JP2015081791A - 処理装置および処理プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】回路基板の構成要素における不良の発生原因の解析に有効に活用する。
【解決手段】回路基板100のネット(Na〜Ng)についての物理量の測定値およびネットの良否を判定するための判定基準を記憶する記憶部と、測定値および判定基準に基づいてネットの良否を判定する第1判定処理を実行すると共にその結果を示す第1情報画像Gfと回路基板画像Gbとを表示部13に表示させる第1表示処理を実行する処理部とを備え、処理部は、第1表示処理を実行している状態において判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たすネットが存在するか否かを判定する第2判定処理を実行すると共に条件を満たすネットが存在するときにネットについての情報を示す第2情報画像Gsと回路基板画像Gbとを表示部13に表示させる第2表示処理を実行する。
【選択図】図5
【解決手段】回路基板100のネット(Na〜Ng)についての物理量の測定値およびネットの良否を判定するための判定基準を記憶する記憶部と、測定値および判定基準に基づいてネットの良否を判定する第1判定処理を実行すると共にその結果を示す第1情報画像Gfと回路基板画像Gbとを表示部13に表示させる第1表示処理を実行する処理部とを備え、処理部は、第1表示処理を実行している状態において判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たすネットが存在するか否かを判定する第2判定処理を実行すると共に条件を満たすネットが存在するときにネットについての情報を示す第2情報画像Gsと回路基板画像Gbとを表示部13に表示させる第2表示処理を実行する。
【選択図】図5
Description
本発明は、回路基板の構成要素についての物理量の測定値に基づいて構成要素の良否を判定すると共に判定結果を表示させる処理を実行する処理装置、およびその処理を処理装置に実行させる処理プログラムに関するものである。
回路基板に形成されているネット(導体パターン)の検査を行う装置として、特開2010−236889号公報において出願人が開示した回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置は、ネットの絶縁状態や導通状態の検査を実行して、検査結果を記憶部に記憶させるように構成されている。この場合、この回路基板検査装置では、ネットについての物理量の測定値(例えば、電圧値や抵抗値)と予め決められた基準値とに基づいてネットの良否を判定する判定処理を実行する。具体的には、ネット間の抵抗値と基準値とを比較して、抵抗値が判定基準以上のときには、そのネットの絶縁状態を良好と判定し、抵抗値が判定基準未満のときには、そのネットの絶縁状態を不良と判定する。
ところが、上記の回路基板検査装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、この回路基板検査装置では、測定値と予め決められた判定基準とを比較して測定値が判定基準以上であるか否かのみによってネットの良否を判定している。しかしながら、判定基準が厳しく規定されているときには、測定値が判定基準を僅かに下回っただけで、実質的には不良とは言えないネットが不良と判定されることがある。このため、不良の発生原因を解析し、回路基板に改良を加えて不良を解消するためには、このように測定値と予め決められた判定基準とを比較してネットの良否を判定するだけでなく、判定基準を変更して良否を判定し、これらの結果から解析を行う必要がある。しかしながら、上記の回路基板検査装置は、このような使用態様に対応することができないため、不良の発生原因の解析に有効に活用することが困難であり、この点の改善が望まれている。
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、回路基板の構成要素における不良の発生原因の解析に有効に活用し得る処理装置および処理プログラムを提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の処理装置は、回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準を記憶する記憶部と、前記測定値および前記判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第1判定処理を実行すると共に当該第1判定処理の結果についての情報を示す第1情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第1表示処理を実行する処理部とを備え、前記判定基準に対して変更を加える変更操作が可能に構成され、前記処理部は、前記第1表示処理を実行している状態において前記変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第2判定処理を実行すると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第2情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第2表示処理を実行する。
また、請求項2記載の処理装置は、請求項1記載の処理装置において、前記第2判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作が可能に構成され、前記処理部は、前記第1表示処理を実行している状態において前記絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象として前記第2判定処理を実行する。
また、請求項3記載の処理装置は、請求項1または2記載の処理装置において、前記処理部は、前記第2表示処理を実行している状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって1つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第3表示処理を実行する。
また、請求項4記載の処理装置は、請求項3記載の処理装置において、前記処理部は、前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記第2情報画像内で選択する第1選択操作、および前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第2選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第3表示処理を実行する。
また、請求項5記載の処理プログラムは、回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第1判定処理を処理装置に実行させると共に当該第1判定処理の結果についての情報を示す第1情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第1表示処理を当該処理装置に実行させ、前記第1表示処理を実行させている状態において、前記判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第2判定処理を前記処理装置に実行させると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第2情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第2表示処理を当該処理装置に実行させる。
また、請求項6記載の処理プログラムは、請求項5記載の処理プログラムにおいて、前記第1表示処理を実行している状態において前記第2判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象とする前記第2判定処理を前記処理装置に実行させる。
また、請求項7記載の処理プログラムは、請求項5または6記載の処理プログラムにおいて、前記第2表示処理を実行させている状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって1つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第3表示処理を前記処理装置に実行させる。
また、請求項8記載の処理プログラムは、請求項7記載の処理プログラムにおいて、前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記第2情報画像内で選択する第1選択操作、および前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第2選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第3表示処理を前記処理装置に実行させる。
請求項1記載の処理装置、および請求項5記載の処理プログラムでは、第1表示処理を実行している状態において変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たす構成要素についての情報を表示させる第2表示処理を実行する。このため、この処理装置および処理プログラムによれば、測定値と予め決められた判定基準とを比較して構成要素の良否を判定する第1判定処理の結果の情報だけでは得ることができない有用な情報を得ることができる結果、これらの情報を活用することによって不良の発生原因の十分な解析を行うことができる。したがって、構成要素の不良の発生原因の解析にこの処理装置および処理プログラムを十分有効に活用することができる。
また、請求項2記載の処理装置、および請求項6記載の処理プログラムでは、第1表示処理を実行している状態において第2判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作がされたときに、絞り込まれた構成要素を対象として第2判定処理を実行する。このため、この処理装置および処理プログラムによれば、第1判定処理において不良と判定された構成要素の数が多いときには、第2判定処理の対象とする構成要素を絞り込むことで、判定結果が整理し易くなる結果、構成要素における不良の発生原因の解析を効率的に行うことができる。
また、請求項3記載の処理装置、および請求項7記載の処理プログラムでは、第2表示処理を実行している状態において指定操作によって指定された構成要素を他の構成要素と識別可能な表示態様で回路基板の画像内に表示させる第3表示処理を実行する。このため、この処理装置および処理プログラムによれば、回路基板に数多くの構成要素が形成されている場合においても、変更操作によって規定される条件を満たす構成要素の回路基板内における位置を容易に把握することができるため、構成要素における不良の発生原因の解析さらに効率的に行うことができる。
また、請求項4記載の処理装置、および請求項8記載の処理プログラムによれば、構成要素を第2情報画像内で選択する第1選択操作および構成要素を回路基板の画像内で選択する第2選択操作の少なくとも一方の操作がされたときに第3表示処理を実行することにより、所望の構成要素の回路基板内における位置を簡易な操作で把握することができるため、利便性を十分に向上させることができる。
以下、処理装置および処理プログラムの実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、処理装置の一例としての図1に示す処理装置1の構成について説明する。処理装置1は、回路基板100のネット(導体パターン)Na〜Ng(図2参照:回路基板100を構成する構成要素の一例であって、以下、区別しないときには「ネットN」ともいう)の良否判定や不良原因の解析を行う際に用いる各種の情報を提供(表示)する機能を有している。具体的には、処理装置1は、図1に示すように、入力部11、操作部12、表示部13、記憶部14および処理部15を備えて構成されている。
入力部11は、処理部15の制御に従い、図外の測定装置によって測定された回路基板100の各ネットNについての物理量(例えば、抵抗や静電容量)の測定値(抵抗値や容量値)を示す測定データDtを入力する(図1参照)。また、入力部11は、後述する第1判定処理において用いられる判定基準データDs、並びに後述する第1表示処理、第2表示処理および第3表示処理において用いられる回路基板100の設計データDd(ネットNの形状や回路基板100上における位置を特定可能なデータ)を入力する(同図参照)。
操作部12は、キーボードやポインティングデバイス(マウス)等の入力装置を備えて構成されて、操作に応じて、処理部15に対して操作信号を出力する。表示部13は、処理部15の制御に従い、第1情報画像Gf(図2参照)、回路基板画像Gb(同図参照)、条件入力画像Gc(図3参照)、および第2情報画像Gs(図5参照)などの各種の画像を表示する。
記憶部14は、後述する第1判定処理、第2判定処理、第1表示処理、第2表示処理および第3表示処理を処理部15に実行させるための処理プログラムPrを記憶する(図1参照)。また、記憶部14は、処理部15の制御に従い、入力部11を介して入力した測定データDt、判定基準データDsおよび設計データDdを記憶する。さらに、記憶部14は、処理部15の制御に従い、操作部12を用いて行う後述する変更操作や絞り込み操作によって入力された値や情報を示すデータを記憶する。
処理部15は、操作部12から出力される操作信号に従って処理装置1を構成する各部を制御する。また、処理部15は、記憶部14に記憶されている処理プログラムPrに従い、第1判定処理、第2判定処理、第1表示処理、第2表示処理および第3表示処理を実行する。
次に、処理装置1の使用方法、およびその際の処理装置1の動作について、図面を参照して説明する。この場合、上記した処理プログラムPrが記憶部14に既に記憶されているものとする。なお、図2に示すようにネットNa〜Ngを有する回路基板100における各ネットNa〜Ngの良否の判定や不良の原因の解析を行う例について説明する。この場合、同図に示すようにネットNa〜Ngには、図外の測定装置によって行われる測定の際にプローブを接触させる検査ポイントS1〜S14(以下、区別しないときには「検査ポイントS」ともいう)が設定されているものとする。
まず、図外の測定装置によって測定された回路基板100の各ネットNについての物理量の測定値を示す測定データDtを入力部11を介して測定装置から入力する。この際に、処理部15が、入力した測定データDtを記憶部14に記憶させる。この場合、測定装置と入力部11とをケーブルで繋いで測定データDtを入力してもよいし、USBメモリや光ディスク等の記憶媒体に測定データDtを記憶させ、その記憶媒体を介して測定データDtを入力してもよい。
ここで、この例では、測定データDtには、各ネットN間に測定用電圧を供給したときに検出される電流の電流値と供給した電圧の電圧値とに基づいて測定された各ネットN間の抵抗値が物理量(絶縁状態の判定に用いる物理量)の測定値として含まれているものとする。また、測定データDtには、測定の際に回路基板100の下に測定用の電極を敷き、その電極と回路基板100のネットNとの間に測定用電流を供給したときに検出される電圧の電圧値、測定用電流の電流値、並びにその電圧の位相および測定電流の位相の位相差に基づいて測定されたネットNについての容量値が物理量(導通状態の判定に用いる物理量)の測定値として含まれているものとする。
次いで、回路基板100の設計データDd、および回路基板100の各ネットNについての判定基準データDsを入力部11を介して入力する。この際に、処理部15が設計データDdおよび判定基準データDsを記憶部14に記憶させる。
続いて、操作部12を操作して処理の実行を指示する。これに応じて、処理部15が、処理プログラムPrを記憶部14から読み出し、次いで、処理プログラムPrに従って処理を開始する。処理部15は、まず、測定データDtおよび判定基準データDsを記憶部14から読み出す。続いて、処理部15は、測定データDtに基づいて各ネットNについての物理量(抵抗および静電容量)の測定値を特定する。次いで、処理部15は、判定基準データDsに基づいて各ネットNについての判定基準(基準抵抗値および基準容量値)を特定する。
続いて、処理部15は、第1判定処理を実行する。この第1判定処理では、処理部15は、測定データDtに基づいて特定した各ネットN間の抵抗値と判定基準(基準抵抗値)とを比較して、各ネットNの絶縁状態の良否を判定する。この場合、抵抗値が判定基準以上のときには、ネットNの絶縁状態を良好と判定し、抵抗値が判定基準未満のときには、ネットNの絶縁状態を不良と判定する。また、処理部15は、測定データDtに基づいて特定した各ネットNについての容量値と判定基準(基準容量値)とを比較して、各ネットNの導通状態の良否を判定する。この場合、容量値が判定基準以上のときには、ネットNの導通状態を良好と判定し、容量値が判定基準未満のときには、ネットNの導通状態を不良と判定する。
続いて、処理部15は、第1表示処理を実行する。この第1表示処理では、第1判定処理の結果(不良との判定結果)についての情報を示す第1情報画像Gfを表示させるための画像データを生成して表示部13に出力する。この場合、処理部15は、不良と判定したネットNだけを抽出して、例えば、そのネットNに付されたネット番号(図2に示す「Nc」、「Nd」、「Nf」、「Ng」)、そのネットNにおける検査ポイントSに付された検査ポイント番号(同図に示す「S5」、「S7」、「S11」、「S13」)、および不良の内容を示す情報(不良種別)を一覧で表示させる画像データを生成する。また、処理部15は、設計データDdを記憶部14から読み出して、回路基板100内におけるネットNの配置を示す画像を表示させる画像データを設計データDdに基づいて生成する。これにより、同図に示すように、第1情報画像Gfと回路基板画像Gbとが表示部13に表示される。
ここで、図2に示すように、第1表示処理によって表示されている第1情報画像Gfでは、測定値と予め決められた判定基準とを比較するだけで不良と判定されたネットNを示す情報が一覧表示されている。しかしながら、この情報だけでは、回路基板100を良品と不良品とに選別して不良品が製品として流出しないようにすることしかできず、不良の発生原因を解析して、回路基板100に改良を加えて不良を解消するためには、よりきめ細やかな情報の提供が必要となる。具体的には、図2に示すように、第1判定処理によって不良と判定されたネットNが存在するときには、判定基準に変更を加えて再度判定処理(後述する第2判定処理)を実行させ、そのネットNが変更後の判定基準を満たすか否かを判定させてその結果の情報を表示させ、この情報と第1情報画像Gfの情報とを用いることで、不良の発生原因の解析を詳細に行うことが可能となる。また、同図に示すように、第1判定処理によって不良と判定されたネットNが複数存在するときには、第2判定処理の対象とするネットNを絞り込むことで、判定結果が整理し易くなり、不良の発生原因の解析を効率的に行うことが可能となる。
このような情報を提供(表示)させるときには、操作部12を操作して、判定基準に変更を加えたり、処理対象のネットNを絞り込んだりするための画像(条件入力画像Gc)の表示を指示する。これに応じて、処理部15は、その条件入力画像Gcを表示させるための画像データを生成して表示部13に出力する。これにより、図3に示すように、条件入力画像Gcが表示部13に表示される。
次いで、操作部12を用いて条件を入力する。一例として、図3に示すように、上記した第1判定処理で不良と判定され、第1情報画像Gf内に表示されているネットNc,Nd,Nf,Ngの中から、所望のネットNとしてネットNf,Ngを指定する。具体的には、第1情報画像Gf内におけるネットNf,Ngの表示部分を操作部12のポインティングデバイスで操作(例えば、クリック操作)して、ネットNf,Ngを1つずつ選択する(処理の対象を絞り込む絞り込み操作)。この際に、処理部15は、同図に示すように、選択されたネットNf,Ngに付されたネット番号を条件入力画像Gc内の「指定ネット」の欄に表示させると共に、対応する判定基準を条件入力画像Gc内の「判定基準」の欄に表示させる。
続いて、ポインティングデバイスを操作して、図3に示すように、条件入力画像Gc内の「上限」の欄の横の入力欄にカーソルを移動させ、次いで、クリック操作をして入力欄を入力待ちの状態に移行させ、続いて、上限値を入力する。この場合、図4に示すように、百分率(一例として、100%)を入力することで、入力した百分率を判定基準に乗算した値が上限値として規定される。次いで、同様の操作により、同図に示すように、下限値として「80%」を入力する(判定基準に対して変更を加える変更操作)。続いて、処理部15は、入力された値(条件)を示すデータを生成して記憶部14に記憶させる。
次いで、処理部15は、第2判定処理を実行する。この第2判定処理では、処理部15は、上記の変更操作によって規定される条件を満たすネットN(構成要素)が存在するか否かを判定する。この場合、例えば、処理対象のネットNf,NgのうちのネットNfについての容量値が上記した上下限値の範囲内のとき(変更操作によって規定される条件を満たすとき)には、処理部15は、ネットNfがその条件を満たすと判定して、第2表示処理を実行する。この第2表示処理では、処理部15は、変更操作によって規定される条件を満たすと第2判定処理において判定したネットNfについての情報(例えば、ネットNfに付されたネット番号「Nf」、およびネットNfの検査ポイントS11に付された検査ポイント番号「S11」)を示す第2情報画像Gsを表示させるための画像データを生成して、第1情報画像Gf、回路基板画像Gbおよび条件入力画像Gcを表示させるための画像データと共に表示部13に出力する。これにより、図5に示すように、第2情報画像Gsが第1情報画像Gf、回路基板画像Gbおよび条件入力画像Gcと共に表示部13に表示される。
この場合、上記した変更操作によって変更した条件をネットNfが満たしていることから、予め決められた判定基準の80%〜100%の範囲内にネットNfの容量値が含まれていることが判明する。このことから、例えば、ネットNfの導通状態が不良と判定された(容量値が判定基準を下回った)原因がネットNfの断線によるものではなく、ネットNfの幅の不足によるものである(つまり、ネットNfの導通状態が実質的には不良ではない)可能性もあるとの解析結果を導くことができる。このように、第2判定処理および第2表示処理を実行させることで、測定値と予め決められた判定基準とを比較するだけでは得ることができない有用な情報を得ることができ、このような情報を活用することによって不良の発生原因の十分な解析が可能となる。
一方、回路基板100に数多くのネットNが形成されているときには、変更操作によって規定される条件を満たすネットNの位置を容易に把握することが困難なことがある。この処理装置1では、このような事態に対応するために、変更操作によって規定される条件を満たすと判定されたネットNの中から選択されたネットNを他のネットNと明瞭に識別可能に表示する機能を備えている。
この機能を用いるときには、第2表示処理が実行されている状態(つまり、第2情報画像Gsおよび回路基板画像Gbが表示されている状態)において、操作部12を操作して所望のネットNを指定する。具体的には、第2情報画像Gs内における所望のネットN(この例では、ネットNfのみ)の表示部分をポインティングデバイスでクリック操作して選択する(指定操作としての第1選択操作の一例)。
この際に、処理部15が、選択されたネットN(この例では、ネットNf)だけを強調表示させる(例えば、図6に示すように、選択されたネットNを実線で表示させ、他のネットNを破線で表示させる)画像データを生成する(第3表示処理の実行)。これにより、同図に示すように、ネットNfが他のネットNと明瞭に識別(区別)可能な状態で回路基板画像Gb内に表示される。
この場合、回路基板画像Gb内における所望のネットNの表示部分をポインティングデバイスでクリック操作して選択する(指定操作としての第2選択操作の一例)こともでき、この際にも、処理部15は、上記した第3表示処理を実行して、選択されたネットNを強調表示させる。なお、強調表示の態様としては、選択されたネットNを他のネットNとは異なる色で表示させたり、選択されたネットNを他のネットNよりも太く表示させたりする表示態様、およびこれらを組み合わせた表示態様などを採用することもできる。
上記したように、処理部15が第3表示処理を実行することで、回路基板100に数多くのネットNが形成されている場合においても、変更操作によって規定される条件を満たすネットNの位置を容易に把握することができるため、不良の発生原因の解析を効率的に行うことが可能となる。
このように、この処理装置1および処理プログラムPrでは、第1表示処理を実行している状態において変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たすネットNについての情報を表示させる第2表示処理を実行する。このため、この処理装置1および処理プログラムPrによれば、測定値と予め決められた判定基準とを比較してネットNの良否を判定する第1判定処理の結果の情報だけでは得ることができない有用な情報を得ることができる結果、これらの情報を活用することによって不良の発生原因の十分な解析を行うことができる。したがって、ネットNの不良の発生原因の解析にこの処理装置1および処理プログラムPrを十分有効に活用することができる。
また、この処理装置1および処理プログラムPrでは、第1表示処理を実行している状態において第2判定処理の対象とするネットNを絞り込む絞り込み操作がされたときに、絞り込まれたネットNを対象として第2判定処理を実行する。このため、この処理装置1および処理プログラムPrによれば、第1判定処理において不良と判定されたネットNの数が多いときには、第2判定処理の対象とするネットNを絞り込むことで、判定結果が整理し易くなる結果、ネットNにおける不良の発生原因の解析を効率的に行うことができる。
また、この処理装置1および処理プログラムPrでは、第2表示処理を実行している状態において指定操作によって指定されたネットNを他のネットNと識別可能な表示態様で回路基板画像Gb内に表示させる第3表示処理を実行する。このため、この処理装置1および処理プログラムPrによれば、回路基板100に数多くのネットNが形成されている場合においても、変更操作によって規定される条件を満たすネットNの回路基板100内における位置を容易に把握することができるため、ネットNにおける不良の発生原因の解析をさらに効率的に行うことができる。
また、この処理装置1および処理プログラムPrによれば、ネットNを第2情報画像内で選択する第1選択操作およびネットNを回路基板画像Gb内で選択する第2選択操作の少なくとも一方の操作がされたときに第3表示処理を実行することにより、所望のネットNの回路基板100内における位置を簡易な操作で把握することができるため、利便性を十分に向上させることができる。
なお、処理装置1および処理プログラムの構成は、上記の構成に限定されない。例えば、上記した第1情報画像Gf、第2情報画像Gs、回路基板画像Gbおよび条件入力画像Gcの表示形態は一例であって、適宜変更することができる。一例として、測定データDtによって特定される(測定装置によって測定された)各ネットNについての抵抗値や容量値を第1情報画像Gf内に表示させたり、ネットN毎の判定基準を第1情報画像Gf内に表示させたりすることができる。
また、第1表示処理の実行中において変更操作および絞り込み操作の双方を行って第2判定処理を実行させる例について上記したが、変更操作だけを行って第2判定処理を実行させることもできる。
また、回路基板100の構成要素としてのネットN(導体パターン)を処理対象とする例について上記したが、電子部品が実装された回路基板については、その回路基板の構成要素としての電子部品を処理対象とすることもできる。
また、構成要素についての物理量には、上記した抵抗や静電容量以外の各種の物理量(例えば、電圧、電流)が含まれ、これらの物理量の測定値と判定基準とを比較して構成要素の良否を判定する構成に適用することができる。
1 処理装置
12 操作部
13 表示部
14 記憶部
15 処理部
100 回路基板
Ds 判定基準データ
Dt 測定データ
Gb 回路基板画像
Gc 条件入力画像
Gf 第1情報画像
Gs 第2情報画像
Na〜Ng ネット
12 操作部
13 表示部
14 記憶部
15 処理部
100 回路基板
Ds 判定基準データ
Dt 測定データ
Gb 回路基板画像
Gc 条件入力画像
Gf 第1情報画像
Gs 第2情報画像
Na〜Ng ネット
Claims (8)
- 回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準を記憶する記憶部と、前記測定値および前記判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第1判定処理を実行すると共に当該第1判定処理の結果についての情報を示す第1情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第1表示処理を実行する処理部とを備え、
前記判定基準に対して変更を加える変更操作が可能に構成され、
前記処理部は、前記第1表示処理を実行している状態において前記変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第2判定処理を実行すると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第2情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第2表示処理を実行する処理装置。 - 前記第2判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作が可能に構成され、
前記処理部は、前記第1表示処理を実行している状態において前記絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象として前記第2判定処理を実行する請求項1記載の処理装置。 - 前記処理部は、前記第2表示処理を実行している状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって1つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第3表示処理を実行する請求項1または2記載の処理装置。
- 前記処理部は、前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記第2情報画像内で選択する第1選択操作、および前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第2選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第3表示処理を実行する請求項3記載の処理装置。
- 回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第1判定処理を処理装置に実行させると共に当該第1判定処理の結果についての情報を示す第1情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第1表示処理を当該処理装置に実行させ、
前記第1表示処理を実行させている状態において、前記判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第2判定処理を前記処理装置に実行させると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第2情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第2表示処理を当該処理装置に実行させる処理プログラム。 - 前記第1表示処理を実行している状態において前記第2判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象とする前記第2判定処理を前記処理装置に実行させる請求項5記載の処理プログラム。
- 前記第2表示処理を実行させている状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって1つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第3表示処理を前記処理装置に実行させる請求項5または6記載の処理プログラム。
- 前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記第2情報画像内で選択する第1選択操作、および前記条件を満たす構成要素の1つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第2選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第3表示処理を前記処理装置に実行させる請求項7記載の処理プログラム。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2013
- 2013-10-21 JP JP2013218389A patent/JP2015081791A/ja active Pending
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