JP2013205278A - 測位用マーカおよび撮像装置の位置・姿勢推定システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の測位用マーカは、複数のエレメントがデブルーイン系列を成すように直列に配置されて成る。デブルーイン系列は、コードの一部を観察すれば、コード中の位置が一意に特定される。つまり、複数のエレメントがデブルーイン系列を成す測位用マーカの一部が画像中に撮影されていれば、当該マーカの一部のコード中の位置が特定でき、これを基に画像座標系と撮像装置座標系の位置合わせを行って撮像装置の位置・姿勢を推定することができる。図1(a)に示した例では、32のエレメントが一列に配置されて成り、これらのエレメントの配列は、黒を0、白を1とすると、記号数q=2で次数n=5のデブルーイン系列(25=32)である。
【選択図】図1
Description
図1(a)〜(e)は、本発明に係る測位用マーカのパターンを例示した図である。図1(a)に示したものは、32のエレメントが一列に配置されて成り(32ビット)、各エレメントは同一サイズの同一形状(矩形)とされ、黒若しくは白の何れかの色彩を有している。これらのエレメントの配列は、黒を0、白を1とすると、記号数q=2の有限集合X=10010000011011111010011100010101のコード列を形成しており、当該コード列は次数n=5のデブルーイン系列(25=32)である。ここで、長さn、記号数qのデブルーイン系列は、長さqnの数列であり、長さnの部分数列を観測すれば、数列中の位置が一意に特定可能である。
本発明では、上述のデブルーイン系列パターンを用いたマーカを用いて画像座標系と撮像装置座標系の位置合わせを行い、この測位用マーカが配置された実環境が映し出された画像から撮像装置の位置・姿勢を推定する。
カメラの位置・姿勢を推定するためには、画像座標系と撮像装置座標系の位置合わせを行うための、回転行列と並進ベクトルを計算する必要がある。本発明に係る測位用マーカの最も特徴的な点は、エレメントの配列によりデブルーイン系列が構成されているため、マーカの一部を撮影するだけで、並進ベクトルのX軸を決めることができることにある。上述したように、デブルーイン系列を利用したマーカにはX軸やZ軸を認識し易くするための種々の態様があり得るが、以下では白黒のパターンを用いた場合について説明する。
上記の処理で得られた線分から、距離Dh以内にあるピクセル(近傍ピクセル)の集合(Φ={(u,v)|dp2(u,v,u1,v1,u2,v2)<Dh}を抽出する。
マーカ平面上にあり且つ端点を結ぶ単位ベクトルαを求める。端点に対応した座標を(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)とする。この直線ベクトルαは次式で計算できる。このベクトルαはマーカのX軸を表す。
上記演算により得られた単位法線ベクトルφと単位直線ベクトルαに直交した単位ベクトルβ=φ×αを求める。
上述した線分(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)のそれぞれにつき、コードのZ軸方向の長さ(図4で示したWs、Wl)を見分けることで回転の向きを検出する。この検出は、上述の単位直線ベクトルαに沿った周辺ピクセルを再度サンプリングし直すことで行われる。
直線検出で検出された端点は必ずしもコードの頂点とは一致しない。そのずれの量を位相θ(mm)と呼ぶこととし、この位相θを検出する必要がある。
上述の位相の検出と同様に、3本の直線を用いて再サンプリングを行う。但し、符号の検出では、輝度値に対して再サンプリングを行う。
上記回転行列の計算および符号検出の結果に基づき、並進ベクトル(T)を計算する。並進ベクトルTはT=(x1,y1,z1)+(rWc+θ)・αで与えられる。
RGBカメラを用いる場合には、深度の情報(画像中の各ピクセルについての被写体とカメラとの距離の情報)を得ることができないため、画像からは測位用マーカに垂直なベクトル(法線ベクトル)を決定することができない。このため、実環境をRGBカメラで撮影する場合には、画像処理において抽出される直線部分(線分)およびその交点の情報がなるべく多く取れるような、図1(c)に示したようなパターンを用いる。
図17(a)に例示した画像に映し出された測位用マーカから、上述した直線(コード列方向の直線:縦線)の検出に加え、横線の検出も行い、縦線と横線の交点を求める(図17(b))。そして、直線上に乗っている交点の数が2個以上である直線をX軸方向の直線とし、それ以外の直線をZ軸方向の直線とする。以降の処理は、これらの直線と交点の集合毎に個別に実行する。
オリジナルのパターン列と比較してホモグラフィ行列を計算することで、回転行列が推定できる。この計算はARの一般的手法であり、公知の方法で実行可能である。
マーカの最下段は白黒のビット列が並んでおり、これによりビットの幅を認識する。そして、このビット幅を用いて等間隔のビットを認識する。さらに、オリジナルの符号と比較することで、位置を計算する。
上記符号の検出で得られた位置を使って、並進ベクトルTを計算する。
20 湾曲しない材質の板等
Claims (9)
- 形状およびサイズが同一の複数のエレメントが直列に配置されて成るマーカであって、
前記複数のエレメントは、色相、彩度、若しくは明度によりq種に分類され、
該複数のエレメントは、前記qを記号数とし、nを次数としたときに、長さqnのデブルーイン系列を成す、ことを特徴とする測位用マーカ。
ここで、q及びnは何れも2以上の自然数である。 - 前記エレメントの形状は正方形若しくは長方形である、請求項1に記載の測位用マーカ。
- 前記デブルーイン系列と並列に、該デブルーイン系列と同一長さのマーカが配置されている、請求項1又は2に記載の測位用マーカ。
- 前記デブルーイン系列と同一長さのマーカは、複数のエレメントが第2のデブルーイン系列を成すように配置されたマーカである、請求項3に記載の測位用マーカ。
- 測位用マーカが配置された実環境を撮影する撮像装置と、該撮像装置により撮影された画像の処理を行う演算装置とを備え、
前記測位用マーカは、形状およびサイズが同一の複数のエレメントが直列に配置されて成るマーカであって、前記複数のエレメントは、色相、彩度、若しくは明度によりq種に分類され、該複数のエレメントは、前記qを記号数とし、nを次数としたときに、長さqnのデブルーイン系列を成し、
前記演算装置は、前記撮像装置により撮影された画像からエッジを抽出したエッジ抽出画像を生成し、該エッジ抽出画像から直線部分を検出し、さらに、前記検出された直線部分毎に回転行列の計算および符号の検出を行って計算された並進ベクトルを用いて画像座標系と撮像装置座標系の位置合わせを行う、
ことを特徴とする、撮像装置の位置・姿勢推定システム。
ここで、上記q及びnは何れも2以上の自然数である。 - 前記エレメントの形状は正方形若しくは長方形である、請求項5に記載の撮像装置の位置・姿勢推定システム。
- 前記デブルーイン系列と並列に、該デブルーイン系列と同一長さのマーカが配置されている、請求項5又は6に記載の撮像装置の位置・姿勢推定システム。
- 前記デブルーイン系列と同一長さのマーカは、複数のエレメントが第2のデブルーイン系列を成すように配置されたマーカである、請求項7に記載の撮像装置の位置・姿勢推定システム。
- 前記撮像装置はRGB−Dカメラであり、
前記測位用マーカは前記複数のエレメントをX軸方向に帯状に配列したものであり、
前記演算装置は、前記複数のエレメントの配列方向の直線検出に基づいて、X軸方向の直線部分を検出し、該直線部分毎に前記回転行列の計算及び符号の検出を行う、
請求項5乃至8の何れか1項に記載の撮像装置の位置・姿勢推定システム。
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