JP2013015868A5 - - Google Patents

Description

上記問題点を解決するために、一実施形態に記載の発明は、表示パネルに表示させる画像信号を供給するとともに、表示パネルに表示された各画素の輝度を測定する測定手段から測定値を取得する制御手段を備えたパネル評価システムであって、前記制御手段が、前記測定手段から、外光が遮蔽された暗室である測定エリアに設置された前記表示パネルがバックライト消灯状態での輝度の測定値を取得する手段と、前記測定値が基準値以上の場合には外光の写り込みがあると判断して、各画素の輝度むらの測定の中止指示を出力し、前記基準値未満の場合には外光の写り込みがないと判断して、各画素の輝度むらを測定するための画像信号を前記表示パネルに供給し、前記測定手段により、この画像信号に対応した輝度を測定する表示パネル測定処理を実行する手段とを備えたことを要旨とする。

一実施形態に記載の他の発明は、表示パネルに表示させる画像信号を供給するとともに、表示パネルに表示された各画素の輝度を測定する測定手段から測定値を取得する制御手段を備えたパネル評価システムを用いて、表示パネルを評価する方法であって、前記制御手段が、前記測定手段から、外光が遮蔽された暗室である測定エリアに設置された前記表示パネルがバックライト消灯状態での輝度の測定値を取得する段階と、前記測定値が基準値以上の場合には外光の写り込みがあると判断して、各画素の輝度むらの測定の中止指示を出力し、前記基準値未満の場合には外光の写り込みがないと判断して、各画素の輝度むらを測定するための画像信号を前記表示パネルに供給し、前記測定手段により、この画像信号に対応した輝度を測定する表示パネル測定処理を実行する段階とを実行することを要旨とする。

Claims (4)

1. 表示パネルに表示させる画像信号を供給するとともに、表示パネルに表示された各画素の輝度を測定する測定手段から測定値を取得する制御手段を備えたパネル評価システムであって、
   前記制御手段が、
   前記測定手段から、外光が遮蔽された暗室である測定エリアに設置された前記表示パネルがバックライト消灯状態での輝度の測定値を取得する手段と、
   前記測定値が基準値以上の場合には外光の写り込みがあると判断して、各画素の輝度むらの測定の中止指示を出力し、
   前記基準値未満の場合には外光の写り込みがないと判断して、各画素の輝度むらを測定するための画像信号を前記表示パネルに供給し、前記測定手段により、この画像信号に対応した輝度を測定する表示パネル測定処理を実行する手段と
   を備えたことを特徴とするパネル評価システム。
2. 各画素の輝度むらの測定において、前記表示パネルに対して同じ画像信号を供給しているときに、輝度の変動を検知した場合には、各画素の輝度むらの測定の中止指示を出力することを特徴とする請求項１に記載のパネル評価システム。
3. 同じ画像信号において輝度変動を検知した場合には、予め定められた範囲の測定結果をリセットし、この範囲の画像信号を前記表示パネルに再度供給し、再測定を行なうことを特徴とする請求項２に記載のパネル評価システム。
4. 表示パネルに表示させる画像信号を供給するとともに、表示パネルに表示された各画素の輝度を測定する測定手段から測定値を取得する制御手段を備えたパネル評価システムを用いて、表示パネルを評価する方法であって、
   前記制御手段が、
   前記測定手段から、外光が遮蔽された暗室である測定エリアに設置された前記表示パネルがバックライト消灯状態での輝度の測定値を取得する段階と、
   前記測定値が基準値以上の場合には外光の写り込みがあると判断して、各画素の輝度むらの測定の中止指示を出力し、
   前記基準値未満の場合には外光の写り込みがないと判断して、各画素の輝度むらを測定するための画像信号を前記表示パネルに供給し、前記測定手段により、この画像信号に対応した輝度を測定する表示パネル測定処理を実行する段階と
   を実行することを特徴とするパネル評価方法。