JP2011096730A - Thin-film solar cell and method of manufacturing the same - Google Patents

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弘也 山林
Hidetada Tokioka
秀忠 時岡
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a thin-film solar cell having high efficiency of photoelectric conversion and high reliability. <P>SOLUTION: In the thin-film solar cell 20, a plurality of thin-film solar cells including first electrode layers 3 consisting of transparent conductive films, photoelectric conversion layers 4 conducting a photoelectric conversion, and second electrode layers 5 consisting of conductive films reflecting light in this order are disposed on a translucent insulating substrate 2 while the adjacent thin-film solar cells are electrically connected in series mutually. In the thin-film solar cell, inside diameters on the photoelectric conversion layer 4 sides are 1 to 2 μm in the transparent conductive films, recesses B2 including side faces inclined so that opening diameters are reduced towards the translucent insulating substrate 2 sides from surfaces on the photoelectric conversion layer 4 sides are dispersed and formed, and the recesses B2 are filled by the photoelectric conversion layers 4. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、薄膜太陽電池およびその製造方法に関し、特にテクスチャー構造を採用した薄膜太陽電池およびその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a thin film solar cell and a manufacturing method thereof, and more particularly to a thin film solar cell employing a texture structure and a manufacturing method thereof.

現在、透明絶縁性基板側から光を入射する薄膜太陽電池における光閉じ込め技術としては、透明絶縁性基板上に形成した透明導電膜表面に凹凸構造を形成する方法が用いられている。この凹凸構造を形成する光閉じこめ技術は、光反射率の低減、光散乱効果により、薄膜太陽電池の光変換効率が向上することが一般的に知られている。詳細に述べると、透明絶縁性基板側から入射してきた光は、凹凸形状を有する透明導電膜と光電変換層との界面で散乱された後に光電変換層に入射するので、光電変換層に概ね斜めに入射する。そして、光電変換層に斜めに光が入射することにより、光電変換層に入射した光の実質的な光路が延びて光の吸収が増大するため、光起電力素子の光電変換特性が向上して出力電流が増加する。   Currently, as a light confinement technique in a thin film solar cell in which light is incident from the transparent insulating substrate side, a method of forming a concavo-convex structure on the surface of the transparent conductive film formed on the transparent insulating substrate is used. It is generally known that the light confinement technology for forming this concavo-convex structure improves the light conversion efficiency of the thin-film solar cell by reducing the light reflectance and the light scattering effect. More specifically, since light incident from the transparent insulating substrate side is scattered at the interface between the concavo-convex transparent conductive film and the photoelectric conversion layer and then enters the photoelectric conversion layer, the light is generally oblique to the photoelectric conversion layer. Is incident on. And, since light is incident on the photoelectric conversion layer obliquely, the substantial optical path of the light incident on the photoelectric conversion layer is extended and light absorption is increased, so that the photoelectric conversion characteristics of the photovoltaic element are improved. The output current increases.

従来、凹凸構造を形成する透明導電膜として、酸化スズ(SnO)からなる透明導電膜が広く知られている。一般的に、SnO透明導電膜に形成する凹凸構造は、熱CVD(Chemical Vapor Deposition)法により数10〜数100nm径の結晶粒を膜表面に成長させることにより形成される。しかし、このSnO膜表面に良好な凹凸構造を形成するためには、500〜600℃の高温プロセスが必要であり、また1μm程度の膜厚を要することから、製造コストが増大する要因の1つとなっている。 Conventionally, a transparent conductive film made of tin oxide (SnO 2 ) is widely known as a transparent conductive film that forms an uneven structure. Generally, the concavo-convex structure formed in the SnO 2 transparent conductive film is formed by growing crystal grains having a diameter of several tens to several hundreds of nanometers on the film surface by a thermal CVD (Chemical Vapor Deposition) method. However, in order to form a good concavo-convex structure on the surface of this SnO 2 film, a high-temperature process of 500 to 600 ° C. is necessary, and a film thickness of about 1 μm is required. It has become one.

このため近年は、プラズマ耐性に優れ資源の豊富さという観点から、SnOに変わる材料として酸化亜鉛(ZnO)が普及しつつある。しかし、透明導電膜としてZnOを用いる場合は、表面に良好な凹凸構造を形成するためには、2μm程度の膜厚を要するという問題があった。 For this reason, in recent years, zinc oxide (ZnO) is becoming widespread as a material replacing SnO 2 from the viewpoint of excellent plasma resistance and abundant resources. However, when ZnO is used as the transparent conductive film, there is a problem that a film thickness of about 2 μm is required in order to form a favorable uneven structure on the surface.

そこで、SnO膜のような高温プロセスを実施せずにZnO膜を低温形成で薄膜形成した場合であっても良好な光閉じこめ効果を有する凹凸構造の形成方法として、ガラス基板上にスパッタリング法により透明導電膜を形成し、酸によりエッチングすることで表面に凹凸構造を形成する技術が報告されている。この方法により、太陽電池装置のコスト低減が期待されている。 Therefore, as a method of forming a concavo-convex structure having a good light confinement effect even when a ZnO film is formed at a low temperature without performing a high temperature process such as a SnO 2 film, a sputtering method is used on a glass substrate. A technique for forming a concavo-convex structure on the surface by forming a transparent conductive film and etching with an acid has been reported. This method is expected to reduce the cost of the solar cell device.

また、薄膜太陽電池用の基板に凹凸をつけるために、透明電極層自体に凹凸を形成するのではなく、ガラス基体の表面に凹凸のある下地層を設け、その上に透明電極層を形成する手法が開示されている(例えば、特許文献1参照)。この技術によれば、ガラス基体の上に、平均粒径が0.1〜1.0μmの絶縁性微粒子とバインダーからなる凹凸を有する下地層を形成し、その上に透明電極層を堆積することで、微粒子により微細な凹凸がガラス基板上に形成されていることから、透明電極層自体には特に凹凸を形成する必要がない。   In addition, in order to make the substrate for a thin film solar cell uneven, an uneven layer is provided on the surface of the glass substrate, and a transparent electrode layer is formed thereon, instead of forming the unevenness on the transparent electrode layer itself. A technique is disclosed (for example, see Patent Document 1). According to this technique, an underlying layer having irregularities made of insulating fine particles having an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm and a binder is formed on a glass substrate, and a transparent electrode layer is deposited thereon. Thus, since the fine irregularities are formed on the glass substrate by the fine particles, it is not necessary to form irregularities on the transparent electrode layer itself.

特開2003−243676号公報JP 2003-243676 A

しかしながら、上述した技術には、いつかの問題が残されている。すなわち特許文献1の技術では、ガラス基体上への絶縁性微粒子の分散が不均一になり、例えばガラス基体上に絶縁性微粒子が付着していない領域が発生することで光の吸収量が減少し、出力電流が低下し、基板全体としての薄膜光電変換効率が低下する、という問題があった。   However, some problems remain in the above-described technique. That is, in the technique of Patent Document 1, the dispersion of the insulating fine particles on the glass substrate becomes non-uniform, and for example, a region where the insulating fine particles are not attached to the glass substrate is generated, thereby reducing the amount of light absorption. There is a problem that the output current is lowered and the thin film photoelectric conversion efficiency as the whole substrate is lowered.

また、このような方法でヘイズ率を高く、例えば20%以上にしようとすると、下地層の凹凸を大きくする必要があり、その結果、絶縁性微粒子の粒径を大きくする必要が生じる。しかし、大きな絶縁性微粒子を用いた場合には、ガラス基体上への絶縁性微粒子の分散が不均一になり、例えばガラス基体上に絶縁性微粒子が付いてない領域が発生し、面内でのヘイズ率分布により光の散乱性の不均一が生じ、基板全体としての平均の光電変換効率が低下する、という問題があった。   In addition, when the haze ratio is increased by such a method, for example, 20% or more, it is necessary to increase the unevenness of the underlayer, and as a result, it is necessary to increase the particle diameter of the insulating fine particles. However, when large insulating fine particles are used, the dispersion of the insulating fine particles on the glass substrate becomes non-uniform, for example, a region where no insulating fine particles are attached to the glass substrate is generated, and in-plane There is a problem that the light scattering property is non-uniform due to the haze ratio distribution, and the average photoelectric conversion efficiency of the entire substrate is lowered.

さらに、大きな絶縁性微粒子を用いて大きな凹凸を形成しようとすると、バインダーによる絶縁性微粒子のガラス基体への付着が不十分となり、薄膜太陽電池そのものの信頼性が低下する虞がある。   Furthermore, when trying to form large irregularities using large insulating fine particles, the adhesion of the insulating fine particles to the glass substrate by the binder becomes insufficient, and the reliability of the thin film solar cell itself may be reduced.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、光電変換効率および信頼性の高い薄膜太陽電池およびその製造方法を得ることを目的とする。   This invention is made | formed in view of the above, Comprising: It aims at obtaining the photoelectric conversion efficiency and highly reliable thin film solar cell, and its manufacturing method.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる薄膜太陽電池は、透光性絶縁基板上に、透明導電膜からなる第1電極層と、光電変換を行う光電変換層と、光を反射する導電膜からなる第2電極層と、をこの順で有する複数の薄膜太陽電池セルが配設されるとともに、隣接する前記薄膜太陽電池セル同士が電気的に直列接続された薄膜太陽電池であって、前記透明導電膜は、前記光電変換層側の内径が1μm〜2μmであり、前記光電変換層側の表面から前記透光性絶縁基板側に向かって開口径が小さくなるように傾斜した側面を有する凹部が分散して形成され、該凹部が前記光電変換層により充填されていること、を特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, a thin-film solar cell according to the present invention includes a first electrode layer made of a transparent conductive film, a photoelectric conversion layer that performs photoelectric conversion, and a translucent insulating substrate. A plurality of thin-film solar cells having a second electrode layer made of a conductive film that reflects light in this order, and the adjacent thin-film solar cells electrically connected in series In the solar cell, the transparent conductive film has an inner diameter of 1 μm to 2 μm on the photoelectric conversion layer side, and an opening diameter decreases from the surface on the photoelectric conversion layer side toward the translucent insulating substrate side. The concave portions having the inclined side surfaces are formed in a dispersed manner, and the concave portions are filled with the photoelectric conversion layer.

本発明によれば、透明導電層の面内において均一に凹凸形状を形成でき、広い範囲の波長の光に対する光閉込効果により光吸収量を増大させ、また凹凸の高低差に起因した局所的な電流ロスを減少することより、光電変換効率および信頼性に優れた薄膜太陽電池が実現できる、という効果を奏する。   According to the present invention, it is possible to form a concavo-convex shape uniformly in the plane of the transparent conductive layer, increase the amount of light absorption by the light confinement effect with respect to light of a wide range of wavelengths, and locally due to the difference in level of the concavo-convex. By reducing a large current loss, there is an effect that a thin film solar cell excellent in photoelectric conversion efficiency and reliability can be realized.

図1−1は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の概略構成を示す平面図である。FIG. 1-1 is a plan view illustrating a schematic configuration of the thin-film solar battery according to the first embodiment of the present invention. 図1−2は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の概略構成を示す断面図である。1-2 is sectional drawing which shows schematic structure of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. 図2−1は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-1 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図2−2は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-2 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図2−3は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-3 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図2−4は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-4 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図2−5は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-5 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図2−6は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-6 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図2−7は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。2-7 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. 図2−8は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-8 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 1 of this invention. FIGS. 図3は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池のパターン開口形成領域の概略構成を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a schematic configuration of a pattern opening formation region of the thin-film solar cell according to the first embodiment of the present invention. 図4は、実施例1、比較例の薄膜太陽電池における透明導電膜形成後のヘイズ率を示した特性図である。FIG. 4 is a characteristic diagram showing the haze ratio after formation of the transparent conductive film in the thin film solar cells of Example 1 and Comparative Example. 図5は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の概略構成を示す断面図である。FIG. 5: is sectional drawing which shows schematic structure of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図6−1は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 6-1 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. FIGS. 図6−2は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。6-2 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図6−3は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。6-3 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図6−4は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。6-4 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図6−5は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。6-5 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図6−6は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。6-6 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図6−7は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池の製造工程を説明するための断面図である。6-7 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the thin film solar cell concerning Embodiment 2 of this invention. 図7は、実施例2、比較例の薄膜太陽電池における透明導電膜形成後のヘイズ率を示した特性図である。FIG. 7 is a characteristic diagram showing the haze ratio after formation of the transparent conductive film in the thin film solar cells of Example 2 and Comparative Example.

以下に、本発明にかかる薄膜太陽電池およびその製造方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は以下の記述に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、以下に示す図面においては、理解の容易のため、各部材の縮尺が実際とは異なる場合がある。各図面間においても同様である。   Embodiments of a thin film solar cell and a method for manufacturing the same according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited to the following description, In the range which does not deviate from the summary of this invention, it can change suitably. In the drawings shown below, the scale of each member may be different from the actual scale for easy understanding. The same applies between the drawings.

実施の形態1.
図1−1は、本発明の実施の形態1にかかる薄膜太陽電池である薄膜太陽電池モジュール(以下、モジュールと呼ぶ)10の概略構成を示す平面図である。図1−2は、モジュール10を構成する薄膜太陽電池セル(以下、セルと呼ぶ場合がある)1の短手向における断面構造を説明するための図であり、図1−1の線分A−A’方向における要部断面図である。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1-1 is a plan view showing a schematic configuration of a thin film solar cell module (hereinafter referred to as a module) 10 which is a thin film solar cell according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1-2 is a diagram for explaining a cross-sectional structure in a short direction of a thin film photovoltaic cell (hereinafter sometimes referred to as a cell) 1 constituting the module 10, and is a line segment A in FIG. 1-1. It is principal part sectional drawing in -A 'direction.

図1−1および図1−2に示すように、実施の形態1にかかるモジュール10は、透光性絶縁基板2上に形成された短冊状(矩形状)のセル1を複数備え、これらのセル1が電気的に直列に接続された構造を有する。セル1は、図1−2に示すように透光性絶縁基板2、透光性絶縁基板2上に形成され第1電極層となる透明電極層(透明導電膜)3、透明電極層3上に形成される光電変換層4、光電変換層4上に形成され第2電極層となる裏面電極層5が順次積層された構造を有する。このように構成された本実施の形態にかかるモジュール10はスーパーストレート型の太陽電池である。   As illustrated in FIGS. 1-1 and 1-2, the module 10 according to the first embodiment includes a plurality of strip-shaped (rectangular) cells 1 formed on a light-transmitting insulating substrate 2, and these The cells 1 have a structure in which they are electrically connected in series. As shown in FIG. 1-2, the cell 1 includes a light-transmitting insulating substrate 2, a transparent electrode layer (transparent conductive film) 3 that is formed on the light-transmitting insulating substrate 2, and serves as a first electrode layer, and the transparent electrode layer 3 The back surface electrode layer 5 formed on the photoelectric conversion layer 4 and the photoelectric conversion layer 4 to be the second electrode layer is sequentially laminated. The module 10 according to the present embodiment configured as described above is a super straight type solar cell.

また、透明電極層3の表面には、テクスチャー構造として微小凹凸B1および該微小凹凸B1よりも径の大きく且つ深さが深い大きい凹部B2を含む凹凸形状が形成されている。すなわち、透明電極層3の表面には、部分的に高低差の異なる凹凸形状(テクスチャー構造)が形成されている。光電変換層4側の大きい凹部B2の直径は、1μm〜2μm程度、深さおよび凹凸の高低差は500nm以下程度である。   The surface of the transparent electrode layer 3 is formed with a concavo-convex shape including a fine concavo-convex B1 as a texture structure and a large concavo-convex B2 having a larger diameter and a deeper depth than the fine concavo-convex B1. That is, the surface of the transparent electrode layer 3 is partially formed with uneven shapes (texture structures) having different height differences. The diameter of the large recess B2 on the photoelectric conversion layer 4 side is about 1 μm to 2 μm, and the difference in depth and unevenness is about 500 nm or less.

つぎに、上記のように構成された実施の形態1にかかるモジュール10の製造方法について説明する。図2−1〜図2−8は、実施の形態1にかかるモジュール10の製造工程の一例を説明するための断面図である。   Next, a method for manufacturing the module 10 according to the first embodiment configured as described above will be described. FIGS. 2-1 to 2-8 are cross-sectional views for explaining an example of the manufacturing process of the module 10 according to the first embodiment.

まず、透光性絶縁基板2を用意する。ここでは、透光性絶縁基板2として無アルカリガラス基板を用いて以下説明する。また、透光性絶縁基板2として安価な青板ガラス基板を用いてもよいが、この場合は、透光性絶縁基板2からのアルカリ成分の拡散を防止するためにPCVD法やスパッタリング法などによりSiO膜(屈折率1.4〜1.5)を100nm以下程度形成するのがよい。 First, the translucent insulating substrate 2 is prepared. Here, a non-alkali glass substrate is used as the translucent insulating substrate 2 to be described below. In addition, an inexpensive soda lime glass substrate may be used as the light-transmitting insulating substrate 2, but in this case, in order to prevent the diffusion of alkali components from the light-transmitting insulating substrate 2, SiO2 is formed by PCVD or sputtering. Two films (refractive index of 1.4 to 1.5) are preferably formed to be about 100 nm or less.

つぎに、透光性絶縁基板2上に第1の電極層となる透明電極層3として、アルミニウム(Al)を数wt%ドーパントとして含む膜厚1μm程度の酸化亜鉛(ZnO)膜をDCスパッタリング法で形成する(図2−1)。本実施の形態では透明電極層3としてアルミニウム(Al)ドーパントしたZnO膜を形成するが、透明電極層3としてはこれに限定されることなく、ドーパントとしてアルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、ホウ素(B)、イットリウム(Y)、シリコン(Si)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)、マグネシウム(Mg)、スズ(Sn)から選択した少なくとも1種類以上の元素を用いたZnO膜またはこれらを積層して形成した透明導電膜であってもよく、光透過性と導電性を有している透明導電膜であればよい。また、ZnO膜以外に、酸化インジウム(In)、酸化スズ(SnO)の何れかを主成分とする材料からなる膜を使用してもよい。また、上述した例では、スパッタリング法により透明電極層3を形成しているが、真空蒸着法,イオンプレーティング法などの物理的方法や、スプレー法,ディップ法,CVD法などの化学的方法を用いてもよい。 Next, a zinc oxide (ZnO) film having a thickness of about 1 μm containing aluminum (Al) as a dopant of several wt% as a transparent electrode layer 3 serving as a first electrode layer is formed on the translucent insulating substrate 2 by a DC sputtering method. (FIG. 2-1). In this embodiment, a ZnO film doped with aluminum (Al) is formed as the transparent electrode layer 3, but the transparent electrode layer 3 is not limited to this, and as a dopant, aluminum (Al), gallium (Ga), indium At least one element selected from (In), boron (B), yttrium (Y), silicon (Si), zirconium (Zr), titanium (Ti), magnesium (Mg), and tin (Sn) was used. It may be a ZnO film or a transparent conductive film formed by laminating these films, and may be a transparent conductive film having optical transparency and conductivity. In addition to the ZnO film, a film made of a material mainly containing either indium oxide (In 2 O 3 ) or tin oxide (SnO 2 ) may be used. In the above example, the transparent electrode layer 3 is formed by the sputtering method. However, a physical method such as a vacuum deposition method or an ion plating method, or a chemical method such as a spray method, a dip method, or a CVD method is used. It may be used.

次に、この透明電極層3に、2μm以下のホール径のパターンをフォトリソグラフィープロセスにより形成する。フォトリソグラフィープロセスでは、感光性レジストを透明電極層3上に塗布・乾燥した後に、所定のパターンが形成された転写マスクを通して感光性レジストを露光し、現像する。そして、感光性レジストのパターンを加熱硬化させる。これにより、写真製版的にマスクパターンを転写したレジストパターン6を透明電極層3上に形成する(図2−2)。   Next, a hole diameter pattern of 2 μm or less is formed on the transparent electrode layer 3 by a photolithography process. In the photolithography process, after the photosensitive resist is applied and dried on the transparent electrode layer 3, the photosensitive resist is exposed and developed through a transfer mask on which a predetermined pattern is formed. Then, the pattern of the photosensitive resist is cured by heating. As a result, a resist pattern 6 to which the mask pattern is transferred in a photoengraving manner is formed on the transparent electrode layer 3 (FIG. 2-2).

この際、透明電極層3と感光性レジストとの濡れ性が不良であり、感光性レジストのはじきが生じる場合には、塗布前にUVO洗浄あるいは常圧プラズマなどの処理を行うとよい。また、感光性レジストと透明電極層3との密着性が不良であり、感光性レジストの剥がれが生じる場合には、加熱硬化温度を高くしたり、加熱時間を長くしたりするなどの処理を行うとよい。 At this time, if the wettability between the transparent electrode layer 3 and the photosensitive resist is poor and the photosensitive resist is repelled, it is preferable to perform UVO 3 cleaning or atmospheric pressure plasma treatment before coating. Further, when the adhesion between the photosensitive resist and the transparent electrode layer 3 is poor and the photosensitive resist is peeled off, a treatment such as increasing the heat curing temperature or increasing the heating time is performed. Good.

また、フォトリソグラフィープロセスで形成されるホールパターンは、図2−2、図3に示されるレーザによるパターン開口形成領域C以外に形成する。図3は、実施の形態1にかかる薄膜太陽電池のパターン開口形成領域Cの概略構成を示す平面図である。その理由としてパターン開口形成領域Cでは、レーザによるパターン開口を行った場合に、透明電極層3の膜厚変化に起因して最適レーザ加工条件のズレが発生し、開口不良等の加工不良を引き起こすからである。   Further, the hole pattern formed by the photolithography process is formed other than the pattern opening formation region C by the laser shown in FIGS. FIG. 3 is a plan view showing a schematic configuration of the pattern opening formation region C of the thin-film solar cell according to the first embodiment. The reason is that in the pattern opening formation region C, when pattern opening is performed by laser, deviation of the optimum laser processing conditions occurs due to the change in the film thickness of the transparent electrode layer 3, causing processing defects such as opening defects. Because.

また、本実施の形態のフォトリソグラフィープロセスでは、露光用の転写マスクとして、例えば直径が1.5μm程度の略円形の穴が0.3個/μm程度の密度で形成された転写マスクを用いる。 In the photolithography process of the present embodiment, a transfer mask in which, for example, a substantially circular hole having a diameter of about 1.5 μm is formed with a density of about 0.3 / μm 2 is used as the exposure transfer mask. .

次に、第1のエッチング工程として、レジストパターン6をマスクとして透明電極層3のエッチングを行ない、透明電極層3の表面に開口3aを形成する(図2−3)。透明電極層3のエッチング方法としては、エッチング液等で処理する化学的方法、透明電極層3の表面にイオンやプラズマ等を照射する物理的方法等の種々の方法が挙げられる。なお、上記方法は、単独で行ってもよく、2種以上の方法を組み合わせて行ってもよい。   Next, as a first etching step, the transparent electrode layer 3 is etched using the resist pattern 6 as a mask to form an opening 3a on the surface of the transparent electrode layer 3 (FIG. 2-3). Examples of the etching method of the transparent electrode layer 3 include various methods such as a chemical method of treating with an etching solution or the like, and a physical method of irradiating the surface of the transparent electrode layer 3 with ions or plasma. In addition, the said method may be performed independently and may be performed combining 2 or more types of methods.

本実施の形態では、第1のエッチング工程のエッチング方法として、平行平板型RIE(Reactive on Etching)法によるドライエッチングを行う。エッチングガスとしては、有機系ガス、ハロゲン系ガスを用いることが可能である。透明電極層3の加工深さ(エッチング深さ)は、エッチング時間を調整することにより制御が可能である。   In the present embodiment, dry etching by a parallel plate RIE (Reactive on Etching) method is performed as an etching method in the first etching step. As an etching gas, an organic gas or a halogen gas can be used. The processing depth (etching depth) of the transparent electrode layer 3 can be controlled by adjusting the etching time.

また、第1のエッチング工程における透明電極層3のエッチングは、エッチングにより形成される開口3aのパターンエッジがテーパー形状となるようにエッチング条件を調整することが好ましい。すなわち、厚み方向において透明電極層3の表面から透光性絶縁基板2に向かって開口径が小さくなるように傾斜した側面を有するテーパー状の断面を有する開口を形成することが好ましい。これにより、透明電極層3の表面における段差に起因した短絡を防止することができる。ここで、テーパー形状とは、開口3aの断面形状において透明電極層3の表面側(光電変換層4側)が長辺、透光性絶縁基板2側が短辺となる台形状になるようにパターンエッジがエッチングされた形状のことを意味する。   In addition, the etching of the transparent electrode layer 3 in the first etching step is preferably adjusted so that the pattern edge of the opening 3a formed by the etching has a tapered shape. That is, it is preferable to form an opening having a tapered cross section having a side surface inclined so that the opening diameter decreases from the surface of the transparent electrode layer 3 toward the translucent insulating substrate 2 in the thickness direction. Thereby, the short circuit resulting from the level | step difference in the surface of the transparent electrode layer 3 can be prevented. Here, the tapered shape is a pattern in which the surface side (photoelectric conversion layer 4 side) of the transparent electrode layer 3 has a long side and the translucent insulating substrate 2 side has a short side in the cross-sectional shape of the opening 3a. This means that the edge is etched.

このようにして透明電極層3に形成された開口3aの数、大きさ、形状、深さを調整することにより、光電変換層4における光吸収特性に適した太陽光の散乱または反射状態を生じさせることができる。また、これらの条件は、透明電極層3の上に積層する光電変換層4の欠陥密度低減に適した状態にする必要がある。   By adjusting the number, size, shape, and depth of the openings 3a formed in the transparent electrode layer 3 in this way, a scattering or reflection state of sunlight suitable for the light absorption characteristics in the photoelectric conversion layer 4 is generated. Can be made. Moreover, these conditions need to be in a state suitable for reducing the defect density of the photoelectric conversion layer 4 laminated on the transparent electrode layer 3.

これらの開口条件は、例えば、太陽光スペクトルの短波長から長波長まで十分な光散乱効果を生じさせることができるものが好ましい。具体的には、円柱、円錐、球、半球等、またはこれらの複合形状等が挙げられる。透明電極層3の表面側の開口3aの直径は、1〜2μm程度、開口3aの深さおよび凹凸の高低差は500nm以下程度である。本実施の形態において開口3aを形成した透明電極層3の表面形状を原子間力顕微鏡により測定したところ、透明電極層3の表面側の直径が1〜2μm程度の開口3aが0.3個/μm程度の密度で形成され、開口3aの深さは300nm程度であった。 These opening conditions are preferably those that can produce a sufficient light scattering effect from a short wavelength to a long wavelength of the sunlight spectrum, for example. Specifically, a cylinder, a cone, a sphere, a hemisphere, etc., or a composite shape thereof can be used. The diameter of the opening 3a on the surface side of the transparent electrode layer 3 is about 1 to 2 μm, and the depth of the opening 3a and the height difference of the unevenness are about 500 nm or less. When the surface shape of the transparent electrode layer 3 in which the opening 3a is formed in the present embodiment is measured by an atomic force microscope, the number of the openings 3a having a diameter on the surface side of the transparent electrode layer 3 of about 1 to 2 μm is 0.3 / It was formed with a density of about μm 2 and the depth of the opening 3a was about 300 nm.

次に、透明電極層3の表面に残存するレジストパターン6を、例えば酸素プラズマ処理や薬液処理により除去する(図2−4)。   Next, the resist pattern 6 remaining on the surface of the transparent electrode layer 3 is removed by, for example, oxygen plasma treatment or chemical treatment (FIGS. 2-4).

次に、第2のエッチング工程として、透明電極層3をウエットエッチングして透明電極層3の表面に微小凹凸B1を形成する(図2−5)。詳しくは、透光性絶縁基板2を1wt%の塩酸(HCl)水溶液中に30秒間浸し、その後、透光性絶縁基板2に対して1分間以上の純水洗浄を行い、乾燥する。これにより、透明電極層3の表面には、第1のエッチング工程で形成された開口3a以外の部分に微小凹凸B1が形成される。また、開口3a内もエッチングがなされ、開口3aは微小凹凸B1よりも径の大きく且つ深さが深い大きい凹部B2とされる。このとき、大きい凹部B2の透明電極層3の表面側の直径は1μm〜2μm程度、深さおよび凹凸の高低差は500nm以下程度である。   Next, as a second etching step, the transparent electrode layer 3 is wet-etched to form minute irregularities B1 on the surface of the transparent electrode layer 3 (FIG. 2-5). Specifically, the light-transmitting insulating substrate 2 is immersed in a 1 wt% hydrochloric acid (HCl) aqueous solution for 30 seconds, and then the light-transmitting insulating substrate 2 is washed with pure water for 1 minute or more and dried. Thereby, on the surface of the transparent electrode layer 3, minute unevenness B1 is formed in a portion other than the opening 3a formed in the first etching step. Etching is also performed in the opening 3a, and the opening 3a is formed as a recess B2 having a larger diameter and a deeper depth than the minute unevenness B1. At this time, the diameter of the surface of the transparent electrode layer 3 of the large recess B2 is about 1 μm to 2 μm, and the depth and the height difference of the unevenness are about 500 nm or less.

ここで、大きい凹部B2の透明電極層3の表面側の直径が1μm未満の場合、生産技術的に安定して形成できない虞がある。また、直径が2μm以上の場合、有効な光散乱効果を得ることができない虞、特に低波長域の光の散乱効果が低下する虞がある。また、透明電極層3と光電変換層4との密着性が低下する虞がある。したがって、大きい凹部B2の直径は、1μm〜2μm程度とすることにより、確実に有効な光散乱効果を得ることができ、また信頼性の高い薄膜太陽電池を得ることができる。   Here, when the diameter on the surface side of the transparent electrode layer 3 of the large concave portion B2 is less than 1 μm, there is a possibility that it cannot be stably formed in terms of production technology. Further, when the diameter is 2 μm or more, there is a possibility that an effective light scattering effect cannot be obtained, and in particular, a light scattering effect in a low wavelength region may be lowered. Moreover, there exists a possibility that the adhesiveness of the transparent electrode layer 3 and the photoelectric converting layer 4 may fall. Therefore, by setting the diameter of the large concave portion B2 to about 1 μm to 2 μm, an effective light scattering effect can be surely obtained, and a highly reliable thin film solar cell can be obtained.

この場合の微小凹凸B1における高低差は、10〜200nm程度のものが好ましい。ここで、微小凹凸B1における高低差とは、微小凹凸B1の凸部の平均高さと、微小凹凸B1の凹部の平均高さとの高低差である。本実施の形態で形成した微小凹凸B1の表面形状を原子間力顕微鏡により測定したところ、透明電極層3の表面の微小凹凸B1の平均高さは200nm程度であった。   In this case, the height difference in the minute unevenness B1 is preferably about 10 to 200 nm. Here, the height difference in the minute unevenness B1 is a difference in height between the average height of the protrusions of the minute unevenness B1 and the average height of the recesses of the minute unevenness B1. When the surface shape of the fine irregularities B1 formed in the present embodiment was measured with an atomic force microscope, the average height of the fine irregularities B1 on the surface of the transparent electrode layer 3 was about 200 nm.

この第2のエッチング工程により形成された微小凹凸B1は、透明電極層3上に積層するシリコンを材料とする光電変換層4との密着力向上により、透明電極層3と光電変換層4との間の膜はがれを抑制することができる。また、透明電極層3と光電変換層4との界面における反射光ロスも低減できる。透明電極層3と光電変換層4との間の膜はがれが生じると、セルが直列接続する集積型太陽電池構造において直列抵抗を増加させ、また、光電変換層4の受光面積が減少することから、Jscの値も低下させる原因となる。   The minute unevenness B1 formed by the second etching step is improved between the transparent electrode layer 3 and the photoelectric conversion layer 4 by improving the adhesion between the transparent electrode layer 3 and the photoelectric conversion layer 4 made of silicon. Interlaminar film peeling can be suppressed. Moreover, the reflected light loss in the interface of the transparent electrode layer 3 and the photoelectric converting layer 4 can also be reduced. When the film between the transparent electrode layer 3 and the photoelectric conversion layer 4 is peeled off, the series resistance is increased in the integrated solar cell structure in which cells are connected in series, and the light receiving area of the photoelectric conversion layer 4 is decreased. , This also causes a decrease in the value of Jsc.

次に、透明電極層3の一部を透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向のストライプ状に切断・除去して、透明電極層3を短冊状にパターニングし、複数の透明電極層3に分離する(図2−6)。透明電極層3のパターニングは、レーザスクライブ法により、透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向に延在して透光性絶縁基板2に達するストライプ状の第1の溝D1を形成することで行う。なお、このように透光性絶縁基板2上に基板面内で互いに分離された複数の透明電極層3を得るには、写真製版などで形成したレジストマスクを用いてエッチングする方法や、メタルマスクを用いた蒸着法などの方法でも可能である。   Next, a part of the transparent electrode layer 3 is cut and removed in a stripe shape in a direction substantially parallel to the transversal direction of the translucent insulating substrate 2, and the transparent electrode layer 3 is patterned into a strip shape to obtain a plurality of transparent The electrode layer 3 is separated (FIGS. 2-6). The patterning of the transparent electrode layer 3 is performed by forming a first stripe D1 extending in a direction substantially parallel to the transversal direction of the translucent insulating substrate 2 and reaching the translucent insulating substrate 2 by laser scribing. Do by forming. In order to obtain a plurality of transparent electrode layers 3 separated from each other on the translucent insulating substrate 2 in this way, a method of etching using a resist mask formed by photolithography, a metal mask, It is also possible to use a vapor deposition method or the like using

次に、透明電極層3上に例えばPIN接合を有する光電変換層4をプラズマCVD法により形成する。本実施の形態では、光電変換層4として、光電変換層4側からp型の微結晶シリコン膜(μc−Si膜)、i型の微結晶シリコン膜(μc−Si膜)、n型の微結晶シリコン膜(μc−Si膜)を順次積層形成する。このようにして形成された光電変換層4に、透明電極層3と同様にレーザスクライブによってパターニングを施す(図2−7)。   Next, the photoelectric conversion layer 4 having a PIN junction, for example, is formed on the transparent electrode layer 3 by a plasma CVD method. In this embodiment, as the photoelectric conversion layer 4, a p-type microcrystalline silicon film (μc-Si film), an i-type microcrystalline silicon film (μc-Si film), an n-type microcrystalline silicon film from the photoelectric conversion layer 4 side. Crystalline silicon films (μc-Si films) are sequentially stacked. The photoelectric conversion layer 4 thus formed is patterned by laser scribing in the same manner as the transparent electrode layer 3 (FIGS. 2-7).

すなわち、光電変換層4の一部を透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向のストライプ状に切断・除去して、光電変換層4を短冊状にパターニングし、分離する。光電変換層4のパターニングは、レーザスクライブ法により、第1の溝D1と異なる箇所に、透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向に延在して透明電極層3に達するストライプ状の第2の溝D2を形成することで行う。第2の溝D2の形成後、第2の溝D2内に付着している飛散物を高圧水洗浄、メガソニック洗浄、あるいはブラシ洗浄により除去する。   That is, a part of the photoelectric conversion layer 4 is cut and removed in a stripe shape in a direction substantially parallel to the short direction of the translucent insulating substrate 2, and the photoelectric conversion layer 4 is patterned into a strip shape and separated. Patterning of the photoelectric conversion layer 4 is a stripe that extends in a direction substantially parallel to the transversal direction of the translucent insulating substrate 2 and reaches the transparent electrode layer 3 at a location different from the first groove D1 by a laser scribing method. This is done by forming a second groove D2. After the formation of the second groove D2, the scattered matter adhering in the second groove D2 is removed by high-pressure water cleaning, megasonic cleaning, or brush cleaning.

次に、光電変換層4上および第2の溝D2内に、第2の電極層となる裏面電極層5をスパッタリング法により形成する。本実施の形態では、膜厚200nmの純銀または銀合金(Ag Alloy)膜を形成する。また、裏面電極層5の成膜方法として、CVD法やスプレー法などの他の成膜方法を用いてもよい。なお、光電変換層4のシリコンへの金属拡散を防止するために、裏面電極層5と光電変換層4との間に、酸化亜鉛(ZnO)、酸化スズ(SnO)等を主成分とする材料からなる膜の酸化物を設け留ことが好ましい。 Next, the back electrode layer 5 to be the second electrode layer is formed on the photoelectric conversion layer 4 and in the second groove D2 by a sputtering method. In this embodiment mode, a pure silver or silver alloy (Ag Alloy) film having a thickness of 200 nm is formed. Further, as the film formation method of the back electrode layer 5, other film formation methods such as a CVD method and a spray method may be used. In addition, in order to prevent metal diffusion into the silicon of the photoelectric conversion layer 4, zinc oxide (ZnO), tin oxide (SnO 2 ) or the like is a main component between the back electrode layer 5 and the photoelectric conversion layer 4. It is preferable to provide and deposit an oxide of a film made of a material.

裏面電極層5の形成後、裏面電極層5および光電変換層4の一部を透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向のストライプ状に切断・除去して第1の溝D1および第2の溝D2とは異なる箇所に透明電極層3に達するストライプ状の第3の溝D3を形成し、短冊状にパターニングして複数のセル1に分離する(図2−8)。   After the back electrode layer 5 is formed, the back electrode layer 5 and a part of the photoelectric conversion layer 4 are cut and removed in a stripe shape in a direction substantially parallel to the transversal direction of the translucent insulating substrate 2 to remove the first groove D1. And the stripe-shaped 3rd groove | channel D3 which reaches the transparent electrode layer 3 is formed in a different location from the 2nd groove | channel D2, is patterned in strip shape, and isolate | separated into the some cell 1 (FIGS. 2-8).

なお、反射率の高い裏面電極層5にレーザを直接吸収させるのは困難なので、光電変換層4にレーザ光エネルギーを吸収させて、半導体層とともに裏面電極層5を局所的に吹き飛ばすことによって複数の単位素子(発電領域)、すなわち複数のセル1に対応させて分離される。以上により、図1−1、図1−2に示すようなセル1を有するモジュール10が完成する。   In addition, since it is difficult to directly absorb the laser in the back electrode layer 5 having a high reflectivity, the photoelectric conversion layer 4 absorbs laser light energy, and the back electrode layer 5 is blown locally together with the semiconductor layer. The unit elements (power generation regions), that is, the plurality of cells 1 are separated. Thus, the module 10 having the cell 1 as shown in FIGS. 1-1 and 1-2 is completed.

上記のようにして作製した微結晶シリコン薄膜太陽電池を実施例1の薄膜太陽電池とする。また、比較例として、透光性絶縁基板2に透明電極層3を形成した後、ウエットエッチングにより該透明電極層3の表面に凹凸形状を形成したこと以外、上記と同様にして微結晶シリコン薄膜太陽電池を作製した。この微結晶シリコン薄膜太陽電池を比較例の薄膜太陽電池とする。   The microcrystalline silicon thin film solar cell produced as described above is referred to as the thin film solar cell of Example 1. Further, as a comparative example, the microcrystalline silicon thin film was formed in the same manner as described above except that the transparent electrode layer 3 was formed on the translucent insulating substrate 2 and then the concavo-convex shape was formed on the surface of the transparent electrode layer 3 by wet etching. A solar cell was produced. This microcrystalline silicon thin film solar cell is used as a comparative thin film solar cell.

そして、これらの微結晶シリコン薄膜太陽電池に対して、ソーラーシミュレーターを用いてそれぞれAM(エア・マス)=1.5、100mW/cmの光を透光性絶縁基板2側から入射し、25℃で短絡電流(mA/cm)を測定して、太陽電池としての特性を評価した。その結果、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池の短絡電流が20.0mA/cmであるのに対して、実施例1の微結晶シリコン薄膜太陽電池の短絡電流は23.2mA/cmであり、実施例1の微結晶シリコン薄膜太陽電池は、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池に比べて短絡電流(mA/cm)が略15%以上も改善されていることが認められる。 Then, light of AM (air mass) = 1.5 and 100 mW / cm 2 is incident on these microcrystalline silicon thin film solar cells from the translucent insulating substrate 2 side using a solar simulator, 25 The short-circuit current (mA / cm 2 ) was measured at 0 ° C. to evaluate the characteristics as a solar cell. As a result, the short circuit current of the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example is 20.0 mA / cm 2 , whereas the short circuit current of the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1 is 23.2 mA / cm 2 . In addition, it is recognized that the short-circuit current (mA / cm 2 ) of the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1 is improved by about 15% or more as compared with the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example.

すなわち、透光性絶縁基板2側から入射してきた光は、微小凹凸B1および大きい凹部B2を有する透明電極層3と光電変換層4との界面で散乱されて光電変換層4に入射するため、光電変換層4に概ね斜めに入射する。そして、光電変換層4に斜めに光が入射することにより、光の実質的な光路が延びて光の吸収が増大するため、薄膜太陽電池の光電変換特性が向上して出力電流が増加する。なお、上記においては、光電変換層4に結晶質シリコンが使用されていたが、非晶質シリコン、非晶質シリコンゲルマニウム、非晶質シリコンカーバイド等の非晶質シリコン系の半導体と、これらの非晶質シリコンと結晶質シリコンを積層させたタンデム型の薄膜太陽電池とすることもでき、この場合も同様の効果が得られる。   That is, the light that has entered from the translucent insulating substrate 2 side is scattered at the interface between the transparent electrode layer 3 having the small unevenness B1 and the large recessed portion B2 and the photoelectric conversion layer 4, and enters the photoelectric conversion layer 4. The light is incident on the photoelectric conversion layer 4 substantially obliquely. Then, when light is incident on the photoelectric conversion layer 4 obliquely, the substantial optical path of the light is extended and the light absorption is increased, so that the photoelectric conversion characteristics of the thin film solar cell are improved and the output current is increased. In the above, crystalline silicon is used for the photoelectric conversion layer 4, but amorphous silicon-based semiconductors such as amorphous silicon, amorphous silicon germanium, and amorphous silicon carbide, and these A tandem-type thin film solar cell in which amorphous silicon and crystalline silicon are stacked can be used, and in this case, the same effect can be obtained.

図4は、実施例1、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池における透明電極層3の形成後のヘイズ率(拡散透過率/全光透過率×100)を示した特性図である。ここでヘイズ率とは、光の拡散する度合いを表す数値である。図4よりわかるように、実施例1の微結晶シリコン薄膜太陽電池の透明電極層3は、波長が長くなってもヘイズ率の低下が少なく、光の散乱効果の減少が少ない。一方、図4よりわかるように、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池の透明電極層では、波長が長くなるにつれてヘイズ率が大きく減少し、光の散乱効果の減少が大きい。   FIG. 4 is a characteristic diagram showing the haze ratio (diffuse transmittance / total light transmittance × 100) after formation of the transparent electrode layer 3 in the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1 and Comparative Example. Here, the haze ratio is a numerical value representing the degree of light diffusion. As can be seen from FIG. 4, the transparent electrode layer 3 of the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1 has little decrease in haze rate and little decrease in light scattering effect even when the wavelength is increased. On the other hand, as can be seen from FIG. 4, in the transparent electrode layer of the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example, the haze ratio is greatly reduced as the wavelength is increased, and the light scattering effect is greatly reduced.

実施例1の微結晶シリコン薄膜太陽電池では、膜厚と同等以上の直径を有する大きいサイズの凹部、例えば直径1〜2μm程度の大きい凹部B2が透明電極層3内に均一に分散されて形成されている。また、特にその大きい凹部B2の直径が1μm〜2μmで穴の断面がテーパー形状となっているので、大きい凹部B2の底部(透光性絶縁基板2側)の直径は0.5μm〜1.5μm程度になる。したがって、このサイズと同程度の波長の光が通過する際に、散乱や回折を生じる効果が大きくなったものと思われる。その結果、太陽光うちの比較的長い波長0.5μm〜1.5μmの光の光電変換の効率が向上する。   In the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1, a large size recess having a diameter equal to or greater than the film thickness, for example, a large recess B2 having a diameter of about 1 to 2 μm is uniformly dispersed in the transparent electrode layer 3. ing. In particular, since the diameter of the large recess B2 is 1 μm to 2 μm and the cross section of the hole is tapered, the diameter of the bottom of the large recess B2 (translucent insulating substrate 2 side) is 0.5 μm to 1.5 μm. It will be about. Therefore, it is considered that the effect of causing scattering and diffraction when the light having the same wavelength as this size passes is increased. As a result, the efficiency of photoelectric conversion of light having a relatively long wavelength of 0.5 μm to 1.5 μm in sunlight is improved.

すなわち、実施例1の微結晶シリコン薄膜太陽電池では、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池では発電に寄与していない太陽光を有効に使用して発電を行うことが可能となり、変換効率の向上が図られた薄膜太陽電池が実現されていると言える。   That is, in the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1, power generation can be performed by effectively using sunlight that does not contribute to power generation in the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example, and the conversion efficiency is improved. It can be said that a thin film solar cell with the above has been realized.

上述した実施の形態1によれば、透明電極層3の表面に微小凹凸B1および該微小凹凸B1よりも径の大きく且つ深さが深い大きい凹部B2を含む凹凸形状(テクスチャー構造)が形成されているため、良好な光閉じこめ効果を有するとともに光散乱用のテクスチャー構造に起因した信頼性、光電変換特性の低下が防止され、信頼性、光電変換特性に優れ、長期使用の可能な薄膜太陽電池が実現される。   According to the first embodiment described above, the concave / convex shape (texture structure) including the fine irregularities B1 and the large concave portions B2 having a diameter larger and deeper than the minute irregularities B1 is formed on the surface of the transparent electrode layer 3. Therefore, a thin-film solar cell that has a good light confinement effect and prevents deterioration in reliability and photoelectric conversion characteristics due to a light scattering texture structure, has excellent reliability and photoelectric conversion characteristics, and can be used for a long time. Realized.

また、実施の形態1によれば、透明電極層3の面内において均一に凹凸形状を形成でき、光の散乱性の不均一を防止して光電変換効率の低下を防止できる。また、微小凹凸B1と比べて径の大きい凹部B2を形成することにより、広い範囲の波長の光に対する光閉込効果により光吸収量を増大させて、光電変換効率に優れた薄膜太陽電池が実現できる。また、大きい凹部B2の光電変換層4側の直径を1μm〜2μm程度とすることにより、確実に有効な光散乱効果を得ることができ、また信頼性の高い薄膜太陽電池を得ることができる。そして、大きい凹部B2の深さを調整することにより、凹凸の高低差に起因した局所的な電流ロスを減少させて、光電変換効率および信頼性に優れた薄膜太陽電池が実現できる。   Moreover, according to Embodiment 1, uneven | corrugated shape can be uniformly formed in the surface of the transparent electrode layer 3, the nonuniformity of the light scattering property can be prevented, and the fall of photoelectric conversion efficiency can be prevented. Further, by forming the concave portion B2 having a diameter larger than that of the micro concave / convex portion B1, the light absorption amount is increased by the light confinement effect with respect to light having a wide range of wavelengths, and a thin film solar cell excellent in photoelectric conversion efficiency is realized. it can. Further, by setting the diameter of the large concave portion B2 on the photoelectric conversion layer 4 side to about 1 μm to 2 μm, an effective light scattering effect can be surely obtained, and a highly reliable thin film solar cell can be obtained. And the thin film solar cell excellent in photoelectric conversion efficiency and reliability can be implement | achieved by reducing the local current loss resulting from the height difference of an unevenness | corrugation by adjusting the depth of the big recessed part B2.

また、実施の形態1によれば、所望の分布密度で大きい凹部B2の形成が可能となり、例えば、ファトリソグラフィプロセスで開口3aを形成する際に概ね均一な分布密度とすると、光吸収特性が面内で均一な薄膜太陽電池を容易に再現良く形成することができる。   Further, according to the first embodiment, it is possible to form a large concave portion B2 with a desired distribution density. For example, when the opening 3a is formed with a substantially uniform distribution density in the photolithography process, the light absorption characteristic is a surface. A uniform thin film solar cell can be easily formed with good reproducibility.

なお、上記においては、大きい凹部B2の形状を略円形としたが大きい凹部B2の形状は円形でなくてもよく、四角形等でもよい。また、その内径は上記と同様に1μm〜2μmとされ、底部の直径は0.5μm〜1.5μm程度とされる。これにより、上述したような大きい凹部B2の形状が略円形である場合と同様な効果がある。また、その際に大きい凹部B2の深さ(開口面から最も深い穴の底部までの高さ)は、透明電極層3の平均厚さ(大きい凹部B2が形成されていない領域の厚みを平均した厚さ)に対して30%以上とすると、本発明の効果が顕著となる。   In the above description, the shape of the large concave portion B2 is substantially circular, but the shape of the large concave portion B2 may not be circular, and may be square or the like. The inner diameter is 1 μm to 2 μm as described above, and the bottom diameter is about 0.5 μm to 1.5 μm. Thereby, there exists an effect similar to the case where the shape of the large recessed part B2 as mentioned above is substantially circular. In addition, the depth of the large recess B2 (height from the opening surface to the bottom of the deepest hole) at that time is the average thickness of the transparent electrode layer 3 (the thickness of the region where the large recess B2 is not formed). When the thickness is 30% or more with respect to (thickness), the effect of the present invention becomes remarkable.

実施の形態2.
図5は、本発明の実施の形態2にかかる薄膜太陽電池である薄膜太陽電池モジュール(以下、モジュールと呼ぶ)20を構成する薄膜太陽電池セル(以下、セルと呼ぶ場合がある)21の短手向における断面構造を説明するための図であり、図1−1の線分A−A’方向における要部断面図である。なお、モジュール20の基本的な構造は、実施の形態1にかかるモジュール10と同様であり、図5においてはモジュール10と同じ部材については同じ符号を付してある。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 5 is a short diagram of a thin-film solar battery cell (hereinafter sometimes referred to as a cell) 21 constituting a thin-film solar battery module (hereinafter referred to as a module) 20 that is a thin-film solar battery according to a second embodiment of the present invention. It is a figure for demonstrating the cross-sectional structure in a hand direction, and is principal part sectional drawing in line segment AA 'of FIGS. 1-1. The basic structure of the module 20 is the same as that of the module 10 according to the first embodiment. In FIG. 5, the same members as those of the module 10 are denoted by the same reference numerals.

実施の形態2では、実施の形態1と同様に透明電極層3の表面に、微小凹凸に比べて径の大きい凹部を形成するが、この径の大きい凹部に透明電極層に比べて光透過性の高い透明樹脂を充填する場合について説明する。すなわち、フォトリソグラフィー工程とエッチング工程で形成した径の大きい凹部に透明樹脂を埋め込む場合について説明する。   In the second embodiment, as in the first embodiment, a concave portion having a diameter larger than that of the minute unevenness is formed on the surface of the transparent electrode layer 3. The concave portion having a larger diameter has a light transmittance as compared with the transparent electrode layer. A case of filling a transparent resin having a high thickness will be described. That is, a case where a transparent resin is embedded in a recess having a large diameter formed by a photolithography process and an etching process will be described.

透明電極層3に比べて光透過性の高い透明樹脂を用いることで、透明電極層3による光吸収ロスを低減させることが可能となる。すなわち、例えば図1−2に示した実施の形態1にかかる薄膜太陽電池の場合は、大きい凹部B2と透光性絶縁基板2との間には透明電極層3が存在する。この場合、透明電極層3による光吸収ロスが発生し、光電変換層4への入射光量の低減が発生する。これは、光電変換効率の低下につながる。   By using a transparent resin having higher light transmittance than that of the transparent electrode layer 3, it is possible to reduce light absorption loss due to the transparent electrode layer 3. That is, for example, in the case of the thin-film solar cell according to the first embodiment shown in FIG. 1-2, the transparent electrode layer 3 exists between the large recess B2 and the translucent insulating substrate 2. In this case, a light absorption loss due to the transparent electrode layer 3 occurs, and the amount of incident light on the photoelectric conversion layer 4 is reduced. This leads to a decrease in photoelectric conversion efficiency.

一方、実施の形態2にかかるモジュール20では、実施の形態1のモジュール10と同様に、透明電極層3の表面に微小凹凸B3と、該微小凹凸B3よりも径の大きい凹部B4とが形成されている。これにより、実施の形態2にかかるモジュール20では、実施の形態1のモジュール10と同様に、透明電極層3の面内において均一に凹凸形状を形成でき、広い範囲の波長の光に対する光閉込効果により光吸収量を増大させ、また凹凸の高低差に起因した局所的な電流ロスを減少することより、光電変換効率および信頼性に優れた薄膜太陽電池が実現できる、という効果を有する。   On the other hand, in the module 20 according to the second embodiment, similarly to the module 10 according to the first embodiment, the fine unevenness B3 and the concave portion B4 having a diameter larger than the fine unevenness B3 are formed on the surface of the transparent electrode layer 3. ing. Thereby, in the module 20 according to the second embodiment, similarly to the module 10 according to the first embodiment, the uneven shape can be formed uniformly in the plane of the transparent electrode layer 3, and light confinement with respect to light in a wide range of wavelengths is possible. By increasing the light absorption amount by the effect and reducing the local current loss due to the height difference of the unevenness, there is an effect that a thin film solar cell excellent in photoelectric conversion efficiency and reliability can be realized.

さらに、実施の形態2にかかるモジュール20では、径の大きい凹部B4の内部に、透明電極層3に比べて光透過性の高い透明樹脂層21が充填されている。これにより、モジュール10のように、大きい凹部B2と透光性絶縁基板2との間には透明電極層3が存在する場合と比べて、透明電極層3による光吸収ロスを抑制し、光電変換層4への入射光量を増加させることができ、さらに光電変換効率を向上させることができる。このような透明樹脂層21は、透明電極層3の面積の30%以上の領域に充填されることにより、光電変換効率の向上効果がより顕著となる。   Furthermore, in the module 20 according to the second embodiment, the transparent resin layer 21 having higher light transmittance than the transparent electrode layer 3 is filled in the concave portion B4 having a large diameter. Thereby, compared with the case where the transparent electrode layer 3 exists between the large recessed part B2 and the translucent insulated substrate 2 like the module 10, the light absorption loss by the transparent electrode layer 3 is suppressed, and photoelectric conversion is carried out. The amount of light incident on the layer 4 can be increased, and the photoelectric conversion efficiency can be further improved. By filling such a transparent resin layer 21 in a region of 30% or more of the area of the transparent electrode layer 3, the effect of improving the photoelectric conversion efficiency becomes more remarkable.

また、透明樹脂層21は、透光性絶縁基板2の屈折率または透光性絶縁基板2と透明電極層3との間に形成される中間層(例えば透光性絶縁基板2として青板ガラス基板を用いた場合に該青板ガラス基板の表面に形成されるSiO膜(屈折率1.4〜1.5)など)の屈折率と、透明電極層3の屈折率との間の値の屈折率を有することが好ましい。これにより、透明樹脂層21における光の反射ロスを低減することができる。このような例として、透光性絶縁基板2の屈折率または透光性絶縁基板2と透明電極層3との間に形成される中間層の屈折率が1.4〜1.5であり、透明電極層3の屈折率が1.9〜2.0であり、透明樹脂層21の屈折率が1.5〜2.0であるパターンが挙げられる。 Further, the transparent resin layer 21 is formed of an intermediate layer formed between the refractive index of the translucent insulating substrate 2 or the translucent insulating substrate 2 and the transparent electrode layer 3 (for example, a blue glass substrate as the translucent insulating substrate 2). Refractive index between the refractive index of the SiO 2 film (refractive index of 1.4 to 1.5) formed on the surface of the soda glass substrate and the refractive index of the transparent electrode layer 3 is used. It is preferable to have a rate. Thereby, the reflection loss of the light in the transparent resin layer 21 can be reduced. As such an example, the refractive index of the translucent insulating substrate 2 or the refractive index of the intermediate layer formed between the translucent insulating substrate 2 and the transparent electrode layer 3 is 1.4 to 1.5, Examples include a pattern in which the transparent electrode layer 3 has a refractive index of 1.9 to 2.0 and the transparent resin layer 21 has a refractive index of 1.5 to 2.0.

また、径の大きい凹部B4内、透明樹脂層21上および透明電極層3上には、連続した透明導電層22が形成されている。この透明導電層22を備えることにより、径の大きい凹部B4内は透明電極層3と電気的に接合され、実行面積の低減による出力電流の低下を抑制することができる。   In addition, a continuous transparent conductive layer 22 is formed in the concave portion B4 having a large diameter, on the transparent resin layer 21 and on the transparent electrode layer 3. By providing this transparent conductive layer 22, the inside of the recess B 4 having a large diameter is electrically joined to the transparent electrode layer 3, and a decrease in output current due to a reduction in execution area can be suppressed.

つぎに、上記のように構成された実施の形態2にかかるモジュール20の製造方法について説明する。図6−1〜図6−7は、実施の形態2にかかるモジュール20の製造工程の一例を説明するための断面図である。   Next, a method for manufacturing the module 20 according to the second embodiment configured as described above will be described. 6A to 6D are cross-sectional views for explaining an example of the manufacturing process of the module 20 according to the second embodiment.

まず、透光性絶縁基板2を用意する。ここでは、実施の形態1の場合と同様に、透光性絶縁基板2として無アルカリガラス基板を用いて以下説明する。また、透光性絶縁基板2として安価な青板ガラス基板を用いてもよいが、この場合は、透光性絶縁基板2からのアルカリ成分の拡散を防止するためにPCVD法やスパッタリング法などによりSiO膜(屈折率1.4〜1.5)を100nm以下程度形成するのがよい。 First, the translucent insulating substrate 2 is prepared. Here, as in the case of the first embodiment, a non-alkali glass substrate is used as the translucent insulating substrate 2 to be described below. In addition, an inexpensive soda lime glass substrate may be used as the light-transmitting insulating substrate 2, but in this case, in order to prevent the diffusion of alkali components from the light-transmitting insulating substrate 2, SiO2 is formed by PCVD or sputtering. It is preferable to form two films (refractive index of 1.4 to 1.5) of about 100 nm or less.

つぎに、実施の形態1の場合と同様に、透光性絶縁基板2上に第1の電極層となる透明電極層3として、アルミニウム(Al)を数wt%ドーパントとして含む膜厚1μm程度の酸化亜鉛(ZnO)膜をDCスパッタリング法で形成する。   Next, as in the first embodiment, the transparent electrode layer 3 serving as the first electrode layer on the translucent insulating substrate 2 has a film thickness of about 1 μm containing aluminum (Al) as a few wt% dopant. A zinc oxide (ZnO) film is formed by a DC sputtering method.

次に、実施の形態1の場合と同様に、この透明電極層3に、2μm以下のホール径のパターンをフォトリソグラフィープロセスにより形成する。フォトリソグラフィープロセスでは、感光性レジストを透明電極層3上に塗布・乾燥した後に、所定のパターンが形成された転写マスクを通して感光性レジストを露光し、現像する。そして、感光性レジストのパターンを加熱硬化させる。これにより、写真製版的にマスクパターンを転写したレジストパターン16を透明電極層3上に形成する(図6−1)。   Next, as in the case of the first embodiment, a pattern with a hole diameter of 2 μm or less is formed on the transparent electrode layer 3 by a photolithography process. In the photolithography process, after the photosensitive resist is applied and dried on the transparent electrode layer 3, the photosensitive resist is exposed and developed through a transfer mask on which a predetermined pattern is formed. Then, the pattern of the photosensitive resist is cured by heating. As a result, a resist pattern 16 to which the mask pattern is transferred in a photoengraving manner is formed on the transparent electrode layer 3 (FIG. 6-1).

また、フォトリソグラフィープロセスで形成されるホールパターンは、実施の形態1の場合と同様に、レーザによるパターン開口形成領域以外に形成する。また、本実施の形態のフォトリソグラフィープロセスでは、露光用の転写マスクとして、例えば直径が1.5μm程度の略円形の穴が0.3個/μm程度の密度で形成された転写マスクを用いる。 Further, the hole pattern formed by the photolithography process is formed in a region other than the pattern opening formation region by the laser as in the case of the first embodiment. In the photolithography process of the present embodiment, a transfer mask in which, for example, a substantially circular hole having a diameter of about 1.5 μm is formed with a density of about 0.3 / μm 2 is used as the exposure transfer mask. .

次に、第1のエッチング工程として、レジストパターン16をマスクとして透明電極層3のエッチングを行ない、透光性絶縁基板2の表面に達する開口13aを透明電極層3に形成する(図6−1)。透明電極層3のエッチング方法としては、エッチング液等で処理する化学的方法、透明電極層3の表面にイオンやプラズマ等を照射する物理的方法等の種々の方法が挙げられる。なお、上記方法は、単独で行ってもよく、2種以上の方法を組み合わせて行ってもよい。   Next, as a first etching step, the transparent electrode layer 3 is etched using the resist pattern 16 as a mask, and an opening 13a reaching the surface of the translucent insulating substrate 2 is formed in the transparent electrode layer 3 (FIG. 6A). ). Examples of the etching method of the transparent electrode layer 3 include various methods such as a chemical method of treating with an etching solution or the like, and a physical method of irradiating the surface of the transparent electrode layer 3 with ions or plasma. In addition, the said method may be performed independently and may be performed combining 2 or more types of methods.

本実施の形態では、第1のエッチング工程のエッチング方法として、平行平板型RIE(Reactive on Etching)法によるドライエッチングを行う。エッチングガスとしては、有機系ガス、ハロゲン系ガスを用いることが可能である。ここで、エッチング時間は、レジストパターン16に開口された穴の下部の透明電極層3が無くなる時点とする。これにより、透光性絶縁基板2の表面まで達する開口13aが形成される。   In the present embodiment, dry etching by a parallel plate RIE (Reactive on Etching) method is performed as an etching method in the first etching step. As an etching gas, an organic gas or a halogen gas can be used. Here, the etching time is the time when the transparent electrode layer 3 below the hole opened in the resist pattern 16 disappears. Thereby, the opening 13a reaching the surface of the translucent insulating substrate 2 is formed.

開口13aは、例えば直径1μm〜2μm程度とされ、穴の深さは透明電極層3の厚みと同じとなる。本実施の形態では、直径1.5μm程度の開口13aが、0.1〜0.3個/μm程度の密度で形成され、開口13aの深さは透明電極層3の厚みと同じ1μm程度となる。 The opening 13 a has a diameter of about 1 μm to 2 μm, for example, and the depth of the hole is the same as the thickness of the transparent electrode layer 3. In the present embodiment, the openings 13 a having a diameter of about 1.5 μm are formed at a density of about 0.1 to 0.3 / μm 2 , and the depth of the openings 13 a is about 1 μm, which is the same as the thickness of the transparent electrode layer 3. It becomes.

エッチングにより開口13aを形成する際、エッチング時間を確認する方法として、エッチングガスのラジカルの消費割合をプラズマ発光強度変化から検出して求める方法を用いることができる。また、透明電極層3のエッチングは、エッチングにより形成される開口13aのパターンエッジがテーパー形状となるようにエッチング条件を調整することが好ましい。   When the opening 13a is formed by etching, as a method for checking the etching time, a method can be used in which the radical consumption rate of the etching gas is detected from the change in plasma emission intensity. The etching of the transparent electrode layer 3 is preferably adjusted so that the pattern edge of the opening 13a formed by the etching has a tapered shape.

次に、透明電極層3の表面に残存するレジストパターン16を、例えば酸素プラズマ処理や薬液処理により除去した後、第2のエッチング工程として、透明電極層3をウエットエッチングして透明電極層3の表面に微小凹凸B3を形成する(図6−2)。詳しくは、透光性絶縁基板2を1wt%の塩酸(HCl)水溶液中に30秒間浸し、その後、透光性絶縁基板2に対して1分間以上の純水洗浄を行い、乾燥する。これにより、透明電極層3の表面には、第1のエッチング工程で形成された開口13a以外の部分に微小凹凸B3が形成される。また、開口13a内もエッチングがなされ、開口13aは微小凹凸B3よりも深さが深く且つ径の大きい凹部B4とされる。このとき、径の大きい凹部B4の直径は1〜2μm程度であり、本実施の形態では、直径1.5μm程度である。   Next, after the resist pattern 16 remaining on the surface of the transparent electrode layer 3 is removed by, for example, oxygen plasma treatment or chemical treatment, the transparent electrode layer 3 is wet-etched as a second etching step. Micro unevenness B3 is formed on the surface (FIG. 6-2). Specifically, the light-transmitting insulating substrate 2 is immersed in a 1 wt% hydrochloric acid (HCl) aqueous solution for 30 seconds, and then the light-transmitting insulating substrate 2 is washed with pure water for 1 minute or more and dried. As a result, minute irregularities B3 are formed on the surface of the transparent electrode layer 3 in portions other than the openings 13a formed in the first etching step. Etching is also performed in the opening 13a, and the opening 13a is formed as a recess B4 having a depth larger than that of the minute unevenness B3 and having a larger diameter. At this time, the diameter of the recess B4 having a large diameter is about 1 to 2 μm, and in the present embodiment, the diameter is about 1.5 μm.

なお、本実施の形態では、第1のエッチング工程におけるエッチング時間を、レジストパターン16に開口された穴の下部の透明電極層3が無くなる間での時間としたが、第2のエッチング工程における透明電極層3のエッチング量分の膜厚を残すようにエッチング時間を調整してもよい。その場合、第1のエッチング時間の短縮が可能となる。   In the present embodiment, the etching time in the first etching step is the time during which the transparent electrode layer 3 below the hole opened in the resist pattern 16 disappears, but the transparent time in the second etching step is The etching time may be adjusted so as to leave a film thickness corresponding to the etching amount of the electrode layer 3. In that case, the first etching time can be shortened.

次に、透明電極層3上および径の大きい凹部B4内に、ポジ型の感光性樹脂膜21aを例えば1.5μmの膜厚に形成する(図6−3)。感光性樹脂膜21aには、透明電極層3に比べて光透過性の高いものを使用する。そして、例えば100℃程度で焼成した後、感光性樹脂膜21aの膜面側から該感光性樹脂膜21aに対して光照射(露光処理)を行う。   Next, a positive photosensitive resin film 21a is formed to a thickness of, for example, 1.5 μm on the transparent electrode layer 3 and in the recess B4 having a large diameter (FIG. 6-3). As the photosensitive resin film 21a, a film having higher light transmittance than the transparent electrode layer 3 is used. Then, for example, after baking at about 100 ° C., light irradiation (exposure processing) is performed on the photosensitive resin film 21a from the film surface side of the photosensitive resin film 21a.

照射する光エネルギーとしては、例えば波長が200nm〜500nm程度の紫外光および可視光を用いる。具体的には、ステッパー等の転写装置により、超高圧水銀橙の輝線スペクトルのうち、g線(波長436nm)、i(波長365nm)の混合線を使用する。そして、感光性樹脂膜21aに対して化学反応プロセス(現像処理)として有機アルカリ溶剤処理および水洗処理を行った後、例えば250℃で焼成する。これにより、径の大きい凹部B4内に透明電極層3に比べて光透過性の高い透明樹脂層21が埋め込まれた状態とすることができる(図6−4)。   As the light energy to be irradiated, for example, ultraviolet light and visible light having a wavelength of about 200 nm to 500 nm are used. Specifically, a mixed line of g line (wavelength 436 nm) and i (wavelength 365 nm) is used in the bright line spectrum of ultra high pressure mercury orange by a transfer device such as a stepper. And after performing the organic alkali solvent process and the water washing process as a chemical reaction process (development process) with respect to the photosensitive resin film 21a, it bakes at 250 degreeC, for example. Thereby, it can be set as the state by which the transparent resin layer 21 with a high light transmittance compared with the transparent electrode layer 3 was embedded in recessed part B4 with a large diameter (FIGS. 6-4).

この場合、感光性樹脂膜21aに照射する光エネルギーの露光量の制御により、最終的に残存させる感光性樹脂膜21aの膜厚を容易に制御することができる。また、感光性樹脂膜21aにはネガ型の感光性樹脂を用いてもよく、その場合は透光性絶縁基板2側から該ネガ型の感光性樹脂に、テーパー形状の径の大きい凹部B4を有する透明電極層3をマスクとして光照射(露光処理)を行うことが望ましい。   In this case, the film thickness of the photosensitive resin film 21a finally remaining can be easily controlled by controlling the exposure amount of the light energy applied to the photosensitive resin film 21a. In addition, a negative photosensitive resin may be used for the photosensitive resin film 21a, and in that case, a concave portion B4 having a tapered diameter is formed on the negative photosensitive resin from the translucent insulating substrate 2 side. It is desirable to perform light irradiation (exposure processing) using the transparent electrode layer 3 having a mask as a mask.

例えば、穴内に残る透明樹脂層21の厚みを径の大きい凹部B4の深さの半分程度にすると、径の大きい凹部B4による段差が上部に形成される膜に対して影響が小さくなる。径の大きい凹部B4の深さの80%以上とするとさらに望ましい。透明樹脂層21は透明電極層3に形成された径の大きい凹部B4内に充填されている。透明樹脂層21が充填された後の径の大きい凹部B4aは、例えば透明電極層3の表面側の直径が1μm〜2μmに対して、深さがその半分〜同等程度であり、穴の側面積が穴の開口面積に対して同等以上である。このため、透明樹脂層21と透明電極層3との密着面積が大きくなり、透明樹脂層21が剥離しにくい。   For example, if the thickness of the transparent resin layer 21 remaining in the hole is about half of the depth of the large-diameter concave portion B4, the step due to the large-diameter concave portion B4 has less influence on the film formed on the upper portion. More desirably, the depth is 80% or more of the depth of the concave portion B4 having a large diameter. The transparent resin layer 21 is filled in a recess B4 having a large diameter formed in the transparent electrode layer 3. The concave portion B4a having a large diameter after being filled with the transparent resin layer 21 has, for example, a surface diameter of 1 μm to 2 μm on the surface side of the transparent electrode layer 3 and a depth that is about half to about the same. Is equal to or greater than the opening area of the hole. For this reason, the contact | adherence area of the transparent resin layer 21 and the transparent electrode layer 3 becomes large, and the transparent resin layer 21 cannot peel easily.

次に、径の大きい凹部B4(B4a)内、透明樹脂層21上および透明電極層3上に、連続した透明導電層22として例えばアルミニウム(Al)ドーパントした酸化亜鉛(ZnO)膜を100nm以下程度の膜厚で形成する(図6−5)。ここでは、透明導電層22としてアルミニウム(Al)ドーパントしたZnO膜を用いるが、透明導電層22の材料はこれに限定されることなく、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、ホウ素(B)、イットリウム(Y)、シリコン(Si)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)、マグネシウム(Mg)、スズ(Sn)から選択した少なくとも1種類以上の元素を用いた酸化物または、これらの化合物や積層して形成した透明導電層であってもよく、光透過性と導電性とを有している透明導電膜であればよい。この透明導電層22を形成することにより、径の大きい凹部B4内は透明電極層3と電気的に接合され、実行面積の低減による出力電流の低下を抑制することができる。   Next, a zinc oxide (ZnO) film doped with, for example, aluminum (Al) as a continuous transparent conductive layer 22 on the transparent resin layer 21 and the transparent electrode layer 3 in the concave portion B4 (B4a) having a large diameter is about 100 nm or less. (FIGS. 6-5). Here, a ZnO film doped with aluminum (Al) is used as the transparent conductive layer 22, but the material of the transparent conductive layer 22 is not limited to this, and gallium (Ga), indium (In), boron (B), Oxide using at least one element selected from yttrium (Y), silicon (Si), zirconium (Zr), titanium (Ti), magnesium (Mg), tin (Sn), or a compound or laminate thereof The transparent conductive layer may be formed as long as it is a transparent conductive film having optical transparency and conductivity. By forming the transparent conductive layer 22, the inside of the concave portion B 4 having a large diameter is electrically joined to the transparent electrode layer 3, and a decrease in output current due to a reduction in execution area can be suppressed.

次に、実施の形態1の場合と同様に、透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向に延在して透光性絶縁基板2に達するストライプ状の第1の溝D1を形成して透明電極層3を短冊状にパターニングする(図6−6)。次に、実施の形態1の場合と同様に、微結晶シリコンからなる光電変換層4を形成し、第1の溝D1と異なる箇所に、透光性絶縁基板2の短手方向と略平行な方向に延在して透明電極層3に達するストライプ状の第2の溝D2を形成して光電変換層4を短冊状にパターニング。そして、実施の形態1の場合と同様に、裏面電極層5を形成し、第1の溝D1および第2の溝D2とは異なる箇所に透明電極層3に達するストライプ状の第3の溝D3を形成し、短冊状にパターニングして複数のセル1に分離する(図6−7)。以上により、図5に示すようなモジュール20が完成する。   Next, as in the case of the first embodiment, the stripe-shaped first groove D1 extending in a direction substantially parallel to the transversal direction of the translucent insulating substrate 2 and reaching the translucent insulating substrate 2 is formed. Then, the transparent electrode layer 3 is patterned into a strip shape (FIGS. 6-6). Next, as in the first embodiment, the photoelectric conversion layer 4 made of microcrystalline silicon is formed, and is substantially parallel to the short direction of the translucent insulating substrate 2 at a location different from the first groove D1. A stripe-shaped second groove D2 extending in the direction and reaching the transparent electrode layer 3 is formed, and the photoelectric conversion layer 4 is patterned into a strip shape. Then, as in the case of the first embodiment, the back electrode layer 5 is formed, and the striped third groove D3 reaching the transparent electrode layer 3 at a location different from the first groove D1 and the second groove D2. Are patterned into strips to be separated into a plurality of cells 1 (FIGS. 6-7). Thus, the module 20 as shown in FIG. 5 is completed.

上記のようにして作製した微結晶シリコン薄膜太陽電池を実施例2の薄膜太陽電池とする。そして、実施例2の微結晶シリコン薄膜太陽電池に対して、ソーラーシミュレーターを用いてそれぞれAM(エア・マス)=1.5、100mW/cmの光を透光性絶縁基板2側から入射し、25℃で短絡電流(mA/cm)を測定して、太陽電池としての特性を評価した。その結果、実施例1の微結晶シリコン薄膜太陽電池と同等の良好な短絡電流が得られることが分かった。 The microcrystalline silicon thin film solar cell produced as described above is referred to as the thin film solar cell of Example 2. Then, light of AM (air mass) = 1.5 and 100 mW / cm 2 is incident on the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 2 from the translucent insulating substrate 2 side using a solar simulator. The short circuit current (mA / cm < 2 >) was measured at 25 degreeC, and the characteristic as a solar cell was evaluated. As a result, it was found that a good short-circuit current equivalent to that of the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 1 was obtained.

図7は、実施例2、実施の形態1で作製した比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池における透明電極層3の形成後の光透過率を示した特性図である。図7よりわかるように、実施例2の微結晶シリコン薄膜太陽電池の透明電極層3は、全波長域において光透過率が増加している。したがって、実施例2の微結晶シリコン薄膜太陽電池では、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池の透明電極層に比べて光吸収の少ない透明電極層が実現されていることが分かる。   FIG. 7 is a characteristic diagram showing the light transmittance after the formation of the transparent electrode layer 3 in the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example produced in Example 2 and Embodiment 1. As can be seen from FIG. 7, the transparent electrode layer 3 of the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 2 has increased light transmittance in the entire wavelength region. Therefore, it can be seen that in the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 2, a transparent electrode layer with less light absorption is realized as compared with the transparent electrode layer of the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example.

すなわち、実施例2の微結晶シリコン薄膜太陽電池では、比較例の微結晶シリコン薄膜太陽電池では発電に寄与していない太陽光、特に短波長域の太陽光を有効に使用して発電を行うことが可能となり、変換効率の向上が図られた薄膜太陽電池が実現されていると言える。   That is, in the microcrystalline silicon thin film solar cell of Example 2, the solar cell that does not contribute to the power generation in the microcrystalline silicon thin film solar cell of the comparative example, in particular, the sunlight is effectively used to generate power. Thus, it can be said that a thin film solar cell with improved conversion efficiency has been realized.

上述した実施の形態2によれば、実施の形態1の場合と同様に、透明電極層3の表面に微小凹凸B3および該微小凹凸B3よりも深さが深く且つ径の大きい凹部B4を含む凹凸形状(テクスチャー構造)が形成されているため、良好な光閉じこめ効果を有するとともに光散乱用のテクスチャー構造に起因した信頼性、光電変換特性の低下が防止され、信頼性、光電変換特性に優れ、長期使用の可能な薄膜太陽電池が実現される。   According to the above-described second embodiment, as in the first embodiment, the surface of the transparent electrode layer 3 includes the micro unevenness B3 and the unevenness including the recesses B4 that are deeper and larger in diameter than the micro unevenness B3. Since the shape (texture structure) is formed, it has a good light confinement effect and prevents deterioration of reliability and photoelectric conversion characteristics due to the texture structure for light scattering, and has excellent reliability and photoelectric conversion characteristics. A thin film solar cell that can be used for a long time is realized.

また、実施の形態2によれば、透明電極層3の面内において均一に凹凸形状を形成でき、光の散乱性の不均一を防止して光電変換効率の低下を防止できる。また、微小凹凸B3と比べて径の大きい凹部B4を形成することにより、広い範囲の波長の光に対する光閉込効果により光吸収量を増大させて、光電変換効率に優れた薄膜太陽電池が実現できる。また、大きい凹部B4の光電変換層4側の直径を1μm〜2μm程度とすることにより、確実に有効な光散乱効果を得ることができ、また信頼性の高い薄膜太陽電池を得ることができる。   Moreover, according to Embodiment 2, uneven | corrugated shape can be formed uniformly in the surface of the transparent electrode layer 3, the nonuniformity of the light scattering property can be prevented, and the fall of photoelectric conversion efficiency can be prevented. In addition, by forming the concave portion B4 having a diameter larger than that of the micro concave / convex portion B3, the light absorption amount is increased by the light confinement effect with respect to light in a wide range of wavelengths, and a thin film solar cell excellent in photoelectric conversion efficiency is realized. it can. Further, by setting the diameter of the large concave portion B4 on the photoelectric conversion layer 4 side to about 1 μm to 2 μm, an effective light scattering effect can be surely obtained, and a highly reliable thin film solar cell can be obtained.

さらに、実施の形態2では、径の大きい凹部B4の一部を、透明電極層3に比べて光透過性の高い透明樹脂層21で埋め込む。これにより、モジュール10のように、大きい凹部B2と透光性絶縁基板2との間には透明電極層3が存在する場合と比べて、透明電極層3による光吸収ロスを抑制し、光電変換層4への入射光量を増加させることができ、さらに光電変換効率を向上させることができる。   Further, in the second embodiment, a part of the concave portion B4 having a large diameter is embedded with the transparent resin layer 21 having higher light transmittance than the transparent electrode layer 3. Thereby, compared with the case where the transparent electrode layer 3 exists between the large recessed part B2 and the translucent insulated substrate 2 like the module 10, the light absorption loss by the transparent electrode layer 3 is suppressed, and photoelectric conversion is carried out. The amount of light incident on the layer 4 can be increased, and the photoelectric conversion efficiency can be further improved.

なお、上記においては、光電変換層4に結晶質シリコンが使用されていたが、光電変換層4は、非晶質シリコン、非晶質シリコンゲルマニウム、非晶質シリコンカーバイド等の非晶質シリコン系の半導体、これらの非晶質シリコン系の半導体と結晶質シリコンを積層させたタンデム型の薄膜太陽電池とすることもでき、この場合も同様の効果が得られる。   In the above, crystalline silicon is used for the photoelectric conversion layer 4, but the photoelectric conversion layer 4 is made of amorphous silicon such as amorphous silicon, amorphous silicon germanium, amorphous silicon carbide, or the like. A tandem-type thin film solar cell in which these amorphous silicon-based semiconductors and crystalline silicon are stacked can be obtained. In this case, the same effect can be obtained.

また、上記においては透明電極層3の光電変換層4側の表面から透光性絶縁基板2まで達する径の大きい凹部B4の底部に透明樹脂層21を埋め込まれている場合について説明したが、径の大きい凹部B4は実施の形態1の凹部B2のように透光性絶縁基板2まで達しない形態とすることも可能である。   In the above description, the transparent resin layer 21 is embedded in the bottom of the large-diameter concave portion B4 that reaches the translucent insulating substrate 2 from the surface of the transparent electrode layer 3 on the photoelectric conversion layer 4 side. The large concave portion B4 can be formed so as not to reach the translucent insulating substrate 2 like the concave portion B2 of the first embodiment.

また、上記においては、透明電極層3の表面に微小凹凸B3を形成した後に、径の大きい凹部B4内に透明樹脂層21を充填したが、透明樹脂層21を充填した後に微小凹凸B3を形成してもよい。   Moreover, in the above, after forming the micro unevenness | corrugation B3 in the surface of the transparent electrode layer 3, the transparent resin layer 21 was filled in the recessed part B4 with a large diameter, but after filling the transparent resin layer 21, the micro unevenness | corrugation B3 is formed. May be.

以上のように、本発明にかかる薄膜太陽電池は、テクスチャー構造を採用した薄膜太陽電池において光電変換効率および信頼性の高い薄膜太陽電池の実現に有用である。   As described above, the thin film solar cell according to the present invention is useful for realizing a thin film solar cell with high photoelectric conversion efficiency and reliability in a thin film solar cell employing a texture structure.

1 セル
2 透光性絶縁基板
3a 開口
3 透明電極層
4 光電変換層
5 裏面電極層
6 レジストパターン
10 薄膜太陽電池モジュール(モジュール)
13a 開口
16 レジストパターン
20 薄膜太陽電池モジュール(モジュール)
21 透明樹脂層
21a 感光性樹脂膜
22 透明導電層
B1 微小凹凸
B2 大きい凹部
B3 微小凹凸
B4 径の大きい凹部
D1 第1の溝
D2 第2の溝
D3 第3の溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cell 2 Translucent insulating substrate 3a Opening 3 Transparent electrode layer 4 Photoelectric conversion layer 5 Back surface electrode layer 6 Resist pattern 10 Thin film solar cell module (module)
13a opening 16 resist pattern 20 thin film solar cell module (module)
21 transparent resin layer 21a photosensitive resin film 22 transparent conductive layer B1 minute unevenness B2 large recess B3 minute unevenness B4 large diameter recess D1 first groove D2 second groove D3 third groove

Claims (12)

透光性絶縁基板上に、透明導電膜からなる第1電極層と、光電変換を行う光電変換層と、光を反射する導電膜からなる第2電極層と、をこの順で有する複数の薄膜太陽電池セルが配設されるとともに、隣接する前記薄膜太陽電池セル同士が電気的に直列接続された薄膜太陽電池であって、
前記透明導電膜は、前記光電変換層側の内径が1μm〜2μmであり、前記光電変換層側の表面から前記透光性絶縁基板側に向かって開口径が小さくなるように傾斜した側面を有する凹部が分散して形成され、該凹部が前記光電変換層により充填されていること、
を特徴とする薄膜太陽電池。
A plurality of thin films having a first electrode layer made of a transparent conductive film, a photoelectric conversion layer for performing photoelectric conversion, and a second electrode layer made of a conductive film for reflecting light in this order on a light-transmitting insulating substrate A thin-film solar cell in which solar cells are disposed and the adjacent thin-film solar cells are electrically connected in series,
The transparent conductive film has an inner diameter of 1 μm to 2 μm on the photoelectric conversion layer side, and has a side surface that is inclined so that an opening diameter decreases from the surface on the photoelectric conversion layer side toward the translucent insulating substrate side. The recesses are formed in a dispersed manner, and the recesses are filled with the photoelectric conversion layer;
A thin film solar cell characterized by
前記透明導電膜は、前記凹部の開口径よりも微細な凹凸形状を有する微細凹凸を前記光電変換層側の表面に有すること、
を特徴とする請求項1に記載の薄膜太陽電池。
The transparent conductive film has fine unevenness on the surface of the photoelectric conversion layer side having an uneven shape finer than the opening diameter of the recess,
The thin film solar cell according to claim 1.
前記凹部の深さが、前記透明導電膜の平均膜厚の30%以上であること、
を特徴とする請求項1に記載の薄膜太陽電池。
The depth of the recess is 30% or more of the average film thickness of the transparent conductive film;
The thin film solar cell according to claim 1.
前記凹部の前記透光性絶縁基板側の内部に、前記透明導電膜よりも光透過性の高い透明樹脂層が充填されていること、
を特徴とする請求項1に記載の薄膜太陽電池。
The inside of the concave portion on the light-transmissive insulating substrate side is filled with a transparent resin layer having higher light transmittance than the transparent conductive film,
The thin film solar cell according to claim 1.
前記透明樹脂層は、前記透明導電膜の面積の30%以上の領域に充填されていること、
を特徴とする請求項4に記載の薄膜太陽電池。
The transparent resin layer is filled in a region of 30% or more of the area of the transparent conductive film,
The thin film solar cell according to claim 4.
前記透明樹脂層が、前記透光性絶縁基板の屈折率または前記透光性絶縁基板と前記透明導電膜との間に形成される中間層の屈折率と、前記透明導電膜の屈折率との間の値の屈折率を有すること、
を特徴とする請求項4に記載の薄膜太陽電池。
The transparent resin layer has a refractive index of the translucent insulating substrate or a refractive index of an intermediate layer formed between the translucent insulating substrate and the transparent conductive film, and a refractive index of the transparent conductive film. Having a refractive index between values,
The thin film solar cell according to claim 4.
前記透光性絶縁基板の屈折率または前記透光性絶縁基板と前記透明導電膜との間に形成される中間層の屈折率が1.4〜1.5であり、
前記透明導電膜の屈折率が1.9〜2.0であり、
前記透明樹脂層の屈折率が1.5〜2.0であること、
を特徴とする請求項6に記載の薄膜太陽電池。
The refractive index of the translucent insulating substrate or the refractive index of the intermediate layer formed between the translucent insulating substrate and the transparent conductive film is 1.4 to 1.5,
The transparent conductive film has a refractive index of 1.9 to 2.0,
The refractive index of the transparent resin layer is 1.5 to 2.0,
The thin film solar cell according to claim 6.
透光性絶縁基板上に、透明導電膜からなる第1電極層と、光電変換を行う光電変換層と、光を反射する導電膜からなる第2電極層と、をこの順で有する複数の薄膜太陽電池セルが配設されるとともに、隣接する前記薄膜太陽電池セル同士が電気的に直列接続された薄膜太陽電池の製造方法であって、
前記第1電極層を形成する工程は、
前記透光性絶縁基板上に前記透明導電膜を形成する透明導電膜形成工程と、
前記透明導電膜の表面側の内径が1μm〜2μmであり、前記透明導電膜の表面から前記透光性絶縁基板側に向かって開口径が小さくなるように傾斜した側面を有する凹部を前記透明導電膜に形成する第1エッチングを前記透明導電膜に対して行う第1エッチング工程と、
前記凹部の開口径よりも微細な凹凸形状を有する微細凹凸を前記透明導電膜の表面に形成する第2エッチングを前記透明導電膜に対して行う第2エッチング工程と、
を含むことを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
A plurality of thin films having a first electrode layer made of a transparent conductive film, a photoelectric conversion layer for performing photoelectric conversion, and a second electrode layer made of a conductive film for reflecting light in this order on a light-transmitting insulating substrate A method for producing a thin-film solar cell in which solar cells are disposed and adjacent thin-film solar cells are electrically connected in series,
The step of forming the first electrode layer includes:
A transparent conductive film forming step of forming the transparent conductive film on the translucent insulating substrate;
An inner diameter on the surface side of the transparent conductive film is 1 μm to 2 μm, and a recess having a side surface inclined so that an opening diameter decreases from the surface of the transparent conductive film toward the translucent insulating substrate side is formed on the transparent conductive film. A first etching step of performing a first etching to be formed on the transparent conductive film;
A second etching step of performing, on the transparent conductive film, a second etching that forms fine irregularities on the surface of the transparent conductive film having an uneven shape that is finer than the opening diameter of the concave part;
The manufacturing method of the thin film solar cell characterized by including.
前記第1エッチング工程後、第2エッチング工程の前後において、前記凹部の前記透光性絶縁基板側の内部に、前記透明導電膜よりも光透過性の高い透明樹脂層を充填する透明樹脂層形成工程を有すること、
を特徴とする請求項8に記載の薄膜太陽電池の製造方法。
After the first etching step, before and after the second etching step, a transparent resin layer is formed in which the transparent resin layer having a light transmittance higher than that of the transparent conductive film is filled inside the concave portion on the light-transmissive insulating substrate side. Having a process,
The method for producing a thin-film solar cell according to claim 8.
前記透明樹脂層上を含む前記凹部の内部および前記透明導電膜上に、透明導電膜からなる接合層を形成する工程を有すること、
を特徴とする請求項9に記載の薄膜太陽電池の製造方法。
Having a step of forming a bonding layer made of a transparent conductive film on the inside of the recess including the transparent resin layer and on the transparent conductive film;
The method for producing a thin-film solar cell according to claim 9.
前記透明樹脂層形成工程では、
前記前記凹部の内部および前記透明導電膜上にポジ型の感光性を有する有機物材料膜を形成し、前記有機物材料膜に対して前記有機物材料膜の表面側から光を照射した後に現像処理を行って前記透明導電膜上の前記有機物材料膜を除去すること、
を特徴とする請求項9に記載の薄膜太陽電池の製造方法。
In the transparent resin layer forming step,
A positive photosensitive organic material film is formed inside the recess and on the transparent conductive film, and development processing is performed after the organic material film is irradiated with light from the surface side of the organic material film. Removing the organic material film on the transparent conductive film,
The method for producing a thin-film solar cell according to claim 9.
前記第1エッチング工程では、前記凹部の深さを前記透明導電膜の平均膜厚の30%以上とすること、
を特徴とする請求項8に記載の薄膜太陽電池の製造方法。
In the first etching step, the depth of the recess is 30% or more of the average film thickness of the transparent conductive film,
The method for producing a thin-film solar cell according to claim 8.
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