JP2012174304A - パターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラム - Google Patents
パターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012174304A JP2012174304A JP2011034824A JP2011034824A JP2012174304A JP 2012174304 A JP2012174304 A JP 2012174304A JP 2011034824 A JP2011034824 A JP 2011034824A JP 2011034824 A JP2011034824 A JP 2011034824A JP 2012174304 A JP2012174304 A JP 2012174304A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- program
- creation support
- pattern
- order
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
【課題】アドレス動作を含んだパターンプログラムを作成するユーザの負担を軽減させる。
【解決手段】半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部とを備えたパターンプログラム作成支援装置。入出力部は、前記セルの表示に先立ち、アドレス範囲の設定を受け付けるようにしてもよい。また、変換された前記アドレス演算命令を表示して、編集を受け付けるプログラム編集部をさらに備えるようにしてもよい。
【選択図】図1
【解決手段】半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部とを備えたパターンプログラム作成支援装置。入出力部は、前記セルの表示に先立ち、アドレス範囲の設定を受け付けるようにしてもよい。また、変換された前記アドレス演算命令を表示して、編集を受け付けるプログラム編集部をさらに備えるようにしてもよい。
【選択図】図1
Description
本発明は、メモリ等の半導体デバイスの試験に使用するテストパターンを発生させるパターンプログラムの作成を支援するパターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラムに関する。
メモリ等の半導体デバイスは、その製造工程において、半導体試験装置を用いた試験が行なわれる。半導体試験装置を用いた試験は、例えば、図4に示すように、テスタコントローラとして機能するEWS(Engineering Workstation)30を接続した半導体試験装置10に、試験対象の半導体デバイスであるDUT(Device under test)20をセットして行なわれる。
EWS30には、あらかじめDUT20に対応して作成されたパターンプログラムが格納されている。EWS30が、パターンプログラムを実行し、半導体試験装置10の動作を制御することで、テストパターンがDUT20に供給される。そして、半導体試験装置10が、DUT20のテストパターンに対する応答と期待値とを比較すること等で、DUT20の動作検証や性能検証が行なわれる。
テストパターンには、XY2次元の設定領域に対して、ステップ毎に順次、アドレスを進めるアドレス動作が含まれる。このアドレス動作したがって、例えば、1/0の値を書き込んだり、値を読み込む試験等を行なうことができる。アドレス動作は、例えば、図5(a)〜(d)に示すように種々のパターンのアドレス順番が用いられる。
このようなアドレス動作を実行させるためのパターンプログラムは、あらかじめ定められた専用プログラム言語のアドレス演算命令によって作成される。例えば、図5(a)に示すような、設定領域内において、X方向にアドレスを進み、X方向が最後までいくと、Y方向に1つアドレスを進め、再度X方向にアドレスを進めていくアドレス動作の場合には、図6に示すようなアドレス演算命令を含んだパターンプログラムにより実現することができる。
ここで、図6に示したパターンプログラムは、XYそれぞれのアドレスについて、0x0から0x3の範囲で発生するアドレス動作の例を示しており、プログラム中の「.XAE=$3」「.YAE=$3」は、最大アドレスが0x3であることを表わしている。また、「.LD1=$E」と「JJL LD1 XA=XA+1 YA=YA+1+CR」とで、「XA=XA+1 YA=YA+1+CR」を16回実行することを表わしている。なお、「CR」は、XAが.XAEを超えてキャリーが発生したときは「CR=1」となり、それ以外は「CR=0」となる。
ユーザは、パターンプログラムを作成する場合、専用プログラム言語で用意された「XA=XA」「XA=XA+1」等のアドレス演算命令リストから、実行させようとするアドレス動作に対応したアドレス演算命令を選択しなければならない。この際に、ユーザは、選択したアドレス演算命令によるアドレス動作が、実行させようとするアドレスの順番になっているかをイメージし、アドレス演算命令の選択が適切であるかどうかを判断しながらパターンプログラムを作成しなければならず、負担が大きかった。
そこで本発明は、アドレス動作を含んだパターンプログラムを作成するユーザの負担を軽減させることを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の第1の態様であるパターンプログラム作成支援装置は、半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、前記指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部と、を備えたことを特徴とする。
ここで、前記入出力部は、前記セルの表示に先立ち、アドレス範囲の設定を受け付けることができる。
また、変換された前記アドレス演算命令を表示して、編集を受け付けるプログラム編集部をさらに備えるようにしてもよい。
また、前記指定されたアドレス順番を、数式演算、論理演算、シフト演算を用いて表現するデータ解析部をさらに備え、前記プログラム変換部は、前記データ解析部の表現に基づいて、前記アドレス演算命令に変換するようにしてもよい。
上記課題を解決するため、本発明の第2の態様であるパターンプログラム作成支援方法は、半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力ステップと、前記指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換ステップと、を含むことを特徴とする。
上記課題を解決するため、本発明の第3の態様であるコンピュータプログラムは、半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、前記指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部として、情報処理装置を機能させることを特徴とする。
本発明によれば、アドレス動作を含んだパターンプログラムを作成するユーザの負担を軽減させることができる。
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係るパターンプログラム作成支援装置の構成を示すブロック図である。本図に示すように、パターンプログラム作成支援装置100は、入出力部110、データ解析部120、プログラム変換部130、プログラム編集部140、プログラム出力部150、命令リスト格納部160を備えて構成される。
パターンプログラム作成支援装置100は、パターンプログラム200の作成を支援する装置であり、特に、アドレス動作、すなわち、アドレス順序のパターンを指定するプログラムの作成を支援する。パターンプログラム作成支援装置100は、CPUがメモリに格納されたプログラムにしたがって動作することで種々の処理を行なうEWS、PC等の情報処理装置を用いて構成することができる。すなわち、上述の各ブロックは、情報処理装置がコンピュータプログラムを実行することにより、ソフトウェア的に実現することができる。もちろん、上述の各ブロックの一部あるいは全部をハードウェア的に実現するようにしてもよい。
入出力部110は、キーボード、マウス等の入力装置を介してユーザの操作を受け付けるとともに、モニタ等の表示装置にメニュー、編集画面等を表示する。本実施形態では、ユーザから、アドレス動作を行なわせるアドレス範囲の指定を受け付け、発生させたいパターンのアドレスの順番の指定を受け付けるための画面を表示する。
データ解析部120は、ユーザが入力したアドレスの順番を解析して、アドレスの順番を数式演算、論理演算、シフト演算等で表現する。
プログラム変換部130は、データ解析部120の解析結果である数式演算、論理演算、シフト演算等を、命令リスト格納部160に格納されているアドレス演算命令に変換する。
命令リスト格納部160は、記憶装置を用いて構成され、パターンプログラムで使用可能なアドレス演算命令をリスト形式で格納している。
プログラム編集部140は、プログラム変換部130による変換結果を表示装置に表示して、ユーザからの修正を受け付ける。
プログラム出力部150は、変換されたアドレス演算命令、必要に応じて修正・追加された命令等をパターンプログラム200として出力する。
次に、本実施形態におけるパターンプログラム作成支援装置100の動作について図2のフローチャートを参照して説明する。
まず、パターンプログラム作成支援動作においては、入出力部110が初期設定の受け付けを行なう(S101)。初期設定には、アドレス順序を発生させるアドレス範囲の設定が含まれる。アドレス範囲の設定は、XY方向それぞれについて行なうものとする。例えば、XY方向ともアドレス範囲が0x3と設定された場合には、4×4のアドレス範囲についてアドレス順序が定められることになる。
次に、入出力部110が、ユーザからアドレス順番の指定を受け付ける(S102)。アドレス順序の指定は、図3(a)に示すようなアドレス順序指定画面を介して受け付けることができる。アドレス順序指定画面は、初期設定で受け付けたアドレス範囲に対応した空欄のセルが表示されており、ユーザは、空欄のセルに数値を入力したり、順番にクリックすること等で、パターンプログラムで実行させたいアドレス順序を指定することができる。図3(b)は、ユーザによって指定されたアドレス順序の例を示している。
このように、ユーザは実行させたいアドレス順序を、アドレス範囲に対応したセルに直接指定することができるため、アドレス演算命令を意識することなくアドレス順序の指定を行なうことができる。これにより、パターンプログラムを作成するユーザの負担が軽減される。
ユーザからアドレス順番の指定の受け付けると、データ解析部120が、入力された順番を解析して、数式演算、論理演算、シフト演算等で表現する(S103)。そして、プログラム変換部130が、解析結果を命令リスト格納部160に格納されているアドレス演算命令に変換する(S104)。
この変換結果を、プログラム編集部140が、編集画面形式等で表示装置に表示し(S105)、ユーザからの編集を受け付ける(S106)。ユーザは、変換結果に対して修正を行なったり、必要な命令を追加したり、不要な命令を削除することができる。
ユーザの編集が終了すると、プログラム出力部150が、編集結果をパターンプログラム200として出力する(S107)。
以上説明したように、本実施形態のパターンプログラム作成支援装置100は、アドレス範囲に対応したセルを表示し、ユーザからアドレス順番の指定を直接的に受け付けるようにしている。そして、ユーザから受け付けたアドレス順番を解析してアドレス演算命令に変換するようにしている。このため、ユーザは、選択したアドレス演算命令によるアドレス動作が、実行させようとするアドレスの順番になっているかをイメージし、アドレス演算命令の選択が適切であるかどうかを判断する必要がなくなり、パターンプログラムを作成する際の負担が軽減される。
10…半導体試験装置
20…DUT
30…EWS
100…パターンプログラム作成支援装置
110…入出力部
120…データ解析部
130…プログラム変換部
140…プログラム編集部
150…プログラム出力部
160…命令リスト格納部
200…パターンプログラム
20…DUT
30…EWS
100…パターンプログラム作成支援装置
110…入出力部
120…データ解析部
130…プログラム変換部
140…プログラム編集部
150…プログラム出力部
160…命令リスト格納部
200…パターンプログラム
Claims (6)
- 半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、
前記指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部と、
を備えたことを特徴とするパターンプログラム作成支援装置。 - 前記入出力部は、前記セルの表示に先立ち、アドレス範囲の設定を受け付けることを特徴とする請求項1に記載のパターンプログラム作成支援装置。
- 変換された前記アドレス演算命令を表示して、編集を受け付けるプログラム編集部をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2に記載のパターンプログラム作成支援装置。
- 前記指定されたアドレス順番を、数式演算、論理演算、シフト演算を用いて表現するデータ解析部をさらに備え、
前記プログラム変換部は、前記データ解析部の表現に基づいて、前記アドレス演算命令に変換することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のパターンプログラム作成支援装置。 - 半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力ステップと、
前記指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換ステップと、
を含むことを特徴とするパターンプログラム作成支援方法。 - 半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、
前記指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部として、情報処理装置を機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011034824A JP2012174304A (ja) | 2011-02-21 | 2011-02-21 | パターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011034824A JP2012174304A (ja) | 2011-02-21 | 2011-02-21 | パターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012174304A true JP2012174304A (ja) | 2012-09-10 |
Family
ID=46977080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011034824A Withdrawn JP2012174304A (ja) | 2011-02-21 | 2011-02-21 | パターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012174304A (ja) |
-
2011
- 2011-02-21 JP JP2011034824A patent/JP2012174304A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL2010546C2 (en) | Method and apparatus for automatically generating a test script for a graphical user interface. | |
JP5859173B1 (ja) | エンジニアリングツール、プログラム編集装置およびプログラム編集システム | |
US10235477B2 (en) | Prototyping an image processing algorithm and emulating or simulating execution on a hardware accelerator to estimate resource usage or performance | |
JP6310527B1 (ja) | オブジェクト分析装置、オブジェクト分析方法、及びプログラム | |
JP2010113551A (ja) | テスト計画表作成装置及びそのプログラム | |
JP6275009B2 (ja) | 試験装置及び試験プログラム | |
EP2568302A1 (en) | Automatically generating executable code for a test sequence | |
JP2008225683A (ja) | 画面操作システムおよびプログラム | |
JP2012174304A (ja) | パターンプログラム作成支援装置、パターンプログラム作成支援方法およびコンピュータプログラム | |
Srivastava et al. | Cause effect graph to decision table generation | |
JP2010009304A (ja) | エンジニアリングツール | |
JPWO2012049816A1 (ja) | モデル検査装置、方法及びプログラム | |
TW201316194A (zh) | 量測程式輸出系統及方法 | |
CN113282476A (zh) | 接口性能测试方法、装置和电子设备 | |
JP2012221394A (ja) | テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム | |
JP2006039621A (ja) | タイミング制約ライブラリの作成方法及び作成システム | |
JP7391269B1 (ja) | Fa制御プログラム生成支援プログラム、fa制御プログラム生成支援装置、fa制御プログラム生成支援方法 | |
JP2014056388A (ja) | ソフトウェア業務処理テスト簡易化装置 | |
KR102307895B1 (ko) | Opc ua 규격 적합성 검증 장치, 방법 및 이를 이용한 프로그램 | |
JP5224926B2 (ja) | エンジニアリングツール | |
US20240160334A1 (en) | Repeat section in checklist builder and method of using | |
US20240211385A1 (en) | Test support apparatus, test support method and program | |
WO2020209098A1 (ja) | 入力値設定補助装置、入力値設定補助方法及びプログラム | |
JP2010197056A (ja) | データ表示装置、データ表示方法およびプログラム | |
CN113220596A (zh) | 应用的测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20140513 |