JP2014052282A - 周波数測定回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】周波数測定回路100は、入力信号IN(周波数:fin)よりも高い周波数fs(>fin)のクロック信号CLKを用いて入力信号INの同期化とエッジ検出を行うことによりエッジ検出信号EDGEを生成する同期化/エッジ検出部110と、エッジ検出信号EDGEにローパスフィルタ処理を施して出力信号OUTを生成するローパスフィルタ部120と、を有する。
【選択図】図1
Description
図1は、周波数測定回路の第1構成例を示すブロック図である。本構成例の周波数測定回路100は、入力信号INの周波数finに応じたmビットの出力信号OUTを生成する回路であり、同期化/エッジ検出部110と、ローパスフィルタ部120とを有する。
図3は、同期化/エッジ検出部110とローパスフィルタ部120の一構成例を示す図である。本構成例の同期化/エッジ検出部110は、Dフリップフロップ111〜113と、EXORゲート114を含む。また、本構成例のローパスフィルタ部120は、64移動平均フィルタ121と、16移動平均フィルタ122と、IIR[infinite impulse response]フィルタ123と、2分周器124と、8分周器125を含む。
図8及び図9は、それぞれ周波数測定回路が搭載される電子機器の第1構成例(リモコン)を示すブロック図及び外観図である。本構成例のリモコン200は、その内部にMEMS[micro electro mechanical systems]モーションセンサ210及び220と、差分周波数測定IC230と、マイコン240と、を有する。
なお、上記の実施形態では、本発明に係る周波数測定回路をリモコンに適用した構成を例に挙げたが、本発明の適用対象はこれに限定されるものではなく、本発明に係る周波数測定回路は、入力信号の周波数を測定する必要のある電子機器全般(光波長測定機器、高周波測定機器、脈拍測定機器など)に広く適用することが可能である。
110 同期化/エッジ検出部
111〜113 Dフリップフロップ
114 EXORゲート
120 ローパスフィルタ部
121 64移動平均フィルタ
122 16移動平均フィルタ
123 IIRフィルタ
124 2分周器
125 8分周器
130 差動信号生成部
131、132 Dフリップフロップ
140 加算部
150 遅延部
200 電子機器(リモコン)
210、220 MEMSモーションセンサ
230 差分周波数測定IC
240 マイコン
Claims (10)
- 入力信号よりも高い周波数のクロック信号を用いて前記入力信号の同期化とエッジ検出を行うことによりエッジ検出信号を生成する同期化/エッジ検出部と、
前記エッジ検出信号にローパスフィルタ処理を施して出力信号を生成するローパスフィルタ部と、
を有することを特徴とする周波数測定回路。 - 前記ローパスフィルタ部は、IIRフィルタ、FIRフィルタ、及び、デシメーションフィルタの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1に記載の周波数測定回路。
- 前記ローパスフィルタ部は、複数のフィルタ回路を多段に接続して成ることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の周波数測定回路。
- 前記複数のフィルタ回路は、後段ほど出力ビット数が大きいことを特徴とする請求項3に記載の周波数測定回路。
- 前記複数のフィルタ回路は、後段ほど駆動周波数が低いことを特徴とする請求項3または請求項4に記載の周波数測定回路。
- 第1入力信号と第2入力信号の差分周波数に応じた差分信号を生成し、これを前記入力信号として出力する差分信号生成部をさらに有することを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の周波数測定回路。
- 前記差分信号生成部は、前記第1入力信号がクロック信号として入力されて前記第2入力信号がデータ信号として入力されるDフリップフロップを含むことを特徴とする請求項6に記載の周波数測定回路。
- 複数の前記差分信号生成部と、
前記第1入力信号と前記第2入力信号の一方が前記複数の差分信号生成部に対して各々異なる位相で入力されるように遅延を与える遅延部と、
を有し、
複数の差分信号から複数のエッジ検出信号を生成し、複数の前記エッジ検出信号から前記第1入力信号と前記第2入力信号の差分周波数に応じた出力信号を生成することを特徴とする請求項6または請求項7に記載の周波数測定回路。 - 複数の前記同期化/エッジ検出部と、
前記入力信号が前記複数の同期化/エッジ検出部に対して各々異なる位相で入力されるように遅延を与える遅延部と、
を有し、
複数のエッジ検出信号から前記入力信号の周波数に応じた出力信号を生成することを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の周波数測定回路。 - 請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載の周波数測定回路と、
前記周波数測定回路の測定結果に応じた処理を行う処理装置と、
を有することを特徴とする電子機器。
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2012
- 2012-09-07 JP JP2012196884A patent/JP2014052282A/ja active Pending
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