JP2012043507A - 磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置または検査方法並びに磁気ディスクの記録装置及び記録方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】瓦書き方式に適用可能なサーボパターンを形成できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置または検査方法あるいは磁気ディスクの記録装置または記録方法を提供する。
【解決手段】磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングする磁気ディスクの検査または記録において、前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターンを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターンに重ね書きする。
【選択図】図8
【解決手段】磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングする磁気ディスクの検査または記録において、前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターンを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターンに重ね書きする。
【選択図】図8
Description
本発明は、磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置または検査方法並びに磁気ディスクの記録装置及び記録方法に係わり、特に記憶容量を増大できる瓦書き(Shingle 書込)方式の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置または検査方法並びに磁気ディスクの記録装置及び記録方法に関わる。
昨今の情報量の急激な増加により、記録装置の記録容量の増大の要求が高い。磁気記録装置においても同様である。磁気記録装置の記録容量を増大させる方法として瓦書き方式がある。瓦書き磁気記録装置の開発に伴い、磁気記録装置に用いる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置も開発する必要がある。
瓦書き方式ではない従来の方式としては特許文献1がある。
瓦書き方式ではない従来の方式としては特許文献1がある。
しかしながら、瓦書き方式は方式自体の提案がなされていたが、単に特許文献1に示すような従来のデータ書込方式を適用できないために、実用化に至っていないのが実情である。
図1は瓦書き方式の概念を説明する図である。図1(b)に示すように、従来のデータ書込方式は、磁気ヘッドによって円周状に書き込まれる図1(a)に示す書込トラック11aがその隣接する書込トラック11bとの間に隙間7を設けて書き込まれる方式であり、書込トラック11a、11bがそのままデータが読み書きされるデータトラック10となる。一方、瓦書き方式では、図1(c)に示すように、ある書込トラック11aに対し隣りの書込トラック11bが、書込トラック幅に対して1/2または1/3程度(重なりの割合は任意)重ねて書き、また更に隣の書込トラック11cが同じ割合で重ね書きし、家屋の屋根の瓦の様に順々に重ねてトラック書きする方式であり、書込トラック11a、11b、11c・・・がデータトラック10とならない。
以下の説明では、磁気ヘッド、磁気ヘッドに設けられる読込素子及び書込素子の符号として以下に定める。基本的には書込素子は瓦書き方式でも従来のものを使用するためにWで示す。一方、磁気ヘッド、磁気ヘッドに設けられる読込素子は、従来方式のものはそれぞれOH、ORで、瓦書き方式のものはそれぞれKH、KRで、また両方を示すときはそれぞれH、Rで示す。
瓦書き方式が従来方式と大きく異なる点は、磁気ヘッドの読込素子Rの幅RHである。磁気ヘッドの書込素子Wは書き込みにパワーを必要とするため、その幅WHを狭くすることができない。従来の磁気ヘッドの読込素子ORの幅RHjは、図2(a)に示すように、磁気ヘッドの書込素子Wの幅WHに対し同じか若干狭い80%〜90%程の幅を持っている。一方、瓦書き方式の磁気ヘッドの読込素子幅KHは、図2(b)に示すように、記録容量を高めるために、磁気ヘッドの書込素子幅WHに対して20%〜50%程度とかなり狭くなる。これは、瓦書き方式で規定されるデータトラック幅は、例えば読込素子幅RHkに書かれたデータを読込素子KRによって読み込む必要があるためである。読込幅が狭くなり、読込処理の際にターゲットにしているデータトラックの中心を正確に捉えてトレースしなければ、正しいデータを読み込み出来ない。
従って、本発明の第1の目的は、瓦書き方式に適用可能なサーボパターンを形成できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置または検査方法を提供することにある。
また、本発明の第2の目的は、瓦書き方式に適用可能なサーボパターンを形成できる磁気ディスクの記録装置及び記録方法を提供することにある。
本発明は、前記目的を達成するために、少なくとも下記の特徴を有する。
本発明は、第1の目的を達成するために、磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングし、前記磁気ヘッドまたは磁気ディスクの特性を測定する磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置または検査方法において、前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターンを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターンに重ね書きすることを第1の特徴とする。
本発明は、第1の目的を達成するために、磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングし、前記磁気ヘッドまたは磁気ディスクの特性を測定する磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置または検査方法において、前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターンを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターンに重ね書きすることを第1の特徴とする。
また、本発明は、第1の目的を達成するために、前記複数のパターンは前記磁気ディスクの径方向及び周方向に所定の間隔ずれて形成されることを第2の特徴とする。
さらに、本発明は、第1の目的を達成するために、前記回転のうち同一周回転内において、前記複数のパターンのうち任意のパターンの位置に前記第1の周波数を書き込み、別のパターンの位置に前記第2の周波数を書き込むことを第3の特徴とする。
さらに、本発明は、第1の目的を達成するために、前記回転のうち同一周回転内において、前記複数のパターンのうち任意のパターンの位置に前記第1の周波数を書き込み、別のパターンの位置に前記第2の周波数を書き込むことを第3の特徴とする。
また、本発明は、第1の目的を達成するために、前記同一周回転の次の周回転において、前記任意のパターンの次のパターンの位置に前記第1の周波数を書き込み、前記別のパターンの次のパターンの位置に前記第2の周波数を書き込むことを第4の特徴とする。
さらに、本発明は、第1の目的を達成するために、前記サーボフォローイング幅は前記読込素子幅以上であって、前記読込素子幅の120%幅以下であることを第5の特徴とする。
さらに、本発明は、第1の目的を達成するために、前記サーボフォローイング幅は前記読込素子幅以上であって、前記読込素子幅の120%幅以下であることを第5の特徴とする。
また、本発明は、第1の目的を達成するために、前記読込素子の幅は、前記書込素子の幅の20%〜50%の範囲であることを第6の特徴とする。
さらに、本発明は、第2の目的を達成するために、磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを、データ領域にデータを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングし、前記データを読み込む磁気ディスクの記録装置または方法において、前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターン及び前記データを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記第1周波数で書き込まれた部分のうち前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターン及び該データに重ね書きすることを第7の特徴とする。
さらに、本発明は、第2の目的を達成するために、磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを、データ領域にデータを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングし、前記データを読み込む磁気ディスクの記録装置または方法において、前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターン及び前記データを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記第1周波数で書き込まれた部分のうち前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターン及び該データに重ね書きすることを第7の特徴とする。
本発明よれば、発瓦書き方式に適用可能なサーボパターンを形成できる磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置または検査方法を提供できる。
また、本発明よれば、瓦書き方式に適用可能なサーボパターンを形成できる磁気ディスクの記録装置及び記録方法を提供できる。
図3は、本実施形態の磁気ヘッド検査装置または磁気ディスク検査装置のシステムブロック図を示す。同検査装置では、ディスク回転部15は磁気ディスク1を保持して回転し、磁気ヘッドHを同ディスク上に浮上させる。書込信号発生部19の出力で生成された試験データは、書込アンプ18を介して、磁気ディスク1内の目標とする書込トラック11(図1参照)上に記録される。次に、記録した試験データを磁気ヘッドHで読み込み、読込アンプ17で増幅して再生信号として特性計測部20とサーボ制御部5に入力する。特性計測部20は再生信号のS/Nなどの電気特性を計測してテスタバス21を介して検査装置の全体制御部22に出力し、全体制御部22は同出力データをもとにして被試験対象である磁気ヘッドまたは磁気ディスクの良否判定やクラス分けを行う。
ここで、磁気ディスク1上には、検査開始前にあらかじめ磁気ヘッドHを目標データトラック10(図1参照)上に位置決めするためのサーボ制御を行うため、後述する図4(a)に示すサーボパターン領域1sにサーボ信号であるサーボパターンを書き込む。サーボ制御部23はこのサーボパターンの信号に基づいて、磁気ヘッドHを目標データトラックの中心または任意位置に位置決めするための位置制御、所謂、サーボフォローイングを行う。具体的には、サーボパターンの信号は、まずサーボ制御部23内のサーボパターン検出部5に入力される。ロウパスフィルタ4は、サーボパターンの信号成分fu以外の周波数成分(雑音)を除去し、信号をA/D変換器3に出力する。周波数分析器6はA/D変換器3から信号をうけ、サーボパターンを構成する各パターンの振幅データを計算しヘッド位置検出および制御部9に入力する。
ヘッド位置検出および制御部9はサーボパターンの各パターンの振幅データを収集し、同データに基づいて磁気ヘッドHの位置を検出し、目標位置とのずれを補正するための位置信号を、D/A変換器13および出力アンプ14を介してステージ12に出力する。この動作を繰り返すことにより、磁気ヘッドHの位置決めを高精度に行うことができる。
次に、データトラックの中心を正確に捉えてトレースするサーボフォローイングの技術について図4を用いてより詳細に説明する。図4はサーボフォローイングの基本的な概念を示す図である。
図4(a)に示すように、磁気ディスク1は円周方向に任意数(8/16/32/64/128分割)に等間隔のブロックに分割され、その各ブロックの一端側に設けられたサーボパターン2を形成するサーボ領域1sとその他領域であってデータが形成されるデータ領域1dとを有する。
図4(a)に示すように、磁気ディスク1は円周方向に任意数(8/16/32/64/128分割)に等間隔のブロックに分割され、その各ブロックの一端側に設けられたサーボパターン2を形成するサーボ領域1sとその他領域であってデータが形成されるデータ領域1dとを有する。
サーボフォローイングは、前述したように、磁気ヘッドの書込素子によって自製でサーボパターン2を書き込み、磁気ヘッドの読込素子Kによって図3(b)に示すサーボパターン2を読み、出力される波形の形状によって、磁気ディスク1の半径方向のずれを計算し位置補正することで、読込素子Rを常にデータトラック上に保持させるシステムである。そのために、図4(b)に示すように、サーボパターンは、データトラック10に対し垂直に複数のパターン((図4b)では6つ)をそれぞれ所定の間隔を径方向及び周方向にずらして書き、読み込んだ出力値に差が発生し、その出力波形によって位置を補正する。図4(b)ではそれぞれのパターンを四角形で表しているが、実際は引出図に示すように読込素子Rで読込可能な正弦周波数の波形が書き込まれている。
図5は従来方式で書かれたサーボパターンを従来の読込素子ORで読み込みサーボフォローイングする場合を示す図である。図5(a)、図5(b)は、従来方式で書かれたAからFまでの6つのパターンで構成されるサーボパターンを従来の読込素子ORで読み込む場合のサーボパターン2と読込素子ORの軌跡との位置関係と、その時の読み込んだ出力値パターンを示した図である。出力値は読み込んだ各パターンの振幅値で示す。図5(a)は、読込素子ORが読込素子ORで規定されるデータトラック10の中央を通り位置補正がほとんどない場合を、図5(b)は、読込素子ORが読込素子ORで規定されるデータトラック10の中央から外れた位置を通り位置補正が大きく必要な場合を示す図である。図5(a)の場合は、中央のC,Dパターンの出力値が大きい菱形のパターンを示し、図5(b)の場合は、逆にA,Fパターンの出力値が大きい逆菱形のパターンを示している。このようにパターンの違いによって位置補正を行う。
図6は従来方式で書かれた上記サーボパターンを瓦書き方式の読込素子KRにてサーボフォローイングする場合を示す図である。図6(a)、図6(b)はそれぞれ図5(a)、図5(b)に対応した図である。図6(a)に示す読込素子KRが読込素子KRで規定されるデータトラック10の中心に位置している時と、図6(b)に示す読込素子KRで規定されるデータトラック10の中心から離れた時とは、共に読めるパターンと読めないパターンが発生し、読めたパターンは最大出力で、読めないパターンは出力0になりパターン間での出力差が発生せず、データトラック中心に対しどれだけ位置ずれを起こしているかを計算する事ができない。
このように、従来方式で書かれたサーボパターンを瓦書きヘッドで読む場合の問題点は、サーボパターンの書き込み幅WHと瓦書き読込素子KRの幅RHkと差が大きいことにある。図6(a)、図6(b)の場合は極端な場合を示したが、さらに、説明すると以下のようになる。書込素子Wの幅で書かれたサーボパターン2が、読込素子KRの幅に対し2〜4倍あるため、データトラックに対し読込素子KRの位置がずれてもずれ量が少ない場合は、サーボパターンの出力波形に変化が出難い。逆に、ずれ量が大きくなった場合は、各パターンの差が見えず、データトラックに対しどれだけずれたのか、内径方向にずれているのか外径方向にずれているのかの区別も付かなくなる。
そこで、瓦書きヘッドに適したサーボパターンを作成する必要となる。上記の検討から
幅の狭い瓦書き用磁気ヘッドKHでも従来と同様なサーボフォローイングをさせるためには、瓦書き読込素子KRで読み込むサーボパターンの幅を読込素子幅RWに適した幅TH(以下、単に読込適幅THという)で書き込む必要がある。読込適幅THとは、読込幅RWと同じか読込幅RW+20%程度である。
幅の狭い瓦書き用磁気ヘッドKHでも従来と同様なサーボフォローイングをさせるためには、瓦書き読込素子KRで読み込むサーボパターンの幅を読込素子幅RWに適した幅TH(以下、単に読込適幅THという)で書き込む必要がある。読込適幅THとは、読込幅RWと同じか読込幅RW+20%程度である。
図7は読込適幅THを形成する本実施形態における基本的な考え方を示す。まず、図7(a)に示すように、サーボフォローイングさせるためのサーボパターンを形成する周波数fu(第1の周波数)で書込素子幅WHで書き込みした後に、別の周波数fe(第2の周波数)で書き込み、書込素子幅WHと読込適幅THの差DWの分だけ重ね書きして消してしまう。例えば、別の周波数fuとは図3に示すロウパスフィルタ4でカットされる、又は読込素子KRが応答しない周波数である。
そうすることで先に書いたパターンの内、重なっていない部分の幅が読込適幅THと同じになる。この方法で全てのサーボパターンを読込適幅THと同じ幅で書き込むと、瓦書きヘッドでも従来と同様にパターン間の出力さが発生しその差から位置ずれ量を計算して位置補正が可能となる。
そうすることで先に書いたパターンの内、重なっていない部分の幅が読込適幅THと同じになる。この方法で全てのサーボパターンを読込適幅THと同じ幅で書き込むと、瓦書きヘッドでも従来と同様にパターン間の出力さが発生しその差から位置ずれ量を計算して位置補正が可能となる。
図8は、上記重ね書き対応のサーボパターンの書き込み手順を示す。図8では読込適幅THを瓦書き読込素子KRの読込幅RHkとしている。説明の際に区別し易くするために、本来瓦書き読込素子KRがサーボフォローイングのパターンを形成するために周波数fuでの書き込みをMajor(メジャー)書込と呼び、Major(メジャー)書込に重ね書きし不要なパターンを消去するために別の周波数feでの書き込みをMinor(マイナー)書込と呼ぶ。また、作成するサーボパターンは6本で1セットの場合を例とし、その位置順にAパターンから順にFパターンと呼ぶ。また、以下の説明で、例えば、Aパターンを書くとは、Aパターンのあるべき位置に周波数fu又は周波数feで規定パターンを書込素子Wで書くこという。規定のパターンはAからFの各パターンに対して同じである。また、半径方向とは磁気ディスク1の半径方向をいう。
(処理1)Major(メジャー)書込でAパターンを書き、そのAパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてDパターンを書く。
(処理2)磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でBパターンを書き、そのBパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてEパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Bパターンは、前記周回転に伴い、処理1で書いたMajor(メジャー)Aパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Eパターンも、Major(メジャー)Bパターン同様に、処理1で書いたMinor(マイナー)Dパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。
(処理2)磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でBパターンを書き、そのBパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてEパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Bパターンは、前記周回転に伴い、処理1で書いたMajor(メジャー)Aパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Eパターンも、Major(メジャー)Bパターン同様に、処理1で書いたMinor(マイナー)Dパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。
(処理3)さらに、磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でCパターンを書き、そのCパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてFパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Cパターンは、前記周回転に伴い、処理2で書いたMajor(メジャー)Bパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Fパターンは、Major(メジャー)Cパターン同様に、処理2で書いたMinor(マイナー)Eパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3ずれている。
(処理4)磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でDパターンを書き、そのDパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてAパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Dパターンは、前記周回転に伴い、処理3で書いたMajor(メジャー)Cパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Aパターンは、Major(メジャー)Dパターン同様に、処理3で書いたMinor(マイナー)Fパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。処理1で書いたMajor(メジャー)AパターンはMinor(マイナー)Aパターンによって重ね書きされ残った部分が読込素子幅と同等になる。
(処理5) 磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でEパターンを書き、そのEパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてBパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Eパターンは、前記周回転に伴い、処理4で書いたMajor(メジャー)Dパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Bパターンは、Major(メジャー)Eパターン同様に、処理4で書いたMinor(マイナー)Aパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。処理2で書いたMajor(メジャー)BパターンはMinor(マイナー)Bパターンによって重ね書きされ残った部分が読込素子幅と同等になる。
(処理6) 磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でFパターンを書き、そのFパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてCパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Fパターンは、前記周回転に伴い、処理5で書いたMajor(メジャー)Eパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Cパターンは、Major(メジャー)Fパターン同様に、処理5で書いたMinor(マイナー)Bパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。処理3で書いたMajor(メジャー)CパターンはMinor(マイナー)Cパターンによって重ね書きされ残った部分が読込素子幅と同等になる。
(処理7) 磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でAパターンを書き、そのAパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてDパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Aパターンは、前記周回転に伴い、処理6で書いたMajor(メジャー)Fパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Dパターンは、Major(メジャー)Aパターン同様に、処理6で書いたMinor(マイナー)Cパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。処理4で書いたMajor(メジャー)DパターンはMinor(マイナー)Dパターンによって重ね書きされ残った部分が読込素子幅と同等になる。
(処理8) 磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でBパターンを書き、そのBパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてEパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Bパターンは、前記周回転に伴い、処理7で書いたMajor(メジャー)Aパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Eパターンは、Major(メジャー)Bパターン同様に、処理7で書いたMinor(マイナー)Dパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。処理5で書いたMajor(メジャー)EパターンはMinor(マイナー)Eパターンによって重ね書きされ残った部分が読込素子幅と同等になる。
(処理9) 磁気ディスク1を1周回転後、Major(メジャー)書込でCパターンを書き、そのCパターンと半径方向に同じ高さでMinor(マイナー)書込にてFパターンを書く。このときのMajor(メジャー)Cパターンは、前記周回転に伴い、処理8で書いたMajor(メジャー)Bパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。また、Minor(マイナー)Fパターンは、Major(メジャー)Cパターン同様に、処理8で書いたMinor(マイナー)Eパターンに対し半径方向に読込素子幅の1/3分ずれている。処理6で書いたMajor(メジャー)FパターンはMinor(マイナー)Fパターンによって重ね書きされ残った部分が読込素子幅と同等になる。
ここで、破線で示しように、処理1〜処理9で書いたMajor(メジャー)パターンA〜Fの1セットが読込素子幅と同じ幅に重ね書きされたことになる。以降は上記、処理4〜処理9を繰り返す毎に6本1セットのサーボパターンが追加されていき、図9に示すサーボパターンが完成する。このサーボパターンのMajorとMinorの幅は、最終行の仕掛中パターンを除いた全てが読込ヘッドと同じ幅になっている。
これにより、瓦書きに用いる狭い幅の読込素子でも従来と同様の精度でサーボフォローイングが可能となる。その後、サーボパターンを形成後、そのサーボパターンを形成する方式でデータ領域にデータを書き込み、または読み込みすることで、磁気ヘッドまたは磁気ディスクを検査することができる。
その結果、瓦書き方式の磁気ヘッドまたは磁気ディスクを検査できる装置を提供できる。
これにより、瓦書きに用いる狭い幅の読込素子でも従来と同様の精度でサーボフォローイングが可能となる。その後、サーボパターンを形成後、そのサーボパターンを形成する方式でデータ領域にデータを書き込み、または読み込みすることで、磁気ヘッドまたは磁気ディスクを検査することができる。
その結果、瓦書き方式の磁気ヘッドまたは磁気ディスクを検査できる装置を提供できる。
以上の説明では、6つのパターンA〜Fの場合を述べた。パターン数は6本に限らずサーボフォローイングが可能となる複数本でもよい。
また、以上の説明では、サーボパターンを形成する時に、例えば周波数fuでAパターンを形成後、2つおきのDパターンで周波数feで重ね書きし消した。書込素子、読込み素子の応答性がよければ、或いはパターン幅が広く取れるのであれば、Aパターンの後のBパターンを重ね書きし消してもよい。
また、以上の説明では、サーボパターンを形成する時に、例えば周波数fuでAパターンを形成後、2つおきのDパターンで周波数feで重ね書きし消した。書込素子、読込み素子の応答性がよければ、或いはパターン幅が広く取れるのであれば、Aパターンの後のBパターンを重ね書きし消してもよい。
本実施形態によれば、従来のサーボパターンを書く部分を、そのまま流用し、別周波数にて重ねて書き消す行程を追加することで、新方式の瓦書き用磁気ヘッドに対応したサーボパターンを作成可能なことから、開発日程の軽減と従来装置からのバァージョンアップを容易にできる。
また、サーボフォローイングを実施する瓦書き方式を用いた磁気記録装置においても本実施形態の瓦書きサーボフォローイング方式を適用できる。即ち、磁気ヘッドの検査装置または磁気ディスクの検査装置と同様に、周波数fu、feで瓦書き方式のサーボパターンを書き込み後、周波数fu、feで瓦書き方式のデータをデータ領域に書き込む。この場合、書込幅は読込幅の3倍ならば、次及び次の次の周回に対するデータも書き換わるので、影響がでない範囲、例えばブロック単位でデータを書き変える。また、データ作成の2つの周波数をサーボパターンを作成する2つの周波数と変えてもよい。
1:磁気ディスク 1s:サーボパターン領域
1d:データ領域 2:サーボパターン
4:ロウパスフィルタ 5:サーボパターン検出部
7:従来方式の書込みトラック間の隙間 9:ヘッド位置検出および制御部
10:データトラック 11:書込トラック
15:ディスク回転部 19:書込信号発生部
20:特性計測部 22:全体制御部
23:サーボ制御部 fu:サーボパターンを形成する周波数
fe:重ね書きし不要なパターンを消去するための別の周波数
AからFパターン:サーボパターンを形成する6つのパターン
DW:書込素子幅と読込適幅の差 H:磁気ヘッド
Major(メジャー)書込:サーボフォローイングのパターンを形成するために周波数fu
での書き込み
Minor(マイナー)書込:重ね書きし不要なパターンを消去するために別の周波数feで
の書き込み
KH:瓦書き方式の磁気ヘッド KR:瓦書き方式の読込素子
OH:従来方式の磁気ヘッド OR:従来方式の読込素子
R:読込素子 RH:読込素子の幅
RHj:従来方式の読込素子の幅 RHk:瓦書き方式の読込素子の幅
TH:瓦書き方式の読込適幅 W:書込素子
WH:書込素子の幅。
1d:データ領域 2:サーボパターン
4:ロウパスフィルタ 5:サーボパターン検出部
7:従来方式の書込みトラック間の隙間 9:ヘッド位置検出および制御部
10:データトラック 11:書込トラック
15:ディスク回転部 19:書込信号発生部
20:特性計測部 22:全体制御部
23:サーボ制御部 fu:サーボパターンを形成する周波数
fe:重ね書きし不要なパターンを消去するための別の周波数
AからFパターン:サーボパターンを形成する6つのパターン
DW:書込素子幅と読込適幅の差 H:磁気ヘッド
Major(メジャー)書込:サーボフォローイングのパターンを形成するために周波数fu
での書き込み
Minor(マイナー)書込:重ね書きし不要なパターンを消去するために別の周波数feで
の書き込み
KH:瓦書き方式の磁気ヘッド KR:瓦書き方式の読込素子
OH:従来方式の磁気ヘッド OR:従来方式の読込素子
R:読込素子 RH:読込素子の幅
RHj:従来方式の読込素子の幅 RHk:瓦書き方式の読込素子の幅
TH:瓦書き方式の読込適幅 W:書込素子
WH:書込素子の幅。
Claims (14)
- 磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを、データ領域にデータを書き込む書込信号発生部と、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込むサーボパターン検出部と前記サーボパターン検出部の出力に基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングするヘッド検出・位置決め部とを具備するサーボ制御部と、これら全体を制御する全体制御部とを有し、前記磁気ヘッドまたは磁気ディスクの特性を測定する磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査装置において、
前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記書込信号発生部は前記パターンを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で前記パターンに重ね書きすることを特徴とすることを特徴とする磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置。 - 前記サーボフォローイング幅は前記読込素子幅以上であって、前記読込素子幅の120%幅以下であることを特徴とする請求項1に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置。
- 前記読込素子の幅は、前記書込素子の幅の20%〜50%の範囲であることを特徴とする請求項1に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置。
- 前記複数のパターンは前記磁気ディスクの径方向及び周方向に所定の間隔ずれて形成されることを特徴とする請求項1に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置。
- 前記書込信号発生部は、前記データを、前記データを形成するための第3の周波数で書込み、前記形成された前記データ幅を除いて、第3周波数とは別の第4の周波数で重ね書きして作成することを特徴とすることを特徴とする請求項1に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置。
- 前記第3の周波数は前記第1の周波数であり、前記第4の周波数は前記第2の周波数であることを特徴とすることを特徴とする請求項5に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査装置。
- 磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングし、前記磁気ヘッドまたは磁気ディスクの特性を測定する磁気ヘッドまたは磁気ディスク検査方法において、
前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターンを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターンに重ね書きすることを特徴とすることを特徴とする磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査方法。 - 前記複数のパターンは前記磁気ディスクの径方向及び周方向に所定の間隔ずれて形成されることを特徴とする請求項7に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査方法。
- 前記回転のうち同一周回転内において、前記複数のパターンのうち任意のパターンの位置に前記第1の周波数を書き込み、別のパターンの位置に前記第2の周波数を書き込むことを特徴とする請求項8に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査方法。
- 前記同一周回転の次の周回転において、前記任意のパターンの次のパターンの位置に前記第1の周波数を書き込み、前記別のパターンの次のパターンの位置に前記第2の周波数を書き込むことを特徴とする請求項9に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査方法。
- 前記サーボフォローイング幅は前記読込素子幅以上であって、前記読込素子幅の120%幅以下であることを特徴とする請求項7に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査方法。
- 前記読込素子の幅は、前記書込素子の幅の20%〜50%の範囲であることを特徴とする請求項7に記載の磁気ヘッドまたは磁気ディスクの検査方法。
- 磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを、データ領域にデータを書き込む書込信号発生部と、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込むサーボパターン検出部と前記サーボパターン検出部の出力に基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングするヘッド検出・位置決め部とを具備するサーボ制御部とを有する磁気ディスクの記録装置において、
前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記書込信号発生部は前記パターン及び前記データを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、前記第1周波数で書き込まれた部分のうち前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターン及び該データに重ね書きし前記パターン及び前記データを形成することを特徴とすることを特徴とする磁気ディスクの記録装置。 - 磁気ディスクを回転させ、磁気ヘッドの書込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域にサーボパターンを、データ領域にデータを書き込み、磁気ヘッドの読込素子によって磁気ディスクのサーボパターン領域に書かれたサーボパターンを読み込み、前記サーボパターンに基づいて前記磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置をサーボフォローイングし、前記データを読み込む磁気ディスクの記録方法において、
前記サーボパターンは複数のパターンを有し、前記パターン及び前記データを前記サーボフォローイングさせるための第1の周波数で書込み、その後、前記第1周波数で書き込まれた部分のうち前記サーボフォローイングに用いるサーボフォローイング幅を除いて、前記第1の周波数とは別の第2の周波数で該パターン及び該データに重ね書きすることを特徴とすることを特徴とする磁気ディスクの記録方法。
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- 2010-08-20 JP JP2010184877A patent/JP2012043507A/ja active Pending
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2011
- 2011-08-11 US US13/207,510 patent/US8643966B2/en not_active Expired - Fee Related
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