JP2011185863A - 磁界検知装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 3つの磁気センサからの検知出力に基づいて、磁気ベクトルの座標点データが、半径Raの球面座標Ga上の点で求められる。座標点データDx,Dy,Dzが球面座標Gaから大きく離れたときに、2つの座標点データDx,Dyの双方から半径Ra離れた仮想原点I1と、2つの座標点データDy,Dzの双方から半径Ra離れた仮想原点I2を求める。次に半径を少し長くして、仮想原点I3,I4を求める。仮想原点I1,I2の距離d1と仮想原点I3,I4の距離d2を比較し、新たな球面座標Gbの半径Raが基の半径Raよりも長いか短いかを判断する。これを繰り返して、新たな基準原点Obを求める。
【選択図】図6
Description
前記磁気検知部に、X軸方向の磁界の強度を検知するX軸センサと、Y軸方向の磁界の強度を検知するY軸センサ、およびZ軸方向の磁界の強度を検知するZ軸センサが設けられ、
前記演算部では、前記X軸センサと前記Y軸センサおよび前記Z軸センサからの検知出力に基づいて、磁気ベクトルの向きが、三次元座標に基準原点を有する球面座標上の座標点データとして求められ、
第1の基準原点Oaと第1の半径Raを有する球面座標Gaから所定距離以上外れた複数のシフト座標点データDx,Dy,Dzが得られたときに、
(a)第1の基準原点Oaと2つのシフト座標点データDx,Dyとを含む平面において、2つのシフト座標点データDx,Dyの双方から第1の原点Oaに向けて第1の半径Raだけ離れた仮想原点I1を求め、他の組み合わせの2つのシフト座標点データDy,Dzから同様にして仮想原点I2を求め、2つの仮想原点I1,I2の間の第1の距離d1を求め、
(b)第1の半径Raよりも所定寸法だけ長い第2の半径(Ra+1)を用いて、前記(a)と同様に2つの仮想原点I3,I4を求めて、2つの仮想原点I3,I4の間の第2の距離d2を求め、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも短かったら、新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも長いと判断し、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも長かったら、新たな球面座標の半径Rbが第1の半径Raよりも短いと判断し、
(c)または、第1の半径Raよりも所定寸法だけ短い第2の半径(Ra−1)を用いて、前記(a)と同様に2つの仮想原点I5,I6を求めて、2つの仮想原点I5,I6の間の第2の距離d2を求め、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも短かったら、新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも短いと判断し、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも長かったら、新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも長いと判断し、
(d)前記(b)または前記(c)において新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも長いと判断したら、第2の半径よりも所定寸法だけ長い第3の半径を用いて前記(b)の処理を行い、
(e)前記(b)または前記(c)において新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも短いと判断したら、第2の半径よりも所定寸法だけ短い第3の半径を用いて前記(c)の処理を行い、
これを繰り返して、2つの仮想原点が収束した位置を新たな球面座標Gbの基準原点Obとすることを特徴とするものである。
(g)他方のシフト座標点データDyと第1の収束点M1との間に直線L2を引き、直線L2上で他のシフト座標点データDyから第1の半径Raだけ離れた第2の収束点M2を求め、
(h)一方のシフト座標点データDxと第2の収束点M2との間に直線L3を引き、直線L3上で一方のシフト座標点データDxから第1の半径Raだけ離れた第3の収束点M3を求め、
前記(g)と(f)を所定回数繰り返して得られる収束点を、仮想原点とする。
2 磁気検知部
3 X軸センサ
4 Y軸センサ
5 Z軸センサ
6 磁場データ検知部
7 メモリ
10 演算部
11 データバッファ
Ga 第1の球面座標
Gb 新たな球面座標
Ra 第1の半径
Rb 新たな球面座標の半径
Oa 第1の基準原点
Ob 第2の基準原点
Dx,Dy,Dz シフト座標点データ
I1,I2,I3,I4,I5,I6 仮想原点
d1 第1の距離
d2 第2の距離
Claims (5)
- 互いに直交するX軸とY軸およびZ軸が決められた磁気検知部と、演算部とを有し、
前記磁気検知部に、X軸方向の磁界の強度を検知するX軸センサと、Y軸方向の磁界の強度を検知するY軸センサ、およびZ軸方向の磁界の強度を検知するZ軸センサが設けられ、
前記演算部では、前記X軸センサと前記Y軸センサおよび前記Z軸センサからの検知出力に基づいて、磁気ベクトルの向きが、三次元座標に基準原点を有する球面座標上の座標点データとして求められ、
第1の基準原点Oaと第1の半径Raを有する球面座標Gaから所定距離以上外れた複数のシフト座標点データDx,Dy,Dzが得られたときに、
(a)第1の基準原点Oaと2つのシフト座標点データDx,Dyとを含む平面において、2つのシフト座標点データDx,Dyの双方から第1の原点Oaに向けて第1の半径Raだけ離れた仮想原点I1を求め、他の組み合わせの2つのシフト座標点データDy,Dzから同様にして仮想原点I2を求め、2つの仮想原点I1,I2の間の第1の距離d1を求め、
(b)第1の半径Raよりも所定寸法だけ長い第2の半径(Ra+1)を用いて、前記(a)と同様に2つの仮想原点I3,I4を求めて、2つの仮想原点I3,I4の間の第2の距離d2を求め、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも短かったら、新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも長いと判断し、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも長かったら、新たな球面座標の半径Rbが第1の半径Raよりも短いと判断し、
(c)または、第1の半径Raよりも所定寸法だけ短い第2の半径(Ra−1)を用いて、前記(a)と同様に2つの仮想原点I5,I6を求めて、2つの仮想原点I5,I6の間の第2の距離d2を求め、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも短かったら、新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも短いと判断し、前記第2の距離d2が前記第1の距離d1よりも長かったら、新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも長いと判断し、
(d)前記(b)または前記(c)において新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも長いと判断したら、第2の半径よりも所定寸法だけ長い第3の半径を用いて前記(b)の処理を行い、
(e)前記(b)または前記(c)において新たな球面座標Gbの半径Rbが第1の半径Raよりも短いと判断したら、第2の半径よりも所定寸法だけ短い第3の半径を用いて前記(c)の処理を行い、
これを繰り返して、2つの仮想原点が収束した位置を新たな球面座標Gbの基準原点Obとすることを特徴とする磁界検知装置。 - 前記(d)の処理の結果、2つの仮想原点の間の距離が広がったら、そのときの2つの仮想原点の近傍、またはひとつ前の処理で得られた2つの仮想原点の近傍に新たな球面座標Gbの基準原点Obを設定する請求項1記載の磁界検知装置。
- 前記(e)の処理の結果、2つの仮想原点の間の距離が広がったら、そのときの2つの仮想原点の近傍、またはひとつ前の処理で得られた2つの仮想原点の近傍に新たな球面座標Gbの基準原点Obを設定する請求項1記載の磁界検知装置。
- 前記(a)において、2つの仮想原点I1,I2の間の第1の距離d1が所定値以下であったら、2つの仮想原点I1,I2の近傍に新たな球面座標Gbの基準原点Obを設定する請求項1記載の磁界検知装置。
- 前記(a)における2つの仮想原点I1,I2は、それぞれ次のようにして求められる請求項1ないし4のいずれかに記載の磁界検知装置。
(f)一方のシフト座標点データDxと第1の基準原点Oaとの間に直線L1を引き、直線L1上で一方の座標点データDxから第1の半径Raだけ離れた第1の収束点M1を求め、
(g)他方のシフト座標点データDyと第1の収束点M1との間に直線L2を引き、直線L2上で他のシフト座標点データDyから第1の半径Raだけ離れた第2の収束点M2を求め、
(h)一方のシフト座標点データDxと第2の収束点M2との間に直線L3を引き、直線L3上で一方のシフト座標点データDxから第1の半径Raだけ離れた第3の収束点M3を求め、
前記(g)と(f)を所定回数繰り返して得られる収束点を、仮想原点とする。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103874904A (zh) * | 2012-02-24 | 2014-06-18 | 旭化成株式会社 | 偏移估计装置、偏移估计方法、偏移估计程序以及信息处理装置 |
JP2016114378A (ja) * | 2014-12-11 | 2016-06-23 | ローム株式会社 | オフセット算出回路及びこれを用いた方位角センサ |
JP2017166895A (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | カシオ計算機株式会社 | 電子機器及びセンサ較正方法、センサ較正プログラム |
CN111707296A (zh) * | 2019-03-18 | 2020-09-25 | Tdk株式会社 | 位置检测装置、信号处理电路和磁传感器*** |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005007702A1 (fr) * | 2003-07-16 | 2005-01-27 | Institute Of Oceanology Chinese Academy Of Sciences | Compose chitine-oligosaccharide et son procede de preparation |
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2010
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---|---|---|---|---|
WO2005007702A1 (fr) * | 2003-07-16 | 2005-01-27 | Institute Of Oceanology Chinese Academy Of Sciences | Compose chitine-oligosaccharide et son procede de preparation |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103874904A (zh) * | 2012-02-24 | 2014-06-18 | 旭化成株式会社 | 偏移估计装置、偏移估计方法、偏移估计程序以及信息处理装置 |
EP2818828A1 (en) * | 2012-02-24 | 2014-12-31 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Offset estimation device, offset estimation method, offset estimation program and information processing device |
EP2818828A4 (en) * | 2012-02-24 | 2015-04-01 | Asahi Chemical Ind | DISASSEMBLY APPARATUS, DISPOSAL METHOD, DISPOSAL ASSESSMENT PROGRAM AND INFORMATION PROCESSING DEVICE |
CN103874904B (zh) * | 2012-02-24 | 2016-02-24 | 旭化成株式会社 | 偏移估计装置、偏移估计方法、偏移估计程序以及信息处理装置 |
JP2016114378A (ja) * | 2014-12-11 | 2016-06-23 | ローム株式会社 | オフセット算出回路及びこれを用いた方位角センサ |
JP2017166895A (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | カシオ計算機株式会社 | 電子機器及びセンサ較正方法、センサ較正プログラム |
CN111707296A (zh) * | 2019-03-18 | 2020-09-25 | Tdk株式会社 | 位置检测装置、信号处理电路和磁传感器*** |
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