JP2014517505A - 部分的な反射位置マークを有する基板を使用したリソグラフィシステムにおける位置決定 - Google Patents
部分的な反射位置マークを有する基板を使用したリソグラフィシステムにおける位置決定Info
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Abstract
Description
Claims (42)
- ウェーハのようなターゲットを処理するためのリソグラフィシステムであって、
基板を具備し、
前記基板には、少なくとも部分的な反射位置マークが設けられ、前記位置マークは、複数の構造のアレイを有し、前記アレイは、前記マークの長手方向に沿って延び、
前記複数の構造は、前記長手方向に沿って前記マークの反射率を変化させるように構成され、
前記反射率は、所定の波長に対して決定され、
前記システムは、
前記所定の波長のアライメントビームを与えるように構成されたアライメントビーム源と、
反射されたアライメントビームの強度を決定するように構成されたアライメント強度検出器とを具備し、前記反射されたアライメントビームは、前記位置マーク上での前記ビームの反射によって発生され、
前記位置マーク上に前記アライメントビームを集束させて、前記反射されたアライメントビームを前記アライメントビーム強度検出器上に導くように構成された光学系を具備し、
前記アライメントビーム強度検出器は、前記反射されたアライメントビームのゼロ次反射のアライメントビーム強度を検出するように構成されているリソグラフィシステム。 - リソグラフィシステムは、前記基板を有し、
前記アレイの第1の構造と前記第1の構造に隣接している前記アレイの第2の構造との間のピッチは、前記第2の構造と前記第2の構造に隣接している前記アレイの第3の構造との間のピッチとは異なる請求項1のリソグラフィシステム。 - 前記長手方向に沿った隣接している構造間のピッチは、前記長手方向に沿った前記構造の位置の正弦関数に従う請求項1又は2のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造は、前記前記長手方向に沿った前記マークの鏡面反射の、即ち、ゼロ次反射率を変化させるように構成されている請求項1ないし3のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造は、前記マーク内の高次の回折の複数の反射によって前記高次の回折を実質的に吸収するように構成されている請求項1ないし4のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造の各々は、前記長手方向に沿った幅を有し、
前記幅は、前記所定の波長未満であり、
前記長手方向に沿った隣接している構造間の距離は、前記所定の波長未満である請求項1ないし5のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記基板は、ウェーハを有し、
好ましくは、前記位置マークは、前記ウェーハに引いた少なくとも1つの線上に設けられている請求項1ないし6のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記複数の構造は、前記長手方向に沿って等間隔に離間された点にアライメントされている請求項1ないし7のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造の第1の構造は、前記長手方向に沿って、前記複数の構造の第2の構造とは異なる幅を有する請求項6のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造は、実質的に同一の寸法を有し、
前記複数の構造は、好ましくは、矩形の形状を有する請求項1ないし8のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記マークの前記長手方向に沿った隣接している構造間の距離は、1つの構造の幅に実質的に等しい請求項10のリソグラフィシステム。
- 前記長手方向に沿った隣接している構造間の最大距離は、多くとも610nm、好ましくは590nmないし610nmの範囲内に、好ましくは、600nmに実質的に等しい請求項11のリソグラフィシステム。
- 前記基板上にビームスポットを発生させるために前記基板上に光ビームを出射するように構成され、
前記光ビームは、前記所定の波長に等しい波長を有し、
前記長手方向に沿った隣接している構造の間の最大距離は、多くとも、前記ビームの直径に等しい請求項1ないし12のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記光ビームは、実質的にガウス分布を有する請求項13のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造は、前記長手方向に沿って繰り返す周期的な構造パターンを形成し、
前記パターンの周期は、前記ビームスポットの前記直径よりも大きく、好ましくは、少なくとも2倍である請求項1ないし14のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記周期的な構造パターンは、2マイクロメートルの周期である請求項15のリソグラフィシステム。
- 隣接している構造間のピッチは、前記ビームスポットの直径以下である請求項13ないし16のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造は、前記長手方向に沿った前記位置マーク上のビームスポットの位置の正弦関数として前記反射率を変化させるように、寸法合わせされ、配置されている請求項13ないし17のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記基板は、単一の材料でできた一体的なユニットとして形成されている請求項1ないし18のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造の第1の構造は、第1の材料を含み、
前記複数の構造の第2の構造は、前記第1の材料とは異なる反射率を有する第2の材料を含む請求項1ないし18のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記波長に対する前記位置マークの領域の最大反射率は、実質的に1に等しい請求項1ないし20のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記複数の構造は、サブ波長構造を有する請求項1ないし21のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 前記長手方向に沿って前記光学系に対して前記ターゲットを移動させるように構成されたターゲットキャリアをさらに具備し、前記基板は、前記ターゲットキャリアと前記ターゲットとの少なくとも一方に設けられ、
前記反射されたアライメントビームの前記検出された強度に基づいて前記光学系に対する基板のアライメントと位置との少なくとも一方を決定するように構成されたプロセスユニットをさらに具備する請求項1ないし22のいずれか1のリソグラフィシステム。 - 前記基板は、前記ターゲットキャリア上に前記ビームスポットの位置を決定するかアライメントするかの少なくとも一方をするように、前記ターゲットキャリアの縁部に設けられている請求項23のリソグラフィシステム。
- 前記ターゲット上に少なくとも1つの露光ビームを投影するように構成された鏡筒をさらに具備し、前記光学系は、前記鏡筒に取り付けられている請求項23又は24のリソグラフィシステム。
- 前記鏡筒は、前記ターゲット上に多数の荷電粒子露光ビームを投影するように構成され、
前記光学系は、前記鏡筒の下流側の部分に、又はその近くに、好ましくは、その外側の露光ビームに対して100マイクロメートルの距離内に装着されている請求項25のリソグラフィシステム。 - 少なくとも使用中、前記光学系は、前記基板から2mm以下の距離に配置されている請求項21ないし26のリソグラフィシステム。
- 前記光学系は、前記基板に実質的に垂直な前記基板上に前記アライメントビームを投影するように構成されている請求項21ないし27のいずれか1のリソグラフィシステム。
- 請求項1ないし28のいずれか1のリソグラフィシステムで前記基板の前記位置マークに前記アライメントビームの位置を決定するように構成された位置決め装置であって、
前記所定の波長の前記アライメントビームを与えるように構成された前記アライメントビーム源と、
前記反射されたアライメントビームの強度を決定するように構成された前記アライメントビーム強度検出器とを具備し、前記反射されたアライメントビームは、前記位置マーク上に前記アライメントビームの反射によって発生され、
前記位置マークに前記アライメントビームを集束し、前記アライメントビーム強度検出器に前記反射されたアライメントビームを導くように構成された光学系を具備し、
前記アライメントビーム強度検出器は、前記反射された値面とビームの0次の反射に対するビーム強度を検出するように構成され、また、前記検出されたアライメントビーム強度を示す信号を与えるように構成されている位置決め装置。 - 請求項1ないし28のいずれか1のリソグラフィシステムで使用するための基板。
- 前記基板は、部分的な反射面を有し、
前記表面は、実質的に一定の反射率を有し、前記長手方向に沿った前記マークの反射係数を変化させるように、アライメントビーム吸収構造が設けられている請求項30の基板。 - 前記マークの前記長手方向に沿った隣接しているアライメントビーム吸収構造間の距離は、1つの構造の幅に実質的に等しい請求項31の基板。
- 前記ビーム吸収構造は、実質的に同一の寸法を有し、
前記構造は、好ましくは、矩形の形状を有する請求項31又は32の基板。 - 前記ビームアライメント吸収構造は、サブ波長構造を有する請求項31ないし33のいずれか1の基板。
- 前記基板には、少なくとも部分的な反射位置マークが設けられ、前記マークは、複数の構造のアレイを有し、前記アレイは、前記マークの長手方向に沿って延び、
前記複数の構造は、前記長手方向に沿って前記マークの反射率を変化させるように構成され、
前記反射率は、所定の波長に対して決定される請求項30の基板。 - 前記アレイの第1の構造と前記第1の構造に隣接している前記アレイの第2の構造との間のピッチは、前記第2の構造と前記第2の構造に隣接している前記アレイの第3の構造との間のピッチとは異なる請求項35の基板。
- 前記長手方向に沿った隣接している構造間のピッチは、前記長手方向に沿った前記構造の位置の正弦関数に従う請求項35又は36の基板。
- 前記基板は、サブ波長構造を有する請求項35ないし37のいずれか1の基板。
- 前記複数の構造は、前記長手方向に沿った前記位置マークの前記反射率を滑らかに変化させるように構成されている請求項37又は38の基板。
- 請求項1ないし27のいずれか1のリソグラフィシステムで基板上にビームスポットのアライメントと位置との少なくとも一方を決定するための方法であって、
前記基板上に前記ビームスポットを発生させるために、光ビームで前記基板を照射することと、
前記光ビームの0次の反射の強度を検出することと、
前記検出された強度に基づいて、前記ビームスポットに対する基板の位置とアライメントとの少なくとも一方を決定することとを具備する方法。 - さらなる測定システムを使用して前記基板の位置を測定する工程をさらに具備し、
前記基板の位置とアライメントとの少なくとも一方は、さらに、前記さらなる測定システムによる測定に基づいて決定される請求項40の方法。 - 前記ビームスポットの直径は、前記長手方向に沿った隣接している構造間の最大距離以上である請求項40又は41の方法。
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