JP2014183578A - クロック・データ・リカバリ装置及びその方法 - Google Patents

クロック・データ・リカバリ装置及びその方法 Download PDF

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Abstract

【課題】従来よりも改良されたクロック・データ・リカバリ装置を提供する。
【解決手段】複数の位相検出回路110a〜110nと加算回路112とを備えたクロック・データ・リカバリ装置に関する。各位相検出回路110a〜110nは、1対のデータサンプルとそれらの間の遷移サンプルとに応じてフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とを生成してもよい。加算回路112は、複数の位相検出回路110a〜110nのフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とに応じて調整信号を生成してもよい。フェーズアップ信号の和とフェーズダウン信号の和とに重み付けを行って位相調整にバイアスをかける。
【選択図】図2

Description

本発明は、データリカバリに関し、特に、クロック・データ・リカバリ用のバイアスバングバング型位相検出器に関する。
クロック・データ・リカバリ(CDR)回路は、シリアライザ/デシリアライザ(SerDes)通信路において受信側の重要な部分となる。CDR回路は、平均二乗誤差(MSE)を最小化するような基準に基づいてサンプリングクロックの位相を追従するために用いられる。CDR回路は、約1E−12又は1E−15の超低目標ビット・エラー・レート(BER)を実現できるくらい十分に動作することが重要である。一般に用いられるCDR回路は、ボーレート型CDRとバングバング型CDRの2種に大別することができる。それぞれに利点と欠点がある。
バングバング(又は、アレキサンダー)型CDRでは、ユニットインターバル(UI)とも呼ばれるシンボル期間ごとに2回、受信信号をサンプリングする。一方のサンプルがクロス境界上に位置し、他方のサンプルが受信側データアイの中心に位置することが理想的である。連続したデータサンプル2つ(V[K−1]及びV[K])と、この2つのデータサンプルの間の遷移(又は、クロッシング)サンプル1つ(V[K−1/2])とを用いて、現在のサンプリング位相が理想的なサンプリング位置から遅れているのか進んでいるのかを判断する。そして、サンプリング位相をそれに応じて修正する。従来のバングバング型位相検出器(BBPD)を用いたCDR回路では、遷移サンプリングクロックの位相は収束後のジッタ分布の中央値で安定する。
本発明は、従来よりも改良されたクロック・データ・リカバリ装置を提供する。
本発明は、複数の位相検出回路と加算回路とを備えたクロック・データ・リカバリ装置に関する。各位相検出回路は、1対のデータサンプルとそれらの間の遷移サンプルとに応じてフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とを生成してもよい。加算回路は、複数の位相検出回路のフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とに応じて調整信号を生成してもよい。フェーズアップ信号の和とフェーズダウン信号の和とに重み付けを行って位相調整にバイアスをかける。
つまり、本発明に係るクロック・データ・リカバリ装置の一形態は、1対のデータサンプルとそれらの間の遷移サンプルとに応じてフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とをそれぞれが生成する複数の位相検出回路と、前記複数の位相検出回路の前記フェーズアップ信号と前記フェーズダウン信号とに応じて調整信号を生成する加算回路とを備え、前記フェーズアップ信号の和と前記フェーズダウン信号の和とに重み付けを行って位相調整にバイアスをかける。
ここで、前記バイアスは、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定されてもよい。
また、前記調整信号は、第1制御パラメータで重み付けられた前記フェーズアップ信号の和と第2制御パラメータで重み付けられた前記フェーズダウン信号の和との差分に基づいてもよい。
また、前記フェーズアップ信号は第1制御パラメータで重み付けられ、前記フェーズダウン信号は第2制御パラメータで重み付けられ、前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとの比は内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定されてもよい。
また、さらに、前記調整信号に従って遷移サンプリングクロックの位相を調整するループフィルタ兼クロック生成回路を備えてもよい。
また、さらに、受信信号とデータサンプリングクロックとに応じて前記データサンプルを生成する、少なくとも1つのデータ検出器と、前記受信信号と遷移サンプリングクロックとに応じて前記遷移サンプルを生成する、少なくとも1つの遷移検出器とを備え、前記遷移サンプリングクロックの位相は前記調整信号に従って調整されてもよい。
また、さらに、受信信号とデータサンプリングクロックとに応じて前記データサンプルを生成する、少なくとも1つのデータ検出器と、前記受信信号と遷移サンプリングクロックとに応じて前記遷移サンプルを生成する、少なくとも1つの遷移検出器と、前記調整信号に従って前記遷移サンプリングクロックの位相を調整するループフィルタ兼クロック生成回路を備えてよい。
また、本発明に係るクロック・データ・リカバリ装置の別の形態は、データサンプリングクロックに応じて検出データを生成する第1サンプリング回路と、遷移サンプリングクロックに応じて遷移データを生成する第2サンプリング回路と、前記検出データと、前記遷移データと、第1制御パラメータと、第2制御パラメータとに応じて第1位相調整信号と第2位相調整信号とを生成する位相検出回路とを備え、前記遷移サンプリングクロックの位相が収束後に安定する位置は、受信側アイのジッタ分布の中央値に対し、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づく偏りがあってもよい。
ここで、バイアス量は、目標ビット・エラー・レート(BER)に基づいて選択されてもよい。
また、前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとはプログラム可能であってもよい。
また、前記第1制御パラメータにより、前記遷移サンプリングクロックの位相を増加させるための閾値が設定され、前記第2制御パラメータにより、前記遷移サンプリングクロックの位相を減少させるための閾値が設定されてもよい。
また、前記位相検出回路は、前記遷移サンプリングクロックの位相を増加させるための第1制御信号と前記遷移サンプリングクロックの位相を減少させるための第2制御信号とを生成するオーバーサンプル型位相検出器と、前記第1制御信号に応じて第1フィルタ処理済制御信号を生成する第1累積器と、前記第2制御信号に応じて第2フィルタ処理済制御信号を生成する第2累積器と、前記第1フィルタ処理済制御信号と前記第1制御パラメータとに応じて第1位相調整信号を生成する第1比較器と、前記第2フィルタ処理済制御信号と前記第2制御パラメータとに応じて第2位相調整信号を生成する第2比較器とを備えてもよい。
また、本発明に係るクロック・データ・リカバリの方法の一形態は、受信側のクロック・データ・リカバリ・モジュールの位相検出器にバイアスをかける方法であって、データサンプリングクロックに応じて検出データを生成する検出データ生成ステップと、遷移サンプリングクロックに応じて遷移データを生成する遷移データ生成ステップと、前記検出データと、前記遷移データと、第1制御パラメータと、第2制御パラメータとに応じて位相調整信号を生成する位相調整信号生成ステップとを含み、前記遷移サンプリングクロックの位相が収束後に安定する位置は、受信側アイのジッタ分布の中央値に対し、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づく偏りがあってもよい。
ここで、前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとの比は、前記内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定されてもよい。
また、前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとの比は、シンボル期間内の目標設定位置に基づいて適宜設定されてもよい。
本発明により、従来よりも改良されたクロック・データ・リカバリ装置が提供される。
本発明の実施形態は、後述の詳細な説明、並びに、添付された特許請求の範囲及び図面から明らかになる。
図1は、本発明の実施形態を実現する通信路を示す図である。 図2は、本発明の実施形態に係るバングバング型位相検出器(BBPD)の例を示す図である。 図3は、図2のBBPDの入出力関係を示す表である。 図4は、本発明の実施形態に係る、遷移サンプリングクロックの位相を受信側データアイの内側右端にロックするバングバング型位相検出器(BBPD)の例を示す図である。 図5は、遷移サンプリングクロックの位相をデータアイの内側左端にロックする図4のBBPDを示す図である。 図6は、本発明の実施形態に係るバングバング型位相検出器の様々な閾値設定におけるゲインと位相誤差との関係を示す図である。 図7は、受信側データアイの内側左端で安定する遷移サンプリング位相を示す図である。 図8は、受信側データアイの内側右端で安定する遷移サンプリング位相を示す図である。 図9は、様々な閾値における遷移サンプリングクロックの位相の位相収束挙動を示す図である。
2013年3月15日出願の米国仮特許出願第61/790,046号明細書の全内容が、ここに参考文献として援用される。
本発明の実施形態は、クロック・データ・リカバリ(CDR)に適用されるバイアスバングバング型位相検出器(BBPD)を実装する方法及び/又は装置を含む。本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器では、通常、1対の制御パラメータによって、受信側データアイの内側右端又は内側左端に収束を偏らせることができる。実施形態では、制御パラメータを特定値に設定することにより、所望のビット・エラー・レート(BER)で受信側データアイの内側左端又は内側右端に遷移サンプリングクロックの位相をロックする。また、実施形態では、制御パラメータ2つの比率を所望のBERに従って設定する。
図1は、本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器(BBPD)を備えたシリアライザ/デシリアライザ(SerDes)通信路90のブロック図である。SerDes通信路90では、例えば、磁気記録システムの背面板又はドライブヘッドなどの物理的な伝送媒体によるチャネル障害が生じる。ある実施形態では、通常、通信路90は所定のボーレートで動作する。図1に示す実施例では、伝送路92を通る前に、伝送FIR(finite impulse response)フィルタ(TXFIR)91を通って任意選択的に信号搬送データ(例えば、DATA)を等化、又は、フィルタ処理する。伝送路92を通過した後、受信イコライザ(RXEQ)93によって任意選択的に受信信号をフィルタ処理、又は、等化してもよい。RXEQ 93は、例えば、連続時間フィルタとして実装されてもよい。RXEQ93の出力信号は、データサンプリングクロック信号(例えば、D_CLK)を用いるスイッチ94と遷移(又は、クロッシング)サンプリングクロック信号(例えば、T_CLK)を用いるスイッチ95とによりボーレートでサンプリングされる。
ある実施形態では、データ検出器96(又は、スライサー)は、クロックD_CLKを用いて、スイッチ94からのサンプルを2値化し、この2値化サンプルを閾値(例えば、ゼロ)と比較する。このデータ検出器96は、データサンプリングクロックに応じて検出データを生成する第1サンプリング回路の一例である。クロッシング検出器97(又は、スライサー)は、クロックT_CLKを用いて、スイッチ95からのサンプルを2値化し、この2値化サンプルを閾値(例えば、ゼロ)と比較する。このクロッシング検出器97は、遷移サンプリングクロックに応じて遷移データを生成する第2サンプリング回路の一例である。サンプリングクロック(又は、位相)D_CLK及びT_CLKは、それぞれ、データ検出器96で生成された検出データ(例えば、DETECTED DATA)及び遷移検出器97で生成された遷移データ(例えば、TRANSITION DATA)に基づき、クロック・データ・リカバリ(CDR)回路100によって生成される。ある実施形態では、回路100は、ブロック(又は、回路)102とブロック(又は、回路)104とを備える。実施形態では、ブロック102は、本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器(BBPD)回路を実装し、ブロック104は、クロック・データ・リカバリのループフィルタ兼クロック生成回路を実装する。
一般に、受信信号波形の位相は不明であり、元のデータを伝送した周波数と受信側の公称サンプリングクロック周波数との間に周波数オフセットが存在する可能性がある。ある実施形態におけるCDR回路100の機能は、サンプリングされた波形がデータ検出器96を通過する際に、伝送信号の位相及び周波数が不明という事実にもかかわらずデータを正確に再生できるよう受信信号のアナログ波形を正確にサンプリングすることである。CDR回路100は、適応フィードバック回路であることが多く、受信信号波形をサンプリングして正確なデータ検出ができる修正済再生クロックを生成するために、フィードバックループにより公称クロックの位相及び周波数を調整する必要がある。
ある実施形態では、データ検出器96は、スライサー(例えば、振幅閾値に基づく判定装置)、又は、シーケンス検出器などのより複雑な検出器として実装される。高速アプリケーションの場合、データ検出器96は、CDR回路100からのデータサンプリングクロックD_CLKをクロック信号とするスライサーとして実装されることが多い。ある実施形態では、データ信号のサンプリングに加え、データ検出器96は、サンプリングされたアナログ値とスライサーの閾値(例えば、S)とに基づいて信号を「1」か「0」の2値に原則的に量子化する。時間Kにおけるデータ検出器96の入力をW(K)とすると、データ検出器96の出力(例えば、V(K))は以下の式で与えられる。
V(K)=1 (W(K)>Sの場合)
=0 (そうでない場合)
実施形態におけるCDR回路100は、位相検出器(PD)、ループフィルタ、クロック生成回路などいくつかの構成要素を備えてもよい。図1に示すように、例として、CDR回路100は、バイアスバングバング型位相検出器(BBPD)回路として実装される位相検出器102と、CDRのループフィルタ兼クロック生成器(デジタルループフィルタ)として実装されるループフィルタ104とを備える。バイアスBBPD102は、いくつかの数量を処理して受信信号をサンプリングするのに必要なタイミング調整値を概算する。データサンプリングクロックD_CLKのタイミングは、データサンプリング位相調整信号(例えば、D_ADJ)により調整される。ある実施形態では、データサンプリングクロックのタイミングは従来技術を用いて調整される。遷移サンプリングクロックT_CLKのタイミングは、信号(例えば、T_ADJ)により調整される。遷移サンプリングクロックT_CLKは、普通、データサンプリングクロックD_CLKからボー期間の1/2分ずれる。実施形態における遷移サンプリングクロックのタイミングは、下記の技術を用いて調整される。
ある実施形態では、BPD102から出力されるタイミング調整値をCDRループ104によってフィルタ処理した後に、サンプリングクロックD_CLK及びT_CLKの位相を調整する。クロックD_CLK及びクロックT_CLKは、通常、対になっている(例えば、D_ADJはT_ADJに等しい)。BBPD102の場合、検出データをサンプリングするためのデータサンプリングクロックと、遷移データをサンプリングするための、データサンプリングクロックからボー期間の1/2前後分ずれた遷移サンプリングクロックとの少なくとも2つが必要である。遷移データがV(K)に対し約1/2期間分位相がずれてサンプリングされることを示すために、遷移サンプルデータはV(K−1/2)と表される。また、BBPD102は、検出データの1ボー期間分遅延したもの(例えば、V(K−1))も使用する(図1には特に図示していない)。ある実施形態では、遅延データV(K−1)をBBPD102でV(K)から内部的に作成できる。実施形態におけるBBPD102の入出力関係には、図3に示すルックアップテーブルの特徴がある。BBPD102は、1ボー期間あたり1以上のサンプルであるため、オーバーサンプル型位相検出器に分類される。
図2は、本発明の実施形態に係る図1の回路100の実施例を示すブロック図である。ある実施形態では、回路102は、複数のブロック(又は、回路)110a〜110nと、ブロック(又は、回路)112とを備える。回路110a〜110nはそれぞれ、1対のデータサンプルとそれらの間の遷移サンプルとに応じてフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とをそれぞれが生成する位相検出回路の一例であり、オーバーサンプル(バングバング)型位相検出器(PD)として実装されてもよい。回路110aは、1対の信号(例えば、UP1・DN1)を出力してもよい。同様に、回路110bは、1対のフェーズアップ信号及びフェーズダウン信号(例えば、UP2・DN2)を出力してもよい。回路110c〜110nはそれぞれ、1対のフェーズアップ信号及びフェーズダウン信号(例えば、UP3・DN3、〜、UPn・DNn)を出力してもよい。回路112は、複数の位相検出回路110a〜110nと1対の制御パラメータ(例えば、TUP及びTDN)とに基づき、複数の位相調整信号(例えば、UP1/DN1〜UPn/DNn)に応じた信号T_ADJを出力してもよい。
回路112は、複数の位相検出回路のフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とに応じて調整信号を生成する加算回路の一例であり、回路110a〜110nの各出力を組み合わせて信号T_ADJを生成してもよい。回路110a〜110nの出力を組み合わせることにより、回路112は、回路110a〜110nで行われた位相判定をn個のシンボル期間分統合する。つまり、回路112は、フェーズアップ信号の和とフェーズダウン信号の和とに重み付けを行って位相調整にバイアスをかける。ある実施形態におけるブロック112の入出力関係は、以下の式で表すことができる。
Figure 2014183578
実施形態では、信号T_ADJを用いて、遷移サンプリングクロックの位相を直接制御する。ある実施形態では、信号T_ADJを用いて、遷移サンプリングクロックの位相をCDRループ104を介して制御する。
図3は、図2の位相検出器102の入出力関係を示すルックアップテーブル200の図である。値ρは、目標ビット・エラー・レート(BER)に基づくものである。目標BERは、制御パラメータTUPと制御パラメータTDNの比で設定される(例えば、TUP/TDN)。つまり、第1制御パラメータと第2制御パラメータとの比は、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定される。制御パラメータTUPが制御パラメータTDNより大きい場合、遷移サンプリングクロックの位相は受信側アイの内側右端の方に偏る。制御パラメータTUPと制御パラメータTDNとを等しく設定することにより、回路112は、従来のバングバング型位相検出器のように動作することができる。
図4及び図5は、本発明の実施形態に係る図1のバイアスバングバング型位相検出器(BBPD)102の別の実施例を示す回路102’の図である。BBPD102’の正負の閾値設定により、遷移サンプリングクロックの位相を受信側アイの内側右端(図4)の方に偏らせるか、受信側アイの内側左端(図5)の方に偏らせることができる。
ある実施形態におけるバイアスバングバング型位相検出器102’は、オーバーサンプル型位相検出器(PD)120と、アップ判定累積ブロック(ACC_UP)122と、ダウン判定累積ブロック(ACC_DN)124と、比較ブロック126と、比較ブロック128とを備える。累積ブロック122及び124は、位相検出器120からの位相調整判定(例えば、UP又はDN)をシンボル期間分(例えば、8期間分、16期間分など)統合する。累積ブロック122は、第1制御信号に応じて第1フィルタ処理済制御信号を生成する第1累積器の一例である。累積ブロック124は、第2制御信号に応じて第2フィルタ処理済制御信号を生成する第2累積器の一例である。比較ブロック126は、第1フィルタ処理済制御信号と第1制御パラメータとに応じて第1位相調整信号を生成する第1比較器の一例であり、アップ判定の累積値が所定の正の閾値(例えば、T_POS)を超えている(例えば、T_POSより大きい)かどうかを判断する。比較ブロック128は、第2フィルタ処理済制御信号と第2制御パラメータとに応じて第2位相調整信号を生成する第2比較器の一例であり、ダウン判定の累積値が所定の負の閾値(例えば、T_NEG)を超えている(例えば、T_NEGより小さい)かどうかを判断する。ブロック126の出力とブロック128の出力とを用いて、遷移サンプリングクロックの位相を調整する。例えば、ある実施形態では、ブロック126の出力を用いて位相補間コード(例えば、PI)をインクリメントし、ブロック128の出力を用いて位相補間コードPIをデクリメントする。実施形態では、遷移サンプリングクロックの位相を位相補間コードに応じて選択してもよい。例えば、ある実施形態では、電圧制御発振器(VCO)と位相補間回路(PI)又は位相選択回路(PSC)とをCDRのループフィルタ兼クロック生成モジュール(例えば、図1のブロック104)の一部として実装してもよい。VCOは、位相補間コードに従って遷移サンプリングクロックを生成するために、位相補間回路又は位相選択回路で用いられる可能性がある多相クロックを生成してもよい。
実施形態では、BBPD102’のバイアスを2つの制御パラメータTHIGH及びTLOWから決定する。例えば、バイアスバングバング型位相検出器の動作の場合は、THIGHをTLOWより大きな値に設定し、従来のバングバング型位相検出器の動作の場合は、THIGHをTLOWと同じ値に設定する。比THIGH/TLOWは、通常、目標ビット・エラー・レート(BER)に基づき設定される。ある実施形態では、THIGHの値は256であり、TLOWにはより小さな値(例えば、1、16、64など)が目標BERに基づき選択される。
実施形態及び/又は動作事例では、所定の負の閾値T_NEGの大きさがTHIGHに設定され(例えば、T_NEG=−THIGH)、所定の正の閾値T_POSの大きさがTLOWに設定されている(例えば、T_POS=TLOW)場合、BBPD102’には内側右端(又は、アップ)の方にバイアスがかけられる。所定の正の閾値の大きさがTHIGHに設定され(例えば、T_POS=THIGH)、所定の負の閾値の大きさがTLOWに設定されている(例えば、T_NEG=−TLOW)場合、BBPD102’には内側左端(又は、ダウン)の方にバイアスがかけられる。提示例では、遷移サンプリングクロックの位相を受信側アイの内側の端にロックするとしてバイアス設定を説明したが、特定アプリケーションの設計基準を満たすようにバイアスを適宜設定してもよい。
図6は、本発明の実施形態に係るバイアス方式を実装したバングバング型位相検出器の様々な閾値設定における線形ゲインと位相誤差との関係の例を示す図である。
図7は、受信側データアイの内側左端で安定する遷移サンプリングクロックの位相を示す図である。V(K−1)とV(K−1/2)との時間間隔はτに等しい。V(K−1/2)とV(K)との時間間隔はT−τに等しい。
図8は、受信側データアイの内側右端で安定する遷移サンプリングクロックの位相を示す図である。図7と同様に、図8では、V(K−1)とV(K−1/2)との時間間隔はτに等しい。V(K−1/2)とV(K)との時間間隔はT−τに等しい。
図9は、様々な閾値における遷移サンプリングクロックの位相の位相収束挙動を示すグラフ800の図である。曲線802は、制御パラメータTHIGHとTLOWの両方を256に設定した場合の、本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器の位相収束挙動を示す。曲線804は、制御パラメータTHIGHを256に設定し、制御パラメータTLOWを64に設定した場合の、本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器の位相収束挙動を示す。曲線806は、制御パラメータTHIGHを256に設定し、制御パラメータTLOWを16に設定した場合の、本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器の位相収束挙動を示す。曲線808は、制御パラメータTHIGHを256に設定し、制御パラメータTLOWを1に設定した場合の、本発明の実施形態に係るバイアスバングバング型位相検出器の位相収束挙動を示す。
SerDes(リアライザ/デシリアライザ)といった通信システムの受信側におけるクロック・データ・リカバリ(CDR)回路は、受信側の正確な動作に必要な最適サンプリング位相を取得かつ追従し、ビット・エラー・レート(BER)の性能目標にかなう助けとなる。実施形態におけるCDR回路は、位相調整が必要な方向の傾きを出力する位相検出器により駆動される。必要な位相更新の方向は、現在のデータサンプル(例えば、V(K))と前回のデータサンプル(例えば、V(K−1))と遷移サンプル(例えば、V(K−1/2))とを考慮して決定される。
従来のバングバング型位相検出器(BBPD)の場合、UP(右移動)とDN(左移動)は均等に重み付けられる。したがって、収束後は、以下のようになる。
Prob(V(K−1/2)=V(K−1))=Prob(V(K−1/2)=V(K))=0.5
遷移サンプリング位相を内側左端においてBER=ρでロックするために、サンプルV(K−1/2)=V(K)は確率1−ρで一致する必要がある。したがって、サンプルV(K−1/2)は、重み1−ρで右に移動し、重みρで左に移動する。
実施形態では、CDR位相が左又は右に移動する重みは、1対の制御パラメータTHIGH及びTLOWにより決定される。比THIGH/TLOWは、遷移サンプルラッチを内側アイの特定の端にロックするための目標BERを表している。THIGHがTLOWと等しい場合に、「従来の」BBPD関係が得られる。すなわち、アイ内へ移動する確率とアイ外へ移動する確率とが等しい。比THIGH/TLOWが大きいほどアイの端がよりきれいに見える(ρがより小さい)ことを意味するが、位相の収束時間はより長くなる。つまり、第1制御パラメータと第2制御パラメータとの比は、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定される。ただし、第1制御パラメータと第2制御パラメータとの比は、シンボル期間内の目標設定位置に基づいて適宜設定されてもよい。
用語「〜してもよい」及び「通常」が動詞と共にここで用いられる場合、その記載内容は例示であり、開示された具体例だけでなく開示に基づいて得られる他の例も包含するほど十分に広義であることを意味する。ここで用いられる用語「〜してもよい」及び「通常」は、対応要素を除外する好適性又は可能性を必ずしも暗示するものではない。
実施形態を参照しながら本発明を具体的に示して説明してきたが、当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなく形態及び詳細を変更してもよいと理解されよう。

Claims (15)

  1. 1対のデータサンプルとそれらの間の遷移サンプルとに応じてフェーズアップ信号とフェーズダウン信号とをそれぞれが生成する複数の位相検出回路と、
    前記複数の位相検出回路の前記フェーズアップ信号と前記フェーズダウン信号とに応じて調整信号を生成する加算回路とを備え、
    前記フェーズアップ信号の和と前記フェーズダウン信号の和とに重み付けを行って位相調整にバイアスをかける
    クロック・データ・リカバリ装置。
  2. 前記バイアスは、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定される
    請求項1に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  3. 前記調整信号は、第1制御パラメータで重み付けられた前記フェーズアップ信号の和と第2制御パラメータで重み付けられた前記フェーズダウン信号の和との差分に基づく
    請求項1に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  4. 前記フェーズアップ信号は第1制御パラメータで重み付けられ、前記フェーズダウン信号は第2制御パラメータで重み付けられ、前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとの比は内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定される
    請求項1に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  5. さらに、
    前記調整信号に従って遷移サンプリングクロックの位相を調整するループフィルタ兼クロック生成回路を備える
    請求項1に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  6. さらに、
    受信信号とデータサンプリングクロックとに応じて前記データサンプルを生成する、少なくとも1つのデータ検出器と、
    前記受信信号と遷移サンプリングクロックとに応じて前記遷移サンプルを生成する、少なくとも1つの遷移検出器とを備え、前記遷移サンプリングクロックの位相は前記調整信号に従って調整される
    請求項1に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  7. さらに、
    受信信号とデータサンプリングクロックとに応じて前記データサンプルを生成する、少なくとも1つのデータ検出器と、
    前記受信信号と遷移サンプリングクロックとに応じて前記遷移サンプルを生成する、少なくとも1つの遷移検出器と、
    前記調整信号に従って前記遷移サンプリングクロックの位相を調整するループフィルタ兼クロック生成回路を備える
    請求項1に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  8. データサンプリングクロックに応じて検出データを生成する第1サンプリング回路と、
    遷移サンプリングクロックに応じて遷移データを生成する第2サンプリング回路と、
    前記検出データと、前記遷移データと、第1制御パラメータと、第2制御パラメータとに応じて第1位相調整信号と第2位相調整信号とを生成する位相検出回路とを備え、
    前記遷移サンプリングクロックの位相が収束後に安定する位置は、受信側アイのジッタ分布の中央値に対し、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づく偏りがある
    クロック・データ・リカバリ装置。
  9. バイアス量は、目標ビット・エラー・レート(BER)に基づいて選択される
    請求項8に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  10. 前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとはプログラム可能である
    請求項8に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  11. 前記第1制御パラメータにより、前記遷移サンプリングクロックの位相を増加させるための閾値が設定され、
    前記第2制御パラメータにより、前記遷移サンプリングクロックの位相を減少させるための閾値が設定される
    請求項8に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  12. 前記位相検出回路は、
    前記遷移サンプリングクロックの位相を増加させるための第1制御信号と前記遷移サンプリングクロックの位相を減少させるための第2制御信号とを生成するオーバーサンプル型位相検出器と、
    前記第1制御信号に応じて第1フィルタ処理済制御信号を生成する第1累積器と、
    前記第2制御信号に応じて第2フィルタ処理済制御信号を生成する第2累積器と、
    前記第1フィルタ処理済制御信号と前記第1制御パラメータとに応じて第1位相調整信号を生成する第1比較器と、
    前記第2フィルタ処理済制御信号と前記第2制御パラメータとに応じて第2位相調整信号を生成する第2比較器とを備える
    請求項8に記載のクロック・データ・リカバリ装置。
  13. 受信側のクロック・データ・リカバリ・モジュールの位相検出器にバイアスをかける方法であって、
    データサンプリングクロックに応じて検出データを生成する検出データ生成ステップと、
    遷移サンプリングクロックに応じて遷移データを生成する遷移データ生成ステップと、
    前記検出データと、前記遷移データと、第1制御パラメータと、第2制御パラメータとに応じて位相調整信号を生成する位相調整信号生成ステップとを含み、
    前記遷移サンプリングクロックの位相が収束後に安定する位置は、受信側アイのジッタ分布の中央値に対し、内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づく偏りがある
    方法。
  14. 前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとの比は、前記内側アイの目標ビット・エラー・レートに基づいて設定される
    請求項13に記載の方法。
  15. 前記第1制御パラメータと前記第2制御パラメータとの比は、シンボル期間内の目標設定位置に基づいて適宜設定される
    請求項13に記載の方法。
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