JP2011092481A - X線ct装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 24
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 210000001015 abdomen Anatomy 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000004980 dosimetry Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】 被検体を載置する載置台12に、被検体の体軸方向(z方向)の各位置におけるX線の強度を測定するX線強度測定手段14を内蔵した構成とする。これにより、被検体を実際にスキャンしたときに載置台12で測定された、z方向の大きさや形状が反映されたX線の強度に基づいて、より正確な被検体40の被曝線量の推定値を求めることができる。X線強度測定手段14は、例えば、電離箱や半導体によるX線センサ14aをz方向に複数配置したものとする。
【選択図】 図3
Description
Tomography Dose Index;CT線量指標)、これをスライス方向に積分したDLP値(Dose-length product for a
complete examination)等で表される。X線CT装置は、大きさが異なる2種類の規格化された線量測定用ファントム(phantom)、すなわち頭部用と腹部用のファントムを、所定の条件(X線管電圧、X線管電流、ガントリ(gantry)回転速度等を含む)下でスキャンしたときのCTDIw値を記憶している。そして、これらのCTDIw値を基に、設定されたスキャン条件、例えばX線管電圧、X線管電流、ガントリ回転速度、被検体の大きさ、撮影部位などの条件に応じたCTDIvol値やこのCTDIvol値をスライス方向にスキャン範囲分だけ積分したDLP値などを求める(例えば特許文献1参照)。
scan)で測定したCTDI値である。また、CTDI100,peripheralは、線量測定用ファントムの周辺部4箇所において、同様のX線検出プローブを挿入してシングルスキャンで測定したCTDI値の平均値である。線量測定用ファントムとしては、例えば、小児/頭部用に直径16〔cm〕のもの、腹部用に直径32〔cm〕のものを用意し、それぞれについてCTDIw値を求めておく。
sensor array)14を内蔵している。X線センサアレイ14の出力信号は、後述の制御コントローラ29を介して操作コンソール1に送られる。なお、クレードル12およびX線センサアレイ14の構造については、後ほど詳しく説明する。
Acquisition System)25と、X線コントローラ22,コリメータ23,DAS25の制御を行う回転部コントローラ26とが搭載される。支持部16は、制御信号などを操作コンソール1や撮影テーブル10と通信する制御コントローラ29を具備する。回転部15と支持部16とは、スリップリング(slip
ring)30を介して電気的に接続されており、回転部15と支持部16との間で、電力供給、データの入出力が行われる。
plate)で構成されている。クレードルパッド12bは、例えばクッション性を有する(cushioned)多孔質体等で構成されている。
diode)またはCCDセンサ(charge-coupled device sensor)とを用いたものであってもよい。
1a 画像再構成処理部
1b スキャン条件設定部
1c スカウトスキャンCTDI相当値算出部
1d 本スキャンCTDI相当推定値算出部
1e 本スキャンDLP相当推定値算出部
1f 制御部
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 モニタ
7 記憶装置
10 撮影テーブル
12 クレードル
12a クレードル本体
12b クレードルパッド
14 X線センサアレイ14
14a X線センサ
15 回転部
16 支持部
20 走査ガントリ
21 X線管
22 X線管コントローラ
23 コリメータ
24 X線検出器
25 データ収集装置(DAS)
26 回転部コントローラ
29 制御コントローラ
30 スリップリング
40 被検体
81 X線
100 X線CT装置
Claims (7)
- 被検体を載置する載置台と、
前記載置台に載置された被検体の体軸の周りを回転して該被検体にX線を照射するX線源と、
前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、
前記X線検出器の出力信号に基づいて画像を再構成する再構成手段とを備えたX線CT装置であって、
前記載置台に内蔵または付属されており、前記被検体の体軸方向の各位置における前記X線源から照射されたX線の強度を測定するX線強度測定手段を備えているX線CT装置。 - 前記被検体をスカウトスキャンするよう、前記X線源、前記X線検出器および前記載置台を制御する制御手段と、
本スキャンのスキャン条件を設定するスキャン条件設定手段と、
前記スカウトスキャン時に前記X線強度測定手段により測定された前記体軸方向の各位置におけるX線の強度と、前記設定されたスキャン条件とに基づいて、前記設定されたスキャン条件で本スキャンした場合における前記被検体の被曝線量の推定値を求める演算手段と、
前記求められた被曝線量の推定値を表示する表示手段とをさらに備えている請求項1に記載のX線CT装置。 - 前記スカウトスキャンは、ヘリカルスカウトスキャンである請求項2に記載のX線CT装置。
- 前記演算手段は、前記本スキャンでの前記被検体の前記体軸方向の所定の位置における所定のスライス厚当りの被曝線量の推定値と、前記本スキャンでの前記被検体の前記体軸方向の所定の範囲における被曝線量の推定値のうち少なくとも一方を求める請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記X線強度測定手段は、X線センサを前記体軸方向に複数個配置して成る請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記X線強度測定手段は、X線センサを前記体軸方向と該体軸方向に直交する水平方向とに2次元的に複数個配置して成る請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記X線センサは、電離箱、半導体、または、シンチレータおよびフォトダイオード若しくはCCDセンサにより構成されている請求項5または請求項6に記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009249995A JP2011092481A (ja) | 2009-10-30 | 2009-10-30 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009249995A JP2011092481A (ja) | 2009-10-30 | 2009-10-30 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011092481A true JP2011092481A (ja) | 2011-05-12 |
Family
ID=44110121
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009249995A Ceased JP2011092481A (ja) | 2009-10-30 | 2009-10-30 | X線ct装置 |
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2009
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