JP2011134316A - タッチパネル装置及びタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】タッチパネル上で２点がタッチされた際の２点間の距離を精度良く検出することができるタッチパネル装置及びタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法を提供する。
【解決手段】タッチパネルＴＰ上で２点がタッチされたか否かを、対向する端子間の抵抗値に基づいて判定し、２点がタッチされたと判定すると、タッチされた２点間の距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを検出する。このとき、対向する端子間の抵抗値とタッチ入力点の押圧力（接触抵抗値）とに基づいて、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを検出する。
【選択図】 図５

Description

本発明は、タッチパネル装置及びタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法に関し、特にタッチパネル上の２点を同時にタッチした際の２点間距離を検出可能な抵抗膜式のタッチパネル装置及び当該２点間距離を検出する方法に関する。

従来のタッチパネル装置としては、例えば特許文献１に記載の技術がある。この技術は、タッチパネル上で２点がタッチされると、２層タッチパネルに設けた対向する端子間の抵抗値が低下する現象を利用して、２点タッチを判定するものである。
ここでは、２点タッチされたときの２点間の距離が大きいほど対向する端子間の抵抗値が大きくなることを利用して、Ｘ方向の端子間の抵抗値およびＹ方向の端子間の抵抗値に基づいて、Ｘ方向およびＹ方向の２点間の距離をそれぞれ検出している。

特開２００９−１７６１１４号公報

しかしながら、対向する端子間の抵抗値は、２点間の距離だけでなくタッチ入力点の押圧力にも影響する。すなわち、２点間の距離が同じであっても、タッチ入力点の押圧力が異なると、対向する端子間の抵抗値は変化する。
したがって、上記特許文献１に記載のタッチパネル装置のように、単に対向する端子間の抵抗値に基づいて２点間距離を検出する方法では、正確な２点間距離を求めることができず、操作者の意図に反する操作が認識されてしまうおそれがある。
そこで、本発明は、タッチパネル上で２点がタッチされた際の２点間距離を精度良く検出することができるタッチパネル装置及びタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するために、本発明に係るタッチパネル装置の第１の形態は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルを備えるタッチパネル装置であって、前記一対の電極端子間の抵抗値を測定する端子間抵抗測定手段と、前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定手段と、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出手段と、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出手段と、を備えることを特徴としている。

このように、タッチ入力の押圧力を考慮してタッチされた２点間の距離を検出するので、例えば、操作者が２点タッチした際に、２点間距離を一定としたままでタッチ開始時から徐々に押圧力を変化させるような操作を行った場合であっても、適正に一定の２点間距離を検出することができるなど、２点間距離を精度良く求めることができる。
また、第２の形態は、前記２点間距離検出手段が、前記タッチパネルがタッチされていないときに前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値と、前記タッチパネルがタッチされたときに前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値との差分に基づいて、前記２点間の距離の基準値を算出する基準値算出手段と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力が小さいほど、前記基準値算出手段で算出した前記２点間の距離の基準値を増加補正する補正手段と、を備えることを特徴としている。

このように、タッチ入力の押圧力に応じて、タッチしていないときの端子間抵抗値とタッチしているときの端子間抵抗値との差分を補正することで、タッチ入力の押圧力の変化に伴って発生する押下点での上下の抵抗膜間の接触抵抗の変化分を補正することができる。
押圧力が小さいほど上下の抵抗膜間の接触抵抗は大きくなるため、実際の２点間距離が同じであっても、タッチしていないときの端子間抵抗値とタッチしているときの端子間抵抗値との差分、即ち２点間距離の基準値が小さくなる。したがって、押圧力が小さいほど当該２点間距離の基準値を増加補正することで、２点間距離を精度良く求めることができる。このように、比較的簡易な構成で適正な補正を行うことができる。

さらに、第３の形態は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルを備えるタッチパネル装置であって、一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出手段と、前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出手段と、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定手段と、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出手段と、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出手段と、を備えることを特徴としている。

このように、タッチ入力の押圧力を考慮してタッチされた２点間の距離を検出するので、例えば、操作者が２点タッチした際に、２点間距離を一定としたままでタッチ開始時から徐々に押圧力を変化させるような操作を行った場合であっても、適正に一定の２点間距離を検出することができるなど、２点間距離を精度良く求めることができる。

また、第４の形態は、前記２点間距離検出手段が、前記タッチパネルが１点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記タッチパネルが２点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比との差分に基づいて、前記２点間の距離の基準値を算出する基準値算出手段と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力が小さいほど、前記基準値算出手段で算出した前記２点間の距離の基準値を増加補正する補正手段と、を備えることを特徴としている。

このように、２点間の距離に応じて前記第１の電圧検出部で検出した電圧と前記第２の電圧検出部で検出した電圧との比が変化することを利用して、２点間距離を検出するので、適正に２点間距離を検出することができる。また、座標検出や２点タッチ判定に用いる測定電圧を用いて２点間距離を検出することができるので、新たに２点間距離検出用の電圧測定を行う必要がない。したがって、その分電圧測定の回数を削減することができる。

さらに、第５の形態は、前記押圧力検出手段は、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力と相関関係にあり且つ各点の押圧力との相関度合いが同等又は略同等となる押圧パラメータを検出することを特徴としている。
このように、各点の押圧力の影響が同等程度となるような押圧パラメータを用いることで、各点の押圧力が異なる場合等であっても、より精度良く２点間距離を求めることができる。

また、本発明に係るタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法の第１の形態は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法であって、前記一対の電極端子間の抵抗値を測定する端子間抵抗測定ステップと、前記端子間抵抗測定ステップにおいて測定された前記抵抗値に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定ステップと、前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出ステップと、前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記端子間抵抗測定ステップにおいて測定された前記抵抗値と、前記押圧力検出ステップにおいて検出された押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出ステップと、を備えることを特徴としている。

さらに、第２の形態は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法であって、一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出ステップと、前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出ステップと、前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定ステップと、前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出ステップと、前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比と、前記押圧力検出ステップにおいて検出された押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出ステップと、を備えることを特徴としている。
このように、タッチ入力の押圧力を考慮してタッチされた２点間の距離を検出する方法であるので、２点間距離を精度良く求めることができる。

本発明によれば、タッチパネル上で２点がタッチされた際の２点間の距離を精度良く検出することができるので、操作者の意図に合致した操作を認識することができるタッチパネル装置とすることができる。

本発明の実施形態におけるタッチパネル装置の構成を示す回路図である。 制御部１０で実行する初期化処理手順を示すフローチャートである。 Ｒ＿ＸＰ測定時における回路図である。 Ｒ＿ＹＰ測定時における回路図である。 制御部１０で実行する２点タッチ処理手順を示すフローチャートである。 Ｘｐ１，Ｘｐ２測定時における回路図である。 Ｙｐ１，Ｙｐ２測定時における回路図である。 Ｚ１測定時における回路図である。 Ｚ２測定時における回路図である。 １点タッチの場合の端子間抵抗の状態を示す図である。 ２点間距離を一定としたときの押圧力と（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）との関係を示す図である。 本発明の第１の実施形態の効果を説明するための図である。 ２点タッチのジェスチャを示す図である。 ジェスチャ判断処理手順を示すフローチャートである。 回転判断処理手順を示すフローチャートである。 縮小動作時における補正前の（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）を示す図である。 縮小動作時における補正後の２点間距離ＹＤｕａｌを示す図である。 ２点タッチの場合のＺ１，Ｚ２測定時における回路図である。 ２点タッチ時のＺ１，Ｚ２測定の抵抗モデルを示す図である。 押圧パラメータ算出処理手順を示すフローチャートである。 ｘａ＜ｘｂ，ｙａ＞ｙｂのときのタッチ入力点の状態を示す図である。 Ｚ１ＮＰ，Ｚ２ＮＰ測定時における回路図である。 ｘａ＜ｘｂ，ｙａ＜ｙｂのときのタッチ入力点の状態を示す図である。 Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰ測定時における回路図である。 本発明の第３の実施形態におけるタッチパネル装置の構成を示す回路図である。 第３の実施形態の制御部１０で実行する初期化処理手順を示すフローチャートである。 Ｘｐ２１測定時における回路図である。 Ｙｐ２１測定時における回路図である。 ＲＸｐ２１測定時における回路図である。 ＲＹｐ２１測定時における回路図である。 第３の実施形態における２点タッチ処理手順を示すフローチャートである。 Ｙｐ１測定時における回路図である。 Ｚ１，Ｚ２測定時における回路図である。 Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰ測定時における回路図である。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
（第１の実施形態）
（構成）
図１は、本発明の実施形態におけるタッチパネル装置の構成を示す回路図である。
タッチパネル装置は、装置全体を制御する制御部１０と、必要な情報を表示するためのＬＣＤモジュール１１と、ＬＣＤモジュール１１上に設置されるタッチパネルＴＰとを備える。
タッチパネルＴＰは、２枚のタッチパネルＴＰ１，ＴＰ２から構成される。タッチパネルＴＰ１は、タッチパネルＴＰ２上に微小な隙間を設けて重ね合わせる。タッチパネルＴＰ１は、Ｙ方向に伸びた一対の電極からなる端子Ｙ１，Ｙ２間に延設された抵抗膜を有する。また、タッチパネルＴＰ２は、Ｙ方向に直交するＸ方向に伸びた一対の電極からなる端子Ｘ１，Ｘ２間に延設された抵抗膜を有する。

タッチパネルＴＰ１及びＴＰ２は、それぞれの抵抗膜を張り合わせて構成されるアナログタッチパネルであり、人間の指やペン等でそのタッチ感応表面上のどこにタッチしても、そのタッチを検出できるようになっている。
また、このタッチパネル装置は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６を備える。
スイッチＳＷ１の一端は、所定の直流電圧を印加する電源ＶＤＤに接続され、その他端は、タッチパネルＴＰ１の端子Ｙ１に接続されている。スイッチＳＷ２の一端は電源ＶＤＤに接続され、その他端は抵抗Ｒ１を介してタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ１に接続されている。スイッチＳＷ３の一端は接地接続され、その他端はタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ２に接続されている。

また、スイッチＳＷ４の一端は電源ＶＤＤに接続され、その他端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ１に接続されている。スイッチＳＷ５の一端は電源ＶＤＤに接続され、その他端は抵抗Ｒ２を介してタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ１に接続されている。スイッチＳＷ６の一端は接地接続され、その他端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ２に接続されている。
これらスイッチＳＷ１〜ＳＷ６は、制御部１０によってそれぞれ開閉状態が制御されるようになっている。

制御部１０は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６を開閉制御し、所定の接続状態で各端子Ｘ１，Ｘ２，Ｙ１，Ｙ２に発生した電圧ＸＰ，ＸＮ，ＹＰ，ＹＮを取得する。ここで、制御部１０は、図示しないＡＤコンバータを備え、測定電圧をデジタルデータに変換する。
そして、制御部１０は、これらの取得した電圧値をもとに、タッチパネルＴＰ上で２点がタッチされたか否かを判定すると共に、１点がタッチされた場合にはそのタッチ位置（Ｘ座標，Ｙ座標）、２点がタッチされた場合には２点の中心座標と２点間の距離（Ｘ方向距離，Ｙ方向距離）を検出し、出力する。

図２は、制御部１０で実行する初期化処理手順を示すフローチャートである。
この初期化処理は、タッチパネルＴＰがタッチされていないときに実行する。
先ずステップＳ１で、図３に示す状態での端子Ｘ１の電圧ＸＰ（電圧Ｒ＿ＸＰ）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ５及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｘ１に抵抗Ｒ２を介して電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。このように、抵抗Ｒ２を介して端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加する。そして、この状態で、端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。
このとき測定される電圧レベルは、端子Ｘ１，Ｘ２間の抵抗値と既知の抵抗値Ｒ２とで分圧した値となる。このようにして、端子Ｘ１，Ｘ２間の抵抗値に相当する電圧レベルを求めることができる。なお、図３は、２点タッチした際の端子Ｘ１，Ｘ２間の回路構成を示している。

次に、ステップＳ２では、図４に示す状態での端子Ｙ１の電圧ＹＰ（電圧Ｒ＿ＹＰ）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ２及びＳＷ３を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に抵抗Ｒ１を介して電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｙ２を接地接続する。このように、抵抗Ｒ１を介して端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加する。そして、この状態で、端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。

このとき測定される電圧レベルは、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値と既知の抵抗値Ｒ１とで分圧した値となる。このようにして、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値に相当する電圧レベルを求めることができる。なお、図４は、２点タッチした際の端子Ｙ１，Ｙ２間の回路構成を示している。
次に、ステップＳ３では、前記ステップＳ１で取得した電圧Ｒ＿ＸＰを基準電圧Ｒ＿ＸＰ０に設定すると共に、前記ステップＳ２で取得した電圧Ｒ＿ＹＰを基準電圧Ｒ＿ＹＰ０に設定する。
そして、ステップＳ４では、前記ステップＳ３で設定した基準電圧Ｒ＿ＸＰ０，Ｒ＿ＹＰ０をメモリ（不図示）に記憶して、初期化処理を終了する。

図５は、制御部１０で実行するタッチ処理手順を示すフローチャートである。
このタッチ処理は、タッチパネルＴＰがタッチされているときに所定時間毎（２ｍｓｅｃ〜１０ｍｓｅｃ毎）に実行し、先ずステップＳ１１で、各種データを取得する。具体的には、電圧Ｒ＿ＸＰ，Ｒ＿ＹＰ，Ｘｐ１，Ｘｐ２，Ｙｐ１，Ｙｐ２，Ｚ１，Ｚ２を取得する。
電圧Ｒ＿ＸＰは、図３に示す状態で測定した電圧ＸＰであり、電圧Ｒ＿ＹＰは、図４に示す状態で測定した電圧ＹＰである。

また、電圧Ｘｐ１及びＸｐ２は、図６に示す状態で測定した電圧ＹＰ及びＹＮである。すなわち、図３の状態に対し、スイッチＳＷ５を開状態、スイッチＳＷ４を閉状態として、端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加した状態で、他方のパネルの端子Ｙ１，Ｙ２の電圧レベルをそれぞれ測定する。
電圧Ｙｐ１及びＹｐ２は、図７に示す状態で測定した電圧ＸＰ及びＸＮである。すなわち、図４の状態に対し、スイッチＳＷ２を開状態、スイッチＳＷ１を閉状態として、端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加した状態で、他方のパネルの端子Ｘ１，Ｘ２の電圧レベルをそれぞれ測定する。

さらに、電圧Ｚ１は、図８に示す状態で測定した電圧ＸＰである。すなわち、電圧Ｚ１の測定時には、スイッチＳＷ１及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。ここで、図８は、１点タッチした際の各端子間の回路構成を示している。

また、電圧Ｚ２は、図９に示す状態で測定した電圧ＹＮである。すなわち、電圧Ｚ２の測定時には、図８と同様にスイッチＳＷ１及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｙ２の電圧レベルを測定する。ここで、図９は、１点タッチした際の各端子間の回路構成を示している。
なお、各種データを取得する際には、平均化処理等を実施するようにしてもよい。平均化処理としては、例えば、６データを取得し、その６データのうち最大値及び最小値を削除した後、残りの４データの平均を取る処理を行う。これにより、測定データの信頼性を向上させることができる。

次に、ステップＳ１２では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｘｐ１及びＸｐ２に基づいて、下記（１）式をもとにＸ座標Ｘｐを算出し、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｙｐ１及びＹｐ２に基づいて、下記（２）式をもとにＹ座標Ｙｐを算出する。
Ｘｐ＝（Ｘｐ１＋Ｘｐ２）／２ ………（１）
Ｙｐ＝（Ｙｐ１＋Ｙｐ２）／２ ………（２）
ここで算出した座標（Ｘｐ，Ｙｐ）は、２点タッチの際の２点の中心座標となる。
次に、ステップＳ１３では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｒ＿ＸＰと、メモリに記憶した基準電圧Ｒ＿ＸＰ０との差分（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ）が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＹより大きいか否かを判定する。そして、Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ＞Ｄ＿ＸＹである場合には、２点タッチされていると判断して後述するステップＳ１５に移行する。

一方、Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ≦Ｄ＿ＸＹである場合にはステップＳ１４に移行し、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｒ＿ＹＰと、メモリに記憶した基準電圧Ｒ＿ＹＰ０との差分（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＹより大きいか否かを判定する。そして、Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ≦Ｄ＿ＸＹである場合には、１点タッチであると判断してステップＳ１５に移行する。

ステップＳ１５では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｘｐ１，Ｙｐ１をタッチ位置のＸＹ座標として出力し、タッチ処理を終了する。
一方、前記ステップＳ１４で、Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ＞Ｄ＿ＸＹであると判定した場合には、２点タッチされていると判断してステップＳ１６に移行し、押圧パラメータＸＺ２１を算出する。この押圧パラメータＸＺ２１は、タッチ入力点の押圧力と相関関係のあるパラメータであり、当該押圧力が大きいほど小さくなる値である。ここでは、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１を算出する。
ＸＺ２１＝Ｘｐ／４０９６（Ｚ２／Ｚ１−１） ………（３）
なお、上記（３）式は、１２ｂｉｔ（２¹²＝４０９６）の場合の算出式である。

次に、ステップＳ１７では、前記ステップＳ１６で算出した押圧パラメータＸＺ２１が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＺ２１より小さいか否かを判定する。そして、ＸＺ２１≧Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっていないものと判断して、そのままタッチ処理を終了する。一方、ＸＺ２１＜Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっているものと判断してステップＳ１８に移行する。
ステップＳ１８では、次式をもとにＸ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
ＸＤｕａｌ＝Ａ・（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（４）
ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはそれぞれ予め設定した定数である。

このように、基準電圧Ｒ＿ＸＰ０と電圧Ｒ＿ＸＰとの差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
次に、ステップＳ１９では、次式をもとにＹ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
ＹＤｕａｌ＝Ａ・（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（５）

このように、基準電圧Ｒ＿ＹＰ０と電圧Ｒ＿ＹＰとの差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
そして、ステップＳ２０では、前記ステップＳ１８及びＳ１９で算出した２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを出力し、ステップＳ２１に移行する。
ステップＳ２１では、前記ステップＳ１２で検出した２点の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）を出力し、ステップＳ２２へ移行する。

ステップＳ２２では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｙｐ２が電圧Ｙｐ１より大きいか否かを判定する。そして、Ｙｐ２＞Ｙｐ１である場合にはステップＳ２３に移行し、２点の方向を示す情報ｄＹを“＋１”に設定して後述するステップＳ２５に移行する。一方、Ｙｐ２≦Ｙｐ１である場合にはステップＳ２４に移行し、上記ｄＹを“−１”に設定して後述するステップＳ２５に移行する。

２点の座標を（ｘａ，ｙａ）、（ｘｂ，ｙｂ）（但し、ｘａ＜ｘｂ）としたとき、２点の中心座標と２点間距離の情報では、ｙ座標値が入れ替わった（ｘａ，ｙｂ）、（ｘｂ，ｙａ）との区別ができない。図７の回路では、ＸＮの電圧はｙａの影響、ＸＰの電圧はｙｂの影響を受けやすいため、Ｙｐ２＞Ｙｐ１のときはｙａ＞ｙｂ、Ｙｐ２＜Ｙｐ１のときはｙａ＜ｙｂであると判断する。
すなわち、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂのときはｄＹ＝＋１、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときはｄＹ＝−１となる。
そして、ステップＳ２５では２点の方向を示す情報ｄＹを出力し、タッチ処理を終了する。
なお、図５のステップＳ１１が端子間抵抗測定手段に対応し、ステップＳ１３及びＳ１４が２点タッチ判定手段に対応し、ステップＳ１６が押圧力検出手段に対応し、ステップＳ１８及びＳ１９が２点間距離検出手段に対応している。

（動作）
次に、本実施形態の動作について説明する。
今、操作者がタッチパネルＴＰをタッチしていない状態であるとすると、制御部１０は、図２の初期化処理を実行開始し、図３に示す接続状態となるようにスイッチＳＷ１〜ＳＷ６を制御して電圧Ｒ＿ＸＰを測定する（ステップＳ１）。次に、図４に示す接続状態となるようにスイッチＳＷ１〜ＳＷ６を制御して電圧Ｒ＿ＹＰを測定する（ステップＳ２）。そして、測定した電圧を、それぞれ電圧Ｒ＿ＸＰ０及び電圧Ｒ＿ＹＰ０として設定し（ステップＳ３）、これらをメモリに格納する（ステップＳ４）。

その後、タッチパネルＴＰがタッチされると、制御部１０は図５のタッチ処理を実行開始する。そして、タッチ位置の座標検出、２点タッチ判定及び２点間距離の検出に用いる各種データ（電圧Ｒ＿ＸＰ，Ｒ＿ＹＰ，Ｘｐ１，Ｘｐ２，Ｙｐ１，Ｙｐ２，Ｚ１，Ｚ２）を取得する（ステップＳ１１）。
図１０は、１点タッチの場合の端子間抵抗の状態を示す図である。ここでは、Ａ点をタッチした場合を示している。

このように、１点タッチの場合、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値は、点Ａの位置にかかわらずＲ３＋Ｒ４＝Ｒ０（一定）であるため、電圧Ｒ＿ＹＰも点Ａの位置にかかわらず一定値となる。また、１点タッチの場合の端子間抵抗値は、タッチされていない場合の端子間抵抗値と等しく、１点タッチ時の電圧Ｒ＿ＹＰは、タッチされていないときの電圧Ｒ＿ＹＰ０と同じ値となる。同様に、１点タッチ時の電圧Ｒ＿ＸＰは、タッチされていないときの電圧Ｒ＿ＸＰ０と同じ値となる。
したがって、この場合にはＲ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ＜Ｄ＿ＸＹ（ステップＳ１３でＮｏ）、Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ＜Ｄ＿ＸＹ（ステップＳ１４でＮｏ）となるため、制御部１０は１点タッチであると判断し、タッチ位置の座標Ｘｐ１，Ｙｐ１を出力して（ステップＳ１５）タッチ処理を終了する。

次に、２点タッチの場合について説明する。
図４に示すように、タッチパネルＴＰ上の点Ｂ１，Ｂ２をタッチした場合、端子Ｙ１，Ｙ２間には、Ｂ１，Ｂ２で上層パネル（タッチパネルＴＰ１）が下層パネル（タッチパネルＴＰ２）と接触することにより、抵抗Ｒ８〜Ｒ１０が発生する。ここで、抵抗Ｒ８は点Ｂ１での上下パネル間の抵抗値、抵抗Ｒ９は点Ｂ２での上下パネル間の抵抗値、Ｒ１０はタッチパネルＴＰ２上での点Ｂ１−Ｂ２間の抵抗値である。

すなわち、２点タッチの場合、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値は、Ｒ５＋（Ｒ７／／（Ｒ８＋Ｒ９＋Ｒ１０））＋Ｒ６となる。ここで、「／／」は、並列接続の合成抵抗値を示す記号である。
このように、Ｂ１，Ｂ２間の抵抗（Ｒ７／／（Ｒ８＋Ｒ９＋Ｒ１０））は、上層パネル（タッチパネルＴＰ１）上での点Ｂ１−Ｂ２間の抵抗Ｒ７より小さくなる。そのため、２点タッチ時の電圧Ｒ＿ＹＰは、タッチされていないときの電圧Ｒ＿ＹＰ０より小さくなる。

したがって、この場合にはＲ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ＞Ｄ＿ＸＹ（ステップＳ１４でＹｅｓ）となるため、制御部１０は２点タッチであると判断する。
このように、２点タッチのときは１点タッチのときと比較して各パネルの端子間抵抗値が小さくなることを利用して、２点タッチであるか否かを判定する。そして、２点タッチであると判定した場合には、その２点間の距離を算出する処理を行う。

ところで、（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ）や（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）は、上下パネルの接触点での接触抵抗値（タッチ入力点の押圧力）が一定である場合には２点間距離のみに相関のある値となる。しかしながら、２点間距離が一定であっても、接触抵抗値が変化すると、（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ）や（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）も変化する。
図１１は、２点間距離を一定としたときの接触抵抗値と（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）との関係を示す図であり、横軸にパネルのＸ方向の抵抗値で正規化した接触抵抗値、縦軸に（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）を取っている。この図１１に示すように、押圧力が大きいほど、即ち接触抵抗値が小さいほど（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）は大きくなる。したがって、２点間距離を正確に算出するには、この接触抵抗値（押圧力）を考慮する必要がある。

そこで本実施形態では、接触抵抗値（押圧力）と相関関係のある押圧パラメータＸＺ２１を用いて２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを補正する。
１点タッチの場合の接触抵抗値Ｒｔは、Ｘ方向のタッチパネルＴＰ２のシート抵抗Ｒｘｐｌａｔｅが既知の場合、次式で求められる。
Ｒｔ＝Ｒｘｐｌａｔｅ・Ｘｐ／４０９６（Ｚ２／Ｚ１−１） ………（６）
そこで、上記（６）式をもとに上記（３）式に示すパラメータを設定し、これを押圧パラメータＸＺ２１として算出する（ステップＳ１６）。

２点タッチの場合、上記（６）式をもとに算出した接触抵抗値Ｒｔは、電圧Ｚ１，Ｚ２の測定点に近い方に位置するタッチ入力点での接触抵抗値の影響を受け易くなるが、２点の接触抵抗値が同程度であれば、上記（３）式により接触抵抗にほぼ比例する値を得ることができる。そのため、本実施形態では、２点タッチの場合であっても、１点タッチの場合の接触抵抗算出式をもとに押圧パラメータＸＺ２１の算出式を設定する。このように、１点タッチ時の算出式で代用することで、押圧パラメータＸＺ２１の算出処理を簡潔にすることができる。

次に、算出した押圧パラメータＸＺ２１を用いて、上記（４）式及び（５）式をもとに２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを算出する（ステップＳ１８，Ｓ１９）。
このとき、タッチ入力点の押圧力が大きいほど接触抵抗値は小さくなるため、上記（３）式における電圧Ｚ１と電圧Ｚ２とが近い値となって、Ｚ２／Ｚ１が“１”に近づく。つまり、押圧パラメータＸＺ２１は“０”に近づく。

したがって、タッチ入力点の押圧力が大きいほど、２点間距離基準値Ａ（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）の補正量は小さくなる。換言すると、タッチ入力点の押圧力が小さいほど押圧パラメータＸＺ２１を大きな値に設定して、２点間距離基準値Ａ（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）を増加する補正を行う。
このように、押圧力に応じて補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）を決定し、２点間距離基準値Ａ（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）を補正するので、押圧力に応じた適正な２点間距離を求めることができる。

図１２は、本発明の第１の実施形態の効果を説明するための図であり、押圧力に応じた２点間距離の補正を施した場合のＹＤｕａｌを示している。
この図１２に示すように、２点間距離を一定とし、押圧力を変化させてＹＤｕａｌを算出した場合、押圧力（接触抵抗値）の影響を抑制したＹＤｕａｌを算出することができる。これは、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌについても同様である。

（効果）
このように、上記実施形態では、タッチパネル上の２点がタッチされているとき、タッチ入力点の押圧力を考慮して２点間の距離を算出する。そのため、例えば、操作者が２点間距離を一定として押圧力を変化させる操作を行った場合であっても、適正に一定の２点間距離を算出することができる。また、操作者が押圧力を変化させながら２点間距離を変化させる操作を行った場合に、２点間距離が一定であると誤判定してしまうのを防止することができる。このように、精度良く２点間距離を算出することができる。

また、２点間距離を算出する際には、タッチパネルがタッチされていないときの端子間抵抗値と、タッチパネルがタッチされたときの端子間抵抗値との差分に基づいて２点間距離の基準値を算出し、この基準値を押圧力に応じて補正する。これにより、押圧力（接触抵抗値）の変化に伴う端子間抵抗値の変化分を補正することができるので、適正な２点間距離を算出することができる。
さらに、電圧Ｚ１，Ｚ２を測定し、演算により押圧力と相関関係のある押圧パラメータを求めるので、タッチ入力点の押圧力を検出するためのセンサ等を別途設ける必要がなく、タッチパネル装置の小型化及びコストの削減を実現することができる。

（応用例）
なお、上記第１の実施形態においては、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを算出した後、これら２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを用いて、図１３に示す２点タッチのジェスチャ（拡大（２本の指を開く動作）、縮小（２本の指を閉じる動作）、回転（指を移動する動作））を判定するようにしてもよい。この場合、上述した図５のタッチ処理を実行した後、図１４に示すジェスチャ判断処理を実行する。
先ずステップＳ３１で、次式をもとに２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅを算出する。
ＤｕａｌＭｏｖｅ＝ＸＤｕａｌ−ＸＤｕａｌ０＋ＹＤｕａｌ−ＹＤｕａｌ０ ………（７）
ここで、ＸＤｕａｌ０，ＹＤｕａｌ０は前回のサンプリングで算出した２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌである。

次にステップＳ３２では、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌが前回値ＸＤｕａｌ０より大きいか否かを判定し、ＸＤｕａｌ＞ＸＤｕａｌ０である場合には、Ｘ方向の２点間距離が増加していると判断してステップＳ３３に移行し、ＸＤｕａｌ≦ＸＤｕａｌ０である場合には後述するステップＳ３６に移行する。
ステップＳ３３では、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌが前回値ＹＤｕａｌ０より大きいか否かを判定し、ＹＤｕａｌ＞ＹＤｕａｌ０である場合には、Ｙ方向の２点間距離が増加していると判断してステップＳ３４に移行し、ＹＤｕａｌ≦ＹＤｕａｌ０である場合には後述するステップＳ４０に移行する。

ステップＳ３４では、前記ステップＳ３１で算出した２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅが、予め設定した判定閾値ｎ１より大きいか否かを判定する。そして、ＤｕａｌＭｏｖｅ≦ｎ１である場合には後述するステップＳ４０に移行し、ＤｕａｌＭｏｖｅ＞ｎ１である場合には、ステップＳ３５に移行して２点タッチのジェスチャが拡大操作であると判断し、ジェスチャ判断処理を終了する。
ステップＳ３６では、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌが前回値ＹＤｕａｌ０より小さいか否かを判定し、ＹＤｕａｌ＜ＹＤｕａｌ０である場合には、Ｙ方向の２点間距離が減少していると判断してステップＳ３７に移行し、ＹＤｕａｌ≧ＹＤｕａｌ０である場合には後述するステップＳ４０に移行する。

ステップＳ３７では、前記ステップＳ３１で算出した２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅの符号を反転し、ステップＳ３８に移行する。そして、ステップＳ３８では、前記ステップＳ３７で設定した２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅが、予め設定した判定閾値ｎ２より大きいか否かを判定する。ＤｕａｌＭｏｖｅ≦ｎ２である場合には後述するステップＳ４０に移行し、ＤｕａｌＭｏｖｅ＞ｎ２である場合には、ステップＳ３９に移行して２点タッチのジェスチャが縮小操作であると判断し、ジェスチャ判断処理を終了する。

また、ステップＳ４０では、２点タッチのジェスチャが回転操作であると判断し、図１５に示す回転判断処理を実行してからジェスチャ判断処理を終了する。
図１５に示すように、回転判断処理では、先ずステップＳ４１でＸ方向変化量ｄＸｐ＝Ｘｐ−Ｘｐ０を算出する。ここで、Ｘｐ０は、前回のサンプリングで算出したＸ座標Ｘｐである。
次にステップＳ４２では、Ｙ方向変化量ｄＹｐ＝Ｙｐ−Ｙｐ０を算出する。ここで、Ｙｐ０は、前回のサンプリングで算出したＹ座標Ｙｐである。

次にステップＳ４３では、前記ステップＳ４１で算出したＸ方向変化量ｄＸｐが予め設定した回転判断閾値Ｄ＿Ｒｏｔ（＞０）より大きいか否かを判定する。そして、ｄＸｐ＞Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４４に移行して、２点タッチのジェスチャが右回転操作であると判断し、回転判断処理を終了する。一方、ｄＸｐ≦Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４５に移行し、前記ステップＳ４２で算出したＹ方向変化量ｄＹｐが回転判断閾値Ｄ＿Ｒｏｔより大きいか否かを判定する。そして、ｄＹｐ＞Ｄ＿Ｒｏｔである場合には前記ステップＳ４４に移行し、ｄＹｐ≦Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４６に移行する。

ステップＳ４６では、前記ステップＳ４１で算出したＸ方向変化量ｄＸｐが回転判断閾値−Ｄ＿Ｒｏｔより小さいか否かを判定する。そして、ｄＸｐ＜−Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４７に移行して、２点タッチのジェスチャが左回転操作であると判断し、回転判断処理を終了する。一方、ｄＸｐ≧−Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４８に移行し、前記ステップＳ４２で算出したＹ方向変化量ｄＹｐが回転判断閾値−Ｄ＿Ｒｏｔより小さいか否かを判定する。そして、ｄＹｐ＜−Ｄ＿Ｒｏｔである場合には前記ステップＳ４７に移行し、ｄＹｐ≧−Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはそのまま回転判断処理を終了する。

上述したように、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを算出する際に、押圧力に応じた補正を施し接触抵抗値の影響を抑制しているため、このようにして算出した２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを用いることで、精度の良いジェスチャ判定を行うことができる。
例えば、縮小の動作においては、２点が押され始めてから、２本指を閉じるにしたがって押圧力が徐々に大きくなる場合がある。このような場合、押圧力を考慮した補正を行わないと、時間経過に伴って（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）は図１６に示すように変化する。このように、実際の２点間距離は徐々に小さくなっているにもかかわらず、図中αで示す期間では（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）が増加傾向にあり、２点間距離が増加している（拡大操作をしている）と誤判断してしまう。

これに対して、本実施形態のように押圧力を考慮した補正を施すと、縮小操作時に押圧力が徐々に大きくなったとしても、図１７に示すように２点間距離（ここではＹＤｕａｌを示す）が徐々に減少しているのを確実に認識することができる。そのため、この場合には、２点が押されてから短時間で適正に縮小との判断を行うことができる。
このように、押圧力を考慮した補正を行うことでジェスチャの判断の確度を向上させることができ、操作者の意図に合致した操作を認識することができるタッチパネル装置とすることができる。
なお、ジェスチャ判断のみを行うタッチパネル装置とする場合には、上記（４）及び（５）式において、Ａ＝１，Ｄ＝０とすることもできる。これにより２点間距離の算出処理を簡潔にすることができる。

（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
この第２の実施形態は、前述した第１の実施形態において、２点間距離の算出に際し、上記（３）式をもとに算出した押圧パラメータＸＺ２１を用いているのに対し、２点タッチ時の各点の接触抵抗の影響を考慮した押圧パラメータＸＺ２１を用いるようにしたものである。

（構成）
２点タッチの場合、電圧Ｚ１，Ｚ２測定時は図１８に示す回路構成となる。すなわち、このときの抵抗モデルは図１９に示すようになる。
なお、ここでは、タッチされている２点をＡ，Ｂとし、タッチパネルＴＰ１側のタッチ入力点をＡ１，Ｂ１、タッチパネルＴＰ２側のタッチ入力点をＡ２，Ｂ２としている。また、タッチ入力点Ａの座標を（ｘａ，ｙａ）、タッチ入力点Ｂの座標を（ｘｂ，ｙｂ）とする。なお、ｘａ＜ｘｂである。
この第２の実施形態では、タッチパネルＴＰがタッチされているとき、前述した第１の実施形態と同様に、制御部１０で図５に示すタッチ処理を実行する。但し、この図５において、ステップＳ１６の処理が異なる。

本実施形態では、ステップＳ１６で図２０に示す押圧パラメータ算出処理を実行する。
先ずステップＳ５１で、タッチされた２点の位置関係を判定する。ここでは、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂであるか否かを判定し、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂである場合には、点Ａ，Ｂが図２１に示す位置関係にあると判断してステップＳ５２に移行する。具体的には、ステップＳ１１で測定したＹｐ１、Ｙｐ２に基づいて、Ｙｐ１＜Ｙｐ２のとき、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂと判断する。

ステップＳ５２では、図２２（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＮＰ）と、図２２（ｂ）に示す状態での電圧ＹＰ（電圧Ｚ２ＮＰ）を取得する。すなわち、端子Ｙ２に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ１を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｘ２及びＹ１の電圧レベルを測定する。
すなわち、この第２の実施形態では、端子Ｙ２に電源ＶＤＤ、端子Ｘ１にＧＮＤを接続可能な構成とする。
次にステップＳ５３では、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１ＮＰを算出する。
ＸＺ２１ＮＰ＝（４０９６−Ｘｐ）／４０９６（Ｚ２ＮＰ／Ｚ１ＮＰ−１） ………（８）

また、前記（３）式をもとに、押圧パラメータＸＺ２１（以下、ＸＺ２１ＰＮと称す）を算出する。
そして、前記ＸＺ２１ＰＮと前記ＸＺ２１ＮＰとの平均を求め、それを最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてから押圧パラメータ算出処理を終了する。
一方、前記ステップＳ５１で、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂであると判定した場合（ステップＳ１１で測定したＹｐ１、Ｙｐ２に基づいて、Ｙｐ１＞Ｙｐ２であると判定した場合）には、点Ａ，Ｂが図２３に示す位置関係にあると判断してステップＳ５４に移行する。

ステップＳ５４では、図２４（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＰＰ）と、図２４（ｂ）に示す状態での電圧ＹＮ（電圧Ｚ２ＰＰ）を取得する。すなわち、端子Ｙ１に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ１を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｘ２及びＹ２の電圧レベルを測定する。
次にステップＳ５５では、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１ＰＰを算出する。
ＸＺ２１ＰＰ＝（４０９６−Ｘｐ）／４０９６（Ｚ２ＰＰ／Ｚ１ＰＰ−１） ………（９）
そして、前記（９）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＰを最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてから、押圧パラメータ算出処理を終了する。

（動作）
次に、本発明の第２の実施形態の動作について説明する。
今、図２１に示す２点Ａ，Ｂをタッチしているものとする。この場合、Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ＞Ｄ＿ＸＹ（図５のステップＳ１３でＹｅｓ）となるため、制御部１０は２点タッチであると判断する。すると、制御部１０は、図２０の押圧パラメータ算出処理を実行する。
このとき、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂ（ステップＳ５１でＹｅｓ）であるため、前記（３）式をもとに算出したＸＺ２１（ＸＺ２１ＰＮ）と前記（８）式をもとに算出したＸＺ２１ＮＰとの平均を、最終的な押圧パラメータＸＺ２１として算出する。

図２１に示す２点Ａ，Ｂをタッチしている場合、タッチパネルＴＰ１上の抵抗Ｒｙ４と抵抗Ｒｙ５との関係は、Ｒｙ４＞Ｒｙ５となる。また、タッチパネルＴＰ２上の抵抗Ｒｘ４と抵抗Ｒｘ５との関係は、Ｒｘ４＞Ｒｘ５となる。そのため、前記（３）式のＸＺ２１ＰＮの算出に用いる電圧Ｚ１及びＺ２は、点Ａよりも点Ｂ側の接触抵抗値の影響を受け易くなる。

したがって、ＸＺ２１ＰＮは、点Ｂの接触抵抗値の影響を大きく受けた値となる。換言すると、ＸＺ２１ＰＮは、点Ｂの接触抵抗値（押圧力）との相関度合いが、点Ａの接触抵抗値（押圧力）との相関度合いより高い押圧パラメータであると言える。
点Ａと点Ｂとで接触抵抗値が同程度の場合には、前述した第１の実施形態のように、前記（３）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＮが実際の接触抵抗値Ｒｔにほぼ比例する。そのため、この場合には、このＸＺ２１ＰＮを押圧パラメータＸＺ２１として用いることで、２点間距離を正確に求めることができる。
ところが、点Ａと点Ｂとで接触抵抗値が異なる場合には、ＸＺ２１ＰＮをそのまま用いるより、ＸＺ２１ＰＮとＸＺ２１ＮＰとの平均を用いた方が、精度が良い。

ＸＺ２１ＮＰは、図２２（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＮＰ）と、図２２（ｂ）に示す状態での電圧ＹＰ（電圧Ｚ２ＮＰ）に基づいて算出される値であり、この値は点Ａの接触抵抗値の影響を大きく受けた値となる。したがって、点Ｂの接触抵抗値の影響が大きいＸＺ２１ＰＮと点Ａの接触抵抗値の影響が大きいＸＺ２１ＮＰとの平均を取ることで、点Ａと点Ｂとの平均的な値を得ることができる。すなわち、点Ａでの接触抵抗値と点Ｂでの接触抵抗値との影響を同程度とした押圧パラメータＸＺ２１を得ることができる。その結果、２点間距離をより正確に求めることができる。

一方、図２３に示す２点Ａ，Ｂをタッチしている場合には、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂ（ステップＳ５１でＮｏ）であるため、前記（９）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＰを、最終的な押圧パラメータＸＺ２１として算出する。
図２３に示す２点Ａ，Ｂをタッチしている場合、タッチパネルＴＰ１上の抵抗Ｒｙ４と抵抗Ｒｙ５との関係は、Ｒｙ４＞Ｒｙ５となる。また、タッチパネルＴＰ２上の抵抗Ｒｘ４と抵抗Ｒｘ５との関係は、Ｒｘ４＜Ｒｘ５となる。そのため、前記（３）式のＸＺ２１ＰＮの算出に用いる電圧Ｚ１は点Ｂ、電圧Ｚ２は点Ａの接触抵抗値の影響を受け易くなる。

このとき、タッチ入力点の移動方向が変わらない場合には、前述した第１の実施形態のように、前記（３）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＮが実際の接触抵抗値Ｒｔと相関のある値となる。そのため、この場合には、このＸＺ２１ＰＮを押圧パラメータＸＺ２１として、ジェスチャ判断に用いることができる。
ところが、ＸＺ２１ＰＮでは、電圧Ｚ１と電圧Ｚ２とで影響を受け易い点が異なるため、ジェスチャ判断や２点間距離の算出精度を向上させるためには、ＸＺ２１ＰＮの代わりにＸＺ２１ＰＰを使用することが望ましい。

ＸＺ２１ＰＰは、図２４（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＰＰ）と、図２４（ｂ）に示す状態での電圧ＹＮ（電圧Ｚ２ＰＰ）に基づいて算出される値であり、この値は点Ａの影響を受け易くなるが、電圧Ｚ１ＰＰと電圧Ｚ２ＰＰとで影響を受け易い点が等しい。そのため、ＸＺ２１ＰＮをそのまま用いる場合と比較して、ＸＺ２１ＰＰを押圧パラメータＸＺ２１として用いた方が２点間距離の算出精度を上げることができる。

（効果）
このように、上記第２の実施形態では、２点タッチ時における各点の接触抵抗の影響を考慮し、各点の押圧力との相関度合いが同等程度となる押圧パラメータを用いて２点間距離の補正を行うので、より精度良く２点間距離を算出することができる。
（応用例）
なお、上記第２の実施形態においては、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂであるとき、ＸＺ２１ＰＰを押圧パラメータＸＺ２１として用いる場合について説明したが、電極を入れ換えたＸＺ２１ＮＮを算出し、ＸＺ２１ＮＮとＸＺ２１ＰＰとの平均を最終的な押圧パラメータＸＺ２１とすることもできる。このように、点Ｂの影響を受け易いＸＺ２１ＮＮと点Ａの影響を受け易いＸＺ２１ＰＰの平均を取ることで、より２点間距離の算出精度を向上させることができる。

（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。
この第３の実施形態は、前述した第１及び第２の実施形態において、電圧Ｒ＿ＸＰ０，Ｒ＿ＹＰ０，Ｒ＿ＸＰ，Ｒ＿ＹＰを用いて２点間距離を算出しているのに対し、電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１，ＲＸｐ２１，ＲＹｐ２１を用いて２点間距離を算出するようにしたものである。

（構成）
図２５は、本発明の第３の実施形態におけるタッチパネル装置の構成を示す回路図である。
このタッチパネル装置は、スイッチＳＷ７及びＳＷ８を備えることを除いては、図１に示すタッチパネル装置と同様の構成を有する。そのため、ここでは構成の異なる部分を中心に説明する。
スイッチＳＷ７の一端はタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ１に接続され、その他端はタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ２に接続されている。また、スイッチＳＷ８の一端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ１に接続され、その他端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ２に接続されている。

これらスイッチＳＷ７及びＳＷ８は、制御部１０によってそれぞれ開閉状態が制御されるようになっている。
制御部１０は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ８を開閉制御し、所定の接続状態で各端子Ｘ１，Ｘ２，Ｙ１，Ｙ２に発生した電圧ＸＰ，ＸＮ，ＹＰ，ＹＮを取得する。ここで、制御部１０は、図示しないＡＤコンバータを備え、測定電圧をデジタルデータに変換する。

そして、制御部１０は、これらの取得した電圧値をもとに、タッチパネルＴＰ上で２点がタッチされたか否かを判定すると共に、１点がタッチされた場合にはそのタッチ位置（Ｘ座標，Ｙ座標）、２点がタッチされた場合には２点の中心座標（Ｘ座標，Ｙ座標）、２点間の距離（Ｘ方向距離，Ｙ方向距離）及び２点の方向を検出し、出力する。
この第３の実施形態では、制御部１０で図２に示す初期化処理は行わず、タッチパネルＴＰが１点タッチされている状態で、図２６に示す初期化処理を行う。

先ずステップＳ６１で、図２７に示す状態での端子Ｙ１の電圧ＹＰ（電圧Ｘｐ２１）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ４，ＳＷ６及びＳＷ７を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｙ１，Ｙ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。なお、図２７は、２点タッチした際の端子Ｘ１，Ｘ２間の回路構成を示している。

次に、ステップＳ６２で、図２８に示す状態での端子Ｘ１の電圧ＸＰ（電圧Ｙｐ２１）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ１，ＳＷ３及びＳＷ８を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｘ１，Ｘ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。なお、図２８は、１点タッチした際の端子Ｙ１，Ｙ２間の回路構成を示している。

ステップＳ６３では、図２９に示す状態での端子Ｙ１の電圧ＹＰ（電圧ＲＸｐ２１）を取得する。すなわち、図２７の状態に対し、スイッチＳＷ４を開状態、スイッチＳＷ５を閉状態として、抵抗Ｒ２を介して端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｙ１，Ｙ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。なお、図２９は、２点タッチした際の端子Ｘ１，Ｘ２間の回路構成を示している。

次に、ステップＳ６４で、図３０に示す状態での端子Ｘ１の電圧ＸＰ（電圧ＲＹｐ２１）を取得する。すなわち、図２８の状態に対し、スイッチＳＷ１を開状態、スイッチＳＷ２を閉状態として、抵抗Ｒ１を介して端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｘ１，Ｘ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。なお、図３０は、１点タッチした際の端子Ｙ１，Ｙ２間の回路構成を示している。

ステップＳ６５では、前記ステップＳ６１〜Ｓ６４でそれぞれ取得した電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１，ＲＸｐ２１，ＲＹｐ２１に基づいて、次式をもとにＳＲＸＹを算出する。
ＳＲＸＹ＝４０９６・（ＲＸｐ２１＋ＲＹｐ２１）／（Ｘｐ２１＋Ｙｐ２１） ………（１０）
なお、上記（１０）式は、１２ｂｉｔ（２¹²＝４０９６）の場合の算出式である。

ステップＳ６６では、前記ステップＳ６１で取得した電圧Ｘｐ２１と、前記ステップＳ６３で取得した電圧ＲＸｐ２１とに基づいて、次式をもとにＳＲＸ０を算出する。
ＳＲＸ０＝４０９６・ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１ ………（１１）
次に、前記ステップＳ６２で取得した電圧Ｙｐ２１と、前記ステップＳ６４で取得した電圧ＲＹｐ２１とに基づいて、次式をもとにＳＲＹ０を算出する。
ＳＲＹ０＝４０９６・ＲＹｐ２１／Ｙｐ２１ ………（１２）

そして、ステップＳ６７では、前記ステップＳ６６で算出した値ＳＲＸ０及びＳＲＹ０をメモリ（不図示）に記憶して、初期化処理を終了する。
また、制御部１０は、タッチパネルＴＰがタッチされているとき、図５に示すタッチ処理の代わりに図３１に示すタッチ処理を行う。
先ずステップＳ７１で、各種データを取得する。具体的には、電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１，ＲＸｐ２１，ＲＹｐ２１を取得する。

電圧Ｘｐ２１は、図２７に示す状態で測定した電圧ＹＰであり、電圧Ｙｐ２１は、図２８に示す状態で測定した電圧ＸＰである。また、電圧ＲＸｐ２１は、図２９に示す状態で測定した電圧ＹＰであり、電圧ＲＹｐ２１は、図３０に示す状態で測定した電圧ＸＰである。
次にステップＳ７２に移行して、前記ステップＳ７１で取得した各電圧と、メモリに記憶したＳＲＸＹとに基づいて、次式をもとにＤＸＹを算出する。
ＤＸＹ＝ＳＲＸＹ・（Ｘｐ２１＋Ｙｐ２１）／４０９６−（ＲＸｐ２１＋ＲＹｐ２１） ………（１３）

ステップＳ７３では、前記ステップＳ７２で算出したＤＸＹが、予め設定した判定閾値Ｄｕａｌ＿ＤＸＹより大きいか否かを判定する。ＳＲＸＹは、１点タッチ時には一定値となり、２点タッチ時には１点タッチ時より小さくなることから、上記ＤＸＹは、１点タッチ時に０、２点タッチ時に０より大きい値となる。そこで、判定閾値Ｄｕａｌ＿ＤＸＹは、０又は所定のマージンを設けた０より大きい値に設定する。
そして、ＤＸＹ≦Ｄｕａｌ＿ＤＸＹであるときには１点タッチであると判定し、ステップＳ７４に移行して、前記ステップＳ７１で取得した電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１をタッチ位置のＸＹ座標として出力してからタッチ処理を終了する。

一方、ＤＸＹ＞Ｄｕａｌ＿ＤＸＹであるときには２点タッチであると判定し、ステップＳ７５に移行する。このステップＳ７５では、電圧Ｙｐ１を取得する。電圧Ｙｐ１は、図３２に示す状態で測定した電圧ＸＰである。すなわち、図４の状態に対し、スイッチＳＷ２を開状態、スイッチＳＷ１及びＳＷ３を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加した状態で、他方のパネルの端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。
次にステップＳ７６に移行して、前記ステップＳ７１で取得した電圧Ｙｐ２１が前記ステップＳ７５で取得した電圧Ｙｐ１より大きいか否かを判定する。そして、Ｙｐ２１＞Ｙｐ１であるときにはステップＳ７７に移行し、Ｙｐ２１≦Ｙｐ１であるときには後述するステップＳ７９に移行する。
ステップＳ７７では、２点の方向を示す情報ｄＹを“＋１”に設定し、ステップＳ７８に移行する。

ステップＳ７８では電圧Ｚ１，Ｚ２を取得し、後述するステップＳ８１に移行する。電圧Ｚ１，Ｚ２は、図３３（ａ）に示す状態で測定した電圧ＸＰと、図３３（ｂ）に示す状態で測定した電圧ＹＮである。すなわち、スイッチＳＷ１及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｘ１及びＹ２の電圧レベルを測定する。ここで、図３３は、点Ａ及び点Ｂを２点タッチした際の各端子間の回路構成を示しており、タッチパネルＴＰ１側のタッチ入力点をＡ１，Ｂ１、タッチパネルＴＰ２側のタッチ入力点をＡ２，Ｂ２としている。

また、ステップＳ７９では、２点の方向を示す情報ｄＹを“−１”に設定し、ステップＳ８０に移行する。
ステップＳ８０では電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰを取得し、ステップＳ８１に移行する。電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰは、図３４（ａ）に示す状態での電圧ＸＮと、図３４（ｂ）に示す状態での電圧ＹＮである。すなわち、端子Ｙ１に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ１を接地接続した状態で、端子Ｘ２及びＹ２の電圧レベルを測定する。そして、このようにして測定した電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰを、電圧Ｚ１，Ｚ２として設定する。ここで、図３４は、点Ａ及び点Ｂを２点タッチした際の各端子間の回路構成を示しており、タッチパネルＴＰ１側のタッチ入力点をＡ１，Ｂ１、タッチパネルＴＰ２側のタッチ入力点をＡ２，Ｂ２としている。

２点の座標を（ｘａ，ｙａ）、（ｘｂ，ｙｂ）（但し、ｘａ＜ｘｂ）としたとき、２点の中心座標と２点間距離の情報では、ｙ座標値が入れ替わった（ｘａ，ｙｂ）、（ｘｂ，ｙａ）との区別ができない。図３２の回路では、ＸＰの電圧（電圧Ｙｐ１）はｙｂの影響を受けやすいため、Ｙｐ２１＞Ｙｐ１のときはｙａ＞ｙｂ、Ｙｐ２１＜Ｙｐ１のときはｙａ＜ｙｂであると判断する。
すなわち、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂのときはｄＹ＝＋１、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときはｄＹ＝−１となる。
ステップＳ８１では、押圧パラメータＸＺ２１を算出する。この押圧パラメータＸＺ２１は、タッチ入力点の押圧力と相関関係のあるパラメータであり、当該押圧力が大きいほど小さくなる値である。ここでは、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１を算出する。
ＸＺ２１＝Ｘｐ２１／４０９６（Ｚ２／Ｚ１−１） ………（１４）

次に、ステップＳ８２に移行して、前記ステップＳ８１で算出した押圧パラメータＸＺ２１が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＺ２１より小さいか否かを判定する。そして、ＸＺ２１≧Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっていないものと判断して、そのままタッチ処理を終了する。一方、ＸＺ２１＜Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっているものと判断してステップＳ８３に移行する。
ステップＳ８３では、次式をもとにＸ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
ＸＤｕａｌ＝Ａ・（ＳＲＸ０−４０９６・ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（１５）
ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはそれぞれ予め設定した定数である。

このように、１点タッチ時の電圧Ｘｐ２１と電圧ＲＸｐ２１との比であるＳＲＸ０と、２点タッチ時の電圧Ｘｐ２１と電圧ＲＸｐ２１との比との差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（ＳＲＸ０−４０９６・ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
次に、ステップＳ８４では、次式をもとにＹ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
ＹＤｕａｌ＝Ａ・（ＳＲＹ０−４０９６・ＲＹｐ２１／Ｙｐ２１−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（１６）

このように、１点タッチ時の電圧Ｙｐ２１と電圧ＲＹｐ２１との比であるＳＲＹ０と、２点タッチ時の電圧Ｙｐ２１と電圧ＲＹｐ２１との比との差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（ＳＲＹ０−４０９６・ＲＹｐ２１／Ｙｐ２１−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
そして、ステップＳ８５では、２点の中心座標（Ｘｐ２１，Ｙｐ２１）と、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌと、２点の方向を示す情報ｄＹとを出力し、タッチ処理を終了する。
以上のように、２点間の距離に応じてＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１が変化することを利用して、２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを算出する。

なお、上述した処理においては、各種データを取得する際に、平均化処理等を実施するようにしてもよい。平均化処理としては、例えば、６データを取得し、その６データのうち最大値及び最小値を削除した後、残りの４データの平均を取る処理を行う。これにより、測定データの信頼性を向上させることができる。
また、図３１において、ステップＳ７１（特に図２７及び図２８）が第１の電圧検出手段に対応し、ステップＳ７１（特に図２９及び図３０）が第２の電圧検出手段に対応している。さらに、ステップＳ７２及びＳ７３が２点タッチ判定手段に対応し、ステップＳ８３及びＳ８４が２点間距離検出手段に対応している。また、ステップＳ７６〜８１が押圧力検出手段に対応している。

（動作）
次に、本発明の第３の実施形態の動作について説明する。
今、操作者がタッチパネルＴＰ上の２点をタッチしているものとする。このとき、２点間距離が比較的短いものとすると、２点タッチ時のＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１は、１点タッチ時のＲＸｐ２１／Ｘｐ２１（＝ＳＲＸ０）やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１（＝ＳＲＹ０）に比較的近い値となる。
そのため、制御部１０は、上記（１５）及び（１６）式をもとに、２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを比較的小さい値に算出する（ステップＳ８３，Ｓ８４）。

２点タッチ時のＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１は、２点間距離が長いほど、ＳＲＸ０やＳＲＹ０と比較して小さい値となる。そのため、２点間距離が比較的長い場合には、制御部１０は、上記（１５）及び（１６）式をもとに、２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを比較的大きい値に算出する（ステップＳ８３，Ｓ８４）。
以上のように、２点間の距離に応じて電圧比ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１が変化することを利用するので、適正に２点間距離を算出することができる。

また、押圧パラメータＸＺ２１を用い、タッチ入力の押圧力に応じて２点間距離を補正する。このとき、押圧パラメータＸＺ２１の算出に際し、２点の方向に応じて電圧Ｚ１，Ｚ２の測定方法を変更する。
２点の方向ｄＹ＝＋１のとき、すなわちｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂのときに図３３の接続状態で測定した電圧ＸＰ，ＹＮは、共に点Ａよりも点Ｂ側の接触抵抗値の影響を受け易い。一方、２点の方向ｄＹ＝−１のとき、すなわちｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときは、図３３（ａ）の接続状態で測定した電圧ＸＰは点Ｂ、図３３（ｂ）の接続状態で測定した電圧ＹＮは点Ａの接触抵抗値の影響を受け易い。このように、影響を受け易い点が異なると２点間距離の算出精度を向上させることができない。

そこで、ｄＹ＝−１のときは、図３４の接続状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＮを電圧Ｚ１，Ｚ２として用いる。２点の方向ｄＹ＝−１のとき、すなわちｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときに図３４の接続状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＮは、共に点Ａの接触抵抗値の影響を受け易い値である。
このように、２点の方向に応じて電圧Ｚ１，Ｚ２の測定方法を変更することで、２点タッチ時の各点の接触抵抗の影響を考慮した押圧パラメータを算出することができる。その結果、２点間距離の算出精度を向上させることができる。

なお、ここでは、ｄＹ＝＋１のとき、図３３の接続状態で測定した電圧ＸＰ，ＹＮ（電圧Ｚ１，Ｚ２）に基づいて押圧パラメータＸＺ２１を算出する場合について説明したが、当該押圧パラメータＸＺ２１と、図３３の状態に対し、端子Ｙ２に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に端子Ｘ１を接地接続した状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＰ（電圧Ｚ１ＮＰ，Ｚ２ＮＰ）に基づいて算出した押圧パラメータＸＺ２１ＮＰとの平均を、最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてもよい。

また、同様に、ｄＹ＝−１のときは、図３４の接続状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＮ（電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰ）に基づいて算出した押圧パラメータＸＺ２１と、図３４の状態に対し、端子Ｙ２に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に端子Ｘ２を接地接続した状態で測定した電圧ＸＰ，ＹＰ（電圧Ｚ１ＮＮ，Ｚ２ＮＮ）に基づいて算出した押圧パラメータＸＺ２１ＮＮとの平均を、最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてもよい。
このように、点Ａの影響を受け易い押圧パラメータと点Ｂの影響を受け易い押圧パラメータの平均を取ることで、より２点間距離の算出精度を向上させることができる。

（効果）
このように、上記第３の実施形態では、２点間の距離に応じて電圧比ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１が変化することを利用して、２点間距離を検出するので、適正に２点間距離を検出することができる。また、座標検出や２点タッチ判定に用いる測定電圧を用いて２点間距離を検出するので、新たに２点間距離検出用の電圧測定を行う必要がない。したがって、その分電圧測定の回数を削減することができる。
（応用例）
なお、上記第３の実施形態においては、上述した第１の実施形態と同様に、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを用いて、図１３に示す２点タッチのジェスチャ（拡大、縮小、回転）を判定することもできる。

（変形例）
なお、上記第１及び第２の実施形態においては、２点タッチ判定部として、電圧Ｒ＿ＸＰと基準電圧Ｒ＿ＸＰ０との差分が判定閾値Ｄ＿ＸＹより大きいか否かに応じて２点タッチであるか否かを判定する方法を採用する場合について説明したが、２点タッチにより電極端子間の抵抗値が小さくなることを利用した別の方法を採用することもできる。
また、上記各実施形態においては、電圧Ｚ１，Ｚ２を測定し演算により押圧力と相関関係のある押圧パラメータＸＺ２１を求める場合について説明したが、圧電素子等により構成されるセンサを設け、そのセンサでタッチ入力の押圧力を検出するようにしてもよい。

１０…制御部、１１…ＬＣＤモジュール、ＴＰ１，ＴＰ２…タッチパネル、Ｘ１，Ｘ２…端子（Ｘ方向）、Ｙ１，Ｙ２…端子（Ｙ方向）、ＳＷ１〜ＳＷ８…スイッチ

Claims (7)

1. 一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルを備えるタッチパネル装置であって、
   前記一対の電極端子間の抵抗値を測定する端子間抵抗測定手段と、
   前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定手段と、
   前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出手段と、
   前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出手段と、を備えることを特徴とするタッチパネル装置。
2. 前記２点間距離検出手段は、
   前記タッチパネルがタッチされていないときに前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値と、前記タッチパネルがタッチされたときに前記端子間抵抗測定手段で測定した前記抵抗値との差分に基づいて、前記２点間の距離の基準値を算出する基準値算出手段と、
   前記押圧力検出手段で検出した押圧力が小さいほど、前記基準値算出手段で算出した前記２点間の距離の基準値を増加補正する補正手段と、を備えることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル装置。
3. 一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルを備えるタッチパネル装置であって、
   一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出手段と、
   前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出手段と、
   前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定手段と、
   前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出手段と、
   前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出手段と、を備えることを特徴とするタッチパネル装置。
4. 前記２点間距離検出手段は、
   前記タッチパネルが１点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記タッチパネルが２点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比との差分に基づいて、前記２点間の距離の基準値を算出する基準値算出手段と、
   前記押圧力検出手段で検出した押圧力が小さいほど、前記基準値算出手段で算出した前記２点間の距離の基準値を増加補正する補正手段と、を備えることを特徴とする請求項３に記載のタッチパネル装置。
5. 前記押圧力検出手段は、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力と相関関係にあり且つ各点の押圧力との相関度合いが同等又は略同等となる押圧パラメータを検出することを特徴とする請求項１〜４の何れか１項に記載のタッチパネル装置。
6. 一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法であって、
   前記一対の電極端子間の抵抗値を測定する端子間抵抗測定ステップと、
   前記端子間抵抗測定ステップにおいて測定された前記抵抗値に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定ステップと、
   前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出ステップと、
   前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記端子間抵抗測定ステップにおいて測定された前記抵抗値と、前記押圧力検出ステップにおいて検出された押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出ステップと、を備えることを特徴とするタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法。
7. 一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法であって、
   一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出ステップと、
   前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出ステップと、
   前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定ステップと、
   前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、タッチ入力の押圧力を検出する押圧力検出ステップと、
   前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比と、前記押圧力検出ステップにおいて検出された押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出ステップと、を備えることを特徴とするタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法。

Images