JP2014215173A - Maldiイオントラップ質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数のm/zを有するイオンについてそれぞれイオントラップ20で最良の捕捉効率を与えるサンプルプレート電圧を予め求め、これを対照テーブル42に格納しておく。実際の測定に際し測定対象イオンのm/zが指定されると、サンプルプレート電圧制御部41は対照テーブル42から読み出したデータに基づき補間処理を行うことで、目的のm/zに対応する最適サンプルプレート電圧を求める。そして、サンプルS中の試料成分をイオン化するべくレーザ光を照射する際に、サンプルプレート電圧発生部48は指示された電圧をサンプルプレート12に印加する。これにより形成される電場の作用で目的のm/zのイオンは適切なタイミングでイオントラップ20に入射し、効率良く捕捉される。
【選択図】図1
Description
a)前記サンプルプレートに電圧を印加する電圧印加部と、
b)前記イオントラップでのイオン捕捉効率が最良又はそれに近い状態になるように定められた質量電荷比とサンプルプレート電圧との関係を示す情報が記憶された情報記憶部と、
c)前記情報記憶部に記憶されている前記情報を利用して測定対象であるイオンの質量電荷比に応じたサンプルプレート電圧を導出し、それに基づいて前記電圧印加部を制御する制御部と、
を備えることを特徴としている。
前記情報記憶部に記憶されている情報は、複数の質量電荷比とサンプルプレート電圧との対応関係を示す情報であり、
前記制御部は、前記情報記憶部に記憶されている情報に基づく補間処理により測定対象であるイオンの質量電荷比に応じたサンプルプレート電圧を導出する構成とするとよい。
そこで、本発明に係るMALDIイオントラップ質量分析装置では、
前記情報記憶部には、サンプルを調製する際に使用されるマトリクスの種類毎に、質量電荷比とサンプルプレート電圧との関係を示す情報が記憶されている構成とすることが好ましい。
図1は本実施例によるMALDI−QIT−TOFMSの全体構成図である。
サンプルSに短時間レーザ光を照射する時点で、制御部40の制御の下に、サンプルプレート電圧発生部48は試料ステージ11を介してサンプルプレート12に所定の正の直流電圧Vsp1(又はVsp2)を印加する。また、図示しない電圧発生部はイオン輸送光学系14、19には高周波電圧と負の所定の直流電圧Veとを加算した電圧を印加する。さらにまた、イオントラップ電圧発生部47はリング電極21に印加する高周波電圧を一時的に0[V]にし、入口側エンドキャップ電極22にはイオンと逆極性である負の所定電圧Veci(ただし|Veci|<|Ve|)を印加し、出口側エンドキャップ電極23にはイオンと同極性である正の所定電圧Vecoを印加しておく。この状態でレーザ照射部15から出射されたレーザ光が短時間サンプルSに照射されると、サンプルSに含まれるマトリクスが試料成分を伴って気化し、それによって試料成分がイオン化される。
ここでは、測定対象である化合物をペプチドとし、図3に示したような質量電荷比の離れた6種類のペプチドを用いた。サンプル調製のためのマトリクスとしては、ごく一般的に使用される固体マトリクスであるCHCA(α-Cyano-4-hydroxycinnamic acid)と、高感度分析等を目的として近年使用されることが増えている液体マトリクスの一つである3AQ/CHCA(3-aminoquinoline/α-Cyano-4-hydroxycinnamic acid)と、の2種類を使用した。また、使用したサンプルプレート12はステンレス製の2[mm]厚プレートである。使用した装置は株式会社島津製作所製のMALDIデジタルイオントラップ飛行時間型質量分析計である。この質量分析計では、測定対象である質量電荷比範囲が4つに分割されており、今回の測定ではその中の「測定モード2」と呼ばれる測定対象の質量電荷比範囲m/z 650-3800を用いた。
11…試料ステージ
12…サンプルプレート
13…アパーチャ
14、19…イオン輸送光学系
15…レーザ照射部
16、17…反射鏡
18…撮像部
20…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…出口側エンドキャップ電極
24…イオン入射口
25…イオン出射口
30…飛行時間型質量分析部
31…飛行空間
32…反射器
33…イオン検出器
40…制御部
41…サンプルプレート電圧制御部
42…サンプルプレート電圧対照テーブル
43…入力部
44…表示部
45…データ処理部
46…TOF部電圧発生部
47…イオントラップ電圧発生部
48…サンプルプレート電圧発生部
Claims (3)
- 導電性のサンプルプレート上に形成されたサンプルにレーザ光を照射することで該サンプル中の試料成分をイオン化し、発生したイオンをイオントラップに導入しその内部に一旦捕捉したあとに質量分析するMALDIイオントラップ質量分析装置において、
a)前記サンプルプレートに電圧を印加する電圧印加部と、
b)前記イオントラップでのイオン捕捉効率が最良又はそれに近い状態になるように定められた質量電荷比とサンプルプレート電圧との関係を示す情報が記憶された情報記憶部と、
c)前記情報記憶部に記憶されている前記情報を利用して測定対象であるイオンの質量電荷比に応じたサンプルプレート電圧を導出し、それに基づいて前記電圧印加部を制御する制御部と、
を備えることを特徴とするMALDIイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1に記載のMALDIイオントラップ質量分析装置であって、
前記情報記憶部に記憶されている情報は、複数の質量電荷比とサンプルプレート電圧との対応関係を示す情報であり、
前記制御部は、前記情報記憶部に記憶されている情報に基づく補間処理により測定対象であるイオンの質量電荷比に応じたサンプルプレート電圧を導出することを特徴とするMALDIイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載のMALDIイオントラップ質量分析装置であって、
前記情報記憶部には、サンプルを調製する際に使用されるマトリクスの種類毎に、質量電荷比とサンプルプレート電圧との関係を示す情報が記憶されていることを特徴とするMALDIイオントラップ質量分析装置。
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