JP2013088392A - 測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】測定値に対する演算処理を行うことのできる測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部２に実行させる測定制御手段と、測定条件に従って測定部２が測定した測定値を使用して、タッチパネル１０に表示されている、演算式入力設定窓２３の入力操作領域２３ａを操作して、予め設定された演算式表示領域２３ｂに表示されている演算式で演算を行う演算手段とを備えるものである。
【選択図】図５

Description

本発明は、予め設定された測定条件に従って測定を行う測定装置に関する。

インピーダンス、インダクタンス、静電容量、抵抗などを測定する測定装置が、従来から電気部品や電気製品の製造ライン、検査ラインや使用現場で用いられている。このような測定装置の中には、例えば特許文献１に記載されているように、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を所定の順序で実行して、これらの測定処理毎の測定結果を表示部に表示させる測定装置がある。

このように、測定条件に従って複数の測定処理を順次連続的に行うようにすることで、測定を短時間かつ簡便に行うことができる。例えば、第１測定処理として測定対象物の静電容量Ｃ及び損失係数Ｄを測定周波数１ｋＨｚで測定後、第２測定処理として測定対象物のインピーダンスの絶対値及びインピーダンスの位相角の周波数特性を１ｋＨｚ〜１００ｋＨｚで測定するというように測定条件を予め設定しておくことで、測定中に測定条件を変更設定することなく、複数の測定値を得ることができる。

特開２００６−３４３１１１号公報

前述した従来の測定装置を用いて、例えば、変圧器として用いられるトランスの巻き線比を測定する場合、第１測定処理としてトランスの一次側のインダクタンスを測定し、第２測定処理としてトランスの二次側のインダクタンスを測定するように測定条件を設定しておく。測定者は、測定後に表示部に表示された２つのインダクタンスを用いて、巻き線比を演算して求めることができる。

しかしながら、得られた測定値に対して、測定者が演算を行う作業は煩雑である。

本発明は前記の課題を解決するためになされたもので、測定値に対する演算処理を実行することのできる測定装置を提供することを目的とする。

前記の目的を達成するためになされた、特許請求の範囲の請求項１に記載された測定装置は、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部に実行させる測定制御手段と、該測定条件に従って該測定部が測定した測定値を使用して、予め設定された演算式で演算を行う演算手段とを備えることを特徴とする。

請求項２に記載された測定装置は、請求項１に記載のもので、前記演算式を入力設定するための演算式設定手段を備えることを特徴とする。

請求項３に記載された測定装置は、請求項１又は２に記載のもので、前記予め設定された演算式が、トランスの巻き線比、トランスの相互インダクタンス、及びトランスの一次側と二次側とのインダクタンス差、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスの少なくともいずれかを算出するための該演算式であることを特徴とする。

請求項４に記載された測定装置は、請求項１から３のいずれかに記載のもので、前記測定条件を入力設定するための測定条件設定手段を備えることを特徴とする。

請求項５に記載された測定装置は、請求項１から４のいずれかに記載のもので、検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、前記演算手段の演算結果に対し、該検査条件に基づいて検査を行う検査手段とをさらに備えることを特徴とする。

本発明の測定装置によれば、演算手段が複数の測定処理で得られた測定値を使用して、予め設定された演算式で演算が自動的に行われる。このため、測定者が演算する煩雑な作業が不要になり、測定値に対する演算結果を極めて簡便かつ迅速に得ることができる。

また、測定装置が演算式を入力設定するための演算式設定手段を備える場合、測定者が任意の演算式を設定することができるので、汎用性の高い測定装置になる。

また、予め設定された演算式で、トランスの巻き線比、トランスの相互インダクタンス、及びトランスの一次側と二次側とのインダクタンス差、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスの少なくともいずれかを算出できると、便利である。

また、測定装置が測定条件を入力設定するための測定条件設定手段を備える場合、汎用性の高い測定装置になる。

また、測定装置が検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、演算手段の演算結果に対し、検査条件に基づいて検査を行う検査手段とを備える場合、演算結果に対して検査を自動的に実行することができるので、測定者が演算結果を見て判断するよりも、迅速に検査することができると共に、検査ミスが防止されるので正しく検査することができる。

本発明を適用する測定装置の一例であるインピーダンス測定装置１の測定状態を示すブロック図である。 インピーダンス測定装置１のタッチパネル１０に表示された「測定・演算結果表示画面」に、処理番号００１の「測定条件設定・演算式設定選択窓」が表示されている例を示す概要図である。 インピーダンス測定装置１のタッチパネル１０に「測定条件設定窓」が表示されている例を示す概要図である。 インピーダンス測定装置１のタッチパネル１０に処理番号００３の「測定条件設定・演算式設定選択窓」が表示されている例を示す概要図である。 インピーダンス測定装置１のタッチパネル１０に「演算式入力設定窓」が表示されている例を示す概要図である。 トランスの等価回路図である。 インピーダンス測定装置１のタッチパネル１０に「測定・演算結果表示画面」が表示された例を示す概要図である。 相互インダクタンスの測定時におけるトランスの接続について説明するための等価回路図である。 インピーダンス測定装置１のタッチパネル１０に「検査機能設定窓」が表示された例を示す概要図である。

以下、本発明の実施例を詳細に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施例に限定されるものではない。

本発明を適用する測定装置の一例として、インピーダンス測定装置１の構成を図１に示す。このインピーダンス測定装置１は、測定部２、ＣＰＵ（中央演算処理装置）３、メモリ４、タッチパネル１０を筐体内に備えて、一体型の測定装置になっている。このインピーダンス測定装置１は、予めメモリ４に設定された測定条件に基づく複数の測定処理を所定の順序で実行して、ＤＵＴ（測定対象物）９０のパラメータを測定し、これらの測定処理毎の測定結果をタッチパネル１０に表示すると共に、これらの測定値に対してメモリ４に予め記憶された演算式で演算し、その演算結果をタッチパネル１０に表示可能に構成されているものである。一体型の測定装置で構成すると、持ち運びが簡便に行えて、設置スペースも少なくてよいにもかかわらず、測定値に対する演算結果を得ることができるので、極めて便利である。

測定部２は、ＣＰＵ３から設定される測定条件で測定処理を実行し、その測定結果である測定値をＣＰＵ３に出力可能に構成されている。例えば、測定部２は、図示しないが測定用信号源や電圧検出部、電流検出部、パラメータ測定処理部などを有している。測定部２は、同図に示すように、ＤＵＴ９０の両端に接触させたプローブ２ａ、プローブ２ｂを介して、ＣＰＵ３から設定された測定周波数及び測定レベルで測定用電流をＤＵＴ９０に流す。また、測定部２は、流れた測定電流を検出すると共に、その測定用電流によって発生したＤＵＴ９０の両端電圧を検出し、検出した測定用電流及び両端電圧から、ＤＵＴ９０のパラメータを測定処理（パラメータを演算）し、その測定値をＣＰＵ３に出力する。パラメータを演算するパラメータ測定処理部は、ＣＰＵ３と兼用されていてもよい。測定部２は、同図に示すように、２端子法でＤＵＴ９０のパラメータを測定するものであってもよいし、４端子法や公知の他の方法でパラメータを測定するものであってもよい。

測定部２が測定可能なパラメータとしては、具体的には例えば、抵抗Ｒ、静電容量Ｃ、インダクタンスＬ、複素インピーダンスＺ、インピーダンスの絶対値|Ｚ|（以下において「インピーダンス|Ｚ|」ともいう）、インピーダンスの位相角θ、リアクタンスＸ、複素アドミタンスＹ、アドミタンスの絶対値｜Ｙ｜（以下において「アドミタンス|Ｙ|」ともいう）、アドミタンスの位相角φ、コンダクタンスＧ、サセプタンスＢであったり、抵抗、コンデンサ、及びコイルを直列接続した直列等価回路における直列等価抵抗Ｒｓ、直列等価静電容量Ｃｓ、直列等価インダクタンスＬｓであったり、抵抗、コンデンサ、及びコイルを並列接続した並列等価回路における並列等価抵抗Ｒｐ、並列等価静電容量Ｃｐ、並列等価インダクタンスＬｐであったり、Ｑ（Ｑファクタ）や損失係数Ｄ（Ｄ＝１／Ｑ＝ｔａｎδ）であったり、直流抵抗Ｒｄｃなどの電気的な特性値である。測定部２が一度の測定で測定するパラメータは、タッチパネル１０の操作により、任意に複数（例えば２つ）選択可能になっている。

ＣＰＵ３は、メモリ４に記憶されているプログラムに従って動作して、インピーダンス測定装置１の各部の動作を統括的に制御する。また、ＣＰＵ３は、本発明における測定制御手段及び演算手段を兼ねている。ＣＰＵ３は、測定制御手段として、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を所定の順序で測定部２に実行させる。また、ＣＰＵ３は、演算手段として、測定部２の測定した測定値に対し、メモリ４に記憶されている演算式で演算を行う。また、ＣＰＵ３は、タッチパネル１０に画像を表示させ、タッチパネル１０で操作された内容を判別する。

メモリ４は、例えば、プログラムを記憶するＲＯＭ（リードオンリーメモリ）、ＣＰＵ３の作業エリアとなるＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、及び、測定条件、演算式、測定値、及び各種設定値を記憶する例えばフラッシュＲＯＭなどの書き換え可能な不揮発性メモリ（いずれも図示せず）で構成されている。メモリ４として、書き換え可能な磁気ディスク記録装置であるハードディスクを用いてもよい。

タッチパネル１０は、表示部５及び操作部６を兼ねており、液晶パネルやＣＲＴなどの表示装置と、タッチパッドなどの位置入力装置とが組み合わされていて、画像を表示すると共に、指や専用ペン等が画面に触れたときに、その触れた画面上の位置情報をＣＰＵ３に出力する。なお、表示部５として液晶パネルなどの表示装置を用い、操作部６としてキーボードなどの入力装置を用いてもよい。

次に、インピーダンス測定装置１の動作について説明する。

インピーダンス測定装置１を動作させるにあたり、まず、所定の順序で実行する複数の測定処理の測定条件を設定すると共に、この測定条件で測定処理して得られる複数の測定値を使用して演算を実行するための演算式を設定する。

このインピーダンス測定装置１では、処理番号００１、００２・・・ごとに測定条件又は演算式を設定できるようになっていて、ＣＰＵ３は、処理番号００１、００２・・・の順序（本発明における所定の順序）で、測定処理や演算処理を実行する。

図２に、ＣＰＵ３がタッチパネル１０に「測定・演算結果表示画面」を表示させている例を示す。この「測定・演算結果表示画面」は、測定処理して得られた測定値や演算処理して得られた演算結果を各処理番号に対応させて表示させる画面である。また、「測定・演算結果表示画面」は、各処理番号における測定条件や演算式を入力するためにも用いられる。

測定処理番号００１の測定条件を設定する場合、図２に示すように、測定処理番号００１を示す「００１」欄付近を測定者が指１００でタッチする（触る）。ＣＰＵ３は、この操作を検出して、測定条件を設定するか演算式を設定するか選択するための「測定条件設定・演算式設定選択窓２１」をタッチパネル１０に表示させる。この「測定条件設定・演算式設定選択窓２１」には、一例として、処理番号（Ｎｏ．００１）、測定条件設定ボタン２１ａ、及び演算式設定ボタン２１ｂを表示させる。

測定者が測定条件を入力設定するために測定条件設定ボタン２１ａをタッチすると、ＣＰＵ３は、図３に示すように、「測定条件設定窓２２」を表示させる。「測定条件設定窓２２」には、各種測定条件を入力設定するために、一例として、パラメータ設定ボタン２２ａ、測定周波数設定ボタン２２ｂ、信号レベル設定ボタン２２ｃ、レンジ設定ボタン２２ｄ、トリガ設定ボタン２２ｅ、連続／停止設定ボタン２２ｆを表示させる。

測定者によってパラメータ設定ボタン２２ａがタッチされると、ＣＰＵ３は、前述した測定部２が複数のパラメータを表示させて、その中から測定を行うパラメータを測定者が選択できるようなパラメータ選択窓（図示せず）を表示させる。ここでは、パラメータとして、すでにインダクタンスＬが選択されている例を示す。測定者によって測定周波数設定ボタン２２ｂや信号レベル設定ボタン２２ｃがタッチされると、ＣＰＵ３は、測定周波数や信号レベルを設定するための数値キー（図示せず）を表示させる。測定周波数や信号レベルとして、１ポイントの値だけでなく、下限値及び上限値を設定して、下限値から上限値まで、又は上限値から下限値までスイープさせる設定とすることもできる。測定者によってレンジ設定ボタン２２ｄがタッチされると、ＣＰＵ３は、入力信号レベルに対応させて適切なレンジに自動的に切り換えるオートレンジ機能、又は、測定レンジを固定するホールドレンジ機能を選択するための選択用ボタンや、ホールドレンジ機能時にどのレンジに固定するか選択するためのレンジ選択用ボタン（図示せず）などを表示させる。測定者によってトリガ設定ボタン２２ｅがタッチされると、ＣＰＵ３は、外部トリガ、内部トリガ、及びトリガレベルを設定するためのボタンや数値キー（図示せず）などを表示させる。

測定者によって連続／停止設定ボタン２２ｆがタッチされると、連続して次の処理を行う連続設定ボタン、又は、処理を行った後停止して、再開ボタンが操作されたときに、次の処理を行う停止設定ボタン（図示せず）を表示させる。ＤＵＴ９０の測定端子を繋ぎ直したり、ＤＵＴ９０に付属品を取り付けたりしてから測定を行う必要があるときは、処理が一時停止するように停止設定とする。処理番号００１では、一例として、停止設定とする。一時停止する必要がない場合には、連続設定とする。

「測定条件設定窓２２」や各ボタン２２ａ〜２２ｆ、及び各ボタン２２ａ〜２２ｆを選択したときに表示される選択用の窓や数値キーや選択用のボタン等が、本発明における測定条件設定手段に相当する。なお、測定条件を設定することは従来から行われているので、詳細な説明は省略する。また、測定条件はこれらに限定されず、例えば、測定値を複数測定して平均化する平均化回数や、測定のサンプリング時間など、他の測定条件を設定できるようにしてもよい。

ＣＰＵ３は、上記で設定された測定条件を処理番号００１に対応づけてメモリ４に記憶させる。

処理番号００２に測定条件を設定する場合も、処理番号００１と同様に設定を行う。処理番号００２では、一例として、連続／停止設定ボタン２２ｆで連続設定とする。

処理番号００３に演算式を設定する場合、図４に示すように、測定処理番号００２の下の位置、つまり「００３」欄が追加される位置を測定者が指１００でタッチする（触る）。ＣＰＵ３は、この操作を検出して、測定条件を設定するか演算式を設定するか選択するための「測定条件設定・演算式設定選択窓２１」をタッチパネル１０に表示させる。この「測定条件設定・演算式設定選択窓２１」には、一例として、処理番号（Ｎｏ.００３）、測定条件設定ボタン２１ａ、及び演算式設定ボタン２１ｂを表示させる。

測定者が演算式を入力設定するために演算式設定ボタン２１ｂをタッチすると、ＣＰＵ３は、図５に示すように、「演算式入力設定窓２３」をタッチパネル１０に表示させる。「演算式入力設定窓２３」には、演算式を入力するため入力操作領域２３ａ、及び入力された演算式を表示する演算式表示領域２３ｂを表示させる。入力操作領域２３ａには、一例として、数値入力用の０〜９、Ｅなどの数値キー；「＋」、「−」、「＊」、「／」などの四則演算用の演算子；絶対値を求める関数「ＡＢＳ」、指数関数「ＥＸＰ」、対数関数「ＬＯＧ」、平方根を求める関数「ＳＲＱ」、移動平均演算用の関数「ＭＯＶ」、平均値演算用の関数「ＳＬＩ」、差分演算用の関数「ＤＩＦ」、小数点以下を切り捨てて整数化する関数「ＩＮＴ」、微分演算用の関数「ＤＩＦ２」、積分演算用の関数「ＩＮＴ２」などの演算子；「ＳＩＮ」、「ＣＯＳ」、「ＴＡＮ」、「ＡＣＯＳ」、「ＡＴＡＮ」などの三角関数に関連する演算子を表示させる。表示させる演算子はこれに限られず、他の関数用の演算子を表示するようにしてもよい。この演算式入力設定窓２３が、本発明における演算式設定手段に相当する。

同図では、処理番号００３に、処理番号００２の測定値と処理番号００１の測定値との差分を演算する演算式である、「Ｎｏ.００３＝Ｎｏ.００２−Ｎｏ.００１」が設定されている例を示している。

ＣＰＵ３は、設定された演算式を処理番号００３に対応づけてメモリ４に記憶させる。

測定を行う場合、測定者は、ＤＵＴ９０をセットしてから、タッチパネル１０に表示された開始／再開ボタン２０をタッチする。

例えば、図６に示されたトランスをＤＵＴ９０として、その一次側のインダクタンスＬ１と二次側のインダクタンスＬ２とを測定し、その差分のインダクタンスＬｄを演算する場合について説明する。

測定者は、先ず、トランスの一次側端子ａ１，ａ２に、プローブ２ａ、プローブ２ｂ（図１参照）を接触させて、図７に示すタッチパネル１０の開始／再開ボタン２０をタッチする。この操作により、ＣＰＵ３（測定制御手段）は、メモリ４に記憶されている処理番号００１の測定条件で、インダクタンスＬ１の測定処理を実行し、その測定値を、図７の「測定・演算結果表示画面」に示すように、タッチパネル１０の処理番号００１の欄に表示すると共に、メモリ４に記憶させる。また、ＣＰＵ３（測定制御手段）は、停止設定に設定されていることから、測定を一時停止する。

続いて、測定者は、トランスの二次側端子ｂ１，ｂ２に、プローブ２ａ、プローブ２ｂ（図１参照）を接触させて、タッチパネル１０の開始／再開ボタン２０をタッチする。この操作により、ＣＰＵ３（測定制御手段）は、処理番号００２の測定条件で、インダクタンスＬ２の測定処理を実行し、その測定値を、図７に示すように、タッチパネル１０の処理番号００２の欄に表示すると共に、メモリ４に記憶させる。

続いて、ＣＰＵ３（演算手段）は、処理条件００３に設定された演算式で演算処理を行い、その演算結果をタッチパネル１０に表示させる。具体的には、メモリ４に記憶されている処理条件００２で測定された測定値から処理条件００１で測定された測定値を減算して、その演算結果を、図７に示すように、タッチパネル１０の処理番号００３の欄に表示する。

このように、二次側のインダクタンスＬ２とトランスの一次側のインダクタンスＬ１との差分を、測定者が演算することなく、自動的に得ることができる。

なお、図６に示したトランスの巻き線比Ｎを演算する場合には、処理条件００１，００２はそのままで、処理条件００３に、
Ｎ＝√（Ｌ１／Ｌ２）
を演算する演算式を設定する。具体的には、「演算式入力設定窓２３」を操作して、演算式として「Ｎｏ.００３＝ＳＲＱ（Ｎｏ.００１／Ｎｏ.００２）」を設定する。処理番号００１〜００３を実行すると、タッチパネル１０の「００３」欄に、巻き線比Ｎの演算結果が表示される。

また、トランスの相互インダクタンスＭを求める場合には、処理条件００１では、図８（ａ）に示す同相直列接続となるように接続してから、端子ａ２，ｂ２間のインダクタンスＬａを測定し、処理条件００２では、図８（ｂ）に示す逆相直列接続で端子ａ２、ｂ１間のインダクタンスＬｂを測定する。

処理条件００３には、
Ｍ＝（Ｌａ−Ｌｂ）／４
を演算する演算式を設定する。具体的には、「演算式入力設定窓２３」を操作して、演算式として「Ｎｏ.００３＝（Ｎｏ.００１−Ｎｏ.００２）／４」を設定する。処理番号００１〜００３を実行すると、タッチパネル１０の「００１」欄にインダクタンスＬａの測定結果が表示され、「００２」欄にインダクタンスＬｂの測定結果が表示され、「００３」欄に相互インダクタンスＭの演算結果が表示される。

また、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスＺｃを、１０ｋＨｚ〜１ＭＨｚの周波数の範囲で求める場合には、処理条件００１に、測定条件として、測定周波数を１０ｋＨｚ〜１ＭＨｚの範囲でスイープさせ、その範囲のインピーダンスＺ（Ｚｏ）を測定するように設定する。処理条件００２に、測定条件として、測定周波数を１０ｋＨｚ〜１ＭＨｚの範囲でスイープさせ、その範囲のインピーダンスＺ（Ｚｓ）を測定するように設定する。

処理条件００３に、
特性インピーダンスＺｃ＝√（Ｚｏ×Ｚｓ）
を演算する演算式を設定する。具体的には、「演算式入力設定窓２３」を操作して、演算式として「Ｎｏ.００３＝ＳＲＱ（Ｎｏ.００１＊Ｎｏ.００２）」を設定する。測定を行うときに、測定処理００１では、信号伝送ケーブルの片側をオープンにしてインピーダンスＺｏを測定し、測定処理００２では、信号伝送ケーブルの片側をショートにしてインピーダンスＺｓを測定する。処理番号００１〜００３を実行すると、１０ｋＨｚ〜１ＭＨｚの範囲の特性インピーダンスＺｃが得られる。得られた特性インピーダンスＺｃの周波数特性を、タッチパネル１０に、数値で表示させてもよいし、グラフで表示させてもよい。

なお、演算結果をタッチパネル１０に表示する例について説明したが、表示させることなく、又は表示と共に、インピーダンス測定装置１に接続したコンピュータやプリンタなどの機器に外部出力するようにしてもよい。

また、測定者が「演算式入力設定窓２３」を操作して、演算式を手動で設定する例について説明したが、トランスの一次側のインダクタンスＬ１と二次側のインダクタンスＬ２との差分、トランスの巻き線比Ｎ、トランスの相互インダクタンスＭ、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスＺｓを求める演算式などのように、一般的に使用される可能性の高い１つ又は複数の所定の演算式を、例えばインピーダンス測定装置１の製造当初からメモリ４に記憶させておき、その中から任意の演算式を、タッチパネル１０の操作で選択できるようにしてもよい。このように測定装置の製造当初に所定の演算式をメモリ４に記憶させておく場合、演算式設定手段を設けてもよいし、必要性に応じて演算式設定手段を設けなくてもよい。

さらに、このように演算式を選択できるようにする場合、各演算式に対応させて測定条件もメモリ４に記憶させておき、演算式を選択すると、対応する測定条件も合わせて設定させるようにすることが好ましい。例えば、トランスの相互インピーダンスＭを測定するための項目（ボタン）をタッチパネル１０で選択すると、ＣＰＵ３は、メモリ４に記憶されている測定条件や演算式を読み込んで、処理番号００１，００２に測定条件（前述した測定条件）を設定すると共に、処理番号００３に演算式（前述した演算式）を設定する。周波数などの測定条件は、メモリ４に記憶させておいたデフォルト値又は前回設定値を設定するようにしておき、変更が必要な場合に、測定条件設定手段を操作して測定者が手動で変更する。変更する必要性がない場合には、測定条件設定手段を設けなくてもよい。このようにしておくと、測定（演算）項目を選択するだけで、簡便かつ迅速に、測定条件や演算式を設定することができる。なお、製造当初から測定条件や演算式がメモリ４に記憶されていても、さらに測定者が測定条件設定手段や演算式設定手段を操作して、任意の測定条件や任意の演算式を入力設定できるようにすることが好ましい。

また、測定者が任意の測定条件や演算式を予め入力設定してメモリ４に記憶させておき、後でタッチパネル１０の操作で選択できるようにしてもよい。

また、インピーダンス測定装置１は、検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、演算手段の演算結果に対し、検査条件に基づいて検査を行う検査手段とをさらに備えていてもよい。

具体的に説明すると、図７に示す処理番号００３欄の検査領域１８が測定者にタッチされると、ＣＰＵ３は、図９に示すように、検査機能設定窓４１をタッチパネル１０に表示させる。この検査機能設定窓４１が、本発明における検査条件設定手段に相当する。

この検査機能設定窓４１は、処理番号００３で演算処理した演算結果の検査条件として、検査用上限値４３ａ及び検査用下限値４３ｂを設定するための窓である。検査用上限値４３ａ及び検査用下限値４３ｂのいずれか一方だけ設定してもよい。検査用上限値４３ａを設定するときには、ＨＩボタン４２ａをタッチしてから、数値設定キー４４で値を設定する。検査用下限値４３ｂを設定するときには、ＬＯボタン４２ｂをタッチしてから、数値設定キー４４で値を設定する。検査用上限値４３ａ又は検査用下限値４３ｂを設定しないときにはＯＦＦに設定する。

このように検査用上限値４３ａや検査用下限値４３ｂを測定前に予め設定しておくと、ＣＰＵ３（検査手段）は、処理番号００３の演算結果が、検査用上限値４３ａや検査用下限値４３ｂの範囲内に入るか否かを判定（検査）して、その検査結果を、図７の検査領域１８に表示させる。例えば、ＣＰＵ３（検査手段）は、演算結果が検査用上限値４３ａ及び検査用下限値４３ｂの範囲内であれば、検査領域１８にＩＮの文字を表示させ、演算結果が検査用上限値４３ａよりも大きいときにはＨＩの文字を表示させ、演算結果が検査用下限値４３ｂよりも小さいときにはＬＯの文字を表示させる。

このように、演算結果に対する検査機能を有することで、演算結果を簡便に検査することができる。

なお、処理番号００１、００２で一つのパラメータ（インダクタンス）について測定する例について説明したが、処理番号００１、００２でそれぞれ複数（例えば２つ）のパラメータ（例えばインダクタンス及びＱファクタ）について測定し、処理番号００３でそれぞれのパラメータの測定値を使用して演算を行うように演算式を設定してもよい。

また測定処理を処理番号００１、００２の２つに設定した例について説明したが、この数は例えば５つのように任意に複数設定することができる。また、演算式を処理番号００３に１つ設定した例について説明したが、例えば、処理番号００３にインダクタンスＬ２、Ｌ１の差分を演算する演算式を設定し、処理番号００４にトランスの巻き線比Ｎを演算する演算式を設定するというように、複数の処理番号に演算式を設定してもよい。また、演算式を設定した後の処理番号に、測定条件を設定してもよいし、さらにその後の処理番号に演算式を設定してもよい。また、処理番号００１に測定条件を設定し、処理番号００２に演算式を設定してもよい。

また、測定装置の例として、インピーダンス測定装置１について説明したが、測定装置であればこれに限定されず、例えば、デジタルマルチメータ、電流測定装置、電圧測定装置、電力測定装置、ＬＣＲメータ、抵抗測定装置、静電容量測定装置、Ｑメータ、絶縁抵抗測定装置などに本発明を適用してもよい。

１はインピーダンス測定装置、２は測定部、２ａ・２ｂはプローブ、３はＣＰＵ、４はメモリ、５は表示部、６は操作部、１０はタッチパネル、１８は検査領域、２０は開始／再開ボタン、２１は測定条件設定・演算式設定選択窓、２１ａは測定条件設定ボタン、２１ｂは演算式設定ボタン、２２は測定条件設定窓、２２ａはパラメータ設定ボタン、２２ｂは測定周波数設定ボタン、２２ｃは信号レベル設定ボタン、２２ｄはレンジ設定ボタン、２２ｅはトリガ設定ボタン、２２ｆは連続／停止設定ボタン、２３は演算式入力設定窓、２３ａは入力操作領域、２３ｂは演算式表示領域、４１は検査機能設定窓、４２ａはＨＩボタン、４２ｂはＬＯボタン、４３ａは検査用上限値、４３ｂは検査用下限値、４４は数値設定キー、９０はＤＵＴ、１００は指、ａ１・ａ２はトランスの一次側端子、ｂ１・ｂ２はトランスの二次側端子、Ｌ１はトランスの一次側のインダクタンス、Ｌ２はトランスの二次側のインダクタンス、Ｌａはトランスの同相直列接続のインダクタンス、Ｌｂはトランスの逆相直列接続のインダクタンスである。

Claims (5)

1. 予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部に実行させる測定制御手段と、
   該測定条件に従って該測定部が測定した測定値を使用して、予め設定された演算式で演算を行う演算手段とを備えることを特徴とする測定装置。
2. 前記演算式を入力設定するための演算式設定手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
3. 前記予め設定された演算式が、トランスの巻き線比、トランスの相互インダクタンス、及びトランスの一次側と二次側とのインダクタンス差、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスの少なくともいずれかを算出するための該演算式であることを特徴とする請求項１又は２に記載の測定装置。
4. 前記測定条件を入力設定するための測定条件設定手段を備えることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の測定装置。
5. 検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、
   前記演算手段の演算結果に対し、該検査条件に基づいて検査を行う検査手段とをさらに備えることを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の測定装置。

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