JP2012181107A - Method and device for evaluating mechanical characteristic - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、走査型プローブ顕微鏡の技術を利用して、試料の耐衝撃性や耐摩耗性等の機械的特性を評価する方法および装置に関するものである。 The present invention relates to a method and an apparatus for evaluating mechanical characteristics such as impact resistance and wear resistance of a sample by utilizing the technique of a scanning probe microscope.
機械式時計のテンプ部等の機械部品において、長期使用時の磨耗劣化を低減することを目的として、DLC(ダイヤモンド・ライク・カーボン)薄膜等の高強度膜をコーティングする試みが行われているが、この機械部品には、実機での使用時に繰り返し衝撃や摩擦が加わるため、コーティングした薄膜の耐衝撃性・耐摩耗性を評価する技術が求められている。 Attempts have been made to coat high-strength films such as DLC (Diamond Like Carbon) thin films for the purpose of reducing wear deterioration during long-term use in mechanical parts such as the balance of mechanical watches. Since these mechanical parts are repeatedly subjected to impact and friction when used in an actual machine, a technique for evaluating the impact resistance and wear resistance of the coated thin film is required.
これに対して、例えば、走査型プローブ顕微鏡(SPM)とエキソ電子計数器を複合した装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 On the other hand, for example, an apparatus that combines a scanning probe microscope (SPM) and an exo-electron counter has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
この装置では、SPMの一つである走査型トンネル顕微鏡(STM)や振動モード原子間力顕微鏡(AFM)を利用して圧子(探針)を微小かつ高速で振動させて試料に衝撃力を負荷し、そのとき放出されるエキソ電子を計数することにより、衝撃による破壊状態を定量できるとしている。また、その後STMや振動モードAFMで試料表面の形状を測定することにより、破壊状態を観察できるとしている。 This device uses a scanning tunneling microscope (STM) or vibration mode atomic force microscope (AFM), which is one of the SPMs, to vibrate the indenter (probe) at high speed and load the sample with impact force. In addition, by counting the exoelectrons emitted at that time, it is said that the destruction state due to impact can be quantified. Further, the fracture state can be observed by measuring the shape of the sample surface by STM or vibration mode AFM.
また、類似のものとして、SPMの一つであるコンタクトモードAFMを用いた方法も提案されている(例えば、特許文献2参照)。 As a similar method, a method using a contact mode AFM, which is one of SPMs, has also been proposed (see, for example, Patent Document 2).
この方法では、コンタクトモードAFMを利用して探針を試料に押圧し、それによってできるくぼみの深さをコンタクトモードAFMで測定することにより、試料の硬度を評価できるとしている。 In this method, the hardness of the sample can be evaluated by pressing the probe against the sample using the contact mode AFM and measuring the depth of the indentation thereby formed by the contact mode AFM.
しかし、これらの装置や方法には、次のような課題があった。
特許文献1の装置では、エキソ電子を利用して耐衝撃性を評価しているが、エキソ電子の計数には通常、「ガイガーミュラー計数管」(または「ガイガーカウンター」)と呼称される測定器が用いられる。しかし、エキソ電子はエネルギーが小さいため、その測定は通常、試料を直接ガイガーミュラー計数管の計数室内に挿入して行われる。従って、これをSPMと複合する特許文献1の装置は実現が困難だった。
However, these apparatuses and methods have the following problems.
In the apparatus of Patent Document 1, the impact resistance is evaluated using exoelectrons, but a measuring instrument generally called “Geiger-Muller counter” (or “Geiger counter”) is used for counting exoelectrons. Is used. However, since the energy of exoelectrons is small, the measurement is usually performed by inserting the sample directly into the counting chamber of the Geiger-Muller counter. Therefore, the device of Patent Document 1 that combines this with SPM has been difficult to realize.
また、特許文献1の装置では、負荷する衝撃力の大きさをどのように設定するかの記載がなく、負荷した衝撃力と計数されたエキソ電子の量の関係、すなわち耐衝撃性を適切に評価することができなかった。 Further, in the apparatus of Patent Document 1, there is no description of how to set the magnitude of the impact force to be applied, and the relationship between the applied impact force and the amount of exoelectrons counted, that is, the impact resistance is appropriately set. Could not be evaluated.
さらに、特許文献1の装置では、試料の垂直方向への力の負荷のみに注目しており、面内方向への力の負荷については何ら考慮されていない。このため、耐摩耗性を同時に評価することができなかった。 Furthermore, in the apparatus of Patent Document 1, attention is paid only to the force load in the vertical direction of the sample, and no consideration is given to the force load in the in-plane direction. For this reason, the wear resistance could not be evaluated at the same time.
一方、特許文献2の方法では、試料の硬度のみに注目しており、耐摩耗性を評価することができなかった。また、コンタクトモードAFMを利用しており、振動源を有さないため、耐衝撃性の評価もできなかった。
On the other hand, the method of
この発明は、このような事情を考慮してなされたもので、その目的は、負荷する衝撃力の大きさを予め設定することができ、試料の耐衝撃性や耐摩耗性等の機械的特性を適切に評価することができる、SPMの技術を利用した機械的特性評価方法および装置を提供することである。 The present invention has been made in consideration of such circumstances, and its purpose is to set the magnitude of the impact force to be applied in advance, and to provide mechanical characteristics such as impact resistance and wear resistance of the sample. It is an object to provide a method and apparatus for evaluating mechanical properties using SPM technology, which can appropriately evaluate the above.
上記の目的を達成するために、この発明は以下の手段を提供している。
本発明に係る機械的特性評価方法は、試料に機械的に与える負荷力を設定する負荷力設定工程と、前記試料と対向配置されたプローブを該試料に対して水平な方向(XY方向)および/または垂直な方向(Z方向)に振動させる振動工程と、振動させた前記プローブを前記試料に接触させて前記負荷力を負荷する負荷工程と、該負荷力の負荷による痕跡の深さを測定する痕跡深さ測定工程と、該痕跡深さ測定工程により得られた痕跡の深さのデータおよび前記設定した負荷力のデータから前記試料の機械的特性を評価する評価工程とを有することを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides the following means.
The mechanical property evaluation method according to the present invention includes a load force setting step for setting a load force that is mechanically applied to a sample, a probe disposed opposite to the sample in a direction horizontal to the sample (XY direction), and And / or a vibration step of vibrating in a vertical direction (Z direction), a loading step of bringing the vibrating probe into contact with the sample and applying the load force, and a depth of a trace due to the load of the load force being measured A trace depth measuring step, and an evaluation step for evaluating the mechanical characteristics of the sample from the trace depth data obtained by the trace depth measurement step and the set load force data. It is what.
また、本発明に係る機械的特性評価方法は、上記本発明の機械的特性評価方法において、前記負荷力設定工程が、負荷力として衝撃力を設定する工程であり、前記痕跡深さ測定工程が、前記衝撃力由来の痕跡深さを測定する工程であり、前記評価工程で評価する機械的特性が耐衝撃性であることを特徴とするものである。 The mechanical property evaluation method according to the present invention is the mechanical property evaluation method according to the present invention, wherein the load force setting step is a step of setting an impact force as a load force, and the trace depth measurement step is In this step, the trace depth derived from the impact force is measured, and the mechanical property evaluated in the evaluation step is impact resistance.
また、本発明に係る機械的特性評価方法は、上記本発明の機械的特性評価方法において、前記負荷力設定工程が、負荷力として摩擦力を設定する工程であり、前記痕跡深さ測定工程が、前記摩擦力由来の痕跡深さを測定する工程であり、前記評価工程で評価する機械的特性が耐摩耗性であることを特徴とするものである。 The mechanical property evaluation method according to the present invention is the mechanical property evaluation method according to the present invention, wherein the load force setting step is a step of setting a frictional force as a load force, and the trace depth measurement step is In this step, the trace depth derived from the frictional force is measured, and the mechanical property evaluated in the evaluation step is wear resistance.
また、本発明に係る機械的特性評価方法は、上記本発明の機械的特性評価方法において、前記負荷力設定工程が、負荷力として衝撃力および摩擦力の両方を設定する工程であり、前記痕跡深さ測定工程が、該衝撃力および該摩擦力の両方に由来する痕跡深さを測定する工程であり、前記評価工程で評価する機械的特性が耐衝撃性および耐摩耗性の両方であることを特徴とするものである。 Further, in the mechanical property evaluation method according to the present invention, in the mechanical property evaluation method of the present invention, the load force setting step is a step of setting both impact force and friction force as load force, and the trace The depth measurement step is a step of measuring a trace depth derived from both the impact force and the friction force, and the mechanical properties evaluated in the evaluation step are both impact resistance and wear resistance. It is characterized by.
また、本発明に係る機械的特性評価方法は、上記本発明の機械的特性評価方法において、前記負荷力設定工程で設定される衝撃力が、前記プローブが前記試料と接触している時の前記プローブのZ方向の振動振幅と前記プローブが前記試料と接触していない時の前記プローブのZ方向の振動振幅とにより設定されるものであることを特徴とするものである。 Further, the mechanical property evaluation method according to the present invention is the mechanical property evaluation method according to the present invention, wherein the impact force set in the load force setting step is when the probe is in contact with the sample. The vibration amplitude in the Z direction of the probe is set by the vibration amplitude in the Z direction of the probe when the probe is not in contact with the sample.
また、本発明に係る機械的特性評価方法は、上記本発明の機械的特性評価方法において、前記負荷力設定工程で設定される摩擦力が、前記試料に対して水平な方向(XY方向)の前記プローブと前記試料との前記相対的な振動の振幅により設定されるものであることを特徴とするものである。 The mechanical property evaluation method according to the present invention is the mechanical property evaluation method according to the present invention, wherein the frictional force set in the load force setting step is in a horizontal direction (XY direction) with respect to the sample. It is set by the relative vibration amplitude of the probe and the sample.
また、本発明に係る機械的特性評価装置は、上記本発明の機械的特性評価方法を実施する機械的特性評価装置であって、プローブと、該プローブと対向配置する試料を載置する試料台と、前記プローブと前記試料とを相対的に三次元(XYZ方向)に走査する微動機構と、前記プローブを前記試料に対して垂直な方向(Z方向)に振動させる第一の振動源と、前記Z方向の振動量を設定する振動量設定手段とを有することを特徴とするものである。 The mechanical characteristic evaluation apparatus according to the present invention is a mechanical characteristic evaluation apparatus that implements the mechanical characteristic evaluation method of the present invention, and is a sample stage on which a probe and a sample disposed to face the probe are placed. A fine movement mechanism that scans the probe and the sample relatively three-dimensionally (XYZ direction), a first vibration source that vibrates the probe in a direction perpendicular to the sample (Z direction), And a vibration amount setting means for setting the vibration amount in the Z direction.
また、本発明に係る機械的特性評価装置は、上記本発明の機械的特性評価方法を実施する機械的特性評価装置であって、プローブと、該プローブと対向配置する試料を載置する試料台と、前記プローブと前記試料とを相対的に三次元(XYZ方向)に走査する微動機構と、前記プローブと前記試料とを、前記試料に対して水平な方向(XY方向)に相対的に振動させる第二の振動源と、前記XY方向の振動量を設定する振動量設定手段とを有することを特徴とするものである。 The mechanical characteristic evaluation apparatus according to the present invention is a mechanical characteristic evaluation apparatus that implements the mechanical characteristic evaluation method of the present invention, and is a sample stage on which a probe and a sample disposed to face the probe are placed. A fine movement mechanism that scans the probe and the sample relatively three-dimensionally (XYZ direction), and the probe and the sample vibrate relatively in a direction horizontal to the sample (XY direction). And a vibration amount setting means for setting the vibration amount in the XY directions.
また、本発明に係る機械的特性評価装置は、上記本発明の機械的特性評価方法を実施する機械的特性評価装置であって、プローブと、該プローブと対向配置する試料を載置する試料台と、前記プローブと前記試料とを相対的に三次元(XYZ方向)に走査する微動機構と、前記プローブを前記試料に対して垂直な方向(Z方向)に振動させる第一の振動源と、前記プローブと前記試料とを、前記試料に対して水平な方向(XY方向)に相対的に振動させる第二の振動源と、前記Z方向の振動量を設定する第一の振動量設定手段と、前記XY方向の振動量を設定する第二の振動量設定手段とを有することを特徴とするものである。 The mechanical characteristic evaluation apparatus according to the present invention is a mechanical characteristic evaluation apparatus that implements the mechanical characteristic evaluation method of the present invention, and is a sample stage on which a probe and a sample disposed to face the probe are placed. A fine movement mechanism that scans the probe and the sample relatively three-dimensionally (XYZ direction), a first vibration source that vibrates the probe in a direction perpendicular to the sample (Z direction), A second vibration source that vibrates the probe and the sample relatively in a horizontal direction (XY direction) with respect to the sample; and a first vibration amount setting unit that sets a vibration amount in the Z direction. And a second vibration amount setting means for setting the vibration amount in the XY direction.
また、本発明に係る機械的特性評価装置は、上記本発明の機械的特性評価装置において、前記プローブが、それに備わるレバー部の先端に探針を有すると共に、該レバー部の基端側が本体部に片持ち状態に支持されたカンチレバーであることを特徴とするものである。 The mechanical characteristic evaluation apparatus according to the present invention is the mechanical characteristic evaluation apparatus according to the present invention described above, wherein the probe has a probe at a tip of a lever part provided in the probe, and a base end side of the lever part is a main body part. It is a cantilever supported in a cantilever state.
また、本発明に係る機械的特性評価装置は、上記本発明の機械的特性評価装置において、前記第一の振動源が、前記カンチレバーを共振周波数またはその近傍の周波数で振動させるものであることを特徴とするものである。 The mechanical property evaluation apparatus according to the present invention is the mechanical property evaluation apparatus according to the present invention, wherein the first vibration source vibrates the cantilever at a resonance frequency or a frequency in the vicinity thereof. It is a feature.
本発明に係る機械的特性評価方法または装置によれば、負荷する衝撃力や摩擦力の大きさを予め設定することができるので、試料の耐衝撃性や耐摩擦力を適切に評価することができる。 According to the mechanical property evaluation method or apparatus according to the present invention, the magnitude of the impact force or friction force to be applied can be set in advance, so that it is possible to appropriately evaluate the impact resistance and friction resistance of the sample. it can.
また、本発明に係る機械的特性評価方法または装置によれば、衝撃力と摩擦力を同時に負荷できるので、耐衝撃性と耐摩耗性を同時に評価することができる。 Further, according to the mechanical property evaluation method or apparatus according to the present invention, the impact force and the friction force can be applied simultaneously, so that the impact resistance and the wear resistance can be evaluated simultaneously.
以下、本発明に係る機械的特性評価方法および装置の一である、耐衝撃性評価方法および装置、並びに耐衝撃性・耐摩耗性評価方法および装置の実施形態を、図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of an impact resistance evaluation method and apparatus, and an impact resistance / abrasion resistance evaluation method and apparatus, which are one of the mechanical property evaluation method and apparatus according to the present invention, will be described with reference to the drawings. .
(実施例1)
本発明の第1実施形態を、図1を参照して説明する。図1に示す装置20は、本発明に係る耐衝撃性評価装置の一実施形態である。
Example 1
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. An
本装置20は、試料7を載置する試料台8と、試料7に対向配置される探針4を先端に有するカンチレバー5と、カンチレバー5の変位を検出する光てこ系を構成する光源2および受光部3と、カンチレバー5を試料7に対して平行な方向(XY方向)および垂直な方向(Z方向)に走査する微動機構1と、カンチレバー5をZ方向に振動させる振動板6と、振動板6に電圧を供給する第1加振電源9と、その振動量を設定し第1加振電源9を駆動する第1振動量設定部10と、微動機構1をXY方向に駆動するXY駆動部11およびZ方向に駆動するZ駆動部12と、第1振動量設定部10からの駆動信号および受光部3からの出力信号に基づいてZ駆動部12を制御する制御部13と、XY駆動部11およびZ駆動部12から出力される各駆動信号のデータ、および受光部3からの出力信号のデータを処理して試料7の耐衝撃性を示すデータを出力するデータ処理部14と、データ処理部14から出力されたデータを表示する表示部15とを備えている。
The
次に、このように構成された耐衝撃性評価装置20により試料7の耐衝撃性を評価する場合について説明する。
Next, a case where the impact resistance of the sample 7 is evaluated by the impact
Z方向に振動させたカンチレバー5の自由端の探針4を試料7に接触させると、カンチレバー5の振動振幅は減衰する。すなわち、この振動振幅の減衰量が、試料7に負荷された衝撃力を示す。従って、振動振幅の減衰量を予め設定し、これが一定になるよう微動機構1のZ方向の動きを制御することにより、一定の衝撃力を負荷することができる。 When the probe 4 at the free end of the cantilever 5 vibrated in the Z direction is brought into contact with the sample 7, the vibration amplitude of the cantilever 5 is attenuated. That is, the attenuation amount of the vibration amplitude indicates the impact force applied to the sample 7. Therefore, by setting the attenuation amount of the vibration amplitude in advance and controlling the movement of the fine movement mechanism 1 in the Z direction so as to be constant, a constant impact force can be applied.
このことを基に、まず始めに、探針4が試料7と接触していない時のカンチレバー5の振動振幅A0および探針4が試料7と接触している時のカンチレバー5の振動振幅Aを、第1振動量設定部10に設定する。
Based on this, first, the vibration amplitude A0 of the cantilever 5 when the probe 4 is not in contact with the sample 7 and the vibration amplitude A of the cantilever 5 when the probe 4 is in contact with the sample 7 are obtained. And set in the first vibration
次に、設定に基づいて第1振動量設定部10が第1加振電源9を駆動し、振動板6によりカンチレバー5を振動振幅A0で振動させる。
Next, the first vibration
次に、図示しない粗動機構がカンチレバー5と試料7を近づけ、探針4と試料7を接触させる。このとき、制御部13は、カンチレバー5の振動振幅が一定値Aになるよう、Z駆動部12を介して微動機構1を制御する。
これにより、衝撃力による痕跡が試料7に刻まれる。
Next, a coarse movement mechanism (not shown) brings the cantilever 5 and the sample 7 closer to bring the probe 4 and the sample 7 into contact with each other. At this time, the
Thereby, a trace due to the impact force is carved on the sample 7.
その後、SPMの形状測定手法によって本装置20を動作させることにより、データ処理部14が痕跡の深さを測定する。そして、データ処理部14が、測定された痕跡の深さ値と振動振幅の減衰量(A0−A)とを関連づける処理を行い、結果を表示部15に表示する。
Thereafter, the
以上の工程を、振動振幅Aを変えながら複数回繰り返すことで、痕跡の深さと振動振幅の減衰量の関係がわかるので、それにより試料の耐衝撃性を評価することができる。 By repeating the above steps a plurality of times while changing the vibration amplitude A, the relationship between the depth of the trace and the attenuation amount of the vibration amplitude can be understood, whereby the impact resistance of the sample can be evaluated.
(実施例2)
本発明の第2実施形態を、図2を参照して説明する。図2に示す装置21は、本発明に係る耐衝撃性・耐摩耗性評価装置の一実施形態である。
(Example 2)
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. An
本装置21は、図1の耐衝撃性評価装置20の構成に加えて、微動機構1をX方向またはY方向に振動させる第2加振電源16と、その振動量を設定し第2加振電源16を駆動する第2振動量設定部17とを備えている。
In addition to the configuration of the impact
次に、このように構成された耐衝撃性・耐摩耗性評価装置21により試料7の耐衝撃性・耐摩耗性を評価する場合について説明する。
Next, a case where the impact resistance / abrasion
探針4と試料7を接触させた状態で、両者をX方向またはY方向に相対的に振動させると、試料7にX方向またはY方向の摩擦力が負荷される。この摩擦力の大きさは、相対的な振動の振幅による。従って、この振動の振幅を予め設定することにより、一定の摩擦力を負荷することができる。 When the probe 4 and the sample 7 are in contact with each other, if both are vibrated relatively in the X direction or the Y direction, a frictional force in the X direction or the Y direction is applied to the sample 7. The magnitude of this frictional force depends on the relative vibration amplitude. Therefore, a constant frictional force can be applied by setting the amplitude of this vibration in advance.
このことを基に、まず始めに、X方向またはY方向への相対的な振動の振幅A1を、第2振動量設定部17に設定する。
Based on this, first, the relative vibration amplitude A1 in the X direction or the Y direction is set in the second vibration
また、実施例1と同様、探針4が試料7と接触していない時のカンチレバー5の振動振幅A0および探針4が試料7と接触している時のカンチレバー5の振動振幅Aを、第1振動量設定部10に設定する。
As in the first embodiment, the vibration amplitude A0 of the cantilever 5 when the probe 4 is not in contact with the sample 7 and the vibration amplitude A of the cantilever 5 when the probe 4 is in contact with the sample 7 are 1 vibration
次に、設定に基づいて第2振動量設定部17が第2加振電源16を駆動し、微動機構1をX方向またはY方向に振動振幅A1で振動させる。
また、設定に基づいて第1振動量設定部10が第1加振電源9を駆動し、振動板6によりカンチレバー5を振動振幅A0で振動させる。
Next, based on the setting, the second vibration
Further, based on the setting, the first vibration
次に、図示しない粗動機構がカンチレバー5と試料7を近づけ、探針4と試料7を接触させる。このとき、制御部13は、カンチレバー5の振動振幅が一定値Aになるよう、Z駆動部12を介して微動機構1を制御する。
これにより、衝撃力および摩擦力による痕跡が試料7に刻まれる。
Next, a coarse movement mechanism (not shown) brings the cantilever 5 and the sample 7 closer to bring the probe 4 and the sample 7 into contact with each other. At this time, the
As a result, traces due to the impact force and frictional force are engraved on the sample 7.
その後、SPMの形状測定手法によって本装置21を動作させることにより、データ処理部14が痕跡の深さを測定する。そして、データ処理部14が、測定された痕跡の深さ値とカンチレバー5のZ方向の振動振幅の減衰量(A0−A)、および痕跡の深さ値と微動機構1のX方向またはY方向の振動振幅を、それぞれ関連づける処理を行い、結果を表示部15に表示する。
Thereafter, the
以上の工程を、振動振幅Aを変えながら複数回繰り返すことで、痕跡の深さとカンチレバーのZ方向の振動振幅の減衰量の関係、および痕跡の深さと微動機構のX方向またはY方向の振動振幅の関係がわかるので、それらにより試料の耐衝撃性・耐摩耗性を評価することができる。 By repeating the above steps a plurality of times while changing the vibration amplitude A, the relationship between the depth of the trace and the attenuation amount of the vibration amplitude in the Z direction of the cantilever, and the vibration depth in the X direction or the Y direction of the fine movement mechanism. Thus, the impact resistance and wear resistance of the sample can be evaluated.
なお、本発明の技術範囲は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更を加えることが可能である。 The technical scope of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
例えば、上記実施形態では、先端に探針を有するカンチレバーをプローブとして用いているが、カンチレバー形状ではない探針(金属針等)を用いることもできる。 For example, in the above embodiment, a cantilever having a probe at the tip is used as a probe, but a probe (metal needle or the like) that is not in the shape of a cantilever can also be used.
また、上記実施形態では、プローブ側に微動機構を有し、プローブを試料に対して三次元(XYおよびZ)方向に移動させるプローブスキャン方式を採っているが、試料側に微動機構を有する試料スキャン方式を採ることもできる。 In the above embodiment, a probe scanning method is adopted in which the probe has a fine movement mechanism on the probe side and the probe is moved in three dimensions (XY and Z) with respect to the sample. However, the sample has a fine movement mechanism on the sample side. A scanning method can also be adopted.
また、上記実施形態では、カンチレバーの変位を光てこ系で検出しているが、光てこ系を用いずに、自己検知方式のカンチレバーを用いることもできる。 In the above embodiment, the displacement of the cantilever is detected by the optical lever system, but a self-detecting cantilever can be used without using the optical lever system.
この他、上記実施形態において、カンチレバーを共振周波数またはその近傍の周波数で振動させることもできる。このようにすると、衝撃力の負荷と痕跡の深さの測定の両方に、SPMの一である振動モードAFMの手法を共通的に用いることができるので、装置構成がよりシンプルになり、小型化もより容易になる。また、動的手法で痕跡の深さを測定できるので、静的手法に比べて測定の精度を上げることができ、よって評価の精度も上げることができる。 In addition, in the above embodiment, the cantilever can be vibrated at the resonance frequency or a frequency in the vicinity thereof. In this way, the method of vibration mode AFM, which is one of SPM, can be commonly used for both the load of impact force and the measurement of the depth of the trace, so that the device configuration becomes simpler and smaller in size. Will also be easier. In addition, since the depth of the trace can be measured by a dynamic method, the measurement accuracy can be increased as compared with the static method, and thus the evaluation accuracy can be increased.
1 微動機構
2 光源
3 受光部
4 探針
5 カンチレバー
6 振動板
7 試料
8 試料台
9 第1加振電源
10 第1振動量設定部
11 XY駆動部
12 Z駆動部
13 制御部
14 Z信号モニタ
15 補正部
16 データ処理部
17 表示部
18 第2加振電源
19 第2振動量設定部
20 耐衝撃性評価装置
21 耐衝撃性・耐摩耗性評価装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (11)
前記試料と対向配置されたプローブを該試料に対して水平な方向(XY方向)および/または垂直な方向(Z方向)に振動させる振動工程と、
振動させた前記プローブを前記試料に接触させて前記負荷力を負荷する負荷工程と、
該負荷力の負荷による痕跡の深さを測定する痕跡深さ測定工程と、
該痕跡深さ測定工程により得られた痕跡の深さのデータおよび前記設定した負荷力のデータから前記試料の機械的特性を評価する評価工程とを有することを特徴とする機械的特性評価方法。 A load force setting step for setting a load force mechanically applied to the sample;
A vibration step of vibrating a probe disposed opposite to the sample in a horizontal direction (XY direction) and / or a vertical direction (Z direction) with respect to the sample;
A loading step in which the probe is vibrated and brought into contact with the sample to apply the load force;
A trace depth measuring step of measuring the depth of the trace due to the load of the load force;
A mechanical property evaluation method comprising: an evaluation step of evaluating the mechanical properties of the sample from the data of the depth of the trace obtained by the trace depth measurement step and the data of the set load force.
前記痕跡深さ測定工程が、前記衝撃力由来の痕跡深さを測定する工程であり、
前記評価工程で評価する機械的特性が耐衝撃性である請求項1に記載の機械的特性評価方法。 The load force setting step is a step of setting an impact force as a load force,
The trace depth measurement step is a step of measuring the trace depth derived from the impact force,
The mechanical property evaluation method according to claim 1, wherein the mechanical property evaluated in the evaluation step is impact resistance.
前記痕跡深さ測定工程が、前記摩擦力由来の痕跡深さを測定する工程であり、
前記評価工程で評価する機械的特性が耐摩耗性である請求項1に記載の機械的特性評価方法。 The load force setting step is a step of setting a friction force as a load force,
The trace depth measurement step is a step of measuring a trace depth derived from the frictional force,
The mechanical property evaluation method according to claim 1, wherein the mechanical property evaluated in the evaluation step is wear resistance.
前記痕跡深さ測定工程が、該衝撃力および該摩擦力の両方に由来する痕跡深さを測定する工程であり、
前記評価工程で評価する機械的特性が耐衝撃性および耐摩耗性の両方である請求項1に記載の機械的特性評価方法。 The load force setting step is a step of setting both impact force and friction force as load force,
The trace depth measurement step is a step of measuring a trace depth derived from both the impact force and the friction force,
The mechanical property evaluation method according to claim 1, wherein the mechanical properties evaluated in the evaluation step are both impact resistance and wear resistance.
該プローブと対向配置する試料を載置する試料台と、
前記プローブと前記試料とを相対的に三次元(XYZ方向)に走査する微動機構と、
前記プローブを前記試料に対して垂直な方向(Z方向)に振動させる第一の振動源と、
前記Z方向の振動量を設定する振動量設定手段と、を有する請求項1または2に記載の機械的特性評価方法を実施する機械的特性評価装置。 A probe,
A sample stage on which a sample placed opposite to the probe is placed;
A fine movement mechanism that relatively scans the probe and the sample in three dimensions (XYZ directions);
A first vibration source for vibrating the probe in a direction perpendicular to the sample (Z direction);
The mechanical characteristic evaluation apparatus which implements the mechanical characteristic evaluation method of Claim 1 or 2 which has a vibration amount setting means which sets the vibration amount of the said Z direction.
該プローブと対向配置する試料を載置する試料台と、
前記プローブと前記試料とを相対的に三次元(XYZ方向)に走査する微動機構と、
前記プローブと前記試料とを、前記試料に対して水平な方向(XY方向)に相対的に振動させる第二の振動源と、
前記XY方向の振動量を設定する振動量設定手段と、を有する請求項1または3に記載の機械的特性評価方法を実施する機械的特性評価装置。 A probe,
A sample stage on which a sample placed opposite to the probe is placed;
A fine movement mechanism that relatively scans the probe and the sample in three dimensions (XYZ directions);
A second vibration source that vibrates the probe and the sample relatively in a horizontal direction (XY direction) with respect to the sample;
The mechanical characteristic evaluation apparatus which implements the mechanical characteristic evaluation method of Claim 1 or 3 which has a vibration amount setting means which sets the vibration amount of the said XY direction.
該プローブと対向配置する試料を載置する試料台と、
前記プローブと前記試料とを相対的に三次元(XYZ方向)に走査する微動機構と、
前記プローブを前記試料に対して垂直な方向(Z方向)に振動させる第一の振動源と、
前記プローブと前記試料とを、前記試料に対して水平な方向(XY方向)に相対的に振動させる第二の振動源と、
前記Z方向の振動量を設定する第一の振動量設定手段と、
前記XY方向の振動量を設定する第二の振動量設定手段と、を有する請求項1または4に記載の機械的特性評価方法を実施する機械的特性評価装置。 A probe,
A sample stage on which a sample placed opposite to the probe is placed;
A fine movement mechanism that relatively scans the probe and the sample in three dimensions (XYZ directions);
A first vibration source for vibrating the probe in a direction perpendicular to the sample (Z direction);
A second vibration source that vibrates the probe and the sample relatively in a horizontal direction (XY direction) with respect to the sample;
First vibration amount setting means for setting the vibration amount in the Z direction;
The mechanical characteristic evaluation apparatus which implements the mechanical characteristic evaluation method of Claim 1 or 4 which has a 2nd vibration amount setting means which sets the vibration amount of the said XY direction.
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