JP2013214636A - 部品実装方法及び部品実装装置 - Google Patents

部品実装方法及び部品実装装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2013214636A
JP2013214636A JP2012084557A JP2012084557A JP2013214636A JP 2013214636 A JP2013214636 A JP 2013214636A JP 2012084557 A JP2012084557 A JP 2012084557A JP 2012084557 A JP2012084557 A JP 2012084557A JP 2013214636 A JP2013214636 A JP 2013214636A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
bump
paste
imaging
luminance level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012084557A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5830650B2 (ja
Inventor
Toshihiko Nagaya
利彦 永冶
Tomomi Nakajima
朋美 中島
Hideaki Kato
秀明 加藤
Koji Sakurai
浩二 桜井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2012084557A priority Critical patent/JP5830650B2/ja
Priority to PCT/JP2013/001123 priority patent/WO2013150709A1/ja
Publication of JP2013214636A publication Critical patent/JP2013214636A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5830650B2 publication Critical patent/JP5830650B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3436Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0817Monitoring of soldering processes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/163Monitoring a manufacturing process
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

【課題】バンプに対して透明なペーストが付着しているか否かを精度良く判断することができる部品実装方法及び部品実装装置を提供する。
【解決手段】ペースト付着工程を経た処理済部品3Bを光源26で照明した状態で基準高さHに位置合わせして下方から撮像する。照明光rの入射位置にペーストPが存在する場合、ペーストPに入射した照明光rはその表面で乱反射する他、ペーストP内への入射時及びペーストPからの出射時におけるペーストPの屈折率の影響を受け、ペーストPが付着していない場合とは異なる方向へ反射する。そして、下面中心部F1の輝度レベルが下面外縁部F2の輝度レベルと略同一である場合、バンプ3BaにペーストPが付着していると判断する一方、下面中心部F1の輝度レベルが下面外縁部F2の輝度レベルよりも低い場合、バンプ3BaにペーストPが付着していないと判断する。
【選択図】図10

Description

本発明は、基板に部品を実装する部品実装方法及び部品実装装置に関するものである。
半導体素子等の電子部品を基板に実装する形態として、電子部品の下面に形成された半田バンプを基板上の電極に着地させた後、リフロー装置によって半田バンプを加熱・溶融させることによって電子部品と基板とを半田接合する部品実装方法が知られている。このような部品実装方法では、電極の表面が酸化した状態で半田接合を行うと溶融した半田が一様に濡れ広がりにくく接合不良が発生するおそれがあるため、これを防止すべくフラックスや半田ペースト等の半田接合補助剤(以下、「ペースト」と称する)を所定の膜厚に形成するペースト転写部を装置内に設け、このペースト転写部において形成されたペースト膜に半田バンプを上方から接触させてペーストを転写させたうえで、半田バンプを基板の電極に着地させて半田接合を行っている。
このように、半田バンプにペーストを転写させて部品を基板に実装する部品実装装置では、部品を基板に装着する前に半田バンプにペーストが確実に付着しているか否かの検査を行うようになっている。そしてその検査方法としては、半田バンプに照明光を下方から照射した状態でCCDカメラ等の撮像装置で半田バンプの下面(電極との接触箇所)を撮像し、これにより得られた半田バンプの下面の画像を基にペーストの付着状態を検査する方法が知られている(例えば特許文献1)。
特開2003−60398号公報
しかしながら前述の従来方法では、ペーストとして透明な色のものを用いた場合、次のような問題が生じていた。すなわち、透明のペーストは光の吸収率が低く且つ光を透過させるため、透明でないペーストでは吸収されていた光が吸収されずにその殆どが反射する。そのため、透明のペーストが付着した半田バンプの下面の撮像画像では、半田バンプとペーストが略同一の輝度レベルであらわされて両者を明瞭に判別することができず、ペーストが付着しているか否かの判断が困難になるという問題があった。
そこで本発明は、部品のバンプに付着させるペーストとして透明な色のものを用いた場合でも、バンプに対してペーストが付着しているか否かを精度良く判断することができる部品実装方法及び部品実装装置を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に記載の部品実装方法は、バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置を用いた部品実装方法であって、バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得工程と、前記部品保持部材によって前記部品供給部から取り出した部品のバンプにペーストを付着させるペースト付着工程と、前記ペースト付着工程を経た部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ工程と、前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像する撮像工程と、前記撮像工程により撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断工程とを含む。
本発明の請求項2に記載の部品実装方法は、請求項1に記載の部品実装方法であって、前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行う。
本発明の請求項3に記載の部品実装方法は、請求項1に記載の部品実装方法であって、前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得工程において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行う。
本発明の請求項4に記載の部品実装装置は、バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置であって、バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得手段と、バンプにペーストを付着させるための処理を行った部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ手段と、前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断手段とを備えた。
本発明の請求項5に記載の部品実装装置は、請求項4に記載の部品実装装置であって、前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行う。
本発明の請求項6に記載の部品実装装置は、請求項4に記載の部品実装装置であって、前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得手段において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行う。
本発明では、バンプにペーストを付着させる前の当該バンプの下面中心部の輝度レベルがその下面外縁部の輝度レベルよりも低くても、その部分にペーストが付着すれば照明光が乱反射して輝度レベルが高くなることを利用しており、バンプにペーストが付着していない状態の部品の当該バンプの下面中心部の輝度レベルがその下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる基準高さを取得し、バンプにペーストを付着させるための処理がなされた部品を基準高さに位置合わせし、位置合わせした部品を下方から撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行うことにより、透明なペーストを用いた場合であってもペーストの付着状態の判断を精度良く行うことができる。
本発明の一実施の形態における部品実装装置の平面図 本発明の一実施の形態における部品実装装置の部分側面図 本発明の一実施の形態における部品実装装置の部品認識ユニットの断面図 本発明の一実施の形態における部品実装装置の制御装置のブロック図 本発明の一実施の形態における基準データの取得工程を示したフロー図 (a)(b)本発明の一実施の形態における基準データ取得動作を示す説明図 (a)(b)本発明の一実施の形態における基準データ取得動作を示す説明図 本発明の一実施の形態における部品実装工程を示したフロー図 (a)(b)(c)(d)(e)本発明の一実施の形態におけるペースト付着動作を示す説明図 (a)(b)本発明の一実施の形態における検査工程を示す説明図 (a)(b)本発明の一実施の形態における部品実装動作を示す説明図
まず、図1を参照して部品実装装置の全体構造について説明する。部品実装装置1は、上面に電極2aが形成された基板2を水平面内の一の方向(X方向とする)に搬送して所定の実装作業位置に位置決めし、当該位置にて電極2a上に電子部品等の部品3の下面3bに複数形成された球状の半田バンプ3a(以下、単に「バンプ3a」と称する(図2))を接触させることによって基板2に部品3を装着する。この部品実装装置1は基台4、基台4上に設けられた基板搬送部5、部品供給部としての複数のテープフィーダ7、ペースト転写部8、実装ヘッド16、部品撮像ユニット24及び各部の作動制御を行う制御装置28(図4)等から構成されている。
図1において、基板搬送部5は基台4上でX方向と直交するY方向に対向してX方向に延びた一対の搬送コンベア支持部材6と、一対の搬送コンベア支持部材6にそれぞれ取り付けられた搬送コンベア6aから成る。上流側の装置での作業を終えた基板2は搬送コンベア6aに乗り移り、その両側を搬送コンベア6aによって下方から支持された状態でX方向に搬送され、所定の実装作業位置にて位置決めされる。
図1において、各テープフィーダ7は基台4のY方向に対向する両端部にX方向に整列して設けられており、搬送コンベア支持部材6側の上端部には上方が開口した部品供給口7aが形成されている。テープフィーダ7は部品供給口7aに部品3を連続的に供給する。
図1、図2において、ペースト転写部8は基台4のY方向の一端側においてテープフィーダ7に隣接して配設され、ベース部9と、ベース部9上に配設され上面にフラックスや半田ペースト等の半田接合補助剤(以下、「ペーストP」と称する)が供給される転写テーブル10と、転写テーブル10の上方に配設されたスキージヘッド11から成る。転写テーブル10は上面が平滑になっており、内蔵された駆動機構(不図示)によってベース部9上をY方向に移動可能となっている。スキージヘッド11は、内蔵された昇降機構(不図示)によって個別に昇降可能な第1スキージ部材11A、第2スキージ部材11Bを備えている。なお、本実施の形態においては光の透過率が高い透明な色のペーストPが用いられる。
図1において、ヘッド移動機構12は基台4のX方向の一端部にY方向に延びて設けられたY軸テーブル13と、X方向に延び、Y軸テーブル13に一端が取り付けられてY軸テーブル13に沿って移動自在な2つのX軸テーブル14と、各X軸テーブル14をX方向に移動自在に設けられた移動プレート15から成り、実装ヘッド16は各移動プレート15に取り付けられている。また、各移動プレート15には下方に撮像面を有する基板認識カメラ17(図2も参照)が取り付けられている。
図2において、実装ヘッド16は複数の保持ヘッド18から成り、各保持ヘッド18の下方には部品保持部材としての吸着ノズル19が装着されている。実装ヘッド16には図示しないアクチュエータから成る吸着機構20、昇降機構21及びノズル回転機構22が内蔵されており、これらの各機構によって吸着ノズル19は部品3の吸着及びその解除、昇降(矢印a)、垂直方向(Z方向)を軸心とした水平方向への回転(矢印b)が可能となっている。
図1、図3において、部品撮像ユニット24は、基台4上であってテープフィーダ7と搬送コンベア支持部材6との間に配設され上方が開口した筐体23内に備えられており、上方に撮像面25Aを有する部品認識カメラ25と、筐体23内において部品認識カメラ25の上方に配設された照明手段としての光源26から成る。
光源26は平面視して部品認識カメラ25を四方から取り囲むように筐体23の内壁に複数配設されており、筐体23の側方からその内部側(斜め上方)に向けて照明光rを照射する。図3、図6(b)は便宜上、光源26の図示を一部省略している。また、基台4上であって筐体23のX方向に隣接する位置には、バンプ3aの欠落等により認識の結果実装不可能と判断された部品3が回収される部品回収部27が設けられている。
次に、図4を参照して制御系の構成を説明する。部品実装装置1に備えられた制御装置28は、機構制御部29、撮像制御部30、画像処理部31、照明制御部32、記憶部33、判断部34、報知部35及び表示処理部36を有しており、表示処理部36はモニタ等の表示部37と接続されている。機構制御部29は、搬送コンベア6aの作動制御を行って基板2の搬送、ヘッド移動機構12の作動制御を行って実装ヘッド16のX及びY方向への移動、テープフィーダ7の作動制御を行って部品供給口7aへの部品3の供給、実装ヘッド16に内蔵された吸着機構20、昇降機構21及びノズル回転機構22の作動制御を行って部品3の吸着、吸着の解除、吸着ノズル19の昇降及び水平方向への回転、ペースト転写部8の作動制御を行って転写テーブル10上でのペーストPの塗膜形成処理を実行する。
撮像制御部30は、基板認識カメラ17及び部品認識カメラ25の作動制御を行って、実装作業位置に位置決めされた基板2及び部品認識カメラ25の上方に位置した部品3の撮像処理を実行する。基板認識カメラ17及び部品認識カメラ25によって得られた画像データは画像処理部31に送られ画像認識処理がなされる。照明制御部32は光源26の作動制御を行って、部品認識カメラ25による部品3の撮像時に光源26から照明光rを照射する処理を実行する。
記憶部33は実装動作プログラム33a、基準データ取得プログラム33b及び検査プログラム33cを記憶する。実装動作プログラム33aは、基板2を対象とした部品3の実装動作を実行する際に用いられるプログラムである。基準データ取得プログラム33bは、バンプ3aに対するペーストPの付着状態の検査を行うにあたって、後述する基準データを取得する際に用いられるプログラムである。検査プログラム33cは、バンプ3aに対するペーストPの付着状態を判断する際に用いられるプログラムである。部品実装装置1を構成する各機構は、これらのプログラムに基づいて制御装置28を介して動作する。
判断部34は、後述するバンプ3aの下面の輝度レベルに基づいてバンプ3aにペーストPが付着しているか否かの判断を行う。報知部35は、バンプ3aにペーストPが付着していないと判断部34が判断した場合に当該判断部34からの信号を受けて、その旨を表示部37に表示するよう表示処理部36に信号を送信する。表示処理部36は報知部35からの信号を受けて、表示部37にその旨を表示するための処理を実行する。
以上の構成から成る部品実装装置1によれば、バンプ3aを下面3bに有する部品3を吸着ノズル19(部品保持部材)によってテープフィーダ7(部品供給部)から取り出してバンプ3aにペーストPを付着させた後、その部品3を光源26(照明手段)で照明した状態で部品認識カメラ25(撮像手段)により下方から撮像してバンプ3aに対するペーストPの付着状態の判断を行ってから基板2に部品3を装着する部品実装が実現される。以下、この具体的な動作について説明する。本実施の形態では、バンプ3aに対するペーストPの付着状態を判断するにあたり、その判断時に必要となる基準データを取得するための作業を部品実装動作前に行う。
基準データの取得作業について、図5〜図7を用いて説明する。まず、制御装置28は実装ヘッド16を部品供給口7aの上方に移動させ、その位置から吸着ノズル19を下降(矢印a1)させて部品供給口7aに供給された部品3を吸着し、吸着ノズル19を上昇(矢印a2)させて部品3を取り出す(ST1の部品取り出し工程)(図6(a))。次いで、制御装置28は平面視して吸着ノズル19が部品認識カメラ25の上方に位置するよう実装ヘッド16を移動させる(ST2の吸着ノズル位置合わせ工程)(図6(b))。
次いで、制御装置28は光源26から照明光rを照射させた状態で、部品3(バンプ3aにペーストPを付着させる処理を行っていないので、以下、「未処理部品3A」と称する)を保持した吸着ノズル19を下降(矢印a1)させることにより、未処理部品3Aのバンプ3Aaに対して照明光rが側方から照射された状態となるようにする(ST3の照明工程)(図6(b))。
図7(a)において、バンプ3Aaの表面に入射する照明光rは、球状のバンプ3Aaの中心点Oと当該照明光rの入射点Qを結ぶ仮想線Lに対する角度(入射角Θ1)と等しい角度(反射角Θ2)で反射する。制御装置28は吸着ノズル19を昇降(矢印a)させて、バンプ3Aaの表面で反射した照明光rが撮像面25Aのうちバンプ3Aaの下面中心部E1の垂直下方に位置する領域25Aaよりも、バンプ3Aaの下面外縁部E2の垂直下方に位置する領域25Abに多く入射するように未処理部品3Aの高さを調整する(ST4の部品高さ調整工程)。
つまり、バンプ3aにペーストPが付着していない状態の部品3(未処理部品3A)を光源26で照明した状態で、部品認識カメラ25により下方から当該部品3を撮像したときに、バンプ3aの下面中心部の輝度レベルがそのバンプ3aの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなるように部品3の高さを調整し、調整後の部品3の高さ(撮像面25Aに対する未処理部品3Aの下面3Abの高さ)を基準高さHとして取得する(ST5の基準高さ取得工程)。なお、取得した基準高さHは基準データとして記憶部33に記憶される。
図7(b)は、基準高さHに位置する未処理部品3Aを部品認識カメラ25により下方から撮像したときに得られる画像を示しており、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルは下面外縁部E2の輝度レベルよりも低く(つまり暗く)あらわされている。なお、一般にバンプは部品の下面に複数形成されるので、未処理部品3Aを撮像したときに全てのバンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルが下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるよう未処理部品3Aの高さを調整する。また、未処理部品3Aの高さの調整は、バンプ3Aaの下面3Abの画像を表示部37に表示させ、当該画像をオペレータが視認しながら吸着ノズル19を昇降させて行うようにしてもよい。
基準高さHとしては、バンプ3Aaの下面中心部E1に照明光rが入射しないことによってその下面中心部E1の輝度レベルが下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるような未処理部品3Aの高さを選定してもよい。また、バンプ3Aaの下面中心部E1に照明光rが入射しても、その反射光が下面中心部E1の垂直下方に位置する撮像面25Aの領域25Aaに入射しないことによって、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルが下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるような未処理部品3Aの高さを選定してもよい。要は、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルがその下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるような未処理部品3Aの高さを基準高さHとすればよい。また、部品3の本体サイズ、バンプサイズ、照明角度等に基づいて設計的(幾何学的)に基準高さHを取得してもよい。
基準高さHを取得したならば、次に、ペーストPの付着状態の検査を含む部品実装動作を行う。この部品実装動作について、図8〜図10を用いて説明する。まず、制御装置28は搬送コンベア6aによって基板2を実装作業位置に搬送して位置決めし(ST6の基板搬送工程)、位置決めした基板2の上方に実装ヘッド16を移動させ、基板認識カメラ17によって基板2を上方から撮像する(ST7の基板撮像工程)。
基板2を撮像したならば、制御装置28は前述の(ST1)と同様に、実装対象となる部品3を供給するテープフィーダ7の部品供給口7aの上方まで実装ヘッド16を移動させ、吸着ノズル19で部品3を吸着して取り出す(ST8の部品取り出し工程)。次いで、制御装置28は吸着ノズル19によってテープフィーダ7から取り出した部品3のバンプ3aにペーストPを付着させる動作を実行する(ST9のペースト付着工程)。
図9を用いて、ペースト転写部8におけるペーストPの成膜動作及び付着動作について説明する。図9(a)は、成膜動作の開始前に第1スキージ部材11A、第2スキージ部材11Bが転写テーブル10上の端部(この例では右側)に位置し、両スキージ部材間にペーストPが掻き集められた状態を示している。成膜動作の開始に際しては、制御装置28は第1スキージ部材11Aの下端部と転写テーブル10の上面との間の隙間gを、バンプ3aに適正量のペーストPを付着させるのに適正な膜厚tになるよう第1スキージ部材11Aを昇降(矢印c)させるとともに、膜形成時のペーストPの流動を妨げないよう、第2スキージ部材11Bを昇降させる(矢印d)。
次いで図9(b)に示すように、制御装置28は駆動機構を介して転写テーブル10を矢印e方向に移動させる。これにより、転写テーブル10上においてペーストPが第1スキージ部材11Aによって延展され、膜厚tのペースト塗膜Paが形成される。そして図9(c)に示すように、制御装置28は吸着ノズル19をペースト塗膜Pa上に移動させ、この位置で吸着ノズル19を下降(矢印a1)させることによってバンプ3aにペーストPを転写(付着)させる。ペースト転写後、制御装置28は吸着ノズル19を上昇(矢印a2)させることで(図9(d))、ペーストPの付着動作は完了する。なお、バンプ3Baに付着したペーストPの表面は凹凸状になっている(図10(a))。
ペーストPの付着動作を繰り返すにつれ、ペースト塗膜Paの表面は荒れた状態となる。かかる場合、図9(e)に示すように、制御装置28は第2スキージ部材11Bを下降(矢印d2)させてその下端部を転写テーブル10の上面に接地させ、その状態で転写テーブル10を矢印f方向に移動させることによって、ペーストPが一端に掻き集められた状態(図9(a))に戻る。その後、前述の動作を行うことで所望の膜厚のペースト塗膜Paが再度形成される。
前述したペーストPの付着動作においては、バンプ3aのサイズのばらつきやペースト塗膜Paの表面が荒れた状態で付着動作を行うこと等に起因して、バンプ3aに充分な量のペーストPが付着しない事態が起こり得る。そのため、本実施の形態ではペーストPの付着動作処理を終えた部品3(以下、「処理済部品3B」と称する)に対して、以下に説明するペーストPの付着状態の検査を行う。
まず、制御装置28は(ST9)のペースト付着工程を経た処理済部品3Bを保持した吸着ノズル19を部品認識カメラ25の上方に移動させた後、吸着ノズル19を下降させて処理済部品3Bを光源26で照明した状態で基準高さHに位置合わせする(ST10の基準高さ位置合わせ工程)。そして、基準高さHに位置合わせした処理済部品3Bを部品認識カメラ25により下方から撮像する(ST11の撮像工程)。
ここで、照明光rが入射する位置にペーストPが存在する場合、図10(a)に示すように、ペーストPの表面に入射した照明光rはその凹凸状の表面で乱反射する他、ペーストP内を通過してバンプ3Baに到達し、当該バンプ3Baの表面で反射してペーストPの表面から外界に出射する。このとき、ペーストP内への入射時及びペーストPからの出射時におけるペーストPの屈折率の影響を受け、ペーストPが付着していない場合とは異なる方向へ照明光rが反射して部品認識カメラ25の撮像面25Aに入射する。図中、破線であらわす照明光rは、バンプ3BaにペーストPが付着していないと仮定した場合の光路を示している。
このような状況下で基準高さHに位置する処理済部品3Bを下方から撮像すると、図10(b)に示すように、バンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルと下面外縁部F2の輝度レベルは、撮像面25Aに対して無作為に入射する照明光r(乱反射光)の影響を受けて略同一になる。なお、バンプ3aにペーストPが付着していない状態の部品3(未処理部品3A)を基準高さHに位置させた状態で下方から撮像したとき、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルはその下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くあらわされる(図7(b))。
すなわち、本実施の形態ではバンプ3aにペーストPが付着している場合とそうでない場合とで、基準高さHに位置する部品3のバンプ3aに向かう照明光rの反射方向(反射する角度)が異なることに起因して、部品3のバンプ3aの下面中心部の輝度レベルに差異が生じることを利用してペーストPの付着状態を判断するようにしている。つまり、下面中心部F1の輝度レベルが下面外縁部F2の輝度レベルと略同一である場合、判断部34はバンプ3BaにペーストPが付着していると判断する。その一方、下面中心部F1の輝度レベルが下面外縁部F2の輝度レベルよりも低い場合、判断部34はバンプ3BaにペーストPが付着していないと判断する。
このように、本実施の形態においては、部品認識カメラ25により撮像して得られるバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルに基づいてペーストPの付着状態の判断を行うようにしている(ST12の判断工程)。そして、判断部34における具体的な判断は、部品認識カメラ25により撮像して得られる画像中のバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルを、同じく部品認識カメラ25により撮像して得られる画像中のバンプ3Baの下面外縁部F2の輝度レベルと比較して行う。
また、バンプ3aの下面中心部の輝度レベルに基づいたペーストPの付着状態の判断として、次のような方法を用いることもできる。まず、(ST5)の基準高さ取得工程において基準高さHに位置する未処理部品3Aを部品認識カメラ25により下方から撮像し、図7(b)に示す未処理部品3Aの下面3Abの画像を取得する。そして、取得した画像を基にバンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベル(以下、「基準輝度レベル」と称する)を取得し、基準輝度レベルを基準データとして記憶部33に記憶する。
次に、部品実装動作として(ST6)〜(ST11)の動作を実行後、制御装置28は部品認識カメラ25により撮像して得られる画像中の処理済部品3Bのバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルを、記憶部33に記憶された基準輝度レベルと比較する。ここで、前述のとおりペーストPが付着した状態で撮像された基準高さHに位置する処理済部品3Bのバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルは、撮像面25Aに対して無作為に入射する照明光rの影響を受け、基準高さHに位置する未処理部品3Aを撮像して得られるバンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベル(基準輝度レベル)よりも高くなることから、バンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルが基準輝度レベルよりも高い場合、判断部34はバンプ3BaにペーストPが付着していると判断する一方、下面中心部F1の輝度レベルが基準輝度レベルと略同一である場合、バンプ3BaにペーストPが付着していないと判断する。
判断部34がバンプ3BaにペーストPが付着していると判断したならば、制御装置28は実装ヘッド16を基板2の上方に移動させ、吸着ノズル19を下降(矢印a1)させて実装作業位置に位置決めされた基板2の電極2a上に処理済部品3Bのバンプ3Baを、ペーストPを介して接触させる(ST13の部品装着工程)(図11(a))。
この部品装着の際には、(ST7)において基板認識カメラ17で撮像した基板2の画像を基に演算した実装作業位置における基板2の位置ずれ補正量と、(ST11)において部品認識カメラ25で撮像した処理済部品3Bの画像を基に演算した吸着ノズル19に対する処理済部品3Bの位置ずれ補正量とを加味したうえで処理済部品3Bの装着が行われる。そして、部品装着後の基板2は下流に設けられたリフロー装置(不図示)に搬入され、当該装置でバンプ3aを加熱・溶融させて基板2と部品3を半田接合させることにより(ST14の半田接合工程)、部品実装動作は完了する。
一方、(ST12)においてペーストPが付着していないと判断した場合、判断部34は報知部35に信号を送信し、報知部35はバンプ3BaにペーストPが付着していない旨を表示部37に表示するよう表示処理部36に信号を送信する。表示処理部36は報知部35からの信号を受けて表示部37にその旨の表示を行うための処理を実行し、表示部37を介してオペレータにその旨の報知を行う(ST15の報知工程)。
これとともに、制御装置28は実装ヘッド16を部品回収部27の上方まで移動させ、当該位置で吸着ノズル19による処理済部品3Bの吸着を解除して当該処理済部品3Bを部品回収部27に投入(矢印h)する(ST16の部品投入工程)(図11(b))。報知を受けたオペレータは部品実装装置1の稼動を一時停止させ、回収された処理済部品3Bのバンプ3Baや転写テーブル10上のペーストPの塗膜状態を確認する。そして、ペースト付着ミスの原因が分かった場合はその解消作業を行った後、(ST8)からの動作を実行させる。なお、処理済部品3Bを部品回収部27に投入せずに転写テーブル10の上方に移動させ、(ST9)のペースト付着工程を繰り返し行ってもよい。
上記構成において、制御装置28は、バンプ3aにペーストPが付着していない状態の部品3(未処理部品3A)を光源26(照明手段)で照明した状態で、部品認識カメラ25(撮像手段)により下方から当該部品3を撮像したときに、バンプ3a(3Aa)の下面中心部E1の輝度レベルがそのバンプ3aの下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなる部品3の高さを基準高さHとして取得する基準高さ取得手段となっているとともに、バンプ3aにペーストPを付着させるための処理を行った部品3(処理済部品3B)を光源26で照明した状態で基準高さHに位置合わせする基準高さ位置合わせ手段になっている。また、制御装置28(判断部34)は、基準高さHに位置合わせした部品3を部品認識カメラ25により下方から撮像して得られるバンプ3a(3Ba)の下面中心部F1の輝度レベルに基づいてペーストPの付着状態の判断を行う判断手段となっている。
以上のように、本発明は基準高さに位置する部品のバンプに入射する照明光がペーストの影響を受けて乱反射するか否かによって、撮像手段によって撮像して得られるペーストが付着している状態のバンプの下面の輝度レベルと、ペーストが付着していない状態のバンプの下面の輝度レベルに差異が生じることを利用してペーストの付着状態の判断を行うようにしている。これにより、透明なペーストを用いた場合であっても、バンプに対するペーストの付着状態を精度良く判断することができる。
本発明の部品実装方法及び部品実装方法によれば、部品のバンプにペーストを付着させて基板の電極に実装する部品実装分野において有用である。
1 部品実装装置
2 基板
3 部品
3a バンプ
7 テープフィーダ(部品供給部)
19 吸着ノズル(部品保持部材)
25 部品認識カメラ(撮像手段)
26 光源(照明手段)
28 制御装置(基準高さ取得手段、基準高さ位置合わせ手段)
34 判断部(判断手段)
E1,F1 バンプの下面中心部
E2,F2 バンプの下面外縁部
P ペースト

Claims (6)

  1. バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置を用いた部品実装方法であって、
    バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得工程と、
    前記部品保持部材によって前記部品供給部から取り出した部品のバンプにペーストを付着させるペースト付着工程と、
    前記ペースト付着工程を経た部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ工程と、
    前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像する撮像工程と、
    前記撮像工程により撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断工程とを含むことを特徴とする部品実装方法。
  2. 前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  3. 前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得工程において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  4. バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置であって、
    バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得手段と、
    バンプにペーストを付着させるための処理を行った部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ手段と、
    前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断手段とを備えたことを特徴とする部品実装装置。
  5. 前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項4に記載の部品実装装置。
  6. 前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得手段において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項4に記載の部品実装装置。
JP2012084557A 2012-04-03 2012-04-03 部品実装方法及び部品実装装置 Active JP5830650B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012084557A JP5830650B2 (ja) 2012-04-03 2012-04-03 部品実装方法及び部品実装装置
PCT/JP2013/001123 WO2013150709A1 (ja) 2012-04-03 2013-02-26 部品実装方法及び部品実装装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012084557A JP5830650B2 (ja) 2012-04-03 2012-04-03 部品実装方法及び部品実装装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013214636A true JP2013214636A (ja) 2013-10-17
JP5830650B2 JP5830650B2 (ja) 2015-12-09

Family

ID=49300218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012084557A Active JP5830650B2 (ja) 2012-04-03 2012-04-03 部品実装方法及び部品実装装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5830650B2 (ja)
WO (1) WO2013150709A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015133422A (ja) * 2014-01-14 2015-07-23 ヤマハ発動機株式会社 電子部品の実装装置
WO2018179315A1 (ja) * 2017-03-31 2018-10-04 株式会社Fuji 電子部品装着機及び装着方法
CN108633244A (zh) * 2017-03-23 2018-10-09 松下知识产权经营株式会社 构件准备方法以及构件准备装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002081924A (ja) * 2000-07-05 2002-03-22 Ckd Corp 三次元計測装置
JP4983267B2 (ja) * 2007-01-16 2012-07-25 パナソニック株式会社 電子部品実装方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015133422A (ja) * 2014-01-14 2015-07-23 ヤマハ発動機株式会社 電子部品の実装装置
CN108633244A (zh) * 2017-03-23 2018-10-09 松下知识产权经营株式会社 构件准备方法以及构件准备装置
CN108633244B (zh) * 2017-03-23 2020-07-28 松下知识产权经营株式会社 构件准备方法以及构件准备装置
WO2018179315A1 (ja) * 2017-03-31 2018-10-04 株式会社Fuji 電子部品装着機及び装着方法
CN110419269A (zh) * 2017-03-31 2019-11-05 株式会社富士 电子元件安装机及安装方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5830650B2 (ja) 2015-12-09
WO2013150709A1 (ja) 2013-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2016092651A1 (ja) 部品実装機
JP4768731B2 (ja) フリップチップ実装ずれ検査方法および実装装置
WO2013080408A1 (ja) 部品実装方法及び部品実装システム
JP2017220544A (ja) 部品実装機
JP2015095586A (ja) 基板検査方法
JP5830650B2 (ja) 部品実装方法及び部品実装装置
JP6785407B2 (ja) バンプ付電子部品搭載装置およびバンプ付電子部品搭載方法
JP2010212394A (ja) 部品実装基板の検査方法と装置及び部品実装装置
JP2017092342A (ja) 導電性ボールを搭載するシステム
JP6035517B2 (ja) 電子部品実装方法
JP6475165B2 (ja) 実装装置
JP6259987B2 (ja) 部品実装装置
WO2016143059A1 (ja) 実装装置、撮像処理方法及び撮像ユニット
JP5071218B2 (ja) ペースト転写装置及びペースト転写方法
JP6928786B2 (ja) 部品搭載装置および実装基板の製造方法
JP3397127B2 (ja) 電子部品の実装装置および実装方法
JP2019068099A (ja) 部品実装機
KR101788556B1 (ko) 칩 실장 장치
WO2024062635A1 (ja) 検査装置及び検査方法
JP7212467B2 (ja) 部品実装装置
JP2018107219A (ja) ボール搭載装置
JP5099098B2 (ja) 部品実装装置及び部品実装方法
JP2012182333A (ja) 撮像装置及び撮像方法
JP2007294776A (ja) フラックス転写装置
KR101541332B1 (ko) 지그 상에 인쇄회로기판을 장착하는 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140806

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20140912

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20141007

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150512

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150525

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5830650

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151