JP2015028549A - Imaging device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光学部材の各状態での係止部材に対する付勢状態を検知できる撮像装置に関し、係止部材への付勢力を常時検出し、付勢力の出力に応じて撮影シーケンスを設定し、検出処理の制御を行う撮像装置に関するものである。 The present invention relates to an imaging device that can detect the biasing state of the optical member with respect to the locking member in each state, constantly detecting the biasing force to the locking member, and setting a shooting sequence according to the output of the biasing force, The present invention relates to an imaging apparatus that controls detection processing.
従来、ミラーダウン位置を検知せずに、温度条件、耐久条件、個体バラツキを考慮して、ミラーダウンを保障できる時間を動作開始からのタイマーとして設定しているものが存在している。 Conventionally, there is one that sets a time that can guarantee mirror down as a timer from the start of operation in consideration of temperature conditions, durability conditions, and individual variations without detecting the mirror down position.
また、特許文献1に示すように、カメラのミラー位置を、フォトリフレクタ、メカ検出スイッチ等で検出するものが知られていた。 Also, as shown in Patent Document 1, there has been known one that detects a mirror position of a camera with a photo reflector, a mechanical detection switch, or the like.
さらに、特許文献2に示すように、ミラーアップ及びダウン状態に到達したことを検出するために、衝撃発光LEDを用いてミラーが係止部材に衝突する際の衝撃を検出し、AF、AEの動作タイミングを決め、ミラーバウンド安定のためのタイマーを動作させ、タイマー終了で、安定したと判定しAF、AE動作を実行するものが知られていた。 Furthermore, as shown in Patent Document 2, in order to detect that the mirror has reached the mirror up and down state, the impact light emission LED is used to detect the impact when the mirror collides with the locking member. It has been known that the operation timing is determined, the timer for stabilizing the mirror bound is operated, and when the timer ends, it is determined that the operation is stable and AF and AE operations are executed.
しかしながら、多くの場合、ミラーが安定しているにも関わらずタイマー制御で待っているため、コマ間のAF、AE等の検出時間に使用できない無駄な時間が生じているため、検出能力の限界性能向上、コマ速向上の妨げになっていた。 However, in many cases, because the mirror is stable and waits with timer control, there is a waste of time that cannot be used for detection time between frames, such as AF and AE. It was a hindrance to performance improvement and frame speed improvement.
また、特許文献1に示すように、検知スイッチ等にて検出する場合には、ミラーを駆動する駆動力が、検知スイッチを駆動するために余分に必要となる。さらに、スイッチ自体の耐久による摩耗、ゴミの付着などによりチャタリングが発生し、検出が不安定になってしまうことがあった。 Further, as shown in Patent Document 1, when detecting with a detection switch or the like, an extra driving force for driving the mirror is required to drive the detection switch. Furthermore, chattering may occur due to wear due to durability of the switch itself, adhesion of dust, and the like, and detection may become unstable.
このため、ミラーの位置変化まで安定して検出することが出来ないため、バウンド安定の判定まで的確に行うことが出来ず、ダウン検知にて作動する安定タイマーを設定する必要があった。 For this reason, since it is impossible to stably detect the change in position of the mirror, it is not possible to accurately perform the determination of bounce stability, and it is necessary to set a stability timer that operates by down detection.
また、フォトリフレクタでは、ミラーの状態を非接触で検出することが出来るが、被写体が高輝度の場合には、撮像しようとする被写体の光束が検出部に対して漏れこんでしまい、フォトリフレクタの受光部に外光が入射することで誤検出してしまうことがあった。さらに、非検出物とフォトリフレクタの位置精度を高精度で出す必要があり、耐久での変化含めて精度を確保することが困難であった。 The photo reflector can detect the state of the mirror in a non-contact manner. However, when the subject has high brightness, the light flux of the subject to be imaged leaks into the detection unit, and the photo reflector In some cases, external light is incident on the light receiving unit and erroneously detected. Furthermore, it is necessary to obtain the positional accuracy of the non-detection object and the photo reflector with high accuracy, and it is difficult to ensure the accuracy including the change in durability.
更に、特許文献2に示すように、衝撃を検出してミラーダウンの到達を検出しているがミラーダウン状態の安定は検出できず、タイマーにて安定タイミングを計っているので、個体のバラツキ、各種条件により無駄に待機する時間が生じていた。そして、この場合、衝撃が発生した時点のみの検出となるため、ミラーを低速で駆動させる等の動作モードによっては衝撃を検知出来ないことがあった。そして、衝撃が発生したときのみ検出可能であるので、ミラーダウン時のバウンドの状態検出や衝撃を低減したモードでは検出出来ないことがあった。 Furthermore, as shown in Patent Document 2, the arrival of mirror down is detected by detecting an impact, but the stability of the mirror down state cannot be detected, and the timing of the stability is measured by a timer. Due to various conditions, time wasted waiting wasted. In this case, since the detection is performed only when the impact occurs, the impact may not be detected depending on the operation mode such as driving the mirror at a low speed. And since it can be detected only when an impact occurs, it may not be detected in a bounce state detection when the mirror is down or in a mode in which the impact is reduced.
本発明の目的は、係止部材の検出手段の出力を常時検出し、検出手段の出力の検出により、撮影シーケンスの設定を行った後、検出手段の出力をモニタしながら測距処理、測光処理を実行することで、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することを目的とする。 An object of the present invention is to constantly detect the output of the detecting means of the locking member, set the photographing sequence by detecting the output of the detecting means, and then monitor the output of the detecting means while measuring the distance, and the photometric process By executing the above, it is an object to improve the focus followability without changing the frame speed, or to improve the continuous shooting frame speed without changing the focus followability.
上記目的を達成するために、本発明は、撮影光路内から光学部材を退避させた露光のための退避状態である第一の状態と所定状態で光路内に保持されて光学ファインダ状態を実現する第二の状態を切替可能に構成されている光学部材を持ち、第二の状態にて光学部材の位置を決定する係止部材をもち、係止部材には、係止部材に生ずる歪状態を検出する検出手段が付加されているものにおいて、検出手段の出力を検出することで撮影シーケンスを設定し、撮影シーケンスに基づき検出処理を実行し、検出処理の間も検出手段の出力を常時検出することを特徴とするものである。 In order to achieve the above object, the present invention realizes an optical finder state by being held in the optical path in a first state which is a retracted state for exposure with the optical member retracted from the photographing optical path and a predetermined state. It has an optical member configured to be switchable in the second state, and has a locking member that determines the position of the optical member in the second state, and the locking member has a distortion state generated in the locking member. In the case where a detecting means for detecting is added, a photographing sequence is set by detecting the output of the detecting means, a detecting process is executed based on the photographing sequence, and the output of the detecting means is always detected during the detecting process. It is characterized by this.
本発明によれば、係止部材の検出手段の出力を常時検出し、検出手段の出力の検出により、撮影シーケンスの設定を行った後、検出手段の出力をモニタしながら測距処理、測光処理を実行することで、ミラーダウン検出のタイミングで即時に測距処理、測光処理を行うことで、撮影シーケンスの最適化を図り、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することが可能となった。 According to the present invention, after detecting the output of the detecting means of the locking member and setting the photographing sequence by detecting the output of the detecting means, the distance measuring process and the photometric process while monitoring the output of the detecting means By performing distance measurement processing and photometry processing immediately at the timing of mirror down detection, the shooting sequence can be optimized and focus followability can be improved without changing the frame speed, or It has become possible to improve the continuous shooting frame speed without changing the focus tracking.
以下、本発明を図面に基づいて詳しく説明する。
[実施例1]
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[Example 1]
以下、図面を参照して、本発明の実施例1の仕組みに関して説明する。 Hereinafter, the mechanism of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は本発明の実施例1(実施例2および3に関しても同様)に係る撮像装置としてのカメラの主要部を示す構成図である。 FIG. 1 is a configuration diagram showing a main part of a camera as an image pickup apparatus according to Embodiment 1 (the same applies to Embodiments 2 and 3) of the present invention.
図1において、撮影光学系を構成する撮影レンズ101を通過した光束の一部は、半透過部を有する主ミラー103により図中上方に反射され、ピント板105、ペンタプリズム106、接眼レンズ107から成るファインダ光学系へ導かれる。一方、主ミラー103の半透過部を通過した残りの光束は、サブミラー104によって図中下方へ反射され、周知の位相差方式を採用した焦点検出装置108(光学的な構成のみを示す)に導かれる。上記サブミラー104により図中下方に反射された光束は、撮影レンズ101の結像面、即ち撮像素子102と光学的共役な位置関係にある1次結像面109で一度結像する。 In FIG. 1, a part of the light beam that has passed through the photographing lens 101 constituting the photographing optical system is reflected upward in the drawing by the main mirror 103 having a semi-transmissive portion, and from the focus plate 105, the pentaprism 106, and the eyepiece lens 107. To the finder optical system. On the other hand, the remaining light beam that has passed through the semi-transmissive portion of the main mirror 103 is reflected downward in the figure by the sub mirror 104 and guided to a focus detection device 108 (only an optical configuration is shown) employing a known phase difference method. It is burned. The light beam reflected downward in the figure by the sub-mirror 104 forms an image once on the imaging surface of the taking lens 101, that is, the primary imaging surface 109 that is optically conjugate with the image sensor 102.
そして、撮影レンズ101の瞳と2次結像レンズの入射瞳を結像させるフィールドレンズ110を通過後、全反射ミラー111により図中左方に光路を変換する。その後、赤外線カットガラス112、一対の開口部を有する絞り113、一対の射出面を有する2次結像レンズ114を介し、対の光電変換素子列から成るイメージセンサ115上に一対の被写体像を形成している。イメージセンサ115は、被写体像の一部を光電変換する焦点検出センサを構成する。 Then, after passing through the field lens 110 that forms an image of the pupil of the photographing lens 101 and the entrance pupil of the secondary imaging lens, the optical path is converted to the left in the figure by the total reflection mirror 111. Thereafter, a pair of subject images are formed on the image sensor 115 including a pair of photoelectric conversion element arrays via the infrared cut glass 112, the diaphragm 113 having a pair of openings, and the secondary imaging lens 114 having a pair of exit surfaces. doing. The image sensor 115 constitutes a focus detection sensor that photoelectrically converts a part of the subject image.
91は、被写体像の光束を測光素子に導く測光光学系であり、92は、測光光学系91の光束を受光する測光素子である。
ここで、主ミラー103は主ミラー回転軸103aを中心に回転可動に設けられている。焦点検出時には、図1に示すようにダボ状の係止部材103bで規定される、撮影光路内の所定位置に静止し、撮影時には、撮影光路外へ退避する周知のクイックリターン機構により構成されている。サブミラー104についても同様である。イメージセンサ115で被写体像に関する光量分布を検出することにより、周知の位相差方式の焦点検出により撮影レンズ101の焦点状態を検出している。
91 is a photometric optical system that guides the luminous flux of the subject image to the photometric element, and 92 is a photometric element that receives the luminous flux of the photometric optical system 91.
Here, the main mirror 103 is provided so as to be rotatable about a main mirror rotation shaft 103a. At the time of focus detection, it is configured by a known quick return mechanism that is fixed at a predetermined position in the photographing optical path defined by the dowel-shaped locking member 103b as shown in FIG. Yes. The same applies to the sub mirror 104. By detecting the light amount distribution related to the subject image with the image sensor 115, the focus state of the photographing lens 101 is detected by well-known phase difference type focus detection.
また、2次結像レンズ114の入射面は、光束が無理に屈折されることがないように凹面形状とし、イメージセンサ115上の広範囲で歪みのない良好な像を得ることができる。 In addition, the incident surface of the secondary imaging lens 114 has a concave shape so that the light beam is not refracted excessively, and a good image without distortion can be obtained over a wide range on the image sensor 115.
図2に、光学部材の変形/変位を検出する検出部の断面概説図および正面概説図を示す。図2(a)では、マウント部116とミラーボックス117の断面図を示している。また、図2(b)では、ミラーボックス117の正面図を示している。主ミラー103とサブミラー104はミラー部材を構成し、ミラー部材は光学部材を構成する。 FIG. 2 shows a schematic cross-sectional view and a schematic front view of a detection unit that detects deformation / displacement of the optical member. FIG. 2A shows a cross-sectional view of the mount 116 and the mirror box 117. FIG. 2B shows a front view of the mirror box 117. The main mirror 103 and the sub mirror 104 constitute a mirror member, and the mirror member constitutes an optical member.
焦点検出時の主ミラー103及びサブミラー104の静止位置の変化は、主ミラー103及びサブミラー104を所定の位置で保持するためのダボ状の係止部材103b/104bの位置変化に起因することが多い。更に、係止部材103b/104bの位置変化は、係止部材103b/104bの位置を規定するプレート部材103d/104dの変形/変位に起因することが多い。そのため、プレート部材103d/104dに変形/変位を検出する検出部103c/104cを設け、検出部103c/104cの出力から焦点検出時の主ミラー103及びサブミラー104の所定位置に対する位置変化量を算出する。上記検出部は、係止部材103b,104bの少なくとも一方の変形/変位を検出すれば足りる。なお、係止部材103b/104bもプレート部材103d/104dも光学部材の一部を構成するものとする。 Changes in the stationary positions of the main mirror 103 and the sub mirror 104 during focus detection are often caused by changes in the position of the dowel-shaped locking members 103b / 104b for holding the main mirror 103 and the sub mirror 104 at predetermined positions. . Further, the change in the position of the locking member 103b / 104b is often caused by the deformation / displacement of the plate member 103d / 104d that defines the position of the locking member 103b / 104b. Therefore, the plate member 103d / 104d is provided with a detection unit 103c / 104c that detects deformation / displacement, and the position change amount with respect to a predetermined position of the main mirror 103 and the sub mirror 104 at the time of focus detection is calculated from the output of the detection unit 103c / 104c. . The detection unit only needs to detect the deformation / displacement of at least one of the locking members 103b and 104b. Note that both the locking members 103b / 104b and the plate members 103d / 104d constitute part of the optical member.
検出部103c/104cには、例えば、歪センサを用いる。前記歪センサは、加重・
圧力・トルク・引っ張り・歪みといった応力を検出することが可能である。
For example, a strain sensor is used for the detection units 103c / 104c. The strain sensor is weighted
It is possible to detect stresses such as pressure, torque, tension, and strain.
主ミラー103及びサブミラー104は、図2の状態においては、係止部材103b/104bに対して所定の力にて押し付けられており、前記歪センサは、所定の歪センサの出力が得られることとなる。 In the state of FIG. 2, the main mirror 103 and the sub mirror 104 are pressed against the locking member 103b / 104b with a predetermined force, and the strain sensor can obtain an output of the predetermined strain sensor. Become.
なお、検出部103c/104cを構成する素子は歪センサ以外でも良い。 In addition, the element which comprises the detection part 103c / 104c may be other than a strain sensor.
また、図2では、主ミラー103とサブミラー104の両端に検出部103c/104cを設けているが、必要に応じて設置個数や設置箇所を変更しても良い。 In FIG. 2, the detection units 103c / 104c are provided at both ends of the main mirror 103 and the sub-mirror 104, but the number of installations and installation locations may be changed as necessary.
主ミラー103とサブミラー104の片側に検出部103c/104cを設けている場合は、単純に係止部材103b/104bを保持するプレート部材103d/104dの変形/変位から主ミラー103やサブミラー104の所定位置に対する位置変化を演算する。 In the case where the detection unit 103c / 104c is provided on one side of the main mirror 103 and the sub mirror 104, predetermined deformation of the main mirror 103 and the sub mirror 104 is simply caused by deformation / displacement of the plate member 103d / 104d holding the locking member 103b / 104b. The position change with respect to the position is calculated.
主ミラー103とサブミラー104の両端に検出部103c/104cを設けている場合には、左右の検出部103c/104cの出力を比較して、主ミラー103とサブミラー104の角度ずれ及び傾きを演算することが可能である。 When the detection units 103c / 104c are provided at both ends of the main mirror 103 and the sub mirror 104, the outputs of the left and right detection units 103c / 104c are compared to calculate the angular deviation and inclination of the main mirror 103 and the sub mirror 104. It is possible.
上記で得られた主ミラー103やサブミラー104の所定位置に対する位置変化量から焦点検出情報を補正する方法としては、次のようなものがある。主ミラー103やサブミラー104の所定位置に対する位置変化量を(d)とすると、(d)から焦点検出装置108に入射する光軸ずれを加味した値を焦点検出装置108の出力にオフセット値として加算する。あるいは、(d)を焦点検出時の撮影レンズ101の移動量に換算しても良い。更には、イメージセンサ115を入射光に対して、x/y/z方向に移動させることが可能な構成としておき、(d)からイメージセンサ115のシフト量に換算しても良い。 As a method of correcting the focus detection information from the position change amounts of the main mirror 103 and the sub mirror 104 obtained with respect to the predetermined positions, there are the following methods. When the amount of change in position of the main mirror 103 or the sub mirror 104 with respect to a predetermined position is (d), a value taking into account the optical axis deviation incident on the focus detection device 108 from (d) is added to the output of the focus detection device 108 as an offset value. To do. Alternatively, (d) may be converted into the amount of movement of the photographic lens 101 at the time of focus detection. Furthermore, the image sensor 115 may be configured to be movable in the x / y / z direction with respect to the incident light, and the shift amount of the image sensor 115 may be converted from (d).
本実施例1の構成を示すブロック図を図3により説明する。 A block diagram showing the configuration of the first embodiment will be described with reference to FIG.
図3に示すように、実施例1においては、マイコン117、変形/変位検出部118、焦点検出装置119、主ミラー/サブミラー等の光学部材120、撮影レンズ121から主に構成されている。変形/変位検出部118は、図2の検出部103c/104cに相当する。焦点検出装置119は、図1の焦点検出部108に相当する。光学部材120は、図1の主ミラー103およびサブミラー104に相当する。撮影レンズ121は、図1の撮影レンズ101に相当する。 As shown in FIG. 3, the first embodiment mainly includes a microcomputer 117, a deformation / displacement detection unit 118, a focus detection device 119, an optical member 120 such as a main mirror / submirror, and a photographing lens 121. The deformation / displacement detection unit 118 corresponds to the detection unit 103c / 104c in FIG. The focus detection device 119 corresponds to the focus detection unit 108 in FIG. The optical member 120 corresponds to the main mirror 103 and the sub mirror 104 in FIG. The photographing lens 121 corresponds to the photographing lens 101 in FIG.
また、122は、レリーズスイッチの第一ストロークを検出するSW1であり、123はレリーズスイッチの第二ストロークを検出するSW2である。124は、撮像装置の測光を行う、測光装置であり、125は撮像装置の各種設定を変更する設定部材である。126は、撮像装置にて被写体像を取得する撮像手段である。127は、各種情報を表示する表示手段である。 Reference numeral 122 denotes SW1 for detecting the first stroke of the release switch, and reference numeral 123 denotes SW2 for detecting the second stroke of the release switch. Reference numeral 124 denotes a photometric device that performs photometry of the imaging apparatus, and reference numeral 125 denotes a setting member that changes various settings of the imaging apparatus. An imaging unit 126 acquires a subject image with the imaging apparatus. Reference numeral 127 denotes display means for displaying various information.
マイコン117は、変形/変位検出部118、焦点検出装置119、光学部材120、撮影レンズ121の制御を行うCPUである。変形/変位検出部118は、光学部材120の変形/変位を検出し、例えば歪センサにより検出される。焦点検出装置119は、図1の108でも示した通り、焦点検出を行うための装置である。撮影レンズ121は、カメラへの入射光を撮像素子102(図1)に集束させる。 The microcomputer 117 is a CPU that controls the deformation / displacement detection unit 118, the focus detection device 119, the optical member 120, and the photographing lens 121. The deformation / displacement detection unit 118 detects the deformation / displacement of the optical member 120 and is detected by, for example, a strain sensor. The focus detection device 119 is a device for performing focus detection as indicated by 108 in FIG. The photographing lens 121 focuses incident light on the camera on the image sensor 102 (FIG. 1).
SW1(122)、SW2(123)は撮像装置のレリーズ装置を検出しており、マイコン117で、SW1(122)とSW2(123)の状態を検知している。測光装置124は、撮像装置の測光値を測定しており、マイコン117にで、露光量が決定される。設定部材125は、撮像装置の各種設定を行うための操作部材であり、マイコン117にて各部材の状態が検出されている。撮像手段126は、撮像素子102を含んでおり、撮影レンズにより取り込まれた被写体像の取得を行う。表示手段127は、マイコン117の制御により、適切なタイミングで各種情報の表示を行う。 SW1 (122) and SW2 (123) detect the release device of the imaging device, and the microcomputer 117 detects the state of SW1 (122) and SW2 (123). The photometric device 124 measures the photometric value of the imaging device, and the microcomputer 117 determines the exposure amount. The setting member 125 is an operation member for performing various settings of the imaging apparatus, and the state of each member is detected by the microcomputer 117. The imaging unit 126 includes the imaging element 102 and acquires a subject image captured by the photographing lens. The display unit 127 displays various information at an appropriate timing under the control of the microcomputer 117.
本実施例の撮像装置の動作について、以下に図4から図11を用いて説明する。
図4は、本実施例の撮像装置でのレリーズ処理を行うルーチンを示すフローチャートである。
The operation of the image pickup apparatus of the present embodiment will be described below with reference to FIGS.
FIG. 4 is a flowchart illustrating a routine for performing a release process in the imaging apparatus of the present embodiment.
本実施例では、光学部材120を保持する係止部材103b/104bの検出部103c/104cとして歪センサを用いた例を示している。 In this embodiment, an example is shown in which a strain sensor is used as the detection portion 103c / 104c of the locking member 103b / 104b that holds the optical member 120.
図4においては、撮像装置のレリーズ処理について示しており、ステップ1000(以下、S1000と示す)において、レリーズ処理が開始されると、S1010においては、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。S1010において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていると判定された場合には、次の、S1015に移行する。S1015においては、後述するプレ撮影シーケンス設定処理(図6で説明等を示す)を実行し、次のS1020、S1030に移行する。S1010において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていないと判定された場合には、再度、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしているか否かの判定を行う。 FIG. 4 shows the release process of the imaging apparatus. When the release process is started in step 1000 (hereinafter referred to as S1000), whether or not the first stroke of the release switch is turned on in S1010. Judgment is made. If it is determined in S1010 that the first stroke of the release switch is on, the process proceeds to the next S1015. In S1015, a pre-photographing sequence setting process (described below with reference to FIG. 6) is executed, and the process proceeds to the next S1020 and S1030. If it is determined in S1010 that the first stroke of the release switch is not turned on, it is determined again whether or not the first stroke of the release switch is turned on.
S1020においては、後述する検出処理の一つである測距処理であるところのAF処理(図8で説明等を示す)を行っており、AF処理の完了をもって、次のステップに移行する。S1030においては、後述する検出処理の一つである測光処理であるところのAE処理(図9で説明等を示す)をおこなっており、AE処理の完了をもって。次のステップに移行する。 In S1020, AF processing (which will be described with reference to FIG. 8), which is distance measurement processing, which is one of detection processing described later, is performed, and when the AF processing is completed, the process proceeds to the next step. In S1030, an AE process (which will be described with reference to FIG. 9), which is a photometric process, which is one of the detection processes described later, is performed, and upon completion of the AE process. Move on to the next step.
S1020のAF処理、及び、S1030のAE処理が共に完了することをもって、次のS1040に移行する。 When both the AF process of S1020 and the AE process of S1030 are completed, the process proceeds to the next S1040.
S1040においては、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。S1040において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていると判定された場合は、次のS1050に移行する。S1040において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていないと判定された場合には、再度、レリーズスイッチの状態判別を行う。 In S1040, it is determined whether or not the second stroke of the release switch is on. If it is determined in S1040 that the second stroke of the release switch is on, then the flow shifts to the next S1050. If it is determined in S1040 that the second stroke of the release switch is not on, the state of the release switch is determined again.
S1050においては、撮像装置に設けられている光学部材120を撮像光路外に退避させるミラーアップ処理を実行し、次のS1060に移行する。 In S1050, a mirror-up process for retracting the optical member 120 provided in the imaging apparatus to the outside of the imaging optical path is executed, and the process proceeds to the next S1060.
S1060においては、撮像処理を行っており、撮像手段により、被写体像の取得処理が完了した時点で、次のS1065に移行する。 In S1060, an imaging process is performed, and when the subject image acquisition process is completed by the imaging unit, the process proceeds to the next S1065.
S1065においては、後述する歪センサ出力の判定条件設定処理(図11で説明等を示す)を実行し、次のS1070に移行する。 In S1065, a strain sensor output determination condition setting process (described below with reference to FIG. 11) is executed, and the process proceeds to the next S1070.
S1070においては、光学部材120のダウン状態を検知する歪センサの検知を開始して、次のS1080に移行する。 In S1070, detection of the strain sensor that detects the down state of the optical member 120 is started, and the process proceeds to the next S1080.
S1080においては、撮像装置の撮影モードが連続撮影モードであるか否かの判定を行っている。S1080において、連続撮影モードであると判定された場合には、次のS1115に移行する。S1080において、連続撮影モードでない、すなわち、単写撮影するモードであると判定された場合には、S1100に移行する。 In S1080, it is determined whether or not the shooting mode of the imaging apparatus is the continuous shooting mode. If it is determined in S1080 that the continuous shooting mode is set, the process proceeds to the next S1115. If it is determined in S1080 that the mode is not the continuous shooting mode, that is, the mode is the single shooting mode, the process proceeds to S1100.
S1100においては、ミラーダウン処理を開始し、次のS1110に移行する。S1110においては、所定時間経過したことによりミラーダウン処理を終了し、メインルーチンに復帰する。 In S1100, mirror down processing is started, and the process proceeds to the next S1110. In S1110, when a predetermined time has elapsed, the mirror down process is terminated and the process returns to the main routine.
S1115においては、後述のミラーダウン処理(図5で説明等を示す)を実行し、次のS1240に移行する。 In S1115, a mirror down process (described below with reference to FIG. 5) is executed, and the process proceeds to the next S1240.
S1240においては、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。S1240において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていると判定された場合は、S1050に復帰し、次のコマの撮影シーケンスを実行する。S1240において、レリーズスイッチの第二ストロークがオンしていないと判定された場合には、次のS1250に移行する。 In S1240, it is determined whether or not the second stroke of the release switch is on. If it is determined in S1240 that the second stroke of the release switch is on, the process returns to S1050, and the next frame shooting sequence is executed. If it is determined in S1240 that the second stroke of the release switch is not turned on, then the flow shifts to the next S1250.
S1250においては、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしているか否かの判定を行っている。S1250において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていると判定された場合には、次のS1260に移行する。 In S1250, it is determined whether or not the first stroke of the release switch is on. If it is determined in S1250 that the first stroke of the release switch is on, then the flow shifts to the next S1260.
S1260においては、焦点調節モードであるAFモードが追尾AFモードであるところのSERVO AFモードであるか否かの判定を行っている。S1260において、SERVO AFモードであると判定された場合には、前述の、S1020、S1030に復帰する。S1260において、SERVO AFモードではない、ONE SHOT AFモードであると判定された場合には、前述のS1030に移行する。 In S1260, it is determined whether or not the AF mode that is the focus adjustment mode is the SERVO AF mode that is the tracking AF mode. If it is determined in S1260 that the SERVO AF mode is set, the process returns to S1020 and S1030 described above. If it is determined in S1260 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode, the process proceeds to S1030 described above.
S1250において、レリーズスイッチの第一ストロークがオンしていないと判定された場合には、レリーズ処理を終了する。 If it is determined in S1250 that the first stroke of the release switch is not turned on, the release process is terminated.
図5は、本実施例の撮像装置でのミラーダウン処理を行うルーチンを示すフローチャートである。 FIG. 5 is a flowchart illustrating a routine for performing mirror down processing in the imaging apparatus of the present embodiment.
図5においては、撮像装置のミラーダウン処理について示しており、S1120においては、ミラーダウン処理を開始し、次のS1130に移行する。 FIG. 5 shows the mirror down process of the imaging apparatus. In S1120, the mirror down process is started, and the process proceeds to the next S1130.
S1130においては、検出手段であるところの歪センサの出力が検出されたか否かの判定を行っている。S1130において、歪センサの出力が検出されない場合には、光学部材120が、ミラーダウン位置に到達していないので、次のS1132に移行する。 In S1130, it is determined whether or not the output of the strain sensor serving as the detection means has been detected. If the output of the strain sensor is not detected in S1130, the optical member 120 has not reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1132.
S1132においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。S1132において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、S1130に復帰し、再度判定を行う。S1132において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、次のS1133に移行する。 In S1132, the elapsed time from the start of mirror down is determined. If the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time in S1132, the process returns to S1130 and the determination is performed again. If the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time in S1132, the process proceeds to the next S1133.
S1133においては、エラー処理を実行し、エラー表示、復帰動作等を行った後、メインルーチンへ復帰する。 In S1133, error processing is executed, error display, return operation, and the like are performed, and then the process returns to the main routine.
S1133におけるエラー処理については、エラーの表示を行うだけでも良く、また、復帰動作を行うだけでも良く、ここに記載されたものに限るわけではない。 The error processing in S1133 may be performed only by displaying an error or by performing a return operation, and is not limited to the one described here.
S1130において、歪センサの出力が検出された場合には、光学部材120がミラーダウン位置に到達しており、次のS1140に移行する。 When the output of the strain sensor is detected in S1130, the optical member 120 has reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1140.
S1140においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S1140において、歪センサの出力が所定値未満である場合には、光学部材120のダウン状態への位置決めが不安定な状態であり、次のS1142に移行する。 In S1140, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. In S1140, if the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the positioning of the optical member 120 to the down state is unstable, and the process proceeds to the next S1142.
S1142においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。S1142において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、S1140に復帰し、再度再度歪センサ出力の判定を行う。S1142において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、前記S1133に移行する。 In S1142, the elapsed time from the start of mirror down is determined. If the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time in S1142, the process returns to S1140 and the distortion sensor output is determined again. In S1142, when the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time, the process proceeds to S1133.
S1140において、歪センサ出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材120が、ダウン状態に安定して保持されており、次のS1144に移行する。 If it is determined in S1140 that the strain sensor output is equal to or greater than the predetermined value, the optical member 120 is stably held in the down state, and the process proceeds to the next S1144.
S1144では、後述する撮影シーケンス設定処理(図7で説明等を示す)を実行し、次のS1145に移行する。 In S1144, an imaging sequence setting process (explained in FIG. 7) described later is executed, and the process proceeds to the next S1145.
S1145においては、AFモードが追尾AFモードであるところのSERVO AFモードであるか否かの判定を行っている。SERVO AFモードとは、合焦状態を検出してもフォーカスのロックはせずに、常に検知を繰り返すモードである。S1145において、SERVO AFモードであると判定された場合には、次のS1150、S1160に移行する。S1145において、SERVO AFモードではない、ONE SHOT AFモードであると判定された場合には、S1200に移行する。ONE SHOT AFモードとは、合焦状態を検出した場合に、そのフォーカス状態でロックをかけるモードである。 In S1145, it is determined whether or not the AF mode is the tracking AF mode, which is the SERVO AF mode. The SERVO AF mode is a mode in which the detection is always repeated without locking the focus even if the in-focus state is detected. If it is determined in S1145 that the SERVO AF mode is set, the process proceeds to the next S1150 and S1160. If it is determined in S1145 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode, the process proceeds to S1200. The ONE SHOT AF mode is a mode for locking in the focus state when the in-focus state is detected.
S1150においては、後述のAF処理を実行し、次のS1190に移行する。S1160においては、後述のファインダ表示処理(図10で説明等を示す)を実行し、次のS1170に移行する。S1170においては、後述のAE処理を実行し、次のS1180に移行する。S1180においては、再度、ファインダ表示処理を実行し、次のS1190に移行する。 In S1150, the AF process described later is executed, and the process proceeds to the next S1190. In S1160, a finder display process (described below with reference to FIG. 10) is executed, and the process proceeds to S1170. In S1170, an AE process described later is executed, and the process proceeds to the next S1180. In S1180, the finder display process is executed again, and the process proceeds to the next S1190.
S1190においては、すべての処理が完了した時点で、次のS1225に移行する。S1200からS1220は、S1145でSERVO AFモードではない、ONE SHOT AFモードであると判定された場合のファインダ表示処理、AE処理を示している。 In S1190, when all the processes are completed, the process proceeds to S1225. S1200 to S1220 show the finder display process and the AE process in the case where it is determined in S1145 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode.
S1200においては、後述のファインダ表示処理を実行し、次のS1210に移行する。S1210においては、後述のAE処理を実行し、次のS1220に移行する。S1220においては、再度、ファインダ表示処理を実行し、S1225に移行する。 In S1200, a finder display process described later is executed, and the process proceeds to the next S1210. In S1210, an AE process described later is executed, and the process proceeds to the next S1220. In S1220, the finder display process is executed again, and the process proceeds to S1225.
S1225においては、撮像装置がコマ速安定モードに設定されているか否かの判定を行っている。S1225において、撮像装置がコマ速安定モードに設定されていると判定された場合には、AF処理、AE処理の開始タイミングに寄らずコマ速を安定させ、検出時間を延長して確保する設定となっており、次のS1230に移行する。 In S1225, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode. If it is determined in S1225 that the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode, the frame speed is stabilized regardless of the start timing of the AF processing and AE processing, and the detection time is extended and secured. Therefore, the process proceeds to S1230.
S1230においては、連写のコマ速を安定させるコマ速安定タイマーが完了しているか否かの判定を行っている。S1230において、コマ速安定タイマーが完了していないと判定された場合には、前述のS1145に復帰し、再度、AF処理、AE処理等を実行する。S1230において、コマ速安定タイマーが完了していると判定された場合には、メインルーチンへ復帰する。 In S1230, it is determined whether or not the frame speed stabilization timer for stabilizing the frame speed for continuous shooting is completed. If it is determined in S1230 that the frame speed stabilization timer has not been completed, the process returns to S1145 described above, and AF processing, AE processing, etc. are executed again. If it is determined in S1230 that the frame speed stabilization timer has been completed, the process returns to the main routine.
S1225において、撮像装置がコマ速優先モードに設定されていると判定された場合には、検出に用いる時間を安定させ撮影コマ速を向上させる様に設定されており、次のS1235に移行する。 If it is determined in S1225 that the imaging apparatus is set to the frame speed priority mode, the time used for detection is set to be stabilized and the shooting frame speed is improved, and the process proceeds to the next S1235.
S1235においては、歪検出時間が所定時間継続しているか否かの判定を行っている。S1235において。歪検出時間が所定時間継続していないと判定された場合には、前述のS1145に復帰し、再度、AF処理、AE処理等を実行する。S1235において、歪検出時間が所定時間継続していると判定された場合には、メインルーチンに復帰する。 In S1235, it is determined whether or not the strain detection time continues for a predetermined time. In S1235. If it is determined that the distortion detection time has not continued for the predetermined time, the process returns to S1145 described above, and AF processing, AE processing, and the like are executed again. If it is determined in S1235 that the strain detection time has continued for a predetermined time, the process returns to the main routine.
図6は、本実施例の撮像装置での動作前に撮影シーケンスを設定するフローチャートである。 FIG. 6 is a flowchart for setting the shooting sequence before the operation of the image pickup apparatus of the present embodiment.
図6においては、所定期間内の動作履歴から撮影シーケンスを設定するフローチャートであり、S2800において、撮影シーケンスの設定を開始し、次のS2805に移行する。 FIG. 6 is a flowchart for setting a shooting sequence from an operation history within a predetermined period. In S2800, setting of a shooting sequence is started, and the process proceeds to the next S2805.
S2805においては、所定期間内の光学部材120の作動データであるミラー作動データが存在しているか否かの判定を行っている。S2805において、所定期間内のミラー作動データが存在していると判定された場合には、次のS2810に移行する。S2805において、所定期間内のミラー作動データが存在していないと判定された場合には、後述するS2840に移行する。 In S2805, it is determined whether or not mirror operation data that is operation data of the optical member 120 within a predetermined period exists. If it is determined in S2805 that mirror operation data within the predetermined period exists, the process proceeds to S2810. If it is determined in S2805 that there is no mirror operation data within the predetermined period, the process proceeds to S2840 described later.
S2810においては、ユーザーが撮像装置に設定した連写コマ速の設定値を確認し、次のS2820に移行する。S2820においては、撮像装置のコマ速設定値から検出処理が使用可能な検出使用可能時間を算出し、次のS2825に移行する。 In S2810, the setting value of the continuous shooting frame speed set by the user in the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to the next S2820. In S2820, a detection usable time in which the detection process can be used is calculated from the frame speed setting value of the imaging apparatus, and the process proceeds to the next S2825.
S2825においては、撮像装置が高速連写モードに設定されているか否かの判定を行っている。S2825において、撮像装置が高速連写モードに設定されていないと判定された場合には、ユーザーがコマ速を落として設定しているので、ピントの追従性を優先して、S2840に移行する。S2825において、撮像装置が高速連写モードに設定されていると判定された場合には、次のS2830に移行する。 In S2825, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode. If it is determined in S2825 that the imaging apparatus is not set to the high-speed continuous shooting mode, the user has set the frame speed to be low, so the focus tracking performance is prioritized and the process proceeds to S2840. If it is determined in S2825 that the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode, the process proceeds to S2830.
S2830においては、撮像装置の設定モードが追従性優先に設定されているか否かの判定を行っている。S2830において、被写体の追従性を優先するモードに設定されている場合には、次のS2840に移行する。S2840においては、算出されている検出使用可能時間から検出処理に使用できる最大検出時間を設定し、メインルーチンへ復帰する。この場合、コマ速の設定値はユーザー設定値と同一となっている。 In S2830, it is determined whether or not the setting mode of the imaging apparatus is set to follow-up priority. If it is set in S2830 that the priority is given to subject tracking, the process proceeds to the next S2840. In S2840, the maximum detection time that can be used for the detection process is set from the calculated available detection time, and the process returns to the main routine. In this case, the frame speed setting value is the same as the user setting value.
S2830において、撮像装置のコマ速を優先するモードに設定されている場合には、次のS2850に移行する。S2850においては、撮像装置の最低限必要な検出時間を確認し、次のS2860に移行する。 In S2830, if the mode is set to give priority to the frame speed of the imaging apparatus, the process proceeds to S2850. In S2850, the minimum required detection time of the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to the next S2860.
S2860においては、検出使用可能時間と最低限必要な検出時間から、短縮可能な時間を演算し、次のS2870に移行する。S2870においては、算出した短縮可能時間からコマ速を設定し、メインルーチンに復帰する。この場合、連写コマ速で設定される標準時間から短縮可能時間を減算したものが一駒の標準時間となり、ユーザーが設定した連写コマ速以上のコマ速が設定される。 In S2860, a time that can be shortened is calculated from the available detection time and the minimum required detection time, and the process proceeds to the next S2870. In S2870, the frame speed is set from the calculated shortenable time, and the process returns to the main routine. In this case, the standard time set by the continuous frame speed is subtracted from the shortenable time to obtain the standard time for one frame, and a frame speed higher than the continuous frame speed set by the user is set.
図7は、本実施例の撮像装置での撮影シーケンスを設定するフローチャートである。 FIG. 7 is a flowchart for setting a shooting sequence in the imaging apparatus of the present embodiment.
図7においては、進行中の撮影タイミングから撮影シーケンスを設定する場合を示しており、S2700において、撮影シーケンスの設定を開始し次のS2710に移行する。 FIG. 7 shows a case where the shooting sequence is set from the shooting timing in progress. In S2700, the setting of the shooting sequence is started, and the process proceeds to S2710.
S2710においては、ユーザーが撮像装置に設定した連写コマ速の設定値を確認し、次のS2720に移行する。S2720においては、撮像装置のコマ速設定値から現時点で検出処理が使用可能な検出使用可能時間を算出し、次のS2725に移行する。 In S2710, the setting value of the continuous shooting frame speed set by the user in the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to S2720. In S2720, a detection usable time in which the detection process can be used at the present time is calculated from the frame speed setting value of the imaging apparatus, and the process proceeds to the next S2725.
S2725においては、撮像装置が高速連写モードに設定されているか否かの判定を行っている。S2725において、撮像装置が高速連写モードに設定されていないと判定された場合には、ユーザーがコマ速を落として設定しているので、ピントの追従性を優先して、S2740に移行する。S2725において、撮像装置が高速連写モードに設定されていると判定された場合には、次のS2730に移行する。 In S2725, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode. If it is determined in step S2725 that the image pickup apparatus is not set to the high-speed continuous shooting mode, the user sets the frame speed to be lower, and thus the focus followability is prioritized and the process proceeds to step S2740. If it is determined in S2725 that the imaging apparatus is set to the high-speed continuous shooting mode, the process proceeds to S2730.
S2730においては、撮像装置の設定モードが追従性優先に設定されているか否かの判定を行っている。S2730において、被写体の追従性を優先するモードに設定されている場合には、次のS2740に移行する。S2740においては、算出されている検出使用可能時間から検出処理に使用できる最大検出時間を設定し、メインルーチンへ復帰する。この場合、コマ速の設定値はユーザー設定値と同一となっている。 In S2730, it is determined whether or not the setting mode of the imaging device is set to follow-up priority. If it is set in S2730 that priority is given to subject tracking, the process proceeds to S2740. In S2740, the maximum detection time that can be used for the detection process is set from the calculated detection usable time, and the process returns to the main routine. In this case, the frame speed setting value is the same as the user setting value.
S2730において、撮像装置のコマ速を優先するモードに設定されている場合には、次のS2750に移行する。S2750においては、撮像装置の最低限必要な検出時間を確認し、次のS2760に移行する。 If it is set in S2730 that the frame speed of the imaging device is prioritized, the process proceeds to S2750. In S2750, the minimum required detection time of the imaging apparatus is confirmed, and the process proceeds to the next S2760.
S2760においては、検出使用可能時間と最低限必要な検出時間から、短縮可能な時間を演算し、次のS2770に移行する。S2770においては、算出した短縮可能時間からコマ速を設定し、メインルーチンに復帰する。この場合、連写コマ速で設定される標準時間から短縮可能時間を減算したものが一駒の標準時間となり、ユーザーが設定した連写コマ速以上のコマ速が設定される。 In S2760, a time that can be shortened is calculated from the available detection time and the minimum required detection time, and the process proceeds to the next S2770. In S2770, the frame speed is set from the calculated shortenable time, and the process returns to the main routine. In this case, the standard time set by the continuous frame speed is subtracted from the shortenable time to obtain the standard time for one frame, and a frame speed higher than the continuous frame speed set by the user is set.
図8は、本実施例の撮像装置でのAF処理を行うルーチンを示すフローチャートである。 FIG. 8 is a flowchart illustrating a routine for performing AF processing in the imaging apparatus of the present embodiment.
図8においては、撮像装置の検出動作である測距処理であるところのAF処理について示しており、S1200において、AF処理を開始し、次のS2010に移行する。 FIG. 8 shows an AF process that is a distance measurement process that is a detection operation of the imaging apparatus. In S1200, the AF process is started, and the process proceeds to the next S2010.
S2010においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S2010において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、AF処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定を行う。S2010において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材120が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS2020に移行する。 In S2010, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2010 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the AF process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2010 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2020.
S2020においては、焦点検出動作を行うAFセンサの蓄積処理を開始し、次のS2030に移行する。 In S2020, accumulation processing of the AF sensor that performs the focus detection operation is started, and the process proceeds to the next S2030.
S2030においては、再度、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。 In S2030, it is determined again whether the output of the strain sensor is equal to or greater than a predetermined value.
これは、検出中に光学部材120の位置に不都合が発生していないか判定するためである。 This is for determining whether any inconvenience has occurred in the position of the optical member 120 during detection.
S2030において、歪センサの出力が所定値以上でないと判定された場合には、光学部材120が所定のダウン位置にいない等の問題が発生していると判断されるため、次のS2050に移行する。S2050においては、AFセンサの蓄積処理中の問題が生じた可能性があるため、蓄積処理を中止し、次のS2053に移行する。 If it is determined in S2030 that the output of the strain sensor is not equal to or greater than the predetermined value, it is determined that a problem such as the optical member 120 not being in the predetermined down position has occurred, and the process proceeds to the next S2050. . In S2050, since there may be a problem during the accumulation process of the AF sensor, the accumulation process is stopped and the process proceeds to the next S2053.
S2053においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S2053において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、AF処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定を行う。S2053において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材120が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS2055に移行する。
S2055においては、一度AF処理が中断されているため、再度、撮影シーケンス設定処理を実行し、制御条件を再設定して、前記S2020に復帰し、蓄積処理を再度開始する。
In S2053, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2053 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the AF process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2053 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2055.
In S2055, since the AF process is once interrupted, the imaging sequence setting process is executed again, the control conditions are reset, the process returns to S2020, and the accumulation process is started again.
S2030において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、次のS2040に移行する。S2040においては、AFセンサの蓄積処理が完了しているか否かの判定を行っている。 If it is determined in S2030 that the output of the strain sensor is equal to or greater than the predetermined value, the process proceeds to the next S2040. In S2040, it is determined whether or not the AF sensor accumulation processing has been completed.
S2040において蓄積処理が完了していないと判定された場合には、蓄積制御を継続し、S2030に復帰する。S2040において、蓄積制御が完了していると判定された場合には、次のS2060に移行する。 If it is determined in S2040 that the accumulation process has not been completed, the accumulation control is continued and the process returns to S2030. If it is determined in S2040 that the accumulation control has been completed, the process proceeds to the next S2060.
S2060においては、連続撮影モードであるか否かの判定を行っている。S2060において、連続撮影モードではないと判定された場合には、次のS2070に移行する。 In S2060, it is determined whether or not the continuous shooting mode is set. If it is determined in S2060 that the continuous shooting mode is not selected, the process proceeds to the next S2070.
S2070おいては、AFセンサにて取得したデータに基づきAF演算処理を実行し、次のS2080に移行する。S2080においては、デフォーカス量が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S2080において、デフォーカス量が所定値以上であると判定された場合には、次のS2090に移行する。S2090においては、撮像光学系のレンズをデフォーカス量に合わせて、合焦状態になるように駆動し、前記S2010に復帰する。 In S2070, AF calculation processing is executed based on the data acquired by the AF sensor, and the process proceeds to the next S2080. In S2080, it is determined whether or not the defocus amount is a predetermined value or more. If it is determined in S2080 that the defocus amount is greater than or equal to the predetermined value, then the flow shifts to the next S2090. In step S2090, the lens of the imaging optical system is driven so as to be in focus according to the defocus amount, and the process returns to step S2010.
S2080において、デフォーカス量が所定値未満であると判定された場合には、次のS2085に移行する。S2085においては、合焦状態であることを設定し、メインルーチンへ復帰する。 If it is determined in S2080 that the defocus amount is less than the predetermined value, the process proceeds to the next S2085. In S2085, the in-focus state is set and the process returns to the main routine.
S2060において、連続撮影モードであると判定された場合には、次のS2100に移行する。S2100においては、過去の連続する焦点検出データが存在しているか否かの判定を行っている。S2100において、過去の連続する焦点検出データが存在していないと判定された場合には、S2070に移行する。S2100において、過去の連続する焦点検出データが存在していると判定された場合には、次のS2110に移行する。 In S2060, when it is determined that the continuous shooting mode is set, the process proceeds to S2100. In S2100, it is determined whether or not past continuous focus detection data exists. If it is determined in S2100 that there is no past continuous focus detection data, the process proceeds to S2070. If it is determined in S2100 that past continuous focus detection data exists, the process proceeds to the next S2110.
S2110においては、撮像装置がコマ速安定モードに設定されているか否かの判定を行っている。S2110において、撮像装置がコマ速安定モードに設定されていると判定された場合には、AF処理、AE処理の開始タイミングに寄らずコマ速を安定させ、検出時間を延長して確保する設定となっており、次のS2120に移行する。 In S2110, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode. If it is determined in S2110 that the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode, the frame speed is stabilized regardless of the start timing of the AF processing and AE processing, and the detection time is extended and secured. The process proceeds to S2120.
S2120においては、次の撮像タイミングを前回の撮像タイミングを基準に所定時間後に設定し、次のS2140に移行する。 In S2120, the next imaging timing is set after a predetermined time with reference to the previous imaging timing, and the process proceeds to S2140.
S2110において、撮像装置がコマ速優先モードに設定されていると判定された場合には、検出に用いる時間を安定させ撮影コマ速を向上させる様に設定されており、次のS2130に移行する。 If it is determined in S2110 that the imaging apparatus is set to the frame speed priority mode, the time used for detection is set to be stable and the shooting frame speed is improved, and the process proceeds to the next S2130.
S2130においては、次の撮像タイミングを安定して検出できた歪センサ出力の開始時間を基準に所定時間後に設定し、次のS2140に移行する。 In step S2130, the distortion sensor output start time at which the next imaging timing can be detected stably is set after a predetermined time, and the process proceeds to next step S2140.
S2140においては、過去の連続する焦点検出データと、今回検出された焦点検出データより、次回撮像時に予測されるピント位置を演算し、次のS2150に移行する。
S2150においては、予測されるピント位置にもとづいてレンズ駆動処理を実行し、メインルーチンへ復帰する。
In S2140, the focus position predicted at the next imaging is calculated from the past continuous focus detection data and the focus detection data detected this time, and the process proceeds to S2150.
In S2150, the lens driving process is executed based on the predicted focus position, and the process returns to the main routine.
図9は、本実施例の撮像装置でのAE処理を行うルーチンを示すフローチャートである。図9においては、撮像装置の検出動作である測光処理であるところのAE処理について示しており、S2300において、AE処理を開始し、次のS2310に移行する。 FIG. 9 is a flowchart illustrating a routine for performing AE processing in the imaging apparatus of the present embodiment. FIG. 9 shows the AE process which is the photometric process that is the detection operation of the imaging apparatus. In S2300, the AE process is started, and the process proceeds to the next S2310.
S2310においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S2310において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、AE処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定を行う。S2310において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材120が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS2320に移行する。 In S2310, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2310 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the AE process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2310 that the output of the strain sensor is equal to or greater than the predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2320.
S2320においては、撮像装置のファインダ表示がオン状態であるか否かの判定を行っている。S2320において、撮像装置のファインダ表示がオン状態であると判定された場合には、次のS2330に移行する。S2330においては、ファインダ表示を停止し、次のS2340に移行する。S2320において、ファインダ表示がオンではないと判定された場合には、次のS2340に移行する。 In S2320, it is determined whether or not the finder display of the imaging apparatus is in an on state. If it is determined in S2320 that the finder display of the imaging device is in the on state, the process proceeds to S2330. In S2330, the finder display is stopped and the process proceeds to the next S2340. If it is determined in S2320 that the viewfinder display is not on, then the flow shifts to the next S2340.
S2340においては、測光センサであるAEセンサの蓄積処理を開始し、次のS2350に移行する。S2350においては、再度、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。 In S2340, accumulation processing of the AE sensor that is a photometric sensor is started, and the process proceeds to the next S2350. In S2350, it is determined again whether or not the output of the strain sensor is equal to or greater than a predetermined value.
これは、検出中に光学部材120の位置に不都合が発生していないか判定するためである。 This is for determining whether any inconvenience has occurred in the position of the optical member 120 during detection.
S2350において、歪センサの出力が所定値以上でないと判定された場合には、光学部材120が所定のダウン位置にいない等の問題が発生していると判断されるため、次のS2380に移行する。S2380においては、AEセンサの蓄積処理中の問題が生じた可能性があるため、蓄積処理を中止し、前記S2310に復帰し、再度AE処理を実行する。 If it is determined in S2350 that the output of the strain sensor is not equal to or greater than the predetermined value, it is determined that a problem such as the optical member 120 not being in the predetermined down position has occurred, and the process proceeds to the next S2380. . In S2380, there may be a problem during the accumulation process of the AE sensor, so the accumulation process is stopped, the process returns to S2310, and the AE process is executed again.
S2350において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、次のS2360に移行する。S2360においては、AEセンサの蓄積処理が完了しているか否かの判定を行っている。 If it is determined in S2350 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, the process moves to the next S2360. In S2360, it is determined whether or not the accumulation process of the AE sensor is completed.
S2360において蓄積処理が完了していないと判定された場合には、蓄積制御を継続し、S2350に復帰する。S2360において、蓄積制御が完了していると判定された場合には、次のS2370に移行する。 If it is determined in S2360 that the accumulation process has not been completed, the accumulation control is continued, and the process returns to S2350. If it is determined in S2360 that the accumulation control has been completed, the process moves to the next S2370.
S2370おいては、AEセンサにて取得したデータに基づきAE演算処理を実行し、復帰する。 In S2370, AE calculation processing is executed based on the data acquired by the AE sensor, and the process returns.
図10は、本実施例の撮像装置での表示処理を行うルーチンを示すフローチャートである。 FIG. 10 is a flowchart illustrating a routine for performing display processing in the imaging apparatus of the present embodiment.
図10においては、撮像装置の表示処理について示しており、S2500において、表示処理を開始し、次のS2510に移行する。S2510においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S2510において、歪センサの出力が所定値未満であると判定された場合には、表示処理を開始する条件を満たしていないため、再度、歪センサの出力の判定行う。S2510において、歪センサの出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材120が所定の位置に位置していると判断されるため、次のS2520に移行する。S2520においては、表示処理を開始し、次のS2530に移行する。 FIG. 10 shows the display process of the imaging apparatus. In S2500, the display process is started, and the process proceeds to the next S2510. In S2510, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If it is determined in S2510 that the output of the strain sensor is less than the predetermined value, the condition for starting the display process is not satisfied, and therefore the output of the strain sensor is determined again. If it is determined in S2510 that the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the optical member 120 is located at a predetermined position, and the process proceeds to the next S2520. In S2520, display processing is started, and the process proceeds to S2530.
S2530においては、表示を開始してから所定時間経過しているか判定している。S2530において、表示を開始してから所定時間経過していないと判定された場合には、再度、表示を開始してからの経過時間判定を行う。S2530において、表示を開始してから所定時間経過していると判定された場合には、メインルーチンに復帰する。 In S2530, it is determined whether a predetermined time has elapsed since the display was started. If it is determined in S2530 that the predetermined time has not elapsed since the display was started, the elapsed time after the display is started is determined again. If it is determined in S2530 that a predetermined time has elapsed since the display was started, the process returns to the main routine.
図11は、本実施例の撮像装置での判定条件設定処理を行うルーチンを示すフローチャートである。図11においては、歪センサ出力の判定条件設定処理を示しており、S2900において、設定処理を開始し、次のS2910に移行する。S2910においては、撮像装置の温度検出を行い、次のS2920に移行する。S2920においては、検出した温度に基づき歪センサ出力の判定条件を算出し、メインルーチンに復帰する。 FIG. 11 is a flowchart illustrating a routine for performing determination condition setting processing in the imaging apparatus of the present embodiment. FIG. 11 shows a determination condition setting process for strain sensor output. In S2900, the setting process is started, and the process proceeds to the next S2910. In S2910, the temperature of the imaging device is detected, and the process proceeds to the next S2920. In S2920, a strain sensor output determination condition is calculated based on the detected temperature, and the process returns to the main routine.
上記に示すように、歪センサの出力により、撮影シーケンスを設定し、AF処理、AE処理を実行することで、撮影シーケンスの最適化を図り、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することが可能となる。 As shown above, the shooting sequence is set by the output of the distortion sensor, and AF processing and AE processing are executed to optimize the shooting sequence and improve focus tracking without changing the frame speed. Alternatively, the continuous shooting frame speed can be improved without changing the focus followability.
[実施例2]
以下に、本発明の撮像装置でミラーダウン中に表示処理を行う場合の処理について示す。
[Example 2]
Hereinafter, processing in the case where display processing is performed during mirror down in the imaging apparatus of the present invention will be described.
図4にて示した撮像装置のレリーズ処理、図6にて示した撮像装置のプレ撮像シーケンス設定処理、図7にて示した撮像装置の撮像シーケンス設定処理、図8にて示した撮像装置のAF処理、図9にて示した撮像装置のAE処理、図10にて示した撮像装置の表示処理、図11にて示した判定条件設定処理については、実施例1と同一なので説明を省略する。 Release processing of the imaging device shown in FIG. 4, pre-imaging sequence setting processing of the imaging device shown in FIG. 6, imaging sequence setting processing of the imaging device shown in FIG. 7, and of the imaging device shown in FIG. The AF process, the AE process of the imaging apparatus shown in FIG. 9, the display process of the imaging apparatus shown in FIG. 10, and the determination condition setting process shown in FIG. .
図12は、本実施例の撮像装置でのミラーダウン処理を行うルーチンを示すフローチャートである。本実施例では、ミラーダウン処理の開始と同時に表示処理を開始する場合を示している。 FIG. 12 is a flowchart illustrating a routine for performing mirror down processing in the imaging apparatus of the present embodiment. In this embodiment, the display process is started simultaneously with the start of the mirror down process.
図12においては、撮像装置のミラーダウン処理について示しており、S1520においては、ミラーダウン処理を開始し、次のS1525に移行する。 FIG. 12 shows the mirror down process of the imaging apparatus. In S1520, the mirror down process is started, and the process proceeds to the next S1525.
S1525においては、フアインダ表示を開始し、次のS1530に移行する。S1530においては、歪センサの出力が検出されたか否かの判定を行っている。S1530において、歪センサの出力が検出されない場合には、光学部材120が、ミラーダウン位置に到達していないので、次のS1532に移行する。 In S1525, the display of the finder is started, and the process proceeds to the next S1530. In S1530, it is determined whether or not the output of the strain sensor has been detected. If the output of the strain sensor is not detected in S1530, the optical member 120 has not reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1532.
S1532においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。S1532において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、S1530に復帰し、再度判定を行う。S1532において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、次のS1533に移行する。 In S1532, the elapsed time from the start of mirror down is determined. In S1532, when the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time, the process returns to S1530 and the determination is performed again. If the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time in S1532, the process proceeds to S1533.
S1533においては、エラー処理を実行し、エラー表示、復帰動作等を行った後、メインルーチンへ復帰する。 In S1533, error processing is executed, error display, return operation, and the like are performed, and then the process returns to the main routine.
S1530において、歪センサの出力が検出された場合には、光学部材120がミラーダウン位置に到達しており、次のS1540に移行する。 If the output of the strain sensor is detected in S1530, the optical member 120 has reached the mirror down position, and the process proceeds to the next S1540.
S1540においては、歪センサの出力が所定値以上であるか否かの判定を行っている。S1540において、歪センサの出力が所定値未満である場合には、光学部材120のダウン状態への位置決めが不安定な状態であり、次のS1542に移行する。 In S1540, it is determined whether or not the output of the strain sensor is greater than or equal to a predetermined value. If the output of the strain sensor is less than the predetermined value in S1540, the positioning of the optical member 120 to the down state is unstable, and the process proceeds to the next S1542.
S1542においては、ミラーダウン開始からの経過時間の判定を行っている。S1542において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間未満である場合には、S1540に復帰し、再度再度歪センサ出力の判定を行う。S1542において、ミラーダウン開始からの経過時間が所定時間以上の場合には、前記S1533に移行する。 In S1542, the elapsed time from the start of mirror down is determined. If the elapsed time from the start of mirror down is less than the predetermined time in S1542, the process returns to S1540, and the distortion sensor output is determined again. In S1542, when the elapsed time from the start of mirror down is equal to or longer than the predetermined time, the process proceeds to S1533.
S1540において、歪センサ出力が所定値以上であると判定された場合には、光学部材120が、ダウン状態に安定して保持されており、次のS1541に移行する。 If it is determined in S1540 that the strain sensor output is greater than or equal to the predetermined value, the optical member 120 is stably held in the down state, and the process proceeds to the next S1541.
S1541では、図7で示した撮影シーケンス設定処理を実行し、次のS1542に移行する。S1542においては、ファインダ表示を終了し、次のS1545に移行する。 In S1541, the shooting sequence setting process shown in FIG. 7 is executed, and the process proceeds to the next S1542. In S1542, the viewfinder display is terminated, and the process proceeds to the next S1545.
S1545においては、AFモードが追尾AFモードであるところのSERVO AFモードであるか否かの判定を行っている。S1545において、SERVO AFモードであると判定された場合には、次のS1550、S1570に移行する。S1545において、SERVO AFモードではない、ONE SHOT AFモードであると判定された場合には、S1610に移行する。 In S1545, it is determined whether or not the AF mode is the SERVO AF mode, which is the tracking AF mode. If it is determined in S1545 that the mode is the SERVO AF mode, the process proceeds to the next S1550 and S1570. If it is determined in S1545 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode, the process proceeds to S1610.
S1550においては、図8で示したAF処理を実行し、次のS1590に移行する。S1570においては、図9で示したAE処理を実行し、次のS1580に移行する。S1580においては、再度、図10で示したファインダ表示処理を実行し、次のS1590に移行する。 In S1550, the AF process shown in FIG. 8 is executed, and the flow proceeds to the next S1590. In S1570, the AE process shown in FIG. 9 is executed, and the process proceeds to the next S1580. In S1580, the finder display process shown in FIG. 10 is executed again, and the process proceeds to the next S1590.
S1590においては、すべての処理が完了した時点で、次のS1625に移行する。S1610からS1620は、S1545でSERVO AFモードではない、ONE SHOT AFモードであると判定された場合のファインダ表示処理、AE処理を示している。 In S1590, when all the processes are completed, the process proceeds to S1625. S1610 to S1620 show finder display processing and AE processing when it is determined in S1545 that the mode is not the SERVO AF mode but the ONE SHOT AF mode.
S1610においては、図9で示したAE処理を実行し、次のS1620に移行する。S1620においては、再度、図10で示したファインダ表示処理を実行し、S1625に移行する。 In S1610, the AE process shown in FIG. 9 is executed, and the process proceeds to the next S1620. In S1620, the finder display process shown in FIG. 10 is executed again, and the process proceeds to S1625.
S1625においては、撮像装置がコマ速安定モードに設定されているか否かの判定を行っている。S1625において、撮像装置がコマ速安定モードに設定されていると判定された場合には、AF処理、AE処理の開始タイミングに寄らずコマ速を安定させ、検出時間を延長して確保する設定となっており、次のS1630に移行する。 In S1625, it is determined whether or not the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode. If it is determined in S1625 that the imaging apparatus is set to the frame speed stable mode, the frame speed is stabilized regardless of the start timing of the AF processing and AE processing, and the detection time is extended and secured. Therefore, the process proceeds to the next S1630.
S1630においては、連写のコマ速を安定させるコマ速安定タイマーが完了しているか否かの判定を行っている。S1630において、コマ速安定タイマーが完了していないと判定された場合には、前述のS1545に復帰し、再度、AF処理、AE処理等を実行する。S1630において、コマ速安定タイマーが完了していると判定された場合には、メインルーチンへ復帰する。 In S1630, it is determined whether or not the frame speed stabilization timer for stabilizing the continuous shooting frame speed has been completed. If it is determined in S1630 that the frame speed stabilization timer has not been completed, the process returns to S1545 described above, and AF processing, AE processing, etc. are executed again. If it is determined in S1630 that the frame speed stabilization timer has been completed, the process returns to the main routine.
S1625において、撮像装置がコマ速優先モードに設定されていると判定された場合には、検出に用いる時間を安定させ撮影コマ速を向上させる様に設定されており、次のS1635に移行する。 If it is determined in S1625 that the imaging device is set to the frame speed priority mode, the time used for detection is set to be stable and the shooting frame speed is improved, and the process proceeds to the next S1635.
S1635においては、歪検出時間が所定時間継続しているか否かの判定を行っている。S1635において。歪検出時間が所定時間継続していないと判定された場合には、前述のS1545に復帰し、再度、AF処理、AE処理等を実行する。S1635において、歪検出時間が所定時間継続していると判定された場合には、メインルーチンに復帰する。 In S1635, it is determined whether or not the strain detection time continues for a predetermined time. In S1635. If it is determined that the distortion detection time has not continued for a predetermined time, the process returns to S1545 described above, and AF processing, AE processing, and the like are executed again. If it is determined in S1635 that the strain detection time has continued for a predetermined time, the process returns to the main routine.
上記に示すように、表示処理をあらかじめミラーダウン中に行うことで、実施例1よりも表示時間を長く設定することができ、コマ速を変化させずにピントの追従性を向上する、或いは、ピントの追従性を変化させずに連写コマ速を向上することが可能となると共に、表示の視認性も確保できる。 As shown above, by performing the display process during the mirror-down in advance, the display time can be set longer than in the first embodiment, and the focus followability can be improved without changing the frame speed, or The continuous shooting frame speed can be improved without changing the focus followability, and the display visibility can be secured.
101,121 撮影レンズ
103 主ミラー
104 サブミラー
103b/104b 係止部材
103c/104c 検出部
108,119 焦点検出装置
115 イメージセンサ(焦点検出センサ)
117 マイコン
120 光学部材(主ミラー/サブミラー等)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101,121 Shooting lens 103 Main mirror 104 Sub mirror 103b / 104b Locking member 103c / 104c Detection part 108,119 Focus detection apparatus 115 Image sensor (focus detection sensor)
117 Microcomputer 120 Optical member (main mirror / sub mirror, etc.)
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