JP2013205397A - ハニカム構造体の検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導電性の材料からなり、流体の流路となる一方の端面から他方の端面まで延びる複数のセルを区画形成する隔壁と最外周に位置する外周壁とを有する筒状のハニカム構造体100に電流を流し、電流を流したハニカム構造体100を発熱させ、発熱させたハニカム構造体100の表面の温度分布を、温度計測手段90,91によって計測し、計測した温度分布から、ハニカム構造体100のクラックの有無を検査する。
【選択図】図1
Description
本発明のハニカム構造体の検査方法の一の実施形態は、図2及び図3に示すような、ハニカム構造体100を検査対象として行われる、ハニカム構造体の検査方法である。ハニカム構造体100は、流体の流路となる一方の端面11から他方の端面12まで延びる複数のセル2を区画形成する隔壁1と最外周に位置する外周壁3とを有する筒状のものである。本実施形態のハニカム構造体の検査方法における検査対象としては、このように構成されたハニカム構造体100のうち、導電性の材料からなるハニカム構造体100であることが必要である。即ち、本実施形態のハニカム構造体においては、図1に示すように、通電により、検査対象となるハニカム構造体100を自己発熱させ、その発熱状態を計測することによって、クラックの有無の検査を行う。ここで、図1は、本発明のハニカム構造体の検査方法の一の実施形態を模式的に示す説明図である。図2は、本発明のハニカム構造体の検査方法の一の実施形態の検査対象であるハニカム構造体の一例を模式的に示す斜視図である。図3は、図2に示すハニカム構造体の一方の端面を示す平面図である。導電性の材料からなるハニカム構造体のことを、以下、導電性ハニカム構造体ということがある。
図1に示すように、検査対象のハニカム構造体100を、受け台80に載置し、ハニカム構造体100の側面の少なくとも2箇所に電極端子82を配置した。電極端子82は、配線83,83によって電源81と電気的に接続されている。この状態で、ハニカム構造体の質量1g当りの印加電力を0.3W/gとし、印加時間を200秒として、ハニカム構造体100に直流電流を流した。以下、「ハニカム構造体の質量1g当りの印加電力(W/g)」を、単に「印加電力(W/g)」ということがある。
印加電力(W/g)、印加時間(秒)、画像処理の有無、及びクラックサイズを表1に示すように変更した以外は、実施例1と同様の方法によって、ハニカム構造体のクラックの検査を行った。検査結果を表1に示す。なお、実施例2〜5の検査においては、実施例1に行われた発熱パターンデータの微分処理を行わず、計測された温度分布を熱画像の発熱パターンデータに変換し、そのままの熱画像を熱画像表示装置に表示した。実施例2〜5においては、画像処理の有無の項目について「無し」と示す。また、クラックサイズが「大」のクラックが形成されたハニカム構造体を検査対象として検査を行った実施例2及び5においては、クラックサイズの項目について「大」と示す。
検査対象のハニカム構造体を電気炉に投入し、300℃で30分加熱した。その後、加熱されたハニカム構造体を、実施例1と同様の温度計測手段によって、温度分布を測定し、測定したハニカム構造体の温度分布を、実施例1と同様の方法で、熱画像表示装置に送り、画像表示した。画像表示された熱画像を目視により確認し、ハニカム構造体にクラックが発生しているか否かの検知を行った。比較例1及び2における、加熱方法、画像処理の有無、及びクラックサイズを表1に示す。比較例1及び2の「加熱方法」の欄については、「電気炉」と示す。
実施例1〜5の検査方法によれば、検査対象のハニカム構造体に、大きなクラックが発生している場合でも、小さなクラックが発生している場合でも、良好な検査を行うことができた。また、電気炉を用いたハニカム構造体を加熱した比較例1及び2では、小さなクラックの検出が不可能であった。即ち、電気炉を用いたハニカム構造体を加熱した検査方法においては、比較例1のように、大きなクラックについては検知可能であるが、比較例2のように、小さなクラックについては検知することができなかった。また、比較例1及び2においては、ハニカム構造体の加熱時間に30分を要し、1つのハニカム構造体の検査を行うのに非常に時間が掛かるものであった。
Claims (12)
- 導電性の材料からなり、流体の流路となる一方の端面から他方の端面まで延びる複数のセルを区画形成する隔壁と最外周に位置する外周壁とを有する筒状のハニカム構造体に電流を流し、前記電流を流した前記ハニカム構造体を発熱させ、発熱させた前記ハニカム構造体の表面の温度分布を、温度計測手段によって計測し、計測した前記温度分布から、前記ハニカム構造体のクラックの有無を検査するハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体に前記電流を流す際の、前記ハニカム構造体の質量1g当りの印加電力が、0.3〜23.3W/gである請求項1に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体に前記電流を流す際の、印加時間が1〜300秒である請求項1又は2に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 発熱させた前記ハニカム構造体の表面の前記温度分布として、前記ハニカム構造体の端面及び側面の前記温度分布を計測する請求項1〜3のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記温度計測手段が、前記ハニカム構造体から放射される赤外線を検出するものである請求項1〜4のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体を発熱させる際の印加電力を一定に維持する請求項1〜5のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体が、前記隔壁及び前記外周壁を有する筒状のハニカム構造部と、前記ハニカム構造部の側面に配設された一対の電極部とを備えたものであり、
前記一対の電極部のそれぞれが、前記ハニカム構造部の前記セルの延びる方向に延びる帯状に形成されている請求項1〜6のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。 - 前記ハニカム構造体の前記セルの延びる方向に直交する断面において、前記一対の電極部における一方の電極部が、前記一対の電極部における他方の電極部に対して、前記ハニカム構造部の中心を挟んで反対側に配設されている請求項7に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記セルの延びる方向における前記ハニカム構造部の一方の端部から、前記セルの延びる方向において前記ハニカム構造部の前記一方の端部側を向いている前記電極部の端部までの距離が、前記セルの延びる方向における前記ハニカム構造部の長さの0〜10%である請求項7又は8に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体の前記セルの延びる方向に直交する断面において、それぞれの前記電極部の中心角の0.5倍が、15〜65°である請求項7〜9のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体の前記セルの延びる方向に直交する断面において、それぞれの前記電極部の厚さが、0.01〜5mmである請求項7〜10のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。
- 前記ハニカム構造体の前記隔壁に触媒が担持されている請求項1〜11のいずれか一項に記載のハニカム構造体の検査方法。
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