JP2013174565A - 携帯型マイクロ波測定装置 - Google Patents

携帯型マイクロ波測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2013174565A
JP2013174565A JP2012040523A JP2012040523A JP2013174565A JP 2013174565 A JP2013174565 A JP 2013174565A JP 2012040523 A JP2012040523 A JP 2012040523A JP 2012040523 A JP2012040523 A JP 2012040523A JP 2013174565 A JP2013174565 A JP 2013174565A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radio wave
wave lens
case
light emitting
optical axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012040523A
Other languages
English (en)
Inventor
Masamune Takeda
政宗 武田
Takashi Arakawa
孝 荒川
Junichi Takahashi
順一 高橋
Daisuke Tochika
大輔 遠松
Yoshiyuki Okamoto
佳之 岡本
Haruyuki Hirai
晴之 平井
Hirotaka Niikura
広高 新倉
Atsushi Nakada
淳 中田
Hiroyasu Sato
弘康 佐藤
Kunio Sawaya
邦男 澤谷
Koji Mizuno
皓司 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tohoku University NUC
Maspro Denkoh Corp
Chuo Electronics Co Ltd
Original Assignee
Tohoku University NUC
Maspro Denkoh Corp
Chuo Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku University NUC, Maspro Denkoh Corp, Chuo Electronics Co Ltd filed Critical Tohoku University NUC
Priority to JP2012040523A priority Critical patent/JP2013174565A/ja
Publication of JP2013174565A publication Critical patent/JP2013174565A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を受信し、その受信レベルを測定することで、測定対象に隠された物品を検出する装置において、レベル測定した熱雑音が測定対象のどの位置から放射されたのかを使用者が容易に特定できるようにする。
【解決手段】携帯型マイクロ波測定装置は、筒状のケース10内に、ミリ波を受信するミリ波センサ12と、測定対象から放射されたミリ波帯の熱雑音をミリ波センサ12に導くミリ波レンズ14を設け、ミリ波センサ12の後方に配置された制御回路にて、ミリ波センサ12で受信されたミリ波(熱雑音)の信号レベルを測定することで、測定対象に隠された物品を検出する。ケース10の開口部で、ミリ波レンズ14の光軸を挟んで対向する位置には、光線を出射するポインタ31、32が設けられる。このポインタ31,32は、光線の交点Xにて熱雑音の測定点Sを通知するよう、光線の出射方向が設定される。
【選択図】図2

Description

本発明は、測定対象から放射されるマイクロ波帯の熱雑音を受信し、その受信レベルを測定する携帯型マイクロ波測定装置に関する。
従来、人体などの測定対象から放射されるマイクロ波帯(0.3GHz〜3THz)の熱雑音(好ましくは、ミリ波帯(30GHz〜0.3THz)の熱雑音)を、複数の受信素子を直線状に配置してなる撮像素子(所謂ラインセンサ)にて受信することにより、測定対象を撮像し、その撮像画像から、測定対象に隠された物品(武器や密輸品等)を検知することが提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。
また、この種の撮像装置においては、装置全体を使用者が手に持ち、測定対象に対しラインセンサを一方向に移動(走査)させることで、測定対象を撮像することも提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2007−502415号公報 特開2008−241352号公報
ところで、測定対象に隠された物品を検知するには、必ずしも、上述したラインセンサや受信素子を2次元配置した2次元センサを利用する必要はなく、例えば、マイクロ波帯の熱雑音を受信する受信素子をケース内に収納し、使用者が、その受信素子への熱雑音の入射方向を手動で変化させるようにしてもよい。
つまり、このようにすれば、受信素子からの受信信号の信号レベルが物品の有無によって変化するため、受信素子からの受信信号の信号レベルを測定することによって、測定対象に隠された物品の有無を判定できる。
また、このようにすれば、小型で高価なマイクロ波受信用の受信素子を数多く利用する必要がないので、物品検出用の測定装置を低コストで実現できる。
しかし、この場合、測定対象全体の画像を撮像することはできないことから、撮像画像から物品の位置を特定することができない。
従って、受信素子により受信された熱雑音のレベル変化から測定対象に隠された物品の位置を特定するには、使用者が、受信素子により受信された熱雑音が測定対象のどの位置から放射されたのかを正確に把握する必要がある。
本発明は、こうした問題に鑑みなされたものであり、測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を受信し、その受信レベルを測定することで、測定対象に隠された物品を検出する携帯型マイクロ波測定装置において、レベル測定した熱雑音が測定対象のどの位置から放射されたのかを使用者が容易に特定できるようにする。
かかる目的を達成するためになされた請求項1に記載の発明は、
マイクロ波を受信する受信素子と、
測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を前記受信素子に導く電波レンズと、
前記受信素子からの受信信号の信号レベルを測定する測定手段と、
使用者が把持可能な形状で、前記熱雑音を取り込むための開口部を有するケースと、
を備え、前記電波レンズが前記開口部側となるよう、前記ケース内に前記電波レンズ、前記受信素子、及び測定手段を収納してなる携帯型マイクロ波測定装置であって、
前記ケースの開口部周囲に、
前記測定対象に向けて光を照射することで、前記電波レンズを介して前記受信素子に入射する熱雑音の、前記測定対象からの放射位置を案内する発光手段、
を設けたことを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、前記発光手段は、ビーム状の光線を発する複数の発光素子からなることを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、
前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、前記電波レンズの光軸に平行な光線を発するように、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、
前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記ケースの開口部から前記測定対象までの距離が前記測定手段にて信号レベルを測定し得る測定限界距離となる測定限界点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、
前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が、前記電波レンズの焦点位置よりも前記電波レンズから離れた位置となるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記電波レンズを介して前記受信素子の受信点に収束されるマイクロ波の発生点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、
前記電波レンズは、前記ケース内にて当該電波レンズの光軸方向に移動可能に設けられ、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸と交差し、しかも、前記光線と前記光軸との交点を移動できるよう、前記光線の出射方向を調整可能に、前記ケースの開口部周囲に設けられており、
前記ケース内には、更に、
前記ケース内での前記電波レンズの位置を検出する位置センサと、
前記複数の発光素子にそれぞれ設けられ、各発光素子からの光線の出射方向を調整するための複数のアクチュエータと、
前記各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の前記光軸上での交点が前記電波レンズの位置に対応した設定位置となるよう、前記位置センサにて検出された前記電波レンズの位置に応じて、前記各アクチュエータをそれぞれ駆動する制御手段と、
が設けられていることを特徴とする。
また、請求項7に記載の発明は、請求項6に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、
前記電波レンズは、前記開口部から前記受信素子に至るマイクロ波の透過経路上に、光軸を一致させて複数配置されており、
該複数の電波レンズの内、前記開口部に最も近い電波レンズが、前記ケース内にて光軸方向に移動可能に設けられていることを特徴とする。
請求項1に記載の携帯型マイクロ波測定装置によれば、使用者が把持可能な形状に形成されたケース内に、電波レンズ、受信素子及び測定手段が収納され、しかも、電波レンズは、ケースの開口部から取り込まれたマイクロ波帯の熱雑音を受信素子に導くように、ケースの開口部側に配置されている。
このため、使用者は、ケースを手に持ち、ケースの開口部を測定対象に向けることで、測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を受信素子に入射させ、その信号レベルを測定手段に測定させることができる。
また、ケースの開口部周囲には、発光手段が設けられているため、使用者がケースの開口部を測定対象に向けた際には、受信素子に入射される熱雑音の、測定対象からの放射位置が、発光手段からの照射光によって照らされる。
よって、本発明の携帯型マイクロ波測定装置によれば、使用者は、ケースの開口部を測定対象に向けた状態でケースを所望方向に移動させつつ、測定手段により測定された信号レベルの変化を監視することで、測定対象に物品が隠されていることを容易に検知でき、しかも、発光手段からの照射光によりその物品の位置を容易に特定することができる。
また、使用者は、発光手段からの照射光により、測定対象での熱雑音の測定位置を把握できることから、熱雑音を利用した物品の検査を効率よく行うことができ、その検査時間を短縮することが可能となる。
ここで、発光手段は、請求項2に記載のように、ビーム状の光線を発する複数の発光素子にて構成するとよい。つまり、このようにすれば、測定対象の表面に、複数の発光素子から出射された複数の光線がそれぞれ点状に当たるので、使用者は、受信素子に入射する熱雑音の測定対象からの放射位置を、より正確に把握することができる。
ところで、マイクロ波の受信点が電波レンズの焦点位置になるよう、受信素子がケース内に配置されている場合、受信素子には、測定対象において、電波レンズのレンズ面に対向する領域から放射された熱雑音が入射される。
このため、受信素子がこのように配置されている場合には、複数の発光素子は、請求項3若しくは請求項4に記載のように、ケースの開口部周囲に設けるとよい。
つまり、請求項3に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、複数の発光素子は、それぞれ、電波レンズの光軸に平行な光線を発するように、ケースの開口部周囲に設けられる。
このため、測定対象において、複数の発光素子からの光線が当たる位置は、電波レンズを介して受信素子に入射する熱雑音の発生領域を囲むことになり、使用者は、各光線が当たった位置から、熱雑音の測定領域を正確に把握することができる。
また、請求項4に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が電波レンズの光軸上で交わり、しかも、その光線の交点が、ケースの開口部から測定対象までの距離が測定手段にて信号レベルを測定し得る測定限界距離となる測定限界点となるよう、ケースの開口部周囲に設けられる。
これは、ケースの開口部から測定対象までの距離が長くなるほど、受信素子への熱雑音の入力レベルが低下し、最終的には、測定対象から放射された熱雑音を受信素子にて受信できなくなることから、受信素子にて熱雑音を正常に受信し得る測定限界距離を予め定め、電波レンズの光軸上で測定限界距離となる点(測定限界点)で、各発光素子から出射された光線が交わるようにしているのである。
この結果、使用者は、各発光素子から出射された光線が測定対象で一点に集まる場所を、測定限界点として把握し、その測定限界点よりも測定対象に接近した位置(つまり、測定限界距離内)で、熱雑音の測定(延いては物品の検査)を行うことができる。
一方、マイクロ波の受信点が、電波レンズの光軸上で電波レンズの焦点位置よりも電波レンズから離れた位置となるよう、受信素子がケース内に配置されている場合には、測定対象の一点から放射された熱雑音を、受信素子の受信点に収束させることができる。
従って、この場合には、請求項5に記載のように、複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が電波レンズの光軸上で交わり、しかも、その光線の交点が、電波レンズを介して受信素子の受信点に収束されるマイクロ波の発生点となるよう、ケースの開口部周囲に設けるとよい。
そして、このようにすれば、使用者は、各発光素子から出射された光線が測定対象で一点に集まるように、測定対象に対しケースを配置することで、測定手段に対し、測定対象の一点(換言すれば極めて狭い領域)から放射された熱雑音の信号レベルを測定させることができ、延いては、測定対象に隠された物品の位置をより正確に特定することができるようになる。
次に、電波レンズは、必ずしもケース内に固定する必要はなく、電波レンズの光軸方向に移動可能に設けてもよい。
そして、この場合、電波レンズの移動に伴い、測定対象に対する当該携帯型マイクロ波測定装置の最適位置が変化するので、請求項6に記載のように、発光手段を構成する複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が電波レンズの光軸と交差し、しかも、光線と光軸との交点を移動できるよう、光線の出射方向を調整可能にケースの開口部周囲に設けるとよい。
また、この場合、ケース内には、電波レンズの位置を検出する位置センサと、各発光素子からの光線の出射方向を調整するための複数のアクチュエータと、制御手段とを設け、制御手段が、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、その光線の光軸上での交点が、電波レンズの位置に対応した設定位置となるよう、位置センサにて検出された電波レンズの位置に応じて、各アクチュエータをそれぞれ駆動するようにすればよい。
つまり、このようにすれば、電波レンズの移動に伴い、受信素子の受信点に収束される熱雑音の発生点までの距離が変化しても、その距離に応じて、各発光素子からの光線が電波レンズの光軸上で交わる位置を変化させることができる。
よって、請求項6に記載の携帯型マイクロ波測定装置によれば、使用者は、ケース内で電波レンズを移動させることにより、熱雑音の測定可能距離を変化させても、各発光素子から出射された光線が測定対象で一点に集まるように、測定対象に対しケースを配置することで、測定手段に対し、測定対象の一点(換言すれば極めて狭い領域)から放射された熱雑音の信号レベルを測定させることができ、延いては、測定対象に隠された物品の位置をより正確に特定することができるようになる。
なお、本発明(請求項1〜6)の携帯型マイクロ波測定装置において、電波レンズは、ケースの開口部から受信素子に至るマイクロ波の透過経路上に、光軸を一致させて複数配置してもよい。
また、この場合、請求項6に記載の装置のように、熱雑音の測定可能距離を変化させる際には、請求項7に記載のように、複数の電波レンズの内、開口部に最も近い電波レンズを、ケース内にて光軸方向に移動可能に設けるとよい。
第1実施形態のハンディスキャナの構成を表し、(a)はその側面図、(b)は(a)と同方向からみた断面図である。 第1実施形態のポインタからのレーザ光の出射方向を説明する説明図である。 第1実施形態のハンディスキャナの回路構成を表すブロック図である。 図3の制御回路にて実行される物品検出処理を表すフローチャートである。 第2実施形態のミリ波レンズとミリ波センサとの配置、及び、ポインタからのレーザ光の出射方向を説明する説明図である。 第2実施形態のポインタからのレーザ光の出射方向の変形例を表す説明図である。 第3実施形態のハンディスキャナの開口部付近の構成を表し、(a)はその断面図、(b)は(a)と同方向からみた側面図、(c)はポインタの角度調整機構を表す説明図である。 第3実施形態のハンディスキャナの回路構成を表すブロック図である。 図8の制御回路にて実行されるポインタ調整処理を表すフローチャートである。
以下に本発明の実施形態を図面と共に説明する。
[第1実施形態]
図1(a)に示すように、本実施形態の携帯型マイクロ波測定装置(以下、ハンディスキャナという)2は、測定対象から放射されたミリ波帯の熱雑音を取り込み受信するための本体部4と、使用者が把持するための把持部6とからなる。
把持部6には、使用者が外部操作によって測定指令を入力するための指令スイッチ(以下、スイッチをSWと記載する)20が設けられ、本体部4の把持部6近傍には熱雑音の受信レベルの変化から測定対象に隠された物品を検出した際、その旨を報知するための発光ダイオード(LED)22が設けられている。
ここで、本体部4及び把持部6は、図1(b)に示すように、径の異なる筒状体を連結した段差形状を有する筒状のケース10にて、一体形成されている。そして、把持部6は、本体部4よりも径が小さく、ケース10において、把持部6側の開口端は、閉塞され、本体部4側の開口端は、開放されている。
なお、本体部4側の開口端には、ケース10の内部を隠すために、電波を透過可能な合成樹脂製のカバー8が取り付けられている。また、ケース10は、金属若しくは硬質の合成樹脂にて形成されている。
次に、本体部4内には、カバー8が設けられた開口部11側にミリ波レンズ14が設けられ、把持部6側には、ミリ波センサ12が配置されている。
ミリ波レンズ14は、開口部から入射したミリ波帯の熱雑音をミリ波センサ12に導き、収束させるためのものであり、両面が凸レンズとなるよう、ポリエチレン、アルミナ、テフロン(登録商標)等からなるレンズ材料によって所定のレンズ形状となるよう形成されている。
また、ミリ波センサ12は、ミリ波を受信可能な受信アンテナにて構成されており、後述の制御回路が実装された制御回路基板18に組み付けられている。
そして、制御回路基板18は、ミリ波レンズ14を介して開口部11から入射したミリ波帯の熱雑音が、直接、制御回路基板18上の電子部品に入射することのないよう、電波を遮蔽する遮蔽板16の裏面に固定されており、ミリ波センサ12は、ミリ波レンズ14を介して開口部11から入射したミリ波帯の熱雑音を受信できるように、この遮蔽板16を貫通するように配置されている。
また、把持部6には、制御回路基板18に電源供給を行うための電池24が収納されている。また、上述したLED22及び指令SW20は、後述する電源SW26やブザー28、或いは、2つのポインタ31、32と共に、それぞれ、信号線を介して制御回路基板18に接続されている。
次に、本実施形態では、図2に示すように、ミリ波センサ12の受信点(図2示す収束点P)が、ミリ波レンズ14の光軸上で、ミリ波センサの焦点Fよりも後方(換言すればミリ波レンズ14から離れた位置)に位置するように配置されている。
このため、ハンディスキャナ2と測定対象との距離が、ミリ波レンズ14の特性で決まる一定距離であるとき、測定対象の一点(測定点S)から放射された熱雑音が、ミリ波センサ12の受信点(収束点P)に収束することになる。
例えば、ミリ波レンズ14の直径が30mm、焦点距離が28.24mmである場合、一方のレンズ表面より53mmの位置の測定点Sから放射された熱雑音は、他方のレンズ表面より53mmの位置の収束点Pに収束して結像する。
よって、本実施形態のハンディスキャナ2によれば、ミリ波センサ12を用いて、測定対象の一点(測定点S)から放射された熱雑音の信号レベルを測定することができる。
ところで、このように、ミリ波センサ12を用いて、測定対象の一点(測定点S)から放射された熱雑音の信号レベルを測定するには、測定対象とハンディスキャナ2との距離を一定距離(上記例の場合、53mm)にする必要があるが、使用者がハンディスキャナ2をそのように配置するのは極めて難しい。
そこで、本実施形態では、測定対象とハンディスキャナ2との距離が一定距離になったか否かを確認できるように、ハンディスキャナ2の開口端から2本の光線を出射するようにされている。
つまり、ハンディスキャナ2のケース10の開口部11には、ケース10(詳しくは本体部4)の中心軸を挟んで点対称となるよう、一対のポインタ31,32が設けられている。
このポインタ31,32は、ビーム状の光線を発生する発光ダイオード(例えば、レーザダイオード:LD)にて構成されている。
そして、各ポインタ31,32は、各ポインタ31,32から出射される光線が、ミリ波レンズ14の光軸と交わり、且つ、その交点Xとハンディスキャナ2(換言すれば開口部11の開口端)との間の距離が、上述した測定点Sまでの一定距離となるように、ケース10の開口部11に固定されている。
このため、使用者は、把持部6を把持して開口部11を測定対象に向けた際、ポインタ31,32から出射された光線が、測定対象側で一点に集まるように、ハンディスキャナ2の位置を調整することで、その光線の交点Xである測定点Sから放射されたミリ波(熱雑音)を、ミリ波レンズ14を介してミリ波センサ12に入射させることができる。
次に、図3に示すように、制御回路基板18には、ミリ波センサ12からの受信信号を増幅し振幅検波することにより、ミリ波センサ12で受信されたミリ波帯の熱雑音の信号レベルを表す電圧信号を生成する処理回路38と、この処理回路38から入力される電圧信号(つまり熱雑音の信号レベル)に基づき、測定対象に物品が隠されているか否か(例えば、測定対象となる人間が衣服の中に危険物を隠し持っているか否か)を判定する制御回路40とが設けられている。
また、制御回路基板18には、上述したポインタ31,32や、物品の検出結果を報知するためのLED22及びブザー28を、それぞれ駆動するための駆動回路33,34,35,36も設けられている。なお、ブザー28は、LED22と共に、ケース10内に収納されている。
また、制御回路40は、CPU42、ROM44、RAM46を中心とするマイクロコンピュータにて構成されている。そして、制御回路40は、電源SW26がオン状態であるとき、電池24から電源供給を受けて動作し、図4に示す物品検出処理を実行する。
なお、電源SW26は、指令SW20と共に、把持部6で、使用者が操作し易い位置に設けられている。
図4に示すように、物品検出処理は、電源SW26がオン状態に切り換えられてから、制御回路40(詳しくはCPU42)において繰り返し実行される処理である。
この物品検出処理では、まずS110(Sはステップを表す)にて、処理回路38からA/D変換器(図示せず)を介して入力される受信データ(換言すれば検波電圧)の初期設定等、各種パラメータを初期設定する初期化処理を実行する。
次に、S120では、駆動回路33,34を介してポインタ31,32を点灯する。このため、S120の処理実行後、使用者は、測定対象の表面で各ポインタ31,32からの光線が交わるように、ハンディスキャナ2を位置調整することで、ハンディスキャナ2と測定対象との距離を適正距離に設定することができる。
また次に、S130では、指令SW20がオン状態であるか否かを判断することで、使用者が測定指令を入力しているか否かを判断し、指令SW20がオン状態でなければ、S190に移行し、指令SWがオン状態であれば、S140に移行する。
S140では、処理回路38から受信データ(検波電圧)を読み込む。そして、続くS150では、指令SW20がオン状態に切り換えられてからS140で読み込んだ受信データ(検波電圧)の履歴と、S140で今回読み込んだ最新の受信データ(検波電圧)とに基づき、ミリ波センサ12にて受信された熱雑音の受信レベルは急変したか否かを判断する。
そして、S150にて、ミリ波センサ12にて受信された熱雑音の受信レベルが急変したと判断されなければ、受信レベルは正常範囲内にあるものとして、再度S130に移行する。
一方、S150にて、ミリ波センサ12にて受信された熱雑音の受信レベルが急変したと判断されると、測定対象には物品が隠されているものとして、S160に移行する。
そして、S160では、駆動回路33〜37を介して、一定時間、LED22及びポインタ31,32を点滅させると共に、ブザー28を鳴動させることにより、使用者に対し物品の存在を報知する。
そして、S160にて、物品の存在を報知すると、S170に移行し、指令SW20がオフ状態であるか否かを判断することで、使用者からの測定指令の入力が停止されたか否かを判断する。
S170にて、指令SW20はオフ状態ではないと判断されると、再度S140に移行し、逆に、指令SW20はオフ状態であると判断されると、S180に移行する。
そして、S180では、ポインタ31,32を消灯させ、ブザー28を鳴動させることにより、当該物品検出処理による検査を終了する旨を報知し、当該物品検出処理を終了する。
なお、S180の処理実行後、当該物品検出処理を終了すると、制御回路40は、所謂スリープ状態に入り、その後、電源SW26が一旦オフされ、その後、再度オン状態に切り換えられると、制御回路40は、スリープ状態から復帰し、物品検出処理を開始する。
次に、S190では、当該物品検出処理が起動してから、指令SW20がオン状態に切り換えられるまでの待機時間が、予め設定されたスリープ移行時間に達したか否かを判断し、待機時間がスリープ移行時間に達していなければ、再度S130に移行し、待機時間がスリープ移行時間に達していれば、S180を実行した後、当該物品検出処理を終了する。
なお、S190の処理は、電源SW26がオフ状態からオン状態に切り換えられてから、指令SW20が長時間オン状態に操作されないときには、制御回路40を強制的にスリープ状態にして、電池24の消耗を抑えるための処理である。
以上、説明したように、本実施形態のハンディスキャナ2によれば、電源SW26をオン状態にした状態で、使用者が把持部6を把持して、カバー8が設けられた開口部11を測定対象に向け、指令SW20をオン状態に操作すれば、測定対象から放射されるミリ波帯の熱雑音の信号レベルが測定される。
また、その状態で、ハンディスキャナ2を測定対象に沿って移動させれば、測定された信号レベルの変化から、測定対象に隠された物品の存在が検知されて、その旨が報知される。従って、使用者は、ハンディスキャナ2を使って、測定対象となる人が隠し持っている物品(危険物等)を検知することができるようになる。
また、ハンディスキャナ2には、ミリ波帯の熱雑音を受信する受信素子として、ミリ波センサ12を一つ設けるだけでよいので、ラインセンサや2次元センサを利用する従来の撮像装置(スキャナ)に比べて、極めて低コストで実現できる。
また、従来のものに比べて、ケース10内に収納する部品点数を少なくすることができるので、ハンディスキャナ2の軽量化を図り、使用者による使い勝手を向上できる。
また特に、本実施形態のハンディスキャナ2には、ミリ波レンズ14がミリ波帯の熱雑音を取り込む開口部11に、一対のポインタ31,32が設けられている。
そして、使用者は、このポインタ31,32から出射される光線により、測定対象に隠された物品を検出するのに最適な、ハンディスキャナ2と測定対象との距離を把握することができる。
また、ハンディスキャナ2側で物品が検出された際には、使用者は、測定対象において、ポインタ31,32から出射される光線が当たっている位置から、物品が隠された位置を特定することができる。
また、使用者は、ポインタ31,32から出射された光線により、測定対象での熱雑音の測定位置(物品の検査位置)を把握できることから、物品の検査を効率よく行うことができ、その検査時間を短縮することもできる。
なお、本実施形態において、ミリ波センサ12は、本発明の受信素子に相当し、ミリ波レンズ14は、本発明の電波レンズに相当し、処理回路38及び制御回路40は、本発明の測定手段に相当し、ポインタ31,32は、本発明の発光手段(詳しくは、ビーム状の光線を発する発光素子)に相当する。
[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について説明する。
本実施形態の携帯型マイクロ波測定装置は、第1実施形態のハンディスキャナ2と略同様に構成されており、第1実施形態と異なる点は、図5に示すように、ケース10内で、ミリ波センサ12が、その受信点がミリ波レンズ14の焦点Fの位置になるように配置され、ポインタ31,32が、ミリ波レンズ14の光軸に平行な光線を出射するよう固定されている点である。
つまり、ミリ波センサ12をミリ波レンズ14の焦点位置に配置した場合、ミリ波レンズ14からミリ波センサ12には、ミリ波レンズ14のレンズ面に対向する領域から放射された熱雑音が入射される。
そこで、本実施形態では、ポインタ31,32からミリ波レンズ14の光軸に平行な光線を出射させることで、各光線にて測定対象の2点X1,X2を照射し、使用者が、その2点X1,X2から、ミリ波センサ12に入射される熱雑音の発生領域(換言すれば熱雑音の測定可能範囲)を把握できるようにするのである。
(変形例)
なお、本実施形態のように、ミリ波センサ12を、ミリ波レンズ14の焦点位置に配置した場合、ミリ波レンズ14のレンズ面に対向する領域から入射される熱雑音が、ミリ波レンズ14を介してミリ波センサ12に入射されるので、第1実施形態のように、ハンディスキャナ2と測定対象との間の測定距離が固定されることはない。
しかし、その測定距離が長くなるほど、ミリ波センサ12への熱雑音の入力レベルが低下し、最終的には、測定対象から放射された熱雑音をミリ波センサ12にて受信できなくなる。
そこで、図6に示すように、ミリ波センサ12にて熱雑音を正常に受信し得る測定限界距離を実験等の求め、その測定限界距離となる点Xで、各ポインタ31,32から出射された光線が交わるように、各ポインタ31、32へのケース10への取り付け角度(換言すれば、各ポインタ31,32の光線の出射角度)を設定してもよい。
そして、このようにすれば、使用者は、各ポインタ31,32から出射された光線が一点に集まる場所を測定限界点として把握し、その測定限界点よりも測定対象に接近した位置(つまり、測定限界距離内)で、熱雑音の測定(延いては物品の検査)を行うことができる。
[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態について説明する。
本実施形態の携帯型マイクロ波測定装置は、ミリ波センサ12をミリ波レンズ14の焦点位置に配置した第2実施形態のハンディスキャナ2を基本構成としている。
そして、第2実施形態と異なる点は、図7(a)に示すように、測定対象に対する対物レンズとして、ミリ波レンズ14の光軸方向に移動可能なミリ波レンズ50を追加し、ポインタ31,32からの光線の出射角度を自動調整できるようにした点である。
以下、この点について詳しく説明する。
まず、本実施形態では、ミリ波レンズ14と開口部11との間にミリ波レンズ50を配置し、しかも、ミリ波レンズ50をケース10内で本体部4の中心軸方向に移動できるように、ケース10の本体部4の長さが、第2実施形態のものに比べて長くなっている。
そして、ミリ波レンズ50は、その光軸がミリ波レンズ14の光軸と一致するよう、支持リング52を介して、ケース10内に収納されている。なお、この支持リング52の外径は、ケース10内で中心軸方向に移動できるように、ケース10の本体部4の内径よりも若干小さくなっている。
また、支持リング52が配置されるケース10の外周には、使用者がケース10の中心軸周りに回転操作するための操作リング54が設けられている。
そして、操作リング54の内周面には、その中心軸を挟んで対向する位置に、一対の嵌合突起56が突設されている。
一方、ケース10には、その一対の嵌合突起56がそれぞれ挿通されて、操作リング54の回転可能角度を所定角度(例えば、90度〜120度程度)に規制する、一対の長孔57が形成されている。
なお、長孔57は、ケース10の中心軸に対し直交する方向に形成されている。このため、操作リング54は、ケース10の中心軸方向へ移動することなく、その中心軸周りに回転できるようになる。
また、図7(b)に点線で示すように、支持リング52の外周面には、上記一対の長孔57に挿通されてケース10の内側に突出した一対の嵌合突起56と嵌合可能な、一対の嵌合溝53が形成されている。
この嵌合溝53は、操作リング54が回転操作されることにより生じる嵌合突起56の位置変化に応じて、支持リング52をケース10の中心軸方向に移動させるためのものであり、中心軸に対し所定角度で傾斜するように形成されている。
このため、使用者が操作リング54を回転操作すれば、その回転に応じて支持リング52がケース10内で軸方向に移動することになる。
そして、ケース10内には、支持リング52の位置を検出するための位置センサ58が設けられている。なお、この位置センサ58は、支持リング52の位置に応じて抵抗値が変化するポテンショメータ等で構成できる。
また、このように支持リング52が移動すると、対物レンズであるミリ波レンズ50と固定レンズであるミリ波レンズ14との間隔が変化するため、ケース10の開口部11からミリ波レンズ14に収束される熱雑音の発生点までの距離(つまり測定距離)も変化する。
一方、ポインタ31,32は、それぞれ、図7(c)に示す一対の角度調整機構60を介して、ケース10の開口部11に固定されている。
角度調整機構60は、使用者が操作リング54を操作して、ミリ波レンズ50の位置を変化させた際に、その位置変化(換言すれば測定距離の変化)に応じて、光線の出射方向(光線が中心軸と交差する角度:出射角度)を変化させるためのものであり、次のように構成されている。
まず、ポインタ31,32を構成する発光ダイオード(レーザダイオード等)は、それぞれ、フォルダ61,62に収納されており、このフォルダ61,62は、ケース10に固定された支持具63,64に回動可能に取り付けられている。
支持具63,64は、ポインタ31,32から出射された光線が、ミリ波レンズ14の光軸と交わり、且つ、その光線が光軸に沿って移動するよう(換言すれば、光線の出射角度が変化するよう)、フォルダ61,62を、ミリ波レンズ14の光軸と平行な軸線と直交する中心軸周りに回動可能に支持するものである。
また、フォルダ61,62には、支持具63,64に回動可能に支持される中心軸を中心とする歯車65,66が設けられている。
そして、この歯車65,66には、自身の回転により歯車65,66(延いてはフォルダ61,62)を回転させるウォームギヤ67,68が噛合されている。
また、各角度調整機構60には、角度調整用の動力源として、ケース10に固定されたモータ71,72が備えられている。そして、このモータ71,72の回転軸は、減速用のギヤ機構69,70を介して、ウォームギヤ67,68の回転軸と連結されている。
この結果、各角度調整機構60においては、モータ71,72を正転若しくは逆転させることにより、ポインタ31,32からの光線の出射角度を変化させることができる。従って、その出射角度(換言すれば、各ポインタ31,32からの光線が光軸上で交わる交点Xまでの距離)は、モータ71,72の回転角度を調整することで、任意に設定できる。
そこで、本実施形態では、制御回路40が、図4に示した物品検出処理を実行する際、図9に示すポインタ調整処理を並列に実行することで、ポインタ31、32からの光線の出射角度も調整する。
以下、このポインタ調整処理について説明する。
なお、このポインタ調整処理を行うに当たって、ポインタ31,32には、歯車65,66の回転位置から光線の出射角度を検出する角度センサ75,76が設けられており、制御回路40には、この角度センサ75,76からの検出信号が入力される(図8参照)。
また、制御回路40には、位置センサ58も接続されており、位置センサ58にて検出されたミリ波レンズ50の位置信号も入力される。
また、図8に示すように、本実施形態の制御回路基板18には、上述した駆動回路33〜36に加えて、各角度調整機構60に設けられたモータ71,72を駆動する駆動回路73,74も設けられており、制御回路40は、これら各駆動回路73,74を介してモータ71,72を回転させることで、ポインタ31,32からの光線の出射角度を調整する。
図9に示すように、ポインタ調整処理では、まずS210にて、位置センサ58から位置信号を取り込むことで、ミリ波レンズ50の位置を検出し、S220に移行する。
次に、S220では、その検出されたミリ波レンズ50の位置に基づき、ポインタ31,32から出射される光線の交点Xによって使用者に適正な測定距離を通知するのに必要なポインタ31、32の出射角度(目標出射角度)を、ROM44から読み出す。
また、続くS230では、角度センサ75,76からの検出信号に基づき、各ポインタ31,32の現在の出射角度(実出射角度)を検出し、S240に移行する。
そして、S240では、S220にて読み込んだ目標出射角度とS230にて検出した実出射角度との差に基づき、モータ71,72の回転量を算出し、その回転量に応じてモータ71,72を駆動することで、ポインタ31,32からの光線の出射角度を目標出射角度に制御し、ポインタ調整処理を一旦終了する。
なお、ポインタ調整処理は、制御回路40が物品検出処理を実行している間、所謂タイマ割込により、一定時間間隔で繰り返し実行される。
この結果、ポインタ31,32からの光線の出射角度は、常時、ミリ波レンズ50の位置に応じた最適角度に制御され、使用者は、ポインタ31,32からの光線が測定対象上で交わるようにハンディスキャナ2を位置調整することで、測定対象とハンディスキャナ2との距離を、適正な測定距離に設定できる。
なお、本実施形態のハンディスキャナ2は、請求項6、7に記載の発明を適用したものであり、一対の角度調整機構60が、本発明のアクチュエータに相当し、制御回路40(詳しくは制御回路40にて実行されるポインタ調整処理にて実現される機能)が、本発明の制御手段に相当する。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内にて、種々の態様を採ることができる。
例えば、上記実施形態では、ケース10の開口部11には、2つのポインタ31,32を設けるものとして説明したが、ポインタは、測定対象に光線を当てることで、使用者に、測定可能領域若しくは適正な測定距離を通知できればよいので、複数であればよく、3個或いは4個と個数を増加させてもよい。
また、第3実施形態のように、ミリ波レンズを移動可能にして、ミリ波レンズの位置に応じて、ポインタの光線の出射角度を調整する技術は、第1実施形態若しくは第2実施形態のような、ミリ波レンズを一つだけ備えたものであっても適用できる。
そして、この場合、例えば、図5又は図6に記載のように、ミリ波センサ12が焦点位置となるようミリ波レンズ14を配置した第1位置と、図2に記載のように、ミリ波センサ12が焦点位置から更に離れた位置となるようミリ波レンズ14を配置した第2位置との間で、ミリ波レンズ14を移動できるようにするとよい。
つまり、このようにすれば、ミリ波レンズ14を第1位置に配置した状態で物品の有無を検査し、ミリ波レンズ14を第2位置に配置した状態で、物品の位置を特定する、といったことが可能となる。
また、上記実施形態では、使用者に物品の存在を報知するために、LED22及びブザー28を用いるものとして説明したが、こうした報知手段としては、モータの回転等によって振動を発生する振動発生部材を用い、この振動発生部材の振動により、使用者に物品の存在を報知するようにしてもよい。また、LED、ブザー、振動発生部材を適宜組み合わせて、物品の存在を報知するようにしてもよい。
また次に、上記実施形態では、測定対象から放射されるミリ波帯の熱雑音を受信し、その受信レベルの変化から、物品を検出するものとして説明したが、この検出に用いる熱雑音は、マイクロ波帯であればよく、ミリ波帯に限定されるものではない。
2…ハンディスキャナ、4…本体部、6…把持部、8…カバー、10…ケース、11…開口部、12…ミリ波センサ、14…ミリ波レンズ、16…遮蔽板、18…制御回路基板、20…指令SW、22…LED、24…電池、26…電源SW、28…ブザー、31,32…ポインタ、33〜36,73,74…駆動回路、38…処理回路、40…制御回路、42…CPU、44…ROM、46…RAM、50…ミリ波レンズ、52…支持リング、53…嵌合溝、54…操作リング、56…嵌合突起、57…長孔、58…位置センサ、60…角度調整機構、61,62…フォルダ、63,64…支持具、65,66…歯車、67,68…ウォームギヤ、69,70…ギヤ機構、71,72…モータ、75,74…角度センサ。

Claims (7)

  1. マイクロ波を受信する受信素子と、
    測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を前記受信素子に導く電波レンズと、
    前記受信素子からの受信信号の信号レベルを測定する測定手段と、
    使用者が把持可能な形状で、前記熱雑音を取り込むための開口部を有するケースと、
    を備え、前記電波レンズが前記開口部側となるよう、前記ケース内に前記電波レンズ、前記受信素子、及び測定手段を収納してなる携帯型マイクロ波測定装置であって、
    前記ケースの開口部周囲に、
    前記測定対象に向けて光を照射することで、前記電波レンズを介して前記受信素子に入射する熱雑音の、前記測定対象からの放射位置を案内する発光手段、
    を設けたことを特徴とする携帯型マイクロ波測定装置。
  2. 前記発光手段は、ビーム状の光線を発する複数の発光素子からなることを特徴とする請求項1に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
  3. 前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
    前記複数の発光素子は、それぞれ、前記電波レンズの光軸に平行な光線を発するように、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
  4. 前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
    前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記ケースの開口部から前記測定対象までの距離が前記測定手段にて信号レベルを測定し得る測定限界距離となる測定限界点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
  5. 前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が、前記電波レンズの光軸上で前記電波レンズの焦点位置よりも前記電波レンズから離れた位置となるよう前記ケース内に配置され、
    前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記電波レンズを介して前記受信素子の受信点に収束されるマイクロ波の発生点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
  6. 前記電波レンズは、前記ケース内にて当該電波レンズの光軸方向に移動可能に設けられ、
    前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸と交差し、しかも、前記光線と前記光軸との交点を移動できるよう、前記光線の出射方向を調整可能に、前記ケースの開口部周囲に設けられており、
    前記ケース内には、更に、
    前記ケース内での前記電波レンズの位置を検出する位置センサと、
    前記複数の発光素子にそれぞれ設けられ、各発光素子からの光線の出射方向を調整するための複数のアクチュエータと、
    前記各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の前記光軸上での交点が前記電波レンズの位置に対応した設定位置となるよう、前記位置センサにて検出された前記電波レンズの位置に応じて、前記各アクチュエータをそれぞれ駆動する制御手段と、
    が設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
  7. 前記電波レンズは、前記開口部から前記受信素子に至るマイクロ波の透過経路上に、光軸を一致させて複数配置されており、
    該複数の電波レンズの内、前記開口部に最も近い電波レンズが、前記ケース内にて光軸方向に移動可能に設けられていることを特徴とする請求項6に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
JP2012040523A 2012-02-27 2012-02-27 携帯型マイクロ波測定装置 Pending JP2013174565A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012040523A JP2013174565A (ja) 2012-02-27 2012-02-27 携帯型マイクロ波測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012040523A JP2013174565A (ja) 2012-02-27 2012-02-27 携帯型マイクロ波測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013174565A true JP2013174565A (ja) 2013-09-05

Family

ID=49267586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012040523A Pending JP2013174565A (ja) 2012-02-27 2012-02-27 携帯型マイクロ波測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013174565A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040593A (ja) * 2015-08-20 2017-02-23 海洋総合開発株式会社 物質識別装置

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6249208A (ja) * 1985-08-29 1987-03-03 Toshiba Corp 距離測定機能付内視鏡
JPS6444808A (en) * 1987-08-12 1989-02-17 Shunichi Fujikawa Checking method of distance between moving body and wall surface
JPH1183996A (ja) * 1997-09-03 1999-03-26 Omron Corp ミリ波検出装置
US20040178916A1 (en) * 2003-03-12 2004-09-16 Ming-Chih Lu Device for gauging level of stored objects
JP2005127868A (ja) * 2003-10-23 2005-05-19 Takeshi Makitsubo 不審者検知装置
JP2007502415A (ja) * 2003-08-12 2007-02-08 トレックス・エンタープライゼス・コーポレーション ミリ波イメージングによるセキュリティ・システム
JP2008145289A (ja) * 2006-12-11 2008-06-26 Toshiba Corp 電磁波センサ、撮像素子及び撮像装置
JP2008241352A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Maspro Denkoh Corp ミリ波撮像装置及び撮像画像表示装置
JP2009036731A (ja) * 2007-08-03 2009-02-19 Toshiba Lighting & Technology Corp 人感センサの検出領域確認装置
US20090195435A1 (en) * 2006-06-19 2009-08-06 Ariel-University Research And Develoment Company Ltd. Hand-held device and method for detecting concealed weapons and hidden objects
JP2010008272A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Maspro Denkoh Corp ミリ波撮像装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6249208A (ja) * 1985-08-29 1987-03-03 Toshiba Corp 距離測定機能付内視鏡
JPS6444808A (en) * 1987-08-12 1989-02-17 Shunichi Fujikawa Checking method of distance between moving body and wall surface
JPH1183996A (ja) * 1997-09-03 1999-03-26 Omron Corp ミリ波検出装置
US20040178916A1 (en) * 2003-03-12 2004-09-16 Ming-Chih Lu Device for gauging level of stored objects
JP2007502415A (ja) * 2003-08-12 2007-02-08 トレックス・エンタープライゼス・コーポレーション ミリ波イメージングによるセキュリティ・システム
JP2005127868A (ja) * 2003-10-23 2005-05-19 Takeshi Makitsubo 不審者検知装置
US20090195435A1 (en) * 2006-06-19 2009-08-06 Ariel-University Research And Develoment Company Ltd. Hand-held device and method for detecting concealed weapons and hidden objects
JP2008145289A (ja) * 2006-12-11 2008-06-26 Toshiba Corp 電磁波センサ、撮像素子及び撮像装置
JP2008241352A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Maspro Denkoh Corp ミリ波撮像装置及び撮像画像表示装置
JP2009036731A (ja) * 2007-08-03 2009-02-19 Toshiba Lighting & Technology Corp 人感センサの検出領域確認装置
JP2010008272A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Maspro Denkoh Corp ミリ波撮像装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
澤谷邦男、外2名: ""ミリ波パッシブイメージング技術のセキュリティ応用"", 計測技術, vol. 38, no. 12, JPN6015050401, 5 November 2010 (2010-11-05), pages 13 - 16, ISSN: 0003218174 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040593A (ja) * 2015-08-20 2017-02-23 海洋総合開発株式会社 物質識別装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104678451B (zh) 光学传感器
CN106772654B (zh) 基于可重构反射阵列的毫米波人体安检***
KR102506305B1 (ko) 전자기 방사선을 이용하여 측정 대상을 측정하기 위한 방법 및 THz 측정 장치
US20050117624A1 (en) Infrared thermometers
JP2015096851A (ja) 光学結像系の心合わせのための方法及び装置
IL174313A0 (en) Millimetre and sub-millimetre imaging device
US20200150032A1 (en) Terahertz systems and methods for materials imaging and analysis
US9534889B2 (en) Wavelength-selectable coating thickness measurement apparatus
JP2013174565A (ja) 携帯型マイクロ波測定装置
JP6607127B2 (ja) X線残留応力測定方法及びx線残留応力測定システム
JP2013174566A (ja) 携帯型マイクロ波測定装置
JP2009025006A (ja) 光学装置、光源装置及び光学式測定装置
JP2016090357A (ja) X線回折測定装置
CN111183366B (zh) 用于监控机动车的模拟装置
CN107796509B (zh) 用于使用激光导引来识别声波源的设备和方法
KR20130050685A (ko) 3차원 물체 형상 측정 장치 및 방법
JP2016217935A (ja) 対象物の形状を特定するための送受信装置、形状特定装置および表示制御装置
KR101614368B1 (ko) 광음향 진단장치
US10408609B1 (en) Light guides for sensor alignment
US6937352B1 (en) Positioning device for RAM testing system
JP2024071779A (ja) 検出装置
WO2013118910A1 (ja) 内径測定装置
JP2017173130A (ja) 障害物検知システム及びこれを備えた分析装置
JP2020104158A (ja) レーザ加工装置
JP2002034399A (ja) 魚釣り用リールにおけるスプールの巻き取り径測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150302

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151207

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151215

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160426