JP2013149652A - 熱電材料 - Google Patents
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Abstract
【課題】Bi−Te系熱電材料の組成を改良することで、300K以上の温度域においても良好な熱電変換性能を有する熱電材料を提供する。
【解決手段】(BixSby)2-zAzTe3
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)の組成式で表される。Aとしては、Inが好ましい。
【選択図】なし
【解決手段】(BixSby)2-zAzTe3
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)の組成式で表される。Aとしては、Inが好ましい。
【選択図】なし
Description
本発明は、300K以上の温度域においても良好な熱電変換性能を有する熱電材料に関する。
熱電変換とは、ゼーベック効果やペルチェ効果を利用して、熱エネルギーと電気エネルギーとを相互に変換することをいう。熱電変換を利用すれば、ゼーベック効果を用いて熱流から電力を取り出したり、ペルチェ効果を用いて材料に電流を流すことで、吸熱現象や発熱現象を起こしたりすることが可能である。熱電変換は直接変換であるため、エネルギー変換の際に余分な廃棄物を排出しない、排熱の有効利用が可能である、及びモータやタービンなどのような可動部がないためメンテナンスフリーである、などの利点を有している。
現在では、上記利点を利用して、センサー素子や光素子、LSI基板などの半導体回路、レーザダイオード等の精密温度制御が要求される分野や、冷蔵庫、ワインセラー、自動車などにも利用されている。さらに、近年のエネルギー問題や環境問題の重大化に伴い、航空、宇宙、建設、地質及び気象観測、医療衛生、マイクロ電子などの領域や、石油化工、冶金、電力工業における廃熱利用など広範な用途への実用化も期待されている。なお、このような熱電変換用の材料としては、Bi−Te系,Mg−Si系,Fe−Si系,Si−Ge系,Pb−Te系,Fe−V−Al系,カルコゲナイド系,スクッテルダイト系,フィルドスクッテルダイト系,炭化ホウ素系などの半導体やセラミックの開発が進められているが、これまでに実用化されている室温域において使用可能な熱電材料としては、Bi−Te系等のような高移動度の縮退半導体に限られている。
熱電材料(熱電変換素子)の性能評価には、性能指数Z(K−1)や無次元性能指数ZTが使用される。性能指数Zは、Z=S2σ/κの式により求められる。なお、Sはゼーベック係数を、σは電気伝導率(電気伝導度)を、κは熱伝導率(熱伝導度)をそれぞれ示す。無次元性能指数ZTは、性能指数Zに絶対温度Tを掛けた値である。性能指数Zないし無次元性能指数ZTが高いほど、熱電変換性能が高いことになる。そこで、良好な熱電変換性能を得るには、ゼーベック係数Sおよび電気伝導率σが高く、且つ熱伝導率κが低いことが最も効果的である。
Bi−Te系熱電材料の性能指数Zないし無次元性能指数ZTを向上させるには、Bi2Te3からなる基本組成において、Biサイトを他の元素で一部置換することが有効であることが知られている。このような熱電材料として、例えば下記非特許文献1が提案されている。非特許文献1の熱電材料は(Bi0.25Sb0.75)2-zInzTe3で表され、In(z)が0.03または0.05の場合に、0〜300K(−273〜27℃)において性能指数Zが向上するとされている(FIG.5)。
"Figure of merit quaternary (Sb0.75Bi0.25)2-xInxTe3single crystals", C. Drasar, A. Hovorkova, P. Lpstak, H. Konf, C. - P. Li, andC. Uher, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 104, 023701, P1-4, 2008
しかしながら、非特許文献1では0〜300Kの温度域における性能指数Zの向上効果しか確認されていない。熱電材料は、室温(約20℃)域から200℃(473K)程度の温度範囲において使用されることが最も多いことから、300K以上の温度域における性能指数も重要であるが、非特許文献1では当該温度域において良好な性能指数が得られるかが不明である。
また、Biの一部をInで置換すると、非特許文献1のFIG.4に示されるように熱伝導率κが低減するが、非特許文献1のFIG.2に示されるように電気伝導率σも低下してしまう傾向がある。したがって、性能指数Zないし無次元性能指数ZTの向上にはBiの一部をInで置換することが有効ではあるが、Inの置換量が多いと、性能指数Zないし無次元性能指数ZTの向上効果が低下してしまう。
そこで、本発明は上記課題を解決するものであって、Bi−Te系熱電材料の組成を改良することで、300K以上の温度域においても良好な熱電変換性能を有する熱電材料を提供することを目的とする。
そのための手段として、本発明の熱電材料は、
(BixSby)2-zAzTe3
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)の組成式で表される。
括弧を外して表せば、BixSbyAzTe3(x:0.3〜0.5、y:1.5〜1.7、z+y=2、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)となる。
(BixSby)2-zAzTe3
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)の組成式で表される。
括弧を外して表せば、BixSbyAzTe3(x:0.3〜0.5、y:1.5〜1.7、z+y=2、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)となる。
すなわち、Bi2Te3で表されるBi−Te系の基本組成において、Biの大半をSbで置換したうえで、さらにInなどの他の元素によっても僅かに置換している。そして、このときのSb及び他の元素による置換量を上記範囲とすることで、300K未満はもちろん、300K以上の温度域においても確実に性能指数Zないし無次元性能指数ZTを向上することができ、室温以上の温度域においても良好な熱電変換性能を有する熱電材料となる。上記組成式中のA(他の元素)としては、Inが最も好適である。
なお、本発明において数値範囲を示す「○○〜××」とは、その下限及び上限を含む範囲を意味する。したがって、正確に表せば「○○以上××以下」となる。
本発明の熱電材料は、300K未満はもちろん、300K以上の温度域においても良好な熱電変換性能を有する。
以下に、本発明について詳細に説明する。本発明の熱電材料は、Bi−Te系の半導体である。現在実用化されている熱電材料の中でも、室温(約20℃)〜200℃程度の低温域において優れた熱電変換性能を本来的に有しており、高い性能指数Zないし無次元性能指数ZTを期待できるからである。
Bi−Te系半導体の基本組成はBi2Te3となるが、本発明ではBiサイトをSb及び他の元素によって置換している。具体的には、(BixSby)2-zAzTe3
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)の組成式で表される。Bi,Sb,Inのうちいずれか1つでもこの範囲を外れていると、良好な熱電変換性能を担保できなくなる。特に、Biの存在量(x)が0.15超でSbの存在量(y)が0.75未満であると、キャリア濃度の低下に伴い電気伝導率σが低下して、性能指数Zないし無次元性能指数ZTを効果的に向上できなくなる。Inの存在量が0.006未満では、熱伝導率κの低減効果を的確に得られない。一方、Inの存在量が0.02を超えると、電気伝導率σが低下してしまう傾向にある。xとyとの関係は、x:0.15〜0.2、且つy:0.8〜0.85が好ましい。zは0.01〜0.02が好ましい。他の元素Aとしては、Inが好ましい。
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)の組成式で表される。Bi,Sb,Inのうちいずれか1つでもこの範囲を外れていると、良好な熱電変換性能を担保できなくなる。特に、Biの存在量(x)が0.15超でSbの存在量(y)が0.75未満であると、キャリア濃度の低下に伴い電気伝導率σが低下して、性能指数Zないし無次元性能指数ZTを効果的に向上できなくなる。Inの存在量が0.006未満では、熱伝導率κの低減効果を的確に得られない。一方、Inの存在量が0.02を超えると、電気伝導率σが低下してしまう傾向にある。xとyとの関係は、x:0.15〜0.2、且つy:0.8〜0.85が好ましい。zは0.01〜0.02が好ましい。他の元素Aとしては、Inが好ましい。
Bi−Te系の熱電材料は三方晶系に分類されるが、単位格子は図1に示すような結晶構造であり、六方晶系と等価とみなせる。そして、本発明ではBiの大半をSbで置換したうえで、さらに微量のInによってBi/Sbサイトを置換している。これにより、半導体のキャリア濃度が増加し、電気伝導率σの低下を抑制することができる。延いては、熱電材料の性能指数Zないし無次元性能指数ZTを確実に向上することができる。その理由は定かではないが、微量のIn置換によって、Biの大半を置換しているSbの一部がTeの欠陥に進入するためと考えられる。
なお、この種の熱電材料は、TeサイトをN,P,As,Sb,Bi,C,Si,Ge,Sn,Pb,B,Al,Ga,又はTl等の他の元素によって置換することもできる。
本発明の熱電材料の製造方法は特に限定されることはなく、従来から公知の方法であればよい。先ず、単結晶法や溶製法などによって熱電材料インゴットを得る。生産性の観点からは、溶製法が好ましい。例えば、各原料粉末を所定の組成となるように混合してから、高周波溶解やアーク溶解などによって合金化された熱電材料インゴットを得ることができる。次いで、得られた熱電材料インゴットを粉砕し、必要に応じて分級してから所定形状に焼結してナノコンポジット化された熱電材料(熱電変換素子)を得ることができる。
なお、熱電材料粉体を焼結するに際して、熱電材料粉体の平均粒子径はできるだけ小さいことが好ましい。焼結前の熱電材料粉体の粒径が小さいほど、焼結後のマトリックス結晶粒径も微細になることで、熱伝導率κの低減に有効となるからである。具体的には、焼結前の熱電材料粉体の平均粒子径は、30μm以下、好ましくは10μm以下、より好ましくは5μm以下に粉砕しておく。また、熱電材料粉体を効率的に微粉末化するためには、微粉砕する前に粗粉砕しておくことが好ましい。熱電材料インゴットの粗粉砕は、ジョークラッシャ、ハンマー、スタンプミル、ロータミル、ピンミル、カッターミル、コーヒーミル,乳鉢などによって行うことができる。粗粉砕後の微粉砕は、回転ボールミル、振動ボールミル、遊星ボールミル、ウェットミル、ジェットミルなどによって行うことができる。
焼結方法としては、常圧焼結法、加圧焼結法、ホットプレス焼結法、高温等方圧プレス(HIP)焼結法などを採用できる。この場合、焼結前に原料粉末を一軸プレス成形、テープ成形法、熱間押し出し法等によって所定形状に成形しておくことも好ましい。また、放電プラズマ焼結(SPS焼結)によって焼結することもできる。放電プラズマ焼結とは、真空環境(不活性雰囲気)下において、中空筒状の成形型(ダイス)内に充填された粉体を、上下2つの押圧部材(パンチ)によって上下方向から加圧しながら、当該上下のパンチを電極としてパルス直流電流を流して放電プラズマを発生させることで、粉体内部の渦電流によりジュール熱を生成させ、かつ表面を活性化させることにより、短時間で焼結できる技術である。この場合、従来の焼結法よりも低温度で焼結できる、生産性が高い、焼結体の結晶粒が粗大化し難いなどの特徴がある。なお、熱伝導率κを低減させるためにマトリックス結晶粒を微細化すると、電気伝導率σも低減する傾向にあるので、その場合はホットプレス焼結やSPS焼結が好ましい。これにより、マトリックス結晶粒が配向されて電気伝導率σの低減を抑制できる。
Bi0.3Sb1.7Te3となるようにBi2Te3インゴットとSb2Te3インゴットを所定量混合し、さらにInが0.005mol、0.01mol、0.02mol、0.03mol、0.05molとなるようにそれぞれIn粉末を所定量混合して、電気溶解炉にて合金(熱電材料インゴット)を作製した。次いで、各熱電材料インゴットを乳鉢で粗粉砕し、400℃、40MPaで10分間SPS焼結してナノコンポジット化された熱電材料(試料)を得た。
そして、各試料の電気抵抗ρ、ゼーベック係数S、キャリア濃度n、熱伝導率κを30℃(303K)にて測定し、In置換量による各物性の傾向を調べた。なお、電気抵抗ρ及びゼーベック係数Sは、アルバック社製の測定装置(ZEM)を使用した。キャリア濃度nは、東陽テクニカ社製のホール効果測定装置(Resitest8300)を使用した。熱伝導率κは、アルバック社製のレーザーフラッシュ装置(TC-7000)を使用した。各試料におけるキャリア濃度nの値を表1に示し、電気抵抗ρ及び熱伝導率κの傾向を図2に示し、求められた無次元性能指数ZTの傾向を図3に示す。
表1の結果から、Inの置換量(モル濃度)を増大するにつれて、キャリア濃度が上昇することが確認された。また、図2の結果から、Inの置換量を増大するにつれて熱伝導率κが低減する反面、電気抵抗ρが上昇すなわち電気伝導率σが低下することが確認された。そして、図3の結果から、確実に熱電変換性能を向上させるには、Inの置換量を0.006〜0.02とすべきことが確認された。
Claims (2)
- (BixSby)2-zAzTe3
(x:0.15〜0.25、y:0.75〜0.85、z+y=1、z:0.006〜0.02、A:In,Ge,Sn,Al,又はGa)
の組成式で表される、熱電材料。 - 前記組成式中のAがInである、請求項1に記載の熱電材料。
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