JP2013097414A - 検査装置、処理装置、情報処理装置、対象物製造装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査装置は、検出部と、送信部と、受信部とを具備する。前記検出部は、処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する。前記送信部は、前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する。前記受信部は、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する。
【選択図】図2
Description
前記検出部は、処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する。
前記送信部は、前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する。
前記受信部は、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する。
前記対象物処理部は、対象物を処理する。
前記受信部は、前記対象物処理部により処理された前記対象物に不具合があるか否かが検査装置により検査され、検出された不具合情報が前記検査装置から送信された場合、前記送信された不具合情報を受信する。
前記改善処理部は、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行う。
前記送信部は、前記改善処理の内容情報を送信する。
前記受信部は、検査装置が、処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出して前記検出された不具合情報を送信した場合、前記送信された不具合情報を受信する。また、前記受信部は、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する。
前記送信部は、前記受信された不具合情報を前記処理装置に送信し、前記受信された内容情報を前記検査装置に送信する。
前記検査装置は、処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する検出部と、前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する送信部とを有する。
前記処理装置は、前記対象物を処理する対象物処理部と、前記検査装置から送信された前記不具合情報を受信する受信部と、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行う改善処理部と、前記改善処理の内容情報を前記検査装置に送信する送信部とを有する。
前記処理装置により処理された前記対象物に不具合があるか否かが検査装置により検出される。
前記検査装置により検出された前記不具合情報が前記処理装置に送信される。
前記処理装置により前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理が行われる。
前記処理装置による前記改善処理の内容情報が前記検査装置に送信される。
図1は、本技術の第1の実施形態に係る基板製造装置(対象物製造装置)を示す模式図である。基板製造装置100は、対象物である基板(プリント基板)Wを処理する処理装置としてのクリームはんだ印刷装置40と、このクリームはんだ印刷装置40の下流側に配置され、このクリームはんだ印刷装置40で処理された基板Wを検査する検査装置20とを備える。
クリームはんだ印刷装置40は、一対のスキージ41、スクリーン43、搬送ユニット49、クリーニングユニット47、制御装置45を備える。
検査装置20は、XYロボット21、カメラ23、照明24、搬送ユニット29、制御装置25を備える。
以上のように構成された基板製造装置100の動作を説明する。図2は、その動作を示すフローチャートである。図3〜5は、その動作を説明するための模式図である。
(1)処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する検出部と、
前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する送信部と、
前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する受信部と
を具備する検査装置。
(2)(1)に記載の検査装置であって、
前記受信部は、前記処理装置から、前記改善処理が行われた後に前記処理装置で処理された前記対象物を識別するための識別情報が送信された場合、前記送信された識別情報を受信する
検査装置。
(3)(2)に記載の検査装置であって、
前記処理装置により、前記対象物に個別に付与された識別情報が送信された場合、前記受信部は該識別情報を受信する
検査装置。
(4)(2)に記載の検査装置であって、
前記処理装置により、前記処理装置により改善処理時の時刻情報が、前記識別情報として送信された場合、前記受信部は該時刻情報を受信する
検査装置。
(5)(1)から(4)のうちいずれか1つに記載の検査装置であって、
前記処理装置は、前記対象物としての基板に、電気的な導通部を印刷する印刷装置であり、
前記検出部は、前記基板の前記導通部の印刷状態を検査する
検査装置。
(6)(5)に記載の検査装置であって、
前記印刷装置が、スクリーンと、前記スクリーンにクリームはんだを伸展させることで前記基板上に前記クリームはんだを転写するスキージとを有するクリームはんだ印刷装置である場合、
前記検出部は、前記基板上の所定の印刷領域に前記クリームはんだが転写されているか否かを検出し、
前記送信部は、前記所定の印刷領域を超えて前記クリームはんだが転写されていること、または、前記転写されたクリームはんだの前記基板上での領域が前記所定の印刷領域を満たさないことを、前記不具合情報として送信する
検査装置。
(7)(1)から(4)のうちいずれか1つに記載の検査装置であって、
前記処理装置は、前記対象物としての基板に、部品を実装する実装装置であり、
前記検出部は、前記基板への前記部品の実装状態を検査する
検査装置。
(8)(7)に記載の検査装置であって、
前記検出部は、前記基板への前記部品の実装位置のずれを検出し、
前記送信部は、前記部品の実装位置のずれ情報を、前記不具合情報として送信する
検査装置。
(9)対象物を処理する対象物処理部と、
前記対象物処理部により処理された前記対象物に不具合があるか否かが検査装置により検査され、検出された不具合情報が前記検査装置から送信された場合、前記送信された不具合情報を受信する受信部と、
前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行う改善処理部と、
前記改善処理の内容情報を送信する送信部と
を具備する処理装置。
(10)(9)に記載の処理装置であって、
前記送信部は、前記改善処理が行われた後に前記処理装置で処理された前記対象物を識別するための識別情報を送信する
処理装置。
(11)(9)または(10)に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、前記対象物としての基板に、電気的な導通部を印刷し、
前記検査装置は、前記基板の前記導通部の印刷状態を検査し、前記印刷状態の不具合を前記不具合情報として送信する
処理装置。
(12)(11)に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、スクリーンと、前記スクリーンにクリームはんだを伸展させることで前記基板上に前記クリームはんだを転写するスキージとを有し、
前記改善処理部は、前記不具合情報に対応した前記改善策として、前記スクリーンのクリーニング、前記クリームはんだの前記スクリーンへの供給量の調整、及び、基板の位置ずれの補正のうち、少なくとも1つの改善処理を行う
処理装置。
(13)(9)または(10)に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、前記対象物としての基板に部品を実装し、
前記検査装置は、前記部品の前記基板への実装状態を検査し、前記実装状態の不具合を前記不具合情報として送信する
処理装置。
(14)(13)に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、部品を保持して前記基板上に前記部品を実装するヘッドと、前記ヘッド及び前記基板を相対的に移動させる移動機構とを有し、
前記改善処理部は、前記不具合情報の前記改善策として、前記部品の実装時における、前記移動機構による前記ヘッド及び前記基板の相対位置を補正する、または、前記ヘッドにおける前記部品の保持位置を補正する
処理装置。
(15)検査装置が、処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出して前記検出された不具合情報を送信した場合、前記送信された不具合情報を受信し、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する受信部と
前記受信された不具合情報を前記処理装置に送信し、前記受信された内容情報を前記検査装置に送信する送信部と
を具備する情報処理装置。
(16)検査装置と処理装置とを備えた対象物製造装置であって、
前記検査装置は、
処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する検出部と、
前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する送信部とを有し、
前記処理装置は、
前記対象物を処理する対象物処理部と、
前記検査装置から送信された前記不具合情報を受信する受信部と、
前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行う改善処理部と、
前記改善処理の内容情報を前記検査装置に送信する送信部とを有する
対象物製造装置。
(17)処理装置により対象物を処理し、
前記処理装置により処理された前記対象物に不具合があるか否かを検査装置により検出し、
前記検査装置により検出された前記不具合情報を前記処理装置に送信し、
前記処理装置により前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行い、
前記処理装置による前記改善処理の内容情報を前記検査装置に送信する
対象物の製造方法。
20、120…検査装置
25、125…制御装置
40…印刷装置
45、145…制御装置
41…スキージ
43…スクリーン
47…クリーニングユニット
100、200…基板製造装置
140…実装装置
146…実装ヘッド
300…情報処理装置
Claims (17)
- 処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する検出部と、
前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する送信部と、
前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する受信部と
を具備する検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記受信部は、前記処理装置から、前記改善処理が行われた後に前記処理装置で処理された前記対象物を識別するための識別情報が送信された場合、前記送信された識別情報を受信する
検査装置。 - 請求項2に記載の検査装置であって、
前記処理装置により、前記対象物に個別に付与された識別情報が送信された場合、前記受信部は該識別情報を受信する
検査装置。 - 請求項2に記載の検査装置であって、
前記処理装置により、前記処理装置により改善処理時の時刻情報が、前記識別情報として送信された場合、前記受信部は該時刻情報を受信する
検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記処理装置は、前記対象物としての基板に、電気的な導通部を印刷する印刷装置であり、
前記検出部は、前記基板の前記導通部の印刷状態を検査する
検査装置。 - 請求項5に記載の検査装置であって、
前記印刷装置が、スクリーンと、前記スクリーンにクリームはんだを伸展させることで前記基板上に前記クリームはんだを転写するスキージとを有するクリームはんだ印刷装置である場合、
前記検出部は、前記基板上の所定の印刷領域に前記クリームはんだが転写されているか否かを検出し、
前記送信部は、前記所定の印刷領域を超えて前記クリームはんだが転写されていること、または、前記転写されたクリームはんだの前記基板上での領域が前記所定の印刷領域を満たさないことを、前記不具合情報として送信する
検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記処理装置は、前記対象物としての基板に、部品を実装する実装装置であり、
前記検出部は、前記基板への前記部品の実装状態を検査する
検査装置。 - 請求項7に記載の検査装置であって、
前記検出部は、前記基板への前記部品の実装位置のずれを検出し、
前記送信部は、前記部品の実装位置のずれ情報を、前記不具合情報として送信する
検査装置。 - 対象物を処理する対象物処理部と、
前記対象物処理部により処理された前記対象物に不具合があるか否かが検査装置により検査され、検出された不具合情報が前記検査装置から送信された場合、前記送信された不具合情報を受信する受信部と、
前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行う改善処理部と、
前記改善処理の内容情報を送信する送信部と
を具備する処理装置。 - 請求項9に記載の処理装置であって、
前記送信部は、前記改善処理が行われた後に前記処理装置で処理された前記対象物を識別するための識別情報を送信する
処理装置。 - 請求項9に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、前記対象物としての基板に、電気的な導通部を印刷し、
前記検査装置は、前記基板の前記導通部の印刷状態を検査し、前記印刷状態の不具合を前記不具合情報として送信する
処理装置。 - 請求項11に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、スクリーンと、前記スクリーンにクリームはんだを伸展させることで前記基板上に前記クリームはんだを転写するスキージとを有し、
前記改善処理部は、前記不具合情報に対応した前記改善策として、前記スクリーンのクリーニング、前記クリームはんだの前記スクリーンへの供給量の調整、及び、基板の位置ずれの補正のうち、少なくとも1つの改善処理を行う
処理装置。 - 請求項9に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、前記対象物としての基板に部品を実装し、
前記検査装置は、前記部品の前記基板への実装状態を検査し、前記実装状態の不具合を前記不具合情報として送信する
処理装置。 - 請求項13に記載の処理装置であって、
前記対象物処理部は、部品を保持して前記基板上に前記部品を実装するヘッドと、前記ヘッド及び前記基板を相対的に移動させる移動機構とを有し、
前記改善処理部は、前記不具合情報の前記改善策として、前記部品の実装時における、前記移動機構による前記ヘッド及び前記基板の相対位置を補正する、または、前記ヘッドにおける前記部品の保持位置を補正する
処理装置。 - 検査装置が、処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出して前記検出された不具合情報を送信した場合、前記送信された不具合情報を受信し、前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて前記処理装置により改善処理が行われ、前記改善処理の内容情報が前記処理装置から送信された場合、前記送信された内容情報を受信する受信部と
前記受信された不具合情報を前記処理装置に送信し、前記受信された内容情報を前記検査装置に送信する送信部と
を具備する情報処理装置。 - 検査装置と処理装置とを備えた対象物製造装置であって、
前記検査装置は、
処理装置により処理された対象物に不具合があるか否かを検出する検出部と、
前記検出部により検出された不具合情報を前記処理装置に送信する送信部とを有し、
前記処理装置は、
前記対象物を処理する対象物処理部と、
前記検査装置から送信された前記不具合情報を受信する受信部と、
前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行う改善処理部と、
前記改善処理の内容情報を前記検査装置に送信する送信部とを有する
対象物製造装置。 - 処理装置により対象物を処理し、
前記処理装置により処理された前記対象物に不具合があるか否かを検査装置により検出し、
前記検査装置により検出された前記不具合情報を前記処理装置に送信し、
前記処理装置により前記不具合情報に対応した改善策情報に基づいて改善処理を行い、
前記処理装置による前記改善処理の内容情報を前記検査装置に送信する
対象物の製造方法。
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