JP2013097380A - 試料を照明する方法及びシステム - Google Patents

試料を照明する方法及びシステム Download PDF

Info

Publication number
JP2013097380A
JP2013097380A JP2012224045A JP2012224045A JP2013097380A JP 2013097380 A JP2013097380 A JP 2013097380A JP 2012224045 A JP2012224045 A JP 2012224045A JP 2012224045 A JP2012224045 A JP 2012224045A JP 2013097380 A JP2013097380 A JP 2013097380A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
optical
objective lens
light strip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012224045A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6276913B2 (ja
Inventor
Werner Knebel
クネーベル ヴェルナー
Sieckmann Frank
ジークマン フランク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems CMS GmbH
Publication of JP2013097380A publication Critical patent/JP2013097380A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6276913B2 publication Critical patent/JP6276913B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/006Optical details of the image generation focusing arrangements; selection of the plane to be imaged
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/082Condensers for incident illumination only
    • G02B21/084Condensers for incident illumination only having annular illumination around the objective
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/10Condensers affording dark-field illumination
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

【課題】試料を照明する方法及びシステムの提供
【解決手段】SPIM顕微鏡法で試料を照明するシステムであって、光線を生成する光源と、光線から光ストリップを形成し、特に、少なくとも1つの方向からの照明平面において試料を実質的に平面照明する手段と、試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも1つの対物レンズであって、対物レンズ光学系は光ストリップと相互作用する、少なくとも1つの対物レンズと、を含むとともに、対物レンズ光学系の下流に配置されて、試料を照明するために、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、且つ/又は対物レンズの光軸に平行しない平面に配置されるように、光ストリップを偏向する光リダイレクト装置をさらに含む、システム。SPIM顕微鏡法で試料を照明する方法にも関する。
【選択図】図3

Description

本発明は、SPIM顕微鏡法で試料を照明する方法及びシステムに関する。
本発明は、顕微鏡、特に、走査型顕微鏡及び/又は共焦点走査型顕微鏡に関するとともに、そのようなシステムを使用し、そのような方法を実行して試料を顕微鏡撮像する実験セットアップにも関する。
本発明の基礎をなす上記選択的平面照明顕微鏡(SPIM)技法は、当分野で既知であり、例えば、非特許文献1に記載されている。
SPIM法に従って動作する顕微鏡は、特許文献1に記載されている。この顕微鏡では、試料は、薄い光ストリップで照明され、その間、照明光ストリップの平面に垂直に閲覧が行われる。ここで、照明及び検出は、別個の光学系、特に、互いに垂直に向けられた2つの別個の対物レンズを有する2つの別個の光学列を介して実行される。光ストリップは、照明対物レンズ及び上流円柱光学要素により生成される。画像取得のために、試料は、光ストリップを通って移動し、光ストリップは検出器に対して静止して、面積検出器を使用して層毎に蛍光及び/又は散乱光を捕捉する。次に、そうして得られた断層像データを組み立てて、試料の三次元像を表すデータセットにすることができる。可能な限り薄い光ストリップを生成するために、照明対物レンズはそれに対応して高い開口数を有さなければならない。さらに、照明対物レンズの自由作業距離は、観測対物レンズとの衝突を回避するのに十分な大きさでなければならない。2つの対物レンズの直交構成は、特定の試料、特に生物学的試料の撮像で欠点であり得る。例えば、球形物体を衝突のないように対物レンズの直角構成に配置することは不可能なことが多い。試料セットアップに課される極端な要件に加えて、往々にして不要な陰影が試料に生じる。
特許文献2に記載の修正SPIM技法では、照明及び検出は、同じ対物レンズを使用して実行される。このために、対物レンズの入射瞳は、偏心位置で完全未満に照明される。すなわち、照明ビームは、光軸から横にずれた入射瞳の部分を透過する。対物レンズの上流にある円柱レンズは、試料内に光シートを生成し、光シートは、対物レンズの光軸に対して傾斜する。この光シートにより照明される試料領域は、次に、対物レンズにより検出器に撮像される。しかし、この装置は、光シートにより試料を斜めに照明するように専ら設計され、異なる使用ができず、特に、試料の点毎の共焦点走査又は光シートの空間光強度分布の変動が可能ではなく、特に、対物レンズの光軸に垂直に向けられた光ストリップによる照明が可能ではない。
特許文献3には、顕微鏡対物レンズを通して顕微鏡観測する装置が記載されており、試料を照明する光の光ガイドが、レンズ光学系外部の対物レンズ筐体内に提供される。照明光はまず、光ガイド内で対物レンズの光軸に平行して伝播し、次に、小型アパーチャの反射器に衝突し、反射器は、対物レンズ筐体に搭載され、追加の撮像要素を使用して、照明光を試料に、顕微鏡対物レンズの光軸に直交する方向、ひいては閲覧方向に直交する方向で集束させる。ここでも、試料の平面照明は、SPIM原理に従って提供される。このようにして構成される顕微鏡対物レンズの使用は、実際には、照明光の追加の対物レンズの必要性をなくすが、追加の光ガイド及び反射器を有するこの特別な対物レンズの特別な設計は、技術的に非常に複雑であり、高価である。
DE 10257423 A1 WO 2010/012980 A1 DE102004034957 A1
Lindekら;Journal of modern optics,1999,vol.46,no.5,843−858
本発明の目的は、平面試料照明、特に、閲覧方向に直交する平面試料照明を可能にするように、SPIM顕微鏡法で試料を照明する上述した方法及びシステムを改良することであり、平面試料照明は、好ましくは、顕微鏡、特に走査型顕微鏡にどのみち存在する構成要素の多くが使用可能でありながら、高速で調整可能であるとともに、使用の信頼性が高く、且つ使用の多様性も有する。
この目的は、請求項1に記載の試料を照明する方法及び請求項15に記載の試料を照明するシステムにより達成される。本発明の有利な実施形態は、従属クレームの主題である。
したがって、本発明は、SPIM顕微鏡法で試料を照明する方法を提供し、この方法は、
a.光線を生成するステップと、
b.光線と相互作用する光学手段により、光線から光ストリップを形成するステップと、
c.試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも1つの対物レンズに光ストリップを通すステップであって、対物レンズ光学系は光ストリップと相互作用する、通すステップと、
d.試料を照明するために、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角で伝播し、好ましくは、試料に集束するように、対物レンズ光学系の下流にある光リダイレクト装置により光ストリップを偏向するステップと、
を含む。
さらに、本発明は、
a.光線を生成する光源と、
b.光線から光ストリップを形成し、特に、少なくとも1つの方向からの照明平面において試料を実質的に平面照明する手段と、
c.試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも1つの対物レンズであって、対物レンズ光学系は光ストリップと相互作用する、少なくとも1つの対物レンズと、
d.対物レンズ光学系の下流に配置されて、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、且つ/又は対物レンズの光軸に平行しない平面に配置されるように、光ストリップを偏向する光リダイレクト装置と、
を含むシステムを提供する。
本発明によれば、SPIM法による単純な照明、特に、閲覧方向に直交する平面での平面照明を、顕微鏡筐体内部の追加の光学系なしで、本質的に従来の顕微鏡対物レンズを使用して達成できることが発見され、照明光は、対物レンズ光学系を通り、続けて光リダイレクト装置により対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度で、特に直角で試料に集束可能である。
本発明によれば、試料を照明する光線は、例えば、CWレーザ又はパルスレーザ等の顕微鏡法の分野で慣習となっているか、又は周知の光源を使用して生成される。
本発明の有利な実施形態によれば、本発明の方法及びシステムにより光ストリップを形成する光学手段は、好ましくは、事実上、照明平面に光ストリップが存在し、且つ/又は試料から発せられる光を検出するために提供される検出器及び顕微鏡の下流にある解析器が、この照明を連続光ストリップから区別できず、且つ/又は取得像データが、連続光ストリップによる照明の場合に得られるデータと違わないか、若しくは実質的に違わないような速度で、光線を照明平面において移動させることができるビーム偏向器を有し得る。
ビーム偏向器により生成される光線の旋回移動を使用して、特に、試料内の焦点を移動させ、したがって、特定の方向からの試料の平面照明の集束光ストリップを生成し得る。これは、例えば、ビーム偏向器が、結果得られる集束光線の衝突が、時間平均して、試料内の照明平面に板状又は平坦な光の分布を生じさせるように十分な速度で、対物レンズの上流で光線を前後に傾斜させることにより達成することができる。
ビーム偏向器は、好ましくは、対物レンズの入射瞳の領域の傾斜点でほぼ静止したままであるように、光線を偏向させ、ビーム偏向器の方向において入射瞳からの距離がある間、光線は、光軸に平行する基準方向に対して旋回移動を実行する。光線のこの旋回移動は、対物レンズ及び下流光リダイレクト装置により光線の対応する集束移動に変換され、この集束は、とりわけ、対物レンズにより生み出される。顕微鏡法では、試料は、好ましくは、この集束下に配置される。試料の集束の実際のサイズ及び集束移動の振幅は、対物レンズ光学系の特定の設計に依存するとともに、恐らくは、光路に使用し得る追加の光学要素に依存する。
特に適し、技術的に実施しやすい実施形態では、ビーム偏向器は、少なくとも1つの回転ミラー、及び/又は傾斜ミラー、好ましくはガルバノメータミラー、及び/又は回転プリズム、及び/又は可動式レンズ、及び/又は音響光学偏向器を有し得る。ビーム偏向器は、特に、利用し得る走査型顕微鏡又は共焦点走査型顕微鏡のビーム偏向器であり得る。
本発明の別の実施形態では、光ストリップを形成する光学手段として、ビーム偏向器への追加又は代替として円柱形光学要素を提供し得る。
本発明の別の有利な実施形態では、光ストリップの形状、及び/又は位置、及び/又は向きは、上述した光学手段、及び/又は対物レンズ、及び/又は光リダイレクト装置により調整され、又は調整可能である。
光ストリップの位置及び/又は向きは、ビーム偏向器による旋回移動により調整することができる。光ストリップの形状、特に幅は、例えば、旋回移動に異なる振動振幅を選択することにより調整することができる。
特定の実施形態では、光線、及び/又は光ストリップ、及び/又は検出光の光路は、光ストリップが観測すべき試料の位置で集束し、試料のその位置から発せられる検出光が検出器に検出焦点を有するように、互いに合わせられる。
検出器は、好ましくは、検出平面に対応する平面に配置される。検出平面の位置及び向きは実質的に、物体の種類、向き、及び位置、検出器及び検出器と対物レンズとの間に存在し得る追加の光学構成要素の位置に依存する。光ストリップは、好ましくは、偏向後、検出平面に配置されるように位置決めされ、そのような向きを有する。
照明及び検出の両方が対物レンズを通して行われる場合、対物レンズの瞳から焦点への光ストリップの光路が一般に、光ストリップの焦点により照明される試料領域から発せられる検出光の光路よりも長く、対物レンズを直接通り、対物レンズの瞳に直接達することに留意されたい。これは特に、偏向によるものである。路長のこの差は、例えば、光線が、平行光線ではなく、発散光線として対物レンズに達する場合に補償することができる。発散は、光線には作用するが、検出光には作用しない追加の光学系により達成することができる。或いは、路長の差は、もちろん、それに対応して検出光路を長くすることによって補償することもできる。もちろん、両手段の組み合わせも可能である。
光ストリップから独立した別個の本発明の概念によれば、特に、光線がいかなる旋回移動も実行しない場合、試料をストリップのように照明せず、線のように照明することを提供し得る。この場合、ビーム偏向器を使用して、言わば走査式方法のように、集束光線により試料を順次照明することもできる。しかし、従来の走査型顕微鏡又は共焦点走査型顕微鏡以外では、光線は、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度を有することができる。
さらに、光ストリップの形状は、有利なことに、光線で対物レンズの入射瞳を完全未満に照明することにより変更可能である。このために、光線は、入射瞳の全域は通過せず、したがって、対物レンズの全開アパーチャを使用しない。この完全未満の照明は、光線の焦点を縦方向及び横方向の両方で広げさせる。
さらに、ビーム偏向器を使用して、例えば、光線を入射瞳の異なる位置、特に、偏心位置に向け得る。本発明の有利な実施形態によれば、このようにして、対物レンズの下流での光ストリップのそれぞれの集束光線の向き、ひいては試料内での光ストリップのそれぞれの光線の向きの変更が達成される。
本発明にとって、対物レンズ光学系が、光ストリップのそれぞれの光線と相互作用し、対物レンズ光学系が、試料から発せられた検出光をCCDカメラ(電荷結合素子)等の検出器に直接又は間接的に送るようにさらに設計され意図されることは極めて重要である。
本発明の別の有利な実施形態によれば、追加の対物レンズ及び/又は集光光学系が、代替として、試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るために使用し得る。このために、追加の対物レンズ及び/又は集光光学系を、光軸に沿って対物レンズに対向して配置し得、試料はそれらの間に配置される。
本発明によれば、光リダイレクト装置が対物レンズ光学系の下流に提供されて、試料を照明するために、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、好ましくは試料で集束するように、光ストリップを偏向する。
本発明の別の有利な実施形態によれば、光リダイレクト装置は、対物レンズ、及び/又は追加の対物レンズ、及び/又は集光光学系に固定して取り付けられるか、又は固定して取り付け可能である。特に、光リダイレクト装置は、対物レンズの光軸に対して90度以外の角度で弾性部材、特に、ばねの力に対抗して移動可能なように、上記構成要素に保持し得る。
光リダイレクト装置の固定に使用される接続は、技術的に特に実施しやすいネジ接続であり得る。このために、対物レンズのヘッド、すなわち、試料に面する対物レンズの端部は、対物レンズの光軸と同軸に形成され、光リダイレクト装置の対応する雌ねじに係合可能な雄ねじを有し得る。
これらの線に沿って、ここでも、光リダイレクト装置を後付け部分として対物レンズ及び/又は別の従来の対物レンズに固定して取り付け得るように、光リダイレクト装置に、脱着可能、好ましくは手動で脱着可能な接続手段が設けられるさらに有利な実施形態が考えられる。これにより、異なる設計の光リダイレクト装置の置換も可能である。
或いは、光リダイレクト装置の少なくとも1つの構成要素は、対物レンズの構成要素、又は追加の対物レンズの構成要素、又は集光光学系の構成要素と一体的に形成し得る。
本発明の有利な実施形態では、光ストリップを偏向する光リダイレクト装置は、少なくとも1つの少なくとも部分的に反射性の表面を有する。このために、反射面は、例えば、平面ミラーの部分として形成し得る。
さらに、試料での陰影の発生を回避するために、光リダイレクト装置により、且つ/又は光ストリップを形成する光学手段により、少なくとも2つの方向からの光ストリップで放射状に試料を照明することが有利であり得、少なくとも2つの方向のそれぞれからの光ストリップを試料の1つの焦点領域で集束させることが好ましい。これは、例えば、光リダイレクト装置が2つの対向ミラーを有し、ビーム偏向器が、2つの異なる角度、特に、例えば約1kHzの周波数で交互に、対物レンズの軸を対称として光ストリップを傾斜させ、それにより、試料が2つの対向する側から2つのミラーを介して照明されるということで、達成することができる。プロセスでは、光ストリップを形成する振動周波数は、移動方向を変更する周波数よりもはるかに高い。
本発明の別の実施形態では、試料は、平面の全方向からの光ストリップで照明し得、又は照明可能であり得る。ここでも、光ストリップは、平面の各方向から試料の1つの焦点領域に集束する。このために、光リダイレクト装置は、反射面が少なくとも部分的に、錐体の内側に形成されるように構成し得る。さらに、光ストリップは、対物レンズの光軸を中心として円形路に沿ってビーム偏向器によりガイドされ、それにより、時間平均して、すべての側からの試料の放射状照明が得られる。
最初に説明したSPIM法は、有利なことに、空間的に広がった試料を三次元撮像することができる。この撮像方法は、二次断層像からの三次元形状の再構築が続く断層試料検出に基づく。個々の像を捕捉するために、試料を対物レンズ及び光リダイレクト装置に対して、特に、対物レンズの光軸に沿って移動させるか、又は移動可能であることが特に有利である。さらに、対物レンズ及び光リダイレクト装置に対して、特に対物レンズの光軸を中心として試料が回転すること、又は回転可能なことを提供し得る。試料の回転により、多方向からの照明を達成することも可能になる。
さらに、試料を光学媒質、特に、浸漬媒質内に配置すること、又は配置可能なことを提供し得る。これは、光学分解能を増大させ、水溶液で囲まれた生きた細胞又は組織を観測し、且つ/又は屈折率の変化を回避することにより、コントラストを低減させる反射を抑制するように機能し得る。可能な浸漬媒質の例としては、水、シリコーン油、又はグリセリンが挙げられる。
特に、そのような光学媒質を使用する場合、試料チャンバ内に試料を配置すること、又は配置可能なことが有利であり得る。或いは、試料の位置決めに、毛細管を提供し得る。
試料及び/又は試料を保持する装置が光リダイレクト装置及び/又は対物レンズに衝突しないように、試料は、有利なことに、台に配置し得るか、又は配置可能であり得る。台の使用により、特に、本明細書において上述したように、光リダイレクト装置が試料を側方から囲むように構成される場合、試料を対物レンズ光学系の特に近くに位置決めして、光学分解能を増大させることができる。
光学媒質、特に、浸漬媒質が使用される場合、本発明の別の実施形態は、対物レンズが浸漬対物レンズとして設計され、さらに、対物レンズ及び/又は光リダイレクト装置が試料チャンバ及び/又は光学媒質内に浸漬することを提供し得る。
本発明のさらなる実施形態は、複数の試料が行列の形態に配置され、これらの試料が連続又は循環して繰り返して、本発明の照明システム及び/又は本発明の方法を使用する顕微鏡検査を受けることを提供し得る。このために、例えば、試料を、例えば寒天又は水内に埋め込まれたスライドに配置し、連続して走査し得る。この点に関して、対物レンズ及び/又は光リダイレクト装置に対する位置を変更すべき場合、試料支持装置を下げることを準備し得る。新しい位置に移動すると、試料は、対物レンズ及び光リダイレクト装置の近傍に戻される。
本発明の特に有利な実施形態では、STED顕微鏡法の原理により、光学分解能を増大させるために、光ストリップに、刺激光線及び/又は刺激光ストリップを重ね得、又は重ねることが可能であり得る。誘導放射抑制(STED)顕微鏡法の原理は、例えば、S. Hellら;Stimulated Emission Depletion Fluorescence Microscopy,Optics Letters. 19,No.11,1994,pp.780−782に説明されており、一般に、回折限界を超えて光学顕微鏡像の空間分解能を増大させるために使用される。このプロセスでは、試料の個々の領域を標識するために使用される蛍光染料が、刺激光線又は刺激光ストリップにより選択的に抑制され、ひいては、言わばオフにされ、それにより、検出中にいかなる蛍光も発しない。したがって、刺激光線は「オフ光線」と呼ぶこともでき、刺激光ストリップは「オフ光ストリップ」と呼ぶこともできる。
試料を照明する方法及びシステムでは、STED法は、蛍光を発する試料領域が、光ストリップにより照明される試料領域よりも小さいように利用することができる。有利な実施形態では、達成される効果は、結果として生成される光ストリップがより薄く又はより平坦に形成されることである。
分解能を増大させる別の方法は、RESOLFT技術を使用することによる。この技術は、適した光への露出により、もはや検出光を放出することができない状態に選択的に変換することができる特殊な染料を使用する。光ストリップで照明される試料領域の部分を適した光に選択的に露出することを通して、検出光を発する領域を低減し、ひいては分解能を増大させることが可能である。
このために、光ストリップを刺激光線又は刺激光ストリップのそれぞれに、両方が試料の共通領域に集束するように重ねることが特に好ましい。STED法が従来通りに使用される場合、刺激光線の焦点は、言わばTEM01*ラゲールガウスモードと同様に、断面が環状である。それとは対照的に、本明細書に記載される本発明の実施形態は、有利なことに、刺激光線の焦点が、断面で、光ストリップにより生み出される照明平面の上下に対照的に配置された2つの強度最大と、上記最大の間の光ストリップの焦点に配置された最小とを有する形状を有することを提供する。この最小は、言わばTEM01*エルミートガウスモードと同様である。そのような光モードは、例えば、位相板を使用して生成することができる。このようにして、光ストリップが、照明平面に直交する焦点の横に広がる方向でのみ低減され、集束の縦に広がる方向では低減されないことが達成される。全体的に、これにより、表面積の大きな非常に薄い光ストリップが生成され、これにより、高い空間分解能で試料の断面撮像を行うことが可能になる。
本発明の他の目的、利点、特徴、及び可能な応用を、図面を参照する例示的な実施形態の以下の説明から導き出し得る。この文脈の中で、説明され、且つ/又は示されるすべての特徴は、単独で、又は任意の有用な組み合わせで、請求項又は請求項の前文で組み合わせられる様式に関係なく、本発明の主題をなす。
図1aは焦点を生成する対物レンズの入射瞳が完全に照明される概略図で、図1bは対物レンズの入射瞳に入る光線が傾斜する場合に得られる効果を示す概略図で、図1cは対物レンズの入射瞳に入る光線が傾斜する場合に得られる効果を示す概略図である。 図2aは焦点を生成する対物レンズの入射瞳が完全未満に照明される概略図で、図2bは対物レンズの入射瞳を完全未満に照明する光線が傾斜する場合に得られる効果を示す概略図で、図2cは対物レンズの入射瞳を完全未満に照明する光線が傾斜する場合に得られる効果を示す概略図である。 図3aは焦点を生成する対物レンズの入射瞳の偏心完全未満照明を示す概略図で、図3bは偏心位置で対物レンズの入射瞳を完全未満に照明する光線が傾斜する場合に得られる効果を示す概略図で、図3cは偏心位置で対物レンズの入射瞳を完全未満に照明する光線が傾斜する場合に得られる効果を示す概略図である。 SPIM顕微鏡法で試料を照明する本発明の方法を実行する本発明のシステムの可能な実施形態の概略図である。 SPIM顕微鏡法で試料を照明する本発明の方法を実行する本発明のシステムの可能なさらなる実施形態の概略図であり、この実施形態は、図4に示される実施形態に加えて、円柱形光学要素を有する。 本発明の方法を実行する本発明のシステムの第3の実施形態による光リダイレクト装置及び対物レンズを示す概略図である。 SPIM顕微鏡法で試料を照明する本発明の方法を実行する本発明のシステムの第4の実施形態の概略図であり、この実施形態は、好ましくは、特に追加の対物レンズを使用する。
異なる瞳照明選択肢の原理についてまず、図1a〜1c、図2a〜2c、及び図3a〜3cを参照して説明する。ここで、これらの図が純粋に概略的であり、単に本発明の理解を容易にすることを目的とすることに留意されたい。以下の説明では、y軸が紙の平面から出るほうを指す間、x軸が紙の平面において水平に向けられ、z軸が紙の平面において垂直に向けられる座標系を参照する。
図1aは、対物レンズ4の入射瞳4.1が光線1で完全に照明される場合を示す。光線1は、対物レンズ4の光軸O1(z軸)に平行して伝播し、対物レンズ4の入射瞳4.1(x−y平面)に垂直に入る。対物レンズ4は、光線の焦点1.1の形態の集束光分布を生成し、この焦点は、光軸O1の横よりも光軸O1に沿って大きな広がりを有する。
図1b及び図1cは、光線1が光軸O1に対して対物レンズ4の入射瞳4.1で傾斜するが、それでもなお十分に入射瞳4.1を照明する場合に、焦点1.1の位置がどのように変化するかを示す。傾斜に起因する光線1の入射方向A1の変化は、対物レンズ4の光学系4.2により光軸O1に対する焦点1.1の横移動に変換される。光線1は対物レンズ4の入射瞳4.1を通過するため、焦点1.1は、縦方向の広がりが光軸O1に平行するような向きを保つ。
図2aは、対物レンズ4の入射瞳4.1の完全未満の照明を示す。分かるように、光線1は、対物レンズ4の入射瞳4.1の一部分のみを通過する。入射瞳4.1の完全未満の照明は、焦点1.1を広げることになる。すなわち、焦点1.1は、完全な入射瞳4.1を照明する場合よりも全体的に大きくなる。
図2b及び図2cは、入射瞳4.1を完全未満に照明する光線1が、入射瞳4.1の中央を通過し、入射瞳4.1内で傾斜する場合を示す。前図を参照して与えられた説明を考慮すると、全体的な結果は、広域化した焦点1.1が外側にシフトするというものである。これに関連して、光軸O1からの距離がさらに大きくなるほど、光線1が光軸O1に対して傾斜する程度が大きくなる。
図3a〜図3cでは、対物レンズ4の入射瞳4.1を完全未満に照明する光線1は、さらに、偏心して、すなわち、光軸O1から横にずれて配置される。入射瞳4.1への光線1のこの偏心位置は、焦点1.1を光軸O1に対して傾斜させる。これは、例えば、光ストリップ2を光軸O1に対して異なる角度で試料に向けるために有用であり得る。
図4は、SPIM顕微鏡法で試料を照明する本発明の方法を実行する本発明のシステムの可能な実施形態を概略的な形態で示す。このために、システムは、光線1を生成する光源8を有する。ここに示される例示的な実施形態では、光源は、例えば、532nmの波長を有するCWレーザビームを発する固体状態レーザである。
システムはビーム偏向器6をさらに有し、ビーム偏向器6は、最初に説明したように光線1から光ストリップ2を形成し、さらに、光線1、形成された各光ストリップ2を光軸O1に対して対物レンズ4の入射瞳4.1内で傾斜させる。例示的な本実施形態では、これは、ビーム偏向器6の重要な部分として2つの傾斜ミラー6.1を使用して達成される。これらの傾斜ミラー6.1のそれぞれは、最大角度範囲20度を通して傾斜可能である。両空間方向に沿った傾斜移動は、上記方向のそれぞれに1つずつの電磁アクチュエータにより生み出される。例示的な本実施形態では、特に、アクチュエータにより、傾斜ミラー6.1は、最大帯域幅12kHzで両方向に沿って振動傾斜移動を実行することができる。全体的に、これにより、第1に、光ストリップ2を形成することが可能になり、第2に、光ストリップ2又は光線1を異なる角度及び異なる位置で対物レンズ4の入射瞳4.1に向けることが可能になる。
ビーム偏向器6の代替又は追加として、システムは、光ストリップ2を形成する円柱形光学要素13を有することもできる。図5は、ビーム偏向器6の上流に配置されたそのような円柱形光学要素13を有する本発明の実施形態を示す。円柱形光学要素が使用される場合、ビーム偏向器の全体又は少なくとも部分を省くことを考えることもできる。
図4及び図5に示される2つの実施形態では、追加のレンズ光学系9が、対物レンズ4の上流のさらなる光路に配置される。追加のレンズ光学系9は、対物レンズ4の光学系4.2と併せて、光ストリップ2の焦点2.1を形成し、焦点2.1は続けて、光リダイレクト装置により試料7に偏向される。この偏向は、試料7を照明するために、光ストリップ2が、偏向後、対物レンズの光軸O1に対してゼロ度以外の角度、特に、ここで示されるように、直角に伝播し、試料7に集束するように実行される。ここで、光ストリップ2が対物レンズ4の光学系4.2と相互作用することが本発明にとって重要である。さらに、対物レンズ4の光学系4.2は、試料7から発せられた検出光を検出器11に直接又は間接的に送るようにも設計され、そのように意図される。このために、例示的な本実施形態では、ビームスプリッタ12が光路に提供されて、試料7から発せられた検出光10を、ここで示されるようにCCDカメラ等の検出器11に向ける。
図4及び図5から、光リダイレクト装置5が、直角矢印5.2でここに示されるように、光ストリップを偏向する2つの平面ミラー5.1を有することをさらに見ることができる。2つのミラーは、対物レンズ4の光軸O1に対して互いに対称的に対向して配置され、両方とも使用すべき波長を反射する。2つの対向するミラー5.1を使用することにより、有利なことに、2つの方向から試料7を照明することができ、陰影が回避される。このために、最初に説明したように、ビーム偏向器6は、試料7の平面照明のために、2つのミラー5.1を介して光ストリップ2を交互に試料7に向ける。ミラー5.1は、光ストリップ2が両方向から1つの焦点領域2.1に集束するか、又は集束可能なように配置される。
或いは、平面の全方向から試料を放射状に照明し得る。このために、本発明の別の実施形態では、光リダイレクト装置5は、図6に示されるように、錐体5.4の内側に提供される反射面5.3を有する。ビーム偏向器6が、光ストリップ2を対物レンズ4の入射瞳4.1内で光軸O1を中心とした円形路に沿ってガイドする場合、時間平均して、照明平面の全方向からの試料の平面照明が得られる。
手動で脱着可能な接続5.5により、光リダイレクト装置5を対物レンズ4の筐体4.3に固定して取り付けることができることが特に有利である。このために、図6に示される本発明の実施形態では、円錐形光リダイレクト装置5に雌ねじ5.6が設けられ、雌ねじ5.6は光リダイレクト装置5を、対物レンズ4の筐体4.3の対応する雄ねじ5.7を介して対物レンズ4にねじ込めるようにする。この特定の利点は、光リダイレクト装置5を異なる設計の光リダイレクト装置5で置換し得ることである。或いは、対物レンズ4は、このようにして、SPIM法向けに適宜構成された光リダイレクト装置5に非常に容易に後付けすることができる。
図7は、試料7が、光学媒質15が充填された試料チャンバ14内に配置され、さらに、試料7が台16に配置され、それにより、試料7を対物レンズ4の高分解能光学系4.2に近づけることができる本発明のさらなる実施形態を示す。特に、これにより、試料7を、図7に示される光リダイレクト装置5の2つのミラー5.1の間に衝突しないように位置決めすることができる。ここでは、浸漬対物レンズの形態である対物レンズ4及び光リダイレクト装置5の両方が、光学媒質15内で、ひいては試料チャンバ14内でも浸漬される。本例では、グリセリンが光学媒質15として使用される。しかし、水、シリコーン油、又は他の浸漬媒質を使用してもよい。
図7から、対物レンズ4の他に、追加の対物レンズ17又は集光光学系18を検出目的で、すなわち、試料7から発せられた検出光10を検出器11に直接又は間接的に送るために使用し得ることがさらに分かる。ここに示される例示的な実施形態では、追加の対物レンズ17は、対物レンズ4の逆に試料7の下に配置され、対物レンズ4の光軸O1に沿って向けられる。さらに、図7に示されるように、カバースリップ19を試料7と追加の光学系17との間に配置し得、対物レンズ17の光学系4.2が、カバースリップ19を通しての観測のために補正される。
1 光線
1.1 光線の焦点
2 光ストリップ
2.1 光ストリップの焦点
3 光学手段(光ストリップを形成する)
4 対物レンズ
4.1 入射瞳(対物レンズの)
4.2 光学系(対物レンズの)
5 光リダイレクト装置
5.1 平面ミラー
5.2 直角矢印(光ストリップの偏向を示す)
5.3 反射面
5.4 錐体の内側
5.5 脱着可能な接続
5.6 雌ねじ
5.7 雄ねじ
6 ビーム偏向器
6.1 傾斜ミラー
7 試料
8 光源
9 追加のレンズ光学系
10 検出光
11 検出器
12 ビームスプリッタ
13 円柱形光学要素
14 試料チャンバ
15 光学媒質
16 台
17 追加の対物レンズ
18 集光光学系
19 カバースリップ
O1 対物レンズの光軸
A1 対物レンズへの入射方向

Claims (31)

  1. SPIM顕微鏡法で少なくとも1つの試料を照明する方法であって、
    a.光線を生成するステップと、
    b.前記光線と相互作用する光学手段により、前記光線から光ストリップを形成するステップと、
    c.前記試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図され、且つ前記光ストリップと相互作用する光学系を有する少なくとも1つの対物レンズに前記光ストリップを通すステップと、
    d.前記試料を照明するために、前記光ストリップが、偏向後、前記対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角で伝播し、好ましくは、前記試料に集束するように、前記対物レンズの光学系の下流にある光リダイレクト装置により前記光ストリップを偏向するステップと、
    を有する、方法。
  2. 少なくとも下記a,b,cのいずれかの条件、すなわち、
    a.前記光ストリップを形成する光学手段が、少なくとも1つのビーム偏向器を有するか、
    b.前記光ストリップを形成する光学手段が、走査型顕微鏡又は共焦点走査型顕微鏡のビーム偏向器の形態をした少なくとも1つのビーム偏向器を有するか、
    c.前記ビーム偏向器が、少なくとも1つの回転ミラー、及び/又は傾斜ミラー、好ましくはガルバノメータミラー、及び/又は回転プリズム、及び/又は可動式レンズ、及び/又は音響光学偏向器を有する、
    請求項1に記載の方法。
  3. 前記光ストリップを形成する光学手段が、少なくとも1つの円柱形光学要素を有する、請求項1又は2に記載の方法。
  4. a.前記光ストリップの形状、位置及び向きの少なくともいずれがが調整され、及び/又は
    b.前記光ストリップの形状、位置及び向きの少なくともいずれかが、前記光ストリップを形成する光学手段、前記対物レンズ、及び前記光リダイレクト装置の少なくともいずれかにより調整される、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
  5. a.前記対物レンズが浸漬対物レンズであるか、
    b.前記対物レンズが浸漬対物レンズであり、前記試料を囲む光学媒質が充填された試料チャンバ又は試料ベッセル内に浸漬されるか、
    c.照明されるべき試料が、前記試料を囲む光学媒質が充填された試料チャンバ又は試料ベッセル内に浸漬され、前記光リダイレクト装置が、前記媒質に浸漬されるか又は前記媒質内に配置される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
  6. a.前記対物レンズを使用して、前記試料を照明するか、前記試料から発せられた前記検出光を前記検出器に直接又は間接的に送り、及び/又は
    b.追加の対物レンズ及び/又は集光光学系を使用して、前記試料から発せられた前記検出光を前記検出器に直接又は間接的に送る、
    請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
  7. a.前記光リダイレクト装置が、前記対物レンズ及び/又は前記追加の対物レンズ及び/又は前記集光光学系に固定して取り付けられ、及び/又は
    b.前記光リダイレクト装置が、前記対物レンズの前記光軸に対して90度以外の角度で弾性部材、特にばねの力に抗して移動可能であるように、前記対物レンズ及び/又は前記追加の対物レンズ及び/又は前記集光光学系に保持され、及び/又は
    c.前記光リダイレクト装置に、少なくとも1つの接続手段が設けられ、それにより、前記光リダイレクト装置が、前記対物レンズ及び/又は前記他の対物レンズ及び/又は前記集光装置への後付け部分として固定して取り付けられ、及び/又は固定して取り付け可能である、
    請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
  8. 前記光リダイレクト装置の少なくとも1つの構成要素が、前記対物レンズの構成要素、又は前記追加の対物レンズの構成要素、又は前記集光光学系の構成要素と一体的に形成される、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
  9. a.前記光ストリップを偏向する前記光リダイレクト装置が、少なくとも1つの少なくとも部分的に反射性の表面を有し、及び/又は
    b.前記光ストリップを偏向する前記光リダイレクト装置が、少なくとも1つの少なくとも部分的に反射性の表面を有し、前記反射面が、平面ミラーの部分として形成されるか、又は錐体の内側に少なくとも部分的に形成される、
    請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法。
  10. a.前記試料が、前記光ストリップにより少なくとも2つの方向から照明され、前記光ストリップが、好ましくは、前記少なくとも2つの各方向から、前記試料の1つの焦点領域に集束し、及び/又は
    b.前記試料が、前記光ストリップにより平面の全方向から放射状に照明され、前記光ストリップが、好ましくは、前記平面の各方向から前記試料の1つの焦点領域に集束し、及び/又は
    c.前記試料が、特に前記光リダイレクト装置及び/又は前記光ストリップを形成する光学手段により、入射方向を変更することで少なくとも2つの方向から照明され、及び/又は
    d.前記試料が、特に前記光リダイレクト装置及び/又は前記光ストリップを形成する光学手段により、前記入射方向を回転させることで平面の全方向から前記光ストリップで放射状に照明される、
    請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
  11. SPIM顕微鏡法の場合、特にSPIM顕微鏡法で試料の異なる層を撮像する場合、前記試料が、
    a.前記対物レンズ及び前記光リダイレクト装置に対して移動及び/又は回転し、及び/又は
    b.光学媒質、特に浸漬媒質内に配置され、及び/又は
    c.試料チャンバ内に配置され、及び/又は
    d.毛細管内に配置され、及び/又は
    e.台に配置され、及び/又は
    f.前記試料を囲む光学媒質が充填した試料チャンバ内に配置される、
    請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。
  12. 前記光線及び/又は前記光ストリップ及び/又は前記検出光の光路は、前記光ストリップが観測されるべき前記試料の位置に焦点を有し、前記試料のその位置から発せられる検出光が前記検出器に検出焦点を有するように、互いに合わせられる、請求項1〜11のいずれか一項に記載の方法。
  13. 特に、前記光線の光路と前記検出光の光路との路長の差を補償するために、
    a.前記光線が、発散光線として前記対物レンズに向けられ、及び/又は
    b.前記光線が、前記光線のみに作用し前記検出光には作用しない追加の光学系による影響を受け、及び/又は
    c.前記検出光路を長くする、請
    求項1〜12のいずれか一項に記載の方法。
  14. a.前記対物レンズ及び/又は前記光リダイレクト装置が、前記試料チャンバ及び/又は前記光学媒質内に浸漬し、及び/又は
    b.前記対物レンズ及び/又は前記光リダイレクト装置が、前記試料チャンバ及び/又は前記光学媒質内に配置される、
    請求項1〜13のいずれか一項に記載の方法。
  15. a.像を生成するために検出されるべき光が発せられる試料領域が、前記光ストリップにより照明される試料領域よりも小さくなるように、前記光ストリップには、少なくとも1つの刺激光線及び/又は刺激光ストリップが重ねられて、誘導放射抑制(STED)顕微鏡法の原理に従って光学分解能を増大させ、
    b.前記光ストリップには、少なくとも1つの刺激光ストリップが重ねられて、誘導放射抑制(STED)顕微鏡法の原理に従って光学分解能を増大させ、前記光ストリップ及び前記刺激光ストリップが部分的に互いに重なり、互いに平行の向きを有する、
    請求項1〜14のいずれか一項に記載の方法。
  16. 顕微鏡検査方法であって、
    a.1つの試料が、請求項1〜15のいずれか一項に記載の方法に従って照明され、及び/又は
    b.複数の試料が一緒に、特に行列の形態にて顕微鏡ステージ及び/又はスライド上に配置され、順次、顕微鏡法で検査され、各試料は、請求項1〜13のいずれか一項に記載の方法に従って照明される、方法。
  17. SPIM顕微鏡法で試料を照明し、特に、請求項1〜16のいずれか一項に記載の方法を実行するシステムであって、
    a.光線を生成する光源と、
    b.前記光線から光ストリップを形成し、特に、少なくとも1つの方向からの照明平面にて試料を実質的に平坦に照明する手段と、
    c.前記試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも1つの対物レンズであって、前記対物レンズの光学系が前記光ストリップと相互作用する、少なくとも1つの対物レンズと、
    d.前記対物レンズの光学系の下流に配置されて、前記光ストリップが、偏向後、前記対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、及び/又は前記対物レンズの光軸に平行しない平面に配置されるように、前記光ストリップを偏向する光リダイレクト装置と、
    を備えて構成される、システム。
  18. a.前記光ストリップを形成する光学手段が、少なくとも1つのビーム偏向器を有し、及び/又は
    b.前記光ストリップを形成する光学手段が、走査型顕微鏡又は共焦点走査型顕微鏡のビーム偏向器の形態をした少なくとも1つのビーム偏向器を有し、及び/又は
    c.前記光ストリップを形成する光学手段が、少なくとも1つの回転ミラー及び/又は傾斜ミラー、好ましくはガルバノメータミラー及び/又は回転プリズム及び/又は可動式レンズ及び/又は音響光学偏向器を有する少なくとも1つのビーム偏向器を有する、
    請求項17に記載のシステム。
  19. 前記光ストリップを形成する光学手段が、少なくとも1つの円柱形光学要素を有する、請求項17又は18に記載のシステム。
  20. a.前記光ストリップの形状及び/又は位置及び/又は向きが調整可能であり、及び/又は
    b.前記光ストリップの形状及び/又は位置及び/又は向きが、前記光ストリップを形成する光学手段により、及び/又は前記対物レンズにより、及び/又は前記光リダイレクト装置により、調整可能である、
    請求項17〜19のいずれか一項に記載のシステム。
  21. a.前記対物レンズが浸漬対物レンズであり、及び/又は
    b.前記対物レンズが浸漬対物レンズであり、前記対物レンズが、照明されるべき試料を囲む光学媒質が充填された試料チャンバ又は試料ベッセル内に、特に前記光リダイレクト装置と一緒に浸漬するように設計され意図される、
    請求項17〜20のいずれか一項に記載のシステム。
  22. 前記試料から発せられた前記検出光を前記検出器に直接又は間接的に送る追加の対物レンズ及び/又は集光光学系が設けられる、請求項17〜21のいずれか一項に記載のシステム。
  23. a.前記光リダイレクト装置が、前記対物レンズ及び/又は前記追加の対物レンズ及び/又は前記集光光学系に固定して取り付け可能であり、及び/又は固定して取り付けられ、及び/又は
    b.前記光リダイレクト装置が、前記対物レンズの光軸に対して90度以外の角度で弾性部材、特にばねの力に抗して移動可能であるように、前記対物レンズ及び/又は前記追加の対物レンズ及び/又は前記集光光学系に保持され、及び/又は
    c.前記光リダイレクト装置に接続手段が設けられ、それにより、後付け部分として前記光リダイレクト装置を前記対物レンズ及び/又は別の対物レンズへ固定して取り付け可能である、
    請求項17〜22のいずれか一項に記載のシステム。
  24. 前記光リダイレクト装置の少なくとも1つの構成要素が、前記対物レンズの構成要素、又は前記追加の対物レンズの構成要素、又は前記集光光学系の構成要素と一体的に形成される、請求項17〜23のいずれか一項に記載のシステム。
  25. a.前記光ストリップを偏向する前記光リダイレクト装置が、少なくとも1つの少なくとも部分的に反射性の表面を有し、及び/又は
    b.前記光ストリップを偏向する前記光リダイレクト装置が、少なくとも1つの少なくとも部分的に反射性の表面を有し、前記反射性の表面が平面ミラーの部分として形成され、及び/又は
    c.前記光ストリップを偏向する前記光リダイレクト装置が、少なくとも1つの少なくとも部分的に反射性の表面を有し、前記反射性の面が、錐体の内側に少なくとも部分的に形成される、
    請求項17〜24のいずれか一項に記載のシステム。
  26. 試料が、
    a.前記光ストリップにより少なくとも2つの方向から照明可能であり、前記光ストリップが、好ましくは、前記少なくとも2つの方向のそれぞれから、前記試料における1つの焦点領域に集束可能であり、及び/又は
    b.平面の全方向から前記光ストリップにより放射状に照明され、前記光ストリップが、前記平面の各方向から前記試料における1つの焦点領域に集束可能であり、及び/又は
    c.前記試料が、特に前記光リダイレクト装置及び/又は前記光ストリップを形成する光学手段により、入射方向を変更することにより少なくとも2つの方向から照明可能であり、及び/又は
    d.前記試料が、特に前記光リダイレクト装置及び/又は前記光ストリップを形成する光学手段により、入射方向を回転させることで、平面の全方向から前記光ストリップにより放射状に照明可能である、請求項17〜25のいずれか一項に記載のシステム。
  27. 前記光線及び/又は前記光ストリップ及び/又は前記検出光の光路は、前記光ストリップが、観測されるべき試料の位置に焦点を有し、前記試料におけるその位置から発せられる検出光が、前記検出器に検出焦点を有するように、互いに合わせられる、請求項17〜26のいずれか一項に記載のシステム。
  28. 特に、前記光線の光路と前記検出光の光路との路長の差を補償するために、
    a.前記光線が、発散光線として前記対物レンズに入射し、及び/又は
    b.前記光線が、前記光線のみに作用し前記検出光には作用しない追加の光学系を通り、及び/又は
    c.前記システムが、長検出光路を有する、
    請求項17〜27のいずれか一項に記載のシステム。
  29. a.像を生成するために検出されるべき光が発せられる試料領域が、前記光ストリップにより照明される試料領域よりも小さくなるように、前記光ストリップには、少なくとも1つの刺激光線及び/又は刺激光ストリップが重ねられて、誘導放射抑制(STED)顕微鏡法の原理に従って光学分解能を増大させ、及び/又は
    b.前記光ストリップには、少なくとも1つの刺激光ストリップが重ねられて、誘導放射抑制(STED)顕微鏡法の原理に従って光学分解能を増大させ、前記光ストリップ及び前記刺激光ストリップが部分的に互いに重なり、互いに平行の向きを有する、
    請求項17〜28のいずれか一項に記載のシステム。
  30. 顕微鏡、特に、走査型顕微鏡及び/又は共焦点走査型顕微鏡、並びに/或いは試料を顕微鏡撮像する実験セットアップであって、請求項17〜29のいずれか一項に記載の照明システムを有し、及び/又は請求項1〜16のいずれか一項に記載の方法を実行する、顕微鏡並びに/或いは実験セットアップ。
  31. 特にSPIM顕微鏡法のために、
    a.対物レンズ及び光リダイレクト装置に対して試料を移動させ、及び/又は回転させる装置が設けられ、及び/又は
    b.前記試料が、光学媒質、特に浸漬媒質内に配置可能であり、及び/又は
    c.1つ以上の試料のための試料チャンバ又は毛細管又は試料カップが設けられ、及び/又は
    d.少なくとも1つの台が設けられ、前記台に試料を配置可能であり、及び/又は台に前記試料が配置される、
    請求項30に記載の顕微鏡及び/又は実験セットアップ。
JP2012224045A 2011-10-28 2012-10-09 試料を照明する方法及びシステム Active JP6276913B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011054914.5 2011-10-28
DE102011054914A DE102011054914A1 (de) 2011-10-28 2011-10-28 Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013097380A true JP2013097380A (ja) 2013-05-20
JP6276913B2 JP6276913B2 (ja) 2018-02-07

Family

ID=46924345

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012224045A Active JP6276913B2 (ja) 2011-10-28 2012-10-09 試料を照明する方法及びシステム
JP2014537569A Active JP6154389B2 (ja) 2011-10-28 2012-10-22 Spim顕微鏡において試料の照明時に使用する使用装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014537569A Active JP6154389B2 (ja) 2011-10-28 2012-10-22 Spim顕微鏡において試料の照明時に使用する使用装置

Country Status (7)

Country Link
US (2) US9772481B2 (ja)
EP (1) EP2587295B1 (ja)
JP (2) JP6276913B2 (ja)
CN (2) CN104054014B (ja)
DE (1) DE102011054914A1 (ja)
GB (1) GB2509664B (ja)
WO (1) WO2013060644A1 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015526764A (ja) * 2012-08-16 2015-09-10 ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 光学装置及び顕微鏡
JP2015203708A (ja) * 2014-04-10 2015-11-16 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP2016525228A (ja) * 2013-07-10 2016-08-22 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 光シート顕微鏡検査用の装置
JP2016529558A (ja) * 2013-08-28 2016-09-23 イマジン・オプチック 側方照明顕微鏡システム及び顕微方法
JP2016535861A (ja) * 2013-06-18 2016-11-17 ライカ マイクロシステムズ ツェーエムエス ゲーエムベーハー 顕微鏡で複数のサンプルを検査するための光学装置および方法
JP2016540989A (ja) * 2013-12-17 2016-12-28 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH 光学的投影トモグラフィを用いて試料を検査する方法および装置
JP2017003748A (ja) * 2015-06-09 2017-01-05 オリンパス株式会社 シート照明顕微鏡、及び、シート照明顕微鏡の照明方法
JP2017530408A (ja) * 2014-09-25 2017-10-12 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH ミラーデバイス
JP2019511013A (ja) * 2016-04-08 2019-04-18 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH 試料を結像する顕微鏡および方法
JP2019148732A (ja) * 2018-02-28 2019-09-05 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
JP2022145737A (ja) * 2018-02-28 2022-10-04 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012110077A1 (de) * 2012-10-23 2014-06-26 Karlsruher Institut für Technologie Mikroskop mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl in Form einer Lichtscheibe
DE102013213781A1 (de) * 2013-03-20 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und optische Anordnung zum Manipulieren und Abbilden einer mikroskopischen Probe
US9874736B2 (en) * 2013-04-29 2018-01-23 The Regents Of The University Of California Apparatus and method for an inclined single plane imaging microscope box (iSPIM box)
DE102013107297A1 (de) * 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013112600A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optisches Übertragungssystem und Mikroskop mit einem solchen Übertragungssystem
DE102013112596B4 (de) * 2013-11-15 2023-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
WO2015108846A1 (en) 2014-01-14 2015-07-23 Applied Scientific Instrumentation, Inc. Light sheet generator
LU92505B1 (de) * 2014-07-22 2016-01-25 Leica Microsystems Verfahren und vorrichtung zum mikroskopischen untersuchen einer probe
CN105445226B (zh) 2014-08-29 2020-04-28 清华大学 一种观测一维纳米材料的方法及装置
CN105445230B (zh) * 2014-08-29 2020-04-28 清华大学 一种测量碳纳米管手性的方法及装置
CN105403538B (zh) * 2014-08-29 2018-11-13 清华大学 一种测量碳纳米管手性的方法及装置
CN105445227B (zh) * 2014-08-29 2019-04-02 清华大学 一种观测一维纳米材料的方法及装置
WO2016105934A2 (en) 2014-12-23 2016-06-30 Ge Healthcare Bio-Sciences Corp. Selective plane illumination microscopy instruments
FR3031196B1 (fr) 2014-12-29 2017-01-13 Karla Balaa Dispositif pour realiser de la microscopie a feuille de lumiere
DE102015105018A1 (de) 2015-03-31 2016-10-06 Laser-Laboratorium Göttingen e.V. Verfahren und Rasterfluoreszenzlichtmikroskop zum mehrdimensional hochauflösenden Abbilden einer Struktur oder eines Wegs eines Partikels in einer Probe
JP6503221B2 (ja) * 2015-05-13 2019-04-17 オリンパス株式会社 3次元情報取得装置、及び、3次元情報取得方法
DE102015221044A1 (de) * 2015-10-28 2017-05-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Probenbegrenzungselement, Mikroskopierverfahren und Mikroskop
EP3507641B1 (de) * 2016-09-01 2024-07-03 Leica Microsystems CMS GmbH Mikroskop zur betrachtung einzeln beleuchteter schiefer ebenen mit einem mikrolinsen-array
DE102016011227C5 (de) 2016-09-19 2020-04-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem und Verfahren zur Abbildung einer Probe unter Verwendung eines Mikroskopsystems
DE102017103252B3 (de) 2017-02-16 2018-04-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur mikroskopischen Rasterbeleuchtung
DE102017107733B4 (de) * 2017-04-10 2019-01-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtblattmikroskop und Nachrüstsatz hierfür
WO2018234582A2 (de) 2017-06-23 2018-12-27 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem mit lichtblattmikroskopischer funktionseinheit
CN109425591B (zh) * 2017-08-31 2021-06-25 清华大学 一种一维纳米材料的观测方法
DE102017217389A1 (de) 2017-09-29 2019-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Linse zur Verwendung in einer Medienzuführungsvorrichtung sowie Objektiv, Medienzuführungsvorrichtung und Mikroskop
DE102018204940B4 (de) * 2018-03-29 2023-03-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Optisches System mit verkippter Beleuchtungsebene und Verfahren zum Beleuchten eines Probenvolumens in einem optischen System mit verkippter Beleuchtungsebene
DE102018206406B3 (de) * 2018-04-25 2019-09-12 Carl Zeiss Meditec Ag Mikroskopiesystem und Verfahren zum Betrieb eines Mikroskopiesystems
CN109758114A (zh) * 2019-01-21 2019-05-17 中国科学院宁波工业技术研究院慈溪生物医学工程研究所 用于角膜神经成像的光片显微镜
CN110687670B (zh) * 2019-10-16 2022-02-08 锘海生物科学仪器(上海)有限公司 平铺光片显微镜及其使用方法
JP7427487B2 (ja) * 2020-03-24 2024-02-05 キヤノン株式会社 光学装置、車載システム、および移動装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003524194A (ja) * 1998-10-24 2003-08-12 ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー 対象物を光学的に走査するための装置
JP2006030992A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh 顕微鏡観察および/または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用
WO2010012980A1 (en) * 2008-07-31 2010-02-04 Imperial Innovations Limited Optical arrangement for oblique plane microscopy

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19632040C2 (de) * 1996-08-08 1999-11-18 Europ Lab Molekularbiolog Konfokales Mikroskop
JP3509088B2 (ja) * 1997-02-25 2004-03-22 株式会社高岳製作所 3次元形状計測用光学装置
DE19720513A1 (de) 1997-05-16 1998-11-19 Daniel Huber Anordnung zur Erzeugung von dünnen Lichtebenen für die photographische Erfassung von Objekten
DE19834279C2 (de) * 1998-07-30 2002-09-26 Europ Lab Molekularbiolog Kompaktes Einzelobjektiv Theta-Mikroskop
US20030002148A1 (en) 1998-10-24 2003-01-02 Johann Engelhardt Arrangement for optically scanning an object
DE10257423A1 (de) 2002-12-09 2004-06-24 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) Mikroskop
DE102004034958A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-09 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und/oder Detektion in einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
US7679741B2 (en) * 2006-03-01 2010-03-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and microscope for high spatial resolution examination of samples
JP4759425B2 (ja) * 2006-03-28 2011-08-31 オリンパス株式会社 多光子励起型観察装置
EP2093601B1 (en) * 2006-12-12 2013-03-13 Nikon Corporation Microscope device and image processing method
DE102007063274B8 (de) * 2007-12-20 2022-12-15 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
DE102008018476B4 (de) 2008-04-11 2022-12-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskopievorrichtung
US9134521B2 (en) * 2008-07-30 2015-09-15 The Regents Of The University Of California Multidirectional selective plane illumination microscopy
JP5208825B2 (ja) * 2008-09-12 2013-06-12 オリンパス株式会社 光学顕微鏡
NL2004803A (en) * 2009-06-11 2010-12-15 Asml Netherlands Bv Inspection method and apparatus, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method.
DE102009044986A1 (de) * 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
KR101105658B1 (ko) * 2010-03-23 2012-01-18 (주)로고스바이오시스템스 현미경 모듈
DE102012214568A1 (de) 2012-08-16 2014-02-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung und ein Mikroskop

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003524194A (ja) * 1998-10-24 2003-08-12 ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー 対象物を光学的に走査するための装置
JP2006030992A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh 顕微鏡観察および/または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用
WO2010012980A1 (en) * 2008-07-31 2010-02-04 Imperial Innovations Limited Optical arrangement for oblique plane microscopy

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015526764A (ja) * 2012-08-16 2015-09-10 ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 光学装置及び顕微鏡
JP2016535861A (ja) * 2013-06-18 2016-11-17 ライカ マイクロシステムズ ツェーエムエス ゲーエムベーハー 顕微鏡で複数のサンプルを検査するための光学装置および方法
US10620419B2 (en) 2013-07-10 2020-04-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Arrangement for light sheet microscopy
JP2016525228A (ja) * 2013-07-10 2016-08-22 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 光シート顕微鏡検査用の装置
JP2016529558A (ja) * 2013-08-28 2016-09-23 イマジン・オプチック 側方照明顕微鏡システム及び顕微方法
JP2016540989A (ja) * 2013-12-17 2016-12-28 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH 光学的投影トモグラフィを用いて試料を検査する方法および装置
JP2015203708A (ja) * 2014-04-10 2015-11-16 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP2017530408A (ja) * 2014-09-25 2017-10-12 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH ミラーデバイス
US10768399B2 (en) 2014-09-25 2020-09-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Mirror device
JP2017003748A (ja) * 2015-06-09 2017-01-05 オリンパス株式会社 シート照明顕微鏡、及び、シート照明顕微鏡の照明方法
US11215804B2 (en) 2016-04-08 2022-01-04 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope and method for imaging a sample
JP2019511013A (ja) * 2016-04-08 2019-04-18 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH 試料を結像する顕微鏡および方法
JP7003056B2 (ja) 2016-04-08 2022-01-20 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 試料を結像する顕微鏡および方法
WO2019167408A1 (ja) * 2018-02-28 2019-09-06 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
JP2019148732A (ja) * 2018-02-28 2019-09-05 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
CN111771150A (zh) * 2018-02-28 2020-10-13 浜松光子学株式会社 光片显微镜以及试样观察方法
GB2585292A (en) * 2018-02-28 2021-01-06 Hamamatsu Photonics Kk Light sheet microscope and sample observation method
JP7114272B2 (ja) 2018-02-28 2022-08-08 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
GB2585292B (en) * 2018-02-28 2022-08-10 Hamamatsu Photonics Kk Light sheet microscope and sample observation method
JP2022145737A (ja) * 2018-02-28 2022-10-04 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
JP7336573B2 (ja) 2018-02-28 2023-08-31 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
US11966035B2 (en) 2018-02-28 2024-04-23 Hamamatsu Photonics K.K. Light sheet microscope and sample observation method

Also Published As

Publication number Publication date
DE102011054914A1 (de) 2013-05-02
CN103091825B (zh) 2018-05-11
EP2587295B1 (de) 2020-04-01
CN103091825A (zh) 2013-05-08
JP6276913B2 (ja) 2018-02-07
JP6154389B2 (ja) 2017-06-28
CN104054014A (zh) 2014-09-17
GB201407406D0 (en) 2014-06-11
US20130107358A1 (en) 2013-05-02
US9104020B2 (en) 2015-08-11
US9772481B2 (en) 2017-09-26
GB2509664A (en) 2014-07-09
WO2013060644A1 (de) 2013-05-02
EP2587295A1 (de) 2013-05-01
CN104054014B (zh) 2017-06-23
GB2509664B (en) 2018-10-03
JP2014531060A (ja) 2014-11-20
US20140300958A1 (en) 2014-10-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6276913B2 (ja) 試料を照明する方法及びシステム
US11604342B2 (en) Microscopy devices, methods and systems
JP6145250B2 (ja) 走査顕微鏡および対象物を光学顕微鏡で結像させるための方法
JP5642301B2 (ja) 走査型顕微鏡、および試料の光学検鏡画像形成のための方法
JP5525136B2 (ja) シート光を発生するための光学装置
US8773760B2 (en) Multi-point scan architecture
JP6035018B2 (ja) 連続的な光シートを用いるspim顕微鏡
US10007100B2 (en) Light sheet illumination microscope and light sheet illumination method
JP6580029B2 (ja) 顕微鏡試料の撮像および操作方法、ならびに光学配置
JP6417262B2 (ja) シート照明顕微鏡
JP6209329B2 (ja) 顕微鏡照明系および方法
CN105874317B (zh) 用于借助于光学投影断层扫描术研究样品的方法和设备
US11428916B2 (en) Light sheet microscope
JP6552043B2 (ja) シート照明顕微鏡
US11835701B2 (en) Method for examining a sample, and device for carrying out such a method
JP5734758B2 (ja) レーザー顕微鏡
US11366299B2 (en) Method and lighting arrangement for illuminating a sample layer with a light sheet
JP5443939B2 (ja) レーザ照明装置、及び、それを備えたレーザ顕微鏡
JP2023519720A (ja) 解像度を改善するための斜め平面顕微鏡用の光学アセンブリ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151009

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160830

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20161129

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20170127

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170530

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20170829

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20171027

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171130

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171219

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180115

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6276913

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250