JP2014052969A - Clock frequency controller and semiconductor device - Google Patents

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Masahiro Nomura
昌弘 野村
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clock frequency controller that dynamically controls clock frequency while securing stable circuit operation.SOLUTION: The clock frequency controller comprises: a clock generation unit generating a clock signal; a power source variation monitor unit monitoring an up and down change in power source voltage; a timing margin monitor unit calculating timing margin of a circuit that receives supply of clock signal; and a clock frequency adjustment unit increasing/decreasing or maintaining the frequency of the clock signal on the basis of up and down change in the power source voltage and the size of the timing margin. The clock frequency adjustment unit increases the frequency of the clock signal when the power source voltage is increased and the timing margin is equal to or greater than an appropriate value.

Description

本発明は、クロック周波数制御装置に関し、クロック周波数を動的に制御する技術に関する。   The present invention relates to a clock frequency control device, and to a technique for dynamically controlling a clock frequency.

近年、LSI(大規模集積回路)の開発にあたっては、消費電力を極限まで削減しながらも動作性能は極限まで向上させるということが求められている。消費電力を削減するという点については、先端プロセスによる超微細加工によってトランジスタ等の素子を微細にすることで、小型化と同時に極低電力化が図られている。   In recent years, in the development of LSI (Large Scale Integrated Circuit), it is required to improve the operation performance to the limit while reducing the power consumption to the limit. In terms of reducing power consumption, miniaturization of elements such as transistors by ultrafine processing using advanced processes has made it possible to achieve miniaturization and extremely low power consumption.

極低電力化のためには低電圧化が有効ではあるが、電源電圧がトランジスタの閾値電圧に近づいてくるほどになると、トランジスタのスイッチング速度特性に大きな影響が及ぶようになってくる。すなわち、電源電圧がトランジスタの閾値電圧に近づいてくると、各トランジスタのPVT感度が高くなり、スイッチング速度が劣化したりバラツキが大きくなったりする。すると、回路の動作速度は電源電圧の高低によって変化することになる。そこで、電源電圧の変動に応じてクロック周波数を上げたり下げたりする制御を行うことが提案されている(非特許文献1、非特許文献2)。これらの文献においては、電源電圧の変化を検出し、電源電圧の高低に応じてクロック周波数を変化させることが提案されている。すなわち、電源電圧が高い方に変動した場合にはクロック周波数を上げて動作速度を速くする。逆に、電源電圧が低い方向に変動した場合にはクロック周波数を下げて動作速度を遅くするという制御が行われる。   Low voltage is effective for extremely low power, but when the power supply voltage approaches the threshold voltage of the transistor, the switching speed characteristics of the transistor are greatly affected. That is, when the power supply voltage approaches the threshold voltage of the transistor, the PVT sensitivity of each transistor increases, and the switching speed deteriorates and the variation increases. Then, the operation speed of the circuit changes depending on the level of the power supply voltage. Therefore, it has been proposed to perform control to increase or decrease the clock frequency in accordance with fluctuations in the power supply voltage (Non-Patent Document 1, Non-Patent Document 2). In these documents, it is proposed to detect a change in the power supply voltage and change the clock frequency according to the level of the power supply voltage. That is, when the power supply voltage fluctuates higher, the clock frequency is increased to increase the operation speed. Conversely, when the power supply voltage fluctuates in the lower direction, control is performed to lower the operating speed by lowering the clock frequency.

N. Kurd, P. Mosalikanti, M. Meidengard, J. Douglas, and R. Kumar, "Next Generation Intel Core Micro-Architecture (Nehalem) Clocking,"pp.1121-1129, J of Solid-State Circuits, vol.44, no.4, Apr. 2009.N. Kurd, P. Mosalikanti, M. Meidengard, J. Douglas, and R. Kumar, "Next Generation Intel Core Micro-Architecture (Nehalem) Clocking," pp.1121-1129, J of Solid-State Circuits, vol. 44, no.4, Apr. 2009. D. Jiao and C. H. Kim, "A programmable adaptive phase-shifting PLL for clock data compensation under resonant supply noise,"pp.272-273, ISSCC 2011.D. Jiao and C. H. Kim, "A programmable adaptive phase-shifting PLL for clock data compensation under resonant supply noise," pp.272-273, ISSCC 2011.

上記文献における電源電圧の高低とは、所定期間における電圧の高低を意味している。しかしながら、電源電圧にはリップルのような緩やかで周期的な変動も含まれている。
電源電圧が十分に高ければリップル程度の変動はトランジスタの性能にそれほどの影響は無いが、閾値電圧付近まで電源電圧を低く抑えようとするとリップルが無視できなくなる。特に、要求性能を達成できる限り限りの低電圧になるように電源電圧を生成するとなると、電源電圧を頻繁に細かく微調整する制御を行わなければならないが、電源電圧を頻繁に上げ下げする制御を行うと、電源電圧に益々リップルが乗るようになってしまう。
単純に電源電圧の高低だけに追従させてクロック周波数を上げたり下げたりするだけでは、回路の安定動作を確保できない場合が生じてくる。
The level of the power supply voltage in the above document means the level of the voltage in a predetermined period. However, the power supply voltage includes gentle and periodic fluctuations such as ripples.
If the power supply voltage is sufficiently high, fluctuations in the ripple level do not have much influence on the performance of the transistor, but ripples cannot be ignored if an attempt is made to keep the power supply voltage low near the threshold voltage. In particular, if the power supply voltage is generated so that the required voltage can be achieved, the power supply voltage must be finely and finely adjusted. However, the power supply voltage is frequently raised and lowered. As a result, ripples are increasingly applied to the power supply voltage.
There are cases where the stable operation of the circuit cannot be ensured simply by raising or lowering the clock frequency by simply following the level of the power supply voltage.

その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。   Other problems and novel features will become apparent from the description of the specification and the accompanying drawings.

一実施の形態によるクロック周波数制御装置は、電源電圧の上下変化のみならず、タイミングマージンの大きさも考慮にいれたうえで、クロック信号の周波数をアップ、ダウンまたは維持させる決定を行うものである。   The clock frequency control apparatus according to the embodiment determines whether to increase, decrease, or maintain the frequency of the clock signal in consideration of not only the vertical change of the power supply voltage but also the size of the timing margin.

単純に電源電圧の高低だけに追従させてクロック周波数を上げたり下げたりするだけでは回路の安定動作を確保できない恐れもあるが、上記一実施の形態によれば、電源電圧が上がったからといって一律にクロック周波数を上げず、タイミングマージンの余裕も考慮しながらクロック周波数の上げ下げを決定する。これにより、できる限り高速動作を行うようにしながらも安定動作を確実に確保できるクロック周波数を実現できる。   There is a possibility that stable operation of the circuit cannot be ensured by simply increasing or decreasing the clock frequency by simply following the level of the power supply voltage, but according to the above embodiment, the power supply voltage has increased. The clock frequency is not increased uniformly, and the increase / decrease of the clock frequency is determined in consideration of the margin of the timing margin. As a result, it is possible to realize a clock frequency that can ensure stable operation while performing high-speed operation as much as possible.

第1実施形態に係る半導体装置を示す図。The figure which shows the semiconductor device which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態において、電源変動モニタ部の構成を示す図。The figure which shows the structure of a power supply fluctuation | variation monitor part in 1st Embodiment. 第1実施形態において、クロック生成部、クロック分配回路およびタイミングマージンモニタ部の構成を示す図。The figure which shows the structure of a clock generation part, a clock distribution circuit, and a timing margin monitor part in 1st Embodiment. タイミングマージンモニタ部の変形例を示す図。The figure which shows the modification of a timing margin monitor part. 電源電圧の変動と、各時刻におけるタイミングマージンと、の一例を示す図。The figure which shows an example of the fluctuation | variation of a power supply voltage, and the timing margin in each time. 第2実施形態を示す図。The figure which shows 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例1を示す図。The figure which shows the modification 1 of 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例2を示す図。The figure which shows the modification 2 of 2nd Embodiment. 第3実施形態を示す図。The figure which shows 3rd Embodiment. 第3実施形態の変形例1を示す図。The figure which shows the modification 1 of 3rd Embodiment. 第3実施形態の変形例2を示す図。The figure which shows the modification 2 of 3rd Embodiment. 第3実施形態の変形例3を示す図。The figure which shows the modification 3 of 3rd Embodiment. 第4実施形態を示す図。The figure which shows 4th Embodiment. 第4実施形態の変形例1を示す図。The figure which shows the modification 1 of 4th Embodiment. 第4実施形態の変形例2を示す図。The figure which shows the modification 2 of 4th Embodiment. 第5実施形態を示す図。The figure which shows 5th Embodiment. 第6実施形態を示す図。The figure which shows 6th Embodiment.

実施形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る半導体装置100を示す図である。この半導体装置100は、周辺回路に対してクロック周波数を供給するクロック分配回路130を有し、クロック分配回路130から出力されるクロックの周波数を調整するものである。
The embodiment will be described with reference to the reference numerals attached to the elements in the drawing.
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram illustrating a semiconductor device 100 according to the first embodiment. The semiconductor device 100 includes a clock distribution circuit 130 that supplies a clock frequency to peripheral circuits, and adjusts the frequency of the clock output from the clock distribution circuit 130.

半導体装置100は、電源変動モニタ部110と、クロック生成部120と、クロック分配回路130と、タイミングマージンモニタ部140と、クロック周波数調整部150と、を備える。   The semiconductor device 100 includes a power supply fluctuation monitoring unit 110, a clock generation unit 120, a clock distribution circuit 130, a timing margin monitoring unit 140, and a clock frequency adjustment unit 150.

電源変動モニタ部110は、電源電圧VDDの変動をモニタする。電源変動モニタ部110は、電源電圧VDDの変動を検出できるものであれば、その具体的な構成が特定されるものではないが、ここでは、リングオシレータ111と、カウンタ113と、で構成されるものを例示する。
図2に、電源変動モニタ部110を示す。
リングオシレータ111は、複数のインバータ112が直列接続でリング状になったものである。カウンタ113は、リングオシレータ111の出力をカウントする。各インバータ112は、そのスイッチング速度が電源電圧に敏感に反応する。したがって、信号が一定期間の間にこのリングオシレータ111を何周するかは電源電圧の高低を正確に反映したものとなる。
一定期間ごとにカウンタ113のカウント値をサンプリングすることによって、電源電圧の変動をモニタ(検出)することができる。カウント値が大きくなっていれば電源電圧VDDが高くなっているということであり、カウント値が小さくなっていれば電源電圧が下がっている、ということである。
The power supply fluctuation monitoring unit 110 monitors fluctuations in the power supply voltage VDD. A specific configuration of the power supply fluctuation monitoring unit 110 is not specified as long as it can detect a fluctuation in the power supply voltage VDD. Here, the power supply fluctuation monitoring unit 110 includes a ring oscillator 111 and a counter 113. The thing is illustrated.
FIG. 2 shows the power supply fluctuation monitoring unit 110.
The ring oscillator 111 is a ring in which a plurality of inverters 112 are connected in series. The counter 113 counts the output of the ring oscillator 111. The switching speed of each inverter 112 is sensitive to the power supply voltage. Therefore, the number of rounds of the ring oscillator 111 during a certain period of time accurately reflects the level of the power supply voltage.
By sampling the count value of the counter 113 at regular intervals, fluctuations in the power supply voltage can be monitored (detected). If the count value is large, the power supply voltage VDD is high, and if the count value is small, the power supply voltage is low.

次に、クロック生成部120、クロック分配回路130およびタイミングマージンモニタ部140の構成を図3に示す。
クロック生成部120は、例えばPLL(Phase-locked loop)回路であり、基準クロックを逓倍して内部クロックを生成する。
基準クロックは、例えば水晶振動子の発振で得られる一定周期のクロック信号である。基準クロックの周波数をfrで表すこととする。また、内部クロックの周波数をfiで表すこととする。クロック生成部(PLL回路)120は、クロック周波数調整部150からの制御信号を受けて内部クロックの周波数fiを変化させるが、詳しくは後述する。
Next, the configuration of the clock generation unit 120, the clock distribution circuit 130, and the timing margin monitor unit 140 is shown in FIG.
The clock generation unit 120 is, for example, a PLL (Phase-locked loop) circuit, and generates an internal clock by multiplying a reference clock.
The reference clock is, for example, a clock signal having a fixed period obtained by oscillation of a crystal resonator. The frequency of the reference clock is represented by fr. The frequency of the internal clock is represented by fi. The clock generation unit (PLL circuit) 120 receives the control signal from the clock frequency adjustment unit 150 and changes the frequency fi of the internal clock, which will be described in detail later.

クロック分配回路130は、最終的な遅延がほぼ等しくなるようにしながら内部クロックを複数に分岐するためのクロックツリーであり、複数のクロックドライバ(またはバッファ)121がツリー状に接続されている。
タイミングマージンモニタ部140は、1サイクルごとのタイミングマージンを計測する。タイミングマージンモニタ部140の構成としては1サイクルごとのタイミングマージンを計測できるものであればよいが、ここでは、いわゆるクリティカルパスレプリカを使用してタイミングマージンを計測する例を示す。タイミングマージンモニタ部140は、初段フリップフロップ回路143と、直列接続された複数の論理ゲート回路(ここではインバータ回路141)と、遅延バッファ142と、最終段フリップフロップ回路144、145と、を有する。
ここで、最終段フリップフロップ回路してしては、遅延バッファ142の後段に接続されている第1最終段フリップフロップ回路144と、遅延バッファ142の前段に接続されている第2最終段フリップフロップ回路145と、がある。
複数のインバータ回路141と遅延バッファ142とが直列接続されており、これがクリティカルパスのレプリカに相当する。
初段フリップフロップ回路143は、クロック分配回路130から供給されるクロックCLK0のタイミングでデータ端子から信号(例えばH)を取り込んで出力する。この信号は、複数のインバータ141を介して遅延バッファに入力される。
ここで、遅延バッファ142の入力の前段で信号は分岐され、分岐の一方は遅延バッファに入力され、分岐の他方は第2最終段フリップフロップ回路145のデータ端子に入力される。
また、遅延バッファ142による遅延を受けた信号は、第1最終段フリップフロップ回路144のデータ端子に入力される。そして、第1最終段フリップフロップ回路144および第2最終段フリップフロップ回路145は、クロックCLK0のタイミングでデータ端子に達している信号を取り込んで出力する。
The clock distribution circuit 130 is a clock tree for branching the internal clock into a plurality of branches while making final delays substantially equal, and a plurality of clock drivers (or buffers) 121 are connected in a tree shape.
The timing margin monitor unit 140 measures a timing margin for each cycle. The configuration of the timing margin monitor unit 140 may be anything as long as it can measure the timing margin for each cycle, but here, an example of measuring the timing margin using a so-called critical path replica is shown. The timing margin monitor unit 140 includes an initial stage flip-flop circuit 143, a plurality of logic gate circuits (inverter circuit 141 in this case) connected in series, a delay buffer 142, and final stage flip-flop circuits 144 and 145.
Here, as the final stage flip-flop circuit, the first final stage flip-flop circuit 144 connected to the subsequent stage of the delay buffer 142 and the second final stage flip-flop connected to the previous stage of the delay buffer 142 are used. Circuit 145.
A plurality of inverter circuits 141 and a delay buffer 142 are connected in series, and this corresponds to a replica of a critical path.
The first-stage flip-flop circuit 143 takes in and outputs a signal (for example, H) from the data terminal at the timing of the clock CLK0 supplied from the clock distribution circuit 130. This signal is input to the delay buffer via a plurality of inverters 141.
Here, the signal is branched before the input of the delay buffer 142, one of the branches is input to the delay buffer, and the other of the branches is input to the data terminal of the second final stage flip-flop circuit 145.
The signal delayed by the delay buffer 142 is input to the data terminal of the first final stage flip-flop circuit 144. Then, the first final stage flip-flop circuit 144 and the second final stage flip-flop circuit 145 capture and output a signal reaching the data terminal at the timing of the clock CLK0.

第1最終段フリップフロップ回路144の出力と、第2最終段フリップフロップ回路145の出力と、の組み合わせとしては、(0、1)と、(1、1)と、(0、0)と、の三パターンがあることになる。どのパターンが出現するかは、インバータ141のスイッチング速度および内部クロックの周波数に依存する。(インバータ141のスイッチング速度は電源電圧に依存する。)
さらに、どのパターンが出現するかは、クロックツリーを構成するドライバ121や、各フリップフロップ回路143、144、145の特性も反映し、さらには、クロックのジッタも影響する。三つのパターンのなかで(0、1)の組み合わせが出現すれば、タイミングマージンは適切であるということになる。すなわち、インバータ141のスイッチング速度が適切であり、クロック周期もスイッチング速度に適合しているということである。
一方、(0、0)の組み合わせが出現すれば、タイミングマージンが不適切に不足していることになる。これは、インバータ141のスイッチング速度(つまりは電源電圧)に対して、クロック周波数が速すぎることを意味する。
逆に、(1、1)の組み合わせが出現すれば、タイミングマージンに余裕が有り過ぎることになる。すなわち、インバータ141のスイッチング速度(つまりは電源電圧)に対して、クロック周波数が遅すぎることを意味する。
The combinations of the output of the first final stage flip-flop circuit 144 and the output of the second final stage flip-flop circuit 145 are (0, 1), (1, 1), (0, 0), There will be three patterns. Which pattern appears depends on the switching speed of the inverter 141 and the frequency of the internal clock. (The switching speed of the inverter 141 depends on the power supply voltage.)
Further, which pattern appears reflects the characteristics of the driver 121 and the flip-flop circuits 143, 144, and 145 that constitute the clock tree, and also affects the jitter of the clock. If a combination of (0, 1) appears among the three patterns, the timing margin is appropriate. That is, the switching speed of the inverter 141 is appropriate, and the clock cycle is also adapted to the switching speed.
On the other hand, if a combination of (0, 0) appears, the timing margin is inappropriately insufficient. This means that the clock frequency is too fast for the switching speed of the inverter 141 (that is, the power supply voltage).
Conversely, if the combination (1, 1) appears, the timing margin is too large. That is, it means that the clock frequency is too slow with respect to the switching speed of the inverter 141 (that is, the power supply voltage).

タイミングマージンモニタ部140は、数サイクルごと、好ましくは毎サイクル、タイミングマージンを計測する。タイミングマージンの計測結果はクロック周波数調整部150に送られる。   The timing margin monitor unit 140 measures the timing margin every several cycles, preferably every cycle. The measurement result of the timing margin is sent to the clock frequency adjustment unit 150.

最終段フリップフロップ回路の数を増やせば、タイミングマージンの余裕がどの程度あるかという定量的な計測もできる。例えば、図4のように、四つの最終段フリップフロップ回路144、145、146、147を用意し、どこまで信号が達したかによってタイミングマージンの余裕がどの程度あるかを計測してもよい。   If the number of final stage flip-flop circuits is increased, it is possible to quantitatively measure how much timing margin is available. For example, as shown in FIG. 4, four final stage flip-flop circuits 144, 145, 146, and 147 may be prepared to measure how much timing margin is available depending on how far the signal has reached.

クロック周波数調整部150は、条件判定部151と、周波数上げ下げ指示部152と、を有する。   The clock frequency adjustment unit 150 includes a condition determination unit 151 and a frequency increase / decrease instruction unit 152.

条件判定部151は、電源変動モニタ部110から電源電圧の変動情報を得るとともに、タイミングマージンモニタ部140からタイミングマージンの計測結果を得る。そして、条件判定部151は、電源電圧の変動情報と、タイミングマージンの計測結果と、の両方を複合的に用いてクロック周波数のアップまたはダウンの条件を満たしているかどうかを判定する。   The condition determination unit 151 obtains power supply voltage fluctuation information from the power supply fluctuation monitoring unit 110 and obtains a timing margin measurement result from the timing margin monitoring unit 140. Then, the condition determination unit 151 determines whether or not the condition for increasing or decreasing the clock frequency is satisfied by using both the fluctuation information of the power supply voltage and the measurement result of the timing margin in combination.

具体的には、条件判定部151は、電源電圧が上昇し、かつ、タイミングマージンに余裕がある場合にのみ、クロック周波数のアップを決定する。
これを図5を参照しながら説明する。
図5は、電源電圧の変動の一例を示している。
ここで、電源変動モニタ部110は、電圧が高くなったか低くなったかを2サイクル前の電圧(すなわちカウント値)と比較することで判断することとする。例えば、時刻t3のときは、時刻t1のときの電圧値V1と時刻t3のときの電圧値V3とを対比することとする。時刻t3のときは、時刻t1の電圧V1に比べて電圧は上昇していることになる。
Specifically, the condition determination unit 151 determines to increase the clock frequency only when the power supply voltage increases and the timing margin is sufficient.
This will be described with reference to FIG.
FIG. 5 shows an example of fluctuations in the power supply voltage.
Here, the power supply fluctuation monitoring unit 110 determines whether the voltage has increased or decreased by comparing it with the voltage two cycles before (ie, the count value). For example, at time t3, the voltage value V1 at time t1 is compared with the voltage value V3 at time t3. At time t3, the voltage is higher than voltage V1 at time t1.

なお、これは一例なのであって、電源電圧の高低変化を判定するにあたってはその他の方法を採用してもよいことはもちろんである。
例えば、1サイクル前の電圧と現在の電圧とを対比してもよい。
あるいは、2サイクル前の電圧と、1サイクル前の電圧と、さらに、現在の電圧と、を総合的に利用して判定するようにしてもよい。
This is only an example, and it goes without saying that other methods may be adopted in determining the change in the power supply voltage.
For example, the voltage one cycle before may be compared with the current voltage.
Alternatively, the determination may be made by comprehensively using the voltage two cycles before, the voltage one cycle before, and the current voltage.

タイミングマージンモニタ部140は、タイミングマージンの計測を毎サイクル実行する。その結果として、時刻t3のときはタイミングマージンに余裕があるとする。この場合、電源電圧が上昇し、かつ、タイミングマージンに余裕があるので、条件判定部151は、クロック周波数をアップさせる決定をする。   The timing margin monitor unit 140 executes timing margin measurement every cycle. As a result, it is assumed that there is a margin in the timing margin at time t3. In this case, since the power supply voltage increases and the timing margin is sufficient, the condition determination unit 151 determines to increase the clock frequency.

一方、時刻t5の場合を考える。電源電圧についてみると、時刻t5の電圧V5は、時刻t3の電圧V3よりも高い。しかし、時刻t5において計測されたタイミングマージンは"適切"な値で、余裕があるわけではない。この場合、条件判定部151は、クロック周波数をアップさせず、維持させる決定をする。   On the other hand, consider the case at time t5. As for the power supply voltage, the voltage V5 at time t5 is higher than the voltage V3 at time t3. However, the timing margin measured at time t5 is an “appropriate” value and does not have a margin. In this case, the condition determination unit 151 determines to maintain the clock frequency without increasing it.

条件判定部151は、電源電圧が下がっており、かつ、タイミングマージンが適切な値程度しかない場合には、クロック周波数をダウンさせる決定をする。ただし、電源電圧が下がっていても、タイミングマージンに余裕がある場合には、クロック周波数をダウンさせずに、維持させる決定をする。例えば、時刻t6の電圧V6は、時刻t4の電圧V4よりも低い。そして、時刻t6のタイミングマージンは余裕があるわけではなく適切な程度である。したがって、時刻t6の場合、条件判定部151は、クロック周波数をダウンさせる決定をする。
一方、時刻t9のときは、電圧は時刻t7のときより下がっているが、タイミングマージンに余裕がある。したがって、この場合にはクロック周波数をダウンさせず、維持する決定をする。
The condition determination unit 151 determines to reduce the clock frequency when the power supply voltage is lowered and the timing margin is only an appropriate value. However, even if the power supply voltage is lowered, if there is a margin in the timing margin, it is decided to maintain the clock frequency without lowering it. For example, the voltage V6 at time t6 is lower than the voltage V4 at time t4. In addition, the timing margin at time t6 is not a margin but an appropriate level. Accordingly, at time t6, the condition determination unit 151 determines to reduce the clock frequency.
On the other hand, at time t9, the voltage is lower than at time t7, but there is a margin in the timing margin. Therefore, in this case, the decision is made to maintain the clock frequency without reducing it.

条件判定部151での決定事項、すなわち、クロック周波数をアップする、クロック周波数をダウンする、または、クロック周波数を維持する、の決定は、周波数上げ下げ指示部152に与えられる。そして、周波数上げ下げ指示部152は、クロック周波数のアップ、ダウンまたは維持をクロック生成部120(PLL回路)に指示する。これにより、クロック生成部120(PLL回路)において最適な周波数を持ったクロックが生成される。   The determination items in the condition determination unit 151, that is, the determination to increase the clock frequency, decrease the clock frequency, or maintain the clock frequency, is given to the frequency increase / decrease instruction unit 152. The frequency increase / decrease instruction unit 152 instructs the clock generation unit 120 (PLL circuit) to increase, decrease, or maintain the clock frequency. As a result, a clock having an optimum frequency is generated in the clock generation unit 120 (PLL circuit).

本第1実施形態によれば次の効果を奏する。
本実施形態においては、電源電圧が上がったからといって一律にクロック周波数を上げるものではなく、タイミングマージンの余裕も考慮しながらクロック周波数の上げ下げを決定する。例えば、時刻t3および時刻t4においてクロック周波数を連続してアップさせた結果、時刻t5のようにタイミングマージンに余裕が無くなっている場合があり得る。このような場合にも電圧の上昇に追随してクロック周波数をアップさせてしまうと、回路動作が間に合わなくなってしまう。この点、本実施形態では、タイミングマージンに余裕があるか否かも考慮し、電圧に対してクロック周波数が十分に上がっている場合には、クロック周波数を維持させるという決定を行うことができる。
According to the first embodiment, the following effects are obtained.
In the present embodiment, even if the power supply voltage increases, the clock frequency is not increased uniformly, but the increase or decrease of the clock frequency is determined in consideration of the margin of the timing margin. For example, as a result of continuously increasing the clock frequency at time t3 and time t4, there may be no timing margin as at time t5. Even in such a case, if the clock frequency is increased following the rise in voltage, the circuit operation will not be in time. In this regard, in the present embodiment, whether or not there is a margin in the timing margin is taken into consideration, and when the clock frequency is sufficiently increased with respect to the voltage, it can be determined to maintain the clock frequency.

また逆に、電源電圧が下がったからといって、一律にクロック周波数を下げるのではない。時刻t7および時刻t8においてクロック周波数を連続してダウンさせた結果、時刻t9のようにタイミングマージンに十分な余裕が生じている場合があり得る。このような場合にも電圧の低下に追随してクロック周波数をダウンさせてしまうと、回路の動作速度を不必要に落してしまうことになる。この点、本実施形態では、タイミングマージンに余裕があるか否かも考慮し、電圧に対してクロック周波数が十分に下がって場合には、クロック周波数を維持させるという決定を行うことができる。   On the other hand, just because the power supply voltage is lowered does not mean that the clock frequency is lowered uniformly. As a result of continuously reducing the clock frequency at time t7 and time t8, there may be a sufficient margin in the timing margin as at time t9. Even in such a case, if the clock frequency is lowered following the voltage drop, the operation speed of the circuit is unnecessarily reduced. In this regard, in the present embodiment, whether or not there is a margin in the timing margin is taken into consideration, and when the clock frequency is sufficiently lowered with respect to the voltage, it can be determined to maintain the clock frequency.

(第2実施形態)
第2実施形態を図6を参照して説明する。
第2実施形態の基本的構成は第1実施形態と同じである。
第2実施形態においては、電源を生成する電源回路160を明示している。
電源回路160は、周辺回路(不図示)が要求された性能を達成できるだけの電源電圧を供給する。ここで、要求される性能を周辺回路が達成できるような電圧レベルを知る必要があるので、半導体装置200は、特性モニタ部170を備える。
特性モニタ部170は、現時点の電圧で周辺回路が達成できる性能を見積もれる回路であればよい。見積もられた周辺回路の性能が要求水準に達していなければ、電源回路160は電源電圧を上昇させる。一方、見積もられた周辺回路の性能が要求水準を超過していれば、電源回路160は電源電圧を低下させる。これにより、必要最低限の電源電圧とし、極低電力化を実現できる。
ただし、このように電源電圧を上げたり下げたりするフィードバック制御が入ると、電源電圧にはリップルが多く含まれるようになってくる。また、電源電圧を要求水準限り限りまで下げると、トランジスタの閾値電圧に近くなってくるので、タイミングマージンに余裕が無くなってくることになる。
(Second Embodiment)
A second embodiment will be described with reference to FIG.
The basic configuration of the second embodiment is the same as that of the first embodiment.
In the second embodiment, a power supply circuit 160 that generates a power supply is clearly shown.
The power supply circuit 160 supplies a power supply voltage that allows a peripheral circuit (not shown) to achieve the required performance. Here, since it is necessary to know a voltage level at which the peripheral circuit can achieve the required performance, the semiconductor device 200 includes the characteristic monitor unit 170.
The characteristic monitor unit 170 may be any circuit that can estimate the performance that can be achieved by the peripheral circuit with the current voltage. If the estimated performance of the peripheral circuit does not reach the required level, the power supply circuit 160 increases the power supply voltage. On the other hand, if the estimated performance of the peripheral circuit exceeds the required level, the power supply circuit 160 reduces the power supply voltage. As a result, the power supply voltage can be reduced to the minimum necessary, and extremely low power can be realized.
However, when feedback control for increasing or decreasing the power supply voltage is entered, the power supply voltage includes a lot of ripples. Further, when the power supply voltage is lowered as much as the required level, it becomes close to the threshold voltage of the transistor, so that there is no margin in the timing margin.

この点、第1実施形態で説明したように、タイミングマージンモニタ部140によってタイミングマージンを計測し、タイミングマージンに余裕があるときにだけクロック周波数をアップさせるようにしている。この適応型周波数スケーリング制御の構成は、適応型電圧スケーリング制御を行う場合には、動作の安定性を確保するうえで極めて重要な役割を担う。   In this regard, as described in the first embodiment, the timing margin is measured by the timing margin monitor unit 140, and the clock frequency is increased only when there is a margin in the timing margin. The configuration of the adaptive frequency scaling control plays an extremely important role in ensuring the stability of the operation when the adaptive voltage scaling control is performed.

(第2実施形態の変形例1)
なお、特性モニタ部170は、リングオシレータを用いて構成されてもよく、電源変動モニタ部110と同じ構成でもよい。(すなわち、カウンタ113のカウント値によって、どの程度の動作速度になっているのかがわかる。)したがって、図7に示すように、電源変動モニタ部110にて計測したカウント値を電源回路に送るようにしてもよい。
(Modification 1 of 2nd Embodiment)
The characteristic monitor unit 170 may be configured using a ring oscillator, or may have the same configuration as the power supply fluctuation monitor unit 110. (In other words, the operating speed is determined by the count value of the counter 113.) Therefore, as shown in FIG. 7, the count value measured by the power supply fluctuation monitoring unit 110 is sent to the power supply circuit. It may be.

(第2実施形態の変形例2)
また、特性モニタ部170は、クリティカルパスレプリカを用いて構成されてもよく、タイミングマージンモニタ部140と同じ構成でもよい。(最終段フリップフロップ回路144−147の出力の組み合わせパターンによって、どの程度の動作速度になっているのかがわかる。)したがって、図8に示すように、タイミングマージンモニタ部140で計測したタイミングマージンを電源回路に送るようにしてもよい。
(Modification 2 of the second embodiment)
Further, the characteristic monitor unit 170 may be configured using a critical path replica, or may have the same configuration as the timing margin monitor unit 140. (The operation speed is determined by the combination pattern of the outputs of the final-stage flip-flop circuits 144-147.) Therefore, as shown in FIG. 8, the timing margin measured by the timing margin monitor unit 140 is calculated. You may make it send to a power supply circuit.

(第3実施形態)
第3実施形態を説明する。
第3実施形態の基本的構成は第1および第2実施形態と同じであるが、さらに要求性能モニタ部180を備えている点に特徴を有する。
図9において、要求性能モニタ部180が設けられている。第1、第2実施形態において、電源電圧が下がり、かつ、タイミングマージンに余裕が無い場合にはクロック周波数を下げることとしていた。しかしながら、デバイスには要求される動作速度というものがあり、タイミングマージンが足りないからといってクロック周波数を際限なく下げて良いわけではない。例えば、テレビであれば、1秒間に処理すべき画像フレーム数(例えば30フレーム)が決まっており、この要求性能を下回るほどクロック周波数を下げてしまってはいけない。
(Third embodiment)
A third embodiment will be described.
The basic configuration of the third embodiment is the same as that of the first and second embodiments, but is characterized in that a required performance monitoring unit 180 is further provided.
In FIG. 9, a required performance monitor unit 180 is provided. In the first and second embodiments, the clock frequency is lowered when the power supply voltage is lowered and the timing margin is not sufficient. However, some devices have a required operating speed, and the lack of timing margin does not mean that the clock frequency can be lowered indefinitely. For example, in the case of a television, the number of image frames (for example, 30 frames) to be processed per second is determined, and the clock frequency must not be lowered so as to fall below this required performance.

そこで、要求性能モニタ部180は、内部クロックを所定期間カウントし、動作速度が要求性能以上になっているかどうかをモニタする。
すなわち、
Σ(内部クロック信号)≧[要求性能値]・・・(式1)
を満たしているかどうかをモニタする。
Therefore, the required performance monitor unit 180 counts the internal clock for a predetermined period and monitors whether the operation speed is equal to or higher than the required performance.
That is,
Σ (internal clock signal) ≥ [required performance value] (Equation 1)
Monitor whether or not

(式1)の[要求性能値]は、要求性能モニタ部180内か所定のメモリ(不図示)に固定値として設定記憶させておいてもよい。あるいは、基準クロックの周波数は一定なのであるから、毎回基準クロックに基づいて[要求性能値]を算出できるようにしておいてもよい。   [Required performance value] in (Expression 1) may be set and stored as a fixed value in the required performance monitor unit 180 or in a predetermined memory (not shown). Alternatively, since the frequency of the reference clock is constant, the [required performance value] may be calculated based on the reference clock every time.

Σ(内部クロック信号)≧F(Σ(基準クロック信号))・・・(式2)
[要求性能値]は、Σ(基準クロック信号)の関数である。
Σ (internal clock signal) ≧ F (Σ (reference clock signal)) (Equation 2)
[Required performance value] is a function of Σ (reference clock signal).

なお、要求性能値を動的に変えられるようになっていてもよい。例えば、サーバにアクセスしているクライアントが少数(例えば一つ)であれば、サーバに要求される処理能力は高くないが、アクセスしてくるクライアントの数が増えると(例えば100になると)、サーバに要求される処理能力が高くなるのは当然である。   The required performance value may be changed dynamically. For example, if the number of clients accessing the server is small (for example, one), the processing capability required for the server is not high, but if the number of clients accessing the server increases (for example, 100), the server As a matter of course, the processing capacity required for the system increases.

そして、要求性能モニタ部180によるモニタ結果は、クロック周波数調整部150に送られる。クロック周波数調整部150(つまり条件判定部151)は、動作速度が要求性能値を満たしている場合だけ、クロック周波数のダウンを許可する。すなわち、電源電圧が下がり、かつ、タイミングマージンに余裕が無い場合であったとしても、動作速度が要求性能値を満たしていなければ、クロック周波数を下げないこととする。   Then, the monitoring result by the required performance monitoring unit 180 is sent to the clock frequency adjusting unit 150. The clock frequency adjusting unit 150 (that is, the condition determining unit 151) permits the clock frequency to be lowered only when the operation speed satisfies the required performance value. That is, even when the power supply voltage is lowered and there is no margin in the timing margin, the clock frequency is not lowered unless the operation speed satisfies the required performance value.

(第3実施形態の変形例1)
上記第3実施形態では、電源電圧が下がり、かつ、タイミングマージンに余裕が無い場合であったとしても、動作速度が要求性能値を満たしていなければ、クロック周波数を下げないこととした。しかし、電源電圧が上昇したり、環境温度が下がったりするなどの良好な変化が生じない限り、このままでは、タイミングマージンがなくなって所定の動作ができなくなる恐れもある。そこで、図10のように、要求性能モニタ部180によるモニタ結果を電源回路160にも送り、動作速度が要求性能値を満たしていなければ、電源電圧を上昇させるようにする。
(Modification 1 of 3rd Embodiment)
In the third embodiment, even if the power supply voltage is lowered and the timing margin is not sufficient, the clock frequency is not lowered unless the operation speed satisfies the required performance value. However, unless a good change such as a rise in power supply voltage or a decrease in environmental temperature does not occur, there is a possibility that the timing margin is lost and a predetermined operation cannot be performed. Therefore, as shown in FIG. 10, the monitoring result by the required performance monitoring unit 180 is also sent to the power supply circuit 160, and the power supply voltage is increased if the operation speed does not satisfy the required performance value.

なお、図10では、電源回路160は、電源変動モニタ部110からの出力も受けている。電源回路160は、リングオシレータ111の発振周波数に基づいて周辺回路の特性(性能)をモニタし、これに基づいて周辺回路の特性(性能)を満たす電源電圧になるように電圧制御を行っている。電源回路160が、電源変動モニタ部110と要求性能モニタ部180との両方から情報を受ける場合には、どちらの要求水準も満たすように電源電圧の上げ下げを行う。   In FIG. 10, the power supply circuit 160 also receives an output from the power supply fluctuation monitoring unit 110. The power supply circuit 160 monitors the characteristics (performance) of the peripheral circuit based on the oscillation frequency of the ring oscillator 111, and based on this, performs voltage control so that the power supply voltage satisfies the characteristics (performance) of the peripheral circuit. . When the power supply circuit 160 receives information from both the power supply fluctuation monitoring unit 110 and the required performance monitoring unit 180, the power supply voltage is raised and lowered so as to satisfy both required levels.

(第3実施形態の変形例2)
第3実施形態の変形例2として図11の構成を挙げる。この構成は、図8(第2実施形態の変形例2)に、要求性能モニタ部180を付加した構成であるので、その意味するところは明らかであり、繰り返しの説明は省略する。
(Modification 2 of 3rd Embodiment)
The configuration of FIG. 11 is given as a second modification of the third embodiment. Since this configuration is a configuration in which the required performance monitor unit 180 is added to FIG. 8 (Modification 2 of the second embodiment), its meaning is clear and repeated description is omitted.

(第3実施形態の変形例3)
第3実施形態の変形例3として図12の構成を挙げる。この構成は、図11(第3実施形態の変形例2)において、要求性能モニタ部180の出力を電源回路にも送出するものである。電源回路に要求性能モニタ部180の出力を送出する意味は図10(第3実施形態の変形例1)で説明済みであるので、繰り返しの説明は省略する。
(Modification 3 of 3rd Embodiment)
The configuration of FIG. 12 is given as a third modification of the third embodiment. In this configuration, the output of the required performance monitoring unit 180 is also sent to the power supply circuit in FIG. 11 (Modification 2 of the third embodiment). Since the meaning of sending the output of the required performance monitor unit 180 to the power supply circuit has already been described with reference to FIG. 10 (Modification 1 of the third embodiment), repeated description will be omitted.

(第4実施形態)
第4実施形態について図13を参照して説明する。
第4実施形態は、制御動作が安定するように動作タイミング調整部を備えている点に特徴を有する。
図13において、モニタ機能を有する機能部としては、要求性能モニタ部180と、電源変動モニタ部110と、タイミングマージンモニタ部140と、がある。そして、各モニタ機能部において一つの計測値を求めるためのモニタ期間の長さは、モニタ期間が長い順に次のようになる。
(Fourth embodiment)
A fourth embodiment will be described with reference to FIG.
The fourth embodiment is characterized in that an operation timing adjustment unit is provided so that the control operation is stabilized.
In FIG. 13, functional units having a monitoring function include a required performance monitoring unit 180, a power supply fluctuation monitoring unit 110, and a timing margin monitoring unit 140. Then, the length of the monitoring period for obtaining one measurement value in each monitor function unit is as follows in the order of the longer monitoring period.

要求性能モニタ部180のモニタ期間>電源変動モニタ部110のモニタ期間>タイミングマージンモニタ部140のモニタ期間。
この順番は、各モニタ部でモニタする対象の性質からいって、自ずと決まるといってもよい。
Monitor period of required performance monitor unit 180> Monitor period of power supply fluctuation monitor unit 110> Monitor period of timing margin monitor unit 140.
This order may be determined by the nature of the object monitored by each monitor unit.

次に、制御機能部としては、クロック周波数の上げ下げを決定するクロック周波数調整部150と、電源電圧の上げ下げを行う電源回路160と、がある。
制御サイクル(制御周期)としては、クロック周波数の上げ下げ制御の周期の方を、電源電圧の制御周期よりも短くすることが好ましい。
これは、回路動作の安定性を保つために必要な処置である。
電源電圧の高低変化およびその電圧でのタイミングマージン余裕を見てから、クロック周波数の適応制御が行われる。したがって、電源電圧の制御周期がクロック周波数の制御周期よりも短かった場合、フィードバック制御が安定せずに発振してしまう恐れが高くなる。すなわち、電源電圧の方を緩やかに変化させ、クロック周波数の方を高速に制御した方が好ましいということになる。
Next, as the control function unit, there are a clock frequency adjustment unit 150 that determines whether to increase or decrease the clock frequency, and a power supply circuit 160 that increases or decreases the power supply voltage.
As the control cycle (control cycle), it is preferable to make the cycle of the clock frequency increase / decrease control shorter than the control cycle of the power supply voltage.
This is a necessary measure for maintaining the stability of the circuit operation.
The clock frequency is adaptively controlled after looking at the level of the power supply voltage and the timing margin margin at that voltage. Therefore, when the control cycle of the power supply voltage is shorter than the control cycle of the clock frequency, there is a high possibility that the feedback control will oscillate without being stabilized. That is, it is preferable to change the power supply voltage more slowly and to control the clock frequency at a higher speed.

(第4実施形態の変形例1)
第4実施形態の変形例1を図14に示す。
図14では、電源電圧のフィードバック制御をクロック周波数のフィードバック制御と独立のループとしている。すなわち、特性モニタ部170が設けられている。
この場合には、各モニタ部のモニタ期間の長さを次の順にする。
要求性能モニタ部180のモニタ期間>特性モニタ部170のモニタ期間>電源変動モニタ部110のモニタ期間>タイミングマージンモニタ部140のモニタ期間。
制御サイクル(制御周期)として、クロック周波数の上げ下げ制御の周期の方を、電源電圧の制御周期よりも短くすることが好ましいのは、上記第4実施形態の場合と同じである。
(Modification 1 of 4th Embodiment)
FIG. 14 shows a first modification of the fourth embodiment.
In FIG. 14, the feedback control of the power supply voltage is a loop independent of the feedback control of the clock frequency. That is, a characteristic monitor unit 170 is provided.
In this case, the length of the monitoring period of each monitor unit is set in the following order.
Monitoring period of required performance monitoring unit 180> Monitoring period of characteristic monitoring unit 170> Monitoring period of power supply fluctuation monitoring unit 110> Monitoring period of timing margin monitoring unit 140.
As in the case of the fourth embodiment, it is preferable to make the clock frequency increase / decrease control cycle shorter than the control cycle of the power supply voltage as the control cycle (control cycle).

(第4実施形態の変形例2)
第4実施形態の変形例2を図15に示す。
図15においては、電源回路160はタイミングマージンモニタ部140からの出力情報に基づいて電源電圧の制御を行うこととしている。タイミングマージンモニタ部140によるタイミングマージンのモニタ情報は毎サイクル得られるものである。しかし、クロック周波数の上げ下げ制御の周期の方を、電源電圧の制御周期よりも短くすることが好ましいのは、上記第4実施形態の場合と同じである。
(Modification 2 of 4th Embodiment)
A second modification of the fourth embodiment is shown in FIG.
In FIG. 15, the power supply circuit 160 controls the power supply voltage based on the output information from the timing margin monitor unit 140. The timing margin monitor information by the timing margin monitor unit 140 is obtained every cycle. However, as in the case of the fourth embodiment, it is preferable to make the clock frequency increase / decrease control cycle shorter than the control cycle of the power supply voltage.

(第5実施形態)
第5実施形態を図16を参照して説明する。
図18においては電源系統がVDD1からVDD3まで複数あることを表している。各電源系統の電圧はそれぞれ別個に設けられた電源回路160A、160B、160Cで制御される。また、電源変動モニタ部110A、110B、110Cおよびタイミングマージンモニタ部140A、140B、140Cも電源系統ごとに設けられている。
このような場合、クロック周波数調整部150としては、すべての電源系統において要求された通りの動作で実現されるようにクロック周波数を決定する必要があるのは当然である。言い換えると、クロック周波数調整部150は、条件が最も厳しい電源系統であっても要求される性能を達成できるようにクロック周波数を決定する。クロック周波数調整部150は、例えば、電源電圧が低く、かつ、タイミングマージンに余裕が無い電源系統を優先的に考慮して、最適なクロック周波数を決定する。
(Fifth embodiment)
A fifth embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 18 shows that there are a plurality of power supply systems from VDD1 to VDD3. The voltage of each power supply system is controlled by power supply circuits 160A, 160B and 160C provided separately. Further, power supply fluctuation monitoring units 110A, 110B, and 110C and timing margin monitoring units 140A, 140B, and 140C are also provided for each power supply system.
In such a case, it is natural that the clock frequency adjusting unit 150 needs to determine the clock frequency so as to be realized by an operation as required in all power supply systems. In other words, the clock frequency adjusting unit 150 determines the clock frequency so that the required performance can be achieved even in the power supply system having the strictest conditions. For example, the clock frequency adjustment unit 150 determines an optimal clock frequency in consideration of a power supply system having a low power supply voltage and a sufficient timing margin.

(第6実施形態)
第6実施形態を図17を参照して説明する。
図17においては、クロック周波数調整部150は、タイミングマージンモニタ部140からのフィードバック情報を受けない。クロック周波数調整部150は、電源変動モニタ部110でモニタされた電源電圧の変化情報と、要求性能判定部で得られた要求性能を満たしているかどうかの判定結果と、をみてクロック周波数のアップまたはダウンを決定する。この構成においても、単に電源電圧の高低だけに基づいてクロック周波数の増減を決定せずに、要求性能を満たしているかどうかについても判定条件に含める。すなわち、電源電圧が下がったからといって一律にクロック周波数を下げてしまうのではなく、電源が下がった場合であっても、なおかつ、要求性能を満たしている場合にのみクロック周波数のダウンを決定する。これにより、要求性能を満たせないほどクロック周波数が下がってしまうような制御を回避することができる。
(Sixth embodiment)
A sixth embodiment will be described with reference to FIG.
In FIG. 17, the clock frequency adjustment unit 150 does not receive feedback information from the timing margin monitor unit 140. The clock frequency adjusting unit 150 increases the clock frequency by looking at the change information of the power supply voltage monitored by the power supply fluctuation monitoring unit 110 and the determination result of whether or not the required performance obtained by the required performance determining unit is satisfied. Decide down. Also in this configuration, whether or not the required performance is satisfied is included in the determination condition without determining whether to increase or decrease the clock frequency based solely on the level of the power supply voltage. In other words, the clock frequency is not lowered uniformly just because the power supply voltage is lowered, but the clock frequency is decided to be lowered only when the power is lowered and the required performance is satisfied. . As a result, it is possible to avoid such control that the clock frequency is lowered so that the required performance cannot be satisfied.

なお、電源電圧の値は、クリティカルパスレプリカ(タイミングマージンモニタ部)からの情報に基づいて、要求水準を満たす程度の電圧値になるように制御される。
加えて、要求性能判定部で得られた要求性能を満たしているかどうかの判定結果を電源回路にフィードバックするようにしてもよい。
The value of the power supply voltage is controlled so as to satisfy a required level based on information from the critical path replica (timing margin monitor unit).
In addition, the determination result as to whether or not the required performance obtained by the required performance determination unit is satisfied may be fed back to the power supply circuit.

以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。   As mentioned above, the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiment. However, the present invention is not limited to the embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

(付記1)
クロック信号を生成するクロック生成部と、
電源電圧の上下変化をモニタする電源変動モニタ部と、
クロック信号を所定期間カウントして、動作速度が要求性能以上になっているかどうかをモニタする要求性能モニタ部と、
前記電源電圧の上下変化と、動作速度が要求性能以上になっているかどうかと、に基づいて、前記クロック信号の周波数をアップ、ダウンまたは維持させるクロック周波数調整部と、を備える
クロック周波数制御装置。
(付記2)
前記クロック周波数調整部は、
前記電源電圧が下がった場合でも、動作速度が要求性能値を満たしている場合だけ、クロック周波数のダウンを許可する
付記1に記載のクロック周波数制御装置。
(Appendix 1)
A clock generator for generating a clock signal;
A power fluctuation monitor section for monitoring the vertical fluctuation of the power supply voltage;
A required performance monitoring unit that counts a clock signal for a predetermined period and monitors whether the operation speed is equal to or higher than the required performance;
A clock frequency control device, comprising: a clock frequency adjustment unit configured to increase, decrease, or maintain the frequency of the clock signal based on whether the power supply voltage is changed up and down and whether the operation speed is equal to or higher than the required performance.
(Appendix 2)
The clock frequency adjustment unit includes:
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the clock frequency is allowed to be lowered only when the operation speed satisfies the required performance value even when the power supply voltage is lowered.

100・・・半導体装置、110、110A、110B、110C・・・電源変動モニタ部、111・・・リングオシレータ、112・・・インバータ、113・・・カウンタ、120・・・クロック生成部、121・・・ドライバ、130・・・クロック分配回路、140、140A、140B、140C・・・タイミングマージンモニタ部、141・・・インバータ、142・・・遅延バッファ、143・・・初段フリップフロップ回路、144・・・第1最終段フリップフロップ回路、145・・・第2最終段フリップフロップ回路、150・・・クロック周波数調整部、151・・・条件判定部、152・・・周波数上げ下げ指示部152、160、160A、160B、160C・・・電源回路、170・・・特性モニタ部、180・・・要求性能モニタ部。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Semiconductor device, 110, 110A, 110B, 110C ... Power supply fluctuation monitoring part, 111 ... Ring oscillator, 112 ... Inverter, 113 ... Counter, 120 ... Clock generation part, 121 ... Driver, 130 ... Clock distribution circuit, 140, 140A, 140B, 140C ... Timing margin monitor unit, 141 ... Inverter, 142 ... Delay buffer, 143 ... First stage flip-flop circuit 144: first final stage flip-flop circuit, 145: second final stage flip-flop circuit, 150: clock frequency adjusting unit, 151: condition determining unit, 152: frequency raising / lowering instructing unit 152 , 160, 160A, 160B, 160C... Power supply circuit, 170... Characteristic monitor unit, 180. Function monitor part.

Claims (10)

クロック信号を生成するクロック生成部と、
電源電圧の上下変化をモニタする電源変動モニタ部と、
クロック信号の供給を受ける回路におけるタイミングマージンを算出するタイミングマージンモニタ部と、
前記電源電圧の上下変化と前記タイミングマージンの大きさとに基づいて、前記クロック信号の周波数をアップ、ダウンまたは維持させるクロック周波数調整部と、を備える
クロック周波数制御装置。
A clock generator for generating a clock signal;
A power fluctuation monitor section for monitoring the vertical fluctuation of the power supply voltage;
A timing margin monitor unit for calculating a timing margin in a circuit that receives a clock signal;
A clock frequency control device comprising: a clock frequency adjusting unit that increases, decreases, or maintains the frequency of the clock signal based on the vertical change of the power supply voltage and the magnitude of the timing margin.
前記クロック周波数調整部は、
前記電源電圧が上昇し、かつ、前記タイミングマージンに適切値以上の余裕がある場合に、前記クロック信号の周波数をアップさせる
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
The clock frequency adjustment unit includes:
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the frequency of the clock signal is increased when the power supply voltage rises and the timing margin has a margin greater than an appropriate value.
前記クロック周波数調整部は、
前記電源電圧が上昇しても、前記タイミングマージンに適切値以上の余裕が無い場合には、前記クロック信号の周波数を維持させる
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
The clock frequency adjustment unit includes:
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the frequency of the clock signal is maintained if the timing margin does not have an appropriate value or more even when the power supply voltage increases.
前記クロック周波数調整部は、
前記電源電圧が低下し、かつ、前記タイミングマージンが適切値以下である場合には、前記クロック信号の周波数をダウンさせる
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
The clock frequency adjustment unit includes:
The clock frequency control device according to claim 1, wherein when the power supply voltage decreases and the timing margin is equal to or less than an appropriate value, the frequency of the clock signal is decreased.
前記クロック周波数調整部は、
前記電源電圧が低下しても、前記タイミングマージンに適切値以上の余裕がある場合には、前記クロック信号の周波数を維持させる
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
The clock frequency adjustment unit includes:
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the frequency of the clock signal is maintained when the timing margin has a margin equal to or greater than an appropriate value even when the power supply voltage is reduced.
前記電源変動モニタ部は、リングオシレータと、このリングオシレータの発振回数を計測するカウンタと、を備えている
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the power supply fluctuation monitoring unit includes a ring oscillator and a counter that measures the number of oscillations of the ring oscillator.
前記タイミングマージンモニタ部は、クロック信号の供給を受ける回路のクリティカルパスレプリカを有し、このクリティカルパスレプリカにおける遅延量を計測する
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the timing margin monitor unit includes a critical path replica of a circuit that receives a clock signal and measures a delay amount in the critical path replica.
クロック信号を所定期間カウントして、動作速度が要求性能以上になっているかどうかをモニタする要求性能モニタ部をさらに備え、
前記クロック周波数調整部は、動作速度が要求性能値を満たしている場合だけ、クロック周波数のダウンを許可する
請求項1に記載のクロック周波数制御装置。
A required performance monitoring unit that counts the clock signal for a predetermined period and monitors whether the operation speed is equal to or higher than the required performance is further provided,
The clock frequency control device according to claim 1, wherein the clock frequency adjustment unit permits the clock frequency to be lowered only when the operation speed satisfies a required performance value.
請求項1から請求項8のいずれかに記載のクロック周波数制御装置と、
電源を生成する電源回路と、
この電源を受けて動作する周辺回路が現時点の電源電圧で達成できる性能を見積もる特性モニタ部と、を備え、
前記電源回路は、
見積もられた周辺回路の性能が要求水準に達していなければ、電源電圧を上昇させ、
見積もられた周辺回路の性能が要求水準を超過していれば、電源電圧を低下させる
半導体装置。
A clock frequency control device according to any one of claims 1 to 8,
A power supply circuit for generating a power supply;
A peripheral circuit that operates by receiving this power supply has a characteristic monitor section that estimates the performance that can be achieved with the current power supply voltage, and
The power supply circuit is
If the estimated peripheral circuit performance does not reach the required level, increase the power supply voltage.
A semiconductor device that reduces the power supply voltage if the estimated performance of the peripheral circuit exceeds the required level.
前記クロック周波数調整部がクロック周波数を制御する制御周期は、前記電源回路が電源電圧値を制御する制御周期よりも短い
請求項9に記載の半導体装置。
The semiconductor device according to claim 9, wherein a control cycle in which the clock frequency adjusting unit controls the clock frequency is shorter than a control cycle in which the power supply circuit controls a power supply voltage value.
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