JP2012138270A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012138270A JP2012138270A JP2010290100A JP2010290100A JP2012138270A JP 2012138270 A JP2012138270 A JP 2012138270A JP 2010290100 A JP2010290100 A JP 2010290100A JP 2010290100 A JP2010290100 A JP 2010290100A JP 2012138270 A JP2012138270 A JP 2012138270A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- ions
- mass
- analysis unit
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
- H01J49/005—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/421—Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
- H01J49/4215—Quadrupole mass filters
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】蓄積部20は、イオン源10で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出し、第1分析部30は、蓄積部20が排出するイオンパルスから、質量電荷比に基づいて第1の目的イオンを選択し、コリジョンセル30は、第1の目的イオンの一部又は全部を開裂させてプロダクトイオンを生成し、第2分析部50は、第1の目的イオン及びプロダクトイオンから、質量電荷比に基づいて第2の目的イオンを選択し、検出器60は、第2の目的イオンを検出する。制御部90は、第1分析部30では質量が大きい第1の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くし、第2分析部50では質量が大きい第2の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くするように制御する。
【選択図】図1
Description
試料をイオン化するイオン源と
前記イオン源で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する蓄積部と、
前記蓄積部が排出するイオンパルスから、質量電荷比に基づいて第1の目的イオンを選択する第1分析部と、
前記第1の目的イオンの一部又は全部を開裂させてプロダクトイオンを生成するコリジョンセルと、
前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンから、質量電荷比に基づいて第2の目的イオンを選択する第2分析部と、
前記第2の目的イオンを検出する検出器と、
前記第1分析部では質量が大きい前記第1の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くし、前記第2分析部では質量が大きい前記第2の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くするように制御する制御部と、を含む。
前記制御部は、
前記第1の目的イオンの質量電荷比に応じて前記第1分析部の軸電圧を変更することにより、前記第1の目的イオンの光軸方向の運動エネルギーを変更し、
前記第2の目的イオンの質量電荷比に応じて前記第2分析部の軸電圧を変更することにより、前記第2の目的イオンの光軸方向の運動エネルギーを変更するようにしてもよい。
前記制御部は、
前記第1の目的イオンの質量電荷比と前記第1分析部の軸電圧との関係を示す数式又はテーブルに基づいて前記第1分析部の軸電圧を変更し、
前記第2の目的イオンの質量電荷比と前記第2分析部の軸電圧との関係を示す数式又はテーブルに基づいて前記第2分析部の軸電圧を変更するようにしてもよい。
前記制御部は、
前記蓄積部から連続して排出される2つのイオンパルスに対して、前記第1分析部で異なる前記第1の目的イオンを選択する場合、前記第1の目的イオンの選択の変更を開始する時刻は前のイオンパルスが前記第1分析部を通過し終わる時刻よりも後、前記第1の目的イオンの選択の変更を終了する時刻は後のイオンパルスが前記第1分析部を通過し始める時刻よりも前となるように制御し、
前記コリジョンセルから入射する連続する2つのイオンパルスに対して、前記第2分析部で異なる前記第2の目的イオンを選択する場合、前記第2の目的イオンの選択の変更を開始する時刻は前のイオンパルスが前記第2分析部を通過し終わる時刻よりも後、前記第2の目的イオンの選択の変更を終了する時刻は後のイオンパルスが前記第2分析部を通過し始める時刻よりも前となるように制御するようにしてもよい。
前記蓄積部は、
前記イオン源で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する周期が一定であるようにしてもよい。
前記コリジョンセルは、
前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出するようにしてもよい。
前記蓄積部は、
前記イオン源で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する周期が一定であり、
前記コリジョンセルは、
前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する周期が一定であり、
前記蓄積部の前記周期と、前記コリジョンセルの前記周期が等しいようにしてもよい。
前記コリジョンセルは、
前記第1分析部で前記第1の目的イオンの質量電荷比が変更される場合、変更前の最後のイオンパルスを排出する排出動作により当該コリジョンセルにあるイオンをすべて排出するようにしてもよい。
前記コリジョンセルは、
前記第1分析部で前記第1の目的イオンの質量電荷比が変更される場合、変更前の最後のイオンパルスを排出する排出時間を変更前の他のイオンパルスを排出する排出時間よりも長くするようにしてもよい。
(10)この質量分析装置において、
前記コリジョンセルは、
前記第1の目的イオンが入射している間は、前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンを蓄積するようにしてもよい。
前記第1分析部は、
前記第1の目的イオンを選択するための第1の四重極マスフィルターを含み、
前記第2分析部は、
前記第2の目的イオンを選択するための第2の四重極マスフィルターを含むようにしてもよい。
前記第1分析部は、
第1の四重極マスフィルターに対するプリフィルター及びポストフィルターの少なくとも一方を含み、
前記第2分析部は、
第2の四重極マスフィルターに対するプリフィルター及びポストフィルターの少なくとも一方を含むようにしてもよい。
(1)構成
まず、第1実施形態の質量分析装置の構成について説明する。第1実施形態の質量分析装置は、いわゆる三連型の四重極質量分析装置であり、その構成の一例を図1に示す。なお、図1は、本実施形態の質量分析装置を鉛直方向に切断した時の概略断面図である。
次に、第1実施形態の質量分析装置1の動作について説明する。以下では、イオン源10において生成されるイオンが正イオンであるものとして説明するが、負イオンであってもよい。負イオンについても、電圧極性を反転させれば以下と同様の説明を適用することができる。
(1)構成
一般にプリカーサーイオンはある確率に基づいてプロダクトイオンへと開裂するので、上述した第1実施形態の質量分析装置1ではコリジョンセル40の中でイオンパルスの幅が広がってしまう。例えば、図3の例では、コリジョンセル40に入射するイオンパルスip11は、コリジョンセル40から出射するときにはより幅の広いイオンパルスip21になり、その結果、検出器60に入射するイオンパルスip31の幅も広がっている。一般に、検出器60に入射するイオンパルスの幅が広いほどイオンパルスに含まれるノイズが増えるので、イオン強度の検出感度を劣化させる原因となる。
次に、第2実施形態の質量分析装置の動作について説明する。以下では、イオン源10において生成されるイオンが正イオンであるものとして説明するが、負イオンであってもよい。負イオンについても、電圧極性を反転させれば以下と同様の説明を適用することができる。
本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
例えば、第1分析部の四重極マスフィルターの前後や第2分析部の四重極マスフィルターの前後に、プリフィルターやポストフィルターを設けてもよい。図5に、この質量分析装置の構成例を示す。図5において、図1と同じ構成には同じ符号を付しており、その説明を省略する。
また、例えば、図7に示すように、大気圧イオン源の代わりに、試料に電子を衝突させてイオン化する電子衝突イオン化源など試料を真空中でイオン化するイオン源を用いてもよい。図7において、図1と同じ構成については同じ符号を付しており、その説明を省略する。
Claims (12)
- 試料をイオン化するイオン源と
前記イオン源で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する蓄積部と、
前記蓄積部が排出するイオンパルスから、質量電荷比に基づいて第1の目的イオンを選択する第1分析部と、
前記第1の目的イオンの一部又は全部を開裂させてプロダクトイオンを生成するコリジョンセルと、
前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンから、質量電荷比に基づいて第2の目的イオンを選択する第2分析部と、
前記第2の目的イオンを検出する検出器と、
前記第1分析部では質量が大きい前記第1の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くし、前記第2分析部では質量が大きい前記第2の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くするように制御する制御部と、を含む、質量分析装置。 - 請求項1において、
前記制御部は、
前記第1の目的イオンの質量電荷比に応じて前記第1分析部の軸電圧を変更することにより、前記第1の目的イオンの光軸方向の運動エネルギーを変更し、
前記第2の目的イオンの質量電荷比に応じて前記第2分析部の軸電圧を変更することにより、前記第2の目的イオンの光軸方向の運動エネルギーを変更する、質量分析装置。 - 請求項2において、
前記制御部は、
前記第1の目的イオンの質量電荷比と前記第1分析部の軸電圧との関係を示す数式又はテーブルに基づいて前記第1分析部の軸電圧を変更し、
前記第2の目的イオンの質量電荷比と前記第2分析部の軸電圧との関係を示す数式又はテーブルに基づいて前記第2分析部の軸電圧を変更する、質量分析装置。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記制御部は、
前記蓄積部から連続して排出される2つのイオンパルスに対して、前記第1分析部で異なる前記第1の目的イオンを選択する場合、前記第1の目的イオンの選択の変更を開始する時刻は前のイオンパルスが前記第1分析部を通過し終わる時刻よりも後、前記第1の目的イオンの選択の変更を終了する時刻は後のイオンパルスが前記第1分析部を通過し始める時刻よりも前となるように制御し、
前記コリジョンセルから入射する連続する2つのイオンパルスに対して、前記第2分析部で異なる前記第2の目的イオンを選択する場合、前記第2の目的イオンの選択の変更を開始する時刻は前のイオンパルスが前記第2分析部を通過し終わる時刻よりも後、前記第2の目的イオンの選択の変更を終了する時刻は後のイオンパルスが前記第2分析部を通過し始める時刻よりも前となるように制御する、質量分析装置。 - 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記蓄積部は、
前記イオン源で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する周期が一定である、質量分析装置。 - 請求項1乃至5のいずれかにおいて、
前記コリジョンセルは、
前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する、質量分析装置。 - 請求項6において、
請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記蓄積部は、
前記イオン源で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する周期が一定であり、
前記コリジョンセルは、
前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する周期が一定であり、
前記蓄積部の前記周期と前記コリジョンセルの前記周期が等しい、質量分析装置。 - 請求項6又は7において、
前記コリジョンセルは、
前記第1分析部で前記第1の目的イオンの質量電荷比が変更される場合、変更前の最後のイオンパルスを排出する排出動作により当該コリジョンセルにあるイオンをすべて排出する、質量分析装置。 - 請求項6又は7において、
前記コリジョンセルは、
前記第1分析部で前記第1の目的イオンの質量電荷比が変更される場合、変更前の最後のイオンパルスを排出する排出時間を変更前の他のイオンパルスを排出する排出時間よりも長くする、質量分析装置。 - 請求項6乃至9のいずれかにおいて、
前記コリジョンセルは、
前記第1の目的イオンが入射している間は、前記第1の目的イオン及び前記プロダクトイオンを蓄積する、質量分析装置。 - 請求項1乃至10のいずれかにおいて、
前記第1分析部は、
前記第1の目的イオンを選択するための第1の四重極マスフィルターを含み、
前記第2分析部は、
前記第2の目的イオンを選択するための第2の四重極マスフィルターを含む、質量分析装置。 - 請求項11において、
前記第1分析部は、
第1の四重極マスフィルターに対するプリフィルター及びポストフィルターの少なくとも一方を含み、
前記第2分析部は、
第2の四重極マスフィルターに対するプリフィルター及びポストフィルターの少なくとも一方を含む、質量分析装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010290100A JP5543912B2 (ja) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | 質量分析装置 |
US13/332,438 US8692191B2 (en) | 2010-12-27 | 2011-12-21 | Mass spectrometer |
EP11195378.2A EP2469578B1 (en) | 2010-12-27 | 2011-12-22 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010290100A JP5543912B2 (ja) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012138270A true JP2012138270A (ja) | 2012-07-19 |
JP5543912B2 JP5543912B2 (ja) | 2014-07-09 |
Family
ID=45509212
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010290100A Active JP5543912B2 (ja) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | 質量分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8692191B2 (ja) |
EP (1) | EP2469578B1 (ja) |
JP (1) | JP5543912B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015193946A1 (ja) * | 2014-06-16 | 2015-12-23 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析方法及びms/ms型質量分析装置 |
JP2016520979A (ja) * | 2013-05-30 | 2016-07-14 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | インラインのイオン反応デバイスセルおよび動作方法 |
EP3540757A1 (en) | 2018-03-14 | 2019-09-18 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
EP3544044A1 (en) | 2018-03-19 | 2019-09-25 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
EP3832692A1 (en) | 2019-12-04 | 2021-06-09 | Jeol Ltd. | Mass spectrometer |
WO2022254526A1 (ja) * | 2021-05-31 | 2022-12-08 | 株式会社島津製作所 | 四重極型質量分析装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140138533A1 (en) * | 2012-11-19 | 2014-05-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Ion mass selector, ion irradiation device, surface analysis device, and ion mass selecting method |
GB201407201D0 (en) * | 2014-04-24 | 2014-06-11 | Micromass Ltd | Mass spectrometer with interleaved acquisition |
DE112015001908B4 (de) | 2014-04-24 | 2022-01-20 | Micromass Uk Limited | Massenspektrometer mit verschachtelter Aufnahme |
US9490115B2 (en) * | 2014-12-18 | 2016-11-08 | Thermo Finnigan Llc | Varying frequency during a quadrupole scan for improved resolution and mass range |
GB201508197D0 (en) * | 2015-05-14 | 2015-06-24 | Micromass Ltd | Trap fill time dynamic range enhancement |
JP7095579B2 (ja) * | 2018-12-05 | 2022-07-05 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010023873A1 (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP2010127714A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Jeol Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP2011146287A (ja) * | 2010-01-15 | 2011-07-28 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9717926D0 (en) * | 1997-08-22 | 1997-10-29 | Micromass Ltd | Methods and apparatus for tandem mass spectrometry |
CA2255122C (en) * | 1998-12-04 | 2007-10-09 | Mds Inc. | Improvements in ms/ms methods for a quadrupole/time of flight tandem mass spectrometer |
US6545268B1 (en) * | 2000-04-10 | 2003-04-08 | Perseptive Biosystems | Preparation of ion pulse for time-of-flight and for tandem time-of-flight mass analysis |
US6617577B2 (en) * | 2001-04-16 | 2003-09-09 | The Rockefeller University | Method and system for mass spectroscopy |
US7388194B2 (en) * | 2002-03-28 | 2008-06-17 | Mds Sciex Inc. | Method and system for high-throughput quantitation using laser desorption and multiple-reaction-monitoring |
US7405397B2 (en) * | 2002-03-28 | 2008-07-29 | Mds Sciex Inc. | Laser desorption ion source with ion guide coupling for ion mass spectroscopy |
EP1502280B1 (en) * | 2002-04-29 | 2013-09-04 | MDS Inc., doing business as MDS Sciex | Broad ion fragmentation coverage in mass spectrometry by varying the collision energy |
US7034292B1 (en) * | 2002-05-31 | 2006-04-25 | Analytica Of Branford, Inc. | Mass spectrometry with segmented RF multiple ion guides in various pressure regions |
JP5424085B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2014-02-26 | エムディーエス インコーポレイテッド | パルス軸方向場を使用した質量選択的軸方向輸送のための方法および装置 |
-
2010
- 2010-12-27 JP JP2010290100A patent/JP5543912B2/ja active Active
-
2011
- 2011-12-21 US US13/332,438 patent/US8692191B2/en active Active
- 2011-12-22 EP EP11195378.2A patent/EP2469578B1/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010023873A1 (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP2010127714A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Jeol Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP2011146287A (ja) * | 2010-01-15 | 2011-07-28 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析装置 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016520979A (ja) * | 2013-05-30 | 2016-07-14 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | インラインのイオン反応デバイスセルおよび動作方法 |
WO2015193946A1 (ja) * | 2014-06-16 | 2015-12-23 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析方法及びms/ms型質量分析装置 |
CN106463339A (zh) * | 2014-06-16 | 2017-02-22 | 株式会社岛津制作所 | Ms/ms型质谱分析方法以及ms/ms型质谱分析装置 |
JPWO2015193946A1 (ja) * | 2014-06-16 | 2017-04-20 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析方法及びms/ms型質量分析装置 |
CN106463339B (zh) * | 2014-06-16 | 2018-06-15 | 株式会社岛津制作所 | Ms/ms型质谱分析方法以及ms/ms型质谱分析装置 |
US10763093B2 (en) | 2018-03-14 | 2020-09-01 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
EP3540757A1 (en) | 2018-03-14 | 2019-09-18 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
EP3544044A1 (en) | 2018-03-19 | 2019-09-25 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
JP2019164919A (ja) * | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
US10720318B2 (en) | 2018-03-19 | 2020-07-21 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
EP3832692A1 (en) | 2019-12-04 | 2021-06-09 | Jeol Ltd. | Mass spectrometer |
US11315781B2 (en) | 2019-12-04 | 2022-04-26 | Jeol Ltd. | Mass spectrometer |
WO2022254526A1 (ja) * | 2021-05-31 | 2022-12-08 | 株式会社島津製作所 | 四重極型質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120160998A1 (en) | 2012-06-28 |
EP2469578B1 (en) | 2018-02-14 |
US8692191B2 (en) | 2014-04-08 |
EP2469578A1 (en) | 2012-06-27 |
JP5543912B2 (ja) | 2014-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5543912B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5657278B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US20020121597A1 (en) | Controlling the temporal response of mass spectrometers for mass spectrometry | |
US8164053B2 (en) | Mass analyzer and mass analyzing method | |
JP5229404B2 (ja) | Ms/ms型質量分析装置 | |
US9589780B2 (en) | Systems and methods of suppressing unwanted ions | |
JP2003123685A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
JP2009117388A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2011119279A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
JP4968260B2 (ja) | Ms/ms型質量分析装置 | |
JP2005353304A (ja) | 質量分析装置 | |
JP5530531B2 (ja) | 質量分析装置および質量分析方法 | |
JP4267898B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP2011249109A (ja) | タンデム四重極型質量分析装置 | |
EP1467397B1 (en) | Mass spectrometer and method of use | |
US20050253059A1 (en) | Tandem-in-time and-in-space mass spectrometer and associated method for tandem mass spectrometry | |
WO2017081770A1 (ja) | 四重極マスフィルタ及び四重極型質量分析装置 | |
JP6054715B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 | |
JP2019160610A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2009266444A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2011034981A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
JP2009146913A (ja) | 質量分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130614 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140328 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140509 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5543912 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |