JP2013234965A - 試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試験を行うための試験装置本体12と、試験装置本体12に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置32と、制御装置32で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置10であって、内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリー42にデーター転送されるように構成されている。
【選択図】図1
Description
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする。
前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続されていることを特徴とする。
(1)定期的に外部メモリーにデーター転送する方法
(1−1)定期的に外部メモリーにデーター転送する方法
(1−2)試験完了後に外部メモリーにデーター転送する方法
(2)常時外部メモリーにデーター転送する方法
12 試験装置本体
14 架台フレーム
16 アクチュエーター
18 ピストン
20 変位検出器
22 ガイドロッド
24 ボールネジ
26 クロスヘッド
28 上方フレーム
30 荷重検出器
32 制御装置
34 CRT
36 制御装置本体
38 キーボード
40 マウス
42 外部メモリー
44 アクチュエーター駆動源
100 試験装置
102 試験装置本体
104 制御装置
106 外部メモリー
108 外部解析用パソコン
200 試験装置
202 試験装置本体
204 制御装置
206 内部メモリー
208 外部メモリー
210 外部解析用パソコン
A テストピース
Claims (9)
- 試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、定期的に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする試験装置。 - 前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定時間経過後に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の試験装置。
- 前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、一定量の試験データーが内部メモリーに蓄積された後に、外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする請求項1から2のいずれかに記載の試験装置。
- 前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、試験完了後に外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の試験装置。
- 試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記制御装置で収集された試験データーを保存するための内部メモリーとを備えた試験装置であって、
前記内部メモリーに蓄積された試験データーが、常時外部メモリーにデーター転送されるように構成されていることを特徴とする試験装置。 - 前記外部メモリーが、試験装置に接続可能な外部メモリーであることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の試験装置。
- 前記外部メモリーが、試験装置にLANケーブルを介して接続可能な外部メモリーであることを特徴とする請求項6に記載の試験装置。
- 前記制御装置と内部メモリーとが試験制御装置に備えられ、
前記試験装置本体と前記試験制御装置とが接続されていることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の試験装置。 - 前記試験装置本体と、制御装置と、内部メモリーとが、一体で試験装置に備えられていることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の試験装置。
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