JP2011043508A - 光電子工学的像拡大システム - Google Patents
光電子工学的像拡大システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011043508A JP2011043508A JP2010203309A JP2010203309A JP2011043508A JP 2011043508 A JP2011043508 A JP 2011043508A JP 2010203309 A JP2010203309 A JP 2010203309A JP 2010203309 A JP2010203309 A JP 2010203309A JP 2011043508 A JP2011043508 A JP 2011043508A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- image
- infrared
- lens
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 58
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N (fluoren-9-ylideneamino) n-naphthalen-1-ylcarbamate Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C1=NOC(=O)NC1=CC=CC2=CC=CC=C12 PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 6
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims description 5
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 3
- PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M thallium(i) bromide Chemical compound [Tl]Br PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 3
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 claims 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 abstract description 18
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 59
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 238000005079 FT-Raman Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 4
- 238000010865 video microscopy Methods 0.000 description 4
- 238000004971 IR microspectroscopy Methods 0.000 description 3
- 238000001210 attenuated total reflectance infrared spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000007431 microscopic evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 230000003678 scratch resistant effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 241000238631 Hexapoda Species 0.000 description 1
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000004624 confocal microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001634 microspectroscopy Methods 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- -1 organic substances Chemical class 0.000 description 1
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 description 1
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0008—Microscopes having a simple construction, e.g. portable microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
【解決手段】この拡大システムは、見ようとする物体を照射する光源(38、39)、レンズ(31)および照射された物体からの光を受ける光検出器のアレイ(32)からつくられた小型化された光電子拡大モジュール(MOM)、MOMからの信号を受取る電子回路(34)、該電子回路からの拡大された信号を受取り像を表示するビデオのモニター(35)を含んでいる。この光電子工学的像拡大システムは、観測するのに歴史的な複式顕微鏡または特殊な光学的観察システムを必要としたような小さい物体または物体の小さい特徴を観測することができる。
【選択図】図3
Description
本発明は小さい物体または物体の極めて小さい特徴を観察し、該物体または特徴を特性化するという工業、商業および教育の分野において常に増加し続けている要求に関する。歴史的にはこのような観察は複式顕微鏡、即ち特殊化された光学観測システムによって行なわれてきた。
Leeuwenhoekは1700年頃単一レンズ顕微鏡を用いて微生物学の基礎を築いた。彼のガラス玉は倍率が266倍であった。複式顕微鏡はその50年前に既に発見されていた。Leeuwenhoekの単一レンズ顕微鏡は複式顕微鏡に比べ高い分解能と良質な品質をもった像を与えたが、時の流れには勝てなかった。対物レンズと接眼レンズをもつシステムの複式顕微鏡は近代的なすべての光学顕微鏡の標準になった。複式顕微鏡が成功した主な理由は取り扱い易さであった。Leeuwenhoekの顕微鏡を使用するためには、試料と顕微鏡とを眼の極めて近くに置かなければならない。そのためにLeeuwenhoekの簡単な顕微鏡は使用が難しくなり、多くの場合殆ど使用不可能になる。何世紀かに亙って複式顕微鏡は改良され、機能も強化されてきたが、大部分の場合像生成面に対し比較的長い距離(少なくとも160mm)を保って対物レンズを使用し、接眼レンズで第2段階の拡大を行なって人の眼に像を提示するというものであった。
試料台に載せなければならないが、顕微鏡を使用する誰でもが自分の眼に対し焦点を合わせることができるようにするためには機械的な装置が必要である。矯正用の眼鏡をかけている人は接眼レンズを使うことが困難なことが多い。特殊な「眼点の高い」接眼レンズが必要な場合もあろう。
なされた。1953年には最初の市販用の赤外線顕微分光計のアクセサリーが製造された(Coats等、非特許文献4)。しかしフーリエ変換赤外(FT−IR)分光法が開発されるまで赤外線顕微分光法は実用的な技術にはならなかった。FT−IRに対する最初の顕微鏡アクセサリーは1983年に導入された。これらのアクセサリーの顕微鏡の設計は像を生成させそのスペクトルの測定を行なうための複式光学顕微鏡の一般的な技術および設計に従っている。
本発明は小型化された光電子工学的像拡大システム、即ち拡大の一部が1個またはそれ以上のレンズまたは他の光学要素によって行なわれ、残りの部分の拡大は電子的なスケーリング・システムによって行なわれる拡大された物体の像をつくるシステムに関する。この小型化された光電子工学的なシステムは、可変焦点距離をもつズームレンズのような一つまたはそれ以上のレンズ系(本明細書において「レンズ」という言葉は単一レンズ、および多数のレンズを備えたレンズ系、例えば複合レンズおよびズームレンズの両方を含むものとする)、ソリッド・ステートの光検出器のアレイ、および電子的な表示装置、例えばテレビジョン、ビデオ・モニターまたはコンピュータのモニター・スクリーンに入力を与える電子回路を具備している。レンズまたはレンズ系は照射されたまたは発光している物体、またはその一部の拡大された実像を直接小さいソリッド・ステートの光検出器の上に投影し、該光検出器はその上に投影された拡大された実像を表す電気信号を発生する。この光学的な像は次いで電子的に拡大され、表示装置のスクリーンに表示される。検出器上の像の焦点はスクリーンを見ているすべての人に対して同じである。スクリーン上で像を見ることは便宜上のことであり、像を見る人は矯正用の眼鏡をかけていることができる。
る倍率対光学的な倍率の比は一般に約1.5:1〜30:1であり、典型的には約4:1〜約10;1である。
図1は光学的に拡大した像を直接見るために使用する従来の複合光学顕微鏡の主要素を表す。従来の複合光学顕微鏡は、光源1、物体4を照射するために光を向ける集光レンズ3に光を向ける鏡2から成る。対物レンズ5は照射された物体の実像6を接眼レンズ7に投影し、目8は虚像9を見、そして目のレンズ10は網膜17上に物体の実像11を形成する。
1例である。
は、レンズは2.4マイクロメーターの分解能の像を作成しなければならない。これはレンズの開口数(NA)がd=波長/NA(ここでdは検出できる分離の最小距離である)のアッベ分離基準(Abb resolution criteria)を満たさなければならない。可視光について、この関係はN=(0.5E−3)/dであり、これはこの例ではd=2.4E−3そしてNA=0.208である。
で利用可能である。従来の1/4インチカメラは、約3.96mm水平(H)×約2.79mm垂直(V)の寸法のアレイを有する。ビデオモニターのスクリーンサイズは、5から20インチの範囲であり、そしてホームビデオスクリーンは最高48インチ幅で利用可能である。この電子スケーリングは大変高い。現在ではこの電子スケーリングの多くが、分解能がピクセルのサイズおよびモニタースクリーンの分解能に限定される点で「空の倍率(empty magnification)」である。空の倍率は詳細な分解を越えて広がる拡大であり;画像は大きいが新たに詳細を明らかにすることはない。現在のビデオ技術は分解能を限定し、したがって本発明の小型光−電子拡大装置の実際の全倍率は500以下である。しかし高い鮮明度のTVの開発、そして将来のビデオ技術の進歩により、倍率値は光学顕微鏡の光学回折限界にまで上がり、そして1,000以上の倍率が達成可能となるだろう。
サンプル区分に配置された本発明の小型化された光−電子拡大システムを表す該略図である。図7を参照にして、レーザー光線70は非球面の鏡要素71中の小さい開口を通って進み、そしてガラス筒73中に含まれるサンプル72に入射する。レーザー輻射70はラマン散乱であり、そして散乱した輻射74は非球面の鏡71により集められる。この鏡はラマン散乱輻射をフーリエ−変換分光計75に向ける。レンズ76、固体素子光検出器アレイ77およびカメラ電子機器78は、MOMモジュール79を構成する。この電子画像はビデオ−モニター701に送られてサンプルの拡大された画像を表示する。このカメラ用の電力は電源702により提供される。鏡71、サンプル73、サンプル容器72、MOM モジュール79はすべてFT−ラマン分光計のサンプル区分(703)に含まれる。
それらからの不必要な限定を意味していない。さらに記載および具体的説明は例であり、そして前記特許請求の範囲で定義した本発明は示し、そして記載した詳細に限定されない。
Claims (8)
- (a)試料と接触するようにつくられた表面をもち、スペクトルの測定を行なうための第1の光路および該試料を見るための第2の光路をもつ内部反射素子、
(b)一つまたはそれ以上の光検出器のアレイの上に該試料の拡大された像をつくるように設計され構成され位置しているレンズ、および
(c)該光検出器のアレイ、および該試料のさらに拡大された像を電子的表示装置の上に表示または記録するための装置を有する電子的スケーリング装置、を具備し、
該試料から該表示装置への像の拡大はその少しの部分が該レンズによってつくられ、該試料から該表示装置への像の拡大の、該少しの部分より大きい多くの部分は該電子的スケーリング装置によってつくられ、汎用のFT−IR分光計の試料室内に装着できるような大きさになっていることを特徴とする赤外スペクトル分析用光電子装置。 - 該内部反射素子は該表面を規定するダイアモンドの層、および第2の赤外線透過材料から成る支持層を備えていることを特徴とする請求項1記載の赤外スペクトル分析用光電子装置。
- 該第2の赤外線透過材料から成る支持層はセレン化亜鉛またはKRS−5から成っていることを特徴とする請求項2記載の赤外スペクトル分析用光電子装置。
- (a)赤外線および可視光の両方の輻射エネルギーに対して透明な高い屈折率をもつ材料から成る内部反射素子であって、該素子は試料と接触するようにつくられた表面をもち、スペクトルの測定を行なうための第1の光路および該試料を見るための第2の光路をもつ内部反射素子、
(b)レンズおよび一つまたはそれ以上の光検出器のアレイを具備し、該レンズは該第2の光路に沿い該内部反射素子を通して試料の上に焦点を結ぶように、また光検出器のアレイの上に試料の拡大された実像をつくるように設計され構成され且つ位置しており、該光検出器は該拡大された実像を表す電気信号をつくるように設計され構成され、25〜100mmの高さを有する大きさにつくられている小型化された光電子工学的像拡大モジュール、
(c)電子的表示装置、および
(d)該電気信号のスケーリングを行ない該表示装置の上に該試料のさらに拡大された像をつくるように設計され構成された電子的像スケーリング装置、
を具備していることを特徴とする赤外スペクトル分析用光電子装置。 - スペクトル分析を行なうためのフーリエ変換赤外分光計であって、
(a)赤外線および可視光の両方の輻射エネルギーに対して透明な高い屈折率をもつ材料から成る内部反射素子であって、該素子は試料と接触するようにつくられた表面をもち、スペクトルの測定を行なうための第1の光路および該試料を見るための第2の光路をもつ内部反射素子、
(b)赤外線輻射エネルギーの光源、該赤外線輻射エネルギーのビームの焦点を該試料の上に当て、赤外線輻射エネルギーを集め、該エネルギーを赤外線輻射エネルギーの検出器に集中させるように設計され構成された第1の光学系、および該検出器からの電気信号を処理し赤外スペクトルのデータを生成するように設計され構成された電子回路を具備し、ここで該検出器は該内部反射素子を出る赤外線輻射エネルギーの強度に比例した電気信号を生成するように設計され構成されているスペクトル分析システム、および
(c)該分光計の試料室の内部に位置した小型化された光電子工学的像拡大モジュールであって、該モジュールはレンズおよび一つまたはそれ以上の光検出器のアレイを具備し、該レンズは該第2の光路に沿い該内部反射素子を通して試料をみるようにでき且つ一つまたはそれ以上の該光検出器のアレイの上に試料の拡大された実像をつくるように設計さ
れ構成され且つ位置しており、該光検出器は該拡大された実像を表す電気信号を生成するように設計され構成されている光電子工学的像拡大モジュール、電子的表示装置および該電気信号のスケーリングを行ない該表示装置の上に該試料のさらに拡大された像をつくるように設計され構成された電子的像スケーリング装置を備える光学観測システム、
を具備し、
該試料から該表示装置への像の拡大はその少しの部分が該レンズによってつくられ、該試料から該表示装置への像の拡大の、該少しの部分より大きな多くの部分は該電子的スケーリング装置によってつくられることを特徴とするフーリエ変換赤外分光計。 - 該内部反射素子はダイアモンド、セレン化亜鉛またはKRS−5を含んでいることを特徴とする請求項5記載のフーリエ変換赤外分光計。
- 該表面を規定するダイアモンドの層、および第2の赤外線透過材料から成る支持層を備えていることを特徴とする請求項5記載のフーリエ変換赤外分光計。
- 該第2の赤外線透過材料から成る支持層はセレン化亜鉛またはKRS−5から成っていることを特徴とする請求項7記載のフーリエ変換赤外分光計。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11217298P | 1998-12-14 | 1998-12-14 | |
US60/112,172 | 1998-12-14 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000588624A Division JP2002532726A (ja) | 1998-12-14 | 1999-12-13 | 光電子工学的像拡大システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011043508A true JP2011043508A (ja) | 2011-03-03 |
JP5337774B2 JP5337774B2 (ja) | 2013-11-06 |
Family
ID=22342465
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000588624A Pending JP2002532726A (ja) | 1998-12-14 | 1999-12-13 | 光電子工学的像拡大システム |
JP2010203309A Expired - Lifetime JP5337774B2 (ja) | 1998-12-14 | 2010-09-10 | 光電子工学的像拡大システム |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000588624A Pending JP2002532726A (ja) | 1998-12-14 | 1999-12-13 | 光電子工学的像拡大システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1159640A4 (ja) |
JP (2) | JP2002532726A (ja) |
AU (1) | AU2179500A (ja) |
WO (1) | WO2000036440A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6847729B1 (en) | 1999-04-21 | 2005-01-25 | Fairfield Imaging Limited | Microscopy |
JP2002174779A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Nikon Corp | 顕微鏡システム及び補助倍率決定方法 |
GB2398196B (en) | 2003-02-05 | 2005-06-01 | Fairfield Imaging Ltd | Microscope system and method |
WO2013124909A1 (ja) * | 2012-02-22 | 2013-08-29 | 株式会社エス・ティ・ジャパン | Atr測定用の対物光学系およびatr測定装置 |
US11199448B2 (en) | 2018-05-11 | 2021-12-14 | Sony Corporation | Spectroscopic measurement device and spectroscopic measurement method |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04294251A (ja) * | 1990-12-06 | 1992-10-19 | Spectra Tech Inc | 光学式分析装置及び光学式分析方法 |
JPH06153071A (ja) * | 1992-11-12 | 1994-05-31 | Canon Inc | 画像信号処理機構およびその適用機器 |
JPH07253548A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Nikon Corp | 標本像の自動追尾装置及び追尾方法 |
WO1998000744A1 (en) * | 1996-06-28 | 1998-01-08 | Polaroid Corporation | Dark field, photon tunneling imaging systems and methods |
JPH10104159A (ja) * | 1996-07-16 | 1998-04-24 | Perkin Elmer Ltd | 赤外線顕微鏡−データを取得するための装置 |
JPH10510365A (ja) * | 1995-03-06 | 1998-10-06 | スペクトラ−テック,インコーポレーテッド | 赤外微量分光計付属装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4537508A (en) * | 1983-03-01 | 1985-08-27 | Laser Precision Corporation | Interferometer spectrometer having improved scanning reference point |
US4963903A (en) * | 1989-10-25 | 1990-10-16 | Cane Richard M | Camera positioning system |
US5204768A (en) * | 1991-02-12 | 1993-04-20 | Mind Path Technologies, Inc. | Remote controlled electronic presentation system |
US5329354A (en) * | 1991-04-24 | 1994-07-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Alignment apparatus for use in exposure system for optically transferring pattern onto object |
US5172182A (en) * | 1991-05-31 | 1992-12-15 | Sting Donald W | Internal reflectance element with very small sample contacting surface |
USRE36529E (en) * | 1992-03-06 | 2000-01-25 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services | Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters |
US5308983A (en) * | 1992-07-02 | 1994-05-03 | Harrick Scientific Corporation | Spectroscopic accessory with microscope illuminator |
GB2276003B (en) * | 1993-03-09 | 1997-01-08 | Spectra Tech Inc | Method and apparatus for enhancing the usefulness of infrared transmitting materials |
US5497267A (en) * | 1993-05-21 | 1996-03-05 | Mitsubishi Chemical Corporation | Video microscope |
US5479252A (en) * | 1993-06-17 | 1995-12-26 | Ultrapointe Corporation | Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles |
US5413587A (en) * | 1993-11-22 | 1995-05-09 | Hochstein; Peter A. | Infrared heating apparatus and methods |
US5506416A (en) * | 1994-05-25 | 1996-04-09 | Rizvi; Syed A. | Microscopic internal reflection infrared spectroscopy to examine the surface of a trace amount of material |
US5516388A (en) * | 1994-09-11 | 1996-05-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Sol-gel bonding |
KR100272329B1 (ko) * | 1994-12-07 | 2000-11-15 | 이중구 | 비디오 마이크로스코프 |
US5741213A (en) * | 1995-10-25 | 1998-04-21 | Toa Medical Electronics Co., Ltd. | Apparatus for analyzing blood |
US5672399A (en) * | 1995-11-17 | 1997-09-30 | Donaldson Company, Inc. | Filter material construction and method |
US5818046A (en) * | 1996-08-30 | 1998-10-06 | Rizvi; Syed A. | Mid-infrared analysis system |
-
1999
- 1999-12-13 EP EP99966190A patent/EP1159640A4/en not_active Ceased
- 1999-12-13 AU AU21795/00A patent/AU2179500A/en not_active Abandoned
- 1999-12-13 WO PCT/US1999/029559 patent/WO2000036440A1/en not_active Application Discontinuation
- 1999-12-13 JP JP2000588624A patent/JP2002532726A/ja active Pending
-
2010
- 2010-09-10 JP JP2010203309A patent/JP5337774B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04294251A (ja) * | 1990-12-06 | 1992-10-19 | Spectra Tech Inc | 光学式分析装置及び光学式分析方法 |
JPH06153071A (ja) * | 1992-11-12 | 1994-05-31 | Canon Inc | 画像信号処理機構およびその適用機器 |
JPH07253548A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Nikon Corp | 標本像の自動追尾装置及び追尾方法 |
JPH10510365A (ja) * | 1995-03-06 | 1998-10-06 | スペクトラ−テック,インコーポレーテッド | 赤外微量分光計付属装置 |
WO1998000744A1 (en) * | 1996-06-28 | 1998-01-08 | Polaroid Corporation | Dark field, photon tunneling imaging systems and methods |
JPH10104159A (ja) * | 1996-07-16 | 1998-04-24 | Perkin Elmer Ltd | 赤外線顕微鏡−データを取得するための装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2000036440A1 (en) | 2000-06-22 |
JP5337774B2 (ja) | 2013-11-06 |
EP1159640A1 (en) | 2001-12-05 |
EP1159640A4 (en) | 2003-01-22 |
AU2179500A (en) | 2000-07-03 |
JP2002532726A (ja) | 2002-10-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6972409B2 (en) | Mid-infrared spectrometer attachment to light microscopes | |
Gao et al. | Compact Image Slicing Spectrometer (ISS) for hyperspectral fluorescence microscopy | |
EP0380904B1 (en) | Solid state microscope | |
US5754291A (en) | Micro-imaging system | |
US4594509A (en) | Infrared spectrometer | |
US7787112B2 (en) | Depth of field extension for optical tomography | |
JP5337774B2 (ja) | 光電子工学的像拡大システム | |
US20110226972A1 (en) | Reflective Focusing and Transmissive Projection Device | |
Yu et al. | Microlens array snapshot hyperspectral microscopy system for the biomedical domain | |
Amos et al. | Re‐evaluation of differential phase contrast (DPC) in a scanning laser microscope using a split detector as an alternative to differential interference contrast (DIC) optics | |
JPS6353443A (ja) | 高空間・時間分解計測装置 | |
US6907390B1 (en) | Miniaturized opto-electronic magnifying system | |
US11940609B2 (en) | Image conversion module with a microelectromechanical optical system and method for applying the same | |
US11486828B2 (en) | Fluorescence photometer and observation method | |
EP1560058A2 (en) | Miniaturized opto-electronic magnifying system for simultaneous infrared spectral analysis and optical microscopy | |
CN114460020B (zh) | 一种基于数字微反射镜的高光谱扫描***及方法 | |
Benedetti et al. | Confocal‐line microscopy | |
Kawamura et al. | Confocal laser microscope scanner and CCD camera | |
US20020054429A1 (en) | Arrangement for visual and quantitative three-dimensional examination of specimens and stereomicroscope therefor | |
JPH01188816A (ja) | 分光型走査顕微鏡 | |
KR100479938B1 (ko) | 표면 플라즈몬 공명 이미징 기술을 이용한 단백질마이크로어레이 분석 방법 | |
JP2004177732A (ja) | 光学測定装置 | |
Egorova et al. | Development trends in light microscopy | |
US20080144167A1 (en) | Optical imaging system and method for high speed and high resolution | |
KR100471598B1 (ko) | 다양한 영상매체에서 동시 관찰이 가능한 현미경 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110405 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110630 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110705 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110804 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110811 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120925 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130520 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130805 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5337774 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |