JP2015081791A - 処理装置および処理プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】回路基板の構成要素における不良の発生原因の解析に有効に活用する。
【解決手段】回路基板１００のネット（Ｎａ〜Ｎｇ）についての物理量の測定値およびネットの良否を判定するための判定基準を記憶する記憶部と、測定値および判定基準に基づいてネットの良否を判定する第１判定処理を実行すると共にその結果を示す第１情報画像Ｇｆと回路基板画像Ｇｂとを表示部１３に表示させる第１表示処理を実行する処理部とを備え、処理部は、第１表示処理を実行している状態において判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たすネットが存在するか否かを判定する第２判定処理を実行すると共に条件を満たすネットが存在するときにネットについての情報を示す第２情報画像Ｇｓと回路基板画像Ｇｂとを表示部１３に表示させる第２表示処理を実行する。
【選択図】図５

Description

本発明は、回路基板の構成要素についての物理量の測定値に基づいて構成要素の良否を判定すると共に判定結果を表示させる処理を実行する処理装置、およびその処理を処理装置に実行させる処理プログラムに関するものである。

回路基板に形成されているネット（導体パターン）の検査を行う装置として、特開２０１０−２３６８８９号公報において出願人が開示した回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置は、ネットの絶縁状態や導通状態の検査を実行して、検査結果を記憶部に記憶させるように構成されている。この場合、この回路基板検査装置では、ネットについての物理量の測定値（例えば、電圧値や抵抗値）と予め決められた基準値とに基づいてネットの良否を判定する判定処理を実行する。具体的には、ネット間の抵抗値と基準値とを比較して、抵抗値が判定基準以上のときには、そのネットの絶縁状態を良好と判定し、抵抗値が判定基準未満のときには、そのネットの絶縁状態を不良と判定する。

特開２０１０−２３６８８９号公報（第４−７頁、第１図）

ところが、上記の回路基板検査装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、この回路基板検査装置では、測定値と予め決められた判定基準とを比較して測定値が判定基準以上であるか否かのみによってネットの良否を判定している。しかしながら、判定基準が厳しく規定されているときには、測定値が判定基準を僅かに下回っただけで、実質的には不良とは言えないネットが不良と判定されることがある。このため、不良の発生原因を解析し、回路基板に改良を加えて不良を解消するためには、このように測定値と予め決められた判定基準とを比較してネットの良否を判定するだけでなく、判定基準を変更して良否を判定し、これらの結果から解析を行う必要がある。しかしながら、上記の回路基板検査装置は、このような使用態様に対応することができないため、不良の発生原因の解析に有効に活用することが困難であり、この点の改善が望まれている。

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、回路基板の構成要素における不良の発生原因の解析に有効に活用し得る処理装置および処理プログラムを提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の処理装置は、回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準を記憶する記憶部と、前記測定値および前記判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第１判定処理を実行すると共に当該第１判定処理の結果についての情報を示す第１情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第１表示処理を実行する処理部とを備え、前記判定基準に対して変更を加える変更操作が可能に構成され、前記処理部は、前記第１表示処理を実行している状態において前記変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第２判定処理を実行すると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第２情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第２表示処理を実行する。

また、請求項２記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記第２判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作が可能に構成され、前記処理部は、前記第１表示処理を実行している状態において前記絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象として前記第２判定処理を実行する。

また、請求項３記載の処理装置は、請求項１または２記載の処理装置において、前記処理部は、前記第２表示処理を実行している状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって１つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第３表示処理を実行する。

また、請求項４記載の処理装置は、請求項３記載の処理装置において、前記処理部は、前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記第２情報画像内で選択する第１選択操作、および前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第２選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第３表示処理を実行する。

また、請求項５記載の処理プログラムは、回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第１判定処理を処理装置に実行させると共に当該第１判定処理の結果についての情報を示す第１情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第１表示処理を当該処理装置に実行させ、前記第１表示処理を実行させている状態において、前記判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第２判定処理を前記処理装置に実行させると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第２情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第２表示処理を当該処理装置に実行させる。

また、請求項６記載の処理プログラムは、請求項５記載の処理プログラムにおいて、前記第１表示処理を実行している状態において前記第２判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象とする前記第２判定処理を前記処理装置に実行させる。

また、請求項７記載の処理プログラムは、請求項５または６記載の処理プログラムにおいて、前記第２表示処理を実行させている状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって１つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第３表示処理を前記処理装置に実行させる。

また、請求項８記載の処理プログラムは、請求項７記載の処理プログラムにおいて、前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記第２情報画像内で選択する第１選択操作、および前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第２選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第３表示処理を前記処理装置に実行させる。

請求項１記載の処理装置、および請求項５記載の処理プログラムでは、第１表示処理を実行している状態において変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たす構成要素についての情報を表示させる第２表示処理を実行する。このため、この処理装置および処理プログラムによれば、測定値と予め決められた判定基準とを比較して構成要素の良否を判定する第１判定処理の結果の情報だけでは得ることができない有用な情報を得ることができる結果、これらの情報を活用することによって不良の発生原因の十分な解析を行うことができる。したがって、構成要素の不良の発生原因の解析にこの処理装置および処理プログラムを十分有効に活用することができる。

また、請求項２記載の処理装置、および請求項６記載の処理プログラムでは、第１表示処理を実行している状態において第２判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作がされたときに、絞り込まれた構成要素を対象として第２判定処理を実行する。このため、この処理装置および処理プログラムによれば、第１判定処理において不良と判定された構成要素の数が多いときには、第２判定処理の対象とする構成要素を絞り込むことで、判定結果が整理し易くなる結果、構成要素における不良の発生原因の解析を効率的に行うことができる。

また、請求項３記載の処理装置、および請求項７記載の処理プログラムでは、第２表示処理を実行している状態において指定操作によって指定された構成要素を他の構成要素と識別可能な表示態様で回路基板の画像内に表示させる第３表示処理を実行する。このため、この処理装置および処理プログラムによれば、回路基板に数多くの構成要素が形成されている場合においても、変更操作によって規定される条件を満たす構成要素の回路基板内における位置を容易に把握することができるため、構成要素における不良の発生原因の解析さらに効率的に行うことができる。

また、請求項４記載の処理装置、および請求項８記載の処理プログラムによれば、構成要素を第２情報画像内で選択する第１選択操作および構成要素を回路基板の画像内で選択する第２選択操作の少なくとも一方の操作がされたときに第３表示処理を実行することにより、所望の構成要素の回路基板内における位置を簡易な操作で把握することができるため、利便性を十分に向上させることができる。

処理装置１の構成を示す構成図である。 第１表示処理を実行している状態における表示部１３の表示画面図である。 条件を入力している状態を説明する第１の説明図である。 条件を入力している状態を説明する第２の説明図である。 第２表示処理を実行している状態における表示部１３の表示画面図である。 第３表示処理を実行している状態における表示部１３の表示画面図である。

以下、処理装置および処理プログラムの実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、処理装置の一例としての図１に示す処理装置１の構成について説明する。処理装置１は、回路基板１００のネット（導体パターン）Ｎａ〜Ｎｇ（図２参照：回路基板１００を構成する構成要素の一例であって、以下、区別しないときには「ネットＮ」ともいう）の良否判定や不良原因の解析を行う際に用いる各種の情報を提供（表示）する機能を有している。具体的には、処理装置１は、図１に示すように、入力部１１、操作部１２、表示部１３、記憶部１４および処理部１５を備えて構成されている。

入力部１１は、処理部１５の制御に従い、図外の測定装置によって測定された回路基板１００の各ネットＮについての物理量（例えば、抵抗や静電容量）の測定値（抵抗値や容量値）を示す測定データＤｔを入力する（図１参照）。また、入力部１１は、後述する第１判定処理において用いられる判定基準データＤｓ、並びに後述する第１表示処理、第２表示処理および第３表示処理において用いられる回路基板１００の設計データＤｄ（ネットＮの形状や回路基板１００上における位置を特定可能なデータ）を入力する（同図参照）。

操作部１２は、キーボードやポインティングデバイス（マウス）等の入力装置を備えて構成されて、操作に応じて、処理部１５に対して操作信号を出力する。表示部１３は、処理部１５の制御に従い、第１情報画像Ｇｆ（図２参照）、回路基板画像Ｇｂ（同図参照）、条件入力画像Ｇｃ（図３参照）、および第２情報画像Ｇｓ（図５参照）などの各種の画像を表示する。

記憶部１４は、後述する第１判定処理、第２判定処理、第１表示処理、第２表示処理および第３表示処理を処理部１５に実行させるための処理プログラムＰｒを記憶する（図１参照）。また、記憶部１４は、処理部１５の制御に従い、入力部１１を介して入力した測定データＤｔ、判定基準データＤｓおよび設計データＤｄを記憶する。さらに、記憶部１４は、処理部１５の制御に従い、操作部１２を用いて行う後述する変更操作や絞り込み操作によって入力された値や情報を示すデータを記憶する。

処理部１５は、操作部１２から出力される操作信号に従って処理装置１を構成する各部を制御する。また、処理部１５は、記憶部１４に記憶されている処理プログラムＰｒに従い、第１判定処理、第２判定処理、第１表示処理、第２表示処理および第３表示処理を実行する。

次に、処理装置１の使用方法、およびその際の処理装置１の動作について、図面を参照して説明する。この場合、上記した処理プログラムＰｒが記憶部１４に既に記憶されているものとする。なお、図２に示すようにネットＮａ〜Ｎｇを有する回路基板１００における各ネットＮａ〜Ｎｇの良否の判定や不良の原因の解析を行う例について説明する。この場合、同図に示すようにネットＮａ〜Ｎｇには、図外の測定装置によって行われる測定の際にプローブを接触させる検査ポイントＳ１〜Ｓ１４（以下、区別しないときには「検査ポイントＳ」ともいう）が設定されているものとする。

まず、図外の測定装置によって測定された回路基板１００の各ネットＮについての物理量の測定値を示す測定データＤｔを入力部１１を介して測定装置から入力する。この際に、処理部１５が、入力した測定データＤｔを記憶部１４に記憶させる。この場合、測定装置と入力部１１とをケーブルで繋いで測定データＤｔを入力してもよいし、ＵＳＢメモリや光ディスク等の記憶媒体に測定データＤｔを記憶させ、その記憶媒体を介して測定データＤｔを入力してもよい。

ここで、この例では、測定データＤｔには、各ネットＮ間に測定用電圧を供給したときに検出される電流の電流値と供給した電圧の電圧値とに基づいて測定された各ネットＮ間の抵抗値が物理量（絶縁状態の判定に用いる物理量）の測定値として含まれているものとする。また、測定データＤｔには、測定の際に回路基板１００の下に測定用の電極を敷き、その電極と回路基板１００のネットＮとの間に測定用電流を供給したときに検出される電圧の電圧値、測定用電流の電流値、並びにその電圧の位相および測定電流の位相の位相差に基づいて測定されたネットＮについての容量値が物理量（導通状態の判定に用いる物理量）の測定値として含まれているものとする。

次いで、回路基板１００の設計データＤｄ、および回路基板１００の各ネットＮについての判定基準データＤｓを入力部１１を介して入力する。この際に、処理部１５が設計データＤｄおよび判定基準データＤｓを記憶部１４に記憶させる。

続いて、操作部１２を操作して処理の実行を指示する。これに応じて、処理部１５が、処理プログラムＰｒを記憶部１４から読み出し、次いで、処理プログラムＰｒに従って処理を開始する。処理部１５は、まず、測定データＤｔおよび判定基準データＤｓを記憶部１４から読み出す。続いて、処理部１５は、測定データＤｔに基づいて各ネットＮについての物理量（抵抗および静電容量）の測定値を特定する。次いで、処理部１５は、判定基準データＤｓに基づいて各ネットＮについての判定基準（基準抵抗値および基準容量値）を特定する。

続いて、処理部１５は、第１判定処理を実行する。この第１判定処理では、処理部１５は、測定データＤｔに基づいて特定した各ネットＮ間の抵抗値と判定基準（基準抵抗値）とを比較して、各ネットＮの絶縁状態の良否を判定する。この場合、抵抗値が判定基準以上のときには、ネットＮの絶縁状態を良好と判定し、抵抗値が判定基準未満のときには、ネットＮの絶縁状態を不良と判定する。また、処理部１５は、測定データＤｔに基づいて特定した各ネットＮについての容量値と判定基準（基準容量値）とを比較して、各ネットＮの導通状態の良否を判定する。この場合、容量値が判定基準以上のときには、ネットＮの導通状態を良好と判定し、容量値が判定基準未満のときには、ネットＮの導通状態を不良と判定する。

続いて、処理部１５は、第１表示処理を実行する。この第１表示処理では、第１判定処理の結果（不良との判定結果）についての情報を示す第１情報画像Ｇｆを表示させるための画像データを生成して表示部１３に出力する。この場合、処理部１５は、不良と判定したネットＮだけを抽出して、例えば、そのネットＮに付されたネット番号（図２に示す「Ｎｃ」、「Ｎｄ」、「Ｎｆ」、「Ｎｇ」）、そのネットＮにおける検査ポイントＳに付された検査ポイント番号（同図に示す「Ｓ５」、「Ｓ７」、「Ｓ１１」、「Ｓ１３」）、および不良の内容を示す情報（不良種別）を一覧で表示させる画像データを生成する。また、処理部１５は、設計データＤｄを記憶部１４から読み出して、回路基板１００内におけるネットＮの配置を示す画像を表示させる画像データを設計データＤｄに基づいて生成する。これにより、同図に示すように、第１情報画像Ｇｆと回路基板画像Ｇｂとが表示部１３に表示される。

ここで、図２に示すように、第１表示処理によって表示されている第１情報画像Ｇｆでは、測定値と予め決められた判定基準とを比較するだけで不良と判定されたネットＮを示す情報が一覧表示されている。しかしながら、この情報だけでは、回路基板１００を良品と不良品とに選別して不良品が製品として流出しないようにすることしかできず、不良の発生原因を解析して、回路基板１００に改良を加えて不良を解消するためには、よりきめ細やかな情報の提供が必要となる。具体的には、図２に示すように、第１判定処理によって不良と判定されたネットＮが存在するときには、判定基準に変更を加えて再度判定処理（後述する第２判定処理）を実行させ、そのネットＮが変更後の判定基準を満たすか否かを判定させてその結果の情報を表示させ、この情報と第１情報画像Ｇｆの情報とを用いることで、不良の発生原因の解析を詳細に行うことが可能となる。また、同図に示すように、第１判定処理によって不良と判定されたネットＮが複数存在するときには、第２判定処理の対象とするネットＮを絞り込むことで、判定結果が整理し易くなり、不良の発生原因の解析を効率的に行うことが可能となる。

このような情報を提供（表示）させるときには、操作部１２を操作して、判定基準に変更を加えたり、処理対象のネットＮを絞り込んだりするための画像（条件入力画像Ｇｃ）の表示を指示する。これに応じて、処理部１５は、その条件入力画像Ｇｃを表示させるための画像データを生成して表示部１３に出力する。これにより、図３に示すように、条件入力画像Ｇｃが表示部１３に表示される。

次いで、操作部１２を用いて条件を入力する。一例として、図３に示すように、上記した第１判定処理で不良と判定され、第１情報画像Ｇｆ内に表示されているネットＮｃ，Ｎｄ，Ｎｆ，Ｎｇの中から、所望のネットＮとしてネットＮｆ，Ｎｇを指定する。具体的には、第１情報画像Ｇｆ内におけるネットＮｆ，Ｎｇの表示部分を操作部１２のポインティングデバイスで操作（例えば、クリック操作）して、ネットＮｆ，Ｎｇを１つずつ選択する（処理の対象を絞り込む絞り込み操作）。この際に、処理部１５は、同図に示すように、選択されたネットＮｆ，Ｎｇに付されたネット番号を条件入力画像Ｇｃ内の「指定ネット」の欄に表示させると共に、対応する判定基準を条件入力画像Ｇｃ内の「判定基準」の欄に表示させる。

続いて、ポインティングデバイスを操作して、図３に示すように、条件入力画像Ｇｃ内の「上限」の欄の横の入力欄にカーソルを移動させ、次いで、クリック操作をして入力欄を入力待ちの状態に移行させ、続いて、上限値を入力する。この場合、図４に示すように、百分率（一例として、１００％）を入力することで、入力した百分率を判定基準に乗算した値が上限値として規定される。次いで、同様の操作により、同図に示すように、下限値として「８０％」を入力する（判定基準に対して変更を加える変更操作）。続いて、処理部１５は、入力された値（条件）を示すデータを生成して記憶部１４に記憶させる。

次いで、処理部１５は、第２判定処理を実行する。この第２判定処理では、処理部１５は、上記の変更操作によって規定される条件を満たすネットＮ（構成要素）が存在するか否かを判定する。この場合、例えば、処理対象のネットＮｆ，ＮｇのうちのネットＮｆについての容量値が上記した上下限値の範囲内のとき（変更操作によって規定される条件を満たすとき）には、処理部１５は、ネットＮｆがその条件を満たすと判定して、第２表示処理を実行する。この第２表示処理では、処理部１５は、変更操作によって規定される条件を満たすと第２判定処理において判定したネットＮｆについての情報（例えば、ネットＮｆに付されたネット番号「Ｎｆ」、およびネットＮｆの検査ポイントＳ１１に付された検査ポイント番号「Ｓ１１」）を示す第２情報画像Ｇｓを表示させるための画像データを生成して、第１情報画像Ｇｆ、回路基板画像Ｇｂおよび条件入力画像Ｇｃを表示させるための画像データと共に表示部１３に出力する。これにより、図５に示すように、第２情報画像Ｇｓが第１情報画像Ｇｆ、回路基板画像Ｇｂおよび条件入力画像Ｇｃと共に表示部１３に表示される。

この場合、上記した変更操作によって変更した条件をネットＮｆが満たしていることから、予め決められた判定基準の８０％〜１００％の範囲内にネットＮｆの容量値が含まれていることが判明する。このことから、例えば、ネットＮｆの導通状態が不良と判定された（容量値が判定基準を下回った）原因がネットＮｆの断線によるものではなく、ネットＮｆの幅の不足によるものである（つまり、ネットＮｆの導通状態が実質的には不良ではない）可能性もあるとの解析結果を導くことができる。このように、第２判定処理および第２表示処理を実行させることで、測定値と予め決められた判定基準とを比較するだけでは得ることができない有用な情報を得ることができ、このような情報を活用することによって不良の発生原因の十分な解析が可能となる。

一方、回路基板１００に数多くのネットＮが形成されているときには、変更操作によって規定される条件を満たすネットＮの位置を容易に把握することが困難なことがある。この処理装置１では、このような事態に対応するために、変更操作によって規定される条件を満たすと判定されたネットＮの中から選択されたネットＮを他のネットＮと明瞭に識別可能に表示する機能を備えている。

この機能を用いるときには、第２表示処理が実行されている状態（つまり、第２情報画像Ｇｓおよび回路基板画像Ｇｂが表示されている状態）において、操作部１２を操作して所望のネットＮを指定する。具体的には、第２情報画像Ｇｓ内における所望のネットＮ（この例では、ネットＮｆのみ）の表示部分をポインティングデバイスでクリック操作して選択する（指定操作としての第１選択操作の一例）。

この際に、処理部１５が、選択されたネットＮ（この例では、ネットＮｆ）だけを強調表示させる（例えば、図６に示すように、選択されたネットＮを実線で表示させ、他のネットＮを破線で表示させる）画像データを生成する（第３表示処理の実行）。これにより、同図に示すように、ネットＮｆが他のネットＮと明瞭に識別（区別）可能な状態で回路基板画像Ｇｂ内に表示される。

この場合、回路基板画像Ｇｂ内における所望のネットＮの表示部分をポインティングデバイスでクリック操作して選択する（指定操作としての第２選択操作の一例）こともでき、この際にも、処理部１５は、上記した第３表示処理を実行して、選択されたネットＮを強調表示させる。なお、強調表示の態様としては、選択されたネットＮを他のネットＮとは異なる色で表示させたり、選択されたネットＮを他のネットＮよりも太く表示させたりする表示態様、およびこれらを組み合わせた表示態様などを採用することもできる。

上記したように、処理部１５が第３表示処理を実行することで、回路基板１００に数多くのネットＮが形成されている場合においても、変更操作によって規定される条件を満たすネットＮの位置を容易に把握することができるため、不良の発生原因の解析を効率的に行うことが可能となる。

このように、この処理装置１および処理プログラムＰｒでは、第１表示処理を実行している状態において変更操作がされたときに、変更操作によって規定される条件を満たすネットＮについての情報を表示させる第２表示処理を実行する。このため、この処理装置１および処理プログラムＰｒによれば、測定値と予め決められた判定基準とを比較してネットＮの良否を判定する第１判定処理の結果の情報だけでは得ることができない有用な情報を得ることができる結果、これらの情報を活用することによって不良の発生原因の十分な解析を行うことができる。したがって、ネットＮの不良の発生原因の解析にこの処理装置１および処理プログラムＰｒを十分有効に活用することができる。

また、この処理装置１および処理プログラムＰｒでは、第１表示処理を実行している状態において第２判定処理の対象とするネットＮを絞り込む絞り込み操作がされたときに、絞り込まれたネットＮを対象として第２判定処理を実行する。このため、この処理装置１および処理プログラムＰｒによれば、第１判定処理において不良と判定されたネットＮの数が多いときには、第２判定処理の対象とするネットＮを絞り込むことで、判定結果が整理し易くなる結果、ネットＮにおける不良の発生原因の解析を効率的に行うことができる。

また、この処理装置１および処理プログラムＰｒでは、第２表示処理を実行している状態において指定操作によって指定されたネットＮを他のネットＮと識別可能な表示態様で回路基板画像Ｇｂ内に表示させる第３表示処理を実行する。このため、この処理装置１および処理プログラムＰｒによれば、回路基板１００に数多くのネットＮが形成されている場合においても、変更操作によって規定される条件を満たすネットＮの回路基板１００内における位置を容易に把握することができるため、ネットＮにおける不良の発生原因の解析をさらに効率的に行うことができる。

また、この処理装置１および処理プログラムＰｒによれば、ネットＮを第２情報画像内で選択する第１選択操作およびネットＮを回路基板画像Ｇｂ内で選択する第２選択操作の少なくとも一方の操作がされたときに第３表示処理を実行することにより、所望のネットＮの回路基板１００内における位置を簡易な操作で把握することができるため、利便性を十分に向上させることができる。

なお、処理装置１および処理プログラムの構成は、上記の構成に限定されない。例えば、上記した第１情報画像Ｇｆ、第２情報画像Ｇｓ、回路基板画像Ｇｂおよび条件入力画像Ｇｃの表示形態は一例であって、適宜変更することができる。一例として、測定データＤｔによって特定される（測定装置によって測定された）各ネットＮについての抵抗値や容量値を第１情報画像Ｇｆ内に表示させたり、ネットＮ毎の判定基準を第１情報画像Ｇｆ内に表示させたりすることができる。

また、第１表示処理の実行中において変更操作および絞り込み操作の双方を行って第２判定処理を実行させる例について上記したが、変更操作だけを行って第２判定処理を実行させることもできる。

また、回路基板１００の構成要素としてのネットＮ（導体パターン）を処理対象とする例について上記したが、電子部品が実装された回路基板については、その回路基板の構成要素としての電子部品を処理対象とすることもできる。

また、構成要素についての物理量には、上記した抵抗や静電容量以外の各種の物理量（例えば、電圧、電流）が含まれ、これらの物理量の測定値と判定基準とを比較して構成要素の良否を判定する構成に適用することができる。

１ 処理装置
１２ 操作部
１３ 表示部
１４ 記憶部
１５ 処理部
１００ 回路基板
Ｄｓ 判定基準データ
Ｄｔ 測定データ
Ｇｂ 回路基板画像
Ｇｃ 条件入力画像
Ｇｆ 第１情報画像
Ｇｓ 第２情報画像
Ｎａ〜Ｎｇ ネット

Claims (8)

1. 回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準を記憶する記憶部と、前記測定値および前記判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第１判定処理を実行すると共に当該第１判定処理の結果についての情報を示す第１情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第１表示処理を実行する処理部とを備え、
   前記判定基準に対して変更を加える変更操作が可能に構成され、
   前記処理部は、前記第１表示処理を実行している状態において前記変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第２判定処理を実行すると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第２情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第２表示処理を実行する処理装置。
2. 前記第２判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作が可能に構成され、
   前記処理部は、前記第１表示処理を実行している状態において前記絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象として前記第２判定処理を実行する請求項１記載の処理装置。
3. 前記処理部は、前記第２表示処理を実行している状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって１つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第３表示処理を実行する請求項１または２記載の処理装置。
4. 前記処理部は、前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記第２情報画像内で選択する第１選択操作、および前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第２選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第３表示処理を実行する請求項３記載の処理装置。
5. 回路基板の構成要素についての物理量の測定値および当該構成要素の良否を判定するための予め決められた判定基準に基づいて前記構成要素の良否を判定する第１判定処理を処理装置に実行させると共に当該第１判定処理の結果についての情報を示す第１情報画像と前記構成要素の配置を示す前記回路基板の画像とを表示部に表示させる第１表示処理を当該処理装置に実行させ、
   前記第１表示処理を実行させている状態において、前記判定基準に対して変更を加える変更操作がされたときに、当該変更操作によって規定される条件を満たす前記構成要素が存在するか否かを判定する第２判定処理を前記処理装置に実行させると共に当該条件を満たす構成要素が存在するときに当該構成要素についての情報を示す第２情報画像と前記回路基板の画像とを前記表示部に表示させる第２表示処理を当該処理装置に実行させる処理プログラム。
6. 前記第１表示処理を実行している状態において前記第２判定処理の対象とする構成要素を絞り込む絞り込み操作がされたときに、当該絞り込み操作によって絞り込まれた前記構成要素を対象とする前記第２判定処理を前記処理装置に実行させる請求項５記載の処理プログラム。
7. 前記第２表示処理を実行させている状態において前記条件を満たす構成要素の中から予め決められた指定操作によって１つ以上の当該構成要素が指定されたときに、当該指定された構成要素を他の前記構成要素と識別可能な表示態様で前記回路基板の画像内に表示させる第３表示処理を前記処理装置に実行させる請求項５または６記載の処理プログラム。
8. 前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記第２情報画像内で選択する第１選択操作、および前記条件を満たす構成要素の１つ以上を前記回路基板の画像内で選択する第２選択操作の少なくとも一方の操作が前記予め決められた指定操作として操作されたときに前記第３表示処理を前記処理装置に実行させる請求項７記載の処理プログラム。

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