JP2014022433A - Substrate processing apparatus and substrate processing method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent contamination of a substrate resulting from air bubbles by suppressing generation of the air bubbles in a processing liquid resulting from an interfacial active agent.SOLUTION: A control part 43 injects an additive processing liquid to a processing liquid with an injection pipe 33 after the temperature of the processing liquid which is circulated between an inner tank 5 and an outer tank 7 by a circulation pipeline 11 is adjusted to a processing temperature by an inline heater 15. The generation of air bubbles in the additive processing liquid can be suppressed because an interfacial active agent is mixed with the processing liquid at the normal temperature in a buffer tank 23 in advance to make the reaction at the time of addition thereof mild. When the additive processing liquid is injected to the processing liquid whose temperature has been adjusted with the injection pipe 33, sudden reaction can be suppressed even though the additive processing liquid is injected to the processing liquid whose temperature has been adjusted because the interfacial active agent and the processing liquid have been already mixed. Therefore, the generation of air bubbles in the processing liquid resulting from the interfacial active agent can be suppressed and contamination of a substrate W resulting from the air bubbles can be prevented.

Description

本発明は、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、プラズマディスプレイ用基板、有機EL用基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板(以下、単に基板と称する)に対して、処理液によって処理を行う基板処理装置及び基板処理方法に関する。   The present invention relates to a semiconductor wafer, a liquid crystal display substrate, a plasma display substrate, an organic EL substrate, an FED (Field Emission Display) substrate, an optical display substrate, a magnetic disk substrate, a magneto-optical disk substrate, and a photomask substrate. The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method for processing a substrate and a solar cell substrate (hereinafter simply referred to as a substrate) with a processing liquid.

従来、この種の装置として、処理槽と、循環配管と、処理液供給ノズルとを備えたものがある(例えば、特許文献1参照)。処理槽は、内槽と外槽とを備えている。内槽は、処理液を貯留し、浸漬された基板に対して処理液による処理を行う。外槽は、内槽から溢れた処理液を回収する。循環配管は、ポンプと、ヒータと、フィルタとを備え、外槽から溢れた処理液を内槽へと循環させる。処理液供給ノズルは、外槽または内槽へ処理液を供給する。   Conventionally, as this type of apparatus, there is one provided with a treatment tank, a circulation pipe, and a treatment liquid supply nozzle (for example, see Patent Document 1). The treatment tank includes an inner tank and an outer tank. The inner tank stores the processing liquid and performs processing with the processing liquid on the immersed substrate. The outer tank collects the processing liquid overflowing from the inner tank. The circulation pipe includes a pump, a heater, and a filter, and circulates the processing liquid overflowing from the outer tank to the inner tank. The processing liquid supply nozzle supplies the processing liquid to the outer tank or the inner tank.

このように構成された装置では、例えば、処理液供給ノズルから処理液を外槽に供給し、ポンプを作動させて循環配管により処理液を循環させる。そして、ヒータにより処理液を所定温度に加熱する。処理液が所定温度になったら、基板を内槽の内部に移動させて、基板を処理液で処理させる。   In the apparatus configured as described above, for example, the processing liquid is supplied from the processing liquid supply nozzle to the outer tank, the pump is operated, and the processing liquid is circulated through the circulation pipe. Then, the processing liquid is heated to a predetermined temperature by the heater. When the processing liquid reaches a predetermined temperature, the substrate is moved into the inner tank, and the substrate is processed with the processing liquid.

処理液としては、例えば、硫酸と過酸化水素水とを混合して生成された溶液(SPM溶液と呼ばれる)や、燐酸を含む燐酸溶液が挙げられる。SPM溶液は、基板に被着されたフォトレジスト膜や金属被膜の剥離除去に用いられ、燐酸溶液は、窒化膜(SiN)やアルミニウム膜を除去するのに用いられている。なお、処理液による基板への作用を効率的に行うために、処理液と基板との濡れ性を改善することが行われている。具体的には、処理液に界面活性剤を添加することが行われている。   Examples of the treatment liquid include a solution formed by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide (referred to as an SPM solution) and a phosphoric acid solution containing phosphoric acid. The SPM solution is used for removing and removing the photoresist film and the metal film deposited on the substrate, and the phosphoric acid solution is used for removing the nitride film (SiN) and the aluminum film. In order to efficiently perform the action of the processing liquid on the substrate, improvement of wettability between the processing liquid and the substrate is performed. Specifically, a surfactant is added to the treatment liquid.

界面活性剤は、処理液が処理温度に温調を完了した後、加圧されて内槽または外槽に添加されるのが一般的である。   In general, the surfactant is pressurized and added to the inner tank or the outer tank after the temperature of the processing liquid is adjusted to the processing temperature.

特開2007−49022号公報JP 2007-49022 A

しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、従来の装置は、温調が完了した処理液に界面活性剤が添加されるので、界面活性剤と処理液との反応に加えて、それらの間の温度差に起因して添加時に反応が激しく生じ、処理液に気泡が発生することがある。このように処理液に気泡が生じると、処理液の表面積が増大し、気液界面が増大する。気液界面が増大すると、槽内の処理液中に浮遊していた塵埃等の異物がその気液界面を介して基板に付着する機会を増大させるなどのため、基板へのパーティクル付着量が増加する。したがって、基板の清浄な処理が困難になるという問題がある。
However, the conventional example having such a configuration has the following problems.
That is, in the conventional apparatus, the surfactant is added to the treatment liquid whose temperature has been adjusted, so that in addition to the reaction between the surfactant and the treatment liquid, the reaction occurs at the time of addition due to the temperature difference between them. May occur violently and bubbles may be generated in the processing solution. When bubbles are generated in the processing liquid in this way, the surface area of the processing liquid increases and the gas-liquid interface increases. When the gas-liquid interface increases, the amount of particles adhering to the substrate increases because the chance of foreign matters such as dust floating in the processing liquid in the tank from adhering to the substrate via the gas-liquid interface increases. To do. Therefore, there is a problem that it becomes difficult to clean the substrate.

また、界面活性剤が気体によって加圧されて処理液に添加されることに起因して、添加前の界面活性剤自身に気泡が発生することがある。したがって、気泡とともに界面活性剤が処理液に送られ、その結果として処理液に気泡が生じる。このような現象によっても、上記同様に基板の清浄な処理が困難になるという問題がある。   Further, due to the fact that the surfactant is pressurized with gas and added to the treatment liquid, bubbles may be generated in the surfactant itself before addition. Therefore, the surfactant is sent to the processing liquid together with the bubbles, and as a result, bubbles are generated in the processing liquid. Even with such a phenomenon, there is a problem that it becomes difficult to clean the substrate as described above.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる基板処理装置及び基板処理方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and a substrate processing apparatus capable of suppressing the bubbles of the processing liquid caused by the surfactant and preventing the contamination of the substrate caused by the bubbles, and An object is to provide a substrate processing method.

本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理装置において、処理液を貯留する内槽と、前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、界面活性剤と処理液とを混合して、界面活性剤が添加された処理液を予め生成しておくバッファタンクと、前記バッファタンク内の界面活性剤が添加された処理液を、前記内槽、前記外槽、前記循環配管のいずかの箇所に注入する注入手段と、前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により処理温度に温調させた後、前記注入手段を操作して界面活性剤が添加された処理液を注入させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the invention according to claim 1 is a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid, an inner tank for storing the processing liquid, an outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank, and the inner tank. A circulation pipe for circulating the treatment liquid, a temperature control means for adjusting the treatment liquid flowing through the circulation pipe to a treatment temperature, a surfactant and the treatment liquid are mixed. A buffer tank for preliminarily generating a treatment liquid to which a surfactant is added, and a treatment liquid to which the surfactant in the buffer tank is added to any one of the inner tank, the outer tank, and the circulation pipe. The temperature of the infusion means for injecting into the location and the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank is adjusted to the processing temperature by the temperature control means, and then the injection means is operated. And a control means for injecting the treatment liquid to which the surfactant is added. And it is characterized in Rukoto.

[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、制御手段は、外槽と内槽との間で循環配管により循環されている処理液を、温調手段により処理温度に温調させた後、注入手段を操作して界面活性剤が添加された処理液を注入させる。界面活性剤は、バッファタンクにおいて予め常温の処理液と混合されるので、添加時の反応を緩やかにでき、界面活性剤が添加された処理液に気泡が生じることを抑制できる。また、温調された処理液に注入手段で注入する際には、既に界面活性剤が処理液と混合されているので、界面活性剤が添加された処理液を温調された処理液に対して注入しても急激な反応を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 1, the control means controls the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank by the circulation pipe to the processing temperature by the temperature control means. Thereafter, the injection means is operated to inject the treatment liquid to which the surfactant is added. Since the surfactant is preliminarily mixed with the processing solution at room temperature in the buffer tank, the reaction at the time of addition can be moderated, and the generation of bubbles in the processing solution to which the surfactant is added can be suppressed. Further, when injecting into the temperature-controlled processing liquid by the injection means, since the surfactant is already mixed with the processing liquid, the processing liquid to which the surfactant is added is compared with the temperature-controlled processing liquid. Even if injected, rapid reaction can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

また、本発明において、前記バッファタンクに処理液を供給する処理液供給手段と、前記バッファタンクに界面活性剤を供給する界面活性剤供給手段と、一端側が前記バッファタンクの内部に連通し、前記バッファタンクの外部を通って他端側が前記バッファタンクの内部に連通した循環路と、前記循環路に設けられたポンプと、前記ポンプの下流側にあたる前記循環路に設けられたフィルタと、をさらに備え、前記制御手段は、前記処理液供給手段から処理液を前記バッファタンクに供給させ、前記界面活性剤供給手段から界面活性剤を前記バッファタンクに供給させた後、前記ポンプを作動させて、前記循環路を通して界面活性剤が添加された処理液を循環させることが好ましい(請求項2)。   Further, in the present invention, a treatment liquid supply means for supplying a treatment liquid to the buffer tank, a surfactant supply means for supplying a surfactant to the buffer tank, and one end side communicated with the inside of the buffer tank, A circulation path having the other end communicating with the inside of the buffer tank through the outside of the buffer tank, a pump provided in the circulation path, and a filter provided in the circulation path on the downstream side of the pump The control means supplies the processing liquid from the processing liquid supply means to the buffer tank, supplies the surfactant from the surfactant supply means to the buffer tank, and then operates the pump. It is preferable to circulate the treatment liquid to which the surfactant is added through the circulation path (Claim 2).

制御手段は、処理液供給手段から処理液をバッファタンクに供給させ、界面活性剤供給手段から界面活性剤をバッファタンクに供給させた後、ポンプを作動させて、循環路を通して界面活性剤が添加された処理液を循環させる。したがって、バッファタンク内で界面活性剤を処理液に対して充分に混合させることができるので、温調された処理液に注入した際に、不十分な混合となっている界面活性剤に起因する気泡の発生を抑制できる。   The control means supplies the processing liquid from the processing liquid supply means to the buffer tank, supplies the surfactant from the surfactant supply means to the buffer tank, and then operates the pump to add the surfactant through the circulation path. Circulating the treated liquid. Therefore, since the surfactant can be sufficiently mixed with the processing liquid in the buffer tank, it is caused by the insufficiently mixed surfactant when injected into the temperature-controlled processing liquid. Generation of bubbles can be suppressed.

また、本発明において、前記注入手段は、前記バッファンタンク内部に一端側が連通し、前記循環配管における前記温調手段の上流側に他端側が連通した注入管を備えていることが好ましい(請求項3)。   In the present invention, it is preferable that the injection means includes an injection pipe whose one end communicates with the buffer tank and whose other end communicates with the upstream side of the temperature control means in the circulation pipe. Item 3).

バッファタンク内の界面活性剤が添加された処理液は、注入管から温調手段の上流側に注入されるので、温調手段で温調されて、ある程度の時間が経過して安定した状態の処理液に触れることになる。したがって、界面活性剤が添加された処理液と、温調された処理液との反応を緩やかにでき、注入時における気泡の発生を抑制できる。   Since the treatment liquid to which the surfactant in the buffer tank is added is injected from the injection pipe to the upstream side of the temperature adjustment means, the temperature is adjusted by the temperature adjustment means, and after a certain amount of time has passed, Touch the treatment liquid. Therefore, the reaction between the processing liquid to which the surfactant is added and the temperature-controlled processing liquid can be moderated, and the generation of bubbles during injection can be suppressed.

また、請求項4に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理装置において、処理液を貯留する内槽と、前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、界面活性剤を前記内槽に供給する界面活性剤供給手段と、前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により温調させる前に、前記界面活性剤供給手段を操作して内槽に貯留している処理液に界面活性剤を供給させ、その後、前記温調手段により処理温度に温調させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。   According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid, an inner tank for storing the processing liquid, an outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank, and the inner tank And a circulation pipe that circulates the treatment liquid and circulates the treatment liquid, temperature control means that regulates the treatment liquid flowing through the circulation pipe to a treatment temperature, and an interface that supplies a surfactant to the inner tank Before the temperature of the treatment liquid circulated between the activator supply means and the outer tank and the inner tank is controlled by the temperature control means, the surfactant supply means is operated and stored in the inner tank. And a control means for supplying the surfactant to the treatment liquid being processed and then adjusting the temperature to the treatment temperature by the temperature adjustment means.

[作用・効果]請求項4に記載の発明によれば、制御手段は、外槽と内槽との間で循環されている処理液を、温調手段により温調させる前に、界面活性剤供給手段を操作して内槽に貯留している処理液に界面活性剤を供給させ、その後、温調手段により処理温度に温調させる。温調される前の処理液に対して界面活性剤を供給するので、温度差に起因する反応を緩やかにでき、界面活性剤が添加された処理液に気泡が生じることを抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 4, the control means provides the surfactant before the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank is adjusted by the temperature adjusting means. The surfactant is supplied to the processing liquid stored in the inner tank by operating the supplying means, and then the temperature is adjusted to the processing temperature by the temperature adjusting means. Since the surfactant is supplied to the treatment liquid before the temperature is adjusted, the reaction due to the temperature difference can be moderated and the generation of bubbles in the treatment liquid to which the surfactant is added can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

また、本発明において、前記循環配管は、一端側が前記内槽の底部に連通し、循環してきた処理液を前記内槽の底部から上方へ向かって供給する構成であり、前記界面活性剤供給手段は、前記内槽の底面に開口端を有する供給管を備えていることが好ましい(請求項5)。   Further, in the present invention, the circulation pipe is configured such that one end side communicates with the bottom of the inner tank and supplies the treated processing liquid from the bottom of the inner tank upward, and the surfactant supply means Is preferably provided with a supply pipe having an open end on the bottom surface of the inner tank.

供給管の開口端が内槽の底面に位置しているので、供給された界面活性剤が、内槽の底面から上方へ供給される処理液により攪拌される。したがって、処理液と界面活性剤との混合を素早く行うことができる。   Since the open end of the supply pipe is located on the bottom surface of the inner tank, the supplied surfactant is stirred by the processing liquid supplied upward from the bottom surface of the inner tank. Therefore, the treatment liquid and the surfactant can be quickly mixed.

また、請求項6に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理装置において、処理液を貯留する内槽と、前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、所定量の界面活性剤を貯留するとともに、開閉自在の供給口を有する貯留カップと、前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により処理温度に温調させた後、前記貯留カップの供給口を開放させて、前記貯留カップ内の界面活性剤を処理液に添加させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。   The invention according to claim 6 is the substrate processing apparatus for processing the substrate with the processing liquid, wherein the inner tank for storing the processing liquid, the outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank, and the inner tank And a circulating pipe that circulates the processing liquid, a temperature adjusting means that regulates the processing liquid flowing through the circulating pipe to a processing temperature, and an upper part of the inner tank or the outer tank. A storage cup having a supply port that can be freely opened and closed, and a processing liquid that is circulated between the outer tank and the inner tank is processed by the temperature adjusting means. And a control means for opening the supply port of the storage cup and adding the surfactant in the storage cup to the processing liquid after the temperature is adjusted to a temperature.

[作用・効果]請求項6に記載の発明によれば、制御手段は、外槽と内槽との間で循環されている処理液を、温調手段により処理温度に温調させた後、貯留カップの供給口を開放させて、貯留カップ内の界面活性剤を処理液に添加させる。貯留カップに貯留されている界面活性剤は、自重により供給口から処理液に添加されるので、圧力が加わらず気泡の発生を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 6, the control means adjusts the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank to the processing temperature by the temperature adjusting means. The supply port of the storage cup is opened, and the surfactant in the storage cup is added to the treatment liquid. Since the surfactant stored in the storage cup is added to the treatment liquid from the supply port by its own weight, the generation of bubbles can be suppressed without applying pressure. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

なお、貯留カップへ界面活性剤を供給する際には、圧送によって行ってもよい。その際には、圧力が界面活性剤に加わるので、気泡が生じる恐れがある。しかし、生じた気泡が消えるまで貯留カップに貯留しておいて、気泡が消えた後に貯留カップから界面活性剤を処理液に添加すればよい。   In addition, when supplying surfactant to a storage cup, you may carry out by pressure feeding. In that case, since pressure is applied to the surfactant, there is a possibility that bubbles are generated. However, it may be stored in the storage cup until the generated bubbles disappear, and the surfactant may be added to the treatment liquid from the storage cup after the bubbles disappear.

また、本発明において、前記貯留カップは、界面活性剤を供給する際に、前記内槽または前記外槽の内側壁に沿って界面活性剤が流下する位置に前記供給口を設けられていることが好ましい(請求項7)。   In the present invention, the storage cup is provided with the supply port at a position where the surfactant flows down along the inner wall of the inner tank or the outer tank when supplying the surfactant. (Claim 7).

貯留カップから自重で落下する界面活性剤が内側壁に沿って処理液面に流下するので、衝撃を和らげることができる。したがって、貯留カップから界面活性剤を添加された際に気泡が生じるのを抑制できる。   Since the surfactant falling by its own weight from the storage cup flows down to the treatment liquid surface along the inner wall, the impact can be reduced. Therefore, it is possible to suppress the generation of bubbles when the surfactant is added from the storage cup.

また、請求項8に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理装置において、処理液を貯留する内槽と、前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、界面活性剤を所定量だけ貯留可能であって、所定量を超える界面活性剤を吐出する吐出口を有する吐出カップと、前記吐出カップに界面活性剤を供給する界面活性剤供給手段と、前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により処理温度に温調させた後、前記界面活性剤供給手段から界面活性剤を供給させ、前記吐出カップ内に貯留していた界面活性剤を前記吐出口から処理液に吐出させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。   The invention according to claim 8 is the substrate processing apparatus for processing the substrate with the processing liquid, wherein the inner tank for storing the processing liquid, the outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank, and the inner tank And a circulating pipe that circulates the processing liquid, a temperature adjusting means that regulates the processing liquid flowing through the circulating pipe to a processing temperature, and an upper part of the inner tank or the outer tank. A surfactant that can store a predetermined amount of a surfactant and has a discharge port that discharges a surfactant exceeding a predetermined amount; and a surfactant supply means that supplies the surfactant to the discharge cup; The treatment liquid circulated between the outer tub and the inner tub is adjusted to the treatment temperature by the temperature adjustment means, and then the surfactant is supplied from the surfactant supply means, and the discharge cup Surfactant stored in the inside from the outlet And it is characterized in that it comprises a control means which ejects sense solution.

[作用・効果]請求項8に記載の発明によれば、制御手段は、外槽と内槽との間で循環されている処理液を、温調手段により処理温度に温調させた後、界面活性剤供給手段から界面活性剤を供給させ、吐出カップ内に貯留していた界面活性剤を吐出口から処理液に吐出させる。吐出カップに貯留されている界面活性剤は、押し出されるように吐出口から処理液に添加されるので、強い圧力が加わらず気泡の発生を抑制できる。また、たとえ、界面活性剤供給手段により気泡が生じても、気泡が生じた界面活性剤は吐出カップに一旦滞留するので、気泡が処理液に混入することは回避できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 8, the control means adjusts the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank to the processing temperature by the temperature adjusting means. The surfactant is supplied from the surfactant supply means, and the surfactant stored in the discharge cup is discharged from the discharge port to the treatment liquid. Since the surfactant stored in the discharge cup is added to the treatment liquid from the discharge port so as to be pushed out, generation of bubbles can be suppressed without applying a strong pressure. Further, even if bubbles are generated by the surfactant supply means, the surfactant in which the bubbles are generated is temporarily retained in the discharge cup, so that it is possible to avoid the bubbles from being mixed into the processing liquid. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

また、本発明において、前記吐出カップは、界面活性剤を吐出する際に、前記内槽または前記外槽の内側壁に沿って界面活性剤が流下する位置に前記吐出口を設けられていることが好ましい(請求項9)。   In the present invention, the discharge cup is provided with the discharge port at a position where the surfactant flows down along the inner wall of the inner tank or the outer tank when discharging the surfactant. (Claim 9).

吐出カップから押し出される界面活性剤が内側壁に沿って処理液面に流下するので、衝撃を和らげることができる。したがって、吐出カップから界面活性剤を添加された際に気泡が生じるのを抑制できる。   Since the surfactant pushed out from the discharge cup flows down to the treatment liquid surface along the inner wall, the impact can be reduced. Therefore, it is possible to suppress the generation of bubbles when the surfactant is added from the discharge cup.

また、請求項10に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理方法において、バッファタンク内で界面活性剤と処理液とを予め混合して、界面活性剤が添加された処理液を予め生成しておく過程と、基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、処理液を処理温度に温調させる過程と、処理液が処理温度に達した後、前記循環されている処理液に対して前記バッファタンクから界面活性剤が添加された処理液を注入する過程と、を有することを特徴とするものである。   The invention described in claim 10 is a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid, wherein a surfactant and a processing liquid are mixed in advance in a buffer tank, and the processing liquid to which the surfactant is added is obtained. The process liquid is circulated by a circulation pipe between the process of generating in advance, the inner tank that accommodates the substrate and performs processing with the processing liquid, and the outer tank that recovers the processing liquid overflowing from the inner tank, and processing A process of adjusting the temperature of the liquid to a processing temperature, and a process of injecting a processing liquid to which a surfactant is added from the buffer tank to the circulating processing liquid after the processing liquid reaches the processing temperature; It is characterized by having.

[作用・効果]請求項10に記載の発明によれば、界面活性剤は、バッファタンクにおいて予め常温の処理液と混合されるので、添加時の反応を緩やかにでき、界面活性剤が添加された処理液に気泡が生じることを抑制できる。また、温調された処理液に注入する際には、既に界面活性剤が処理液と混合されているので、温調された処理液に対して界面活性剤が添加された処理液を注入しても急激な反応を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 10, since the surfactant is preliminarily mixed with the processing solution at room temperature in the buffer tank, the reaction at the time of addition can be moderated, and the surfactant is added. The generation of bubbles in the treated liquid can be suppressed. In addition, when injecting into the temperature-controlled processing liquid, since the surfactant is already mixed with the processing liquid, the processing liquid with the surfactant added to the temperature-controlled processing liquid is injected. However, rapid reaction can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

また、請求項11に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理方法において、基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、界面活性剤供給手段により界面活性剤を前記内槽に供給する過程と、循環配管を流通している処理液を処理温度に温調する過程と、を有することを特徴とするものである。   The invention described in claim 11 is a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid, wherein an inner tank that accommodates the substrate and performs processing with the processing liquid, and an outer tank that recovers the processing liquid overflowing from the inner tank A process of supplying a surfactant to the inner tank by a surfactant supply means, and a process of adjusting the temperature of the process liquid flowing through the circulation pipe to the treatment temperature It is characterized by having.

[作用・効果]請求項11に記載の発明によれば、温調される前の処理液に対して界面活性剤を供給するので、温度差に起因する反応を緩やかにでき、界面活性剤が添加された処理液に気泡が生じることを抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 11, since the surfactant is supplied to the treatment liquid before temperature adjustment, the reaction caused by the temperature difference can be moderated, and the surfactant can be used. It can suppress that a bubble arises in the added process liquid. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

また、請求項12に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理方法において、基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、処理液を処理温度に温調させる過程と、前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、所定量の界面活性剤を貯留するとともに、開閉自在の供給口を有する貯留カップを操作して、前記供給口を開放させて前記供給カップ内の界面活性剤を処理液に添加させる過程と、を有することを特徴とするものである。   The invention described in claim 12 is a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid, an inner tank for storing the substrate and processing with the processing liquid, and an outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank While circulating the processing liquid with the circulation pipe between and the process of adjusting the temperature of the processing liquid to the processing temperature, and provided in the upper part of the inner tank or the outer tank, and storing a predetermined amount of surfactant, And a step of operating a storage cup having an openable / closable supply port to open the supply port to add the surfactant in the supply cup to the treatment liquid.

[作用・効果]請求項12に記載の発明によれば、外槽と内槽との間で循環されている処理液を処理温度に温調させた後、貯留カップの供給口を開放させて、貯留カップ内の界面活性剤を処理液に添加させる。貯留カップに貯留されている界面活性剤は、自重により供給口から処理液に添加されるので、圧力が加わらず気泡の発生を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 12, after the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank is adjusted to the processing temperature, the supply port of the storage cup is opened. Then, the surfactant in the storage cup is added to the treatment liquid. Since the surfactant stored in the storage cup is added to the treatment liquid from the supply port by its own weight, the generation of bubbles can be suppressed without applying pressure. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

また、請求項13に記載の発明は、処理液によって基板を処理する基板処理方法において、基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、処理液を処理温度に温調させる過程と、前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、界面活性剤を所定量だけ貯留可能であって、所定量を超える界面活性剤を吐出する吐出口を有する吐出カップに対して、界面活性剤供給手段を操作して前記吐出カップに界面活性剤を供給して、前記吐出カップ内に貯留していた界面活性剤を前記吐出口から処理液に吐出させる過程と、を有することを特徴とするものである。   The invention described in claim 13 is a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid, an inner tank for storing the substrate and processing with the processing liquid, and an outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank. The process liquid is circulated by a circulation pipe while the temperature of the process liquid is adjusted to the process temperature, and a predetermined amount of surfactant can be stored in the upper part of the inner tank or the outer tank. For a discharge cup having a discharge port for discharging a surfactant exceeding a predetermined amount, the surfactant supply means is operated to supply the surfactant to the discharge cup and store it in the discharge cup. And a step of discharging the surface active agent from the discharge port to the treatment liquid.

[作用・効果]請求項13に記載の発明によれば、外槽と内槽との間で循環されている処理液を処理温度に温調させた後、界面活性剤供給手段から界面活性剤を供給させ、吐出カップ内に貯留していた界面活性剤を吐出口から処理液に吐出させる。吐出カップに貯留されている界面活性剤は、押し出されるように吐出口から処理液に添加されるので、強い圧力が加わらず気泡の発生を抑制できる。また、たとえ、界面活性剤供給手段により気泡が生じても、気泡が生じた界面活性剤は吐出カップに一旦滞留するので、気泡が処理液に混入することは回避できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 13, after the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank is adjusted to the processing temperature, the surfactant is supplied from the surfactant supply means. Then, the surfactant stored in the discharge cup is discharged from the discharge port to the treatment liquid. Since the surfactant stored in the discharge cup is added to the treatment liquid from the discharge port so as to be pushed out, generation of bubbles can be suppressed without applying a strong pressure. Further, even if bubbles are generated by the surfactant supply means, the surfactant in which the bubbles are generated is temporarily retained in the discharge cup, so that it is possible to avoid the bubbles from being mixed into the processing liquid. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

本発明に係る基板処理装置によれば、制御手段は、外槽と内槽との間で循環配管により循環されている処理液を、温調手段により処理温度に温調させた後、注入手段を操作して界面活性剤が添加された処理液を注入させる。界面活性剤は、バッファタンクにおいて予め常温の処理液と混合されるので、添加時の反応を緩やかにでき、界面活性剤が添加された処理液に気泡が生じることを抑制できる。また、温調された処理液に注入手段で注入する際には、既に界面活性剤が処理液と混合されているので、界面活性剤が添加された処理液を温調された処理液に対して注入しても急激な反応を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板の汚染を防止することができる。   According to the substrate processing apparatus of the present invention, the control means adjusts the processing liquid circulated by the circulation pipe between the outer tank and the inner tank to the processing temperature by the temperature control means, and then the injection means. To inject a treatment liquid to which a surfactant has been added. Since the surfactant is preliminarily mixed with the processing solution at room temperature in the buffer tank, the reaction at the time of addition can be moderated, and the generation of bubbles in the processing solution to which the surfactant is added can be suppressed. Further, when injecting into the temperature-controlled processing liquid by the injection means, since the surfactant is already mixed with the processing liquid, the processing liquid to which the surfactant is added is compared with the temperature-controlled processing liquid. Even if injected, rapid reaction can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the bubbles of the processing liquid due to the surfactant and prevent the substrate from being contaminated due to the bubbles.

実施例1に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to a first embodiment. 実施例1の動作を示すタイムチャートである。3 is a time chart showing the operation of the first embodiment. 実施例2に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to a second embodiment. 実施例2の動作を示すタイムチャートである。6 is a time chart showing the operation of the second embodiment. 実施例3に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to a third embodiment. 貯留カップの構成を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structure of a storage cup. 実施例3の動作を示すタイムチャートである。10 is a time chart illustrating an operation of the third embodiment. 実施例4に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to a fourth embodiment. 吐出カップの構成を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structure of a discharge cup.

本発明の実施形態について以下に説明する。   Embodiments of the present invention will be described below.

以下、図面を参照して本発明の実施例1について説明する。
図1は、実施例1に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。
Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the first embodiment.

基板処理装置1は、複数枚の基板Wを処理液によって処理するものである。処理槽3は、内槽5と外槽7とを備えている。内槽5は、基板Wを収容可能な大きさを有し、基板Wを処理するための処理液を貯留する。処理液としては、例えば、硫酸と過酸化水素水とを混合して生成された溶液(SPM溶液と呼ばれる)や、燐酸を含む燐酸溶液が挙げられる。外槽7は、内槽5の外周面上部に設けられ、内槽5から溢れた処理液を回収する。内槽5は、底部両側に一対の噴出管9を設けられている。外槽7と一対の噴出管9とは、循環配管11によって連通接続されている。循環配管11は、外槽7側から順に、ポンプ13と、インラインヒータ15と、フィルタ17とを設けられている。   The substrate processing apparatus 1 processes a plurality of substrates W with a processing liquid. The processing tank 3 includes an inner tank 5 and an outer tank 7. The inner tank 5 has a size that can accommodate the substrate W, and stores a processing liquid for processing the substrate W. Examples of the treatment liquid include a solution formed by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide (referred to as an SPM solution) and a phosphoric acid solution containing phosphoric acid. The outer tub 7 is provided on the outer peripheral surface of the inner tub 5 and collects the processing liquid overflowing from the inner tub 5. The inner tank 5 is provided with a pair of ejection pipes 9 on both sides of the bottom. The outer tub 7 and the pair of ejection pipes 9 are connected in communication by a circulation pipe 11. The circulation pipe 11 is provided with a pump 13, an in-line heater 15, and a filter 17 in order from the outer tank 7 side.

ポンプ13は、外槽7に貯留する処理液を一対の噴出管9に向かって送り出す。インラインヒータ15は、循環配管11を流通する処理液を処理温度に温調するもので、処理液を加熱する熱源と、その熱源を駆動制御して処理液の温度を処理温度に保つための制御回路とを内蔵している。フィルタ17は、循環配管11を流通する処理液に含まれているパーティクル等を除去する。循環配管11により送られた処理液は、一対の噴出管9により内槽5の底面中央部に向かって噴出され、内槽5の中央部を上昇して内槽5の上縁を越えて外槽7に回収される。   The pump 13 sends the processing liquid stored in the outer tub 7 toward the pair of ejection pipes 9. The in-line heater 15 adjusts the temperature of the processing liquid flowing through the circulation pipe 11 to the processing temperature, and controls the heat source for heating the processing liquid and controlling the drive of the heat source to keep the temperature of the processing liquid at the processing temperature. Built-in circuit. The filter 17 removes particles and the like contained in the processing liquid flowing through the circulation pipe 11. The processing liquid sent by the circulation pipe 11 is ejected toward the bottom center part of the inner tank 5 by a pair of ejection pipes 9, rises up the central part of the inner tank 5, exceeds the upper edge of the inner tank 5, and goes outside. It is collected in the tank 7.

なお、上述したインラインヒータ15が本発明における「温調手段」に相当する。   The in-line heater 15 described above corresponds to “temperature control means” in the present invention.

内槽3の後部には、リフタ19が設けられている。このリフタ19は、下端側に複数個の支持部材21を備えている。支持部材21は、紙面の奥手前方向に延出されており、複数枚の基板Wを起立姿勢で支持する。リフタ19は、図1に示す内槽5内の「処理位置」と、内槽5の上方にあたる「受け渡し位置」とにわたって昇降可能に構成されている。   A lifter 19 is provided at the rear of the inner tank 3. The lifter 19 includes a plurality of support members 21 on the lower end side. The support member 21 extends in the direction toward the back of the page, and supports the plurality of substrates W in an upright posture. The lifter 19 is configured to be movable up and down over a “processing position” in the inner tank 5 shown in FIG. 1 and a “delivery position” above the inner tank 5.

処理槽1の側方には、バッファタンク23が設けられている。バッファタンク23は、液体を貯留する容器で構成されている。このバッファタンク23には、処理液供給源25からの処理液と、界面活性剤供給源27からの界面活性剤が供給される。   A buffer tank 23 is provided on the side of the processing tank 1. The buffer tank 23 is composed of a container that stores liquid. The buffer tank 23 is supplied with the processing liquid from the processing liquid supply source 25 and the surfactant from the surfactant supply source 27.

処理液供給源25は、常温の処理液を貯留しており、外部からの指示に応じた量の処理液をバッファタンク23に供給する。また、界面活性剤供給源27は、常温の界面活性剤を貯留しており、外部からの指示に応じた量の界面活性剤をバッファタンク23に供給する。   The processing liquid supply source 25 stores a processing liquid at room temperature, and supplies the buffer tank 23 with an amount of processing liquid according to an instruction from the outside. The surfactant supply source 27 stores a surfactant at room temperature, and supplies the buffer tank 23 with an amount of the surfactant according to an instruction from the outside.

バッファタンク23は、循環路29が設けられている。循環路29は、一端側がバッファタンク23内部に連通し、バッファタンク23の外部を通って他端側がバッファタンク23の内部に連通している。循環路29は、分岐点31に一端側が連通された注入管33が取り付けられている。注入管33の他端側は、循環配管11におけるポンプ13の下流側であって、インラインヒータ15の上流側に連通されている。循環路29は、一端側にポンプ35が設けられ、他端側にフィルタ37が設けられている。また、分岐点31とフィルタ37との間には、制御弁39が取り付けられ、分岐点31より下流側の注入管33には、制御弁41が取り付けられている。   The buffer tank 23 is provided with a circulation path 29. One end side of the circulation path 29 communicates with the inside of the buffer tank 23, and the other end side communicates with the inside of the buffer tank 23 through the outside of the buffer tank 23. The circulation path 29 is attached with an injection pipe 33 whose one end communicates with a branch point 31. The other end side of the injection pipe 33 communicates with the upstream side of the in-line heater 15 on the downstream side of the pump 13 in the circulation pipe 11. The circulation path 29 is provided with a pump 35 on one end side and a filter 37 on the other end side. A control valve 39 is attached between the branch point 31 and the filter 37, and a control valve 41 is attached to the injection pipe 33 on the downstream side of the branch point 31.

循環路29は、制御弁41が閉止され、制御弁39が開放された場合に、ポンプ35が作動されることにより、バッファタンク23内に貯留している液体を循環させる。フィルタ37は、循環路29を流通する液体に含まれているパーティクル等を除去する。   The circulation path 29 circulates the liquid stored in the buffer tank 23 by operating the pump 35 when the control valve 41 is closed and the control valve 39 is opened. The filter 37 removes particles and the like contained in the liquid flowing through the circulation path 29.

上述したポンプ13の動作と、インラインヒータ15による温調と、リフタ19の昇降と、処理液供給源15の供給と、界面活性剤供給源27の供給と、ポンプ35の動作と制御弁39,41の開閉とは、制御部43によって制御される。制御部43は、図示しないCPUやメモリによって構成されている。   The above-described operation of the pump 13, temperature control by the in-line heater 15, lifting and lowering of the lifter 19, supply of the processing liquid supply source 15, supply of the surfactant supply source 27, operation of the pump 35, and the control valve 39, The opening and closing of 41 is controlled by the control unit 43. The control unit 43 is configured by a CPU and a memory (not shown).

なお、上述した制御部43が本発明における「制御手段」に相当する。   The control unit 43 described above corresponds to the “control unit” in the present invention.

次に、図2を参照して、上述した構成の基板処理装置1の動作について説明する。図2は、実施例1の動作を示すタイムチャートである。なお、以下の説明においては、予め処理槽1には所定量の処理液が貯留されて循環されているものとする。   Next, the operation of the substrate processing apparatus 1 configured as described above will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a time chart illustrating the operation of the first embodiment. In the following description, it is assumed that a predetermined amount of processing liquid is stored and circulated in the processing tank 1 in advance.

制御部43は、t1時点〜t2時点にかけて処理液供給源25を操作して、処理液をバッファタンク23に供給する。その後、制御部43は、t3〜t4時点にかけて界面活性剤供給源27を操作して、所定量の界面活性剤をバッファタンク23に供給する。次に、制御部43は、制御弁41を閉止させ、制御弁39を開放させた後、ポンプ35を作動させる。これにより、バッファタンク23に供給された処理液と界面活性剤を循環路29を通して攪拌させる。これにより処理液に対して界面活性剤が充分に混合され、界面活性剤が添加された処理液がバッファタンク23内に生成される。なお、以下において、界面活性剤が添加された処理液を添加処理液と称する。   The control unit 43 operates the processing liquid supply source 25 from time t1 to time t2 to supply the processing liquid to the buffer tank 23. Thereafter, the controller 43 operates the surfactant supply source 27 from time t3 to t4 to supply a predetermined amount of surfactant to the buffer tank 23. Next, the control unit 43 closes the control valve 41 and opens the control valve 39, and then operates the pump 35. As a result, the treatment liquid and the surfactant supplied to the buffer tank 23 are agitated through the circulation path 29. As a result, the surfactant is sufficiently mixed with the treatment liquid, and the treatment liquid to which the surfactant is added is generated in the buffer tank 23. Hereinafter, the treatment liquid to which the surfactant is added is referred to as an addition treatment liquid.

制御部43は、上記の攪拌を行っている間に、ポンプ13を作動させ始める。これにより処理槽1及び循環配管11に貯留している処理液が循環される。さらに、循環させ始めるとともに、制御部43はインラインヒータ15に対して処理温度を指定して駆動操作して、t6時点から所定の処理温度への温調を開始する。処理槽3に循環する処理液は、t8時点において処理温度まで昇温され、処理温度への温調が完了する。温調完了後も処理液を処理温度に保つため、インラインヒータ15とポンプ13の駆動は継続される。   The control unit 43 starts operating the pump 13 while performing the above stirring. As a result, the treatment liquid stored in the treatment tank 1 and the circulation pipe 11 is circulated. Furthermore, while starting to circulate, the control unit 43 designates a processing temperature for the in-line heater 15 and performs a driving operation to start temperature adjustment from the time point t6 to a predetermined processing temperature. The processing liquid circulating in the processing tank 3 is heated to the processing temperature at time t8, and the temperature adjustment to the processing temperature is completed. Even after the temperature adjustment is completed, the inline heater 15 and the pump 13 are continuously driven to keep the processing liquid at the processing temperature.

そして、制御部43は、処理温度への温調が完了したt8時点から所定時間の間(t9時点まで)において、バッファタンク23内の添加処理液を、注入管33から循環配管11に注入する。具体的には、制御弁39を閉止させるとともに、制御弁41を開放させ、ポンプ35を作動させる。そして、添加処理液を処理液に注入した後、添加処理液が充分に行き渡って処理液の濃度および温度が安定した時点t10からリフタ19を処理位置に下降させ、複数枚の基板Wに対して所定時間の処理を行わせる。   Then, the control unit 43 injects the added processing liquid in the buffer tank 23 from the injection pipe 33 into the circulation pipe 11 during a predetermined time (until time t9) from the time t8 when the temperature adjustment to the processing temperature is completed. . Specifically, the control valve 39 is closed, the control valve 41 is opened, and the pump 35 is operated. Then, after the additive treatment liquid is injected into the treatment liquid, the lifter 19 is lowered to the treatment position from the time t10 when the addition treatment liquid is sufficiently spread and the concentration and temperature of the treatment liquid are stabilized. A process for a predetermined time is performed.

本実施例に係る基板処理装置1によると、制御部43は、内槽5と外槽7との間で循環配管11により循環されている処理液を、インラインヒータ15により処理温度に温調させた後、注入管33により添加処理液を注入させる。界面活性剤は、バッファタンク23において予め常温の処理液と混合されるので、添加時の反応を緩やかにでき、添加処理液に気泡が生じることを抑制できる。また、温調された処理液に注入管33で添加処理液を注入する際には、既に界面活性剤が処理液と混合されているので、温調された処理液に対して添加処理液を注入しても急激な反応を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板Wの汚染を防止することができる。   According to the substrate processing apparatus 1 according to the present embodiment, the control unit 43 adjusts the processing liquid circulated by the circulation pipe 11 between the inner tank 5 and the outer tank 7 to the processing temperature by the in-line heater 15. Thereafter, the additive treatment liquid is injected through the injection tube 33. Since the surfactant is preliminarily mixed with the processing solution at room temperature in the buffer tank 23, the reaction during addition can be moderated, and bubbles can be prevented from being generated in the adding processing solution. Further, when the additive treatment liquid is injected into the temperature-controlled treatment liquid through the injection tube 33, since the surfactant is already mixed with the treatment liquid, the additive treatment liquid is added to the temperature-conditioned treatment liquid. Even if injected, rapid reaction can be suppressed. Therefore, the bubbles of the processing liquid caused by the surfactant can be suppressed, and contamination of the substrate W caused by the bubbles can be prevented.

また、制御部43は、処理液供給源25から処理液をバッファタンク23に供給させ、界面活性剤供給源27から界面活性剤をバッファタンク23に供給させた後、ポンプ35を作動させて、循環路29を通して添加処理液を循環させる。したがって、バッファタンク23内で界面活性剤を処理液に対して充分に混合させることができるので、温調された処理液に注入した際に、不十分な混合となっている界面活性剤に起因する気泡の発生を抑制できる。   Further, the control unit 43 supplies the processing liquid from the processing liquid supply source 25 to the buffer tank 23 and supplies the surfactant from the surfactant supply source 27 to the buffer tank 23, and then operates the pump 35. The additive treatment liquid is circulated through the circulation path 29. Accordingly, since the surfactant can be sufficiently mixed with the processing liquid in the buffer tank 23, it is caused by the insufficiently mixed surfactant when injected into the temperature-controlled processing liquid. Generation of bubbles can be suppressed.

また、バッファタンク23内の添加処理液は、注入管33からインラインヒータ15の上流側に注入されるので、インラインヒータ15で温調されて、ある程度の時間が経過して安定した状態の処理液に触れることになる。したがって、添加処理液と、温調された処理液との反応を緩やかにでき、注入管33からの注入時における気泡の発生を抑制できる。   In addition, since the additive processing liquid in the buffer tank 23 is injected from the injection pipe 33 to the upstream side of the inline heater 15, the temperature is controlled by the inline heater 15, and the processing liquid is in a stable state after a certain amount of time has passed. Will touch. Therefore, the reaction between the added processing solution and the temperature-controlled processing solution can be moderated, and the generation of bubbles during injection from the injection tube 33 can be suppressed.

なお、上述した実施例では、注入管33により循環配管11におけるインラインヒータ15の上流側に添加処理液を注入した。しかし、本発明は、この位置に注入することに限定されるものではなく、処理液に添加処理液を供給できるならばどの位置であってもよい。例えば、外槽7の処理液に注入するようにしてもよく、内槽5の処理液に注入するようにしてもよい。   In the embodiment described above, the addition treatment liquid is injected into the circulation pipe 11 upstream of the inline heater 15 by the injection pipe 33. However, the present invention is not limited to the injection at this position, and any position may be used as long as the additional processing liquid can be supplied to the processing liquid. For example, you may make it inject | pour into the process liquid of the outer tank 7, and you may make it inject | pour into the process liquid of the inner tank 5. FIG.

また、バッファタンク23に循環路29を設けて処理液と界面活性剤とを攪拌した。しかし、本発明はこのような構成に限定されるものではない。例えば、バッファタンク23に攪拌用のプロペラを設けたり、攪拌用の気泡を発生させるバブラを設けたりしてもよい。但し、プロペラの回転やバブリングにより気泡が生じるので、攪拌後に添加処理液に生じた気泡が消えるまで注入をしないようにする必要がある。また、上述した実施例では、処理液と界面活性剤が充分に混合されて均一になった時点t7においてポンプ35を停止している。しかし、必要に応じてポンプ35の作動を継続し、混合動作を継続的に行ってもよい。   Further, a circulation path 29 was provided in the buffer tank 23 to stir the treatment liquid and the surfactant. However, the present invention is not limited to such a configuration. For example, a propeller for stirring may be provided in the buffer tank 23, or a bubbler for generating bubbles for stirring may be provided. However, since bubbles are generated by the rotation and bubbling of the propeller, it is necessary not to inject until the bubbles generated in the additive treatment liquid disappear after stirring. In the above-described embodiment, the pump 35 is stopped at time t7 when the treatment liquid and the surfactant are sufficiently mixed and uniform. However, if necessary, the operation of the pump 35 may be continued to continuously perform the mixing operation.

次に、図面を参照して本発明の実施例2について説明する。
図3は、実施例2に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。なお、上述した実施例1と同じ構成については同符号を付すことで詳細な説明については省略する。
Next, Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 3 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the second embodiment. In addition, about the same structure as Example 1 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

本実施例に係る基板処理装置1Aは、内槽5に供給管45が付設されている。供給管45の下部の開口端47は、内槽5の底面近くに配置されている。供給管45のうちの開口端47の反対側には、配管49の一端側が連通接続されている。配管49の他端側は、界面活性剤供給源27に連通接続されている。配管49には、制御弁51が設けられている。制御弁51が開放されると、界面活性剤供給源27からの界面活性剤が供給管45を通して内槽5の底面近くに供給される。   In the substrate processing apparatus 1 </ b> A according to the present embodiment, a supply pipe 45 is attached to the inner tank 5. An opening end 47 at the lower portion of the supply pipe 45 is disposed near the bottom surface of the inner tank 5. One end side of the pipe 49 is connected to the opposite side of the supply pipe 45 to the opening end 47. The other end side of the pipe 49 is connected to the surfactant supply source 27. A control valve 51 is provided in the pipe 49. When the control valve 51 is opened, the surfactant from the surfactant supply source 27 is supplied near the bottom surface of the inner tank 5 through the supply pipe 45.

制御部43は、ポンプ13の動作と、インラインヒータ15による温調と、リフタ19の昇降と、制御弁51の開閉とを制御する。   The control unit 43 controls the operation of the pump 13, the temperature adjustment by the in-line heater 15, the lifting and lowering of the lifter 19, and the opening and closing of the control valve 51.

次に、図4を参照して、上述した構成の基板処理装置1Aの動作について説明する。図4は、実施例2の動作を示すタイムチャートである。なお、処理槽1には、予め所定量の処理液が貯留されて循環されている。この処理液は、動作開始時点では、処理温度への温調が行われていない常温である。   Next, the operation of the substrate processing apparatus 1A having the above-described configuration will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a time chart illustrating the operation of the second embodiment. A predetermined amount of processing liquid is stored and circulated in the processing tank 1 in advance. This processing liquid is at a normal temperature at which the temperature is not adjusted to the processing temperature at the start of operation.

制御部43は、t1〜t2時点にわたって制御弁51を開放させる。すると、内槽5の底面近くに界面活性剤が供給される。一対の噴出管11からは常温の処理液が供給され、処理液は内槽5の底面両側から中央部を上方へ向かって流れてゆく。この流れに乗って界面活性剤が処理液に添加され、添加処理液とされる。   The control unit 43 opens the control valve 51 over time t1 to t2. Then, the surfactant is supplied near the bottom surface of the inner tank 5. A normal temperature processing liquid is supplied from the pair of ejection pipes 11, and the processing liquid flows upward from the both sides of the bottom surface of the inner tank 5 through the center. A surfactant is added to the treatment liquid along this flow to form an addition treatment liquid.

次に、制御部43は、界面活性剤の添加後のt2時点からインラインヒータ15を作動させて、添加処理液を処理温度に温調する。そして、添加処理液が処理温度に達した後、t3時点からリフタ19を処理位置に下降させて、複数枚の基板Wを処理温度の添加処理液によって処理させる。   Next, the control unit 43 operates the in-line heater 15 from time t2 after the addition of the surfactant, and adjusts the temperature of the added processing solution to the processing temperature. Then, after the additive processing liquid reaches the processing temperature, the lifter 19 is lowered to the processing position from time t3, and the plurality of substrates W are processed with the processing liquid at the processing temperature.

本実施例に係る基板処理装置1Aによると、制御部43は、内槽5と外槽7との間で循環されている処理液を、インラインヒータ15により温調させる前に、制御弁51を操作して内槽5に貯留している処理液に界面活性剤を供給させて添加処理液を生成させ、その後、インラインヒータ15により処理温度に温調させる。温調される前の処理液に対して界面活性剤を供給するので、温度差に起因する反応を緩やかにでき、添加処理液に気泡が生じることを抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板Wの汚染を防止することができる。   According to the substrate processing apparatus 1 </ b> A according to the present embodiment, the control unit 43 controls the control valve 51 before adjusting the temperature of the processing liquid circulated between the inner tank 5 and the outer tank 7 by the in-line heater 15. The surfactant is supplied to the processing liquid stored in the inner tank 5 to generate an added processing liquid, and then the temperature is adjusted to the processing temperature by the in-line heater 15. Since the surfactant is supplied to the treatment liquid before the temperature is adjusted, the reaction due to the temperature difference can be moderated, and the generation of bubbles in the addition treatment liquid can be suppressed. Therefore, the bubbles of the processing liquid caused by the surfactant can be suppressed, and contamination of the substrate W caused by the bubbles can be prevented.

また、供給管45の開口端47が内槽5の底面に位置しているので、供給された界面活性剤が、内槽5の底面から上方へ供給される処理液により攪拌される。したがって、処理液と界面活性剤との混合を素早く行うことができる。   Further, since the open end 47 of the supply pipe 45 is located on the bottom surface of the inner tank 5, the supplied surfactant is stirred by the processing liquid supplied upward from the bottom surface of the inner tank 5. Therefore, the treatment liquid and the surfactant can be quickly mixed.

なお、上述した実施例では、供給管45の開口端47を内槽5の底面近くに配置した。しかし、本発明は、界面活性剤を内槽5に供給することができればよく、このような形態に限定されるものではない。例えば、供給管45の開口端47を、内槽5の液面と、内槽5の底面との間の任意の位置に配置するようにしてもよい。   In the embodiment described above, the open end 47 of the supply pipe 45 is disposed near the bottom surface of the inner tank 5. However, this invention should just be able to supply surfactant to the inner tank 5, and is not limited to such a form. For example, the opening end 47 of the supply pipe 45 may be disposed at an arbitrary position between the liquid level of the inner tank 5 and the bottom surface of the inner tank 5.

次に、図面を参照して本発明の実施例3について説明する。
図5は、実施例3に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。また、図6は、貯留カップの構成を示す縦断面図である。なお、上述した実施例1と同じ構成については同符号を付すことで詳細な説明については省略する。
Next, Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 5 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the third embodiment. FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing the configuration of the storage cup. In addition, about the same structure as Example 1 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

基板処理装置1Bは、外槽5の上部に貯留カップ53を備えている。貯留カップ53には、配管49の一端側が連通接続され、配管49の他端側が界面活性剤供給源27に連通接続されている。したがって、制御弁51を開放すると、界面活性剤が貯留カップ53に供給される。   The substrate processing apparatus 1 </ b> B includes a storage cup 53 at the top of the outer tub 5. One end side of the pipe 49 is connected to the storage cup 53, and the other end side of the pipe 49 is connected to the surfactant supply source 27. Therefore, when the control valve 51 is opened, the surfactant is supplied to the storage cup 53.

貯留カップ53は、筐体55と、開閉蓋57と、駆動部59とを備えている。筐体55は、上部に、配管49が連通接続された注入口61を備え、内部に貯留部63を備えている。筐体55の底部は、開放されて供給口65が形成されており、この部分に開閉蓋57が取り付けられている。開閉蓋57は、揺動軸が外槽7の内壁に対向する側に設けられている。開閉蓋57は、駆動部59によって開閉される。駆動部59は、制御部43によって操作される。貯留カップ53は、界面活性剤を所定量だけ貯留部63に貯留することができる。   The storage cup 53 includes a housing 55, an opening / closing lid 57, and a drive unit 59. The housing 55 is provided with an inlet 61 to which a pipe 49 is connected in communication at an upper portion, and a storage portion 63 therein. The bottom of the housing 55 is opened to form a supply port 65, and an opening / closing lid 57 is attached to this portion. The opening / closing lid 57 is provided on the side where the swing shaft faces the inner wall of the outer tub 7. The open / close lid 57 is opened and closed by the drive unit 59. The drive unit 59 is operated by the control unit 43. The storage cup 53 can store a predetermined amount of surfactant in the storage unit 63.

なお、開閉蓋57は、駆動部59を操作することで開閉されるが、開放された際には、図6に実線で示すように、貯留部63から流出する界面活性剤LQが開閉蓋57の上面を伝って外槽7の内壁に沿って流下する角度とされる。   The opening / closing lid 57 is opened / closed by operating the drive unit 59. When the opening / closing lid 57 is opened, as shown by a solid line in FIG. It is set as the angle which flows down along the inner wall of the outer tank 7 along the upper surface of this.

次に、図7を参照して、上述した構成の基板処理装置1Bの動作について説明する。図7は、実施例3の動作を示すタイムチャートである。なお、処理槽1には、予め所定量の処理液が貯留されて循環されている。この処理液は、動作開始時点では、処理温度への温調が行われていない常温である。また、貯留カップ53には、予め必要な量の界面活性剤が供給されている。   Next, the operation of the substrate processing apparatus 1B having the above-described configuration will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a time chart illustrating the operation of the third embodiment. A predetermined amount of processing liquid is stored and circulated in the processing tank 1 in advance. This processing liquid is at a normal temperature at which the temperature is not adjusted to the processing temperature at the start of operation. The storage cup 53 is supplied with a necessary amount of surfactant in advance.

制御部43は、t1時点からインラインヒータ15を作動させて、処理液を処理温度に温調する。そして、処理液の温度が処理温度に到達した後、t2時点から所定時間(t3時点まで)の間、駆動部59を操作し、貯留カップ53に貯留している界面活性剤を外槽7に供給する。供給された界面活性剤が循環されつつ処理液と充分に混合された時間を空けて、制御部43は、t4時点からリフタ19を処理位置に下降させて複数枚の基板Wに対する処理を行わせる。   The control unit 43 operates the in-line heater 15 from time t1 to adjust the temperature of the processing liquid to the processing temperature. Then, after the temperature of the processing liquid reaches the processing temperature, the drive unit 59 is operated for a predetermined time (until time t3) from the time t2, and the surfactant stored in the storage cup 53 is transferred to the outer tub 7. Supply. The controller 43 lowers the lifter 19 to the processing position from the time point t4 and performs processing on the plurality of substrates W after a time when the supplied surfactant is circulated and sufficiently mixed with the processing liquid. .

本実施例の基板処理装置1Bによると、制御部43は、内槽5と外槽7との間で循環されている処理液を、インラインヒータ15により処理温度に温調させた後、貯留カップ53の供給口65を開放させて、貯留カップ53内の界面活性剤を処理液に添加させる。貯留カップ53に貯留されている界面活性剤は、自重により供給口65から処理液に添加されるので、圧力が加わらず気泡の発生を抑制できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板Wの汚染を防止することができる。   According to the substrate processing apparatus 1B of the present embodiment, the control unit 43 adjusts the temperature of the processing liquid circulated between the inner tank 5 and the outer tank 7 to the processing temperature by the in-line heater 15, and then stores the storage liquid. The supply port 65 of 53 is opened, and the surfactant in the storage cup 53 is added to the treatment liquid. Since the surfactant stored in the storage cup 53 is added to the treatment liquid from the supply port 65 by its own weight, generation of bubbles can be suppressed without applying pressure. Therefore, the bubbles of the processing liquid caused by the surfactant can be suppressed, and contamination of the substrate W caused by the bubbles can be prevented.

なお、上述した実施例では、貯留カップ53から界面活性剤LQを供給する際に、外槽7の側壁に沿って流下させるようにした。しかし、外槽7の処理液に直接的に供給させるようにしてもよい。   In the above-described embodiment, when the surfactant LQ is supplied from the storage cup 53, it is caused to flow down along the side wall of the outer tub 7. However, you may make it supply directly to the process liquid of the outer tank 7. FIG.

また、上述した実施例では、貯留カップ53から外槽7に界面活性剤を供給したが、内槽5に界面活性剤を供給するようにしてもよい。   In the above-described embodiment, the surfactant is supplied from the storage cup 53 to the outer tank 7, but the surfactant may be supplied to the inner tank 5.

また、貯留カップ53は、開閉蓋57により供給口65を開閉するようにした。しかし、供給口65を***とし、ここへ開閉弁を設け、開閉弁を開放して界面活性剤を供給するようにしてもよい。   In addition, the storage cup 53 is configured to open and close the supply port 65 by the opening / closing lid 57. However, the supply port 65 may be a small hole, an open / close valve may be provided here, and the open / close valve may be opened to supply the surfactant.

なお、貯留カップ53へ界面活性剤を供給する際には、圧送を用いて行ってもよい。その際には、圧力が界面活性剤に加わるので、気泡が生じる恐れがある。しかし、生じた気泡が消えるまで貯留カップ53に貯留しておいて、気泡が消えた後に貯留カップ53から界面活性剤を処理液に添加すればよい。   In addition, when supplying surfactant to the storage cup 53, you may carry out using pressure feeding. In that case, since pressure is applied to the surfactant, there is a possibility that bubbles are generated. However, the generated bubbles are stored in the storage cup 53 until they disappear, and the surfactant may be added to the treatment liquid from the storage cup 53 after the bubbles disappear.

次に、図面を参照して本発明の実施例4について説明する。
図8は、実施例4に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図であり、図9は、吐出カップの構成を示す縦断面図である。なお、上述した実施例1と同じ構成については同符号を付すことで詳細な説明については省略する。
Next, Embodiment 4 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 8 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the fourth embodiment, and FIG. 9 is a longitudinal sectional view illustrating the configuration of the discharge cup. In addition, about the same structure as Example 1 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

基板処理装置1Cは、外槽5の上部に吐出カップ67を備えている。吐出カップ67には、配管49の一端側が連通接続され、配管49の他端側が界面活性剤供給源27に連通接続されている。したがって、制御弁51を開放すると、界面活性剤が吐出カップ67に供給される。   The substrate processing apparatus 1 </ b> C includes a discharge cup 67 at the top of the outer tub 5. One end of the pipe 49 is connected to the discharge cup 67 and the other end of the pipe 49 is connected to the surfactant supply source 27. Therefore, when the control valve 51 is opened, the surfactant is supplied to the discharge cup 67.

吐出カップ67は、筐体69と、吐出口71とを備えている。筐体69は、上部に、配管49が連通接続された注入口73を形成され、内部に貯留部75を備えている。筐体69の上部であって外槽7の内壁側には、吐出口71が形成されている。   The discharge cup 67 includes a housing 69 and a discharge port 71. The casing 69 is formed with an inlet 73 connected to the pipe 49 in the upper part, and has a storage part 75 inside. A discharge port 71 is formed in the upper part of the housing 69 and on the inner wall side of the outer tub 7.

吐出カップ67は、貯留部75に所定量だけ貯留可能であって、それ以上の界面活性剤が供給された場合には、所定量を超える界面活性剤が吐出口71から外部に吐出される。吐出カップ67は、図9に示すように、吐出口71から吐出される界面活性剤LQが外槽7の内壁に沿って流下するように設けられている。   The discharge cup 67 can store a predetermined amount in the storage unit 75, and when more surfactant is supplied, the surfactant exceeding the predetermined amount is discharged from the discharge port 71 to the outside. As shown in FIG. 9, the discharge cup 67 is provided so that the surfactant LQ discharged from the discharge port 71 flows down along the inner wall of the outer tub 7.

本実施例の基板処理装置1Cの動作は、上述した実施例3と同様のタイミング(図7)で、吐出カップ67に界面活性剤を供給して吐出カップ67から界面活性剤を供給すればよい。   The operation of the substrate processing apparatus 1 </ b> C of the present embodiment may be performed by supplying a surfactant to the discharge cup 67 and supplying the surfactant from the discharge cup 67 at the same timing (FIG. 7) as in the above-described third embodiment. .

本実施例の基板処理装置1Cによると、制御部43は、内槽5と外槽7との間で循環されている処理液を、インラインヒータ15により処理温度に温調させた後、界面活性剤供給源27から界面活性剤を供給させ、吐出カップ67内に貯留していた界面活性剤を吐出口71から処理液に吐出させる。吐出カップ67に貯留されている界面活性剤は、押し出されるように吐出口71から処理液に添加されるので、強い圧力が加わらず気泡の発生を抑制できる。また、たとえ、界面活性剤供給源27により気泡が生じても、気泡が生じた界面活性剤は吐出カップ67に一旦滞留するので、気泡が処理液に混入することは回避できる。したがって、界面活性剤に起因する処理液の気泡を抑制して、気泡に起因する基板Wの汚染を防止することができる。   According to the substrate processing apparatus 1 </ b> C of the present embodiment, the control unit 43 adjusts the processing liquid circulated between the inner tank 5 and the outer tank 7 to the processing temperature by the in-line heater 15, and then performs surface activity. The surfactant is supplied from the agent supply source 27 and the surfactant stored in the discharge cup 67 is discharged from the discharge port 71 to the treatment liquid. Since the surfactant stored in the discharge cup 67 is added to the processing liquid from the discharge port 71 so as to be pushed out, generation of bubbles can be suppressed without applying a strong pressure. Even if bubbles are generated by the surfactant supply source 27, the surfactant in which the bubbles are generated temporarily stays in the discharge cup 67, so that it is possible to avoid the bubbles from being mixed into the processing liquid. Therefore, the bubbles of the processing liquid caused by the surfactant can be suppressed, and contamination of the substrate W caused by the bubbles can be prevented.

なお、上述した実施例では、吐出カップ67から界面活性剤LQを供給する際に、外槽7の側壁に沿って流下させるようにした。しかし、外槽7の処理液に直接的に供給させるようにしてもよい。   In the above-described embodiment, when the surfactant LQ is supplied from the discharge cup 67, it is caused to flow down along the side wall of the outer tub 7. However, you may make it supply directly to the process liquid of the outer tank 7. FIG.

また、上述した実施例では、吐出カップ67から外槽7に界面活性剤を供給したが、内槽5に界面活性剤を供給するようにしてもよい。   In the embodiment described above, the surfactant is supplied from the discharge cup 67 to the outer tub 7, but the surfactant may be supplied to the inner tub 5.

1 … 基板処理装置
3 … 処理槽
5 … 内槽
7 … 外槽
11 … 循環配管
19 … リフタ
23 … バッファタンク
43 … 制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate processing apparatus 3 ... Processing tank 5 ... Inner tank 7 ... Outer tank 11 ... Circulation piping 19 ... Lifter 23 ... Buffer tank 43 ... Control part

Claims (13)

処理液によって基板を処理する基板処理装置において、
処理液を貯留する内槽と、
前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、
前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、
前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、
界面活性剤と処理液とを混合して、界面活性剤が添加された処理液を予め生成しておくバッファタンクと、
前記バッファタンク内の界面活性剤が添加された処理液を、前記内槽、前記外槽、前記循環配管のいずかの箇所に注入する注入手段と、
前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により処理温度に温調させた後、前記注入手段を操作して界面活性剤が添加された処理液を注入させる制御手段と、
を備えていることを特徴とする基板処理装置。
In a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
An inner tank for storing the processing liquid;
An outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank;
A circulating pipe for connecting the inner tank and the outer tank and circulating the processing liquid;
Temperature adjusting means for adjusting the temperature of the processing liquid flowing through the circulation pipe to the processing temperature;
A buffer tank that mixes a surfactant and a treatment liquid and generates a treatment liquid to which a surfactant is added in advance;
Injecting means for injecting the treatment liquid to which the surfactant in the buffer tank is added into any of the inner tank, the outer tank, and the circulation pipe;
After the treatment liquid circulated between the outer tank and the inner tank is adjusted to the treatment temperature by the temperature adjustment means, the treatment liquid to which the surfactant is added by operating the injection means Control means for injection;
A substrate processing apparatus comprising:
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記バッファタンクに処理液を供給する処理液供給手段と、
前記バッファタンクに界面活性剤を供給する界面活性剤供給手段と、
一端側が前記バッファタンクの内部に連通し、前記バッファタンクの外部を通って他端側が前記バッファタンクの内部に連通した循環路と、
前記循環路に設けられたポンプと、
前記ポンプの下流側にあたる前記循環路に設けられたフィルタと、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記処理液供給手段から処理液を前記バッファタンクに供給させ、前記界面活性剤供給手段から界面活性剤を前記バッファタンクに供給させた後、前記ポンプを作動させて、前記循環路を通して界面活性剤が添加された処理液を循環させることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
Treatment liquid supply means for supplying a treatment liquid to the buffer tank;
A surfactant supplying means for supplying a surfactant to the buffer tank;
One end side communicates with the inside of the buffer tank, the circulation path passes through the outside of the buffer tank and the other end side communicates with the inside of the buffer tank,
A pump provided in the circulation path;
A filter provided in the circulation path on the downstream side of the pump;
Further comprising
The control means supplies the processing liquid from the processing liquid supply means to the buffer tank, supplies the surfactant from the surfactant supply means to the buffer tank, and then operates the pump to perform the circulation. A substrate processing apparatus, wherein a processing liquid to which a surfactant is added is circulated through a path.
請求項1または2に記載の基板処理装置において、
前記注入手段は、前記バッファンタンク内部に一端側が連通し、前記循環配管における前記温調手段の上流側に他端側が連通した注入管を備えていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1 or 2,
The substrate processing apparatus, wherein the injecting means includes an injecting pipe having one end communicating with the buffer tank and having the other end communicating with the upstream side of the temperature adjusting means in the circulation pipe.
処理液によって基板を処理する基板処理装置において、
処理液を貯留する内槽と、
前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、
前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、
前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、
界面活性剤を前記内槽に供給する界面活性剤供給手段と、
前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により温調させる前に、前記界面活性剤供給手段を操作して内槽に貯留している処理液に界面活性剤を供給させ、その後、前記温調手段により処理温度に温調させる制御手段と、
を備えていることを特徴とする基板処理装置。
In a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
An inner tank for storing the processing liquid;
An outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank;
A circulating pipe for connecting the inner tank and the outer tank and circulating the processing liquid;
Temperature adjusting means for adjusting the temperature of the processing liquid flowing through the circulation pipe to the processing temperature;
A surfactant supplying means for supplying the surfactant to the inner tank;
Before the temperature of the processing liquid circulated between the outer tank and the inner tank is adjusted by the temperature adjusting means, the processing agent stored in the inner tank is operated by operating the surfactant supply means. A control means for supplying a surfactant and then adjusting the temperature to the treatment temperature by the temperature adjustment means;
A substrate processing apparatus comprising:
請求項4に記載の基板処理装置において、
前記循環配管は、一端側が前記内槽の底部に連通し、循環してきた処理液を前記内槽の底部から上方へ向かって供給する構成であり、
前記界面活性剤供給手段は、前記内槽の底面に開口端を有する供給管を備えていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 4,
The circulation pipe is configured such that one end side communicates with the bottom of the inner tank and supplies the processing liquid that has been circulated upward from the bottom of the inner tank,
The substrate processing apparatus, wherein the surfactant supply means includes a supply pipe having an open end on a bottom surface of the inner tank.
処理液によって基板を処理する基板処理装置において、
処理液を貯留する内槽と、
前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、
前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、
前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、
前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、所定量の界面活性剤を貯留するとともに、開閉自在の供給口を有する貯留カップと、
前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により処理温度に温調させた後、前記貯留カップの供給口を開放させて、前記貯留カップ内の界面活性剤を処理液に添加させる制御手段と、
を備えていることを特徴とする基板処理装置。
In a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
An inner tank for storing the processing liquid;
An outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank;
A circulating pipe for connecting the inner tank and the outer tank and circulating the processing liquid;
Temperature adjusting means for adjusting the temperature of the processing liquid flowing through the circulation pipe to the processing temperature;
A storage cup that is provided in the upper part of the inner tank or the outer tank, stores a predetermined amount of the surfactant, and has an openable / closable supply port;
After the treatment liquid circulated between the outer tub and the inner tub is temperature-controlled by the temperature adjusting means, the supply port of the storage cup is opened, and the interface in the storage cup is opened. A control means for adding an activator to the treatment liquid;
A substrate processing apparatus comprising:
請求項6に記載の基板処理装置において、
前記貯留カップは、界面活性剤を供給する際に、前記内槽または前記外槽の内側壁に沿って界面活性剤が流下する位置に前記供給口を設けられていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 6,
The storage cup is provided with the supply port at a position where the surfactant flows down along the inner wall of the inner tank or the outer tank when supplying the surfactant. apparatus.
処理液によって基板を処理する基板処理装置において、
処理液を貯留する内槽と、
前記内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、
前記内槽と前記外槽とを連通接続し、処理液を循環させる循環配管と、
前記循環配管を流通する処理液を処理温度に温調する温調手段と、
前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、界面活性剤を所定量だけ貯留可能であって、所定量を超える界面活性剤を吐出する吐出口を有する吐出カップと、
前記吐出カップに界面活性剤を供給する界面活性剤供給手段と、
前記外槽と前記内槽との間で循環されている処理液を、前記温調手段により処理温度に温調させた後、前記界面活性剤供給手段から界面活性剤を供給させ、前記吐出カップ内に貯留していた界面活性剤を前記吐出口から処理液に吐出させる制御手段と、
を備えていることを特徴とする基板処理装置。
In a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
An inner tank for storing the processing liquid;
An outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank;
A circulating pipe for connecting the inner tank and the outer tank and circulating the processing liquid;
Temperature adjusting means for adjusting the temperature of the processing liquid flowing through the circulation pipe to the processing temperature;
A discharge cup provided on the inner tank or the outer tank, capable of storing a predetermined amount of surfactant and having a discharge port for discharging a surfactant exceeding a predetermined amount;
A surfactant supply means for supplying a surfactant to the discharge cup;
The treatment liquid circulated between the outer tub and the inner tub is adjusted to the treatment temperature by the temperature adjustment means, and then the surfactant is supplied from the surfactant supply means, and the discharge cup Control means for discharging the surfactant stored in the processing liquid from the discharge port;
A substrate processing apparatus comprising:
請求項8に記載の基板処理装置において、
前記吐出カップは、界面活性剤を吐出する際に、前記内槽または前記外槽の内側壁に沿って界面活性剤が流下する位置に前記吐出口を設けられていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 8,
The discharge cup is provided with the discharge port at a position where the surfactant flows down along the inner wall of the inner tank or the outer tank when discharging the surfactant. apparatus.
処理液によって基板を処理する基板処理方法において、
バッファタンク内で界面活性剤と処理液とを予め混合して、界面活性剤が添加された処理液を予め生成しておく過程と、
基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、処理液を処理温度に温調させる過程と、
処理液が処理温度に達した後、前記循環されている処理液に対して前記バッファタンクから界面活性剤が添加された処理液を注入する過程と、
を有することを特徴とする基板処理方法。
In a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid,
A process in which a surfactant and a treatment liquid are premixed in a buffer tank and a treatment liquid to which a surfactant is added is generated in advance.
The processing liquid is circulated between the inner tank that accommodates the substrate and performs processing with the processing liquid, and the outer tank that collects the processing liquid overflowing from the inner tank, and the processing liquid is adjusted to the processing temperature while circulating the processing liquid. Process,
After the processing liquid reaches the processing temperature, a process of injecting the processing liquid to which the surfactant is added from the buffer tank to the circulating processing liquid;
A substrate processing method comprising:
処理液によって基板を処理する基板処理方法において、
基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、界面活性剤供給手段により界面活性剤を前記内槽に供給する過程と、
循環配管を流通している処理液を処理温度に温調する過程と、
を有することを特徴とする基板処理方法。
In a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid,
Surfactant is supplied by the surfactant supply means while circulating the treatment liquid between the inner tank that accommodates the substrate and performs the treatment with the treatment liquid, and the outer tank that collects the treatment liquid overflowing from the inner tank. Supplying to the inner tank,
The process of adjusting the temperature of the processing liquid flowing through the circulation piping to the processing temperature,
A substrate processing method comprising:
処理液によって基板を処理する基板処理方法において、
基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、処理液を処理温度に温調させる過程と、
前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、所定量の界面活性剤を貯留するとともに、開閉自在の供給口を有する貯留カップを操作して、前記供給口を開放させて前記供給カップ内の界面活性剤を処理液に添加させる過程と、
を有することを特徴とする基板処理方法。
In a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid,
The processing liquid is circulated between the inner tank that accommodates the substrate and performs processing with the processing liquid, and the outer tank that collects the processing liquid overflowing from the inner tank, and the processing liquid is adjusted to the processing temperature while circulating the processing liquid. Process,
Provided in the upper part of the inner tank or the outer tank, and stores a predetermined amount of the surfactant, and operates a storage cup having an openable / closable supply port to open the supply port to open the supply cup. Adding a surfactant to the treatment liquid;
A substrate processing method comprising:
処理液によって基板を処理する基板処理方法において、
基板を収容して処理液による処理を行う内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽との間で循環配管により処理液を循環させつつ、処理液を処理温度に温調させる過程と、
前記内槽または前記外槽の上部に設けられ、界面活性剤を所定量だけ貯留可能であって、所定量を超える界面活性剤を吐出する吐出口を有する吐出カップに対して、界面活性剤供給手段を操作して前記吐出カップに界面活性剤を供給して、前記吐出カップ内に貯留していた界面活性剤を前記吐出口から処理液に吐出させる過程と、
を有することを特徴とする基板処理方法。
In a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid,
The processing liquid is circulated between the inner tank that accommodates the substrate and performs processing with the processing liquid, and the outer tank that collects the processing liquid overflowing from the inner tank, and the processing liquid is adjusted to the processing temperature while circulating the processing liquid. Process,
Provided in the upper part of the inner tank or the outer tank, the surfactant can be stored in a predetermined amount, and the surfactant is supplied to a discharge cup having a discharge port for discharging the surfactant exceeding the predetermined amount. Operating the means to supply a surfactant to the discharge cup, and discharging the surfactant stored in the discharge cup from the discharge port to the treatment liquid;
A substrate processing method comprising:
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