JP2011248268A - プラズマディスプレイパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】プラズマディスプレイパネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させる。
【解決手段】１つの画素を構成する赤、緑、青の３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、各画素の輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出するとともに、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、画素毎に、残像度数にもとづき最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を求め、その比率にもとづき、最大階調値を除く２つの階調値に補正を加える。
【選択図】図６

Description

本発明は、壁掛けテレビや大型モニターに用いられるプラズマディスプレイパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置に関する。

プラズマディスプレイパネル（以下、「パネル」と略記する）として代表的な交流面放電型パネルは、対向配置された前面板と背面板との間に多数の放電セルが形成されている。前面板は、１対の走査電極と維持電極とからなる表示電極対が前面ガラス基板上に互いに平行に複数対形成されている。そして、それら表示電極対を覆うように誘電体層および保護層が形成されている。背面板は、背面ガラス基板上に複数の平行なデータ電極が形成され、それらデータ電極を覆うように誘電体層が形成され、さらにその上にデータ電極と平行に複数の隔壁が形成されている。そして、誘電体層の表面と隔壁の側面とに蛍光体層が形成されている。そして、表示電極対とデータ電極とが立体交差するように前面板と背面板とが対向配置されて密封されている。密封された内部の放電空間には、例えば分圧比で５％のキセノンを含む放電ガスが封入され、表示電極対とデータ電極とが対向する部分に放電セルが形成される。このような構成のパネルにおいて、各放電セル内でガス放電により紫外線を発生させ、この紫外線で赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色の蛍光体を励起発光させてカラー表示を行っている。

パネルを駆動する方法としては一般にサブフィールド法が用いられている。サブフィールド法では、１フィールドを複数のサブフィールドに分割し、それぞれのサブフィールドで各放電セルを発光または非発光させることにより階調表示を行う。各サブフィールドは、初期化期間、書込み期間および維持期間を有する。

初期化期間では、各走査電極に初期化波形を印加し、各放電セルで初期化放電を発生させる。それにより、各放電セルにおいて、続く書込み動作のために必要な壁電荷を形成するとともに、書込み放電を安定して発生させるためのプライミング粒子（書込み放電を発生させるための励起粒子）を発生させる。

書込み期間では、走査電極に走査パルスを印加するとともに、データ電極には表示すべき画像信号にもとづき書込みパルスを印加して表示を行うべき放電セルに書込み放電を発生させ壁電荷を形成する（以下、この動作を「書込み」とも記す）。

維持期間では、サブフィールド毎に定められた数の維持パルスを走査電極と維持電極とからなる表示電極対に交互に印加する。それにより、書込み放電を起こした放電セルで維持放電を発生させ、その放電セルの蛍光体層を発光させる。これにより、各放電セルを、サブフィールド毎に定められた輝度重みに応じた輝度で発光させる。このようにしてパネルの各放電セルを画像信号の階調値に応じた輝度で発光させて画像表示を行う。

また、サブフィールド法の１つとして、緩やかに変化する電圧波形を用いて初期化放電を行い、さらに維持放電を行った放電セルに対して選択的に初期化放電を行うことで、階調表示に関係しない発光を極力減らしコントラスト比を向上させた駆動方法が開示されている。

具体的には、複数のサブフィールドのうち、１つのサブフィールドの初期化期間においては全ての放電セルに初期化放電を発生させる全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間においては直前の維持期間で維持放電を行った放電セルにのみ初期化放電を発生させる選択初期化動作を行う。このように駆動することにより、画像の表示に関係のない発光によって変化する黒表示領域の輝度（以下、「黒輝度」と略記する）は全セル初期化動作における微弱発光だけとなり、コントラストの高い画像表示が可能となる（例えば、特許文献１参照）。

一方、近年のパネルの高精細化、大画面化にともない、パネルの発光効率を向上させ、輝度を向上させるための様々な取り組みがなされている。例えば、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めて発光効率を高める検討が進められている。しかし、放電ガスのキセノン分圧を高めると放電の発生するタイミングのばらつきが大きくなり、放電セル毎の発光強度にばらつきを生じて表示輝度が不均一になることがあった。この輝度の不均一を改善するために、例えば複数回に１回の割合で立ち上がりの急峻な維持パルスを挿入して維持放電のタイミングを揃え、表示輝度を均一化する駆動方法が開示されている（例えば、特許文献２参照）。

特開２０００−２４２２２４号公報 特開２００５−３３８１２０号公報

しかしながら、発光効率を高めるために放電ガスのキセノン分圧を高めると、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなり、画像表示品質を損なうことがある。

本発明はこのような課題に鑑みなされたものであり、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置を提供することを目的とする。

本発明のパネルの駆動方法は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成したパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動し、３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するパネルの駆動方法であって、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出するとともに、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、画素毎に、残像度数にもとづき最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を求め、その比率にもとづき、最大階調値を除く２つの階調値に補正を加えることを特徴とする。

これにより、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上することが可能となる。また、残像度数にもとづく補正を加える画素において色相の変化が発生するのを防止することができる。

また、このパネルの駆動方法においては、あらかじめ設定した高階調値しきい値よりも最大階調値の方が大きいときには、最大階調値から高階調値しきい値を減算し、その減算の結果に対して残像度数にもとづく補正を加え、その補正の結果に高階調値しきい値を加算した結果を補正後最大階調値としてもよい。これにより、発光輝度が高く残像現象が発生したときに認識されやすいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えた階調値で赤、緑、青の各放電セルを発光させ、発光輝度が低く残像現象が発生しても認識されにくいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えない階調値で赤、緑、青の各放電セルを発光させることができるので、表示画像における発光輝度の低下を最小限に抑えることができる。

また、このパネルの駆動方法においては、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第１の計数値とし、隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第２の計数値とし、第１の計数値および第２の計数値にもとづき、領域毎の残像度数を算出してもよい。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる図柄を有する画像、例えば、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される図柄等を画像信号にもとづき検出し、その検出結果にもとづき残像度数を算出することができる。

また、このパネルの駆動方法においては、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、領域毎の残像度数を更新してもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を累積加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を累積加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を累積加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を累積加算することができる。したがって、領域毎の画像の特徴に応じて、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新することができる。

また、このパネルの駆動方法においては、第１の設定値は正の数値であり、第２の設定値は「０」であり、第３の設定値および第４の設定値は負の数値であってもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数に設定して残像度数を増加させ、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数に設定して残像度数を減少させ、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を「０」に設定して残像度数を維持する、というように、画像の特徴に応じて残像度数を増加または減少することができる。

また、このパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数から所定の定数を減算してもよい。これにより、残像度数にもとづき階調値へ補正を開始するタイミングを制御することが可能になる。

また、このパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数を所定の上限値以下に制限してもよい。これにより、残像度数による階調値への過補正を防止することが可能になる。

また、このパネルの駆動方法においては、それぞれの領域において、領域毎の残像度数を領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出してもよい。これにより、領域毎の残像度数にもとづく画素毎の残像度数の算出を適切に行うことが可能となる。

また、このパネルの駆動方法においては、画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果をその基準値で除算した結果にもとづき各画素の最大階調値に補正を加えてもよい。これにより、残像度数にもとづく階調値への補正を適切に行うことが可能となる。

また、このパネルの駆動方法においては、画像信号の平均輝度レベルを検出し、平均輝度レベルが大きいときには、平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、平均輝度レベルにもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、検出した平均輝度レベルにもとづき残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することができる。したがって、残像現象が比較的発生しにくいと考えられる平均輝度レベルが高い画像では、平均輝度レベルが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができ、例えば、平均輝度レベルが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。

また、このパネルの駆動方法においては、サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを維持期間に発生するとともに、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率にもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することができる。したがって、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。

また、このパネルの駆動方法においては、サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを維持期間に発生するとともに、輝度倍率の大きさに応じて第１の設定値の大きさを変更してもよい。これにより、残像度数が増加するときにどの程度増加させるかを輝度倍率に応じて変更することが可能となる。

また、このパネルの駆動方法においては、輝度倍率が第４のしきい値以上のときには第１の設定値を正の数値とし、輝度倍率が第４のしきい値未満のときには第１の設定値を「０」としてもよい。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。

また、このパネルの駆動方法においては、残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも階調値が平滑化されるように、画素毎の残像度数にもとづき各画素の各階調値を平滑化してもよい。

また、このパネルの駆動方法においては、画素数が互いに等しくなるように、表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて領域を設定してもよい。

また、本発明のプラズマディスプレイ装置は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設け、３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するパネルと、画像信号に応じて各画素の３つの放電セルのそれぞれに赤、緑、青の各階調値を設定し、階調値の大きさに応じて、放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、画像信号処理回路は、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出するとともに、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、画素毎に、残像度数にもとづき最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を求め、その比率にもとづき、最大階調値を除く２つの階調値に補正を加えるＲＧＢ補正回路を有することを特徴とする。

これにより、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることが可能となる。また、残像度数にもとづく補正を加える画素において色相の変化が発生するのを防止することができる。

また、このプラズマディスプレイ装置におけるＲＧＢ補正回路は、あらかじめ設定した高階調値しきい値よりも最大階調値の方が大きいときには、最大階調値から高階調値しきい値を減算し、その減算の結果に対して残像度数にもとづく補正を加え、その補正の結果に高階調値しきい値を加算した結果を補正後最大階調値とする構成であってもよい。これにより、発光輝度が高く残像現象が発生したときに認識されやすいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えた階調値で赤、緑、青の各放電セルを発光させ、発光輝度が低く残像現象が発生しても認識されにくいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えない階調値で赤、緑、青の各放電セルを発光させることができるので、表示画像における発光輝度の低下を最小限に抑えることができる。

本発明によれば、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置を提供することが可能となる。

本発明の実施の形態１におけるパネルの構造を示す分解斜視図である。 同パネルの電極配列図である。 同パネルの各電極に印加する駆動電圧波形の一例を示す波形図である。 本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態１におけるパネルの表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。 本発明の実施の形態１における画像信号処理回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態１におけるＲＧＢ補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態１における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態１における残像度数補間回路において行う演算を概略的に示す図である。 本発明の実施の形態１における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態２における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態３における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態４における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施の形態５における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。

以下、本発明の実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置について、図面を用いて説明する。

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の構造を示す分解斜視図である。ガラス製の前面板２１上には、走査電極２２と維持電極２３とからなる表示電極対２４が複数形成されている。そして走査電極２２と維持電極２３とを覆うように誘電体層２５が形成され、その誘電体層２５上に保護層２６が形成されている。また、保護層２６は、酸化マグネシウム（ＭｇＯ）を主成分とする材料から形成されている。

背面板３１上にはデータ電極３２が複数形成され、データ電極３２を覆うように誘電体層３３が形成され、さらにその上に井桁状の隔壁３４が形成されている。そして、隔壁３４の側面および誘電体層３３上には赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層３５が設けられている。

これら前面板２１と背面板３１とは、微小な放電空間を挟んで表示電極対２４とデータ電極３２とが交差するように対向配置されている。そして、その外周部はガラスフリット等の封着材によって封着されている。そして、その内部の放電空間には、ネオンとキセノンの混合ガスが放電ガスとして封入されている。なお、本実施の形態では、発光効率を向上させるためにキセノン分圧を約１０％とした放電ガスを用いている。放電空間は隔壁３４によって複数の区画に仕切られており、表示電極対２４とデータ電極３２とが交差する部分に放電セルが形成されている。そしてこれらの放電セルが放電、発光することにより画像が表示される。

なお、パネル１０においては、表示電極対２４が延伸する方向に配列された連続する３つの放電セルで１つの画素が構成される。この３つの放電セルとは、赤色（Ｒ）に発光する放電セル（以下、「Ｒ放電セル」と記す）、緑色（Ｇ）に発光する放電セル（以下、「Ｇ放電セル」と記す）、青色（Ｂ）に発光する放電セル（以下、「Ｂ放電セル」と記す）のことである。

なお、パネル１０の構造は上述したものに限られるわけではなく、例えばストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。また、放電ガスの混合比率も上述した数値に限られるわけではなく、その他の混合比率であってもよい。

図２は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の電極配列図である。パネル１０には、行方向に長いｎ本の走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ（図１の走査電極２２）およびｎ本の維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ（図１の維持電極２３）が配列されており、列方向に長いｍ本のデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ（図１のデータ電極３２）が配列されている。そして、１対の走査電極ＳＣｉ（ｉ＝１〜ｎ）および維持電極ＳＵｉと１つのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）とが交差した部分に放電セルが形成されている。したがって、放電セルは放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。そして、ｍ×ｎ個の放電セルが形成された領域がパネル１０の表示領域となる。例えば、画素数が１９２０×１０８０個のパネルでは、ｍ＝１９２０×３となり、ｎ＝１０８０となる。

次に、パネル１０を駆動するための駆動電圧波形とその動作の概要について説明する。なお、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置は、サブフィールド法によってパネル１０に階調を表示するものとする。このサブフィールド法では、１フィールドを時間軸上で複数のサブフィールドに分割し、各サブフィールドに輝度重みをそれぞれ設定する。各サブフィールドの維持期間においては、それぞれのサブフィールドの輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４のそれぞれに印加する。そして、各サブフィールドの書込み期間では、発光すべき放電セルに書込み放電を発生させることで、サブフィールド毎に各放電セルの発光・非発光を制御する。すなわち、Ｒ放電セルを画像信号にもとづくＲの階調値の大きさに応じた明るさで発光させ、Ｇ放電セルを画像信号にもとづくＧの階調値の大きさに応じた明るさで発光させ、Ｂ放電セルを画像信号にもとづくＢの階調値の大きさに応じた明るさで発光させて、各放電セルに階調を表示する。このようにパネル１０を駆動することによってパネル１０にカラーの画像を表示する。

また、本実施の形態では、初期化期間において２つの異なる初期化動作、すなわち、「全セル初期化動作」と「選択初期化動作」とのいずれかの初期化動作を行うものとする。全セル初期化動作とは、直前のサブフィールドの動作にかかわらず全ての放電セルに初期化放電を発生させる初期化動作のことである。また、選択初期化動作とは、直前のサブフィールドの維持期間に維持放電を発生した放電セルだけに初期化放電を発生する初期化動作のことである。

そして、本実施の形態では、１フィールドの先頭サブフィールド（第１ＳＦ）の初期化期間では全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間では選択初期化動作を行うものとする。これにより、画像の表示に関係のない発光は第１ＳＦにおける全セル初期化動作の放電にともなう発光のみとなり、表示画像における黒輝度を低減したコントラストの高い画像表示が可能となる。

なお、本実施の形態では、１フィールドを第１サブフィールド（第１ＳＦ）から第８サブフィールド（第８ＳＦ）までの８つのサブフィールドで構成し、各サブフィールドにはそれぞれ（１、２、４、８、１６、３２、６４、１２８）の輝度重みを設定するものとして以下の説明を行う。また、第１ＳＦを全セル初期化動作を行う全セル初期化サブフィールドとし、第２ＳＦ〜第８ＳＦを選択初期化動作を行う選択初期化サブフィールドとする。また、各サブフィールドの維持期間においては、それぞれのサブフィールドの輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４のそれぞれに印加する。例えば、上述したサブフィールド構成において、輝度倍率が２倍であれば、各サブフィールドの維持期間に発生する維持パルス数は、それぞれ（２、４、８、１６、３２、６４、１２８、２５６）となり、輝度倍率が３倍であれば、それぞれ（３、６、１２、２４、４８、９６、１９２、３８４）となる。

しかし、本実施の形態は、サブフィールド数や各サブフィールドの輝度重みが上記の値に限定されるものではなく、また、画像信号等にもとづいてサブフィールド構成を切換える構成であってもよい。

図３は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形の一例を示す波形図である。図３には、書込み期間において最初に書込み動作を行う走査電極ＳＣ１、書込み期間において最後に書込み動作を行う走査電極ＳＣｎ（例えば、走査電極ＳＣ１０８０）、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ、およびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍの駆動電圧波形を示す。

また、図３には、２つのサブフィールドの駆動電圧波形を示す。すなわち、全セル初期化サブフィールドである第１ＳＦと、選択初期化サブフィールドである第２ＳＦの前半部とを示す。なお、第２ＳＦの後半部以降は図示していないが、第１ＳＦを除くサブフィールドは選択初期化サブフィールドであり、各サブフィールドにおける駆動電圧波形は、維持期間における維持パルスの発生数を除き、各期間ではほぼ同様の駆動電圧波形を発生する。

また、以下における走査電極ＳＣｉ、維持電極ＳＵｉ、データ電極Ｄｋは、各電極の中から画像データ（サブフィールド毎の発光・非発光を示すデータ）にもとづき選択された電極を表す。

まず、全セル初期化サブフィールドである第１ＳＦについて説明する。

第１ＳＦの初期化期間前半部では、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍおよび維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに０（Ｖ）を印加する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには、電圧Ｖｉ１を印加し、電圧Ｖｉ１から電圧Ｖｉ２に向かって緩やかに（例えば、約１．３Ｖ／μｓｅｃの勾配で）上昇する傾斜電圧（以下、「上りランプ電圧Ｌ１」と呼称する）を印加する。このとき、電圧Ｖｉ１は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満の電圧にし、電圧Ｖｉ２は維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧を超える電圧にする。

この上りランプ電圧Ｌ１が上昇する間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間でそれぞれ微弱な初期化放電が持続して起こる。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部に負の壁電圧が蓄積されるとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部には正の壁電圧が蓄積される。この電極上部の壁電圧とは、電極を覆う誘電体層上、保護層上、蛍光体層上等に蓄積された壁電荷により生じる電圧を表す。

初期化期間後半部では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの印加電圧を電圧Ｖｉ２から電圧Ｖｉ２よりも低い電圧Ｖｉ３に下げ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには正の電圧Ｖｅを印加し、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を印加する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、電圧Ｖｉ３から負の電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに（例えば、約−２．５Ｖ／μｓｅｃの勾配で）下降する傾斜電圧（以下、「下りランプ電圧Ｌ２」と呼称する）を印加する。このとき、電圧Ｖｉ３は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満の電圧にし、電圧Ｖｉ４は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧を超える電圧にする。

この間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間でそれぞれ微弱な初期化放電が起こる。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部の負の壁電圧および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部の正の壁電圧が弱められ、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部の正の壁電圧は書込み動作に適した値に調整される。以上により、全ての放電セルに対して初期化放電を行う全セル初期化動作が終了する。

続く書込み期間では、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅを印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに電圧Ｖｃｃ（例えば、電圧Ｖｃｃ＝電圧Ｖａ＋電圧Ｖｓｃ）を印加する。そして、配置的に見て上から１番目（１行目）の走査電極ＳＣ１に負の走査パルス電圧Ｖａを印加するとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍのうち１行目に発光させるべき放電セルのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）に正の書込みパルス電圧Ｖｄを印加する。これにより、データ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との間に放電が発生し、データ電極Ｄｋと交差する領域にある維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との間に放電が発生する。こうして、発光させるべき放電セルに書込み放電が起こり、走査電極ＳＣ１上に正の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵ１上に負の壁電圧が蓄積され、データ電極Ｄｋ上にも負の壁電圧が蓄積される。一方、書込みパルス電圧Ｖｄを印加しなかったデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍと走査電極ＳＣ１との交差部の電圧は放電開始電圧を超えないので、書込み放電は発生しない。書込み期間では、このようにして、各放電セルに選択的に書込み放電を発生する。以上の書込み動作を１行目の放電セルからｎ行目の放電セルに至るまで順次行い、書込み期間が終了する。

続く維持期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに正の維持パルス電圧Ｖｓを印加するとともに維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎにベース電位となる０（Ｖ）を印加する。書込み放電を起こした放電セルでは、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの間の電圧差が放電開始電圧を超え、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの間に維持放電が起こる。そして、このとき発生した紫外線により蛍光体層３５が発光する。また、この放電により、走査電極ＳＣｉ上に負の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵｉ上に正の壁電圧が蓄積される。さらにデータ電極Ｄｋ上にも正の壁電圧が蓄積される。なお、書込み期間において書込み放電が起きなかった放電セルでは維持放電は発生しない。

続いて、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには０（Ｖ）を、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには維持パルス電圧Ｖｓをそれぞれ印加する。維持放電を起こした放電セルでは、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの電圧差が放電開始電圧を超えるので、再び維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間に維持放電が起こり、維持電極ＳＵｉ上に負の壁電圧が蓄積され、走査電極ＳＣｉ上に正の壁電圧が蓄積される。以降同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとに、輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを交互に印加し、書込み期間において書込み放電を起こした放電セルで維持放電を継続して発生する。

そして、維持期間における維持パルスの発生後に、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに０（Ｖ）を印加したまま、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、０（Ｖ）から電圧Ｖｅｒｓまで緩やかに（例えば、約１０Ｖ／μｓｅｃの勾配で）上昇する傾斜電圧（以下、「消去ランプ電圧Ｌ３」と呼称する）を印加する。電圧Ｖｅｒｓを放電開始電圧を超える電圧に設定することで、維持放電を起こした放電セルの維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間に微弱な放電が発生する。この微弱な放電は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎへの印加電圧が上昇する期間、持続して発生する。そして、この微弱な放電で発生した荷電粒子は、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間の電圧差を緩和するように、維持電極ＳＵｉ上および走査電極ＳＣｉ上に壁電荷となって蓄積されていく。これにより、維持放電が発生した放電セルにおいて、データ電極Ｄｋ上の正の壁電荷を残したまま、走査電極ＳＣｉ上の壁電圧および維持電極ＳＵｉ上の壁電圧は、走査電極ＳＣｉに印加した電圧と放電開始電圧の差、例えば（電圧Ｖｅｒｓ−放電開始電圧）の程度まで弱められる。以下、この放電を「消去放電」と記す。すなわち、消去ランプ電圧Ｌ３によって発生する放電は、維持放電が発生した放電セル内に蓄積された不要な壁電荷を消去する「消去放電」として働く。

上昇する電圧があらかじめ定めた電圧Ｖｅｒｓに到達したら、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する電圧を０（Ｖ）に戻し、維持期間における維持動作が終了する。

第２ＳＦの初期化期間では、選択初期化波形を走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する。この選択初期化波形は、第１ＳＦにおける初期化期間の前半部を省略した駆動電圧波形である。具体的には、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅを、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに０（Ｖ）をそれぞれ印加する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには放電開始電圧未満となる電圧（例えば、０（Ｖ））から負の電圧Ｖｉ４に向かって、下りランプ電圧Ｌ２と同じ勾配で下降する下りランプ電圧Ｌ４を印加する。

これにより直前のサブフィールド（図３では、第１ＳＦ）の維持期間で維持放電を起こした放電セルでは微弱な初期化放電が発生し、走査電極ＳＣｉ上部および維持電極ＳＵｉ上部の壁電圧が弱められる。また、データ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）上部の壁電圧も書込み動作に適した値に調整される。一方、直前のサブフィールドの維持期間で維持放電を起こさなかった放電セルでは初期化放電は発生しない。

以上により、選択初期化サブフィールドの初期化期間における選択初期化動作が終了する。

第２ＳＦの書込み期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対して第１ＳＦの書込み期間と同様の駆動電圧波形を印加する。また、第２ＳＦの維持期間では、第１ＳＦの維持期間と同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとにあらかじめ定められた数の維持パルスを交互に印加する。

また、第３ＳＦ以降のサブフィールドでは、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対して、維持期間における維持パルスの発生数が異なる以外は第２ＳＦと同様の駆動電圧波形を印加する。

以上が、パネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形の概要である。

なお、本実施の形態において各電極に印加する電圧値は、例えば、電圧Ｖｉ１＝１４７（Ｖ）、電圧Ｖｉ２＝３５７（Ｖ）、電圧Ｖｉ３＝２１０（Ｖ）、電圧Ｖｉ４＝−１６０（Ｖ）、電圧Ｖｅ＝１２５（Ｖ）、電圧Ｖｅｒｓ＝２１０（Ｖ）、電圧Ｖｓ＝２１０（Ｖ）、電圧Ｖａ＝−１８５（Ｖ）、電圧Ｖｄ＝６０（Ｖ）である。また電圧Ｖｃｃは負の電圧Ｖａ＝−１８５（Ｖ）に正の電圧Ｖｓｃ＝１４７（Ｖ）を重畳する（Ｖｃｃ＝Ｖａ＋Ｖｓｃ）ことで発生することができ、その場合、電圧Ｖｃｃ＝−３８（Ｖ）となる。

なお、これらの電圧値は単に一例を挙げただけに過ぎない。各電圧値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に合わせて、適宜最適な値に設定することが望ましい。

次に、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置の構成について説明する。図４は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置１の一構成例を示す回路ブロック図である。プラズマディスプレイ装置１は、パネル１０、画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３、維持電極駆動回路４４、タイミング発生回路４５および各回路ブロックに必要な電源を供給する電源回路（図示せず）を備えている。

画像信号処理回路４１は、画像信号処理回路４１に入力される画像信号ｓｉｇを、パネル１０の画素数に応じて、各放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。

本実施の形態において、画像信号ｓｉｇはＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号を含んでおり、画像信号処理回路４１は、そのＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、Ｒ、Ｇ、Ｂの各放電セルにＲの階調値、Ｇの階調値、Ｂの階調値（以下、Ｒ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値と記す）をそれぞれ割り当てる。なお、この階調値とは、１フィールドで表現される階調値のことである。そして、各放電セルに割り当てたＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を、サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。

なお、画像信号処理回路４１では、「残像度数」と呼称する数値を画素毎に算出する。この残像度数とは、画像信号ｓｉｇにもとづく各画素の輝度（Ｙ）の階調値にもとづいて算出する数値であり、残像現象の発生の目安となる数値である。そして、画像信号処理回路４１は、Ｒ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづくＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を、算出した画素毎の残像度数にもとづき補正し、補正後のＲ、Ｇ、Ｂの各階調値（以下、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値と記す）を画像データに変換する。この補正動作の詳細については後述する。

なお、画像信号処理回路４１は、Ｒ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、各画素の輝度（Ｙ）の階調値を算出し、算出した輝度（Ｙ）の階調値にもとづき残像度数を算出するものとする。ただし、画像信号ｓｉｇが輝度信号（Ｙ信号）および彩度信号（Ｃ信号、またはＲ−Ｙ信号およびＢ−Ｙ信号、またはｕ信号およびｖ信号等）を含むときには、その輝度信号にもとづき残像度数を算出するとともに、その輝度信号および彩度信号にもとづきＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を算出し、算出後のＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値に対して、残像度数にもとづく補正を加える構成であってもよい。

タイミング発生回路４５は、水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき各回路ブロックの動作を制御する各種のタイミング信号を発生し、それぞれの回路ブロック（画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３および維持電極駆動回路４４）へ供給する。

データ電極駆動回路４２は、画像データを構成するサブフィールド毎のデータを各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対応する信号に変換し、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍを駆動する。

走査電極駆動回路４３は、初期化期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する初期化波形を発生する初期化波形発生回路、維持期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する維持パルスを発生する維持パルス発生回路、複数の走査電極駆動ＩＣ（以下、「走査ＩＣ」と略記する）を備え書込み期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する走査パルスを発生する走査パルス発生回路を有する。そして、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎをそれぞれ駆動する。

維持電極駆動回路４４は、維持パルス発生回路および電圧Ｖｅを発生する回路（図示せず）を備え、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを駆動する。

なお、パネルにおける発光効率を高めるために、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めたパネル１０では、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなる。これは次のような理由によると思われる。

静止画が連続してパネル１０に表示されると、単位時間（例えば、１フィールド）あたりの点灯回数が比較的多い放電セル（点灯状態が連続する放電セル）と、単位時間あたりの点灯回数が比較的少ない放電セル（非点灯状態が連続する放電セル）とが生じやすい。それらの放電セル間には、放電ガスの成分濃度に偏り（例えば、水蒸気を含む不純ガス等の濃度の偏り）が生じて、放電開始電圧に差が生じる。また、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとでは放電セル内の温度に差が生じ、この温度差も放電開始電圧に差を生じさせる一因となる。そして、これらの放電セル間には、放電開始電圧に差が生じることで放電の発生するタイミングに差が生じる。これにより、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとの間に発光強度に差が生じ、輝度差が生じる。これが、残像現象が発生する理由と考えられる。

そこで、本実施の形態では、静止領域が多く、かつ隣接する画素間で輝度変化が大きい領域が多い画像かどうか、すなわち、残像現象が発生しやすい画像かどうかを判定し、その結果にもとづきＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値に補正を加えるものとする。具体的には、画像信号処理回路４１において、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素のＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を補正する。次に、この詳細について説明する。

まず、本実施の形態における残像度数の検出について説明する。本実施の形態では、パネル１０の表示領域を複数の領域に分け、領域毎の残像度数を算出し、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する構成としている。この領域の一例を、図５に示す。

図５は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。なお、図５では、各領域を「ブロック（ｘ，ｙ）」（ｘ、ｙは自然数）と記し、以下の説明では、領域を「ブロック」とも呼称する。また、図５において、パネル１０の表示領域内に示す線は、各領域を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。

本実施の形態では、図５に示すように、パネル１０の表示領域を、表示電極対２４が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極３２が延伸する方向に複数の境界を設け、画素数が互いに等しくなるように分割して、各領域を設定する。なお、本発明は、各領域の画素数が互いに等しい構成に限定されるものではない。各領域の画素数は、パネル１０上における領域の位置等によって、互いに異なっていてもかまわない。

図５には、パネル１０を、表示電極対２４が延伸する方向にＮ分割し、データ電極３２が延伸する方向にＭ分割（Ｎ、Ｍは自然数）して、各領域を設定する例を示す。この場合、パネル１０には、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の領域が設定される。

例えば、パネル１０の画素数が１９２０×１０８０であり、１つの領域の画素数を６０×６０個に設定する構成では、Ｎは３２となり、Ｍは１８となる。

そして、本実施の形態では、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の各領域について、領域毎に残像度数を算出する。そして、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する。

次に、画像信号処理回路４１の詳細について説明する。図６は、本発明の実施の形態１における画像信号処理回路４１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図６には、残像度数の算出、および残像度数にもとづくＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値への補正に関する回路ブロックのみを示し、その他の回路ブロックは省略する。

画像信号処理回路４１は、輝度階調値算出回路５１、遅延回路５５、ＲＧＢ補正回路５６を有する。

輝度階調値算出回路５１は、所定の計算式にもとづき、Ｒ階調値（Ｒ）、Ｇ階調値（Ｇ）、Ｂ階調値（Ｇ）から輝度（Ｙ）の階調値を算出する。この所定の計算式の一例として、例えば次のような計算式を挙げることができる。

Ｙ＝０．２９９×Ｒ＋０．５８７×Ｇ＋０．１１４×Ｂ
なお、この計算式はＲ、Ｇ、Ｂの各階調値から輝度（Ｙ）の階調値を算出する際に用いる計算式の一例を示したものに過ぎず、輝度階調値算出回路５１において用いる計算式が何らこの計算式に限定されるものではない。輝度（Ｙ）の階調値の算出には、プラズマディスプレイ装置１の仕様に応じた最適な計算式を用いることが望ましい。

遅延回路５５は、Ｒ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を、後段のＲＧＢ補正回路５６において他の信号とタイミングが合うように、適切に遅延する。以下、遅延回路５５において遅延されたＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を、それぞれ「遅延後Ｒ階調値」、「遅延後Ｇ階調値」、「遅延後Ｂ階調値」と記す（図６には、「遅延後Ｒ」、「遅延後Ｇ」、「遅延後Ｂ」と記す）。

ＲＧＢ補正回路５６は、輝度（Ｙ）の階調値にもとづき画素毎の残像度数を算出し、算出した残像度数にもとづき遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値に補正を加え、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する（図６には、「補正後Ｒ」、「補正後Ｇ」、「補正後Ｂ」と記す）。

次に、ＲＧＢ補正回路５６の詳細について説明する。図７は、本発明の実施の形態１におけるＲＧＢ補正回路５６の一構成例を示す回路ブロック図である。

ＲＧＢ補正回路５６は、１フィールド遅延回路７０、減算回路７１、比較回路７２、１画素遅延回路７３、減算回路７４、比較回路７５、ブロックタイミング発生回路７６、計数回路７７（１，１）〜計数回路７７（Ｍ，Ｎ）、計数回路７８（１，１）〜計数回路７８（Ｍ，Ｎ）、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）、残像度数補間回路８０、補正回路８２を有する。

１フィールド遅延回路７０は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値を１フィールドに相当する時間だけ遅延する。

減算回路７１は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１フィールド遅延回路７０から出力される１フィールド前の各画素の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「フィールド間輝度差」として出力する。すなわち、減算回路７１は、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度（Ｙ）の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出する。

比較回路７２は、減算回路７１から出力されるフィールド間輝度差と、あらかじめ設定された輝度比較値とを比較し、フィールド間輝度差が輝度比較値未満のときに「１」を出力し、フィールド間輝度差が輝度比較値以上のときに「０」を出力する。

計数回路７７は、各領域において、比較回路７２から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第１の計数値」として出力する。例えば、計数回路７７（１，１）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第１の計数値として出力する。計数回路７７（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値として出力する。

すなわち、計数回路７７は、フィールド間輝度差が輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第１の計数値として出力する。

１画素遅延回路７３は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値を１画素に相当する時間だけ遅延する。

減算回路７４は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「隣接画素間輝度差」として出力する。

比較回路７５は、減算回路７４から出力される隣接画素間輝度差と、あらかじめ設定されたエッジ比較値とを比較し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値よりも大きいときに「１」を出力し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値以下のときに「０」を出力する。

計数回路７８は、各領域において、比較回路７５から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第２の計数値」として出力する。例えば、計数回路７８（１，１）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第２の計数値として出力する。計数回路７８（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第２の計数値として出力する。

すなわち、計数回路７８は、隣接する画素間の輝度（Ｙ）の階調値の差がエッジ比較値以上となる画素の数を「エッジ」の数として領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第２の計数値として出力する。

ブロックタイミング発生回路７６は、タイミング発生回路４５から供給される水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき、各領域を識別するためのブロックタイミング信号を発生し、各計数回路７７、計数回路７８に供給する。例えば、計数回路７７（１，１）および計数回路７８（１，１）には、ブロック（１，１）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（１，１）タイミング信号を供給し、計数回路７７（Ｍ，Ｎ）および計数回路７８（Ｎ，Ｎ）には、ブロック（Ｍ，Ｎ）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（Ｍ，Ｎ）タイミング信号を供給する。

残像度数算出回路７９は、第１の計数値および第２の計数値にもとづき、領域毎の残像度数を算出する。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）は、ブロック（１，１）における第１の計数値および第２の計数値にもとづきブロック（１，１）の残像度数を算出し、残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）は、ブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値および第２の計数値にもとづきブロック（Ｍ，Ｎ）の残像度数を算出する。残像度数算出回路７９の詳細は後述する。

そして、本実施の形態では、領域毎の残像度数を、各領域における領域の中央に位置する画素（以下、「中央画素」と呼称する）の残像度数としている。「中央画素」を除く画素については、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出している。

残像度数補間回路８０は、「中央画素」を除く画素について、画素毎の残像度数を算出する。具体的には、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出する。この詳細は後述する。

そして、補正回路８２は、遅延回路５５において適切に遅延された各画素の遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値を、残像度数補間回路８０において算出された画素毎の残像度数にもとづいて補正し、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する（図７には、補正後Ｒ、補正後Ｇ、補正後Ｂと記す）。補正回路８２の詳細は後述する。

なお、上述した輝度比較値、エッジ比較値の具体的な数値としては、例えば、１つの領域の画素数の５０％に相当する数値を挙げることができる。例えば、１つの領域を６０×６０画素としたときには、１つの領域の画素数は３６００になるので、その５０％に相当する数値は１８００となる。しかし、本発明は何らこの数値に限定されるものではなく、各数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。

図８は、本発明の実施の形態１における残像度数算出回路７９の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図８には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，２）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，２）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）も図８と同様の構成である。

残像度数算出回路７９は、比較回路６３、比較回路６４、比較回路６５、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９、減算回路９０、制限回路９１を有する。

比較回路６３は、計数回路７７から出力される第１の計数値（図８に示す例では、計数回路７７（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第１の計数値）と、あらかじめ設定された第１のしきい値とを比較し、第１の計数値が第１のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第１のしきい値未満のときには「０」を出力する。

比較回路６４は、第１の計数値（図８に示す例では、ブロック（１，１）の第１の計数値）と、第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値とを比較し、第１の計数値が第２のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第２のしきい値未満のときには「０」を出力する。

比較回路６５は、計数回路７８から出力される第２の計数値（図８に示す例では、計数回路７８（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第２の計数値）と、あらかじめ設定された第３のしきい値とを比較し、第２の計数値が第３のしきい値以上のときには「１」を出力し、第２の計数値が第３のしきい値未満のときには「０」を出力する。

セレクター６６は、比較回路６３の出力が「１」のときには第１の設定値（例えば、「＋１」）を、比較回路６３の出力が「０」のときには第２の設定値（例えば、「０」）を、後段のセレクター６７に出力する。

セレクター６７は、比較回路６４の出力が「１」のときにはセレクター６６の出力を、比較回路６４の出力が「０」のときには第３の設定値（例えば、「−４」）を、後段のセレクター６８に出力する。

セレクター６８は、比較回路６５の出力が「１」のときにはセレクター６７の出力を、比較回路６５の出力が「０」のときには第４の設定値（例えば、「−４」）を、後段の累積加算回路８９に出力する。

累積加算回路８９は、セレクター６８から出力される数値を累積加算して出力する。例えば、あるフィールドにおいて、ブロック（１，１）における累積加算回路８９の累積加算結果が「１０」であれば、続くフィールドでは、その「１０」に対して、セレクター６８から出力される数値を累積加算し、その結果を新たな累積加算結果として出力する。

すなわち、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９によって構成される回路は、以下のような動作となる。第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数に第１の設定値を累積加算する。第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数に第２の設定値を累積加算する。第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数に第３の設定値を累積加算する。第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、残像度数に第４の設定値を累積加算する。こうして、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新する。

なお、本実施の形態では、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数（例えば、「＋１」）に設定し、残像度数を増加させている。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数（例えば、「−４」）に設定し、残像度数を減少させている。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を「０」に設定し、残像度数が維持されるようにしている。

減算回路９０は、累積加算回路８９の出力から所定の定数（例えば、「５０」）を減算する。これは、残像現象が発生しやすい画像が表示されても、すぐに残像が発生するわけではなく、残像現象が発生しやすい画像がある程度継続して表示されることで残像が発生しやすくなる、という現象に対応できるようにするためである。なお、減算回路９０は、減算結果が負の数値になったときには「０」を出力するものとする。

制限回路９１は、減算回路９０の出力とあらかじめ設定された所定の上限値（例えば、「１００」）とを比較し、減算回路９０の出力がこの上限値以下のときには減算回路９０の出力をそのまま出力し、減算回路９０の出力がこの上限値を超えたときにはこの上限値を出力する。すなわち、この上限値が、残像度数の最も大きい値となる。こうして所定の上限値以下となるように制限された制限回路９１の出力が、残像度数算出回路７９から出力される残像度数（図８に示す例では、ブロック（１，１）の残像度数）となる。このように、残像度数算出回路７９の出力を所定の上限値で制限するのは、補正回路８２において、各階調値が過補正されるのを防止するためである。

なお、第１のしきい値の具体的な数値としては、例えば、１つのブロックにおいて第１の計数値として取りうる最も大きい値の５０％に相当する数値を挙げることができる。また、第２のしきい値の具体的な数値としては、例えば、１つのブロックにおいて第１の計数値として取りうる最も大きい値の３０％に相当する数値を挙げることができる。また、第３のしきい値の具体的な数値としては、例えば、１つのブロックにおいて第２の計数値として取りうる最も大きい値の５０％に相当する数値を挙げることができる。しかし、本発明における各しきい値は何らここに挙げた数値に限定されるものではない。また、第１の設定値、第２の設定値、第３の設定値、第４の設定値として示した具体的な各数値も、単なる一実施例を示したものに過ぎず、本発明における各設定値は何ら実施の形態に示した数値に限定されるものではない。各しきい値、および各設定値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて、あるいは、表示画像における残像現象の視実験等を行って、適切に設定することが望ましい。

このようにして、残像度数算出回路７９から各領域の残像度数が出力される。図８に示す例では、残像度数算出回路７９（１，１）からブロック（１，１）の残像度数が出力される。

図９は、本発明の実施の形態１における残像度数補間回路８０において行う演算を概略的に示す図である。図９には、パネル１０の一部を拡大して示しており、破線は各領域の境界を示し、白抜きの丸印は各領域において中央に位置する画素（中央画素）を示す。また、図９では、中央画素同士を結ぶ線を一点鎖線で示す。また、図９には、残像度数の算出対象となる画素として、画素Ａ１２と画素Ａ３４とを黒の丸印で示す。なお、図９に示す破線等は、各領域等を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。

本実施の形態では、領域毎に算出する残像度数は、各領域の中央に位置する中央画素の残像度数とする。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）において算出するブロック（１，１）の残像度数は、ブロック（１，１）の中央画素の残像度数とする。そして「中央画素」を除く各画素の残像度数は、中央画素の残像度数にもとづき算出する。

具体的には、次のような手順で各画素の残像度数を算出する。

まず、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ３４とすると、画素Ａ３４の周囲の４つの中央画素と画素Ａ３４との距離を算出する。

図９には、画素Ａ３４の周囲の中央画素を画素Ａ１、画素Ａ２、画素Ａ３、画素Ａ４と示し、画素Ａ３４と画素Ａ１との距離をＬ１、画素Ａ３４と画素Ａ２との距離をＬ２、画素Ａ３４と画素Ａ３との距離をＬ３、画素Ａ３４と画素Ａ４との距離をＬ４と示す。

そして、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離に応じた割合で、各中央画素の残像度数を加算する。

例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ１の残像度数をａ１、画素Ａ２の残像度数をａ２、画素Ａ３の残像度数をａ３、画素Ａ４の残像度数をａ４とすると、残像度数ａ３４は以下の式で表される。

ａ３４＝（ａ１×（Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ２×（Ｌ１＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ４）＋ａ４×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３）／（３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４））
なお、中央画素同士を結ぶ線上に位置する画素に関しては、その画素を挟む２つの中央画素にもとづき残像度数を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ１２とし、画素Ａ１２が画素Ａ１と画素Ａ２とを結ぶ線上にある画素であれば、画素Ａ１２の残像度数は、画素Ａ１および画素Ａ２の残像度数にもとづき算出する。

例えば、画素Ａ１２と画素Ａ１との距離をＬ５、画素Ａ１２と画素Ａ２との距離をＬ６とし、画素Ａ１２の残像度数をａ１２とすると、残像度数ａ１２は以下の式で表される。

ａ１２＝（ａ１×Ｌ６＋ａ２×Ｌ５）／（Ｌ５＋Ｌ６）
これらの演算を残像度数補間回路８０において画素毎に行い、各画素の残像度数を算出する。

図１０は、本発明の実施の形態１における補正回路８２の一構成例を示す回路ブロック図である。

補正回路８２は、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９とを有する。そして、各画素の遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値を残像度数にもとづいて補正し、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する（図１０には、補正後Ｒ、補正後Ｇ、補正後Ｂと記す）。

乗算係数算出回路９２は、画素毎の残像度数から、後段の乗算回路５４で用いる乗算係数を算出する。具体的には、乗算係数算出回路９２は、画素毎の残像度数を所定の基準値（例えば、「２５５」）から減算し、その減算結果をその基準値（例えば、「２５５」）で除算する演算を行う。このようにして算出した結果を乗算係数として出力し、後段の乗算回路５４において階調値の補正に用いる。

最大値選択回路５２は、画素毎に遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値の３つの階調値の大きさを互いに比較し、そのうちの最も大きい階調値（以下、「最大階調値」と記す）を選択する。すなわち、１画素を構成するＲ、Ｇ、Ｂの３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択する。そして、最大階調値を後段の減算回路５３および乗算比率算出回路５８に出力し、他の２つの階調値を後段の乗算回路９３に出力する。例えば、Ｒ階調値が「２００」、Ｇ階調値が「１００」、Ｂ階調値が「８０」であれば、Ｒ階調値を最大階調値として減算回路５３および乗算比率算出回路５８に出力し、Ｇ階調値およびＢ階調値を乗算回路９３に出力する。

減算回路５３は、最大値選択回路５２から出力される最大階調値から、あらかじめ設定された高階調値しきい値を減算する。この高階調値しきい値の一例としては、例えば、階調値の取りうる最も大きな値に対して約６０％となる数値（例えば、階調値の取りうる最も大きな値が「２５５」のときに、高階調値しきい値を「１５０」とする）を挙げることができる。例えば、最大階調値が「２００」であり、高階調値しきい値が「１５０」であれば、減算回路５３から出力される数値は「５０」となる。

なお、本発明において高階調値しきい値は何らこの数値に限定されるものではない。高階調値しきい値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。

なお、減算回路５３は、最大階調値が高階調しきい値以下のときには「０」を出力するものとする。

乗算回路５４は、乗算係数算出回路９２において算出した乗算係数を、減算回路５３から出力される数値に乗算する。例えば、最大階調値が「２００」であり、高階調値しきい値が「１５０」であり、乗算係数算出回路９２から出力される数値が「０．６」であれば、乗算回路５４は、減算回路５３から出力される「５０」に「０．６」を乗算した「３０」を出力する。

加算回路５７は、乗算回路５４からの出力と、高階調値しきい値とを加算する。例えば、高階調値しきい値が「１５０」であり、乗算回路５４から出力される数値が「３０」であれば、加算回路５７は、「１５０」に「３０」を加算した「１８０」を出力する。このように、加算回路５７から出力される数値は、最大階調値のうち高階調値しきい値を超えた分に対して、残像度数にもとづく補正を加えた階調値（以下、「補正後最大階調値」と記す）となる。

すなわち、減算回路５３、乗算係数算出回路９２、乗算回路５４、加算回路５７において実行される演算は、以下の計算式のようになる。

補正後最大階調値＝（（所定の基準値−残像度数）／所定の基準値）×（最大階調値−高階調値しきい値）＋高階調値しきい値
例えば、図９に示した画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の最大階調値をＭ３４、所定の基準値を「２５５」、高輝度しきい値を「１５０」とすると、画素Ａ３４に関して加算回路５７から出力される補正後最大階調値Ｍ３４’は以下の式で表される。

Ｍ３４’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×（Ｍ３４−１５０）＋１５０
ただし、後述するように、この計算式は、最大階調値が高輝度しきい値よりも大きい画素に関してのみ有効となる。

乗算比率算出回路５８は、補正後最大階調値を最大階調値で除算する。すなわち、乗算比率算出回路５８の出力は、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を表す数値となる。例えば、最大階調値が「２００」であり、補正後最大階調値が「１８０」であれば、乗算比率算出回路５８の出力は「０．９」となる。

乗算回路９３は、最大値選択回路５２において最大値ではないと判断された２つの階調値に、乗算比率算出回路５８の出力を乗算する。そして、その乗算結果を補正後階調値として出力する。例えば、残像度数にもとづく上述の演算により補正後最大階調値が最大階調値の９０％の大きさに補正されたとき（例えば、Ｒ階調値とする）には、同画素の残りの２つの階調値（例えば、Ｇ階調値、Ｂ階調値とする）も９０％の大きさに補正する。これにより、補正前のＲ階調値（遅延後Ｒ階調値）に対する補正後Ｒ階調値の大きさと、補正前のＧ階調値（遅延後Ｇ階調値）に対する補正後Ｇ階調値の大きさと、補正前のＢ階調値（遅延後Ｂ階調値）に対する補正後Ｂ階調値の大きさとを互いに等しくすることができる。

スイッチ回路５９には、加算回路５７の出力、すなわち、残像度数にもとづく補正が加えられた補正後最大階調値と、乗算回路９３の出力、すなわち、補正後最大階調値にあわせて補正が加えられた２つの補正後階調値と、何も補正が加えられていない遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値と、減算回路５３の出力とを入力する。

そして、スイッチ回路５９は、減算回路５３の出力が正のとき、すなわち、最大階調値が高輝度しきい値よりも大きいときには、加算回路５７から出力される補正後最大階調値および乗算回路９３から出力される補正後階調値を、補正後Ｒ階調値の出力端子からはＲの階調値が、補正後Ｇ階調値の出力端子からはＧの階調値が、補正後Ｂ階調値の出力端子からはＢの階調値がそれぞれ出力されるように内部で適切に信号経路のスイッチング処理を行い、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する。このとき、後段の回路においてに他の信号とタイミングが合うように、各階調値を適切に遅延して出力する。

また、スイッチ回路５９は、減算回路５３の出力が「０」のとき、すなわち、最大階調値が高輝度しきい値以下のときには、遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値を、後段の回路においてに他の信号とタイミングが合うように適切に遅延して、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値として出力する。

これにより、スイッチ回路５９から出力される信号、すなわち、補正回路８２から出力される補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値は、最大階調値が高階調値しきい値よりも大きい画素に関しては、遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値に残像度数にもとづく補正を加えた階調値となり、最大階調値が高階調値しきい値以下となる画素に関しては、遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値に何も補正を加えていない階調値となる。

したがって、発光輝度が高く残像現象が発生したときに認識されやすいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えた階調値でＲ、Ｇ、Ｂの各放電セルを発光させ、発光輝度が低く残像現象が発生しても認識されにくいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えない階調値でＲ、Ｇ、Ｂの各放電セルを発光させることができる。

このように、補正回路８２では、最大階調値には残像度数にもとづく補正を加え、残りの２つの階調値には最大階調値に対する補正後最大階調値の比率に応じた補正を加えるので、補正前のＲ階調値（遅延後Ｒ階調値）に対する補正後Ｒ階調値の大きさと、補正前のＧ階調値（遅延後Ｇ階調値）に対する補正後Ｇ階調値の大きさと、補正前のＢ階調値（遅延後Ｂ階調値）に対する補正後Ｂ階調値の大きさとを互いに等しくすることができる。これにより、残像度数にもとづく補正を加える画素に色相の変化が生じるのを防止しつつ、隣接画素との輝度差を小さくして残像現象の発生を低減することができる。

また、補正回路８２では、最大階調値が高階調しきい値よりも大きい画素に対してのみ残像度数にもとづく補正を加えるので、表示画像の明るさが不要に低下することを防止することができる。

なお、上述した所定の基準値は、階調値の取りうる最も大きい値を「２５５」としたときに設定する数値の一例を示したものである。しかし、本発明は所定の基準値が何らこの数値に限定されるものではない。所定の基準値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。

以上示したように、本実施の形態においては、輝度（Ｙ）の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数および最大階調値の大きさにもとづき、各画素のＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値に補正を加えるものとする。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、すなわち、隣接画素との輝度差が大きいエッジの数が多く静止領域が継続して表示される図柄を有する画像において、隣接画素との輝度差を小さくして、残像現象の発生を低減することが可能となる。このとき、Ｒ、Ｇ、Ｂの各階調値の大きさの比率を、補正前と補正後とで同じにすることができるので、この補正を加える画素に色相の変化が生じるのを防止することができる。また、最大階調値と高階調しきい値との比較にもとづき補正を加える構成としているので、表示画像の明るさが不要に低下することを防止することができる。

（実施の形態２）
表示画像の平均輝度レベル（Ａｖｅｒａｇｅ Ｐｉｃｔｕｒｅ Ｌｅｖｅｌ、以下、「ＡＰＬ」と略記する）が高い画像は、全体的に輝度が高く、その分、隣接する画素間の発光輝度の変化が少なく、エッジの数も少なくなると考えられる。すなわち、ＡＰＬが低い画像と比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、画像信号からＡＰＬを算出し、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬに応じて残像度数を変更する構成としてもよい。

図１１は、本発明の実施の形態２における補正回路８４の一構成例を示す回路ブロック図である。

補正回路８４は、ＡＰＬ算出回路９７と、残像度数補正回路９６と、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９とを有する。なお、補正回路８４において、乗算係数算出回路９２以降の動作は、実施の形態１に示した補正回路８２における乗算係数算出回路９２以降の動作と同様であるので、本実施の形態では、補正回路８２と同様の動作を行う回路ブロックには図１０で示した符号と同じ符号を付与して説明を省略し、実施の形態１と構成が異なる箇所についてのみ説明する。

ＡＰＬ算出回路９７は、全画素の輝度（Ｙ）の階調値の総和を算出する等の一般に知られた手法を用いることによってＡＰＬを算出する。

残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ算出回路９７において算出されたＡＰＬに応じて残像度数を変更する。このとき、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるように残像度数を変更する。

残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ算出回路９７において算出されたＡＰＬの値をａｐｌとすると、例えば、以下の計算式で得られる数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。

１００％−（ａｐｌ−４０％）
（ただし、ａｐｌ−４０％が０以下になったときはａｐｌ−４０％＝０とする）
乗算係数算出回路９２およびそれ以降の回路は、実施の形態１と同様の動作を行う。こうして、補正回路８４から補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する。

これにより、補正回路８４においては、ＡＰＬ算出回路９７において算出したＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬの大きさに応じて残像度数を変更することができ、変更後の残像度数の大きさに応じて各階調値に補正を加えることができる。

なお、上述したＡＰＬから減算する「４０％」という数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。

以上示したように、本実施の形態では、画像信号からＡＰＬを算出し、算出したＡＰＬにもとづき残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき各階調値に補正を加え、各階調値を変更する。これにより、残像現象が比較的発生しにくいと考えられるＡＰＬが高い画像では、ＡＰＬが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができるので、例えば、ＡＰＬが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。

（実施の形態３）
輝度倍率に応じて維持パルスの発生数は変化し、輝度倍率が下がるほど、維持パルスの発生数が減少して表示画像の輝度が下がり、コントラスト比も低くなる。すなわち、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率に応じて残像度数を変更する構成としてもよい。

図１２は、本発明の実施の形態３における補正回路８７の一構成例を示す回路ブロック図である。

補正回路８７は、残像度数補正回路１０１と、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９とを有する。なお、補正回路８７において、乗算係数算出回路９２以降の動作は、実施の形態１に示した補正回路８２における乗算係数算出回路９２以降の動作と同様であるので、本実施の形態では、補正回路８２と同様の動作を行う回路ブロックには図１０で示した符号と同じ符号を付与して説明を省略し、実施の形態１と構成が異なる箇所についてのみ説明する。

残像度数補正回路１０１は、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更する。

残像度数補正回路１０１は、例えば、輝度倍率が１倍のときには０．５を、輝度倍率が２倍のときには０．７を、輝度倍率が３倍のときには０．９を、輝度倍率が４倍のときには１．０を、といったように、輝度倍率が大きくなるにつれて増加する数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。

乗算係数算出回路９２およびそれ以降の回路は、実施の形態１と同様の動作を行う。こうして、補正回路８７から補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する。

これにより、補正回路８７においては、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更することができ、変更後の残像度数の大きさに応じて各階調値に補正を加えることができる。

なお、上述した輝度倍率に応じて変化する数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。

以上示したように、本実施の形態では、輝度倍率にもとづき残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各階調値を変更する。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。

（実施の形態４）
実施の形態３では、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更する実施例を説明した。そして、その具体的な一構成例として補正回路８７を示し、補正回路８７に、残像度数補間回路８０で算出した残像度数に、輝度倍率の大きさに応じて変化する数値を乗算する残像度数補正回路１０１を設ける構成を示した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではなく、その他の構成を用いて同様の効果を得ることも可能である。

図１３は、本発明の実施の形態４における残像度数算出回路１１０の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図１３には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数算出回路１１０（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，１）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数を算出する残像度数算出回路１１０（１，２）〜残像度数算出回路１１０（Ｍ，Ｎ）も図１３と同様の構成である。

本実施の形態において、図１３に示す残像度数算出回路１１０が図８に示した残像度数算出回路７９と異なる点は、輝度倍率の大きさに応じて第１の設定値を変更できるように構成した点である。そのために、残像度数算出回路１１０は、図８に示した残像度数算出回路７９の構成に、さらにセレクター８８および比較回路６９を備えた構成としている。なお、残像度数算出回路１１０においてセレクター８８および比較回路６９を除く回路構成および各回路ブロックの動作は残像度数算出回路７９に示したものと同様である。したがって、本実施の形態では、残像度数算出回路７９と同様の動作を行う回路ブロックには図８で示した符号と同じ符号を付与し、説明を省略する。

比較回路６９は、輝度倍率と、あらかじめ設定された第４のしきい値とを比較し、輝度倍率が第４のしきい値以上のときには「１」を出力し、輝度倍率が第４のしきい値未満のときには「０」を出力する。

セレクター８８は、比較回路６９の出力が「１」のときには、正の数値、例えば「＋１」を出力し、比較回路６３の出力が「０」のときには、例えば「０」を出力する。

この、セレクター８８から出力される数値が、第１の設定値として後段のセレクター６６に入力される。例えば、第４のしきい値が「３」であれば、輝度倍率が３倍以上のときには第１の設定値として「＋１」がセレクター６６に入力され、輝度倍率が３倍未満のときには第１の設定値として「０」がセレクター６６に入力される。

このように、本実施の形態に示す残像度数算出回路１１０においては、第１の設定値の大きさを輝度倍率の大きさに応じて変更することができる。したがって、輝度倍率が大きく発光輝度が比較的高いときと、輝度倍率が小さく発光輝度が比較的低いときとで、算出する残像度数を変更することが可能となる。

これにより、残像度数算出回路１１０を、例えば、輝度倍率が第４のしきい値以上のときには図８に示した残像度数算出回路７９と同様に動作し、輝度倍率が第４のしきい値未満のときには表示画像の図柄にかかわらず残像度数が増加しないように動作させることが可能となる。

なお、セレクター８８において選択される上述した数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。各数値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。また、セレクター８８は何ら２入力１出力の選択回路に限定されるものではない。例えば、比較回路６９において２つ以上のしきい値と輝度倍率とを比較し、セレクター８８を３入力１出力、あるいはそれ以上の選択ができる選択回路とする構成としてもかまわない。

以上示したように、本実施の形態では、輝度倍率と第４のしきい値とを比較し、その比較結果にもとづき第１の設定値を変更する。これにより、輝度倍率が第４のしきい値以上のとき、すなわち、発光輝度が比較的高く残像現象が比較的発生しやすいと考えられるときには、例えば、残像度数算出回路７９と同様の動作によって残像度数を算出し、輝度倍率が第４のしきい値よりも小さいとき、すなわち、発光輝度が比較的低く残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、例えば、残像度数が表示画像の図柄にかかわらず増加しないようにすることができる。したがって、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。

（実施の形態５）
プラズマディスプレイ装置１においては、例えば、各階調値を平滑化することで、隣接する画素間の発光輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することができる。そこで、本実施の形態では、補正後の各階調値に対して残像度数に応じた平滑化をかける構成について説明する。

図１４は、本発明の実施の形態５における補正回路８５の一構成例を示す回路ブロック図である。

補正回路８５は、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９と、遅延回路９９と、平滑化回路９８とを有する。なお、補正回路８５において、平滑化回路９８および遅延回路９９を除く各回路ブロックの動作は、実施の形態１に示した補正回路８２における各回路ブロックの動作と同様であるので、本実施の形態では、補正回路８２と同様の動作を行う回路ブロックには図１０で示した符号と同じ符号を付与して説明を省略し、実施の形態１と構成が異なる箇所についてのみ説明する。

遅延回路９９は、平滑化回路９８においてＲ、Ｇ、Ｂの各階調値と残像度数とのタイミングが合うように、残像度数を適切に遅延する。

平滑化回路９８は、スイッチ回路５９から出力されるＲ、Ｇ、Ｂの各階調値に対して、他の画素の同色の階調値間で、すなわち、Ｒの階調値に対しては、他の画素のＲの階調値との間で、Ｇの階調値に対しては、他の画素のＧの階調値との間で、Ｂの階調値に対しては、他の画素のＢの階調値との間で、それぞれ残像度数に応じた平滑化をかける。平滑化の手段としては、例えば、一般に知られたメディアンフィルタを挙げることができる。そして、残像度数が小さいときには平滑化を軽くし、残像度数が大きくなるにつれて平滑化を重くしていく。例えば、残像度数が小さいときにはメディアンフィルタの領域を１画素×１画素とし、残像度数が大きくなるにつれて、メディアンフィルタの領域を、２画素×２画素、３画素×３画素、４画素×４画素、５画素×５画素と広げていく。

これにより、残像度数に応じた重さの平滑化を各階調値にかけ、隣接する画素間の発光輝度の変化をこの平滑化によって低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。

なお、平滑化回路９８における平滑化の手段は、何らメディアンフィルタに限定されるものではなく、一般に知られた他の画像用２次元フィルタ、例えば、移動平均フィルタ、ガウシアンフィルタ、平均値フィルタ等、残像度数の大きさに応じて平滑化の重さを変更できるフィルタであればどのようなものであってもよい。ただし、平滑化回路９８における平滑化の手段は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様、平滑化後の表示画像の品質等に応じて最適なものに設定することが望ましい。

以上示したように、本実施の形態では、残像度数にもとづく補正後の各階調値に対して、残像度数に応じた平滑化をかける。これにより、残像度数の大きさに応じて補正後の各階調値を平滑化することができる。したがって、隣接する画素間の発光輝度の変化をさらに低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。

なお、本発明においては、実施の形態１から実施の形態５に示した各構成を組み合わせて用いてもよい。

なお、本発明における実施の形態に示した各回路ブロックは、実施の形態に示した各動作を行う電気回路として構成されてもよく、あるいは、同様の動作をするようにプログラミングされたマイクロコンピュータ等を用いて構成されてもよい。

なお、本発明の実施の形態１では、減算回路７４において、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行って、表示電極対２４が延伸する方向に隣接する２つの画素（水平隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成を説明した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではない。例えば、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１水平期間前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行って、データ電極３２が延伸する方向に隣接する２つの画素（垂直隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、（１水平期間＋１画素）前の輝度（Ｙ）の階調値との減算、および（１水平期間−１画素）前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行って、パネル１０において斜め方向に隣接する２つの画素間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、水平隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、垂直隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、および斜め方向の隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差のうちの最大値を用いる構成であってもよい。

なお、本発明の実施の形態１では、輝度比較値およびエッジ比較値を変更する構成については特に言及していないが、例えば、輝度比較値およびエッジ比較値のいずれか一方、または双方を、パネル１０の場所によって変更する構成としてもよい。一定時間静止して表示される図柄の代表的な例として、字幕による文字や現在時刻等があるが、それらは、一般的にはパネル１０の周辺部に表示されることが多い。そこで、輝度比較値、エッジ比較値の設定値をパネル１０の中央部よりも周辺部の方で小さくし、パネル１０の中央部よりも周辺部で残像度数が大きくなりやすくなるような構成としてもよい。

なお、図３に示した駆動電圧波形は実施の形態における一例を示したものに過ぎず、本発明は、何らこれらの駆動電圧波形に限定されるものではない。

また、本発明における実施の形態は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを第１の走査電極群と第２の走査電極群とに分割し、書込み期間を、第１の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第１の書込み期間と、第２の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第２の書込み期間とで構成する、いわゆる２相駆動によるパネルの駆動方法にも適用させることができ、上述と同様の効果を得ることができる。

なお、本発明における実施の形態は、走査電極と走査電極とが隣り合い、維持電極と維持電極とが隣り合う電極構造、すなわち、前面板に設けられる電極の配列が、「・・・、走査電極、走査電極、維持電極、維持電極、走査電極、走査電極、・・・」となる電極構造のパネルにおいても有効である。

なお、本発明における実施の形態において示した具体的な各数値は、表示電極対数１０８０の５０インチのパネルの特性にもとづき設定したものであって、単に実施の形態の一例を示したものに過ぎない。本発明はこれらの数値に何ら限定されるものではなく、パネルの特性やプラズマディスプレイ装置の仕様等に合わせて最適に設定することが望ましい。また、これらの各数値は、上述した効果を得られる範囲でのばらつきを許容するものとする。

本発明は、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるので、パネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置として有用である。

１ プラズマディスプレイ装置
１０ パネル
２１ 前面板
２２ 走査電極
２３ 維持電極
２４ 表示電極対
２５，３３ 誘電体層
２６ 保護層
３１ 背面板
３２ データ電極
３４ 隔壁
３５ 蛍光体層
４１ 画像信号処理回路
４２ データ電極駆動回路
４３ 走査電極駆動回路
４４ 維持電極駆動回路
４５ タイミング発生回路
５１ 輝度階調値算出回路
５２ 最大値選択回路
５３，７１，７４，９０ 減算回路
５４，９３ 乗算回路
５５，９９ 遅延回路
５６ ＲＧＢ補正回路
５７ 加算回路
５８ 乗算比率算出回路
５９ スイッチ回路
６３，６４，６５，６９，７２，７５ 比較回路
６６，６７，６８，８８ セレクター
７０ １フィールド遅延回路
７３ １画素遅延回路
７６ ブロックタイミング発生回路
７７，７８ 計数回路
７９，１１０ 残像度数算出回路
８０ 残像度数補間回路
８２，８４，８５，８７ 補正回路
８９ 累積加算回路
９１ 制限回路
９２ 乗算係数算出回路
９６，１０１ 残像度数補正回路
９７ ＡＰＬ算出回路
９８ 平滑化回路

Claims (17)

1. 走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成したプラズマディスプレイパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動し、前記３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
   前記プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、
   画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出するとともに、前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
   赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、
   画素毎に、前記残像度数にもとづき前記最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、前記最大階調値に対する前記補正後最大階調値の大きさの比率を求め、前記比率にもとづき、前記最大階調値を除く２つの階調値に補正を加える
   ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
2. あらかじめ設定した高階調値しきい値よりも前記最大階調値の方が大きいときには、前記最大階調値から前記高階調値しきい値を減算し、前記減算の結果に対して前記残像度数にもとづく補正を加え、前記補正の結果に前記高階調値しきい値を加算した結果を前記補正後最大階調値とする
   ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
3. 現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
   隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
   前記第１の計数値および前記第２の計数値にもとづき、前記領域毎の残像度数を算出することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
4. 前記第１の計数値が第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、
   前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、
   前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、
   前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、前記領域毎の残像度数を更新することを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
5. 前記第１の設定値は正の数値であり、前記第２の設定値は「０」であり、前記第３の設定値および前記第４の設定値は負の数値であることを特徴とする請求項４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
6. 更新後の前記残像度数から所定の定数を減算することを特徴とする請求項４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
7. 更新後の前記残像度数を所定の上限値以下に制限することを特徴とする請求項４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
8. それぞれの前記領域において、前記領域毎の残像度数を前記領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、
   前記中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の前記中央画素との距離、および前記中央画素の残像度数にもとづいて前記画素毎の残像度数を算出することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
9. 前記画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果を前記基準値で除算した結果にもとづき各画素の最大階調値に補正を加える
   ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
10. 画像信号の平均輝度レベルを検出し、前記平均輝度レベルが大きいときには、前記平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、前記平均輝度レベルにもとづき前記画素毎の残像度数を変更することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
11. サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを前記維持期間に発生するとともに、
    前記輝度倍率が小さいときには、前記輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、前記輝度倍率にもとづき前記画素毎の残像度数を変更することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
12. サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを前記維持期間に発生するとともに、
    前記輝度倍率の大きさに応じて前記第１の設定値の大きさを変更することを特徴とする請求項４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
13. 前記輝度倍率が第４のしきい値以上のときには前記第１の設定値を正の数値とし、
    前記輝度倍率が第４のしきい値未満のときには前記第１の設定値を「０」とすることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
14. 残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも階調値が平滑化されるように、前記画素毎の残像度数にもとづき各画素の各階調値を平滑化することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
15. 画素数が互いに等しくなるように、前記表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともに前記データ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて前記領域を設定することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
16. 走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設け、前記３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するプラズマディスプレイパネルと、
    画像信号に応じて各画素の３つの放電セルのそれぞれに赤、緑、青の各階調値を設定し、前記階調値の大きさに応じて、前記放電セルにおける前記サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、
    前記画像信号処理回路は、
    前記プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、
    画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出するとともに、前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
    赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、
    画素毎に、前記残像度数にもとづき前記最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、前記最大階調値に対する前記補正後最大階調値の大きさの比率を求め、前記比率にもとづき、前記最大階調値を除く２つの階調値に補正を加えるＲＧＢ補正回路を有する
    ことを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
17. 前記ＲＧＢ補正回路は、
    あらかじめ設定した高階調値しきい値よりも前記最大階調値の方が大きいときには、前記最大階調値から前記高階調値しきい値を減算し、前記減算の結果に対して前記残像度数にもとづく補正を加え、前記補正の結果に前記高階調値しきい値を加算した結果を前記補正後最大階調値とする
    ことを特徴とする請求項１６に記載のプラズマディスプレイ装置。

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