来公知の様々なアクチュエータを組み合わせることによって構成される。 The first and second self-propelled conveyance devices are configured by combining various conventionally known actuators such as an air cylinder, an electric cylinder, and a robot, and a motion mechanism.
The specimen supply / discharge device is configured by combining various conventionally known actuators such as a robot (single-axis to multi-axis) including the handling mechanism 40, a plurality of air cylinders, an electric cylinder, and other guides. Is done.

以上説明したように、本実施の形態によれば、複数のパレット２０が積み重ねられた状態で、各パレット２０の係止凹部３０は、下方に配置されるパレット２０の位置決めピン２８の上端が係止されており、これにより、上方に位置するパレット２０の下面２２０４と、下方に位置するパレット２０の上面２２０２との間に、試験体１０Ａの縦辺１４０４よりも大きい寸法の隙間Ｓが確保されている。
そのため、複数のパレット２０が積み重ねられた場合であっても、各試験体１０Ａのシーリング材１２には、シーリング材１２の自重以外の予備荷重はかからない。
したがって、大量の試験体１０Ａを準備して引張接着性試験を行なうに際して、シーリング材１２の物性及び試験体形状に何ら影響を与えることがなく、引張接着性試験の評価結果を正しく得る上で有利となる。
また、試験体１０Ａを構成する一対の基板１４に対しても予備荷重がかからないため、例えば、基板１４がガラスで形成されているような場合であっても、基板１４の損傷や破損を確実に防止でき、引張接着性試験を効率よく、確実に行なう上で有利となる。 As described above, according to the present embodiment, in a state where a plurality of pallets 20 are stacked, the locking recess 30 of each pallet 20 is engaged with the upper end of the positioning pin 28 of the pallet 20 disposed below. Thus, a gap S having a dimension larger than the vertical side 1404 of the test body 10A is secured between the lower surface 2204 of the pallet 20 positioned above and the upper surface 2202 of the pallet 20 positioned below. ing.
Therefore, even when a plurality of pallets 20 are stacked, no preload other than the weight of the sealing material 12 is applied to the sealing material 12 of each test body 10A.
Therefore, when preparing a large number of test bodies 10A and conducting a tensile adhesion test, there is no effect on the physical properties of the sealing material 12 and the shape of the test body, which is advantageous in obtaining the evaluation results of the tensile adhesion test correctly. It becomes.
Further, since no preload is applied to the pair of substrates 14 constituting the test body 10A, for example, even when the substrate 14 is made of glass, the substrate 14 is reliably damaged or broken. This is advantageous in that the tensile adhesion test can be performed efficiently and reliably.

また、本実施の形態では、試験体１０Ａを、シーリング材１２の長手方向を上下方向に向け、一対のガイドピン２４の両側に一対の基板１４を位置させ、一対のガイドピン２４の間にシーリング材１２を位置させることで、一対のガイドピン２４により１つの試験体１０ＡのＸ軸方向およびＹ軸方向における位置決めを行なうようにした。
したがって、一対の基板１４の厚さが変化しても一対のガイドピン２４によって試験体１０Ａの位置決めを行える。
すなわち、基板１４の厚さが、例えば３ｍｍ、５ｍｍ、１０ｍｍ、２５ｍｍの何れの場合であっても、一対のガイドピン２４によって試験体１０Ａの位置決めを行えるため、一対の基板１４の厚さに拘わらずパレット２０を共通して使用することができ、コストを抑制する上で有利となる。
また、図７（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すように、基板１４の厚さがＩＳＯ規格に対応した寸法でＪＩＳ Ａ１４３９の規格よりも大きい試験体１０Ｂの場合であっても、試験体１０ＢをＸ軸方向およびＹ軸方向に整然と並べて載置することが可能となる。 Further, in the present embodiment, the test body 10 </ b> A is placed between the pair of guide pins 24 with the pair of substrates 14 positioned on both sides of the pair of guide pins 24 with the longitudinal direction of the sealing material 12 facing the vertical direction. By positioning the material 12, the pair of guide pins 24 position one test body 10A in the X-axis direction and the Y-axis direction.
Therefore, even if the thickness of the pair of substrates 14 changes, the test body 10A can be positioned by the pair of guide pins 24.
That is, regardless of the thickness of the substrate 14, for example, 3 mm, 5 mm, 10 mm, or 25 mm, the test body 10 </ b> A can be positioned by the pair of guide pins 24. The pallet 20 can be used in common, which is advantageous in reducing costs.
Further, as shown in FIGS. 7A, 7B, and 7C, even when the thickness of the substrate 14 is a dimension corresponding to the ISO standard and the specimen 10B is larger than the standard of JIS A1439, It becomes possible to place the test body 10B in an orderly manner in the X-axis direction and the Y-axis direction.

また、本実施の形態では、一対のガイドピン２４に加えてガイドバー３２を設けたため、試験体１０Ａの位置決めをより正確に行なう上で有利となり、ハンドリング機構４０を用いてパレット２０から試験体１０Ａを取り出す作業を確実に行なえることから、引張試験機への試験体１０Ａ、１０Ｂの装着作業をより効率よく行なう上で有利となる。
また、基板１４の横辺１４０２の寸法が規格を上回る不良品の試験体１０Ａ、１０Ｂがあった場合、このような不良品をパレット２０上に載置しようとしても、試験体１０Ａ、１０Ｂの基板１４の部分がガイドバー３２にぶつかってしまう。これにより、一目で不良品であることが判別できるため、不良品を的確に排除することができ、引張接着性試験を効率よく、確実に行なう上で有利となる。 In the present embodiment, since the guide bar 32 is provided in addition to the pair of guide pins 24, it is advantageous in positioning the test body 10A more accurately, and the handling mechanism 40 is used to change the test body 10A from the pallet 20 to the test body 10A. Therefore, it is advantageous to perform the work of mounting the test bodies 10A and 10B to the tensile tester more efficiently.
In addition, when there are defective test bodies 10A and 10B whose dimensions of the lateral side 1402 of the substrate 14 exceed the standard, even if an attempt is made to place such defective products on the pallet 20, the substrates of the test bodies 10A and 10B. 14 portion hits the guide bar 32. Thereby, since it can be determined at a glance that it is a defective product, the defective product can be accurately eliminated, which is advantageous in conducting the tensile adhesion test efficiently and reliably.

１０Ａ、１０Ｂ 試験体
１２ シーリング材
１４ 基板
１４０２ 横辺
１４０４ 縦辺
２０ パレット
２２ パレット本体
２２０２ 上面
２２０４ 下面
２４ ガイドピン
２６ 位置決め手段
２８ 位置決めピン
３０ 係止凹部
３２ ガイドバー
Ｓ 隙間 10A, 10B Specimen 12 Sealing material 14 Substrate 1402 Horizontal side 1404 Vertical side 20 Pallet 22 Pallet body 2202 Upper surface 2204 Lower surface 24 Guide pin 26 Positioning means 28 Positioning pin 30 Locking recess 32 Guide bar S Gap

Claims (3)

細長形状のシーリング材を、前記シーリング材の長手方向と直交する方向から前記シーリング材を挟むように取着された一対の基板を備え、
前記基板は、一対の横辺と一対の縦辺を有する矩形板状を呈し、
前記シーリング材は、前記一対の横辺の中央間にその長手方向を前記縦辺と平行させて延在し、
前記シーリング材と前記一対の基板とで試験体が構成され、
前記シーリング材の長手方向を上下方向に向けて複数の前記試験体が載置される矩形板状のパレットであって、
前記一対の基板が対向する方向と直交する方向をＸ軸方向とし、前記一対の基板が対向する方向をＹ軸方向とした場合、前記パレットの上面に、前記複数の試験体がＸ軸方向とＹ軸方向に間隔をおいて載置されるように、各試験体が載置される前記パレットの上面箇所毎に設けられ、前記シーリング材を基準として前記Ｘ軸方向および前記Ｙ軸方向における前記試験体の位置決めを行なう位置決め手段と、
前記パレットの上面の四隅から前記縦辺よりも大きい寸法で突出する位置決めピンと、
前記パンレットの下面の四隅に、下方に配置される前記パレットの前記位置決めピンの上端が係止され、上方に位置するパレットの下面と、下方に位置する前記パレットの上面との間に、前記試験体の縦辺よりも大きい寸法の隙間を確保する係止凹部と、
を備えることを特徴とするシーリング材の試験体載置用のパレット。 A pair of substrates attached to sandwich the sealing material from a direction perpendicular to the longitudinal direction of the sealing material, the elongated sealing material;
The substrate has a rectangular plate shape having a pair of horizontal sides and a pair of vertical sides,
The sealant extends between the center of the pair of horizontal sides with its longitudinal direction parallel to the vertical sides,
A test body is composed of the sealing material and the pair of substrates.
A rectangular plate-like pallet on which a plurality of the test bodies are placed with the longitudinal direction of the sealing material facing in the vertical direction,
When the direction orthogonal to the direction in which the pair of substrates face each other is the X-axis direction, and the direction in which the pair of substrates face each other is the Y-axis direction, the plurality of specimens are placed on the top surface of the pallet with the X-axis direction. It is provided for each upper surface portion of the pallet on which each specimen is placed so as to be placed at intervals in the Y-axis direction, and the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the sealing material Positioning means for positioning the specimen;
Locating pins that protrude from the four corners of the upper surface of the pallet with dimensions larger than the vertical sides;
The upper ends of the positioning pins of the pallet disposed below are locked at the four corners of the lower surface of the panlet, and the test is performed between the lower surface of the pallet located above and the upper surface of the pallet located below. A locking recess that secures a gap with a dimension larger than the vertical side of the body;
A pallet for mounting a test piece of a sealing material. 前記位置決め手段は、各試験体が載置される前記パレットの上面箇所毎に、各試験体の一対の基板の間で前記シーリング材の両側に近接した箇所に突設された複数組の一対のガイドピンで構成されている、
ことを特徴とする請求項１記載のシーリング材の試験体載置用のパレット。 The positioning means includes a plurality of sets of a pair of protrusions projecting at locations close to both sides of the sealing material between a pair of substrates of each test body for each upper surface location of the pallet on which each test body is placed. Consists of guide pins,
The pallet for mounting the test piece of the sealing material according to claim 1. 前記複数の試験体が前記位置決め手段により前記上面上でＹ軸方向に間隔をおきＸ軸方向に並べられて載置されることで複数のＸ軸列が構成され、
前記複数の試験体が前記位置決め手段により前記上面上でＸ軸方向に間隔をおきＹ軸方向に並べられて載置されることで複数のＹ軸列が構成され、
前記複数の試験体は前記各Ｘ軸列において、平面視した場合に、前記複数の試験体の一対の基板の横辺がそれぞれそれらの長手方向に沿って延在するように並べられて配置され、
前記複数の試験体は前記各Ｙ軸列において、平面視した場合に、前記複数の試験体の一対の基板の横辺がそれぞれ平行するように並べられて配置され、
前記パレットの上面に、Ｘ軸方向に間隔をおいてＹ軸方向に延在し、前記パレットの上面に載置された前記複数の試験体の前記横辺の両端に係止しＹ軸方向において前記複数の試験体の前記横辺の両端を揃える複数のガイドバーが設けられている、
ことを特徴とする請求項１または２記載のシーリング材の試験体載置用のパレット。 A plurality of X-axis rows are configured by placing the plurality of test bodies on the upper surface by the positioning means spaced in the Y-axis direction and arranged in the X-axis direction,
The plurality of test specimens are arranged on the upper surface by the positioning means at intervals in the X-axis direction and arranged in the Y-axis direction to form a plurality of Y-axis rows,
The plurality of test bodies are arranged side by side so that the lateral sides of the pair of substrates of the plurality of test bodies extend along their longitudinal directions when viewed in plan in each of the X-axis rows. ,
The plurality of test bodies are arranged side by side so that the horizontal sides of the pair of substrates of the plurality of test bodies are parallel to each other when viewed in plan in each Y-axis row,
On the upper surface of the pallet, extending in the Y-axis direction with an interval in the X-axis direction, locked to both ends of the horizontal sides of the plurality of test bodies placed on the upper surface of the pallet, in the Y-axis direction A plurality of guide bars that align both ends of the lateral sides of the plurality of test bodies are provided.
The pallet for mounting the test piece of the sealing material according to claim 1 or 2.
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