JP2011061767A - 固体撮像素子 - Google Patents

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Abstract

【課題】解像度を落とすことなく色再現を優先した撮像を可能にする。
【解決手段】6個のフォトダイオード(Rフィルタが設けられた画素1Rの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDB、Gフィルタが設けられ画素1Rの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDB、及び、Gフィルタが設けられ画素1Rの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDB)は、互いに異なる分光感度特性を有する。画素毎に、増幅トランジスタAMPが設けられる。各画素において、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBのそれぞれに対応して転送トランジスタTXA,TXBが設けられる。転送トランジスタTXA,TXBは、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの信号を同じ画素の増幅トランジスタAMPに転送する。
【選択図】図1

Description

本発明は、固体撮像素子に関するものである。
従来の一般的な固体撮像素子では、各画素はそれぞれ1つの光電変換部を有し、各画素上に3色(R,G,B)のいずれかの色のカラーフィルタが配置されている。この固体撮像素子によれば、各光電変換部からR,G,Bのいずれかの色信号が得られる。
これに対し、下記特許文献1に開示された固体撮像素子では、少なくとも一部の画素が、光入射方向に重なるように配置された2つ以上の光電変換部を有している。すなわち、この固体撮像素子では、半導体基板の深さ方向に少なくとも2つのPN接合部を設けた光電変換部を含む画素Aと、少なくとも1つのPN接合部を設けた光電変換部を含む画素Bと、前記画素A上に配置される第1の色フィルタと、前記画素B上に配置される第2の色フィルタと、前記画素Aの2つのPN接合部から第1の色信号及び第2の色信号を検出し、前記画素BのPN接合部から第3の色信号を検出する検出手段と、を有している。この固体撮像素子によれば、各光電変換部から第1、第2及び第3の色信号のいずれかが得られる。
特開2006−165362号公報
しかしながら、前述した従来のいずれの固体撮像素子においても、3色の色信号が得られるにすぎないので、色再現を高めるには限界があった。
色再現を高めるためには、前述したような固体撮像素子において、光電変換部の分光感度特性を4色以上に多色化すればよい。例えば、各画素がそれぞれ1つの光電変換部を有している固体撮像素子では、カラーフィルタを4色以上に多色化すればよい。しかしながら、この場合には、解像度が落ちてしまう。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、解像度を落とすことなく色再現を優先した撮像を行うことができる固体撮像素子を提供することを目的とする。
前記課題を解決するための手段として、以下の各態様を提示する。第1の態様による固体撮像素子は、互いに異なる分光感度特性を有する4つ以上の光電変換部と、前記4つ以上の光電変換部がN個(Nは、前記4つ以上の光電変換部の数よりも小さくかつ1以上である整数)のグループに分けられて、前記グループ毎に設けられた増幅部と、前記4つ以上の光電変換部のそれぞれに対応して設けられ、前記光電変換部で生じた信号を前記光電変換部の属するグループに設けられた前記増幅部へ転送する転送部と、を備えたものである。
第2の態様による固体撮像素子は、前記第1の態様において、同一の前記グループに属する複数の光電変換部は、隣り合う分光感度特性を有するものである。ここで、「隣り合う分光感度特性」とは、前記分光感度特性の山が隣り合っていることをいい、その山の一部同士が重複している場合も含む。
第3の態様による固体撮像素子は、前記第1又は第2の態様において、前記グループ毎に前記増幅部の入力部に設けられたフローティング容量部を備えたものである。
第4の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第3のいずれかの態様において、同一の前記グループに属する複数の光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層が、光入射方向に重なるように配置されたものである。
第5の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第4のいずれかの態様において、前記光電変換部の光入射側に、前記グループ毎に互いに異なる分光透過特性を有するカラーフィルタが配置されたものである。
第6の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第5のいずれかの態様において、前記4つ以上の光電変換部の数が6であり、前記Nが3であり、前記各グループに属する光電変換部の数が2であるものである。
第7の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第6のいずれかの態様において、前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部で生じた信号のそれぞれに応じた信号が前記増幅部から個別に出力される第1の動作モードと、前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部で生じた信号を加算した信号に応じた信号が前記増幅部から出力される第2の動作モードとが、動作モード選択信号に応答して選択的に行われるように、前記転送部を制御する制御部を、備えたものである。
第8の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第6のいずれかの態様において、前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部で生じた信号のそれぞれに応じた信号が前記増幅部から個別に出力される第1の動作モードと、前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部のうちの1つの光電変換部で生じた信号に応じた信号が前記増幅器から個別に出力されるとともに、当該複数の光電変換部のうちの2つ以上の光電変換部で生じた信号を加算した信号に応じた信号が前記増幅部から出力される第2の動作モードとが、動作モード選択信号に応答して選択的に行われるように、前記転送部を制御する制御部を、備えたものである。
第9の態様による固体撮像素子は、互いに異なる分光感度特性を有する4つ以上の光電変換部と、前記4つ以上の光電変換部がN個(Nは、前記4つ以上の光電変換部の数よりも小さくかつ3以上である整数)のグループに分けられて、前記グループ毎に当該グループに属する前記光電変換部の光入射側に設けられ、前記グループ毎に互いに異なる分光透過特性を有するカラーフィルタと、を備え、同一の前記グループに属する複数の光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層が、光入射方向に重なるように配置されたものである。
第10の態様による固体撮像素子は、前記第9の態様において、前記4つ以上の光電変換部の数が6であり、前記Nが3であり、前記各グループに属する光電変換部の数が2であるものである。
第11の態様による固体撮像素子は、前記第6又は第10の態様において、前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第1の条件、及び、前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側とは反対側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第2の条件の、両方の条件を満たすものである。
第12の態様による固体撮像素子は、前記第6又は第10の態様において、前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第1の条件、及び、前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側とは反対側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第2の条件のうち、少なくとも一方の条件を満たさないものである。
第13の態様による固体撮像素子は、前記第6、第10又は第12の態様において、前記N個のグループのうちの第1のグループに設けられた前記カラーフィルタは赤色カラーフィルタであり、前記N個のグループのうちの第2のグループに設けられた前記カラーフィルタは緑色カラーフィルタであり、前記N個のグループのうちの第3のグループに設けられた前記カラーフィルタは青色カラーフィルタであり、前記第1のグループに属する1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.4μmから0.6μmまでの範囲内であり、前記第1のグループに属する他の1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から2.1μmから2.3μmまでの範囲内であり、前記第2のグループに属する1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.2μmから0.4μmまでの範囲内であり、前記第2のグループに属する他の1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から1.2μmから1.4μmまでの範囲内であり、前記第3のグループに属する1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.1μmから0.3μmまでの範囲内であり、前記第3のグループに属する他の1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.8μmから1.0μmまでの範囲内であるものである。
前記第11乃至第13の態様において、電荷蓄積層の深さとは、電荷蓄積層の深さ方向の不純物濃度のピークの深さをいう。
第14の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第13のいずれかの態様において、前記4つ以上の光電変換部の出力にそれぞれ基づく各信号を互いに異なるゲインでそれぞれ増幅する手段を備えたものである。
第15の態様による固体撮像素子は、前記第1乃至第13のいずれかの態様において、前記4つ以上の光電変換部のうちの2つ以上の光電変換部の出力にそれぞれ基づく各信号を異なるタイミングで受ける垂直信号線と、前記垂直信号線の信号又はこれに応じた信号を増幅する可変ゲインアンプと、前記可変ゲインアンプのゲインを、前記可変ゲインアンプが増幅する信号が対応する光電変換部の分光感度特性に応じて制御するゲイン制御部と、を備えたものである。
本発明によれば、解像度を落とすことなく色再現を優先した撮像を行うことができる固体撮像素子を提供することができる。
本発明の第1の実施の形態による固体撮像素子の概略構成を示す回路図である。 図1に示す固体撮像素子の2×2個の画素を模式的に示す概略平面図である。 図2中のA−A’線に沿った断面を模式的に示す図である。 カラーフィルタの分光透過率を示す図である。 各画素の第1及び第2のフォトダイオードの素の分光感度特性のシミュレーション結果の一例を示す図である。 各画素の第1及び第2のフォトダイオードの分光感度特性の一例を示す図である。 図6中の隣り合う分光感度特性を加算することによって得た分光感度特性を示す図である。 本発明の第1の実施の形態による固体撮像素子の第1の動作モードを示すタイミングチャートである。 本発明の第1の実施の形態による固体撮像素子の第2の動作モードを示すタイミングチャートである。 本発明の第2の実施の形態による固体撮像素子の第3の動作モードを示すタイミングチャートである。 各画素の第1及び第2のフォトダイオードの素の分光感度特性の他のシミュレーション結果の他の例を示す図である。 各画素の第1及び第2のフォトダイオードの分光感度特性の他の例を示す図である。 本発明の第4の実施の形態による固体撮像素子の概略構成を示す回路図である。
以下、本発明による固体撮像素子について、図面を参照して説明する。
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態による固体撮像素子の概略構成を示す回路図である。本実施の形態による固体撮像素子は、CMOS型固体撮像素子として構成されている。
本実施の形態による固体撮像素子は、2次元状に配置された複数の画素1(2×2個の画素1のみを示す。)と、垂直走査回路2と、水平走査回路3と、画素1の各列ごとに設けられた垂直信号線5と、各垂直信号線5に接続された定電流源6と、画素1で光電変換された光情報を含む光信号を伝送する第1の水平信号線7Sと、前記光信号から差し引くべきノイズ成分を含む差分用信号としてのいわゆる暗信号を伝送する第2の水平信号線7Nと、差動出力アンプ8と、を備えている。
各画素1には、ベイヤー配列に従って、赤色カラーフィルタ、緑色カラーフィルタ及び青色カラーフィルタのいずれかが設けられている。図1では、当該画素に設けられたカラーフィルタの色を、符号R,G,Bとして示している。Rは赤色、Gは緑色、Bは青色である。なお、ベイヤー配列に限定されるものではなく、例えば、ストライプ配列等を採用してもよい。なお、各画素1をカラーフィルタの色毎に区別する場合には、赤色カラーフィルタが設けられている画素の符号を1R、緑色カラーフィルタが設けられている画素の符号を1G、青色カラーフィルタが設けられている画素の符号を1Bとする。
また、本実施の形態による固体撮像素子は、画素1の各列に対応して、前記光信号を蓄積する光信号蓄積容量CS、前記暗信号を蓄積する暗信号蓄積容量CN、光信号垂直転送トランジスタTS、暗信号垂直転送トランジスタTN、光信号水平転送トランジスタHS、及び、暗信号水平転送トランジスタHNを有している。なお、実際には、水平信号線7S,7Nをそれぞれ所定タイミングでリセットするための各トランジスタが設けられるが、それらのトランジスタの図示は省略している。
本実施の形態では、各画素1は、入射光に応じた電荷を生成し蓄積する第1及び第2の光電変換部としての第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBと、フローティングディフュージョンFDの電位に応じた信号を出力する増幅部としての増幅トランジスタAMPと、増幅トランジスタAMPの入力部に設けられたフローティング容量部としてのフローティングディフュージョンFDと、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBからフローティングディフュージョンFDにそれぞれ電荷を転送する第1及び第2の電荷転送部としての第1及び第2の転送トランジスタTXA,TXBと、フローティングディフュージョンFDの電位をリセットするリセット部としてのリセットトランジスタRESと、当該画素1を選択するための選択部としての選択トランジスタSELとを有している。
第1の転送トランジスタTXAのゲートは、行毎に、垂直走査回路2からの制御信号φTXAを供給する制御線に、接続されている。第2の転送トランジスタTXBのゲートは、行毎に、垂直走査回路2からの制御信号φTXBを供給する制御線に、接続されている。リセットトランジスタRESのゲートは、行毎に、垂直走査回路2からの制御信号φRESを供給する制御線に、接続されている。選択トランジスタSELのゲートは、行毎に、垂直走査回路2からの制御信号φSELを供給する制御線に、接続されている。図1において、Vddは電源電圧である。
垂直走査回路2は、画素1の行毎に、選択パルスφSEL、リセットパルスφRES並びに第1及び第2の転送パルスφTXA,φTXBをそれぞれ出力する制御部を構成している。また、水平走査回路3は、列毎に水平走査信号φH1,φH2を出力する。
図2は、図1に示す固体撮像素子の2×2個の画素1を模式的に示す概略平面図である。図2において、カラーフィルタ37及びマイクロレンズ38等の図示は省略している。図3は、図2中のA−A’線に沿った断面を模式的に示す図である。図3では、簡略化して画素1の主要部のみを示している。
本実施の形態では、N型シリコン基板31上にP型ウエル32が設けられている。P型ウエル32中に、フォトダイオードPDA,PDBなどの画素部における各素子が配置されている。
図2において、符号51〜56は、前述した各トランジスタの一部となっているN型不純物拡散領域である。符号61〜65は、各トランジスタのゲート電極である。なお、拡散領域54は電源電圧Vddが印加される電源拡散部である。符号51〜53は、フローティングディフュージョンFDを構成する拡散領域である。これらは、配線41により互いに接続されるとともに、増幅トランジスタAMPのゲート電極64に接続されている。図2において、42は選択パルスφSELの制御線、43はリセットパルスφRESの制御線、44は第1の転送パルスφTXAの制御線、45は第2の転送パルスφTXBの制御線である。
第1のフォトダイオードPDAは、P型ウエル32中の比較的浅い位置に設けられたN型の電荷蓄積層33で構成されている。第2のフォトダイオードPDBは、P型ウエル32中の比較的深い位置に設けられたN型の電荷蓄積層34で構成されている。電荷蓄積層33,34は、光入射方向(図3中の上下方向)に互いに重なるように配置されている。比較的波長の短い光は、主にシリコン表面に比較的近い位置(比較的浅い位置)で光電変換され、その電荷が第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33に蓄積される。比較的波長の長い短い光は、主にシリコン表面から比較的遠い位置で光電変換され、その電荷が第2のフォトダイオードPDBの電荷蓄積層34に蓄積される。P型ウエル32中には、電荷蓄積層34に蓄積された電荷をシリコン表面側に導くN型不純物拡散領域35が設けられている。第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33に蓄積された電荷は、第1の転送トランジスタTXAがオン状態とされることによってフローティングディフュージョンFDに転送される。第2のフォトダイオードPDBの電荷蓄積層34に蓄積された電荷は、第2の転送トランジスタTXBがオン状態とされることによって、フローティングディフュージョンFDに転送される。
第1の転送トランジスタTXAは、第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33をソース、フローティングディフュージョンFDの一部を構成する拡散領域51をドレインとしたMOSトランジスタである。第1の転送トランジスタTXAは、そのゲート電極61に印加される制御信号φTXAにより駆動される。また、第2の転送トランジスタTXBは、電荷蓄積層34および拡散領域35をソース、フローティングディフュージョンFDの一部を構成する拡散領域52をドレインとしたMOSトランジスタである。第2の転送トランジスタTXAは、そのゲート電極62に印加される制御信号φTXBにより駆動される。
第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBから第1及び第2の転送トランジスタTXA,TXBをそれぞれ介して別々に又は同時にフローティングディフュージョンFDに転送されてきた電荷は、フローティングディフュージョンFDで電圧に変換され、この電圧が増幅トランジスタAMPのゲート電極64に印加される。そして、増幅トランジスタAMPは、そのゲート電極64の電圧に応じた電気信号を出力する。
選択トランジスタSELは、拡散領域55をドレイン、拡散領域56をソースとするMOSトランジスタである。選択トランジスタSELは、オン状態にされることで、増幅トランジスタAMPの出力を垂直信号線5に出力する。すなわち、増幅トランジスタAMPと選択トランジスタSELによって、ソースフォロアによる読み出しが可能となっている。
リセットトランジスタRESは、電源拡散部54をドレイン、フローティングディフュージョンFDの一部を構成する拡散領域53をソースとするMOSトランジスタである。リセットトランジスタRESは、オン状態にされることで、フローティングディフュージョンFDに蓄積されている電荷をリセットする。
図3に示すように、P型ウエル32上には層間絶縁膜36が形成されている。層間絶縁膜36中に、前述した回路の配線を実現するための複数層の金属配線層が配置されている。図3では、配線41を構成する1つの層の金属配線層のみを示している。層間絶縁膜15上にカラーフィルタ37が形成され、更にその上にマイクロレンズ38が形成されている。これにより、マイクロレンズ38により集光された光が、カラーフィルタ37を経て、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBにより受光される。
カラーフィルタ37は、画素1Rでは赤色カラーフィルタとされ、画素1Gでは緑色カラーフィルタとされ、画素1Bでは青色カラーフィルタとされる。カラーフィルタ37の色以外については、いずれの画素1(1R,1G,1B)も同一の構造を有している。本実施の形態では、いずれの画素1(1R,1G,1B)の、第1のフォトダイオードPDAを構成する電荷蓄積層33の深さdaも、互いに同一である。電荷蓄積層33の深さdaは、電荷蓄積層33の深さ方向の不純物濃度のピークの、光入射側の半導体表面(ここでは、内部に電荷蓄積層33が配置されているシリコンの表面、より具体的にはP型ウエル32の表面)からの深さdaである。また、本実施の形態では、いずれの画素1(1R,1G,1B)の、第2のフォトダイオードPDBを構成する電荷蓄積層34の深さdbも、互いに同一である。電荷蓄積層34の深さdbは、電荷蓄積層34の深さ方向の不純物濃度のピークの、光入射側の半導体表面(ここでは、内部に電荷蓄積層34が配置されているシリコンの表面、より具体的にはP型ウエル32の表面)からの深さdbである。
図4において、CFRは赤色カラーフィルタの分光透過率の例、CFGは緑色カラーフィルタの分光透過率の例、CFBは青色カラーフィルタの分光透過率の例を示す。
図5は、各画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの素の(すなわち、カラーフィルタ37が設けられていない場合の)分光感度特性のシミュレーション結果の一例を示す図である。図5において、PDA’は第1のフォトダイオードPDAの素の分光感度特性、PDB’は第2のフォトダイオードPDBの素の分光感度特性を示す。このシミュレーションでは、第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33がシリコン表面から約0.2μmの深さに形成され、第2のフォトダイオードPDBの電荷蓄積層34がシリコン表面から約1.3μmの深さに形成されているものとしている。すなわち、このシミュレーションでは、いずれの画素1(1R,1G,1B)についても、da=約0.2μm、db=約1.3μmであるものとしている。
本実施の形態による固体撮像素子は、使用に際し、マイクロレンズ38の光入射側にIRカットフィルタ(図示せず)が配置される。このIRカットフィルタの分光透過率も加味した各画素1R,1G,1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの分光感度特性を、図6に示す。図6において、R[PDA]は画素1Rの第1のフォトダイオードPDAの分光感度、R[PDB]は画素1Rの第2のフォトダイオードPDBの分光感度、G[PDA]は画素1Gの第1のフォトダイオードPDAの分光感度、G[PDB]は画素1Gの第2のフォトダイオードPDBの分光感度、B[PDA]は画素1Bの第1のフォトダイオードPDAの分光感度、B[PDB]は画素1Bの第2のフォトダイオードPDBの分光感度を示す。これらの分光感度特性は、互いに異なっていることがわかる。例えば、図6のR[PDA]は、図4のCFRと図5のPDA’とIRカットフィルタの分光透過率とを重畳したものとなっている。この点は、図6のR[PDB],G[PDA],G[PDB],B[PDA],B[PDB]についても同様である。
図6において、PBA,PBB,PGA,PGB,PRA,PRBは、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]のピークをそれぞれ示している。
図7は、図6中の隣り合うR[PDA]及びR[PDB]を加算した分光感度R[A+B]、図6中の隣り合うG[PDA]及びG[PDB]を加算した分光感度G[A+B]、図6中の隣り合うB[PDA]及びB[PDB]を加算した分光感度B[A+B]を示す図である。
図8は、本実施の形態による固体撮像素子の第1の動作モードを示すタイミングチャートである。この第1の動作モードは、各画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの信号を個別に読み出す動作モードである。なお、図3中の各信号がハイレベルのときにその信号に対応するトランジスタがオンし、ローレベルときにオフする。(n)はn行目の信号であることを示している。これらの点は、後述する図9及び図10についても同様である。
本実施の形態では、メカニカルシャッタ(図示せず)が所定の露光期間だけ開かれて各画素1の第1のフォトダイオードPDA,PDBの電荷蓄積層33,34に電荷が蓄積された後、画素1が1行ずつ順次選択され、各1行について順次同じ動作が行われていく。図8は、n行目の画素1が選択され更にn+1行目の画素1が選択された場合の動作を示している。これらの点は、後述する図9及び図10についても同様である。
T1はn行目の画素1の選択期間、T2はn+1行目の画素1の選択期間である。期間T1において、φSEL(n)がハイレベルにされて、n行目の選択トランジスタSELがオンする。この点は、後述する図9及び図10についても同様である。
期間T1において、期間T11でn行目のリセットトランジスタRESがオフされた後に、期間T12でn行目のリセットトランジスタRESがオンされ、その後の期間T13でn行目のリセットトランジスタRESがオフされる。n行目のリセットトランジスタRESは、期間T11,T13以外の期間はオンされる。
期間T11中の期間T14において、n行目の第1の転送トランジスタTXAがオンされて、n行目の画素1の第1のフォトダイオードPDAの信号電荷がn行目の画素1のフローティングディフュージョンFDに転送される。期間T11における期間T14前の期間にφTNがオンされて暗信号が暗信号蓄積容量CNに蓄積される。期間T11における期間T14後の期間において、φTSがオンされてn行目の画素1の第1のフォトダイオードPDAの光信号が光信号蓄積容量CSに蓄積された後、φH1,φH2が順次ハイレベルにされて水平走査が行われ、前記光信号と前記暗信号との差分に応じた信号が差動出力アンプ8から外部に出力される。
期間T13中の期間T15において、n行目の第2の転送トランジスタTXBがオンされて、n行目の画素1の第2のフォトダイオードPDBの信号電荷がn行目の画素1のフローティングディフュージョンFDに転送される。期間T13における期間T15前の期間にφTNがオンされて暗信号が暗信号蓄積容量CNに蓄積される。期間T13における期間T15後の期間において、φTSがオンされてn行目の画素1の第2のフォトダイオードPDBの光信号が光信号蓄積容量CSに蓄積された後、φH1,φH2が順次ハイレベルにされて水平走査が行われ、前記光信号と前記暗信号との差分に応じた信号が差動出力アンプ8から外部に出力される。
n+1行目の画素1の選択期間T2及び他の行の画素2の選択期間についても、n行目の画素1の選択期間T1と同様の動作が行われる。なお、n+1行目の画素1の選択期間T2中の期間T31〜T35は、n行目の画素1の選択期間T2中の期間T11〜T15にそれぞれ対応している。
この第1の動作モードでは、以上の動作により、各画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの信号が、加算されることなく個別に読み出される。したがって、この第1の動作モードでは、図6中のR[PDA],R[PDB],G[PDA],G[PDB],B[PDA],B[PDB]の6種類の分光感度特性のそれぞれに対応した信号が、個別に読み出される。このため、この第1の動作モードでは、従来のようにR,G,Bの3種類の分光感度特性のそれぞれに対応した信号のみしか得ることができない場合に比べて、個々の信号レベルが比較的小さくなってSN比は低下するものの、多色化により色再現を高めることができる。すなわち、この第1の動作モードでは、色再現を優先した撮像を行うことができる。そして、いずれの画素1(1R,1G,1B)においても第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBが光入射方向に重なるように配置されているので、解像度を落とさずに、色再現を優先した撮像を行うことができる。
なお、本実施の形態では、前述したように、各画素1R,1G,1Bがベイヤー配列に従って配列されている。したがって、先の説明からわかるように、前記第1の動作モードでは、画素1Rと画素1Gとが交互に並んだ列(以下、「RG列」と呼ぶ。)の垂直信号線5には、分光感度R[PDA],R[PDB],G[PDA],G[PDB]にそれぞれ対応した信号(すなわち、画素1Rの第1のフォトダイオードPDA、画素1Rの第2のフォトダイオードPDB、画素1Gの第1のフォトダイオードPDA、画素1Gの第2のフォトダイオードPDBの出力にそれぞれ基づく信号)が異なるタイミングで供給される。また、前記第1の動作モードでは、画素1Gと画素1Bとが交互に並んだ列(以下、「GB列」と呼ぶ。)の垂直信号線5には、分光感度G[PDA],G[PDB],B[PDA],B[PDB]にそれぞれ対応した信号(すなわち、画素1Gの第1のフォトダイオードPDA、画素1Gの第2のフォトダイオードPDB、画素1Bの第1のフォトダイオードPDA、画素1Bの第2のフォトダイオードPDBの出力にそれぞれ基づく信号)が異なるタイミングで供給される。
図9は、本実施の形態による固体撮像素子の第2の動作モードを示すタイミングチャートである。この第2の動作モードは、各画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの信号を加算して読み出す動作モードである。
n行目の画素1の選択期間T1において、期間T21でn行目のリセットトランジスタRESがオフされる。期間T21中の期間T22において、n行目の第1及び第2の転送トランジスタTXA,TXBが同時にがオンされて、n行目の画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの電荷がn行目の画素1のフローティングディフュージョンFDに同時に転送される。これにより、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの信号電荷がそのフローティングディフュージョンFDで混合されて加算されることになる。期間T21における期間T22前の期間にφTNがオンされて暗信号が暗信号蓄積容量CNに蓄積される。期間T21における期間T22後の期間において、φTSがオンされてn行目の画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの加算された光信号が光信号蓄積容量CSに蓄積された後、φH1,φH2が順次ハイレベルにされて水平走査が行われ、前記光信号と前記暗信号との差分に応じた信号が差動出力アンプ8から外部に出力される。
2行目の画素1の選択期間T2及び他の行の画素2の選択期間についても、1行目の画素1の選択期間T1と同様の動作が行われる。
この第2の動作モードでは、以上の動作により、各画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの信号が、加算されて読み出される。したがって、この第2の動作モードでは、図7中のR[A+B],G[A+B],B[A+B]の3種類の分光感度特性のそれぞれに対応した信号が、読み出される。このため、この第1の動作モードでは、色再現を高めることはできないものの、個々の信号レベルが比較的大きくなってSN比が高まる。すなわち、この第2の動作モードでは、SN比を優先した撮像を行うことができる。
本実施の形態では、垂直走査回路2は、外部からの動作モード選択信号φSWに応答して、前記第1の動作モードと前記第2の動作モードとが選択的に行われるように、前述した各制御信号を送出する。
したがって、本実施の形態によれば、前記第1の動作モードによる解像度を落とすことなく色再現を優先した撮像と、前記第2の動作モードによるSN比を優先した撮像とを選択的に行うことができる。
例えば、動作モード選択信号φSWは、低感度撮影時に色再現優先の前記第1の動作モードが行われ、高感度撮影時にSN比優先の前記第2の動作モードが行われるように、外部から供給される。
この場合、そもそも入射光量が大きくSN比が問題にならない低感度撮影時には、色再現が高めることができる。また、入射光量が小さくSN比が問題となる高感度撮影時には、SN比を高めることができる。このように、高感度撮影時のSN比を高く保ちつつ、低感度撮影時の色再現を向上させることができる。
また、この場合、フローティングディフュージョンFDの容量を小さくして、同一電荷量に対する信号電圧のレベルを大きくしても、低感度撮影時には第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの電荷をそれぞれ個別に読み出すので、その信号電圧を飽和することなく取り扱うことができる。一方、高感度撮影時は元々信号電荷数が少ないので、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの電荷を加算して読み出しても、その信号電圧を飽和することなく取り扱うことができる。したがって、ダイナミックレンジを確保しつつ、フローティングディフュージョンFDの容量を小さくしてSN比をより高めることができる。
なお、先の説明からわかるように、本実施の形態による固体撮像素子は、互いに異なる分光感度特性を有するM個(本実施の形態では、M=6)のフォトダイオード(画素1Rの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDB、画素1Gの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDB、画素1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDB)を有している。前記M個のフォトダイオードがN個(本実施の形態では、N=3)のグループに分けられている。第1のグループが画素1Rの第1及び第2のフォトダイオードPDA、PDBである。第2のグループが画素1Gの第1及び第2のフォトダイオードPDA、PDBである。第3のグループが画素1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBである。同じグループの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBは、隣り合う分光感度特性を有している。
本発明では、これに限定されるものではなく、前記Mは4以上であればよい。前記NはMよりも小さい1以上の整数であればよい。あるグループのフォトダイオードと他のグループのフォトダイオードの数は必ずも同数である必要はない。前記グループは画素単位ではなくてもよい。例えば、1つのグループが、1つのフォトダイオードのみを有する1つ画素の当該フォトダイオードと、他の1つのフォトダイオードのみを有する1つの画素の当該フォトダイオードとからなっていてもよい。複数のフォトダイオードを有するグループにおいて、複数のフォトダイオードは必ずしも光入射方向に重なっている必要はない。
[第2の実施の形態]
図10は、本発明の第2の実施の形態による固体撮像素子の第3の動作モードを示すタイミングチャートである。
本実施の形態による固体撮像素子が前記第1の実施の形態による固体撮像素子と異なる所は、前記第1の実施の形態では、垂直走査回路2は動作モード選択信号φSWに応答して図8に示す第1の動作モードと図9に示す第2の動作モードとが選択的に行われるように各制御信号を送出するのに対し、本実施の形態では、垂直走査回路2は動作モード選択信号φSWに応答して図8に示す第1の動作モードと図10に示す第3の動作モードとが選択的に行われるように各制御信号を送出する点のみである。
図10は、図8において、n行目の選択期間T1において、期間T12でもn行目のリセットトランジスタRESをオフに維持するように変更し、期間T15の直前の暗信号のサンプリング(φTNのハイレベル)を行わないように変更し、他の行の選択期間おいても同様に変更したものである。
この図10に示す第3の動作モードでは、n行目の画素1の第2の転送トランジスタTXBがオンする前には、n行目の画素1のリセットトランジスタRESはオフを維持している。したがって、n行目の画素1の第2の転送トランジスタTXBがオンしたときには、期間T14で既にn行目のフローティングディフュージョンFDに転送されていたn行目の画素1の第1のフォトダイオードPDAの信号電荷に加えて、n行目の画素1の第2のフォトダイオードPDBの信号電荷が転送されて来て、両者の信号電荷がそのフローティングディフュージョンFDで混合されて加算されることになる。
したがって、この第3の動作モードでは、図8に示す第1の動作モードと異なり、期間T15の後で、期間T15の直後でサンプリングされたn行目の画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの加算された光信号と、期間T14の直前にサンプリングされた暗信号との差分に応じた信号が、差動出力アンプ8から外部に出力される。
また、この第3の動作モードでは、図8に示す第1の動作モードと同じく、期間T14の後で、期間T14の直後でサンプリングされたn行目の画素1の第1のフォトダイオードPDAの光信号と、期間T14の直前にサンプリングされた暗信号との差分に応じた信号が、差動出力アンプ8から外部に出力される。
そして、2行目の画素1の選択期間T2及び他の行の画素2の選択期間についても、1行目の画素1の選択期間T1と同様の動作が行われる。
この第3の動作モードでは、以上の動作により、各画素1の第1のフォトダイオードPDAの信号と、各画素1の第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの加算信号が読み出される。したがって、この第3の動作モードでは、図6中のR[PDA],G[PDA],B[PDA]及び図7中のR[A+B],G[A+B],B[A+B]の6種類の分光感度特性のそれぞれに対応した信号が、読み出される。このように、この第3の動作モードでは、前記第2の動作モードで得られるレベルの大きい図7中のR[A+B],G[A+B],B[A+B]の3種類の分光感度特性のそれぞれに対応した信号の他に、前記第1の動作モードで得られる図6中のR[PDA],G[PDA],B[PDA]の更に異なる3種類の分光感度特性のそれぞれに対応した信号が得られる。このため、この第3の動作モードと同様の高SN比化を図りつつ、色再現もある程度向上させることができる。すなわち、この第3の動作モードでは、SN比を優先した撮像を行いつつある程度色再現も向上させることができる。
本実施の形態によれば、前記第1の動作モードによる色再現を優先した撮像と、前記第3の動作モードによるSN比を優先した撮像とを選択的に行うことができる。例えば、動作モード選択信号φSWは、低感度撮影時に色再現優先の前記第1の動作モードが行われ、高感度撮影時にSN比優先の前記第3の動作モードが行われるように、外部から供給される。本実施の形態によっても前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。
なお、本発明では、垂直走査回路2は、動作モード選択信号φSWに応答して、前記第1乃至第3の動作モードが選択的に行われるように各制御信号を送出してもよい。
[第3の実施の形態]
本発明の第3の実施の形態による固体撮像素子が前記第1の実施の形態による固体撮像素子と異なる所は、以下に説明する点のみである。前記第1の実施の形態では、前述したように、いずれの画素1(1R,1G,1B)の電荷蓄積層33の深さdaも互いに同一であるという第1の条件、及び、いずれの画素1(1R,1G,1B)の電荷蓄積層34の深さdbも互いに同一であるという第2の条件の、両方の条件を満たしている。これに対し、本実施の形態では、前記第1の実施の形態に比べて、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]のピークPBA,PBB,PGA,PGB,PRA,PRB間の波長間隔が均等に近づくとともに、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]の山の大きさ(面積)が均等に近づくよう、前記第1の条件及び前記第2の条件のうちの少なくとも一方の条件を満たさないように、各画素1(1R,1G,1B)の深さda,dbが設定されている。
図11は、各画素1R,1G,1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの素の(すなわち、カラーフィルタ37が設けられていない場合の)分光感度特性のシミュレーション結果の他の例を示す図である。図11において、B’[PDA]は画素1Bの第1のフォトダイオードPDAの素の分光感度、B’[PDB]は画素1Bの第2のフォトダイオードPDBの素の分光感度、G’[PDA]は画素1Gの第1のフォトダイオードPDAの素の分光感度、G’[PDB]は画素1Gの第2のフォトダイオードPDBの素の分光感度、R’[PDA]は画素1Rの第1のフォトダイオードPDAの素の分光感度、R’[PDB]は画素1Rの第2のフォトダイオードPDBの素の分光感度である。
このシミュレーションでは、画素1Bの第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33の深さdaが0.2μm、画素1Bの第2のフォトダイオードPDBの電荷蓄積層34の深さdbが0.9μm、画素1Gの第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33の深さdaが0.3μm、画素1Gの第2のフォトダイオードPDBの電荷蓄積層34の深さdbが1.3μm、画素1Rの第1のフォトダイオードPDAの電荷蓄積層33の深さdaが0.5μm、画素1Rの第2のフォトダイオードPDBの電荷蓄積層34の深さdbが2.2μmであるものとした。
図12は、各画素1R,1G,1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの素の分光感度特性が図11に示す通りである場合において、図6の場合と同じIRカットフィルタの分光透過率も加味した各画素1R,1G,1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの分光感度特性を、図6に示す。図12中の符号の意味は図6中の符号の意味と同一である。
図12では、図11と比較して、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]のピークPBA,PBB,PGA,PGB,PRA,PRB間の波長間隔がかなり均等に近づいているとともに、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]の山の大きさがかなり均等に近づいている。
よって、電荷蓄積層33,34を形成する際のイオン注入時の誤差や熱拡散時の誤差などの製造誤差を考慮すると、本実施の形態では、画素1Bの深さdaを0.1μmから0.3μmまでの範囲内、画素1Bの深さdbを0.8μmから1.0μmまでの範囲内、画素1Gの深さdaを0.2μmから0.4μmまでの範囲内、画素1Gの深さdbを1.2μmから1.4μmまでの範囲内、画素1Rの深さdaを0.4μmから0.6μmまでの範囲内、画素1Rの深さdb0.4μmから0.6μmまでの範囲内に設定することが好ましい。もっとも、各画素1R,1G,1Bの深さda,dbは必ずしもこれらの範囲に限定されるものではない。
本実施の形態によっても、前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。また、本実施の形態によれば、前記第1の実施の形態に比べて、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]のピークPBA,PBB,PGA,PGB,PRA,PRB間の波長間隔が均等に近づくので、色再現がより向上する。また、本実施の形態によれば、前記第1の実施の形態に比べて、分光感度B[PDA],B[PDB],G[PDA],G[PDB],R[PDA],R[PDB]の山の大きさが均等に近づくので、各色のフォトダイオードで生成される最大電荷量の差が小さくなる。このため、本実施の形態によれば、後段の信号処理でゲインをかける必要がなくなり、前記第1の実施の形態と比べて、SN比を高くできる。
なお、本発明では、前記第1の実施の形態を変形して本実施の形態を得たのと同様の変形を、前記第2の実施の形態に適用してもよい。
[第4の実施の形態]
図13は、本発明の第4の実施の形態による固体撮像素子の概略構成を示す回路図である。図13において、図1中の要素と同一又は対応する要素には同一符号を付し、その重複する説明は省略する。
本実施の形態による固体撮像素子が前記第1の実施の形態による固体撮像素子と異なる所は、各垂直信号線5と、対応する光信号垂直転送トランジスタTS及び暗信号垂直転送トランジスタTNとの間に、いわゆるカラムアンプとして、垂直信号線5の信号を増幅する可変ゲインアンプ71が追加されている点と、これらの可変ゲインアンプ71のゲインを制御するゲイン制御部としてのゲイン制御回路72が追加されている点のみである。
本実施の形態では、可変ゲインアンプ71の入力部に垂直信号線5が直接に接続され、可変ゲインアンプ71が垂直信号線5の信号を増幅するようになっている。もっとも、可変ゲインアンプ71の入力部と垂直信号線5との間に信号処理回路(例えば、前置増幅器等)を適宜設け、可変ゲインアンプ71が垂直信号線5の信号に対応する信号を増幅するようにしてもよい。
ゲイン制御回路72は、可変ゲインアンプ71のゲインを、可変ゲインアンプ71が増幅する信号が対応する光電変換部の分光感度特性に応じて、増幅後の各信号の最大レベルが均等に近づくように制御する。本実施の形態では、ベイヤー配列が採用され、RG列同士及びGB列同士では同じ行の画素1の色は同一であるが、RG列とGB列とでは同じ行の画素1の色は異なる。このため、本実施の形態では、ゲイン制御回路72は、RG列の可変ゲインアンプ71とGB列の可変ゲインアンプ71とで異なるゲインに制御し得るように、RG列の可変ゲインアンプ71にはゲイン制御信号φGCRGを供給する一方、GB列の可変ゲインアンプ71にはゲイン制御φGCRGと独立したゲイン制御信号φGCGBを供給する。なお、全てのRG列の可変ゲインアンプ71には同時に同じゲイン制御信号φGCRGを供給し、全てのGB列の可変ゲインアンプ71には同時に同じゲイン制御信号φGCGBを供給すればよい。本実施の形態では、可変ゲインアンプ71及びゲイン制御回路72によって、画素1R,1G,1Bの第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBの出力に基づく各信号を互いに異なるゲインでそれぞれ増幅する手段を構成している。
具体的には、本実施の形態では、ゲイン制御回路72は、前述した図8に示す第1の動作モードにおいて、次のようにゲイン制御信号φGCRG,φGCGBを供給する。ゲイン制御回路72は、期間T11(少なくともその期間中の信号サンプリング期間(φTNのハイレベル期間及びφTSのハイレベル期間)。この点は、後述する期間T13,T31,T33についても同様。)において、分光感度R[PDA]に応じてRG列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCRGを供給するとともに、分光感度G[PDA]に応じてGB列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCGBを供給する。ゲイン制御回路72は、期間T13において、分光感度R[PDB]に応じてRG列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCRGを供給するとともに、分光感度G[PDB]に応じてGB列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCGBを供給する。ゲイン制御回路72は、期間T31において、分光感度G[PDA]に応じてRG列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCRGを供給するとともに、分光感度B[PDA]に応じてGB列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCGBを供給する。ゲイン制御回路72は、期間T33において、分光感度G[PDB]に応じてRG列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCRGを供給するとともに、分光感度B[PDB]に応じてGB列の可変ゲインアンプ71の増幅後の最大信号レベルが前記所定レベルに近づくようなゲインに制御するためのゲイン制御信号φGCGBを供給する。
なお、本実施の形態では、ゲイン制御回路72は、前記第2の動作モードにおいては、全ての可変ゲインアンプ71のゲインが常に一定の値のゲインとなるように制御してもよいし、適宜のタイミングで各可変ゲインアンプ71のゲインを異なる値のゲインに制御してもよい。
本実施の形態によっても、前記第1の実施の形態と同様の利点が得られる。また、本実施の形態によれば、各色のフォトダイオードで生成される最大電荷量の差が存在しても、可変ゲインアンプ71の増幅後の各色の信号の最大レベルの差が小さくなる。このため、本実施の形態によれば、後段の信号処理でゲインをかける必要がなくなり、前記第1の実施の形態と比べて、SN比を高くする事ができる。
なお、前記第1の実施の形態を変形して本実施の形態を得たのと同様の変形を、前記第2及び第3の実施の形態に適用してもよい。その変形を前記第2の実施の形態に適用する場合、前記第3の動作モードにおいては、全ての可変ゲインアンプ71のゲインが常に一定の値のゲインとなるように制御してもよいし、適宜のタイミングで各可変ゲインアンプ71のゲインを異なる値のゲインに制御してもよい。
以上、本発明の各実施の形態及びその変形例について説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。
例えば、前記各実施の形態では、各フォトダイオードの分光特性を変えるために、カラーフィルタ37の色の相違、及び、フォトダイオードを構成する電荷蓄積層の深さを、両方とも利用して変えているが、それらのいずれか一方のみを利用して変えることも可能である。例えば、互いに第1乃至第4の分光感度特性を有する4種類のフォトダイオードは、各フォトダイオードを構成する電荷蓄積層を深さは同じだが平面方向の異なる位置に配置し、各フォトダイオードの光入射側に、互いに異なる第1乃至第4の色のカラーフィルタをそれぞれ配置することによって得ることができる。
また、前記各実施の形態では、各画素1において、第1及び第2のフォトダイオードPDA,PDBに対して共通して、1組の増幅トランジスタAMP、リセットトランジスタRES及び選択トランジスタSELが設けられている。しかし、本発明は、これに限定されるものではなく、例えば、各画素1において、第1のフォトダイオードPDA用のそれらの組と第2のフォトダイオードPDB用のそれら組とを別々に設けてもよい。
1,1R,1G,1B 画素
2 垂直走査回路
33,34 電荷蓄積層
37 カラーフィルタ
71 可変ゲインアンプ
72 ゲイン制御回路
PDA,PDB フォトダイオード
AMP 増幅トランジスタ
RES リセットトランジスタ
TXA,TXB 転送トランジスタ
SEL 選択トランジスタ
FD フローティングディフュージョン

Claims (15)

  1. 互いに異なる分光感度特性を有する4つ以上の光電変換部と、
    前記4つ以上の光電変換部がN個(Nは、前記4つ以上の光電変換部の数よりも小さくかつ1以上である整数)のグループに分けられて、前記グループ毎に設けられた増幅部と、
    前記4つ以上の光電変換部のそれぞれに対応して設けられ、前記光電変換部で生じた信号を前記光電変換部の属するグループに設けられた前記増幅部へ転送する転送部と、
    を備えたことを特徴とする固体撮像素子。
  2. 同一の前記グループに属する複数の光電変換部は、隣り合う分光感度特性を有することを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。
  3. 前記グループ毎に前記増幅部の入力部に設けられたフローティング容量部を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載の固体撮像素子。
  4. 同一の前記グループに属する複数の光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層が、光入射方向に重なるように配置されたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の固体撮像素子。
  5. 前記光電変換部の光入射側に、前記グループ毎に互いに異なる分光透過特性を有するカラーフィルタが配置されたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の固体撮像素子。
  6. 前記4つ以上の光電変換部の数が6であり、前記Nが3であり、前記各グループに属する光電変換部の数が2であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の固体撮像素子。
  7. 前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部で生じた信号のそれぞれに応じた信号が前記増幅部から個別に出力される第1の動作モードと、前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部で生じた信号を加算した信号に応じた信号が前記増幅部から出力される第2の動作モードとが、動作モード選択信号に応答して選択的に行われるように、前記転送部を制御する制御部を、備えたことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の固体撮像素子。
  8. 前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部で生じた信号のそれぞれに応じた信号が前記増幅部から個別に出力される第1の動作モードと、前記4つ以上の前記光電変換部のうちの複数の光電変換部が属するグループについて、当該複数の光電変換部のうちの1つの光電変換部で生じた信号に応じた信号が前記増幅器から個別に出力されるとともに、当該複数の光電変換部のうちの2つ以上の光電変換部で生じた信号を加算した信号に応じた信号が前記増幅部から出力される第2の動作モードとが、動作モード選択信号に応答して選択的に行われるように、前記転送部を制御する制御部を、備えたことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の固体撮像素子。
  9. 互いに異なる分光感度特性を有する4つ以上の光電変換部と、
    前記4つ以上の光電変換部がN個(Nは、前記4つ以上の光電変換部の数よりも小さくかつ3以上である整数)のグループに分けられて、前記グループ毎に当該グループに属する前記光電変換部の光入射側に設けられ、前記グループ毎に互いに異なる分光透過特性を有するカラーフィルタと、
    を備え、
    同一の前記グループに属する複数の光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層が、光入射方向に重なるように配置されたことを特徴とする固体撮像素子。
  10. 前記4つ以上の光電変換部の数が6であり、前記Nが3であり、前記各グループに属する光電変換部の数が2であることを特徴とする請求項9記載の固体撮像素子。
  11. 前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第1の条件、及び、前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側とは反対側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第2の条件の、両方の条件を満たすことを特徴とする請求項6又は10記載の固体撮像素子。
  12. 前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第1の条件、及び、前記4つ以上の光電変換部のうち自身が属するグループにおいて自身を構成する電荷蓄積層が光入射側とは反対側に配置された3つの光電変換部について、当該3つの光電変換部をそれぞれ構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの前記深さが互いに同一であるという第2の条件のうち、少なくとも一方の条件を満たさないことを特徴とする請求項6又は10記載の固体撮像素子。
  13. 前記N個のグループのうちの第1のグループに設けられた前記カラーフィルタは赤色カラーフィルタであり、
    前記N個のグループのうちの第2のグループに設けられた前記カラーフィルタは緑色カラーフィルタであり、
    前記N個のグループのうちの第3のグループに設けられた前記カラーフィルタは青色カラーフィルタであり、
    前記第1のグループに属する1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.4μmから0.6μmまでの範囲内であり、
    前記第1のグループに属する他の1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から2.1μmから2.3μmまでの範囲内であり、
    前記第2のグループに属する1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.2μmから0.4μmまでの範囲内であり、
    前記第2のグループに属する他の1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から1.2μmから1.4μmまでの範囲内であり、
    前記第3のグループに属する1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.1μmから0.3μmまでの範囲内であり、
    前記第3のグループに属する他の1つの光電変換部を構成する電荷蓄積層の、光入射側の半導体表面からの深さは、前記半導体表面から0.8μmから1.0μmまでの範囲内である、
    ことを特徴とする請求項6、10又は12記載の固体撮像素子。
  14. 前記4つ以上の光電変換部の出力にそれぞれ基づく各信号を互いに異なるゲインでそれぞれ増幅する手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至13のいずれかに記載の固体撮像素子。
  15. 前記4つ以上の光電変換部のうちの2つ以上の光電変換部の出力にそれぞれ基づく各信号を異なるタイミングで受ける垂直信号線と、
    前記垂直信号線の信号又はこれに応じた信号を増幅する可変ゲインアンプと、
    前記可変ゲインアンプのゲインを、前記可変ゲインアンプが増幅する信号が対応する光電変換部の分光感度特性に応じて制御するゲイン制御部と、
    を備えたことを特徴とする請求項1乃至13のいずれかに記載の固体撮像素子。
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