JP2013234965A

JP2013234965A - 試験装置

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Publication number: JP2013234965A
Application number: JP2012108962A
Authority: JP
Inventors: Takashi Nakajo; 崇中條
Original assignee: Saginomiya Seisakusho Inc
Current assignee: Saginomiya Seisakusho Inc
Priority date: 2012-05-10
Filing date: 2012-05-10
Publication date: 2013-11-21
Anticipated expiration: 2032-05-10
Also published as: JP6062657B2

Abstract

【課題】制御装置が故障した際にも試験データーのデーター消失を防止することが可能で、外部メモリーの取り外しによる試験の中断を防止することができる試験装置を提供する。
【解決手段】試験を行うための試験装置本体１２と、試験装置本体１２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置３２と、制御装置３２で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置１０であって、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリー４２にデーター転送されるように構成されている。
【選択図】図１

Description

本発明は、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品などの機械部品について、また、これらの完成品について行われる、疲労試験、耐久試験、特性試験などの各種の試験のための試験装置に関する。

従来、試験装置として、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品(駆動系や足回りの金属部品やゴム部品、ショックアブソーバなど)などの機械部品について、これらの自動車完成品などの完成品について、さらに、土木関係(橋桁、橋梁や建物用の免震ゴムなど)の構造物について、材料試験、振動試験、疲労試験、特性試験などを行うための材料試験装置、振動試験装置、疲労試験装置など各種の試験装置がある。

以下、本明細書において、「試験装置」とは、これらの各種の試験を行うための試験装置を包含した意味で用いられる。

ところで、従来のこのような試験装置としては、特許文献１（国際公開ＷＯ２００７／１４１８５５）に開示されているような試験装置が提案されている。

すなわち、図６に示したように、この試験装置１００では、試験を行うための試験装置本体１０２と、試験装置本体１０２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置１０４とを備えている。そして、試験データーの保存は、例えば、ＵＳＢなどの外部メモリー１０６を、試験中において、常時、試験装置１００に取り付けるようになっている。また、試験中は随時、この試験装置１００に取り付けた外部メモリー１０６に、試験データーを保存（記憶）するように構成されている。

そして、試験が終了して、外部メモリー１０６に試験データーを保存した後には、外部メモリー１０６を試験装置１００から取り外して、別途用意した外部解析用パソコン（ＰＣ）１０８に外部メモリー１０６を取り付けて、外部解析用パソコン１０８にて、試験の解析を行うように構成されている。

また、従来の試験装置としては、特許文献２（特開２００６−１１８９６４号公報）に開示されているような試験装置も提案されている。

すなわち、図７に示したように、この試験装置２００では、試験を行うための試験装置本体２０２と、試験装置本体２０２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置２０４と、試験装置２００に設けられ、試験データーを保存する内部メモリー２０６とを備えている。

そして、試験中は、内部メモリー２０６に試験データーを保存し、試験が終了した後、試験装置２００に、例えば、ＵＳＢなどの外部メモリー２０８を取り付けて、内部メモリー２０６に保存された試験データーを、外部メモリー２０８にコピーするようになっている。

また、試験データーを、外部メモリー２０８にコピーした後には、外部メモリー２０８を試験装置２００から取り外して、別途用意した外部解析用パソコン（ＰＣ）２１０に外部メモリー２０８を取り付けて、外部解析用パソコン２１０にて、試験の解析を行うように構成されている。

国際公開ＷＯ２００７／１４１８５５特開２００６−１１８９６４号公報

しかしながら、このような特許文献１に開示されているような従来の試験装置１００では、図６に示したように、試験中は随時、試験装置１００に取り付けた外部メモリー１０６に、試験データーを保存するように構成されている。

従って、試験中に外部メモリー１０６を試験装置１００から不用意に取り外してしまうと、外部メモリー１０６に試験データーを保存することができなくなって、試験データーの測定ができなくなり、試験が正常に行えず、試験が中断してしまうことにもなる。

一方、特許文献２に開示されているような従来の試験装置２００では、図７に示したように、内部メモリー２０６に保存された試験データーを、外部メモリー２０８にコピーする（データバックアップ）を怠った場合には、試験装置２００（制御装置２０４）の故障により、内部メモリー２０６に蓄積されている保存された試験データーが消失する場合がある。

従って、これを避けるため、試験データーを定期的に試験装置２００の外部に（外部メモリー２０８に）バックアップする必要があり、試験装置２００の操作手順が複雑化することにもなっていた。すなわち、外部解析用パソコン２１０で試験データーを解析する場合、その都度、内部メモリー２０６に保存された試験データーを、外部メモリー２０８にコピーするデータコピー処理を行う必要があり、煩雑な作業が必要であった。

本発明は、このような現状に鑑み、制御装置が故障した際にも試験データーのデーター消失を防止することが可能で、外部メモリーの取り外しによる試験の中断を防止することができ、しかも、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも操作が簡単で迅速に行え、さらには、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない試験装置を提供することを目的とする。

本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明されたものであって、本発明の試験装置は、
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。

このように構成することによって、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存される。そして、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーにデーター転送される。

従って、制御装置が故障した際にも、制御装置が故障する前に内部メモリーに蓄積された試験データーは、外部メモリーにデーター転送済みであり、試験データーのデーター消失を防止することが可能である。

また、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存されるので、外部メモリーの取り外しによる試験の中断を防止することができる。

さらに、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、従来のように、試験データーを定期的に試験装置の外部の外部メモリーにバックアップする必要がなく、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも操作が簡単で迅速に行える。

また、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存され、しかも、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

また、本発明の試験装置は、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定時間経過後に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。

このように構成することによって、内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定時間経過後に外部メモリーにデーター転送されるので、制御装置が故障した際にも、制御装置が故障する前に内部メモリーに蓄積された試験データーは、外部メモリーにデーター転送済みであり、試験データーのデーター消失を防止することが可能で、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

また、本発明の試験装置は、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積された後に、外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。

このように構成することによって、内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積された後に外部メモリーにデーター転送されるので、制御装置が故障した際にも、制御装置が故障する前に内部メモリーに蓄積された試験データーは、外部メモリーにデーター転送済みであり、試験データーのデーター消失を防止することが可能で、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

また、本発明の試験装置は、前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、試験完了後に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。

このように構成することによって、内部メモリーに蓄積された試験データーが、試験完了後に外部メモリーにデーター転送されるので、データー転送は装置が停止しているタイミングで行うことになり、処理に想定外の時間がかかっても試験に影響が発生することがない。

また、本発明の試験装置は、
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。

このように構成することによって、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存される。そして、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーにデーター転送される。

さらに、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、従来のように、試験データーを定期的に試験装置の外部の外部メモリーにバックアップする必要がなく、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも操作が簡単で迅速に行える。

また、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存され、しかも、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

また、本発明の試験装置は、前記外部メモリーが、試験装置に接続可能な外部メモリーであることを特徴とする。

このように外部メモリーが、例えば、ＵＳＢメモリーなどの試験装置に接続可能な外部メモリーであるので、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも、試験装置から外部メモリーを取り外して、外部解析用パソコンで試験データーを解析でき、操作が簡単で迅速に行える。

また、本発明の試験装置は、前記外部メモリーが、試験装置にＬＡＮケーブルを介して接続可能な外部メモリーであることを特徴とする。

このように外部メモリーが、試験装置にＬＡＮケーブルを介して接続可能な外部メモリーであれば、ＬＡＮケーブルを接続するだけで、内部メモリーに蓄積された試験データーが、外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、接続操作が簡単であり、試験データーのデーター消失を防止することが可能で、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

また、本発明の試験装置は、
前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続されていることを特徴とする。

このように制御装置と内部メモリーとが、制御用のパソコンなどの試験制御装置に備えられ、試験装置本体と試験制御装置とが接続されるようにしてもよい。

この場合には、試験装置本体の種類を変更し、これを試験制御装置と接続することによって、様々な試験を実施でき便利である。

また、本発明の試験装置は、前記試験装置本体と、制御装置と、内部メモリーとが、一体で試験装置に備えられていることを特徴とする。

このように構成することによって、試験装置本体と、制御装置と、内部メモリーとが、一体となった試験装置であるので、配線などを行う必要がなく便利である。

本発明によれば、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存される。そして、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的にまたは常時、外部メモリーにデーター転送される。

さらに、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的にまたは常時、外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、従来のように、試験データーを定期的に試験装置の外部の外部メモリーにバックアップする必要がなく、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも操作が簡単で迅速に行える。

また、制御装置で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存され、しかも、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的にまたは常時、外部メモリーに自動的にデーター転送されるので、外部メモリーの動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

図１は、本発明の試験装置を、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置に適用した実施例を示す概略図である。図２は、図１の試験装置本体の使用状態を説明する正面図である。図３は、定期的に外部メモリーにデーター転送する方法を示すフローチャートである。図４は、試験完了後に外部メモリーにデーター転送する方法を示すフローチャートである。図５は、常時外部メモリーにデーター転送する方法を示すフローチャートである。図６は、従来の試験装置を示す概略図である。図７は、従来の試験装置を示す概略図である。

以下、本発明の実施の形態（実施例）を図面に基づいてより詳細に説明する。

図１は、本発明の試験装置を、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置に適用した実施例を示す概略図、図２は、図１の試験装置本体の使用状態を説明する正面図、図３は、定期的に外部メモリーにデーター転送する方法を示すフローチャート、図４は、試験完了後に外部メモリーにデーター転送する方法を示すフローチャート、図５は、常時外部メモリーにデーター転送する方法を示すフローチャートである。

図１において、符号１０は、全体で本発明の試験装置を示している。

図１〜図２に示したように、本発明の試験装置１０は、試験を行うための試験装置本体１２を備えている。この試験装置本体１２は、この実施例では、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置から構成されている。

なお、前述したように、本発明の試験装置１０は、試験装置として、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品(駆動系や足回りの金属部品やゴム部品、ショックアブソーバなど)などの機械部品について、これらの自動車完成品などの完成品について、さらに、土木関係(橋桁、橋梁や建物用の免震ゴムなど)の構造物について、材料試験、振動試験、疲労試験、特性試験などを行うための材料試験装置、振動試験装置、疲労試験装置など各種の試験装置に適用することが可能である。

図１に示したように、試験装置本体１２は、架台フレーム１４を備えており、この架台フレーム１４の下方にシリンダーからなるアクチュエーター１６を備えている。このアクチュエーター１６には、テストピースＡを載置するためのピストン１８と、変位を検出するための変位検出器２０とを備えている。

また、架台フレーム１４の上方には、上方フレーム２８が立設されており、この上方フレーム２８には、上方フレーム２８と架台フレーム１４との間に、ガイドロッド２２が設けられている。

そして、ガイドロッド２２の下方と上方フレーム２８との間には、ボールネジ２４が設けられており、ボールネジ２４により、ピストン１８に対して、上下動可能なクロスヘッド２６が設けられている。また、このクロスヘッド２６には、ピストン１８と対峙するように、荷重検出器３０が設けられている。

また、図１に示したように、本発明の試験装置１０は、試験装置本体１２に接続され、試験装置本体１２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための試験制御装置として機能する制御装置３２を備えている。

この実施例では、制御装置３２は、試験条件などの設定画面、試験データーなどの表示を行うためのＣＲＴ３４と、制御装置本体３６と、キーボード３８と、マウス４０を備えている。従って、この制御装置３２には、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーが内蔵されている。なお、制御装置本体３６に、操作用のパソコンが接続されている場合がある。

そして、試験装置本体１２のアクチュエーター１６の変位検出器２０と、制御装置本体３６が接続されるとともに、試験装置本体１２の荷重検出器３０と、制御装置本体３６が接続されている。

また、図１に示したように、この実施例の試験装置１０では、制御装置３２の制御装置本体３６に、例えば、ＵＳＢメモリーなどの外部メモリー４２が接続可能に構成されている。

一方、本発明の試験装置１０では、制御装置３２の制御装置本体３６に接続されるとともに、試験装置本体１２のアクチュエーター１６に接続されたアクチュエーター駆動源４４が設けられている。

このように構成される本発明の試験装置１０では、以下のように試験が行われる。

すなわち、図２に示したように、ピストン１８の上面にテストピースＡを載置して、図示しない駆動機構によって、ボールネジ２４により、ピストン１８に対してクロスヘッド２６を下降して、ピストン１８の上面とクロスヘッド２６の下面との間にテストピースＡを挟持する。

そして、制御装置３２に予め記憶されたプログラムに基づいて、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集が行われるようになっている。

すなわち、図１に示したように、制御装置３２の制御によって、制御装置３２に接続されたアクチュエーター駆動源４４を所定の条件で駆動させる。これにより、アクチュエーター駆動源４４に接続されたアクチュエーター１６が所定の条件で駆動して、テストピースＡに対して一定の振動を与えるようになっている。

そして、アクチュエーター１６に設けられた変位検出器２０によって、テストピースＡの変位が検出され、テストピースＡの変位データーが、制御装置３２の制御装置本体３６に入力されるようになっている。一方、クロスヘッド２６に設けられた荷重検出器３０によって、テストピースＡにかかる荷重が検出され、テストピースＡにかかる荷重データーが、制御装置３２の制御装置本体３６に入力されるようになっている。

また、これらの試験データーに基づいて、制御装置３２の制御装置本体３６のプログラムに基づいて、制御装置３２からアクチュエーター駆動源４４に、フィードバック指令信号が出力され、アクチュエーター駆動源４４を所定の条件で駆動させるようになっている。

ところで、本発明の試験装置１０では、このように収集された試験データーが、制御装置３２内に設けられた、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーに保存（記憶）されるようになっている。

また、この内部メモリーに保存された試験データーは、制御装置３２の制御装置本体３６に接続された、例えば、ＵＳＢメモリーなどの外部メモリー４２に、定期的にデーター転送されて、自動的に保存されるようになっている。

このように構成することによって、制御装置３２で収集された試験装置本体１２の試験データーは、試験中に制御装置３２の内部メモリーに保存される。そして、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリー４２にデーター転送される。

従って、制御装置３２が故障した際にも、制御装置３２が故障する前に内部メモリーに蓄積された試験データーは、外部メモリー４２にデーター転送済みであり、試験データーのデーター消失を防止することが可能である。

また、制御装置３２で収集された試験装置本体１２の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存されるので、外部メモリー４２の取り外しによる試験の中断を防止することができる。

さらに、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリー４２に自動的にデーター転送されるので、従来のように、試験データーを定期的に試験装置１０の外部の外部メモリーにバックアップする必要がなく、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも操作が簡単で迅速に行える。

また、制御装置３２で収集された試験装置本体１２の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存され、しかも、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリー４２に自動的にデーター転送されるので、外部メモリー４２の動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

このように内部メモリーに蓄積された試験データーを、定期的に外部メモリー４２に自動的にデーター転送する方法としては、具体的には、下記のようにして行われる。
（１）定期的に外部メモリーにデーター転送する方法
（１−１）定期的に外部メモリーにデーター転送する方法

図３のフローチャートに示したように、先ず、ステップＳ１にて試験が開始され、ステップＳ２において、前回の試験データーを外部メモリー４２に保存（コピー）した後、一定期間が経過した否かが判断される。

そして、ステップＳ２において、前回の試験データーを外部メモリー４２にコピーした後に、一定期間が経過している場合には、ステップＳ４に進み、ステップＳ４において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されているか否かが判断される。ステップＳ４において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されている場合には、ステップＳ５に進み、ステップＳ５において、制御装置３２の内部メモリーに保存された現時点までの試験データーが、外部メモリー４２に保存（コピー）されるようになっている。

そして、ステップＳ５において、制御装置３２の内部メモリーに保存された現時点までの試験データーが、外部メモリー４２に保存された後、ステップＳ６に進み、ステップＳ６において、試験が終了したか否か判断され、試験が終了している場合には、ステップＳ７において、試験終了処理が実行されるようになっている。

一方、ステップＳ６において、試験が終了したか否か判断され、試験が終了していない場合には、再び、ステップＳ２に戻って、前回の試験データーを外部メモリー４２に保存（コピー）した後、一定期間が経過した否かが判断され、上記のステップが繰り返されるようになっている。

また、ステップＳ４において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されていない場合には、ステップＳ５に進み、ステップＳ５において、試験が終了したか否か判断されるようになっている。

さらに、ステップＳ２において、前回の試験データーを外部メモリー４２にコピーした後に、一定期間が経過していない場合には、ステップＳ３に進み、ステップＳ３において、前回の試験データーを外部メモリー４２に保存した後、内部メモリーに蓄積された試験データーについて、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたか否かが判断される。

そして、ステップＳ３において、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断された場合には、ステップＳ４に進み、ステップＳ４において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されているか否かが判断され、上記と同じステップが繰り返し行われるようになっている。

一方、ステップＳ３において、前回の試験データーを外部メモリー４２に保存した後、内部メモリーに蓄積された試験データーについて、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されていないと判断された場合には、ステップＳ５に進み、ステップＳ５において、試験が終了したか否か判断されるようになっている。

このように構成することによって、ステップＳ２において、前回の試験データーを外部メモリー４２にコピーした後に、一定期間が経過しているか否かが判断され、一定期間が経過している場合に、内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定時間経過後に外部メモリー４２にデーター転送されるようになっている。

従って、制御装置３２が故障した際にも、制御装置３２が故障する前に内部メモリーに蓄積された試験データーは、外部メモリー４２にデーター転送済みであり、試験データーのデーター消失を防止することが可能で、外部メモリー４２の動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

また、ステップＳ３において、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断され、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断された場合に、内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積された後に外部メモリー４２にデーター転送されるようになっている。

なお、この実施例の場合、ステップＳ２において、前回の試験データーを外部メモリー４２にコピーした後に、一定期間が経過しているか否かが判断するとともに、ステップＳ３において、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積されたと判断するように構成したが、ステップＳ２、ステップＳ３の判断の順番は逆でもよく、また、ステップＳ２、ステップＳ３のいずかの判断のみを行うようにすることも可能である。

さらに、図３に示したように、ステップＳ４において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されていないと判断された場合には、ステップＳ８に示したように、ユーザーに制御装置３２に外部メモリー４２を装着するように、例えば、音声や表示ランプ、またはその両方により警告を表示するようにしても良い。
（１−２）試験完了後に外部メモリーにデーター転送する方法

試験データーが、制御装置３２内に設けられた、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーに保存される。そして、図４のフローチャートに示したように、先ず、ステップＳ９において、試験終了処理が実行される。

ステップＳ９において、試験終了処理が実行された後、ステップＳ１０に進み、ステップＳ１０において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されているか否かが判断される。

ステップＳ１０において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されている場合には、ステップＳ１１に進み、ステップＳ１１において、制御装置３２の内部メモリーに保存された現時点までの試験データーが、外部メモリー４２に保存（コピー）されるようになっている。その後、ステップＳ１４において、試験終了処理が実行されるようになっている。

一方、ステップＳ１０において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されていないと判断された場合には、ステップＳ１２に示したように、ユーザーに制御装置３２に外部メモリー４２を装着するように、例えば、音声や表示ランプ、またはその両方により警告を表示するようになっている。

その後、ステップＳ１３に進み、ステップＳ１３において、ユーザーがコピーをキャンセルしたか否かが判断されるようになっている。そして、ステップＳ１３において、ユーザーがコピーをキャンセルした場合には、ステップＳ１４に進み、試験終了処理が実行されるようになっている。

一方、ステップＳ１３において、ユーザーがコピーをキャンセルしなかった場合には、再び、ステップＳ１０に進み、上記のステップが繰り返されるようになっている。

このように構成することによって、内部メモリーに蓄積された試験データーが、試験完了後に外部メモリー４２にデーター転送されるので、データー転送は装置が停止しているタイミングで行うことになり、処理に想定外の時間がかかっても試験に影響が発生することがない。

以上の実施例では、内部メモリーに蓄積された試験データーを、定期的に外部メモリー４２に自動的にデーター転送する方法について説明したが、以下のように、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーにデーター転送されるように構成しても良い。
（２）常時外部メモリーにデーター転送する方法

図５のフローチャートに示したように、先ず、ステップＳ１５にて試験が開始され、試験データーが、制御装置３２内に設けられた、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーに保存される。

そして、ステップＳ１６に進み、ステップＳ１６において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されているか否かが判断される。

ステップＳ１６において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されている場合には、ステップＳ１７に進み、ステップＳ１７において、制御装置３２の内部メモリーに保存された現時点までの試験データーが、外部メモリー４２に保存（コピー）されるようになっている。

その後、ステップＳ１８において、試験が終了したか否かが判断され、ステップＳ１８において、試験が終了したと判断された場合には、ステップＳ１９において、終了試験終了処理が実行されるようになっている。

一方、ステップＳ１６において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されていないと判断された場合には、ステップＳ２０に示したように、ユーザーに制御装置３２に外部メモリー４２を装着するように、例えば、音声や表示ランプ、またはその両方により警告を表示するようになっている。

またステップＳ１８において、試験が終了していないと判断された場合には、再び、ステップＳ１６に進み、ステップＳ１６において、制御装置３２に外部メモリー４２が装着されているか否かが判断され、上記と同じステップが繰り返し行われるようになっている。

このように構成することによって、制御装置３２で収集された試験装置本体１２の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存される。そして、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリー４２にデーター転送される。

また、制御装置３２で収集された試験装置本体の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存されるので、外部メモリー４２の取り外しによる試験の中断を防止することができる。

さらに、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリー４２に自動的にデーター転送されるので、従来のように、試験データーを定期的に試験装置の外部の外部メモリーにバックアップする必要がなく、外部解析用パソコンで試験データーを解析する場合にも操作が簡単で迅速に行える。

また、制御装置３２で収集された試験装置本体１２の試験データーは、試験中に内部メモリーに保存され、しかも、内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリー４２に自動的にデーター転送されるので、外部メモリー４２の動作速度不足などによる試験への影響も少ない。

以上、本発明の好ましい実施の態様を説明してきたが、本発明はこれに限定されることはなく、例えば、上記実施例では、外部メモリー４２として、制御装置３２の制御装置本体３６に接続可能な、例えば、ＵＳＢメモリーなどの外部メモリー４２とした。しかしながら、外部メモリーが、試験装置１０にＬＡＮケーブルを介して接続可能な、例えば、ハードディスク、パソコンなどの外部メモリーであってもよい。

また、この実施例では、制御装置３２と内部メモリーとが一つの試験制御装置内に備えられており、試験装置本体１２と試験制御装置である制御装置３２とが接続されている。これにより、試験装置本体１２の種類を変更し、これを試験制御装置（制御装置３２）と接続することによって、様々な試験を実施でき便利である。

しかしながら、図１の一点鎖線で示した枠で囲んだように、試験装置本体１２と、制御装置３２と、内部メモリーとが、一体で試験装置１０に備えられていてもよい。

このように構成することによって、試験装置本体１２と、制御装置３２と、内部メモリーとが、一体となった試験装置１０であるので、配線などを行う必要がなく便利である。

さらに、本発明において、試験装置１０は、試験装置本体１２と、制御装置３２と、内部メモリーと、アクチュエーター駆動源４４を含めて試験装置１０とすることも可能であるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。

本発明は、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品などの機械部品について、また、これらの完成品について行われる、疲労試験、耐久試験、特性試験などの各種の試験のための試験装置に適用することができる。

１０試験装置
１２試験装置本体
１４架台フレーム
１６アクチュエーター
１８ピストン
２０変位検出器
２２ガイドロッド
２４ボールネジ
２６クロスヘッド
２８上方フレーム
３０荷重検出器
３２制御装置
３４ＣＲＴ
３６制御装置本体
３８キーボード
４０マウス
４２外部メモリー
４４アクチュエーター駆動源
１００試験装置
１０２試験装置本体
１０４制御装置
１０６外部メモリー
１０８外部解析用パソコン
２００試験装置
２０２試験装置本体
２０４制御装置
２０６内部メモリー
２０８外部メモリー
２１０外部解析用パソコン
Ａテストピース

Claims

試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする試験装置。
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定時間経過後に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積された後に、外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする請求項１から２のいずれかに記載の試験装置。
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、試験完了後に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする試験装置。
前記外部メモリーが、試験装置に接続可能な外部メモリーであることを特徴とする請求項１から５のいずれかに記載の試験装置。
前記外部メモリーが、試験装置にＬＡＮケーブルを介して接続可能な外部メモリーであることを特徴とする請求項６に記載の試験装置。
前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続されていることを特徴とする請求項１から７のいずれかに記載の試験装置。
前記試験装置本体と、制御装置と、内部メモリーとが、一体で試験装置に備えられていることを特徴とする請求項１から７のいずれかに記載の試験装置。