JP2015028549A - Imaging device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光学部材の各状態での係止部材に対する付勢状態を検知できる撮像装置に関し、係止部材への付勢力を常時検出し、付勢力の出力に応じて撮影シーケンスを設定し、検出処理の制御を行う撮像装置に関するものである。 The present invention relates to an imaging device that can detect the biasing state of the optical member with respect to the locking member in each state, constantly detecting the biasing force to the locking member, and setting a shooting sequence according to the output of the biasing force, The present invention relates to an imaging apparatus that controls detection processing.
従来、ミラーダウン位置を検知せずに、温度条件、耐久条件、個体バラツキを考慮して、ミラーダウンを保障できる時間を動作開始からのタイマーとして設定しているものが存在している。 Conventionally, there is one that sets a time that can guarantee mirror down as a timer from the start of operation in consideration of temperature conditions, durability conditions, and individual variations without detecting the mirror down position.
また、特許文献１に示すように、カメラのミラー位置を、フォトリフレクタ、メカ検出スイッチ等で検出するものが知られていた。 Also, as shown in Patent Document 1, there has been known one that detects a mirror position of a camera with a photo reflector, a mechanical detection switch, or the like.
さらに、特許文献２に示すように、ミラーアップ及びダウン状態に到達したことを検出するために、衝撃発光LEDを用いてミラーが係止部材に衝突する際の衝撃を検出し、AF、AEの動作タイミングを決め、ミラーバウンド安定のためのタイマーを動作させ、タイマー終了で、安定したと判定しAF、AE動作を実行するものが知られていた。 Furthermore, as shown in Patent Document 2, in order to detect that the mirror has reached the mirror up and down state, the impact light emission LED is used to detect the impact when the mirror collides with the locking member. It has been known that the operation timing is determined, the timer for stabilizing the mirror bound is operated, and when the timer ends, it is determined that the operation is stable and AF and AE operations are executed.
しかしながら、多くの場合、ミラーが安定しているにも関わらずタイマー制御で待っているため、コマ間のAF、AE等の検出時間に使用できない無駄な時間が生じているため、検出能力の限界性能向上、コマ速向上の妨げになっていた。 However, in many cases, because the mirror is stable and waits with timer control, there is a waste of time that cannot be used for detection time between frames, such as AF and AE. It was a hindrance to performance improvement and frame speed improvement.
また、特許文献１に示すように、検知スイッチ等にて検出する場合には、ミラーを駆動する駆動力が、検知スイッチを駆動するために余分に必要となる。さらに、スイッチ自体の耐久による摩耗、ゴミの付着などによりチャタリングが発生し、検出が不安定になってしまうことがあった。 Further, as shown in Patent Document 1, when detecting with a detection switch or the like, an extra driving force for driving the mirror is required to drive the detection switch. Furthermore, chattering may occur due to wear due to durability of the switch itself, adhesion of dust, and the like, and detection may become unstable.
このため、ミラーの位置変化まで安定して検出することが出来ないため、バウンド安定の判定まで的確に行うことが出来ず、ダウン検知にて作動する安定タイマーを設定する必要があった。 For this reason, since it is impossible to stably detect the change in position of the mirror, it is not possible to accurately perform the determination of bounce stability, and it is necessary to set a stability timer that operates by down detection.
また、フォトリフレクタでは、ミラーの状態を非接触で検出することが出来るが、被写体が高輝度の場合には、撮像しようとする被写体の光束が検出部に対して漏れこんでしまい、フォトリフレクタの受光部に外光が入射することで誤検出してしまうことがあった。さらに、非検出物とフォトリフレクタの位置精度を高精度で出す必要があり、耐久での変化含めて精度を確保することが困難であった。 The photo reflector can detect the state of the mirror in a non-contact manner. However, when the subject has high brightness, the light flux of the subject to be imaged leaks into the detection unit, and the photo reflector In some cases, external light is incident on the light receiving unit and erroneously detected. Furthermore, it is necessary to obtain the positional accuracy of the non-detection object and the photo reflector with high accuracy, and it is difficult to ensure the accuracy including the change in durability.
更に、特許文献２に示すように、衝撃を検出してミラーダウンの到達を検出しているがミラーダウン状態の安定は検出できず、タイマーにて安定タイミングを計っているので、個体のバラツキ、各種条件により無駄に待機する時間が生じていた。そして、この場合、衝撃が発生した時点のみの検出となるため、ミラーを低速で駆動させる等の動作モードによっては衝撃を検知出来ないことがあった。そして、衝撃が発生したときのみ検出可能であるので、ミラーダウン時のバウンドの状態検出や衝撃を低減したモードでは検出出来ないことがあった。 Furthermore, as shown in Patent Document 2, the arrival of mirror down is detected by detecting an impact, but the stability of the mirror down state cannot be detected, and the timing of the stability is measured by a timer. Due to various conditions, time wasted waiting wasted. In this case, since the detection is performed only when the impact occurs, the impact may not be detected depending on the operation mode such as driving the mirror at a low speed. And since it can be detected only when an impact occurs, it may not be detected in a bounce state detection when the mirror is down or in a mode in which the impact is reduced.
本発明の目的は、係止部材の検出手段の出力を常時検出し、検出手段の出力の検出により、撮影シーケンスの設定を行った後、検出手段の出力をモニタしながら測距処理、測光処理を実行することで、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することを目的とする。 An object of the present invention is to constantly detect the output of the detecting means of the locking member, set the photographing sequence by detecting the output of the detecting means, and then monitor the output of the detecting means while measuring the distance, and the photometric process By executing the above, it is an object to improve the focus followability without changing the frame speed, or to improve the continuous shooting frame speed without changing the focus followability.
上記目的を達成するために、本発明は、撮影光路内から光学部材を退避させた露光のための退避状態である第一の状態と所定状態で光路内に保持されて光学ファインダ状態を実現する第二の状態を切替可能に構成されている光学部材を持ち、第二の状態にて光学部材の位置を決定する係止部材をもち、係止部材には、係止部材に生ずる歪状態を検出する検出手段が付加されているものにおいて、検出手段の出力を検出することで撮影シーケンスを設定し、撮影シーケンスに基づき検出処理を実行し、検出処理の間も検出手段の出力を常時検出することを特徴とするものである。 In order to achieve the above object, the present invention realizes an optical finder state by being held in the optical path in a first state which is a retracted state for exposure with the optical member retracted from the photographing optical path and a predetermined state. It has an optical member configured to be switchable in the second state, and has a locking member that determines the position of the optical member in the second state, and the locking member has a distortion state generated in the locking member. In the case where a detecting means for detecting is added, a photographing sequence is set by detecting the output of the detecting means, a detecting process is executed based on the photographing sequence, and the output of the detecting means is always detected during the detecting process. It is characterized by this.
本発明によれば、係止部材の検出手段の出力を常時検出し、検出手段の出力の検出により、撮影シーケンスの設定を行った後、検出手段の出力をモニタしながら測距処理、測光処理を実行することで、ミラーダウン検出のタイミングで即時に測距処理、測光処理を行うことで、撮影シーケンスの最適化を図り、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することが可能となった。 According to the present invention, after detecting the output of the detecting means of the locking member and setting the photographing sequence by detecting the output of the detecting means, the distance measuring process and the photometric process while monitoring the output of the detecting means By performing distance measurement processing and photometry processing immediately at the timing of mirror down detection, the shooting sequence can be optimized and focus followability can be improved without changing the frame speed, or It has become possible to improve the continuous shooting frame speed without changing the focus tracking.
以下、本発明を図面に基づいて詳しく説明する。
[実施例１]
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[Example 1]
以下、図面を参照して、本発明の実施例１の仕組みに関して説明する。 Hereinafter, the mechanism of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
図１は本発明の実施例１（実施例２および３に関しても同様）に係る撮像装置としてのカメラの主要部を示す構成図である。 FIG. 1 is a configuration diagram showing a main part of a camera as an image pickup apparatus according to Embodiment 1 (the same applies to Embodiments 2 and 3) of the present invention.
図１において、撮影光学系を構成する撮影レンズ１０１を通過した光束の一部は、半透過部を有する主ミラー１０３により図中上方に反射され、ピント板１０５、ペンタプリズム１０６、接眼レンズ１０７から成るファインダ光学系へ導かれる。一方、主ミラー１０３の半透過部を通過した残りの光束は、サブミラー１０４によって図中下方へ反射され、周知の位相差方式を採用した焦点検出装置１０８（光学的な構成のみを示す）に導かれる。上記サブミラー１０４により図中下方に反射された光束は、撮影レンズ１０１の結像面、即ち撮像素子１０２と光学的共役な位置関係にある１次結像面１０９で一度結像する。 In FIG. 1, a part of the light beam that has passed through the photographing lens 101 constituting the photographing optical system is reflected upward in the drawing by the main mirror 103 having a semi-transmissive portion, and from the focus plate 105, the pentaprism 106, and the eyepiece lens 107. To the finder optical system. On the other hand, the remaining light beam that has passed through the semi-transmissive portion of the main mirror 103 is reflected downward in the figure by the sub mirror 104 and guided to a focus detection device 108 (only an optical configuration is shown) employing a known phase difference method. It is burned. The light beam reflected downward in the figure by the sub-mirror 104 forms an image once on the imaging surface of the taking lens 101, that is, the primary imaging surface 109 that is optically conjugate with the image sensor 102.
そして、撮影レンズ１０１の瞳と２次結像レンズの入射瞳を結像させるフィールドレンズ１１０を通過後、全反射ミラー１１１により図中左方に光路を変換する。その後、赤外線カットガラス１１２、一対の開口部を有する絞り１１３、一対の射出面を有する２次結像レンズ１１４を介し、対の光電変換素子列から成るイメージセンサ１１５上に一対の被写体像を形成している。イメージセンサ１１５は、被写体像の一部を光電変換する焦点検出センサを構成する。 Then, after passing through the field lens 110 that forms an image of the pupil of the photographing lens 101 and the entrance pupil of the secondary imaging lens, the optical path is converted to the left in the figure by the total reflection mirror 111. Thereafter, a pair of subject images are formed on the image sensor 115 including a pair of photoelectric conversion element arrays via the infrared cut glass 112, the diaphragm 113 having a pair of openings, and the secondary imaging lens 114 having a pair of exit surfaces. doing. The image sensor 115 constitutes a focus detection sensor that photoelectrically converts a part of the subject image.
９１は、被写体像の光束を測光素子に導く測光光学系であり、９２は、測光光学系９１の光束を受光する測光素子である。
ここで、主ミラー１０３は主ミラー回転軸１０３ａを中心に回転可動に設けられている。焦点検出時には、図１に示すようにダボ状の係止部材１０３ｂで規定される、撮影光路内の所定位置に静止し、撮影時には、撮影光路外へ退避する周知のクイックリターン機構により構成されている。サブミラー１０４についても同様である。イメージセンサ１１５で被写体像に関する光量分布を検出することにより、周知の位相差方式の焦点検出により撮影レンズ１０１の焦点状態を検出している。
91 is a photometric optical system that guides the luminous flux of the subject image to the photometric element, and 92 is a photometric element that receives the luminous flux of the photometric optical system 91.
Here, the main mirror 103 is provided so as to be rotatable about a main mirror rotation shaft 103a. At the time of focus detection, it is configured by a known quick return mechanism that is fixed at a predetermined position in the photographing optical path defined by the dowel-shaped locking member 103b as shown in FIG. Yes. The same applies to the sub mirror 104. By detecting the light amount distribution related to the subject image with the image sensor 115, the focus state of the photographing lens 101 is detected by well-known phase difference type focus detection.
また、２次結像レンズ１１４の入射面は、光束が無理に屈折されることがないように凹面形状とし、イメージセンサ１１５上の広範囲で歪みのない良好な像を得ることができる。 In addition, the incident surface of the secondary imaging lens 114 has a concave shape so that the light beam is not refracted excessively, and a good image without distortion can be obtained over a wide range on the image sensor 115.
図２に、光学部材の変形／変位を検出する検出部の断面概説図および正面概説図を示す。図２（ａ）では、マウント部１１６とミラーボックス１１７の断面図を示している。また、図２（ｂ）では、ミラーボックス１１７の正面図を示している。主ミラー１０３とサブミラー１０４はミラー部材を構成し、ミラー部材は光学部材を構成する。 FIG. 2 shows a schematic cross-sectional view and a schematic front view of a detection unit that detects deformation / displacement of the optical member. FIG. 2A shows a cross-sectional view of the mount 116 and the mirror box 117. FIG. 2B shows a front view of the mirror box 117. The main mirror 103 and the sub mirror 104 constitute a mirror member, and the mirror member constitutes an optical member.
焦点検出時の主ミラー１０３及びサブミラー１０４の静止位置の変化は、主ミラー１０３及びサブミラー１０４を所定の位置で保持するためのダボ状の係止部材１０３ｂ／１０４ｂの位置変化に起因することが多い。更に、係止部材１０３ｂ／１０４ｂの位置変化は、係止部材１０３ｂ／１０４ｂの位置を規定するプレート部材１０３ｄ／１０４ｄの変形／変位に起因することが多い。そのため、プレート部材１０３ｄ／１０４ｄに変形／変位を検出する検出部１０３ｃ／１０４ｃを設け、検出部１０３ｃ／１０４ｃの出力から焦点検出時の主ミラー１０３及びサブミラー１０４の所定位置に対する位置変化量を算出する。上記検出部は、係止部材１０３ｂ，１０４ｂの少なくとも一方の変形／変位を検出すれば足りる。なお、係止部材１０３ｂ／１０４ｂもプレート部材１０３ｄ／１０４ｄも光学部材の一部を構成するものとする。 Changes in the stationary positions of the main mirror 103 and the sub mirror 104 during focus detection are often caused by changes in the position of the dowel-shaped locking members 103b / 104b for holding the main mirror 103 and the sub mirror 104 at predetermined positions. . Further, the change in the position of the locking member 103b / 104b is often caused by the deformation / displacement of the plate member 103d / 104d that defines the position of the locking member 103b / 104b. Therefore, the plate member 103d / 104d is provided with a detection unit 103c / 104c that detects deformation / displacement, and the position change amount with respect to a predetermined position of the main mirror 103 and the sub mirror 104 at the time of focus detection is calculated from the output of the detection unit 103c / 104c. . The detection unit only needs to detect the deformation / displacement of at least one of the locking members 103b and 104b. Note that both the locking members 103b / 104b and the plate members 103d / 104d constitute part of the optical member.
検出部１０３ｃ／１０４ｃには、例えば、歪センサを用いる。前記歪センサは、加重・
圧力・トルク・引っ張り・歪みといった応力を検出することが可能である。
For example, a strain sensor is used for the detection units 103c / 104c. The strain sensor is weighted
It is possible to detect stresses such as pressure, torque, tension, and strain.
主ミラー１０３及びサブミラー１０４は、図２の状態においては、係止部材１０３ｂ／１０４ｂに対して所定の力にて押し付けられており、前記歪センサは、所定の歪センサの出力が得られることとなる。 In the state of FIG. 2, the main mirror 103 and the sub mirror 104 are pressed against the locking member 103b / 104b with a predetermined force, and the strain sensor can obtain an output of the predetermined strain sensor. Become.
なお、検出部１０３ｃ／１０４ｃを構成する素子は歪センサ以外でも良い。 In addition, the element which comprises the detection part 103c / 104c may be other than a strain sensor.
また、図２では、主ミラー１０３とサブミラー１０４の両端に検出部１０３ｃ／１０４ｃを設けているが、必要に応じて設置個数や設置箇所を変更しても良い。 In FIG. 2, the detection units 103c / 104c are provided at both ends of the main mirror 103 and the sub-mirror 104, but the number of installations and installation locations may be changed as necessary.
主ミラー１０３とサブミラー１０４の片側に検出部１０３ｃ／１０４ｃを設けている場合は、単純に係止部材１０３ｂ／１０４ｂを保持するプレート部材１０３ｄ／１０４ｄの変形／変位から主ミラー１０３やサブミラー１０４の所定位置に対する位置変化を演算する。 In the case where the detection unit 103c / 104c is provided on one side of the main mirror 103 and the sub mirror 104, predetermined deformation of the main mirror 103 and the sub mirror 104 is simply caused by deformation / displacement of the plate member 103d / 104d holding the locking member 103b / 104b. The position change with respect to the position is calculated.
主ミラー１０３とサブミラー１０４の両端に検出部１０３ｃ／１０４ｃを設けている場合には、左右の検出部１０３ｃ／１０４ｃの出力を比較して、主ミラー１０３とサブミラー１０４の角度ずれ及び傾きを演算することが可能である。 When the detection units 103c / 104c are provided at both ends of the main mirror 103 and the sub mirror 104, the outputs of the left and right detection units 103c / 104c are compared to calculate the angular deviation and inclination of the main mirror 103 and the sub mirror 104. It is possible.
上記で得られた主ミラー１０３やサブミラー１０４の所定位置に対する位置変化量から焦点検出情報を補正する方法としては、次のようなものがある。主ミラー１０３やサブミラー１０４の所定位置に対する位置変化量を（ｄ）とすると、（ｄ）から焦点検出装置１０８に入射する光軸ずれを加味した値を焦点検出装置１０８の出力にオフセット値として加算する。あるいは、（ｄ）を焦点検出時の撮影レンズ１０１の移動量に換算しても良い。更には、イメージセンサ１１５を入射光に対して、ｘ／ｙ／ｚ方向に移動させることが可能な構成としておき、（ｄ）からイメージセンサ１１５のシフト量に換算しても良い。 As a method of correcting the focus detection information from the position change amounts of the main mirror 103 and the sub mirror 104 obtained with respect to the predetermined positions, there are the following methods. When the amount of change in position of the main mirror 103 or the sub mirror 104 with respect to a predetermined position is (d), a value taking into account the optical axis deviation incident on the focus detection device 108 from (d) is added to the output of the focus detection device 108 as an offset value. To do. Alternatively, (d) may be converted into the amount of movement of the photographic lens 101 at the time of focus detection. Furthermore, the image sensor 115 may be configured to be movable in the x / y / z direction with respect to the incident light, and the shift amount of the image sensor 115 may be converted from (d).
本実施例１の構成を示すブロック図を図３により説明する。 A block diagram showing the configuration of the first embodiment will be described with reference to FIG.
図３に示すように、実施例１においては、マイコン１１７、変形／変位検出部１１８、焦点検出装置１１９、主ミラー／サブミラー等の光学部材１２０、撮影レンズ１２１から主に構成されている。変形／変位検出部１１８は、図２の検出部１０３ｃ／１０４ｃに相当する。焦点検出装置１１９は、図１の焦点検出部１０８に相当する。光学部材１２０は、図１の主ミラー１０３およびサブミラー１０４に相当する。撮影レンズ１２１は、図１の撮影レンズ１０１に相当する。 As shown in FIG. 3, the first embodiment mainly includes a microcomputer 117, a deformation / displacement detection unit 118, a focus detection device 119, an optical member 120 such as a main mirror / submirror, and a photographing lens 121. The deformation / displacement detection unit 118 corresponds to the detection unit 103c / 104c in FIG. The focus detection device 119 corresponds to the focus detection unit 108 in FIG. The optical member 120 corresponds to the main mirror 103 and the sub mirror 104 in FIG. The photographing lens 121 corresponds to the photographing lens 101 in FIG.
また、１２２は、レリーズスイッチの第一ストロークを検出するＳＷ１であり、１２３はレリーズスイッチの第二ストロークを検出するＳＷ２である。１２４は、撮像装置の測光を行う、測光装置であり、１２５は撮像装置の各種設定を変更する設定部材である。１２６は、撮像装置にて被写体像を取得する撮像手段である。１２７は、各種情報を表示する表示手段である。 Reference numeral 122 denotes SW1 for detecting the first stroke of the release switch, and reference numeral 123 denotes SW2 for detecting the second stroke of the release switch. Reference numeral 124 denotes a photometric device that performs photometry of the imaging apparatus, and reference numeral 125 denotes a setting member that changes various settings of the imaging apparatus. An imaging unit 126 acquires a subject image with the imaging apparatus. Reference numeral 127 denotes display means for displaying various information.
マイコン１１７は、変形／変位検出部１１８、焦点検出装置１１９、光学部材１２０、撮影レンズ１２１の制御を行うＣＰＵである。変形／変位検出部１１８は、光学部材１２０の変形／変位を検出し、例えば歪センサにより検出される。焦点検出装置１１９は、図１の１０８でも示した通り、焦点検出を行うための装置である。撮影レンズ１２１は、カメラへの入射光を撮像素子１０２（図１）に集束させる。 The microcomputer 117 is a CPU that controls the deformation / displacement detection unit 118, the focus detection device 119, the optical member 120, and the photographing lens 121. The deformation / displacement detection unit 118 detects the deformation / displacement of the optical member 120 and is detected by, for example, a strain sensor. The focus detection device 119 is a device for performing focus detection as indicated by 108 in FIG. The photographing lens 121 focuses incident light on the camera on the image sensor 102 (FIG. 1).
ＳＷ１（１２２）、ＳＷ２（１２３）は撮像装置のレリーズ装置を検出しており、マイコン１１７で、ＳＷ１（１２２）とＳＷ２（１２３）の状態を検知している。測光装置１２４は、撮像装置の測光値を測定しており、マイコン１１７にで、露光量が決定される。設定部材１２５は、撮像装置の各種設定を行うための操作部材であり、マイコン１１７にて各部材の状態が検出されている。撮像手段１２６は、撮像素子１０２を含んでおり、撮影レンズにより取り込まれた被写体像の取得を行う。表示手段１２７は、マイコン１１７の制御により、適切なタイミングで各種情報の表示を行う。 SW1 (122) and SW2 (123) detect the release device of the imaging device, and the microcomputer 117 detects the state of SW1 (122) and SW2 (123). The photometric device 124 measures the photometric value of the imaging device, and the microcomputer 117 determines the exposure amount. The setting member 125 is an operation member for performing various settings of the imaging apparatus, and the state of each member is detected by the microcomputer 117. The imaging unit 126 includes the imaging element 102 and acquires a subject image captured by the photographing lens. The display unit 127 displays various information at an appropriate timing under the control of the microcomputer 117.
本実施例の撮像装置の動作について、以下に図４から図１１を用いて説明する。
図４は、本実施例の撮像装置でのレリーズ処理を行うルーチンを示すフローチャートである。
The operation of the image pickup apparatus of the present embodiment will be described below with reference to FIGS.
FIG. 4 is a flowchart illustrating a routine for performing a release process in the imaging apparatus of the present embodiment.
本実施例では、光学部材１２０を保持する係止部材１０３ｂ／１０４ｂの検出部１０３ｃ／１０４ｃとして歪センサを用いた例を示している。 In this embodiment, an example is shown in which a strain sensor is used as the detection portion 103c / 104c of the locking member 103b / 104b that holds the optical member 120.
図４においては、撮像装置のレリーズ処理について示しており、ステップ１０００（以下、Ｓ１０００と示す）において、レリーズ処理が開始されると、Ｓ１０１０においては、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。Ｓ１０１０において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていると判定された場合には、次の、Ｓ１０１５に移行する。Ｓ１０１５においては、後述するプレ撮影シーケンス設定処理（図６で説明等を示す）を実行し、次のＳ１０２０、Ｓ１０３０に移行する。Ｓ１０１０において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていないと判定された場合には、再度、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしているか否かの判定を行う。 FIG. 4 shows the release process of the imaging apparatus. When the release process is started in step 1000 (hereinafter referred to as S1000), whether or not the first stroke of the release switch is turned on in S1010. Judgment is made. If it is determined in S1010 that the first stroke of the release switch is on, the process proceeds to the next S1015. In S1015, a pre-photographing sequence setting process (described below with reference to FIG. 6) is executed, and the process proceeds to the next S1020 and S1030. If it is determined in S1010 that the first stroke of the release switch is not turned on, it is determined again whether or not the first stroke of the release switch is turned on.
Ｓ１０２０においては、後述する検出処理の一つである測距処理であるところのＡＦ処理（図８で説明等を示す）を行っており、ＡＦ処理の完了をもって、次のステップに移行する。Ｓ１０３０においては、後述する検出処理の一つである測光処理であるところのＡＥ処理（図９で説明等を示す）をおこなっており、ＡＥ処理の完了をもって。次のステップに移行する。 In S1020, AF processing (which will be described with reference to FIG. 8), which is distance measurement processing, which is one of detection processing described later, is performed, and when the AF processing is completed, the process proceeds to the next step. In S1030, an AE process (which will be described with reference to FIG. 9), which is a photometric process, which is one of the detection processes described later, is performed, and upon completion of the AE process. Move on to the next step.
Ｓ１０２０のＡＦ処理、及び、Ｓ１０３０のAE処理が共に完了することをもって、次のS１０４０に移行する。 When both the AF process of S1020 and the AE process of S1030 are completed, the process proceeds to the next S1040.
S１０４０においては、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。S１０４０において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていると判定された場合は、次のS１０５０に移行する。S１０４０において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていないと判定された場合には、再度、レリーズスイッチの状態判別を行う。 In S1040, it is determined whether or not the second stroke of the release switch is on. If it is determined in S1040 that the second stroke of the release switch is on, then the flow shifts to the next S1050. If it is determined in S1040 that the second stroke of the release switch is not on, the state of the release switch is determined again.
S１０５０においては、撮像装置に設けられている光学部材１２０を撮像光路外に退避させるミラーアップ処理を実行し、次のS１０６０に移行する。 In S1050, a mirror-up process for retracting the optical member 120 provided in the imaging apparatus to the outside of the imaging optical path is executed, and the process proceeds to the next S1060.
S１０６０においては、撮像処理を行っており、撮像手段により、被写体像の取得処理が完了した時点で、次のＳ１０６５に移行する。 In S1060, an imaging process is performed, and when the subject image acquisition process is completed by the imaging unit, the process proceeds to the next S1065.
Ｓ１０６５においては、後述する歪センサ出力の判定条件設定処理（図１１で説明等を示す）を実行し、次のS１０７０に移行する。 In S1065, a strain sensor output determination condition setting process (described below with reference to FIG. 11) is executed, and the process proceeds to the next S1070.
S１０７０においては、光学部材１２０のダウン状態を検知する歪センサの検知を開始して、次のS１０８０に移行する。 In S1070, detection of the strain sensor that detects the down state of the optical member 120 is started, and the process proceeds to the next S1080.
S１０８０においては、撮像装置の撮影モードが連続撮影モードであるか否かの判定を行っている。S１０８０において、連続撮影モードであると判定された場合には、次のS１１１５に移行する。S１０８０において、連続撮影モードでない、すなわち、単写撮影するモードであると判定された場合には、S１１００に移行する。 In S1080, it is determined whether or not the shooting mode of the imaging apparatus is the continuous shooting mode. If it is determined in S1080 that the continuous shooting mode is set, the process proceeds to the next S1115. If it is determined in S1080 that the mode is not the continuous shooting mode, that is, the mode is the single shooting mode, the process proceeds to S1100.
S１１００においては、ミラーダウン処理を開始し、次のS１１１０に移行する。S１１１０においては、所定時間経過したことによりミラーダウン処理を終了し、メインルーチンに復帰する。 In S1100, mirror down processing is started, and the process proceeds to the next S1110. In S1110, when a predetermined time has elapsed, the mirror down process is terminated and the process returns to the main routine.
Ｓ１１１５においては、後述のミラーダウン処理（図５で説明等を示す）を実行し、次のＳ１２４０に移行する。 In S1115, a mirror down process (described below with reference to FIG. 5) is executed, and the process proceeds to the next S1240.
Ｓ１２４０においては、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。S１２４０において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていると判定された場合は、Ｓ１０５０に復帰し、次のコマの撮影シーケンスを実行する。S１２４０において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていないと判定された場合には、次のＳ１２５０に移行する。 In S1240, it is determined whether or not the second stroke of the release switch is on. If it is determined in S1240 that the second stroke of the release switch is on, the process returns to S1050, and the next frame shooting sequence is executed. If it is determined in S1240 that the second stroke of the release switch is not turned on, then the flow shifts to the next S1250.
Ｓ１２５０においては、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。Ｓ１２５０において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていると判定された場合には、次のＳ１２６０に移行する。 In S1250, it is determined whether or not the first stroke of the release switch is on. If it is determined in S1250 that the first stroke of the release switch is on, then the flow shifts to the next S1260.
Ｓ１２６０においては、焦点調節モードであるAFモードが追尾ＡＦモードであるところのSERVO ＡＦモードであるか否かの判定を行っている。Ｓ１２６０において、ＳＥＲＶＯ ＡＦモードであると判定された場合には、前述の、Ｓ１０２０、Ｓ１０３０に復帰する。Ｓ１２６０において、SERVO AFモードではない、ＯＮＥ ＳＨＯＴ ＡＦモードであると判定された場合には、前述のＳ１０３０に移行する。 In S1260, it is determined whether or not the AF mode that is the focus adjustment mode is the SERVO AF mode that is the tracking AF mode. If it is determined in S1260 that the SERVO AF mode is set, the process returns to S1020 and S1030 described above. If it is determined in S1260 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode, the process proceeds to S1030 described above.
Ｓ１２５０において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていないと判定された場合には、レリーズ処理を終了する。 If it is determined in S1250 that the first stroke of the release switch is not turned on, the release process is terminated.
図５は、本実施例の撮像装置でのミラーダウン処理を行うルーチンを示すフローチャートである。 FIG. 5 is a flowchart illustrating a routine for performing mirror down processing in the imaging apparatus of the present embodiment.
図５においては、撮像装置のミラーダウン処理について示しており、Ｓ１１２０においては、ミラーダウン処理を開始し、次のＳ１１３０に移行する。 FIG. 5 shows the mirror down process of the imaging apparatus. In S1120, the mirror down process is started, and the process proceeds to the next S1130.
Ｓ１１３０においては、検出手段であるところの歪センサの出力が検出されたか否かの判定を行っている。Ｓ１１３０において、歪センサの出力が検出されない場合には、光学部材１２０が、ミラーダウン位置に到達していないので、次のＳ１１３２に移行する。 In S1130, it is determined whether or not the output of the strain sensor serving as the detection means has been detected. If the output of the strain sensor is not detected in S1130, the optical member 120 has not reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1132.
Ｓ１１３２においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。Ｓ１１３２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、Ｓ１１３０に復帰し、再度判定を行う。Ｓ１１３２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、次のＳ１１３３に移行する。 In S1132, the elapsed time from the start of mirror down is determined. If the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time in S1132, the process returns to S1130 and the determination is performed again. If the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time in S1132, the process proceeds to the next S1133.
Ｓ１１３３においては、エラー処理を実行し、エラー表示、復帰動作等を行った後、メインルーチンへ復帰する。 In S1133, error processing is executed, error display, return operation, and the like are performed, and then the process returns to the main routine.
Ｓ１１３３におけるエラー処理については、エラーの表示を行うだけでも良く、また、復帰動作を行うだけでも良く、ここに記載されたものに限るわけではない。 The error processing in S1133 may be performed only by displaying an error or by performing a return operation, and is not limited to the one described here.
Ｓ１１３０において、歪センサの出力が検出された場合には、光学部材１２０がミラーダウン位置に到達しており、次のＳ１１４０に移行する。 When the output of the strain sensor is detected in S1130, the optical member 120 has reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1140.
Ｓ１１４０においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。Ｓ１１４０において、歪センサの出力が所定値未満である場合には、光学部材１２０のダウン状態への位置決めが不安定な状態であり、次のＳ１１４２に移行する。 In S1140, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. In S1140, if the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the positioning of the optical member 120 to the down state is unstable, and the process proceeds to the next S1142.
Ｓ１１４２においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。Ｓ１１４２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、Ｓ１１４０に復帰し、再度再度歪センサ出力の判定を行う。Ｓ１１４２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、前記Ｓ１１３３に移行する。 In S1142, the elapsed time from the start of mirror down is determined. If the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time in S1142, the process returns to S1140 and the distortion sensor output is determined again. In S1142, when the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time, the process proceeds to S1133.
Ｓ１１４０において、歪センサ出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材１２０が、ダウン状態に安定して保持されており、次のＳ１１４４に移行する。 If it is determined in S1140 that the strain sensor output is equal to or greater than the predetermined value, the optical member 120 is stably held in the down state, and the process proceeds to the next S1144.
Ｓ１１４４では、後述する撮影シーケンス設定処理（図７で説明等を示す）を実行し、次のＳ１１４５に移行する。 In S1144, an imaging sequence setting process (explained in FIG. 7) described later is executed, and the process proceeds to the next S1145.
S１１４５においては、AFモードが追尾ＡＦモードであるところのSERVO ＡＦモードであるか否かの判定を行っている。SERVO AFモードとは、合焦状態を検出してもフォーカスのロックはせずに、常に検知を繰り返すモードである。Ｓ１１４５において、ＳＥＲＶＯ ＡＦモードであると判定された場合には、次のＳ１１５０、Ｓ１１６０に移行する。Ｓ１１４５において、SERVO AFモードではない、ＯＮＥ ＳＨＯＴ ＡＦモードであると判定された場合には、Ｓ１２００に移行する。ＯＮＥ ＳＨＯＴ ＡＦモードとは、合焦状態を検出した場合に、そのフォーカス状態でロックをかけるモードである。 In S1145, it is determined whether or not the AF mode is the tracking AF mode, which is the SERVO AF mode. The SERVO AF mode is a mode in which the detection is always repeated without locking the focus even if the in-focus state is detected. If it is determined in S1145 that the SERVO AF mode is set, the process proceeds to the next S1150 and S1160. If it is determined in S1145 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode, the process proceeds to S1200. The ONE SHOT AF mode is a mode for locking in the focus state when the in-focus state is detected.
Ｓ１１５０においては、後述のAF処理を実行し、次のS１１９０に移行する。S１１６０においては、後述のファインダ表示処理（図１０で説明等を示す）を実行し、次のS１１７０に移行する。S１１７０においては、後述のAE処理を実行し、次のS１１８０に移行する。S１１８０においては、再度、ファインダ表示処理を実行し、次のＳ１１９０に移行する。 In S1150, the AF process described later is executed, and the process proceeds to the next S1190. In S1160, a finder display process (described below with reference to FIG. 10) is executed, and the process proceeds to S1170. In S1170, an AE process described later is executed, and the process proceeds to the next S1180. In S1180, the finder display process is executed again, and the process proceeds to the next S1190.
Ｓ１１９０においては、すべての処理が完了した時点で、次のＳ１２２５に移行する。Ｓ１２００からＳ１２２０は、Ｓ１１４５でSERVO AFモードではない、ＯＮＥ ＳＨＯＴ ＡＦモードであると判定された場合のファインダ表示処理、ＡＥ処理を示している。 In S1190, when all the processes are completed, the process proceeds to S1225. S1200 to S1220 show the finder display process and the AE process in the case where it is determined in S1145 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode.
S１２００においては、後述のファインダ表示処理を実行し、次のS１２１０に移行する。S１２１０においては、後述のAE処理を実行し、次のS１２２０に移行する。S１２２０においては、再度、ファインダ表示処理を実行し、Ｓ１２２５に移行する。 In S1200, a finder display process described later is executed, and the process proceeds to the next S1210. In S1210, an AE process described later is executed, and the process proceeds to the next S1220. In S1220, the finder display process is executed again, and the process proceeds to S1225.
Ｓ１２２５においては、撮像装置がコマ速安定モードに設定されているか否かの判定を行っている。Ｓ１２２５において、撮像装置がコマ速安定モードに設定されていると判定された場合には、ＡＦ処理、AE処理の開始タイミングに寄らずコマ速を安定させ、検出時間を延長して確保する設定となっており、次のＳ１２３０に移行する。 In S1225, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode. If it is determined in S1225 that the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode, the frame speed is stabilized regardless of the start timing of the AF processing and AE processing, and the detection time is extended and secured. Therefore, the process proceeds to S1230.
Ｓ１２３０においては、連写のコマ速を安定させるコマ速安定タイマーが完了しているか否かの判定を行っている。Ｓ１２３０において、コマ速安定タイマーが完了していないと判定された場合には、前述のＳ１１４５に復帰し、再度、AF処理、ＡＥ処理等を実行する。Ｓ１２３０において、コマ速安定タイマーが完了していると判定された場合には、メインルーチンへ復帰する。 In S1230, it is determined whether or not the frame speed stabilization timer for stabilizing the frame speed for continuous shooting is completed. If it is determined in S1230 that the frame speed stabilization timer has not been completed, the process returns to S1145 described above, and AF processing, AE processing, etc. are executed again. If it is determined in S1230 that the frame speed stabilization timer has been completed, the process returns to the main routine.
S１２２５において、撮像装置がコマ速優先モードに設定されていると判定された場合には、検出に用いる時間を安定させ撮影コマ速を向上させる様に設定されており、次のS１２３５に移行する。 If it is determined in S1225 that the imaging apparatus is set to the frame speed priority mode, the time used for detection is set to be stabilized and the shooting frame speed is improved, and the process proceeds to the next S1235.
S１２３５においては、歪検出時間が所定時間継続しているか否かの判定を行っている。S１２３５において。歪検出時間が所定時間継続していないと判定された場合には、前述のＳ１１４５に復帰し、再度、AF処理、ＡＥ処理等を実行する。S１２３５において、歪検出時間が所定時間継続していると判定された場合には、メインルーチンに復帰する。 In S1235, it is determined whether or not the strain detection time continues for a predetermined time. In S1235. If it is determined that the distortion detection time has not continued for the predetermined time, the process returns to S1145 described above, and AF processing, AE processing, and the like are executed again. If it is determined in S1235 that the strain detection time has continued for a predetermined time, the process returns to the main routine.
図６は、本実施例の撮像装置での動作前に撮影シーケンスを設定するフローチャートである。 FIG. 6 is a flowchart for setting the shooting sequence before the operation of the image pickup apparatus of the present embodiment.
図６においては、所定期間内の動作履歴から撮影シーケンスを設定するフローチャートであり、Ｓ２8００において、撮影シーケンスの設定を開始し、次のＳ２８０５に移行する。 FIG. 6 is a flowchart for setting a shooting sequence from an operation history within a predetermined period. In S2800, setting of a shooting sequence is started, and the process proceeds to the next S2805.
Ｓ２８０５においては、所定期間内の光学部材１２０の作動データであるミラー作動データが存在しているか否かの判定を行っている。Ｓ２８０５において、所定期間内のミラー作動データが存在していると判定された場合には、次のＳ２８１０に移行する。Ｓ２８０５において、所定期間内のミラー作動データが存在していないと判定された場合には、後述するＳ２８４０に移行する。 In S2805, it is determined whether or not mirror operation data that is operation data of the optical member 120 within a predetermined period exists. If it is determined in S2805 that mirror operation data within the predetermined period exists, the process proceeds to S2810. If it is determined in S2805 that there is no mirror operation data within the predetermined period, the process proceeds to S2840 described later.
Ｓ２８１０においては、ユーザーが撮像装置に設定した連写コマ速の設定値を確認し、次のＳ２８２０に移行する。Ｓ２８２０においては、撮像装置のコマ速設定値から検出処理が使用可能な検出使用可能時間を算出し、次のＳ２８２５に移行する。 In S2810, the setting value of the continuous shooting frame speed set by the user in the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to the next S2820. In S2820, a detection usable time in which the detection process can be used is calculated from the frame speed setting value of the imaging apparatus, and the process proceeds to the next S2825.
Ｓ２８２５においては、撮像装置が高速連写モードに設定されているか否かの判定を行っている。Ｓ２８２５において、撮像装置が高速連写モードに設定されていないと判定された場合には、ユーザーがコマ速を落として設定しているので、ピントの追従性を優先して、Ｓ２８４０に移行する。Ｓ２８２５において、撮像装置が高速連写モードに設定されていると判定された場合には、次のＳ２８３０に移行する。 In S2825, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode. If it is determined in S2825 that the imaging apparatus is not set to the high-speed continuous shooting mode, the user has set the frame speed to be low, so the focus tracking performance is prioritized and the process proceeds to S2840. If it is determined in S2825 that the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode, the process proceeds to S2830.
Ｓ２８３０においては、撮像装置の設定モードが追従性優先に設定されているか否かの判定を行っている。Ｓ２８３０において、被写体の追従性を優先するモードに設定されている場合には、次のＳ２８４０に移行する。Ｓ２８４０においては、算出されている検出使用可能時間から検出処理に使用できる最大検出時間を設定し、メインルーチンへ復帰する。この場合、コマ速の設定値はユーザー設定値と同一となっている。 In S2830, it is determined whether or not the setting mode of the imaging apparatus is set to follow-up priority. If it is set in S2830 that the priority is given to subject tracking, the process proceeds to the next S2840. In S2840, the maximum detection time that can be used for the detection process is set from the calculated available detection time, and the process returns to the main routine. In this case, the frame speed setting value is the same as the user setting value.
Ｓ２８３０において、撮像装置のコマ速を優先するモードに設定されている場合には、次のＳ２８５０に移行する。Ｓ２８５０においては、撮像装置の最低限必要な検出時間を確認し、次のＳ２８６０に移行する。 In S2830, if the mode is set to give priority to the frame speed of the imaging apparatus, the process proceeds to S2850. In S2850, the minimum required detection time of the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to the next S2860.
Ｓ２８６０においては、検出使用可能時間と最低限必要な検出時間から、短縮可能な時間を演算し、次のＳ２８７０に移行する。Ｓ２８７０においては、算出した短縮可能時間からコマ速を設定し、メインルーチンに復帰する。この場合、連写コマ速で設定される標準時間から短縮可能時間を減算したものが一駒の標準時間となり、ユーザーが設定した連写コマ速以上のコマ速が設定される。 In S2860, a time that can be shortened is calculated from the available detection time and the minimum required detection time, and the process proceeds to the next S2870. In S2870, the frame speed is set from the calculated shortenable time, and the process returns to the main routine. In this case, the standard time set by the continuous frame speed is subtracted from the shortenable time to obtain the standard time for one frame, and a frame speed higher than the continuous frame speed set by the user is set.
図７は、本実施例の撮像装置での撮影シーケンスを設定するフローチャートである。 FIG. 7 is a flowchart for setting a shooting sequence in the imaging apparatus of the present embodiment.
図７においては、進行中の撮影タイミングから撮影シーケンスを設定する場合を示しており、Ｓ２７００において、撮影シーケンスの設定を開始し次のＳ２７１０に移行する。 FIG. 7 shows a case where the shooting sequence is set from the shooting timing in progress. In S2700, the setting of the shooting sequence is started, and the process proceeds to S2710.
Ｓ２７１０においては、ユーザーが撮像装置に設定した連写コマ速の設定値を確認し、次のＳ２７２０に移行する。Ｓ２７２０においては、撮像装置のコマ速設定値から現時点で検出処理が使用可能な検出使用可能時間を算出し、次のＳ２７２５に移行する。 In S2710, the setting value of the continuous shooting frame speed set by the user in the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to S2720. In S2720, a detection usable time in which the detection process can be used at the present time is calculated from the frame speed setting value of the imaging apparatus, and the process proceeds to the next S2725.
Ｓ２７２５においては、撮像装置が高速連写モードに設定されているか否かの判定を行っている。Ｓ２７２５において、撮像装置が高速連写モードに設定されていないと判定された場合には、ユーザーがコマ速を落として設定しているので、ピントの追従性を優先して、Ｓ２７４０に移行する。Ｓ２７２５において、撮像装置が高速連写モードに設定されていると判定された場合には、次のＳ２７３０に移行する。 In S2725, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode. If it is determined in step S2725 that the image pickup apparatus is not set to the high-speed continuous shooting mode, the user sets the frame speed to be lower, and thus the focus followability is prioritized and the process proceeds to step S2740. If it is determined in S2725 that the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode, the process proceeds to S2730.
Ｓ２７３０においては、撮像装置の設定モードが追従性優先に設定されているか否かの判定を行っている。Ｓ２７３０において、被写体の追従性を優先するモードに設定されている場合には、次のＳ２７４０に移行する。Ｓ２７４０においては、算出されている検出使用可能時間から検出処理に使用できる最大検出時間を設定し、メインルーチンへ復帰する。この場合、コマ速の設定値はユーザー設定値と同一となっている。 In S2730, it is determined whether or not the setting mode of the imaging device is set to follow-up priority. If it is set in S2730 that priority is given to subject tracking, the process proceeds to S2740. In S2740, the maximum detection time that can be used for the detection process is set from the calculated detection usable time, and the process returns to the main routine. In this case, the frame speed setting value is the same as the user setting value.
Ｓ２７３０において、撮像装置のコマ速を優先するモードに設定されている場合には、次のＳ２７５０に移行する。Ｓ２７５０においては、撮像装置の最低限必要な検出時間を確認し、次のＳ２７６０に移行する。 If it is set in S2730 that the frame speed of the imaging device is prioritized, the process proceeds to S2750. In S2750, the minimum required detection time of the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to the next S2760.
Ｓ２７６０においては、検出使用可能時間と最低限必要な検出時間から、短縮可能な時間を演算し、次のＳ２７７０に移行する。Ｓ２７７０においては、算出した短縮可能時間からコマ速を設定し、メインルーチンに復帰する。この場合、連写コマ速で設定される標準時間から短縮可能時間を減算したものが一駒の標準時間となり、ユーザーが設定した連写コマ速以上のコマ速が設定される。 In S2760, a time that can be shortened is calculated from the available detection time and the minimum required detection time, and the process proceeds to the next S2770. In S2770, the frame speed is set from the calculated shortenable time, and the process returns to the main routine. In this case, the standard time set by the continuous frame speed is subtracted from the shortenable time to obtain the standard time for one frame, and a frame speed higher than the continuous frame speed set by the user is set.
図８は、本実施例の撮像装置でのＡＦ処理を行うルーチンを示すフローチャートである。 FIG. 8 is a flowchart illustrating a routine for performing AF processing in the imaging apparatus of the present embodiment.
図８においては、撮像装置の検出動作である測距処理であるところのＡＦ処理について示しており、Ｓ１２００において、ＡＦ処理を開始し、次のＳ２０１０に移行する。 FIG. 8 shows an AF process that is a distance measurement process that is a detection operation of the imaging apparatus. In S1200, the AF process is started, and the process proceeds to the next S2010.
Ｓ２０１０においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。Ｓ２０１０において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、AF処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定を行う。S２０１０において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材１２０が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS２０２０に移行する。 In S2010, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2010 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the AF process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2010 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2020.
S２０２０においては、焦点検出動作を行うAFセンサの蓄積処理を開始し、次のS２０３０に移行する。 In S2020, accumulation processing of the AF sensor that performs the focus detection operation is started, and the process proceeds to the next S2030.
S２０３０においては、再度、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。 In S2030, it is determined again whether the output of the strain sensor is equal to or greater than a predetermined value.
これは、検出中に光学部材１２０の位置に不都合が発生していないか判定するためである。 This is for determining whether any inconvenience has occurred in the position of the optical member 120 during detection.
S２０３０において、歪センサの出力が所定値以上でないと判定された場合には、光学部材１２０が所定のダウン位置にいない等の問題が発生していると判断されるため、次のS２０５０に移行する。S２０５０においては、ＡＦセンサの蓄積処理中の問題が生じた可能性があるため、蓄積処理を中止し、次のＳ２０５３に移行する。 If it is determined in S2030 that the output of the strain sensor is not equal to or greater than the predetermined value, it is determined that a problem such as the optical member 120 not being in the predetermined down position has occurred, and the process proceeds to the next S2050. . In S2050, since there may be a problem during the accumulation process of the AF sensor, the accumulation process is stopped and the process proceeds to the next S2053.
Ｓ２０５３においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。Ｓ２０５３において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、AF処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定を行う。S２０５３において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材１２０が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS２０５５に移行する。
Ｓ２０５５においては、一度ＡＦ処理が中断されているため、再度、撮影シーケンス設定処理を実行し、制御条件を再設定して、前記Ｓ２０２０に復帰し、蓄積処理を再度開始する。
In S2053, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2053 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the AF process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2053 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2055.
In S2055, since the AF process is once interrupted, the imaging sequence setting process is executed again, the control conditions are reset, the process returns to S2020, and the accumulation process is started again.
S２０３０において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、次のS２０４０に移行する。S２０４０においては、ＡＦセンサの蓄積処理が完了しているか否かの判定を行っている。 If it is determined in S2030 that the output of the strain sensor is equal to or greater than the predetermined value, the process proceeds to the next S2040. In S2040, it is determined whether or not the AF sensor accumulation processing has been completed.
Ｓ２０４０において蓄積処理が完了していないと判定された場合には、蓄積制御を継続し、Ｓ２０３０に復帰する。Ｓ２０４０において、蓄積制御が完了していると判定された場合には、次のＳ２０６０に移行する。 If it is determined in S2040 that the accumulation process has not been completed, the accumulation control is continued and the process returns to S2030. If it is determined in S2040 that the accumulation control has been completed, the process proceeds to the next S2060.
Ｓ２０６０においては、連続撮影モードであるか否かの判定を行っている。Ｓ２０６０において、連続撮影モードではないと判定された場合には、次のＳ２０７０に移行する。 In S2060, it is determined whether or not the continuous shooting mode is set. If it is determined in S2060 that the continuous shooting mode is not selected, the process proceeds to the next S2070.
Ｓ２０７０おいては、AFセンサにて取得したデータに基づきAF演算処理を実行し、次のS２０８０に移行する。S２０８０においては、デフォーカス量が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S２０８０において、デフォーカス量が所定値以上であると判定された場合には、次のS２０９０に移行する。S２０９０においては、撮像光学系のレンズをデフォーカス量に合わせて、合焦状態になるように駆動し、前記Ｓ２０１０に復帰する。 In S2070, AF calculation processing is executed based on the data acquired by the AF sensor, and the process proceeds to the next S2080. In S2080, it is determined whether or not the defocus amount is a predetermined value or more. If it is determined in S2080 that the defocus amount is greater than or equal to the predetermined value, then the flow shifts to the next S2090. In step S2090, the lens of the imaging optical system is driven so as to be in focus according to the defocus amount, and the process returns to step S2010.
Ｓ２０８０において、デフォーカス量が所定値未満であると判定された場合には、次のＳ２０８５に移行する。Ｓ２０８５においては、合焦状態であることを設定し、メインルーチンへ復帰する。 If it is determined in S2080 that the defocus amount is less than the predetermined value, the process proceeds to the next S2085. In S2085, the in-focus state is set and the process returns to the main routine.
Ｓ２０６０において、連続撮影モードであると判定された場合には、次のＳ２１００に移行する。Ｓ２１００においては、過去の連続する焦点検出データが存在しているか否かの判定を行っている。Ｓ２１００において、過去の連続する焦点検出データが存在していないと判定された場合には、Ｓ２０７０に移行する。Ｓ２１００において、過去の連続する焦点検出データが存在していると判定された場合には、次のＳ２１１０に移行する。 In S2060, when it is determined that the continuous shooting mode is set, the process proceeds to S2100. In S2100, it is determined whether or not past continuous focus detection data exists. If it is determined in S2100 that there is no past continuous focus detection data, the process proceeds to S2070. If it is determined in S2100 that past continuous focus detection data exists, the process proceeds to the next S2110.
S２１１０においては、撮像装置がコマ速安定モードに設定されているか否かの判定を行っている。Ｓ２１１０において、撮像装置がコマ速安定モードに設定されていると判定された場合には、ＡＦ処理、AE処理の開始タイミングに寄らずコマ速を安定させ、検出時間を延長して確保する設定となっており、次のS２１２０に移行する。 In S2110, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode. If it is determined in S2110 that the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode, the frame speed is stabilized regardless of the start timing of the AF processing and AE processing, and the detection time is extended and secured. The process proceeds to S2120.
S２１２０においては、次の撮像タイミングを前回の撮像タイミングを基準に所定時間後に設定し、次のS２１４０に移行する。 In S2120, the next imaging timing is set after a predetermined time with reference to the previous imaging timing, and the process proceeds to S2140.
Ｓ２１１０において、撮像装置がコマ速優先モードに設定されていると判定された場合には、検出に用いる時間を安定させ撮影コマ速を向上させる様に設定されており、次のS２１３０に移行する。 If it is determined in S2110 that the imaging apparatus is set to the frame speed priority mode, the time used for detection is set to be stable and the shooting frame speed is improved, and the process proceeds to the next S2130.
S２１３０においては、次の撮像タイミングを安定して検出できた歪センサ出力の開始時間を基準に所定時間後に設定し、次のS２１４０に移行する。 In step S2130, the distortion sensor output start time at which the next imaging timing can be detected stably is set after a predetermined time, and the process proceeds to next step S2140.
Ｓ２１４０においては、過去の連続する焦点検出データと、今回検出された焦点検出データより、次回撮像時に予測されるピント位置を演算し、次のＳ２１５０に移行する。
Ｓ２１５０においては、予測されるピント位置にもとづいてレンズ駆動処理を実行し、メインルーチンへ復帰する。
In S2140, the focus position predicted at the next imaging is calculated from the past continuous focus detection data and the focus detection data detected this time, and the process proceeds to S2150.
In S2150, the lens driving process is executed based on the predicted focus position, and the process returns to the main routine.
図９は、本実施例の撮像装置でのＡＥ処理を行うルーチンを示すフローチャートである。図９においては、撮像装置の検出動作である測光処理であるところのＡＥ処理について示しており、S２３００において、ＡＥ処理を開始し、次のＳ２３１０に移行する。 FIG. 9 is a flowchart illustrating a routine for performing AE processing in the imaging apparatus of the present embodiment. FIG. 9 shows the AE process which is the photometric process that is the detection operation of the imaging apparatus. In S2300, the AE process is started, and the process proceeds to the next S2310.
Ｓ２３１０においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。Ｓ２３１０において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、AＥ処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定を行う。S２３１０において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材１２０が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS２３２０に移行する。 In S2310, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2310 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the AE process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2310 that the output of the strain sensor is equal to or greater than the predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2320.
Ｓ２３２０においては、撮像装置のファインダ表示がオン状態であるか否かの判定を行っている。S２３２０において、撮像装置のファインダ表示がオン状態であると判定された場合には、次のS２３３０に移行する。S２３３０においては、ファインダ表示を停止し、次のS２３４０に移行する。S２３２０において、ファインダ表示がオンではないと判定された場合には、次のS２３４０に移行する。 In S2320, it is determined whether or not the finder display of the imaging apparatus is in an on state. If it is determined in S2320 that the finder display of the imaging device is in the on state, the process proceeds to S2330. In S2330, the finder display is stopped and the process proceeds to the next S2340. If it is determined in S2320 that the viewfinder display is not on, then the flow shifts to the next S2340.
S２３４０においては、測光センサであるAEセンサの蓄積処理を開始し、次のS２３５０に移行する。S２３５０においては、再度、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。 In S2340, accumulation processing of the AE sensor that is a photometric sensor is started, and the process proceeds to the next S2350. In S2350, it is determined again whether or not the output of the strain sensor is equal to or greater than a predetermined value.
これは、検出中に光学部材１２０の位置に不都合が発生していないか判定するためである。 This is for determining whether any inconvenience has occurred in the position of the optical member 120 during detection.
S２３５０において、歪センサの出力が所定値以上でないと判定された場合には、光学部材１２０が所定のダウン位置にいない等の問題が発生していると判断されるため、次のS２３８０に移行する。S２３８０においては、ＡＥセンサの蓄積処理中の問題が生じた可能性があるため、蓄積処理を中止し、前記Ｓ２３１０に復帰し、再度AＥ処理を実行する。 If it is determined in S2350 that the output of the strain sensor is not equal to or greater than the predetermined value, it is determined that a problem such as the optical member 120 not being in the predetermined down position has occurred, and the process proceeds to the next S2380. . In S2380, there may be a problem during the accumulation process of the AE sensor, so the accumulation process is stopped, the process returns to S2310, and the AE process is executed again.
S２３５０において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、次のS２３６０に移行する。S２３６０においては、ＡＥセンサの蓄積処理が完了しているか否かの判定を行っている。 If it is determined in S2350 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, the process moves to the next S2360. In S2360, it is determined whether or not the accumulation process of the AE sensor is completed.
Ｓ２３６０において蓄積処理が完了していないと判定された場合には、蓄積制御を継続し、Ｓ２３５０に復帰する。Ｓ２３６０において、蓄積制御が完了していると判定された場合には、次のＳ２３７０に移行する。 If it is determined in S2360 that the accumulation process has not been completed, the accumulation control is continued, and the process returns to S2350. If it is determined in S2360 that the accumulation control has been completed, the process moves to the next S2370.
Ｓ２３７０おいては、AＥセンサにて取得したデータに基づきAＥ演算処理を実行し、復帰する。 In S2370, AE calculation processing is executed based on the data acquired by the AE sensor, and the process returns.
図１０は、本実施例の撮像装置での表示処理を行うルーチンを示すフローチャートである。 FIG. 10 is a flowchart illustrating a routine for performing display processing in the imaging apparatus of the present embodiment.
図１０においては、撮像装置の表示処理について示しており、Ｓ２５００において、表示処理を開始し、次のＳ２５１０に移行する。Ｓ２５１０においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。Ｓ２５１０において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、表示処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定行う。S２５１０において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材１２０が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS２５２０に移行する。Ｓ２５２０においては、表示処理を開始し、次のＳ２５３０に移行する。 FIG. 10 shows the display process of the imaging apparatus. In S2500, the display process is started, and the process proceeds to the next S2510. In S2510, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2510 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the display process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2510 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2520. In S2520, display processing is started, and the process proceeds to S2530.
Ｓ２５３０においては、表示を開始してから所定時間経過しているか判定している。Ｓ２５３０において、表示を開始してから所定時間経過していないと判定された場合には、再度、表示を開始してからの経過時間判定を行う。Ｓ２５３０において、表示を開始してから所定時間経過していると判定された場合には、メインルーチンに復帰する。 In S2530, it is determined whether a predetermined time has elapsed since the display was started. If it is determined in S2530 that the predetermined time has not elapsed since the display was started, the elapsed time after the display is started is determined again. If it is determined in S2530 that a predetermined time has elapsed since the display was started, the process returns to the main routine.
図１１は、本実施例の撮像装置での判定条件設定処理を行うルーチンを示すフローチャートである。図１１においては、歪センサ出力の判定条件設定処理を示しており、Ｓ２９００において、設定処理を開始し、次のＳ２９１０に移行する。Ｓ２９１０においては、撮像装置の温度検出を行い、次のＳ２９２０に移行する。Ｓ２９２０においては、検出した温度に基づき歪センサ出力の判定条件を算出し、メインルーチンに復帰する。 FIG. 11 is a flowchart illustrating a routine for performing determination condition setting processing in the imaging apparatus of the present embodiment. FIG. 11 shows a determination condition setting process for strain sensor output. In S2900, the setting process is started, and the process proceeds to the next S2910. In S2910, the temperature of the imaging device is detected, and the process proceeds to the next S2920. In S2920, a strain sensor output determination condition is calculated based on the detected temperature, and the process returns to the main routine.
上記に示すように、歪センサの出力により、撮影シーケンスを設定し、ＡＦ処理、ＡＥ処理を実行することで、撮影シーケンスの最適化を図り、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することが可能となる。 As shown above, the shooting sequence is set by the output of the distortion sensor, and AF processing and AE processing are executed to optimize the shooting sequence and improve focus tracking without changing the frame speed. Alternatively, the continuous shooting frame speed can be improved without changing the focus followability.
［実施例２］
以下に、本発明の撮像装置でミラーダウン中に表示処理を行う場合の処理について示す。
[Example 2]
Hereinafter, processing in the case where display processing is performed during mirror down in the imaging apparatus of the present invention will be described.
図４にて示した撮像装置のレリーズ処理、図６にて示した撮像装置のプレ撮像シーケンス設定処理、図７にて示した撮像装置の撮像シーケンス設定処理、図８にて示した撮像装置のＡＦ処理、図９にて示した撮像装置のＡＥ処理、図１０にて示した撮像装置の表示処理、図１１にて示した判定条件設定処理については、実施例１と同一なので説明を省略する。 Release processing of the imaging device shown in FIG. 4, pre-imaging sequence setting processing of the imaging device shown in FIG. 6, imaging sequence setting processing of the imaging device shown in FIG. 7, and of the imaging device shown in FIG. The AF process, the AE process of the imaging apparatus shown in FIG. 9, the display process of the imaging apparatus shown in FIG. 10, and the determination condition setting process shown in FIG. .
図１２は、本実施例の撮像装置でのミラーダウン処理を行うルーチンを示すフローチャートである。本実施例では、ミラーダウン処理の開始と同時に表示処理を開始する場合を示している。 FIG. 12 is a flowchart illustrating a routine for performing mirror down processing in the imaging apparatus of the present embodiment. In this embodiment, the display process is started simultaneously with the start of the mirror down process.
図１２においては、撮像装置のミラーダウン処理について示しており、S１５２０においては、ミラーダウン処理を開始し、次のS１５２５に移行する。 FIG. 12 shows the mirror down process of the imaging apparatus. In S1520, the mirror down process is started, and the process proceeds to the next S1525.
S１５２５においては、フアインダ表示を開始し、次のS１５３０に移行する。S１５３０においては、歪センサの出力が検出されたか否かの判定を行っている。S１５３０において、歪センサの出力が検出されない場合には、光学部材１２０が、ミラーダウン位置に到達していないので、次のＳ１５３２に移行する。 In S1525, the display of the finder is started, and the process proceeds to the next S1530. In S1530, it is determined whether or not the output of the strain sensor has been detected. If the output of the strain sensor is not detected in S1530, the optical member 120 has not reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1532.
Ｓ１５３２においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。Ｓ１５３２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、Ｓ１５３０に復帰し、再度判定を行う。Ｓ１５３２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、次のＳ１５３３に移行する。 In S1532, the elapsed time from the start of mirror down is determined. In S1532, when the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time, the process returns to S1530 and the determination is performed again. If the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time in S1532, the process proceeds to S1533.
Ｓ１５３３においては、エラー処理を実行し、エラー表示、復帰動作等を行った後、メインルーチンへ復帰する。 In S1533, error processing is executed, error display, return operation, and the like are performed, and then the process returns to the main routine.
S１５３０において、歪センサの出力が検出された場合には、光学部材１２０がミラーダウン位置に到達しており、次のS１５４０に移行する。 If the output of the strain sensor is detected in S1530, the optical member 120 has reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1540.
S１５４０においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S１５４０において、歪センサの出力が所定値未満である場合には、光学部材１２０のダウン状態への位置決めが不安定な状態であり、次のＳ１５４２に移行する。 In S1540, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If the output of the strain sensor is less than the predetermined value in S1540, the positioning of the optical member 120 to the down state is unstable, and the process proceeds to the next S1542.
Ｓ１５４２においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。Ｓ１５４２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、Ｓ１５４０に復帰し、再度再度歪センサ出力の判定を行う。Ｓ１５４２において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、前記Ｓ１５３３に移行する。 In S1542, the elapsed time from the start of mirror down is determined. If the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time in S1542, the process returns to S1540, and the distortion sensor output is determined again. In S1542, when the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time, the process proceeds to S1533.
S１５４０において、歪センサ出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材１２０が、ダウン状態に安定して保持されており、次のＳ１５４１に移行する。 If it is determined in S1540 that the strain sensor output is greater than or equal to the predetermined value, the optical member 120 is stably held in the down state, and the process proceeds to the next S1541.
Ｓ１５４１では、図７で示した撮影シーケンス設定処理を実行し、次のＳ１５４２に移行する。S１５４２においては、ファインダ表示を終了し、次のS１５４５に移行する。 In S1541, the shooting sequence setting process shown in FIG. 7 is executed, and the process proceeds to the next S1542. In S1542, the viewfinder display is terminated, and the process proceeds to the next S1545.
S１５４５においては、AFモードが追尾ＡＦモードであるところのSERVO ＡＦモードであるか否かの判定を行っている。S１５４５において、ＳＥＲＶＯ ＡＦモードであると判定された場合には、次のS１５５０、S１５７０に移行する。S１５４５において、SERVO AFモードではない、ＯＮＥ ＳＨＯＴ ＡＦモードであると判定された場合には、S１６１０に移行する。 In S1545, it is determined whether or not the AF mode is the SERVO AF mode, which is the tracking AF mode. If it is determined in S1545 that the mode is the SERVO AF mode, the process proceeds to the next S1550 and S1570. If it is determined in S1545 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode, the process proceeds to S1610.
S１５５０においては、図８で示したＡＦ処理を実行し、次のS１５９０に移行する。S１５７０においては、図９で示したAE処理を実行し、次のS１５８０に移行する。S１５８０においては、再度、図１０で示したファインダ表示処理を実行し、次のS１５９０に移行する。 In S1550, the AF process shown in FIG. 8 is executed, and the flow proceeds to the next S1590. In S1570, the AE process shown in FIG. 9 is executed, and the process proceeds to the next S1580. In S1580, the finder display process shown in FIG. 10 is executed again, and the process proceeds to the next S1590.
S１５９０においては、すべての処理が完了した時点で、次のS１６２５に移行する。S１６１０からS１６２０は、S１５４５でSERVO AFモードではない、ＯＮＥ ＳＨＯＴ ＡＦモードであると判定された場合のファインダ表示処理、ＡＥ処理を示している。 In S1590, when all the processes are completed, the process proceeds to S1625. S1610 to S1620 show finder display processing and AE processing when it is determined in S1545 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode.
S１６１０においては、図９で示したAE処理を実行し、次のS１６２０に移行する。S１６２０においては、再度、図１０で示したファインダ表示処理を実行し、S１６２５に移行する。 In S1610, the AE process shown in FIG. 9 is executed, and the process proceeds to the next S1620. In S1620, the finder display process shown in FIG. 10 is executed again, and the process proceeds to S1625.
S１６２５においては、撮像装置がコマ速安定モードに設定されているか否かの判定を行っている。S１６２５において、撮像装置がコマ速安定モードに設定されていると判定された場合には、ＡＦ処理、AE処理の開始タイミングに寄らずコマ速を安定させ、検出時間を延長して確保する設定となっており、次のS１６３０に移行する。 In S1625, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode. If it is determined in S1625 that the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode, the frame speed is stabilized regardless of the start timing of the AF processing and AE processing, and the detection time is extended and secured. Therefore, the process proceeds to the next S1630.
S１６３０においては、連写のコマ速を安定させるコマ速安定タイマーが完了しているか否かの判定を行っている。S１６３０において、コマ速安定タイマーが完了していないと判定された場合には、前述のS１５４５に復帰し、再度、AF処理、ＡＥ処理等を実行する。S１６３０において、コマ速安定タイマーが完了していると判定された場合には、メインルーチンへ復帰する。 In S1630, it is determined whether or not the frame speed stabilization timer for stabilizing the continuous shooting frame speed has been completed. If it is determined in S1630 that the frame speed stabilization timer has not been completed, the process returns to S1545 described above, and AF processing, AE processing, etc. are executed again. If it is determined in S1630 that the frame speed stabilization timer has been completed, the process returns to the main routine.
S１６２５において、撮像装置がコマ速優先モードに設定されていると判定された場合には、検出に用いる時間を安定させ撮影コマ速を向上させる様に設定されており、次のS１６３５に移行する。 If it is determined in S1625 that the imaging device is set to the frame speed priority mode, the time used for detection is set to be stable and the shooting frame speed is improved, and the process proceeds to the next S1635.
S１６３５においては、歪検出時間が所定時間継続しているか否かの判定を行っている。S１６３５において。歪検出時間が所定時間継続していないと判定された場合には、前述のS１５４５に復帰し、再度、ＡＦ処理、ＡＥ処理等を実行する。S１６３５において、歪検出時間が所定時間継続していると判定された場合には、メインルーチンに復帰する。 In S1635, it is determined whether or not the strain detection time continues for a predetermined time. In S1635. If it is determined that the distortion detection time has not continued for a predetermined time, the process returns to S1545 described above, and AF processing, AE processing, and the like are executed again. If it is determined in S1635 that the strain detection time has continued for a predetermined time, the process returns to the main routine.
上記に示すように、表示処理をあらかじめミラーダウン中に行うことで、実施例１よりも表示時間を長く設定することができ、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することが可能となると共に、表示の視認性も確保できる。 As shown above, by performing the display process during the mirror-down in advance, the display time can be set longer than in the first embodiment, and the focus followability can be improved without changing the frame speed, or The continuous shooting frame speed can be improved without changing the focus followability, and the display visibility can be secured.
１０１，１２１ 撮影レンズ
１０３ 主ミラー
１０４ サブミラー
１０３ｂ／１０４ｂ 係止部材
１０３ｃ／１０４ｃ 検出部
１０８，１１９ 焦点検出装置
１１５ イメージセンサ（焦点検出センサ）
１１７ マイコン
１２０ 光学部材（主ミラー／サブミラー等）
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101,121 Shooting lens 103 Main mirror 104 Sub mirror 103b / 104b Locking member 103c / 104c Detection part 108,119 Focus detection apparatus 115 Image sensor (focus detection sensor)
117 Microcomputer 120 Optical member (main mirror / sub mirror, etc.)
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