JP2012521561A - バッテリー電圧の影響を受けない絶縁抵抗測定回路 - Google Patents
バッテリー電圧の影響を受けない絶縁抵抗測定回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012521561A JP2012521561A JP2012501935A JP2012501935A JP2012521561A JP 2012521561 A JP2012521561 A JP 2012521561A JP 2012501935 A JP2012501935 A JP 2012501935A JP 2012501935 A JP2012501935 A JP 2012501935A JP 2012521561 A JP2012521561 A JP 2012521561A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- source
- battery
- insulation resistance
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000009413 insulation Methods 0.000 title claims abstract description 102
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims description 39
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/16—Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/025—Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
- G01R31/3835—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC involving only voltage measurements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/396—Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Electric Propulsion And Braking For Vehicles (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路は、バッテリーのプラス端子及び第２
ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結される第１ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス
端子及び前記第１ソース抵抗に連結される前記第２ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と
、前記第１ソース抵抗の電圧を第１電圧としてセンシングし、前記第２ソース抵抗の電圧
を第２電圧としてセンシングする電圧センシング部と、前記第１電圧及び前記第２電圧間
の差を前記第１電圧及び前記第２電圧の合計で除した値により前記バッテリーの絶縁抵抗
を測定する絶縁抵抗測定部と、を含む。
【選択図】図１
ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結される第１ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス
端子及び前記第１ソース抵抗に連結される前記第２ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と
、前記第１ソース抵抗の電圧を第１電圧としてセンシングし、前記第２ソース抵抗の電圧
を第２電圧としてセンシングする電圧センシング部と、前記第１電圧及び前記第２電圧間
の差を前記第１電圧及び前記第２電圧の合計で除した値により前記バッテリーの絶縁抵抗
を測定する絶縁抵抗測定部と、を含む。
【選択図】図１
Description
本発明は、絶縁抵抗測定回路に関し、より詳細には、一つ以上の単電源演算増幅器（Ｏ
ｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）によりバッテリーの正極絶
縁破壊及び負極絶縁破壊時に前記一つ以上の演算増幅器を介してセンシング（ｓｅｎｓｉ
ｎｇ）される電圧をバッテリー電圧を基準に判断することで、バッテリー電圧に関する情
報なしにより簡単に絶縁抵抗を測定することができ、電圧を増幅し増幅後電圧から既定の
基準電圧を減算することで、より精密に絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定回路に関する
。
ｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）によりバッテリーの正極絶
縁破壊及び負極絶縁破壊時に前記一つ以上の演算増幅器を介してセンシング（ｓｅｎｓｉ
ｎｇ）される電圧をバッテリー電圧を基準に判断することで、バッテリー電圧に関する情
報なしにより簡単に絶縁抵抗を測定することができ、電圧を増幅し増幅後電圧から既定の
基準電圧を減算することで、より精密に絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定回路に関する
。
高電圧バッテリーを使用するハイブリッドカーは非常時に自動にメイン高電圧バッテリ
ーの電源を遮断するシステムを備えている。前記非常時とは、関連部品の老朽化による過
度な漏電、絶縁破壊などと外部の衝撃による部品破壊から生じるショートによる過度な漏
電、絶縁破壊などを意味する。
ーの電源を遮断するシステムを備えている。前記非常時とは、関連部品の老朽化による過
度な漏電、絶縁破壊などと外部の衝撃による部品破壊から生じるショートによる過度な漏
電、絶縁破壊などを意味する。
車両は、非常時にＢＭＳ（ＢＡＴＴＥＲＹ ＭＡＮＡＧＥＭＥＮＴ ＳＹＳＴＥＭ）や
ＨＣＵ（ＨＹＢＲＩＤ ＣＯＮＴＲＯＬ ＵＮＩＴ）などの高電圧部品を制御する上位の
部品でメイン電源を遮断するように命令を下して電源を制御する。前記高電圧関連部品は
電源を連結する線路の電圧及び電流を一連のプログラムまたはセンサーによりモニタリン
グし、正常範囲から外れた電圧及び電流が検出されたり許容値以上のリーク電流がある場
合、また、許容値以上の絶縁抵抗破壊などがある場合に、ＣＡＮ通信またはシグナル送信
を介してメイン電源を遮断する。
ＨＣＵ（ＨＹＢＲＩＤ ＣＯＮＴＲＯＬ ＵＮＩＴ）などの高電圧部品を制御する上位の
部品でメイン電源を遮断するように命令を下して電源を制御する。前記高電圧関連部品は
電源を連結する線路の電圧及び電流を一連のプログラムまたはセンサーによりモニタリン
グし、正常範囲から外れた電圧及び電流が検出されたり許容値以上のリーク電流がある場
合、また、許容値以上の絶縁抵抗破壊などがある場合に、ＣＡＮ通信またはシグナル送信
を介してメイン電源を遮断する。
このように、高電圧バッテリーを使用するハイブリッドカーにおいて絶縁抵抗の測定は
非常に重要である。高電圧バッテリーとハイブリッドカーとの間のリーク電流を測定する
方法を用いて絶縁を破壊し、直流電流を無理に流す方法があるが、このような方法は絶縁
抵抗を測定する間に絶縁が破壊されるという短所がある。
非常に重要である。高電圧バッテリーとハイブリッドカーとの間のリーク電流を測定する
方法を用いて絶縁を破壊し、直流電流を無理に流す方法があるが、このような方法は絶縁
抵抗を測定する間に絶縁が破壊されるという短所がある。
これを解決するために高電圧バッテリーとハイブリッドカーとの間に結合コンデンサを
連結し、前記結合コンデンサに交流信号を印加して絶縁抵抗の成分を測定する方法がある
。しかし、前記方法もまた結合コンデンサを充電する電流と放電する電流が同じ回路を通
過しなければならないため、回路設計に制約が多いという短所がある。
連結し、前記結合コンデンサに交流信号を印加して絶縁抵抗の成分を測定する方法がある
。しかし、前記方法もまた結合コンデンサを充電する電流と放電する電流が同じ回路を通
過しなければならないため、回路設計に制約が多いという短所がある。
そのため、ハイブリッドカーのシャーシグラウンドと高電圧バッテリーとの間の絶縁抵
抗測定において、より簡単で正確に絶縁抵抗を測定できる小型化、軽量化、及び低コスト
化した絶縁抵抗測定回路の開発が要求されている。
抗測定において、より簡単で正確に絶縁抵抗を測定できる小型化、軽量化、及び低コスト
化した絶縁抵抗測定回路の開発が要求されている。
本発明は、前記のような従来技術を改善するために導き出されたものであり、一つ以上
の単電源演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）に
よりバッテリーの正極絶縁破壊及び負極絶縁破壊時に前記一つ以上の演算増幅器を介して
センシング（ｓｅｎｓｉｎｇ）される電圧を、バッテリー電圧を基準に判断することで、
バッテリー電圧に関する情報なしにより簡単に絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定回路を
提供することを目的とする。
の単電源演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）に
よりバッテリーの正極絶縁破壊及び負極絶縁破壊時に前記一つ以上の演算増幅器を介して
センシング（ｓｅｎｓｉｎｇ）される電圧を、バッテリー電圧を基準に判断することで、
バッテリー電圧に関する情報なしにより簡単に絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定回路を
提供することを目的とする。
また、本発明は、電圧を増幅し、増幅後電圧から既定の基準電圧を減算することで、よ
り精密に絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定回路を提供することを目的とする。
り精密に絶縁抵抗を測定できる絶縁抵抗測定回路を提供することを目的とする。
前記の目的を達成し、従来技術の問題点を解決するために、本発明の一実施例による絶
縁抵抗測定回路は、バッテリーのプラス端子及び第２ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結
される第１ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス端子及び前記第１ソース抵抗に連結
される前記第２ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と、前記第１ソース抵抗の電圧を第１
電圧としてセンシングし、前記第２ソース抵抗の電圧を第２電圧としてセンシングする電
圧センシング部と、前記第１電圧及び前記第２電圧間の差を前記第１電圧及び前記第２電
圧の合計で除した値により前記バッテリーの絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定部と、を含
む。
縁抵抗測定回路は、バッテリーのプラス端子及び第２ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結
される第１ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス端子及び前記第１ソース抵抗に連結
される前記第２ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と、前記第１ソース抵抗の電圧を第１
電圧としてセンシングし、前記第２ソース抵抗の電圧を第２電圧としてセンシングする電
圧センシング部と、前記第１電圧及び前記第２電圧間の差を前記第１電圧及び前記第２電
圧の合計で除した値により前記バッテリーの絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定部と、を含
む。
また、本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路は、バッテリーのプラス端子及び第２
ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結される第１ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス
端子及び前記第１ソース抵抗に連結される前記第２ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と
、非反転端子及び反転端子を介して前記第１ソース抵抗に連結され、前記第１ソース抵抗
に印加される第１ソース電圧を前記第１電圧としてセンシングして出力端子を介して前記
第１電圧を出力する第１演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌ
ｉｆｉｅｒ）と、非反転端子及び反転端子を介して前記第２ソース抵抗に連結され、前記
第２ソース抵抗に印加される第２ソース電圧を前記第２電圧としてセンシングして出力端
子を介して前記第２電圧を出力する第２演算増幅器と、前記第１演算増幅器の出力端子及
び前記第２演算増幅器の出力端子にそれぞれ連結され、前記第１電圧及び第２電圧をそれ
ぞれデジタル信号に変換して第１電圧信号及び第２電圧信号を出力するアナログデジタル
変換部と、前記第１電圧信号の第１電圧及び前記第２電圧信号の第２電圧間の差を、前記
第１電圧信号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電圧の合計で除した値によ
り前記バッテリーの絶縁抵抗を測定するマイクロコントローラと、を含む。
ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結される第１ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス
端子及び前記第１ソース抵抗に連結される前記第２ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と
、非反転端子及び反転端子を介して前記第１ソース抵抗に連結され、前記第１ソース抵抗
に印加される第１ソース電圧を前記第１電圧としてセンシングして出力端子を介して前記
第１電圧を出力する第１演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌ
ｉｆｉｅｒ）と、非反転端子及び反転端子を介して前記第２ソース抵抗に連結され、前記
第２ソース抵抗に印加される第２ソース電圧を前記第２電圧としてセンシングして出力端
子を介して前記第２電圧を出力する第２演算増幅器と、前記第１演算増幅器の出力端子及
び前記第２演算増幅器の出力端子にそれぞれ連結され、前記第１電圧及び第２電圧をそれ
ぞれデジタル信号に変換して第１電圧信号及び第２電圧信号を出力するアナログデジタル
変換部と、前記第１電圧信号の第１電圧及び前記第２電圧信号の第２電圧間の差を、前記
第１電圧信号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電圧の合計で除した値によ
り前記バッテリーの絶縁抵抗を測定するマイクロコントローラと、を含む。
本発明の絶縁抵抗測定回路によると、一つ以上の単電源演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏ
ｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）によりバッテリーの正極絶縁破壊及び負極
絶縁破壊時に前記一つ以上の演算増幅器を介してセンシング（ｓｅｎｓｉｎｇ）される電
圧を、バッテリー電圧を基準に判断することで、バッテリー電圧に関する情報なしに、よ
り簡単に絶縁抵抗を測定できる効果を得ることができる。
ｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）によりバッテリーの正極絶縁破壊及び負極
絶縁破壊時に前記一つ以上の演算増幅器を介してセンシング（ｓｅｎｓｉｎｇ）される電
圧を、バッテリー電圧を基準に判断することで、バッテリー電圧に関する情報なしに、よ
り簡単に絶縁抵抗を測定できる効果を得ることができる。
また、本発明の絶縁抵抗測定回路によると、電圧を増幅し、増幅後電圧から既定の基準
電圧を減算することで、より精密に絶縁抵抗を測定できる効果を得ることができる。
電圧を減算することで、より精密に絶縁抵抗を測定できる効果を得ることができる。
以下、添付された図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路の構成を図示した回路図である。
図１に図示されたように、本発明の一実施例による絶縁抵抗測定アナログ回路は、バッ
テリー１０１、絶縁抵抗１０２、ソース抵抗部１０３、１０４、電圧センシング部１１０
、及び絶縁抵抗測定部１２０を含む。
テリー１０１、絶縁抵抗１０２、ソース抵抗部１０３、１０４、電圧センシング部１１０
、及び絶縁抵抗測定部１２０を含む。
本発明の一実施例によると、図１に図示されたように、ソース抵抗部は、第１ソース抵
抗１０３及び第２ソース抵抗１０４を含む。また、電圧センシング部１１０は、第１回路
ユニット１１１及び第２回路ユニット１１２を含む。また、絶縁抵抗測定部１２０は、第
１減算器１２１、加算器１２２、絶対値回路１２３、除算器１２４、電圧ソース１２５、
第２減算器１２６、増幅器１２７、基準電圧出力器１２８、第３減算器１２９を含む。
抗１０３及び第２ソース抵抗１０４を含む。また、電圧センシング部１１０は、第１回路
ユニット１１１及び第２回路ユニット１１２を含む。また、絶縁抵抗測定部１２０は、第
１減算器１２１、加算器１２２、絶対値回路１２３、除算器１２４、電圧ソース１２５、
第２減算器１２６、増幅器１２７、基準電圧出力器１２８、第３減算器１２９を含む。
前記ソース抵抗部は、バッテリー１０１のプラス端子及び第２ソース（ｓｏｕｒｃｅ）
抵抗１０４に連結される第１ソース抵抗１０３と、バッテリー１０１のマイナス端子及び
第１ソース抵抗１０３に連結される第２ソース抵抗１０４と、を含む。即ち、図１に図示
されたように、第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０１のプ
ラス端子に連結され、第２ソース抵抗（Ｒｓ）１０４は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０
１のマイナス端子に連結されることができる。第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３及び第２ソ
ース抵抗（Ｒｓ）１０４は接地により連結されることができる。
抵抗１０４に連結される第１ソース抵抗１０３と、バッテリー１０１のマイナス端子及び
第１ソース抵抗１０３に連結される第２ソース抵抗１０４と、を含む。即ち、図１に図示
されたように、第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０１のプ
ラス端子に連結され、第２ソース抵抗（Ｒｓ）１０４は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０
１のマイナス端子に連結されることができる。第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３及び第２ソ
ース抵抗（Ｒｓ）１０４は接地により連結されることができる。
電圧センシング部１１０は、第１ソース抵抗１０３の電圧を第１電圧としてセンシング
し、第２ソース抵抗１０４の電圧を第２電圧としてセンシングする。前記のように、電圧
センシング部１１０は、第１回路ユニット１１１及び第２回路ユニット１１２を含む。
し、第２ソース抵抗１０４の電圧を第２電圧としてセンシングする。前記のように、電圧
センシング部１１０は、第１回路ユニット１１１及び第２回路ユニット１１２を含む。
第１回路ユニット１１１は、第１演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ
Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を含む。前記第１演算増幅器の非反転端子及び反転端子は、それ
ぞれ第１ソース抵抗１０３の両端に連結されることができる。第１回路ユニット１１１は
、前記第１演算増幅器を介して第１ソース抵抗１０３に印加される第１ソース電圧を前記
第１電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記第１電圧を出力することができる。
Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を含む。前記第１演算増幅器の非反転端子及び反転端子は、それ
ぞれ第１ソース抵抗１０３の両端に連結されることができる。第１回路ユニット１１１は
、前記第１演算増幅器を介して第１ソース抵抗１０３に印加される第１ソース電圧を前記
第１電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記第１電圧を出力することができる。
第２回路ユニット１１２は、第２演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ
Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を含む。前記第２演算増幅器の非反転端子及び反転端子はそれぞ
れ第２ソース抵抗１０４の両端に連結されることができる。第２回路ユニット１１２は、
前記第２演算増幅器を介して第２ソース抵抗１０４に印加される第２ソース電圧を前記第
２電圧としてセンシングして出力端子を介して前記第２電圧を出力することができる。
Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を含む。前記第２演算増幅器の非反転端子及び反転端子はそれぞ
れ第２ソース抵抗１０４の両端に連結されることができる。第２回路ユニット１１２は、
前記第２演算増幅器を介して第２ソース抵抗１０４に印加される第２ソース電圧を前記第
２電圧としてセンシングして出力端子を介して前記第２電圧を出力することができる。
絶縁抵抗測定部１２０は、前記第１電圧及び前記第２電圧間の差を前記第１電圧及び前
記第２電圧の合計で除した値によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定する。前記
のように、絶縁抵抗測定部１２０は、第１減算器１２１、加算器１２２、絶対値回路１２
３、除算器１２４、電圧ソース１２５、第２減算器１２６、増幅器１２７、基準電圧出力
器１２８、第３減算器１２９を含む。
記第２電圧の合計で除した値によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定する。前記
のように、絶縁抵抗測定部１２０は、第１減算器１２１、加算器１２２、絶対値回路１２
３、除算器１２４、電圧ソース１２５、第２減算器１２６、増幅器１２７、基準電圧出力
器１２８、第３減算器１２９を含む。
第１減算器１２１は、前記第１演算増幅器の出力端子及び前記第２演算増幅器の出力端
子にそれぞれ連結されることができる。第１減算器１２１は、前記第１演算増幅器の出力
端子から出力される前記第１電圧と、前記第２演算増幅器の出力端子から出力される前記
第２電圧の入力を受けて、前記第１電圧を前記第２電圧で減算して得られる第３電圧を出
力する。
子にそれぞれ連結されることができる。第１減算器１２１は、前記第１演算増幅器の出力
端子から出力される前記第１電圧と、前記第２演算増幅器の出力端子から出力される前記
第２電圧の入力を受けて、前記第１電圧を前記第２電圧で減算して得られる第３電圧を出
力する。
加算器１２２は、前記第１演算増幅器の出力端子及び前記第２演算増幅器の出力端子に
それぞれ連結されることができる。加算器１２２は、前記第１演算増幅器の出力端子から
出力される前記第１電圧と、前記第２演算増幅器の出力端子から出力される前記第２電圧
の入力を受けて、前記第１電圧に前記第２電圧を加算して得られる第４電圧を出力する。
それぞれ連結されることができる。加算器１２２は、前記第１演算増幅器の出力端子から
出力される前記第１電圧と、前記第２演算増幅器の出力端子から出力される前記第２電圧
の入力を受けて、前記第１電圧に前記第２電圧を加算して得られる第４電圧を出力する。
絶対値回路１２３は、加算器１２２の出力端子に連結されることができ、加算器１２２
の出力端子から前記第４電圧の入力を受けて、前記第４電圧の絶対値を第５電圧として出
力する。
の出力端子から前記第４電圧の入力を受けて、前記第４電圧の絶対値を第５電圧として出
力する。
除算器１２４は、第１減算器１２１の出力端子及び前記第２演算増幅器の出力端子にそ
れぞれ連結されることができる。除算器１２４は、第１減算器１２１から出力される前記
第３電圧と、絶対値回路１２３から出力される前記第５電圧の入力を受けて、前記第３電
圧を前記第５電圧で除して得られる第６電圧を出力する。
れぞれ連結されることができる。除算器１２４は、第１減算器１２１から出力される前記
第３電圧と、絶対値回路１２３から出力される前記第５電圧の入力を受けて、前記第３電
圧を前記第５電圧で除して得られる第６電圧を出力する。
第２減算器１２６は、除算器１２４の出力端子及び電圧ソース１２５の出力端子にそれ
ぞれ連結されることができる。第２減算器１２６は、除算器１２４から出力される前記第
６電圧と、電圧ソース１２５から出力される前記第７電圧の入力を受けて、前記第６電圧
から前記第７電圧を減算して得られる第８電圧を出力する。
ぞれ連結されることができる。第２減算器１２６は、除算器１２４から出力される前記第
６電圧と、電圧ソース１２５から出力される前記第７電圧の入力を受けて、前記第６電圧
から前記第７電圧を減算して得られる第８電圧を出力する。
絶縁抵抗測定部１２０は、絶縁抵抗１０２をより精密に測定するために増幅器１２７、
基準電圧出力器１２８及び第３減算器１２９のうち何れか一つ以上をさらに含むことがで
きる。
基準電圧出力器１２８及び第３減算器１２９のうち何れか一つ以上をさらに含むことがで
きる。
増幅器１２７は、第２減算器１２４の出力端子に連結されることができ、第２減算器１
２４の出力端子から前記第８電圧の入力を受けて、前記第８電圧と増幅器１２７の電圧利
得Ｇとを乗じて前記第８電圧を増幅して得られる第９電圧を出力する。
２４の出力端子から前記第８電圧の入力を受けて、前記第８電圧と増幅器１２７の電圧利
得Ｇとを乗じて前記第８電圧を増幅して得られる第９電圧を出力する。
第３減算器１２９は、増幅器１２７の出力端子及び基準電圧出力器１２８の出力端子に
それぞれ連結されることができる。第３減算器１２９は、増幅器１２７から出力される前
記第９電圧と、基準電圧出力器１２８から出力される前記第１０電圧の入力を受けて、前
記第９電圧から前記第１０電圧を減算して得られる第１１電圧を出力する。
それぞれ連結されることができる。第３減算器１２９は、増幅器１２７から出力される前
記第９電圧と、基準電圧出力器１２８から出力される前記第１０電圧の入力を受けて、前
記第９電圧から前記第１０電圧を減算して得られる第１１電圧を出力する。
絶縁抵抗測定部１２０は、前記第１電圧及び前記第２電圧間の差を前記第１電圧及び前
記第２電圧の合計で除した値によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することが
できる。これについては以下の実施例を参照してより詳細に説明する。
記第２電圧の合計で除した値によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することが
できる。これについては以下の実施例を参照してより詳細に説明する。
図１に図示されたように、バッテリー１０１の電圧をＶ、バッテリー１０１の絶縁抵抗
１０２をＲｉｓｏ、第１ソース抵抗１０３及び第２ソース抵抗１０４の抵抗値をそれぞれ
Ｒｓ、第１回路ユニット１１１から出力される前記第１電圧をＶ１、第２回路ユニット１
１２から出力される前記第２電圧をＶ２、第１減算器１２１から出力される前記第３電圧
をＶ３、加算器１２２から出力される前記第４電圧をＶ４とする。
１０２をＲｉｓｏ、第１ソース抵抗１０３及び第２ソース抵抗１０４の抵抗値をそれぞれ
Ｒｓ、第１回路ユニット１１１から出力される前記第１電圧をＶ１、第２回路ユニット１
１２から出力される前記第２電圧をＶ２、第１減算器１２１から出力される前記第３電圧
をＶ３、加算器１２２から出力される前記第４電圧をＶ４とする。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第１電圧は、数式（１）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第２電圧は数式（２）のとおりで
ある。
ある。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第３電圧は数式（３）のとおりで
ある。
ある。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第４電圧は数式（４）のとおりで
ある。
ある。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第１電圧は数式（５）のとおりで
ある。
ある。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第２電圧は数式（６）のとおりで
ある。
ある。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第３電圧は数式（７）のとおりで
ある。
ある。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第４電圧は数式（８）のとおりで
ある。
ある。
数式（１）〜数式（８）を参照すると、バッテリー１０１の正極絶縁破壊時または負極
絶縁破壊時に両方とも前記第５電圧は、
［数式１］
であり、前記第６電圧は、
［数式２］
と測定されることができる。
絶縁破壊時に両方とも前記第５電圧は、
［数式１］
であり、前記第６電圧は、
［数式２］
と測定されることができる。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時または負極絶縁破壊時に測定される前記第８電圧は
数式（９）のとおりである。
数式（９）のとおりである。
数式（９）の第８電圧によりバッテリー１０１の絶縁抵抗を測定することができる。即
ち、第８電圧において、Ｒｓ及びＲは固定された抵抗値であるため、前記第８電圧はバッ
テリー１０１の絶縁抵抗１０２であるＲｉｓｏの値に比例して変化する。従って、前記第
８電圧の測定によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することができる。
ち、第８電圧において、Ｒｓ及びＲは固定された抵抗値であるため、前記第８電圧はバッ
テリー１０１の絶縁抵抗１０２であるＲｉｓｏの値に比例して変化する。従って、前記第
８電圧の測定によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することができる。
より精密に絶縁抵抗１０２を測定するために、前記第８電圧と増幅器１２７の電圧利得
Ｇとを乗じて前記第９電圧を算出することができ、前記第９電圧は数式（１０）のとおり
である。
Ｇとを乗じて前記第９電圧を算出することができ、前記第９電圧は数式（１０）のとおり
である。
より精密に絶縁抵抗１０２を測定するために、ユーザから基準電圧の入力を受けて、前
記第９電圧から前記基準電圧を減算して前記第１１電圧を算出することができ、前記第１
１電圧は数式（１１）のとおりである。
記第９電圧から前記基準電圧を減算して前記第１１電圧を算出することができ、前記第１
１電圧は数式（１１）のとおりである。
このように、数式（１１）の第１１電圧によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測
定することができる。即ち、数式（１１）におけるＲｓ、Ｒ、Ｇ及びＶ１０は固定値であ
るため、第１１電圧は絶縁抵抗１０２の値であるＲｉｓｏに比例して変化されることがで
きる。従って、前記第１１電圧の測定によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定す
ることができる。
定することができる。即ち、数式（１１）におけるＲｓ、Ｒ、Ｇ及びＶ１０は固定値であ
るため、第１１電圧は絶縁抵抗１０２の値であるＲｉｓｏに比例して変化されることがで
きる。従って、前記第１１電圧の測定によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定す
ることができる。
図１を参照して説明した本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路は、ワンチップ（Ｏ
ＮＥ−ＣＨＩＰ）として実装されてよい。即ち、ソース抵抗部１０３、１０４、電圧セン
シング部１１０、及び絶縁抵抗測定部１２０は、当業界において広く使用される様々な種
類のワンチップ（ＯＮＥ−ＣＨＩＰ）、即ち一つの半導体チップとして実装することがで
きる。
ＮＥ−ＣＨＩＰ）として実装されてよい。即ち、ソース抵抗部１０３、１０４、電圧セン
シング部１１０、及び絶縁抵抗測定部１２０は、当業界において広く使用される様々な種
類のワンチップ（ＯＮＥ−ＣＨＩＰ）、即ち一つの半導体チップとして実装することがで
きる。
ここまで図１を参照して本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路の構成及び動作を説
明した。本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路は、絶縁抵抗測定部１２０が減算器や
除算器などを含むアナログ回路に実装することができる。一方、本発明の他の実施例によ
ると、前記アナログ回路に実装される絶縁抵抗測定部１２０の代わりにマイクロコントロ
ーラを含むデジタル回路に実装されることができる。これは図２を参照して説明する。
明した。本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路は、絶縁抵抗測定部１２０が減算器や
除算器などを含むアナログ回路に実装することができる。一方、本発明の他の実施例によ
ると、前記アナログ回路に実装される絶縁抵抗測定部１２０の代わりにマイクロコントロ
ーラを含むデジタル回路に実装されることができる。これは図２を参照して説明する。
図２は、本発明の他の実施例による絶縁抵抗測定回路の構成を図示した回路図である。
本発明の他の実施例による絶縁抵抗測定回路は、マイクロコントローラを含むデジタル
回路に実装されることができる。
回路に実装されることができる。
図２に図示されたように、本発明の一実施例による絶縁抵抗測定デジタル回路は、バッ
テリー１０１、絶縁抵抗１０２、ソース抵抗部１０３、１０４、第１演算増幅器１１１、
第２演算増幅器１１２、アナログデジタル変換部１３０、及びマイクロコントローラ１４
０を含む。
テリー１０１、絶縁抵抗１０２、ソース抵抗部１０３、１０４、第１演算増幅器１１１、
第２演算増幅器１１２、アナログデジタル変換部１３０、及びマイクロコントローラ１４
０を含む。
本発明の一実施例によると、図２に図示されたように、ソース抵抗部は第１ソース抵抗
１０３及び第２ソース抵抗１０４を含む。
１０３及び第２ソース抵抗１０４を含む。
前記ソース抵抗部は、バッテリー１０１のプラス端子及び第２ソース（ｓｏｕｒｃｅ）
抵抗１０４に連結される第１ソース抵抗１０３と、バッテリー１０１のマイナス端子及び
第１ソース抵抗１０３に連結される第２ソース抵抗１０４と、を含む。即ち、図１に図示
されたように、第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０１のプ
ラス端子に連結され、第２ソース抵抗（Ｒｓ）１０４は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０
１のマイナス端子に連結されることができる。第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３及び第２ソ
ース抵抗（Ｒｓ）１０４は接地により連結されることができる。
抵抗１０４に連結される第１ソース抵抗１０３と、バッテリー１０１のマイナス端子及び
第１ソース抵抗１０３に連結される第２ソース抵抗１０４と、を含む。即ち、図１に図示
されたように、第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０１のプ
ラス端子に連結され、第２ソース抵抗（Ｒｓ）１０４は、抵抗Ｒを介してバッテリー１０
１のマイナス端子に連結されることができる。第１ソース抵抗（Ｒｓ）１０３及び第２ソ
ース抵抗（Ｒｓ）１０４は接地により連結されることができる。
第１演算増幅器１１１の非反転端子及び反転端子は、それぞれ第１ソース抵抗１０３の
両端に連結されることができる。第１演算増幅器１１１は、第１ソース抵抗１０３に印加
される第１ソース電圧を前記第１電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記第１電
圧を出力することができる。
両端に連結されることができる。第１演算増幅器１１１は、第１ソース抵抗１０３に印加
される第１ソース電圧を前記第１電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記第１電
圧を出力することができる。
第２演算増幅器１１２の非反転端子及び反転端子は、それぞれ第２ソース抵抗１０４の
両端に連結されることができる。第２演算増幅器１１２は、第２ソース抵抗１０４に印加
される第２ソース電圧を前記第２電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記第２電
圧を出力することができる
両端に連結されることができる。第２演算増幅器１１２は、第２ソース抵抗１０４に印加
される第２ソース電圧を前記第２電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記第２電
圧を出力することができる
アナログデジタル変換部１３０は、第１演算増幅器１１１から出力される前記第１電圧
と、第２演算増幅器１１２から出力される前記第２電圧の入力を受けて、前記第１電圧及
び前記第２電圧をそれぞれデジタル信号に変換し、第１電圧信号及び第２電圧信号を出力
することができる。
と、第２演算増幅器１１２から出力される前記第２電圧の入力を受けて、前記第１電圧及
び前記第２電圧をそれぞれデジタル信号に変換し、第１電圧信号及び第２電圧信号を出力
することができる。
マイクロコントローラ１４０は、前記第１電圧信号の第１電圧及び前記第２電圧信号の
第２電圧間の差を、前記第１電圧信号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電
圧の合計で除した値によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することができる。
第２電圧間の差を、前記第１電圧信号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電
圧の合計で除した値によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することができる。
マイクロコントローラ１４０は、アナログデジタル変換部１３０から、前記第１電圧信
号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電圧の入力をそれぞれ受けて、前記第
１電圧信号の前記第１電圧から前記第２電圧信号の前記第２電圧を減算して得られた第３
電圧、前記第１電圧に前記第２電圧を加算して得られた第４電圧、前記第４電圧の絶対値
を有する第５電圧、前記第３電圧を前記第５電圧で除して得られた第６電圧、１Ｖの電圧
を有する第７電圧、及び前記第６電圧から前記第７電圧を減算して得られた第８電圧を算
出し、前記第８電圧によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することができる。
号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電圧の入力をそれぞれ受けて、前記第
１電圧信号の前記第１電圧から前記第２電圧信号の前記第２電圧を減算して得られた第３
電圧、前記第１電圧に前記第２電圧を加算して得られた第４電圧、前記第４電圧の絶対値
を有する第５電圧、前記第３電圧を前記第５電圧で除して得られた第６電圧、１Ｖの電圧
を有する第７電圧、及び前記第６電圧から前記第７電圧を減算して得られた第８電圧を算
出し、前記第８電圧によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定することができる。
マイクロコントローラ１４０は、絶縁抵抗１０２をより精密に測定するために前記第８
電圧を既定（ｐｒｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ）値で増幅して得られた第９電圧、既定の基準
電圧値を有する第１０電圧、及び前記第９電圧から前記第１０電圧を減算して得られた第
１１電圧を算出し、前記第１１電圧によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定する
ことができる。これについては以下の実施例を参照してより詳細に説明する。
電圧を既定（ｐｒｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ）値で増幅して得られた第９電圧、既定の基準
電圧値を有する第１０電圧、及び前記第９電圧から前記第１０電圧を減算して得られた第
１１電圧を算出し、前記第１１電圧によりバッテリー１０１の絶縁抵抗１０２を測定する
ことができる。これについては以下の実施例を参照してより詳細に説明する。
図２に図示されたように、バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第１電
圧は数式（１２）のとおりである。
圧は数式（１２）のとおりである。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第２電圧は数式（１３）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第３電圧は数式（１４）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時に測定される前記第４電圧は数式（１５）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第１電圧は数式（１６）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第２電圧は数式（１７）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第３電圧は数式（１８）のとおり
である。
である。
バッテリー１０１の負極絶縁破壊時に測定される前記第４電圧は数式（１９）のとおり
である。
である。
数式（１２）〜数式（１９）を参照すると、バッテリー１０１の正極絶縁破壊時または
負極絶縁破壊時に両方とも前記第５電圧は、
［数式１］
であり、前記第６電圧は、
［数式２］
と測定されることができる。
負極絶縁破壊時に両方とも前記第５電圧は、
［数式１］
であり、前記第６電圧は、
［数式２］
と測定されることができる。
バッテリー１０１の正極絶縁破壊時または負極絶縁破壊時に測定される前記第８電圧は
数式（２０）のとおりである。
数式（２０）のとおりである。
より精密に絶縁抵抗１０２を測定するために、マイクロコントローラ１４０は、前記第
８電圧を既定（ｐｒｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ）値で増幅した第９電圧を算出することがで
き、前記第９電圧は数式（２１）のとおりである。
８電圧を既定（ｐｒｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ）値で増幅した第９電圧を算出することがで
き、前記第９電圧は数式（２１）のとおりである。
さらに精密に絶縁抵抗１０２を測定するために、マイクロコントローラ１４０は、既定
の基準電圧値を有する第１０電圧、及び前記第９電圧から前記第１０電圧を減算して得ら
れた第１１電圧を算出することができ、前記第１１電圧は数式（２２）のとおりである。
の基準電圧値を有する第１０電圧、及び前記第９電圧から前記第１０電圧を減算して得ら
れた第１１電圧を算出することができ、前記第１１電圧は数式（２２）のとおりである。
従って、絶縁抵抗測定部１２０またはマイクロコントローラ１４０を介してバッテリー
１０１の絶縁抵抗（Ｒｉｓｏ）１０２を測定することができる。即ち、ハイブリッド（ｈ
ｙｂｒｉｄ）カーの高電圧バッテリーとして実装することができるバッテリー１０１の正
極と負極の絶縁破壊を、一つの信号として判断して絶縁抵抗１０２を測定することで、よ
り簡単な方法で、より精密に絶縁抵抗１０２を測定することができる。
１０１の絶縁抵抗（Ｒｉｓｏ）１０２を測定することができる。即ち、ハイブリッド（ｈ
ｙｂｒｉｄ）カーの高電圧バッテリーとして実装することができるバッテリー１０１の正
極と負極の絶縁破壊を、一つの信号として判断して絶縁抵抗１０２を測定することで、よ
り簡単な方法で、より精密に絶縁抵抗１０２を測定することができる。
図２を参照して説明した本発明の他の実施例による絶縁抵抗測定回路は、ワンチップ（
ＯＮＥ−ＣＨＩＰ）として実装することができる。即ち、ソース抵抗部１０３、１０４、
第１演算増幅器１１１、第２演算増幅器１１２、アナログデジタル変換部１３０、及びマ
イクロコントローラ１４０は、当業界において広く使用される様々な種類のワンチップ（
ＯＮＥ−ＣＨＩＰ）、即ち一つの半導体チップとして実装することができる。
ＯＮＥ−ＣＨＩＰ）として実装することができる。即ち、ソース抵抗部１０３、１０４、
第１演算増幅器１１１、第２演算増幅器１１２、アナログデジタル変換部１３０、及びマ
イクロコントローラ１４０は、当業界において広く使用される様々な種類のワンチップ（
ＯＮＥ−ＣＨＩＰ）、即ち一つの半導体チップとして実装することができる。
以上、本発明は、限定された実施例と図面により説明されているが、本発明は前記の実
施例に限定されるものではなく、これは本発明が属する分野において通常の知識を有する
者であれば、このような記載から様々な修正及び変形を行うことができる。従って、本発
明の思想は、添付の特許請求範囲のみを通じて把握しなければならず、その均等または等
価的な変形は、全て本発明の思想の範疇に属するといえる。
施例に限定されるものではなく、これは本発明が属する分野において通常の知識を有する
者であれば、このような記載から様々な修正及び変形を行うことができる。従って、本発
明の思想は、添付の特許請求範囲のみを通じて把握しなければならず、その均等または等
価的な変形は、全て本発明の思想の範疇に属するといえる。
Claims (16)
- バッテリーのプラス端子及び第２ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結される第１ソース
抵抗と、前記バッテリーのマイナス端子及び前記第１ソース抵抗に連結される前記第２ソ
ース抵抗と、を含むソース抵抗部と、
前記第１ソース抵抗の電圧を第１電圧としてセンシングし、前記第２ソース抵抗の電圧
を第２電圧としてセンシングする電圧センシング部と、
前記第１電圧及び前記第２電圧間の差を前記第１電圧及び前記第２電圧の合計で除した
値により前記バッテリーの絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定部と、を含むことを特徴とす
る絶縁抵抗測定回路。 - 前記電圧センシング部は、
非反転端子及び反転端子を介して前記第１ソース抵抗に連結され、前記第１ソース抵抗
に印加される第１ソース電圧を前記第１電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記
第１電圧を出力する第１演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌ
ｉｆｉｅｒ）と、
非反転端子及び反転端子を介して前記第２ソース抵抗に連結され、前記第２ソース抵抗
に印加される第２ソース電圧を前記第２電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記
第２電圧を出力する第２演算増幅器と、を含むことを特徴とする請求項１に記載の絶縁抵
抗測定回路。 - 前記絶縁抵抗測定部は、
前記第１演算増幅器の出力端子及び前記第２演算増幅器の出力端子にそれぞれ連結され
、前記第１演算増幅器から出力される前記第１電圧を前記第２演算増幅器から出力される
前記第２電圧で減算して得られる第３電圧を出力する第１減算器と、
前記第１演算増幅器の前記出力端子及び前記第２演算増幅器の前記出力端子にそれぞれ
連結され、前記第１演算増幅器から出力される前記第１電圧に前記第２演算増幅器から出
力される前記第２電圧を加算して得られる第４電圧を出力する加算器と、
前記加算器の出力端子に連結され、前記第４電圧の絶対値を有する第５電圧を出力する
絶対値回路と、
前記減算器及び前記絶対値回路にそれぞれ連結され、前記減算器から出力される前記第
３電圧を前記絶対値回路から出力される前記第５電圧で除して得られる第６電圧を出力す
る除算器と、
１Ｖの電圧を有する第７電圧を出力する電圧ソースと、
前記除算器及び前記電圧ソースにそれぞれ連結され、前記除算器から出力される前記第
６電圧から、前記電圧ソースから出力される前記第７電圧を減算して得られる第８電圧を
出力する第２減算器と、を含むことを特徴とする請求項２に記載の絶縁抵抗測定回路。 - 前記絶縁抵抗測定部は、
前記第２減算器に連結され、前記第２減算器から出力される前記第８電圧を既定（ｐｒ
ｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ）値で増幅して得られる第９電圧を出力する増幅器と、
既定の基準電圧値を有する第１０電圧を出力する基準電圧出力器と、
前記増幅器及び前記基準電圧出力器にそれぞれ連結され、前記増幅器から出力される前
記第９電圧から、前記基準電圧出力器から出力される前記第１０電圧を減算して得られる
第１１電圧を出力する第３減算器と、をさらに含むことを特徴とする請求項３に記載の絶
縁抵抗測定回路。 - 前記バッテリーの電圧をＶ、前記バッテリーの絶縁抵抗をＲｉｓｏ、前記第１ソース抵
抗及び第２ソース抵抗の抵抗値をそれぞれＲｓ、前記第１電圧をＶ１、前記第２電圧をＶ
２、前記第３電圧をＶ３、前記第４電圧をＶ４とする場合、前記バッテリーの正極絶縁破
壊時に測定される前記第１電圧〜第４電圧は、
- 前記バッテリーの電圧をＶ、前記バッテリーの絶縁抵抗をＲｉｓｏ、前記第１ソース抵
抗及び前記第２ソース抵抗の抵抗値をそれぞれＲｓ、前記第１電圧をＶ１、前記第２電圧
をＶ２、前記第３電圧をＶ３、前記第４電圧をＶ４とする場合、前記バッテリーの負極絶
縁破壊時に測定される前記第１電圧〜前記第４電圧は、
- 前記バッテリーの電圧をＶ、前記バッテリーの絶縁抵抗をＲｉｓｏ、前記第１ソース抵
抗及び前記第２ソース抵抗の抵抗値をそれぞれＲｓ、前記第１電圧をＶ１、前記第２電圧
をＶ２、前記第３電圧をＶ３、前記第４電圧をＶ４、前記第５電圧をＶ５、前記第６電圧
をＶ６、前記第７電圧をＶ７、前記第８電圧をＶ８、前記第９電圧をＶ９、前記第１０電
圧をＶ１０、前記第１１電圧をＶ１１とする場合、前記バッテリーの正極絶縁破壊時また
は負極絶縁破壊時に測定される前記第５電圧〜前記第１１電圧は、
- 前記ソース抵抗部、前記電圧センシング部、及び前記絶縁抵抗測定部は、ワンチップ（
Ｏｎｅ−Ｃｈｉｐ）として実装されていることを特徴とする請求項１に記載の絶縁抵抗測
定回路。 - バッテリーのプラス端子及び第２ソース（ｓｏｕｒｃｅ）抵抗に連結される第１ソース
抵抗と、前記バッテリーのマイナス端子及び前記第１ソース抵抗に連結される前記第２ソ
ース抵抗と、を含むソース抵抗部と、
非反転端子及び反転端子を介して前記第１ソース抵抗に連結され、前記第１ソース抵抗
に印加される第１ソース電圧を前記第１電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記
第１電圧を出力する第１演算増幅器（Ｏｐ Ａｍｐ；Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ Ａｍｐｌ
ｉｆｉｅｒ）と、
非反転端子及び反転端子を介して前記第２ソース抵抗に連結され、前記第２ソース抵抗
に印加される第２ソース電圧を前記第２電圧としてセンシングし、出力端子を介して前記
第２電圧を出力する第２演算増幅器と、
前記第１演算増幅器の出力端子及び前記第２演算増幅器の出力端子にそれぞれ連結され
、前記第１電圧及び第２電圧をそれぞれデジタル信号に変換して第１電圧信号及び第２電
圧信号を出力するアナログデジタル変換部と、
前記第１電圧信号の第１電圧及び前記第２電圧信号の第２電圧間の差を、前記第１電圧
信号の前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電圧の合計で除して得られた値によ
り前記バッテリーの絶縁抵抗を測定するマイクロコントローラと、を含むことを特徴とす
る絶縁抵抗測定回路。 - 前記マイクロコントローラは、前記アナログデジタル変換部から、前記第１電圧信号の
前記第１電圧及び前記第２電圧信号の前記第２電圧を、それぞれ入力され、前記第１電圧
信号の前記第１電圧から前記第２電圧信号の前記第２電圧を減算した第３電圧、前記第１
電圧に前記第２電圧を加算した第４電圧、前記第４電圧の絶対値を有する第５電圧、前記
第３電圧を前記第５電圧で除して得られた第６電圧、１Ｖの電圧を有する第７電圧、及び
前記第６電圧から前記第７電圧を減算して得られた第８電圧を算出し、さらに前記第８電
圧により前記バッテリーの絶縁抵抗を測定することを特徴とする請求項９に記載の絶縁抵
抗測定回路。 - 前記マイクロコントローラは、前記第８電圧を既定（ｐｒｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ）値
で増幅して得られた第９電圧、既定の基準電圧値を有する第１０電圧、及び前記第９電圧
から前記第１０電圧を減算して得られた第１１電圧を算出し、前記第１１電圧により前記
バッテリーの絶縁抵抗を測定することを特徴とする請求項１０に記載の絶縁抵抗測定回路
。 - 前記バッテリーの電圧をＶ、前記バッテリーの絶縁抵抗をＲｉｓｏ、前記第１ソース抵
抗及び前記第２ソース抵抗の抵抗値をそれぞれＲｓ、前記第１電圧をＶ１、前記第２電圧
をＶ２、前記第３電圧をＶ３、前記第４電圧をＶ４とする場合、前記バッテリーの正極絶
縁破壊時に測定される前記第１電圧〜前記第４電圧は、
- 前記バッテリーの電圧をＶ、前記バッテリーの絶縁抵抗をＲｉｓｏ、前記第１ソース抵
抗及び前記第２ソース抵抗の抵抗値をそれぞれＲｓ、前記第１電圧をＶ１、前記第２電圧
をＶ２、前記第３電圧をＶ３、前記第４電圧をＶ４とする場合、前記バッテリーの負極絶
縁破壊時に測定される前記第１電圧〜前記第４電圧は、
- 前記バッテリーの電圧をＶ、前記バッテリーの絶縁抵抗をＲｉｓｏ、前記第１ソース抵
抗及び前記第２ソース抵抗の抵抗値をそれぞれＲｓ、前記第１電圧をＶ１、前記第２電圧
をＶ２、前記第３電圧をＶ３、前記第４電圧をＶ４、前記第５電圧をＶ５、前記第６電圧
をＶ６、前記第７電圧をＶ７、前記第８電圧をＶ８、前記第９電圧をＶ９、前記第１０電
圧をＶ１０、前記第１１電圧をＶ１１とする場合、前記バッテリーの正極絶縁破壊時また
は負極絶縁破壊時に測定される前記第５電圧〜前記第１１電圧は、
- 前記バッテリーは、ハイブリッド（ｈｙｂｒｉｄ）カー用の高電圧バッテリーであるこ
とを特徴とする請求項１に記載の絶縁抵抗測定回路。 - 前記ソース抵抗部、前記第１演算増幅器、前記第２演算増幅器、前記アナログデジタル
変換部、及び前記マイクロコントローラはワンチップ（Ｏｎｅ−Ｃｈｉｐ）として実装さ
れていることを特徴とする請求項９に記載の絶縁抵抗測定回路。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2009-0024341 | 2009-03-23 | ||
| KR1020090024341A KR101114317B1 (ko) | 2009-03-23 | 2009-03-23 | 배터리 전압의 영향을 받지 않는 절연저항 측정회로 |
| PCT/KR2010/001790 WO2010110589A2 (ko) | 2009-03-23 | 2010-03-23 | 배터리 전압의 영향을 받지 않는 절연저항 측정회로 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012521561A true JP2012521561A (ja) | 2012-09-13 |
| JP5464389B2 JP5464389B2 (ja) | 2014-04-09 |
Family
ID=42781665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012501935A Active JP5464389B2 (ja) | 2009-03-23 | 2010-03-23 | バッテリー電圧の影響を受けない絶縁抵抗測定回路 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8779784B2 (ja) |
| EP (1) | EP2413148B1 (ja) |
| JP (1) | JP5464389B2 (ja) |
| KR (1) | KR101114317B1 (ja) |
| CN (1) | CN102362185B (ja) |
| WO (1) | WO2010110589A2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015152326A (ja) * | 2014-02-10 | 2015-08-24 | 本田技研工業株式会社 | 絶縁性検出装置 |
| JP2018501496A (ja) * | 2015-03-10 | 2018-01-18 | エルジー・ケム・リミテッド | 絶縁抵抗測定装置及び方法 |
| US10288689B2 (en) | 2015-06-19 | 2019-05-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for detecting current leakage in battery module |
| JP2021503596A (ja) * | 2018-08-27 | 2021-02-12 | エルジー・ケム・リミテッド | バッテリーパックと接地との絶縁状態を診断するための装置及び方法、該装置を含むバッテリーパック |
Families Citing this family (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9523730B2 (en) * | 2009-04-08 | 2016-12-20 | Analog Devices, Inc. | Architecture and method to determine leakage impedance and leakage voltage node |
| US8427167B2 (en) | 2009-04-08 | 2013-04-23 | Analog Devices, Inc. | Architecture and method to determine leakage impedance and leakage voltage node |
| US8421467B2 (en) * | 2009-11-19 | 2013-04-16 | Valence Technology, Inc. | Battery insulation resistance measurement methods, insulation resistance measurement methods, insulation resistance determination apparatuses, and articles of manufacture |
| DE102010026919A1 (de) * | 2010-07-13 | 2012-01-19 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer Schalteinrichtung |
| KR101354583B1 (ko) | 2010-09-17 | 2014-01-22 | 에스케이이노베이션 주식회사 | 누설전류를 발생시키지 않고 셀프 테스트 기능을 가진 절연저항 측정회로 |
| CN102621385B (zh) * | 2011-01-26 | 2014-07-30 | 致茂电子股份有限公司 | 电路稳定度补偿方法 |
| WO2012132220A1 (ja) | 2011-03-31 | 2012-10-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電圧監視モジュール及びこれを用いた電圧監視システム |
| KR101470553B1 (ko) * | 2012-03-26 | 2014-12-10 | 주식회사 엘지화학 | 배터리의 절연 저항 측정 장치 및 방법 |
| WO2013147493A1 (ko) * | 2012-03-27 | 2013-10-03 | 주식회사 엘지화학 | 고장 자가 진단 기능을 구비한 절연 저항 측정 장치 및 이를 이용한 고장 자가 진단 방법 |
| CN102944744A (zh) * | 2012-11-06 | 2013-02-27 | 昆山北极光电子科技有限公司 | 一种低漂移在线阻抗测量电路 |
| CN103837806A (zh) * | 2012-11-21 | 2014-06-04 | 赵元雷 | 电动汽车高压动力电源***绝缘程度监测报警装置 |
| CN103869166B (zh) * | 2012-12-18 | 2017-02-08 | 中信国安盟固利动力科技有限公司 | 一种电池***绝缘电阻的测量及故障点定位装置 |
| TWI497860B (zh) * | 2013-08-06 | 2015-08-21 | Elifeconnection Co Ltd | 多埠電源監控系統 |
| CN103439577B (zh) * | 2013-08-13 | 2016-02-03 | 重庆长安汽车股份有限公司 | 电动汽车动力电池的绝缘电阻检测***及检测方法 |
| US9194918B2 (en) * | 2013-12-12 | 2015-11-24 | Ford Global Technologies, Llc | Leakage detection circuit with integral circuit robustness check |
| US9411004B2 (en) * | 2014-05-28 | 2016-08-09 | Ford Global Technologies, Llc | Continuous leakage detection circuit with integrated robustness check and balanced fault detection |
| CN104569598A (zh) * | 2015-01-08 | 2015-04-29 | 国家电网公司 | 一种高压电池储能***绝缘电阻的无损检测电路及方法 |
| DE102015101074B4 (de) * | 2015-01-26 | 2021-10-07 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Isolationsgröße sowie Kraftfahrzeug mit dieser Vorrichtung |
| KR101936220B1 (ko) * | 2015-11-16 | 2019-01-08 | 주식회사 엘지화학 | 절연 저항 측정 시스템 및 장치 |
| DE102016208960B3 (de) * | 2016-05-24 | 2017-11-09 | Continental Automotive Gmbh | Überwachungsvorrichtung und Verfahren zum Überwachen einer gegenüber einem Referenzpotential galvanisch entkoppelten Wechselspannungsquelle |
| KR101991910B1 (ko) * | 2016-11-16 | 2019-06-21 | 주식회사 엘지화학 | 배터리의 절연 저항 산출 장치 및 방법 |
| KR102032020B1 (ko) * | 2016-11-25 | 2019-11-08 | 주식회사 엘지화학 | Bms 내 절연소자 진단 시스템 |
| KR101960293B1 (ko) * | 2017-02-14 | 2019-03-20 | 에스케이이노베이션 주식회사 | 절연저항 측정방법 및 측정장치 |
| CN107728066A (zh) * | 2017-08-29 | 2018-02-23 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 绝缘检测电路及方法、电池管理*** |
| DE102017218732A1 (de) | 2017-10-19 | 2019-04-25 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Spannungsmessverfahren, Betriebsverfahren und Steuereinrichtung für ein Bordnetz sowie Bordnetz und Fahrzeug |
| FR3079305B1 (fr) | 2018-03-23 | 2020-05-01 | IFP Energies Nouvelles | Procede de determination d'au moins deux resistances equivalentes d'isolement d'un systeme electrique |
| TWI661204B (zh) * | 2018-07-16 | 2019-06-01 | 昆山富士錦電子有限公司 | 絕緣電阻量測裝置 |
| CN109633462B (zh) * | 2018-12-29 | 2021-04-20 | 蜂巢能源科技有限公司 | 电池管理***中电池电压状态检测方法及检测***和电池管理*** |
| CN109765495B (zh) | 2019-01-15 | 2020-11-10 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 绝缘检测电路及检测方法、电池管理*** |
| KR102672495B1 (ko) * | 2019-03-15 | 2024-06-07 | 에스케이온 주식회사 | 절연저항 측정 장치 |
| CN111929501B (zh) * | 2019-05-13 | 2023-04-25 | 上海海拉电子有限公司 | 一种绝缘阻值变化检测电路、一种绝缘检测***及方法 |
| CN111929502A (zh) * | 2019-05-13 | 2020-11-13 | 上海海拉电子有限公司 | 一种绝缘检测电路及方法 |
| KR102181229B1 (ko) | 2019-06-28 | 2020-11-24 | (주)에이치엠지 | 절연 저항 측정 장치 및 절연 저항 측정 방법 |
| CN112198368B (zh) * | 2020-09-22 | 2022-09-09 | 合肥国轩高科动力能源有限公司 | 一种电动汽车绝缘电阻检测电路及方法 |
| CN113791277A (zh) * | 2021-09-16 | 2021-12-14 | 惠州市乐亿通科技有限公司 | 绝缘电阻检测装置及叉车 |
| CN114264879A (zh) * | 2021-12-13 | 2022-04-01 | 航天新长征大道科技有限公司 | 一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置和*** |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0720185A (ja) * | 1993-02-15 | 1995-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 漏電検出装置 |
| JP2000152510A (ja) * | 1993-10-19 | 2000-05-30 | Seiko Instruments Inc | 充放電制御回路と充電式電源装置 |
| JP3600211B2 (ja) * | 2000-02-22 | 2004-12-15 | 三洋電機株式会社 | 電源装置の漏電検出回路 |
| JP2006220520A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Honda Motor Co Ltd | 非接地直流電源の絶縁抵抗測定装置及びその方法 |
| JP2008064536A (ja) * | 2006-09-06 | 2008-03-21 | Hitachi Vehicle Energy Ltd | 組電池総電圧検出およびリーク検出装置 |
Family Cites Families (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220660A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-12 | Shonan Denshi Kogyo:Kk | 演算形絶縁計 |
| US4816768A (en) * | 1988-03-18 | 1989-03-28 | Champlin Keith S | Electronic battery testing device |
| US5742148A (en) * | 1992-11-24 | 1998-04-21 | Seiko Instruments Inc. | Charge/discharge control circuit and chargeable electric power source apparatus |
| DE19618897B4 (de) * | 1996-05-10 | 2006-04-20 | Varta Automotive Systems Gmbh | Schaltungsanordnung zur Bestimmung des Isolationswiderstandes einer Akkumulatorenbatterie |
| JP4003278B2 (ja) * | 1998-02-20 | 2007-11-07 | ソニー株式会社 | 電池の電圧検出回路と電池の電圧検出方法 |
| US6002238A (en) * | 1998-09-11 | 1999-12-14 | Champlin; Keith S. | Method and apparatus for measuring complex impedance of cells and batteries |
| US6262563B1 (en) * | 1998-09-11 | 2001-07-17 | Keith S. Champlin | Method and apparatus for measuring complex admittance of cells and batteries |
| MY121524A (en) * | 1999-09-22 | 2006-01-28 | Murata Manufacturing Co | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| JP3548887B2 (ja) * | 1999-12-20 | 2004-07-28 | 株式会社村田製作所 | 絶縁抵抗測定方法および装置 |
| JP3594562B2 (ja) * | 2001-03-30 | 2004-12-02 | 三洋電機株式会社 | 電源装置の漏電検出回路 |
| JP2003066090A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Omron Corp | 漏電検出装置 |
| US6466026B1 (en) * | 2001-10-12 | 2002-10-15 | Keith S. Champlin | Programmable current exciter for measuring AC immittance of cells and batteries |
| US6845659B2 (en) * | 2002-07-19 | 2005-01-25 | Celerity Group, Inc. | Variable resistance sensor with common reference leg |
| JP3957598B2 (ja) | 2002-09-10 | 2007-08-15 | 松下電器産業株式会社 | 絶縁抵抗検出方法および装置 |
| DE10300539B4 (de) * | 2003-01-09 | 2007-05-24 | Daimlerchrysler Ag | Schaltung und Verfahren zur Erfassung von Isolationsfehlern |
| JP2005114496A (ja) * | 2003-10-07 | 2005-04-28 | Yazaki Corp | 状態検出方法及び絶縁抵抗低下検出器 |
| US7317316B2 (en) * | 2004-07-02 | 2008-01-08 | Nucellsys Gmbh | Apparatus and method for measuring the insulation resistance of a fuel cell system |
| JP4834393B2 (ja) * | 2005-12-09 | 2011-12-14 | 矢崎総業株式会社 | 状態検出方法及び絶縁抵抗低下検出器 |
| US20070210805A1 (en) * | 2006-03-08 | 2007-09-13 | Yazaki Corporation | Insulation detecting method and insulation detecting device |
| JP4785627B2 (ja) * | 2006-06-08 | 2011-10-05 | 三洋電機株式会社 | 電動車両用漏電検出回路および電動車両用漏電検出方法 |
| JP2009085830A (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-23 | Toyota Industries Corp | 産業車両における絶縁抵抗低下検出装置 |
| CN101281230A (zh) * | 2008-04-25 | 2008-10-08 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 一种用于混合动力汽车高压***的绝缘故障监测装置及方法 |
| JP4659067B2 (ja) * | 2008-05-26 | 2011-03-30 | 矢崎総業株式会社 | 絶縁計測方法及び絶縁計測装置 |
| JP4759018B2 (ja) * | 2008-05-26 | 2011-08-31 | 矢崎総業株式会社 | 絶縁計測装置 |
| GB0816452D0 (en) * | 2008-09-09 | 2008-10-15 | Ricardo Uk Ltd | Isolation detection |
| JP5613408B2 (ja) * | 2009-10-13 | 2014-10-22 | 矢崎総業株式会社 | 絶縁計測装置 |
| US8421467B2 (en) * | 2009-11-19 | 2013-04-16 | Valence Technology, Inc. | Battery insulation resistance measurement methods, insulation resistance measurement methods, insulation resistance determination apparatuses, and articles of manufacture |
| KR101908637B1 (ko) * | 2012-01-05 | 2018-10-17 | 에스케이이노베이션 주식회사 | 절연 저항 측정 회로 |
-
2009
- 2009-03-23 KR KR1020090024341A patent/KR101114317B1/ko active IP Right Grant
-
2010
- 2010-03-23 WO PCT/KR2010/001790 patent/WO2010110589A2/ko active Application Filing
- 2010-03-23 US US13/257,831 patent/US8779784B2/en active Active
- 2010-03-23 JP JP2012501935A patent/JP5464389B2/ja active Active
- 2010-03-23 CN CN201080013324.9A patent/CN102362185B/zh active Active
- 2010-03-23 EP EP10756344.7A patent/EP2413148B1/en active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0720185A (ja) * | 1993-02-15 | 1995-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 漏電検出装置 |
| JP2000152510A (ja) * | 1993-10-19 | 2000-05-30 | Seiko Instruments Inc | 充放電制御回路と充電式電源装置 |
| JP3600211B2 (ja) * | 2000-02-22 | 2004-12-15 | 三洋電機株式会社 | 電源装置の漏電検出回路 |
| JP2006220520A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Honda Motor Co Ltd | 非接地直流電源の絶縁抵抗測定装置及びその方法 |
| JP2008064536A (ja) * | 2006-09-06 | 2008-03-21 | Hitachi Vehicle Energy Ltd | 組電池総電圧検出およびリーク検出装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015152326A (ja) * | 2014-02-10 | 2015-08-24 | 本田技研工業株式会社 | 絶縁性検出装置 |
| JP2018501496A (ja) * | 2015-03-10 | 2018-01-18 | エルジー・ケム・リミテッド | 絶縁抵抗測定装置及び方法 |
| US10288689B2 (en) | 2015-06-19 | 2019-05-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for detecting current leakage in battery module |
| JP2021503596A (ja) * | 2018-08-27 | 2021-02-12 | エルジー・ケム・リミテッド | バッテリーパックと接地との絶縁状態を診断するための装置及び方法、該装置を含むバッテリーパック |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2413148A4 (en) | 2017-03-15 |
| EP2413148A2 (en) | 2012-02-01 |
| KR20100105962A (ko) | 2010-10-01 |
| WO2010110589A3 (ko) | 2011-01-20 |
| WO2010110589A2 (ko) | 2010-09-30 |
| US8779784B2 (en) | 2014-07-15 |
| CN102362185A (zh) | 2012-02-22 |
| US20120016613A1 (en) | 2012-01-19 |
| CN102362185B (zh) | 2014-06-25 |
| EP2413148B1 (en) | 2020-11-04 |
| JP5464389B2 (ja) | 2014-04-09 |
| KR101114317B1 (ko) | 2012-02-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5464389B2 (ja) | バッテリー電圧の影響を受けない絶縁抵抗測定回路 | |
| KR101114316B1 (ko) | 연산증폭기를 이용한 절연저항 측정회로 | |
| JP4241787B2 (ja) | 組電池総電圧検出およびリーク検出装置 | |
| KR101043445B1 (ko) | 배터리와 연결되는 저항을 이용한 절연저항 측정회로 | |
| KR101585453B1 (ko) | 션트저항 타입 전류센서를 이용한 차량용 배터리의 전류 센싱 구조 | |
| US7759903B2 (en) | Battery voltage measurement circuit, battery voltage measurement method, and battery electric control unit | |
| US10054648B2 (en) | Power source voltage detection apparatus | |
| CN205961068U (zh) | D类音频放大器装置 | |
| JP4825890B2 (ja) | 電流積算回路装置およびこれを用いた二次電池パック | |
| CN103513097B (zh) | 用于汽车的霍尔传感器温度补偿方法和霍尔传感器 | |
| WO2016103742A1 (ja) | 電池電圧計測回路 | |
| CN105223411A (zh) | 过电流检测电路及电源供应*** | |
| JPH0720185A (ja) | 漏電検出装置 | |
| JP4882934B2 (ja) | 電流測定装置 | |
| US20160146870A1 (en) | Contactor health monitor circuit and method | |
| KR100624365B1 (ko) | 축전지셀 단자전압 및 내부 임피던스 측정 회로 | |
| KR20120030198A (ko) | 차량의 절연저항 감지 장치 | |
| JP2011053095A (ja) | 電流監視装置 | |
| JP2012208055A (ja) | 電池温度検出装置 | |
| JP2017188733A (ja) | 信号処理回路、クーロンカウンタ回路、電子機器 | |
| CN116466131A (zh) | 功率检测电路及储能设备 | |
| JP2003090851A (ja) | 電流検出システム | |
| JP5730697B2 (ja) | イオンセンシング装置およびイオン発生器 | |
| KR101142459B1 (ko) | 절연파괴 측정회로 | |
| CN113155159A (zh) | 桥式检测器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120928 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121012 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131212 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131224 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140107 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5464389 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |