JP2014086546A - 半導体装置、該半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置、該半導体装置の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】半導体素子にフレキシブル基板を強固に固定できるとともに、小型化を図った半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体素子1と、半導体素子1の第2の主面1tに電気的に接続された、少なくとも一箇所が屈曲されることにより、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう位置するフレキシブル基板5と、空間Kに充填されるとともに、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう位置する樹脂8と、を具備し、樹脂8は、実装面5jよりも後方に、フレキシブル基板5の外周面5gにおける屈曲部5cに沿って空間Kから設定長さはみ出している。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体素子の第1の主面とは反対の第2の主面に、フレキシブル基板が実装された半導体装置、該半導体装置の製造方法に関する。
従来、半導体素子、例えばCCDやCMOS等の固体撮像素子(以下、単に撮像素子と称す)が設けられた撮像装置を具備する電子内視鏡や、カメラ付き携帯電話、デジタルカメラ等の電子機器が周知である。
撮像装置の形態の一つとして、主面の一方に当たる先端面に受光部が設けられた撮像素子と、該撮像素子の先端面に貼着された受光部を保護するカバーガラスとを具備し、撮像素子の先端面とは反対側の主面の他方に当たる後端面に設けられた接続端子に、コンデンサ、抵抗、トランジスタ等の電子部品が実装されたフレキシブル基板が電気的に接続された構成が周知である。
尚、フレキシブル基板には信号ケーブルが電気的に接続されることにより、撮像素子の受光部において受光された被検部位の像の電気信号は、フレキシブル基板及び信号ケーブルを介して画像処理装置やモニタ等の外部装置へと伝送される。
このように、半導体素子の後端面の接続端子にフレキシブル基板が電気的に接続された構成は、特許文献1に開示されている。
特許文献1では、半導体素子の後端面の接続端子にフレキシブル基板が電気的に接続されるとともに、後端面よりも先端面と後端面とを結ぶ半導体素子の厚み方向の後方においてフレキシブル基板が円弧状に曲げられており、また、フレキシブル基板の屈曲に伴う接続端子への負荷を低減させるため、接続端子へのフレキシブル基板の接続部が樹脂で覆われた半導体装置の構成が開示されている。
また、特許文献1における半導体素子の後端面の接続端子に屈曲されたフレキシブル基板が電気的に接続された構成は、先ず、非屈曲状態のフレキシブル基板を半導体素子の後端面の接続端子に電気的に接続し、その後、接続部に樹脂を充填した後、最後にフレキシブル基板を屈曲させることにより形成される。
特開2012−38920号公報
しかしながら、特許文献1に開示された半導体装置の構成及び製造方法においては、フレキシブル基板の接続部に樹脂を充填した後、フレキシブル基板を屈曲させていることから、屈曲の際に、フレキシブル基板の接続端子への接続部及び硬化された樹脂にかかる負荷が過大になると、接続部が外れやすくなってしまうといった問題があった。
また、樹脂及びフレキシブル基板が、半導体素子の外形よりも外側にはみ出して位置していることから、半導体装置が大型化してしまうといった問題もあった。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、半導体素子にフレキシブル基板を強固に固定できるとともに、小型化を図った半導体装置、該半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため本発明の一態様における半導体装置は、第1の主面および前記第1の主面とは反対の第2の主面を有する半導体素子と、前記第2の主面に電気的に接続された、少なくとも一箇所が屈曲されることにより、前記半導体素子を前記第1の主面と前記第2の主面とを結ぶ前記半導体素子の厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう位置するフレキシブル基板と、少なくとも前記半導体素子の前記第2の主面と前記フレキシブル基板の前記第2の主面への実装面との間の空間に充填されるとともに、前記半導体素子を前記厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう位置する樹脂と、を具備し、前記樹脂は、前記実装面よりも前記厚み方向において前記第2の主面から離間する方向に、前記フレキシブル基板の前記実装面が形成された外周面における屈曲部に沿って前記空間から設定長さはみ出している。
また、本発明の一態様における半導体装置の製造方法は、フレキシブル基板に、半導体素子の第1の主面とは反対側の第2の主面を実装するフレキシブル基板実装工程と、前記フレキシブル基板の前記第2の主面への実装面とは反対側の面に固定治具を取り付ける治具取り付け工程と、前記フレキシブル基板の少なくとも一箇所を屈曲させることにより、前記半導体素子を前記第1の主面と前記第2の主面とを結ぶ前記半導体素子の厚み方向から平面視した際、前記フレキシブル基板を前記半導体素子に全体が重なるよう位置させるとともに、前記固定治具により前記フレキシブル基板の屈曲形状を保持するフレキシブル基板屈曲工程と、少なくとも前記半導体素子の前記第2の主面と前記フレキシブル基板の前記実装面との間の空間に樹脂を充填することにより、前記空間において、前記半導体素子を前記厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう前記樹脂を位置させるとともに前記樹脂を硬化させる樹脂充填工程と、を具備し、前記樹脂充填工程において、前記空間に対して前記樹脂が100%充填される第1の量以上かつ、前記実装面を前記半導体素子の外形まで広げた際の前記実装面と前記第2の主面との間の設定空間に対して前記樹脂が100%充填される第2の量以下の充填量によって前記樹脂を充填することにより、前記樹脂は、前記空間から前記実装面よりも前記厚み方向において前記第2の主面から離間する方向に、前記フレキシブル基板の前記実装面が形成された外周面における屈曲部に沿って設定長さはみ出す。
さらに、本発明の他態様における半導体装置の製造方法は、フレキシブル基板の半導体素子への実装面とは反対側の面に固定治具を取り付ける治具取り付け工程と、前記フレキシブル基板の少なくとも一箇所を屈曲させるとともに前記固定治具により前記フレキシブル基板の屈曲形状を保持するフレキシブル基板屈曲工程と、前記フレキシブル基板の前記実装面に樹脂を塗布する樹脂塗布工程と、前記フレキシブル基板の前記実装面に、前記半導体素子の第1の主面とは反対側の第2の主面を、前記樹脂を押し潰しながら実装することにより、少なくとも前記半導体素子の前記第2の主面と前記フレキシブル基板の前記実装面との間の空間において、前記半導体素子を前記第1の主面と前記第2の主面とを結ぶ前記半導体素子の厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう屈曲された前記フレキシブル基板及び前記樹脂を位置させるとともに、前記樹脂を硬化させる半導体素子実装工程と、を具備し、前記樹脂塗布工程において、前記空間に対して前記樹脂が100%充填される第1の量以上かつ、前記実装面を前記半導体素子の外形まで広げた際の前記実装面と前記第2の主面との間の設定空間に対して前記樹脂が100%充填される第2の量以下の充填量となるよう前記樹脂を塗布することにより、前記樹脂は、前記空間から前記実装面よりも前記厚み方向において前記第2の主面から離間する方向に、前記フレキシブル基板の前記実装面が形成された外周面における屈曲部に沿って設定長さはみ出す。
本発明によれば、半導体素子にフレキシブル基板を強固に固定できるとともに、小型化を図った半導体装置、該半導体装置の製造方法を提供することができる。
第1実施の形態の半導体装置の構成を概略的に示す図 図1中のIIで囲った部位の拡大図 図1のフレキシブル基板を、半導体素子とともに、図1中のIII方向からみるとともに展開して示す図 図1の空間に100%充填される樹脂の第1の量と、フレキシブル基板の実装面を半導体素子の外形まで広げた際の空間に100%充填される樹脂の第2の量とを模式的に示す半導体装置の図 半導体素子の接続端子に、フレキシブル基板の基板電極を電気的に接続するフレキシブル基板実装工程を示す図 図5のフレキシブル基板に固定治具を取り付ける治具取り付け工程を示す図 図6のフレキシブル基板を屈曲させるフレキシブル基板屈曲工程を示す図 図7の半導体素子とフレキシブル基板との間の空間に樹脂を充填する樹脂充填工程を示す図 フレキシブル基板に固定治具を取り付ける治具取り付け工程を示す図 図9のフレキシブル基板を屈曲させるフレキシブル基板屈曲工程を示す図 図10のフレキシブル基板の実装面に樹脂を塗布する樹脂塗布工程を示す図 フレキシブル基板の基板電極に、半導体素子の接続端子を電気的に接続する半導体素子実装工程を示す図 図1のフレキシブル基板が1箇所のみ屈曲された変形例を示す半導体装置の図 十字状のフレキシブル基板と半導体素子の分解斜視図 図14の十字状のフレキシブル基板の中心に半導体素子を実装した状態を示す斜視図 図15のフレキシブル基板の4つの部位を屈曲させ、図15中のXVI方向からみた状態を示す斜視図 第2実施の形態の半導体装置の構成を概略的に示す図 図1のフレキシブル基板の内部の空間に、補強樹脂を充填する補強樹脂充填工程を示す図 第3実施の形態の半導体装置の構成を概略的に示す図 図1の半導体装置を撮像装置として用いた例を示す図
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。尚、図面は模式的なものであり、各部材の厚みと幅との関係、それぞれの部材の厚みの比率などは現実のものとは異なることに留意すべきであり、図面の相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
(第1実施の形態)
図1は、本実施の形態の半導体装置の構成を概略的に示す図、図2は、図1中のIIで囲った部位の拡大図、図3は、図1のフレキシブル基板を、半導体素子とともに、図1中のIII方向からみるとともに展開して示す図である。
図1に示すように、半導体装置10は、半導体素子1を具備している。半導体素子1の第1の主面である先端面1iとは反対の第2の主面である後端面1tに設けられた接続端子2に、半導体素子1を先端面1iと後端面1tとを結ぶ厚み方向Aから平面視した際、少なくとも1箇所が屈曲されることにより半導体素子1に全体が重なるよう位置するフレキシブル基板5の後述する実装面5jに設けられた基板電極3が電気的に接続されている。
具体的には、フレキシブル基板5は、図3に示すように、半導体素子1の外形と基板電極3との間の位置において、例えば1点鎖線Cに沿って2箇所、図1に示すように90°以下となるよう部分円弧状に屈曲されることにより、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう、半導体素子1の厚み方向Aにおいて後端面1tから離間する方向(以下、後方と称す)に位置している。
即ち、フレキシブル基板5には、屈曲部5cが2箇所形成されている。尚、以下、フレキシブル基板5の外周面5gにおいて、2つの屈曲部5c間に位置する半導体素子1の後端面1tに対向する面を実装面5jと称す。
また、図3に示すように、フレキシブル基板5の外周面5gには、上述した基板電極3の他、図示しない信号ケーブルが電気的に接続される接続電極5rや、接続電極5rと基板電極3とを電気的に接続する配線パターン5hが露出されて形成されている。
尚、各屈曲部5cの角度が90°以下に設定されているのは、90°よりも大きな角度で屈曲されていると、フレキシブル基板5の外周面5gに電子部品を実装した際や、接続電極5rに信号ケーブルを電気的に接続した際、電子部品や信号ケーブルが半導体素子1の外形よりも外側にはみ出てしまい、半導体装置10が大型化してしまうためである。よって、各屈曲部5cの屈曲角度は、鋭角に設定されていることが好ましい。
半導体素子1の後端面1tよりも後方において、少なくとも後端面1tとフレキシブル基板5の実装面5jとの間の空間Kに充填されるよう、例えばアンダーフィル等の樹脂8が、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう位置している。
また、樹脂8は、図1、図2に示すように、厚み方向Aに直交する水平方向Bにおいて、半導体素子1の外形よりも外側にはみ出すことがない程度に、空間Kから実装面5jよりも設定長さP1だけ外側にはみ出している。
さらに、樹脂8は、図1、図2に示すように、空間Kから実装面5jよりも厚み方向Aにおいて後方にフレキシブル基板5の外周面5gにおける各屈曲部5cに沿って設定長さP2だけはみ出している。即ち樹脂8は、各屈曲部5cの外周面5cgまで空間Kからはみ出している。尚、各屈曲部5cの外周面5cgまではみ出した樹脂8も、半導体素子1の外形よりも水平方向Bにおいて外側にはみ出すことなく位置している。
また、各屈曲部5cの外周面5cgに対するはみ出した樹脂8の付着性が向上するよう、各屈曲部5cの樹脂8が付着する外周面5cgに、プラズマクリーニング等によって親水性処理が施されていても構わないし、各屈曲部5cの外周面5cgの表面粗さが粗く形成されていても構わない。
なお、樹脂8には、カーボン粒子や顔料等を含有させても良く、また、フィラー等を含有させても良い。カーボン粒子や顔料を含有していると、遮光性を向上させることができ、熱伝導率の高いフィラーを含有していると、放熱性を向上させることができる。
次に、上述した半導体装置10の製造方法について、図4〜図8を用いて説明する。図4は、図1の空間に100%充填される樹脂の第1の量と、フレキシブル基板の実装面を半導体素子の外形まで広げた際の設定空間に100%充填される樹脂の第2の量とを模式的に示す半導体装置の図である。
また、図5は、半導体素子の接続端子に、フレキシブル基板の基板電極を電気的に接続するフレキシブル基板実装工程を示す図、図6は、図5のフレキシブル基板に固定治具を取り付ける治具取り付け工程を示す図、図7は、図6のフレキシブル基板を屈曲させるフレキシブル基板屈曲工程を示す図、図8は、図7の半導体素子とフレキシブル基板との間の空間に樹脂を充填する樹脂充填工程を示す図である。
先ず、図5に示すように、半導体素子1の後端面1tに設けられた接続端子2に、非屈曲状態のフレキシブル基板5の基板電極3を電気的に接続するフレキシブル基板実装工程を行う。この接続端子2への基板電極3の電気的接続には、フレキシブル基板5側から熱Nを加えて行う。
尚、フレキシブル基板5側から熱Nを加えるのは、半導体素子1の先端面1iに、後述するカバーガラス60(図20参照)が貼着されている場合、半導体素子1側から接続部へ熱Nを加え難くなるためである。
次に、図6に示すように、フレキシブル基板5の実装面5jとは反対側の内周面5nに対して、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に重なる位置に、固定治具20を取り付ける治具取り付け工程を行う。
次いで、図7に示すように、フレキシブル基板5を2箇所、具体的には、上述した図3に示すように線Cに沿って90°以下に屈曲させることにより、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、フレキシブル基板5が半導体素子1に全体が重なるようフレキシブル基板5を位置させるとともに、固定治具20によりフレキシブル基板5の屈曲形状を機械的に保持するフレキシブル基板屈曲工程を行う。尚、屈曲後、フレキシブル基板5の内周面5nは、固定治具20の外周面に接触する。
その後、図8に示すように、少なくとも半導体素子1の後端面1tとフレキシブル基板5の実装面5jとの間の空間Kに樹脂8を充填することにより、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、後端面1tよりも後方において樹脂8が半導体素子1と全体が重なるよう樹脂8を位置させるとともに、オーブン等によって樹脂8を硬化させる樹脂充填工程を行う。
具体的には、樹脂充填工程においては、図4に示すように、空間Kに対して樹脂8が100%充填される第1の量α以上かつ、実装面5jを図4の2点鎖線に示すように半導体素子1の外形まで広げた際の実装面5jと後端面1tとの間の設定空間K´に対して樹脂8が100%充填される第2の量α´以下の充填量となる樹脂8を、図8に示すように、実装面5jよりも下方から、具体的には、屈曲部5c近傍から少なくとも空間Kに、例えばディスペンサ25を用いて充填する。
尚、勿論、空間Mに第1の量αを充填した後、各屈曲部5cの外周面5cgに対して樹脂8を別途塗布することにより、樹脂8の各屈曲部5cに沿った設定長さP2のはみ出しを形成しても構わない。
その結果、樹脂8は、図1、図2に示すように、空間Kから実装面5jよりも厚み方向Aにおいて後方に、フレキシブル基板5の各屈曲部5cに沿って設定長さP2はみ出す。
最後に、図8の樹脂充填工程後、固定治具20をフレキシブル基板5から取り外す治具取り外し工程を行うことにより、図1の半導体装置10が製造される。
このように、本実施の形態においては、フレキシブル基板5は、半導体素子1の後端面1tの接続端子2に対して、基板電極3が電気的に接続されることにより半導体素子1の後方に位置しており、2箇所が屈曲されることにより、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう位置していると示した。
また、少なくともフレキシブル基板5の実装面5jと半導体素子1の後端面1tとの間の空間Kに充填される樹脂8は、各屈曲部5cの外周面5cgまで空間Kからはみ出して位置しているともに、樹脂8も半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう充填されていると示した。
このことによれば、フレキシブル基板5及び樹脂8が半導体素子1の外形から水平方向Bにおいて外側にはみ出すことがないことから半導体装置10を小型化することができる。
また、空間Kから各屈曲部5cの外周面5cgまではみ出した樹脂8が、フレキシブル基板5を強固に固定するとともに、フレキシブル基板5が非屈曲状態に戻ろうとする動作(スプリングバックと呼ばれることもある)を防止することができることにより、フレキシブル基板5の曲げ形状を維持することができることから、接続端子2に対する基板電極3の接続信頼性が向上する。
さらに、本実施の形態においては、半導体装置10の製造方法において、フレキシブル基板5を屈曲させてから、空間Kに樹脂8を充填することから、従来のように、樹脂8硬化後のフレキシブル基板5の屈曲に伴い、樹脂8に負荷がかかってしまうことがない他、容易に、フレキシブル基板5を、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう位置させることができる。
また、フレキシブル基板5の基板電極3に対する半導体素子1の接続端子2の接続は、既知のSMT(Surface Mount Technology)等の一般的な実装方法によって容易に行うことができる。
以上から、半導体素子1にフレキシブル基板5を強固に固定できるとともに、屈曲させたフレキシブル基板5を半導体素子1の外形内に位置させることにより小型化を図った半導体装置10、該半導体装置10の製造方法を提供することができる。
尚、以下、本実施の形態の半導体装置10の製造方法の変形例を、図9〜図12を用いて示す。
図9は、フレキシブル基板に固定治具を取り付ける治具取り付け工程を示す図、図10は、図9のフレキシブル基板を屈曲させるフレキシブル基板屈曲工程を示す図、図11は、図10のフレキシブル基板の実装面に樹脂を塗布する樹脂塗布工程を示す図、図12は、フレキシブル基板の基板電極に、半導体素子の接続端子を電気的に接続する半導体素子実装工程を示す図である。
先ず、図9に示すように、フレキシブル基板5の実装面5jとは反対側の内周面5nに、固定治具20を取り付ける治具取り付け工程を行う。
次いで、図10に示すように、フレキシブル基板5を2箇所、具体的には、上述した図3に示すように線Cに沿って90°以下に屈曲させることにより、固定治具20によりフレキシブル基板5の屈曲形状を機械的に保持するフレキシブル基板屈曲工程を行う。尚、屈曲後、フレキシブル基板5の内周面5nは、固定治具20の外周面に接触する。
次いで、図11に示すように、フレキシブル基板5の実装面5jに樹脂8を塗布する樹脂塗布工程を行う。
その後、図12に示すように、半導体素子1の接続端子2を、フレキシブル基板5の実装面5jに設けられた基板電極3に、樹脂8を半導体素子1にて荷重を加えて押し潰しながら電気的に接続することにより、少なくとも空間Kにおいて、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、後端面1tよりも後方において樹脂8及びフレキシブル基板5が半導体素子1と全体が重なるよう位置させるとともに、フレキシブル基板5への実装を終えるまでに、または実装した後で、加熱手段によって樹脂8を硬化させる半導体素子実装工程を行う。
ここで、樹脂充填工程においては、図4に示すように、空間Kに対して樹脂8が100%充填される第1の量α以上かつ、実装面5jを図4の2点鎖線に示すように半導体素子1の外形まで広げた際の実装面5jと後端面1tとの間の設定空間K´に対して樹脂8が100%充填される第2の量α´’以下の充填量となる樹脂8を、図11に示すように、実装面5jに塗布している。
その結果、半導体素子実装工程後、樹脂8は、図1、図2に示すように、空間Kから実装面5jよりも厚み方向Aにおいて後方に、フレキシブル基板5の各屈曲部5cに沿って設定長さP2はみ出す。
尚、勿論、実装面5jに第1の量αを塗布した後、上述したように、接続端子2に基板電極3を電気的に接続し、その後、各屈曲部5cの外周面5cgに対して樹脂8を別途塗布することにより、樹脂8の各屈曲部5cに沿った設定長さP2のはみ出しを形成しても構わない。
最後に、図12の半導体素子実装工程後、固定治具20をフレキシブル基板5から取り外す治具取り外し工程を行うことにより、図1の半導体装置10が製造される。
このような製造方法によっても、フレキシブル基板5を屈曲させた後に、フレキシブル基板の基板電極3を、半導体素子1の接続端子2に電気的に接続しているため、フレキシブル基板に加わる曲げ応力を軽減できる他、フレキシブル基板5の屈曲に伴って樹脂8に負荷がかかってしまうことがない等、本実施の形態と同様の効果を得ることができる。
尚、以下、別の変形例を、図13を用いて示す。図13は、図1のフレキシブル基板が1箇所のみ屈曲された変形例を示す半導体装置の図である。
上述した本実施の形態においては、フレキシブル基板5は、2箇所が屈曲されている、即ち、屈曲部5cが2箇所形成されていると示した。
これに限らず、図13に示すように、1箇所のみに屈曲部5cが形成されることにより、半導体素子1の後方において、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、フレキシブル基板5が半導体素子1に全体が重なるよう位置していても構わない。
尚、図13に示す構成においても、樹脂8は半導体素子1の外形から水平方向Bにおいて外側にはみ出すことがない他、1箇所の屈曲部5cの外周面5cgまで空間Kから設定長さP2だけはみ出して位置している。
また、以下、別の変形例を、図14〜図16を用いて示す。図14は、十字状のフレキシブル基板と半導体素子の分解斜視図、図15は、図14の十字状のフレキシブル基板の中心に半導体素子を実装した状態を示す斜視図、図16は、図15のフレキシブル基板の4つの部位を屈曲させ、図15中のXVI方向からみた状態を示す斜視図である。
また、図16に示すように、フレキシブル基板5は、4箇所に屈曲部5cが形成されていても構わない。
具体的には、図14に示すように、4つの部位5v、5w、5x、5yを有する十字状のフレキシブル基板5の外周面5gに露出する基板電極3に対し、図15に示すように半導体素子1の接続端子2を、十字状のフレキシブル基板5の4つの部位5v、5w、5x、5yが交差する中央部にて電気的に接続した後、図16に示すように各部位5v、5w、5x、5yをそれぞれ90°以下に屈曲させることにより、4箇所に屈曲部5cが形成されていても構わない。
尚、図16に示す構成においても、フレキシブル基板5は、半導体素子1の後方において、半導体素子1を厚み方向Aから平面視した際、半導体素子1に全体が重なるよう位置しているとともに、樹脂8は半導体素子1の外形から水平方向Bにおいて外側にはみ出すことがない他、4箇所の屈曲部5cの外周面5cgまで空間Kから設定長さP2だけはみ出して位置している。
(第2実施の形態)
図17は、本実施の形態の半導体装置の構成を概略的に示す図である。
この第2実施の形態の半導体装置の構成は、上述した図1、図2に示した第1実施の形態の半導体装置、図5〜図8に示した半導体装置の製造方法と比して、フレキシブル基板の内周面に補強樹脂が固定されている点及びフレキシブル基板の内周面に補強樹脂を充填する工程を有している点が異なる。
よって、これらの相違点のみを説明し、第1実施の形態と同様の構成には同じ符号を付し、その説明は省略する。
図17に示すように、本実施の形態の半導体装置10においては、フレキシブル基板5の内周面5nに、フレキシブル基板5の屈曲形状を固定する補強樹脂30が固定されている。即ち、フレキシブル基板5の内部の空間Mに補強樹脂30が設けられている。尚、補強樹脂30は、樹脂8と同じ材質であっても良く、異なる材質を用いても良い。
また、その他の構成は、上述した第1実施の形態の半導体装置10と同じである。
また、本実施の形態の半導体装置の製造方法を、図18を用いて示す。図18は、図1のフレキシブル基板の内部の空間に、補強樹脂を充填する補強樹脂充填工程を示す図である。
本実施の形態においては、上述した治具取り外し工程後に形成された図1に示す半導体装置10を(厚み方向Aにおいて逆向きに)倒置した後、図18に示すように、フレキシブル基板5の開口から、内部の空間Mに、フレキシブル基板5の屈曲形状を固定する補強樹脂30を、ディスペンサ35等によって充填する補強樹脂充填工程を行う。
その結果、フレキシブル基板5の内周面5nには、図17に示すように補強樹脂30が固定される。
このような構成、製造方法によれば、上述した第1実施の形態の効果に加え、フレキシブル基板5の屈曲形状が補強樹脂30によってさらに補強されることから、半導体装置10の強度をより向上させることができる。
(第3実施の形態)
図19は、本実施の形態の半導体装置の構成を概略的に示す図である。
この第3実施の形態の半導体装置の構成は、上述した図1、図2に示した第1実施の形態の半導体装置、図5〜図8に示した半導体装置の製造方法と比して、フレキシブル基板の内周面に放熱部材が固定されている点及びフレキシブル基板の内周面に放熱部材を固定する工程を有している点が異なる。
よって、これらの相違点のみを説明し、第1実施の形態と同様の構成には同じ符号を付し、その説明は省略する。
図19に示すように、本実施の形態の半導体装置10においては、フレキシブル基板5の内周面5nに、フレキシブル基板5の屈曲形状を固定するとともに、半導体素子1からフレキシブル基板5を介して伝熱された熱を放熱する放熱部材40が固定されている。即ち、フレキシブル基板5の内部の空間Mに放熱部材40が設けられている。尚、放熱部材40としては、SUS、アルミ、セラミックス等の無機材料や、樹脂材料等が挙げられる。
また、その他の構成は、上述した第1実施の形態の半導体装置10と同じである。
尚、本実施の形態の製造方法としては、上述した第1実施の形態の図6または図9に示す治具取り付け工程における固定治具20の代わりに、固定治具20と同形状を有する放熱部材40を用いれば良い。
尚、本実施の形態においては、空間Mに放熱部材40を残すことから、上述した第1実施の形態に示した治具取り外し工程は不要となる。
また、その他の製造方法は、上述した第1実施の形態と同じである。
このように本実施の形態の構成及び製造方法によれば、上述した第1及び第2実施の形態に示す治具取り外し工程が不要となるため、製造工程数を削減することができる他、第2実施の形態と同様に、フレキシブル基板5の屈曲形状がさらに補強され、さらに、放熱部材40により、半導体装置10の放熱性を向上させることができる。
尚、その他の効果は、上述した第1実施の形態と同じである。
また、上述した第1〜第3実施の形態の半導体装置は、例えば撮像装置として用いられる。図20は、図1の半導体装置を撮像装置として用いた例を示す図である。
図20に示すように上述した第1〜第3実施の形態の半導体装置10は、例えば撮像装置として用いられる。即ち、半導体素子1は、撮像素子として用いられる。
この場合、撮像素子1の先端面1iには、受光部1eを覆うようカバーガラス60が貼着されている。
このように、撮像装置に適用すれば、フレキシブル基板5及び樹脂8が半導体装置10の外形内に位置していることから、撮像装置も小型化できるため、小型化、細径化が要求される内視鏡の挿入部の先端に搭載される撮像装置に好適となる。
また、撮像装置は、例えば医療用または工業用の内視鏡に設けられる他、医療用のカプセル内視鏡に設けられていても構わないし、内視鏡に限らず、カメラ付き携帯電話や、デジタルカメラに適用しても良いことは言うまでもない。さらに、半導体装置10は、撮像装置とは異なる他の装置にも適用可能である。
1…半導体素子
1i…半導体素子の先端面(第1の主面)
1t…半導体素子の後端面(第2の主面)
5…フレキシブル基板
5c…フレキシブル基板の屈曲部
5cg…屈曲部の外周面(樹脂が付着する面)
5g…フレキシブル基板の外周面
5j…フレキシブル基板の実装面
5n…フレキシブル基板の内周面(実装面とは反対側の面)
8…樹脂
10…半導体装置
20…固定治具
30…補強樹脂
40…放熱部材
A…厚み方向
K…空間
K´…設定空間
α…第1の量
α´…第2の量

Claims (10)

  1. 第1の主面、および前記第1の主面とは反対の第2の主面を有する半導体素子と、
    前記第2の主面に電気的に接続された、少なくとも一箇所が屈曲されることにより、前記半導体素子を前記第1の主面と前記第2の主面とを結ぶ前記半導体素子の厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう位置するフレキシブル基板と、
    少なくとも前記半導体素子の前記第2の主面と前記フレキシブル基板の前記第2の主面への実装面との間の空間に充填されるとともに、前記半導体素子を前記厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう位置する樹脂と、
    を具備し、
    前記樹脂は、前記実装面よりも前記厚み方向において前記第2の主面から離間する方向に、前記フレキシブル基板の前記実装面が形成された外周面における屈曲部に沿って前記空間から設定長さはみ出していることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記屈曲部の前記樹脂が付着する面に、親水性処理が施されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記フレキシブル基板における前記外周面とは反対の内周面に、前記フレキシブル基板の屈曲形状を固定する補強樹脂が固定されていることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
  4. 前記フレキシブル基板における前記外周面とは反対の内周面に、前記フレキシブル基板の屈曲形状を固定するとともに前記半導体素子から前記フレキシブル基板を介して伝熱された熱を放熱する放熱部材が固定されていることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
  5. フレキシブル基板に、半導体素子の第1の主面とは反対側の第2の主面を実装するフレキシブル基板実装工程と、
    前記フレキシブル基板の前記第2の主面への実装面とは反対側の面に固定治具を取り付ける治具取り付け工程と、
    前記フレキシブル基板の少なくとも一箇所を屈曲させることにより、前記半導体素子を前記第1の主面と前記第2の主面とを結ぶ前記半導体素子の厚み方向から平面視した際、前記フレキシブル基板を前記半導体素子に全体が重なるよう位置させるとともに、前記固定治具により前記フレキシブル基板の屈曲形状を保持するフレキシブル基板屈曲工程と、
    少なくとも前記半導体素子の前記第2の主面と前記フレキシブル基板の前記実装面との間の空間に樹脂を充填することにより、前記空間において、前記半導体素子を前記厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう前記樹脂を位置させるとともに前記樹脂を硬化させる樹脂充填工程と、
    を具備し、
    前記樹脂充填工程において、前記空間に対して前記樹脂が100%充填される第1の量以上かつ、前記実装面を前記半導体素子の外形まで広げた際の前記実装面と前記第2の主面との間の設定空間に対して前記樹脂が100%充填される第2の量以下の充填量によって前記樹脂を充填することにより、前記樹脂は、前記空間から前記実装面よりも前記厚み方向において前記第2の主面から離間する方向に、前記フレキシブル基板の前記実装面が形成された外周面における屈曲部に沿って設定長さはみ出すことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  6. フレキシブル基板の半導体素子への実装面とは反対側の面に固定治具を取り付ける治具取り付け工程と、
    前記フレキシブル基板の少なくとも一箇所を屈曲させるとともに前記固定治具により前記フレキシブル基板の屈曲形状を保持するフレキシブル基板屈曲工程と、
    前記フレキシブル基板の前記実装面に樹脂を塗布する樹脂塗布工程と、
    前記フレキシブル基板の前記実装面に、前記半導体素子の第1の主面とは反対側の第2の主面を、前記樹脂を押し潰しながら実装することにより、少なくとも前記半導体素子の前記第2の主面と前記フレキシブル基板の前記実装面との間の空間において、前記半導体素子を前記第1の主面と前記第2の主面とを結ぶ前記半導体素子の厚み方向から平面視した際、前記半導体素子に全体が重なるよう屈曲された前記フレキシブル基板及び前記樹脂を位置させるとともに、前記樹脂を硬化させる半導体素子実装工程と、
    を具備し、
    前記樹脂塗布工程において、前記空間に対して前記樹脂が100%充填される第1の量以上かつ、前記実装面を前記半導体素子の外形まで広げた際の前記実装面と前記第2の主面との間の設定空間に対して前記樹脂が100%充填される第2の量以下の充填量となるよう前記樹脂を塗布することにより、前記樹脂は、前記空間から前記実装面よりも前記厚み方向において前記第2の主面から離間する方向に、前記フレキシブル基板の前記実装面が形成された外周面における屈曲部に沿って設定長さはみ出すことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  7. 前記樹脂充填工程後、前記固定治具を前記フレキシブル基板から取り外す治具取り外し工程をさらに具備していることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置の製造方法。
  8. 前記樹脂塗布工程後、前記固定治具を前記フレキシブル基板から取り外す治具取り外し工程をさらに具備していることを特徴とする請求項6に記載の半導体装置の製造方法。
  9. 前記治具取り外し工程後、前記フレキシブル基板における前記外周面とは反対の内周面に、前記フレキシブル基板の屈曲形状を固定する補強樹脂を充填する補強樹脂充填工程をさらに具備することを特徴とする請求項7または8に記載の半導体装置の製造方法。
  10. 前記固定治具は、前記フレキシブル基板の屈曲形状を固定するとともに前記半導体素子から前記フレキシブル基板を介して伝熱された熱を放熱する放熱部材であることを特徴とする請求項5または6に記載の半導体装置の製造方法。
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