JP2011008568A - 電子機器、電源の制御方法および制御プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】 消費電力の削減を図ることができる電子機器を提供する。
【解決手段】 この電子機器は、機能に従って動作する通常動作モードと、バグを発見し修正するデバッグモードとを切り替えるモード切り替え部と、切り替えられたモードに応じて、デバッグモードで使用されるデバッグインタフェース制御部215やデバッグLED制御部216への電源供給を開始または停止させる省エネI/O制御部204とを備える。モード切り替え部は、スライド可能な端子を備えるハードスイッチ218や、操作部400上に表示し、通常動作モードまたはデバッグモードのいずれかの選択を受け付けるソフトスイッチのほか、電源投入後の初期動作やシステム動作において、正常動作か、異常動作かを判定する動作判定部を含み、その判断結果に応じて自動的にモードを切り替えるものとされる。
【選択図】 図2
【解決手段】 この電子機器は、機能に従って動作する通常動作モードと、バグを発見し修正するデバッグモードとを切り替えるモード切り替え部と、切り替えられたモードに応じて、デバッグモードで使用されるデバッグインタフェース制御部215やデバッグLED制御部216への電源供給を開始または停止させる省エネI/O制御部204とを備える。モード切り替え部は、スライド可能な端子を備えるハードスイッチ218や、操作部400上に表示し、通常動作モードまたはデバッグモードのいずれかの選択を受け付けるソフトスイッチのほか、電源投入後の初期動作やシステム動作において、正常動作か、異常動作かを判定する動作判定部を含み、その判断結果に応じて自動的にモードを切り替えるものとされる。
【選択図】 図2
Description
本発明は、通常動作モードとデバッグモードとを有し、モード切り替え可能な電子機器、その機器が備える各デバイスへ供給する電源を制御する方法およびその方法を実現するためのコンピュータ可読な制御プログラムに関する。
プリンタ機能だけではなく、FAX機能、コピー機能、スキャナ機能等を備えるデジタル複合機(MFP)が広く普及している。近年、メモリの大容量化や低コスト化、ネットワーク等の通信技術の高速化、CPUの処理能力の向上等の技術の発展に伴い、MFPに搭載される機能も多種・多様になってきている。
MFPに限らず、電子機器の高機能化に伴い、バグや欠陥が生じる可能性が高くなり、そのために、デバッグ機能を備え、バグや欠陥を発見し、修正することが行われている。
電子機器には、デバッグモードを備える機器があり、デバッグモードが選択されると、デバッグ用プログラムを実行し、バグや欠陥を発見および修正する。
デバッグ用プログラムは、まず、バグの存在を認識し、その発生源を分離し、原因を特定する。そして、その修正方法を決定し、その方法に従って修正し、最後にテストを行う。このプログラムで広く使用されているものとして、ICE(In-Circuit Emulator)と呼ばれるツールがある。
このツールと同じ機能を実現するためのデバッグ用のピンと機能を量産チップ上に実装するタイプのICEも存在する。このタイプのオンデバッグ機能実装型ICEは、通常ユーザモードとデバッグモードとを有している。なお、通常ユーザモードは、ユーザプログラムを実行するモードである。
こういった機能をもつ電子機器では、デバッグ機能が実装されたモジュールがCPUと一体となっており、CPUと同様に常にクロックが入力され、電力を消費している。電子機器が多機能化すると、デバッグ機能も豊富になり、その結果、消費電力も増加するという問題があった。
また、デバッグには、デバッグ用回路やデバッグ用LEDも使用されている。デバッグ用LEDは、デバイスの動作状態や各電源投入状態等を示し、電源投入時におけるデバイスの動作状態やどの電源電圧までが投入されているかを目視レベルで判別することができるように設けられる。
また、デバッグ用回路は、デバッグ用インタフェースを経由してモニタと接続し、プリント基板や装置全体の動作状態、各電源投入状態、ステータス情報等のログを表示させるように設けられる。
これらのデバッグ用回路およびデバッグ用LEDは、以下の用途に使用される。
(i) 量産前の設計・開発段階でのデバッグや障害解析
(ii) 量産時のプリント基板部品実装工程でのファンクションテストや障害発生時の解析
(iii) 量産時の各プリント基板やメカ部品モールドを組み付けて装置全体を形成するための組み付け工程でのファンクションテストや障害発生時の解析
(iv) 製品出荷後の市場やユーザ先での障害発生時の解析
(i) 量産前の設計・開発段階でのデバッグや障害解析
(ii) 量産時のプリント基板部品実装工程でのファンクションテストや障害発生時の解析
(iii) 量産時の各プリント基板やメカ部品モールドを組み付けて装置全体を形成するための組み付け工程でのファンクションテストや障害発生時の解析
(iv) 製品出荷後の市場やユーザ先での障害発生時の解析
こういった回路やLEDを用いる従来の技術では、通常ユーザモードであるか、デバッグモードであるかに関わらず、不具合発生解析を迅速に行うべく、電源投入時におけるデバイスの動作状態やどの電源電圧状態をモニタすることができるように配置された複数のデバッグ用LEDが通常モード時にも点灯されていることがあった。また、詳細解析のためのログ取得のためにデバッグ用回路へも電源が供給されていた。このように、通常モードで立ち上がっても、製品仕様・機能に関係のないデバッグ用LEDが点灯していたり、デバッグ用回路へ電源が供給されると、無駄な電力を消費するという問題があった。
そこで、デバッグモジュールを、通常ユーザモード時にクロックを止めない第1のデバッグモジュールと、通常ユーザモード時にクロックを止める第2のデバッグモジュールとに分け、第1のデバッグモジュールと第2のデバッグモジュールに異なるクロックラインでクロックを供給するように構成した電子機器が提案されている(特許文献1参照)。
このような構成とし、通常ユーザモード時には第2のデバッグモジュールへのクロック供給を停止することで、デバッグモジュール全体にクロック供給する場合に比較して、消費電力の増大を防止し、低パワー化することができる。
上記従来の電子機器は、第2のデバッグモジュールへのクロック供給を停止し、消費電力を削減することができるものの、第1のデバッグモジュールへはクロックを供給するため、充分に消費電力を削減することができていない。
そこで、通常動作モードとデバッグモードとを有する電子機器において、充分に消費電力を削減することができる機器、消費電力を削減するために、その機器が備える各デバイスへ供給する電源を制御する方法の提供が望まれていた。
本発明は、上記課題に鑑み、1以上の機能を備える電子機器であって、その機能に従って動作する通常動作モードと、バグを発見し修正するデバッグモードとを切り替えるモード切り替え部と、切り替えられたモードに応じて、デバッグモードで使用されるデバッグ用デバイスへの電源供給を開始または停止させる入出力制御部とを備える構成とされる。
このモード切り替え部は、スライド可能な端子を備えるハードスイッチ、または、表示部に表示し、通常動作モードまたはデバッグモードのいずれかの選択を受け付けるソフトスイッチにより実現することができる。
また、モード切り替え部は、電源投入後の電子機器が備える各デバイスの初期設定および動作確認を行う初期動作において、各デバイスの動作確認結果に基づき、正常動作であるか、または、異常動作であるかを判定する動作判定部を含む。異常動作と判定された場合に、モード切り替え部がデバッグモードへ切り替え、入出力制御部が、デバッグ用デバイスへの電源供給を開始するように構成することができる。この動作判定は、通常動作モードで動作中にも行うことができる。
異常が検出された場合、デバッグ用デバイスへ電源供給を行うが、正常に動作している場合には、以下に説明するデバッグインタフェース制御部やデバッグLED制御部やデバッグ用LED等のデバッグ用デバイスへの電源供給を停止するので、充分に消費電力を削減することができる。
また、この電子機器は、動作判定部が異常動作と判定したことに応答して、異常と判定されてからの経過時間を計測する時間計測部と、デバッグ用デバイスが通信を行っているか否かを検出する通信検出部とをさらに備える。入出力制御部は、通信検出部および時間計測部に問い合わせ、デバッグ用デバイスが通信を行っておらず、かつ計測されている時間が指定された時間を経過した旨の応答を受け取った場合に、デバッグ用デバイスへの電源供給を停止させる。これにより、その指定された時間以降の消費電力の削減を図ることができる。
本発明では、上記の電子機器のほか、その電子機器が備える各デバイスに供給する電源を制御し、消費電力を削減する方法や、その方法を実現するためのコンピュータ可読な制御プログラムも提供することができる。
図1は、複数の電子機器から構成される画像処理システムの構成例を示した図である。このシステムは、画像処理装置としてのMFP10と、MFP10に直接ケーブルにより接続されるノートPC20と、インターネットやLAN等のネットワーク30を介して接続されるPC40とから構成されている。MFP10、ノートPC20、PC40はいずれも、多数の電子部品により組み立てられた電子機器である。
MFP10は、プリンタ機能、コピー機能、FAX機能、スキャナ機能といった複数の機能を有するデジタル複合機で、原稿を読み取るための蛍光ランプやCCDイメージセンサを備えるスキャナユニット、読み取った画像データを処理するためのプログラムやシステム全体を制御するためのプログラムを格納するメモリ、そのプログラムを実行するCPU、印刷処理を実行するための露光装置や現像ユニットや転写ユニット等を含むプリンタ、ユーザの入力を受け付け、設定情報や現在の状態等を表示する操作パネル、ノートPC20やPC40と接続し、通信を可能にする通信インタフェース等を備える。このMFP10は、上述したスキャナユニット、露光装置、現像ユニット、転写ユニットのほか、帯電ユニット、定着ユニット、クリーニングユニット、給紙ユニット、排紙ユニット、通信インタフェース等の複数のデバイスを備えるものである。
また、MFP10は、上記各機能に従って動作する通常動作モードと、プログラムの誤り(バグ)や欠陥を発見し、それを修正するデバッグモードとを有している。このMFP10は、電源が投入されると、イニシャライズ動作として、MFP10が備える各デバイスの初期設定および初期動作確認を行う。
ノートPC20やPC40は、原稿を作成するためのアプリケーションや印刷出力を行うMFP10を制御するためのプリンタドライバといったソフトウェアを実装し、それを格納するためのメモリ、それを実行するためのCPU、MFP10と通信を可能にする通信インタフェース、その他のデータや設定値等を格納するためのHDD、CDドライブ、DVDドライブ、原稿を表示したり、ログ情報やエラー情報を表示するためのディスプレイ、文字等の入力を行うためのキーボードやマウス等を備える。これらノートPC20やPC40も、MFP10と同様に、通常動作モードとデバッグモードとを有し、電源投入時にはイニシャライズ動作を行い、通信インタフェース、ディスプレイ、マウス等の入力装置といった複数のデバイスを備えるものである。
ここで、図1に示す画像処理システムで行われる処理を簡単に説明する。ノートPC20またはPC40において文書等を作成し、それを印刷するためにプリンタドライバによりMFP10へ印刷データとして送信すると、MFP10は、その印刷データを処理するためのプログラムを起動させ、画像処理を行い、用紙に印刷する。例えば、MFP10がページプリンタである場合、ページ記述言語(PDL)で記述された印刷データがノートPC20またはPC40から送信され、それをMFP10が受け付けると、PDLで記述された印刷データを解釈し、中間データメモリと呼ばれるメモリに記憶し、その中間データメモリから1ページ分のデータを読み出し、描画処理を行い、それをページメモリに書き込む。印刷出力を行うエンジンは、そのページメモリに書き込まれた描画データを読み出し、そのデータを基に用紙に印刷し、排紙する。
エンジンにおける処理は、電子写真方式のプリンタである場合、まず、感光体ドラムを帯電させ、帯電した感光体ドラムを露光して静電潜像を形成する。この静電潜像は、上記の描画処理された描画データを基に形成される。形成された静電潜像は、現像ユニットが備えるトナーが付着され、その後、転写ユニットにより用紙に転写される。このとき、用紙上には、トナーが載った状態であるため、定着ユニットにより熱と圧力が加えられ、そのトナーが用紙に固定される。こうして画像が印刷された用紙は、排紙ユニットにより排紙され、1ページ分の印刷出力が完了する。これを印刷データにより指定されたページ分印刷することにより、エンジンにおける印刷出力が完了する。
電子機器であるMFP10、ノートPC20、PC40の電源を投入した際に行われる初期動作や通常動作において実行されるプログラムに誤り(バグ)が発生した場合、それを修正しなければならない。これを行うモードが、デバッグモードである。例えば、ユーザのモード選択により、また、バグが発生したことを検出した場合に自動的に、デバッグモードへ切り替えることができる。詳細については、後述する。
その前に、図2に示す電子機器の1つであるMFP10の機能ブロック図を参照して、MFP10の制御部の構成について説明する。MFP10は、この装置を制御する制御部として、エンジン制御部100と、コントローラ制御部200と、エンジン制御部100とコントローラ制御部200との間を通信可能にするエンジンインタフェース300と、ユーザからの入力を受け付け、各種設定情報やエラー等を表示する操作部400と、MFP10の電源供給制御を行うPSU部500とを備えている。
エンジン制御部100は、原稿画像を読み取るスキャナユニットを制御するためのスキャナ制御部101と、スキャナユニットで読み取った画像を印字したり、コントローラ制御部200から転送される画像データを印字するプロッタを制御するためのプロッタ制御部102と、印字用紙を給紙する給紙ユニットや印字された用紙を排出する排紙ユニット等の周辺機器を制御するための周辺機制御部103と、スキャナ制御部101、プロッタ制御部102および周辺機制御部103へ供給するための電源を生成する電源生成部104とを備えている。
コントローラ制御部200は、このコントローラ制御のメインシステムを制御するCPU201と、RAM202と、RAM202との通信を制御するRAM制御部203と、省エネ制御やI/O制御を行う省エネI/O(入出力)制御部204とを備えている。また、コントローラ制御部200は、省エネI/O制御部204により制御される不揮発性メモリ205、FlashROM206、EEPROM207、SD CARDインタフェース208、ネットワークインタフェース209、RTC210を備えている。
省エネI/O制御部204は、操作部400との通信制御やエンジン制御部100との省エネ制御も行う。EEPROM207は、ネットワーク用のMACアドレスを格納し、不揮発性メモリ205は、MFP10の設定情報やステータス情報等を格納する。RTC210は、時間をカウントして時刻計測を行う。
SD CARDインタフェース208経由で装着されるSDカードは、コントローラ制御部200で実行される各プログラムが格納されていて、FlashROM206へのプログラムのダウンロードやバージョンアップの手段として用いられたり、各アプリケーションソフトやエミュレーションソフトの読み出し可能な記録媒体として用いられる。ネットワークインタフェース209は、コントローラ制御部200と外部のネットワークとを接続する。
さらに、コントローラ制御部200は、読み取った画像を処理するための画像処理制御部211と、処理した画像の画像データ等を格納するHDD212と、各デバイスへ電源を生成して供給する電源生成部213とを備えている。
また、コントローラ制御部200は、図示しないモニタやPCとシリアルインタフェース214により接続されるデバッグインタフェース制御部215と、デバッグLED制御部216と、デバッグ用のLED217とを備えている。これらへの電源は、電源生成部213から供給され、電源生成部213への指示は、省エネI/O制御部204が与えるように構成されている。また、これらへの電源供給およびその停止は、省エネI/O制御部204が直接与えるように構成されている。なお、LED217への電源は、デバッグLED制御部216を介して供給されるようになっている。
CPU201は、コントローラ制御のメインシステムを制御するために制御プログラムを実行し、現在のモードが、通常動作モードであるか、あるいは、デバッグモードであるかを判断する。現在のモードが、例えば、プリンタ機能、FAX機能、コピー機能、スキャナ機能に従って動作する通常動作に関するものである場合、CPU201は、通常動作モードと判断し、省エネI/O制御部204から電源生成部213へ、デバッグ用回路であるデバッグインタフェース制御部215およびデバッグ用のLED217と接続されるデバッグLED制御部216へ供給する電源を停止させる電源制御信号を送り、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにさせる。
一方、CPU201は、デバッガ等のデバッグ用プログラムを実行している場合、デバッグモードと判断し、省エネI/O制御部204から電源生成部213へ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216へ電源を供給する電源制御信号を送り、電源生成部213に電源を生成させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオンにさせる。
デバッグインタフェース制御部215の電源がオンにされると、シリアルインタフェース214を介してモニタやPC等へ接続してシリアルインタフェース通信を可能な状態となり、デバッグLED制御部216の電源がオンにされると、LED217の点灯や点滅が可能な状態になる。
このように、通常動作モードである場合に、製品仕様や機能に関係のないデバッグインタフェース制御部215やデバッグLED制御部216といったデバッグ用デバイスへの電源供給を停止させることで、上述した従来の電子機器に比較して、消費電力をより削減することができる。
上記のように、通常動作モードであるか、あるいは、デバッグモードであるかを、制御プログラムにより判断することができるが、MFP10の管理者がモードを切り替えることができるようにすることも可能である。
例えば、省エネI/O制御部204に接続されるハードスイッチ218を使用して、切り替えることができる。ハードスイッチ218は、DIPSWと、タブ端子とを含んで構成することができ、物理的に端子を切り替えることができるものである。
DIPSWは、電子機器の各種設定用として、電子回路基板上に実装される同じ形状の端子をもつ小型スイッチである。DIPSWは、一般に、スライドスイッチで、2から10程度の端子が並んだものとされている。その端子の1つを、モード切り替え用に使用し、例えば、一方にスライドさせたときを通常動作モード、他方へスライドさせたときをデバッグモードに割り当てておくことで、切り替えを実現することができる。
この場合、CPU201がDIPSWの設定を読み取り、その設定からいずれのモードかを判断することができる。判断後は、上記と同様にして、電源供給をオンまたはオフにさせる。こういったハードスイッチ218を、例えば、ボード上に設けることで、後述するソフトスイッチが機能しないボード単体での状況下でも、ボード上のスイッチ操作で容易に通常動作モードとデバッグモードとを切り替えることができる。
スイッチには、上述したハードスイッチ218のほか、ソフトスイッチもあり、このソフトスイッチを採用することもできる。ソフトスイッチは、操作部400に設定画面として表示し、いずれの選択を受け付けるかによってモードを切り替えることができるように構成される。設定値は、電源がオフにされても記憶を保持する不揮発性メモリ205に格納される。
ソフトスイッチを採用する場合、操作部400上で、図3に示すような設定画面を表示し、通常動作モードであるか、または、デバッグモードであるかの選択を受け付け、CPU201が、エンジン制御部100およびエンジンインタフェース300を介してそれを受け取り、どちらのモードかを判断する。判断後は、上記と同様にして、電源供給をオンまたはオフにさせる。
図3では、操作部400がタッチパネルとされ、タッチするたびにモードを切り替えられるようになっていて、現在、通常動作モードがオンで、デバッグモードがオフにされている。このように、ソフトスイッチは、操作部400に表示し、モード選択を受け付けることで、モードの切り替えを容易にし、操作性の向上を図ることができる。
これまで、ハードスイッチまたはソフトスイッチによりモードを切り替えることができることについて説明してきたが、MFP10の電源が投入されると、MFP10は、イニシャライズ動作を行うためのプログラムを実行し、MFP10が備える各デバイスの初期設定を行い、その設定で正しく動作するかの動作確認を行う。なお、この動作確認において、異常が検出される場合がある。
異常が検出された場合、自動的にデバッグモードへ移行し、バグや欠陥の修正を行うことが望ましい。この初期設定や動作確認は、CPU201が、初期動作を行うためのプログラムを実行し、その実行中に異常動作が発生すれば、デバイスから正常に動作しない旨の応答が返されるので、異常を検出することができる。CPU201は、異常動作を検出した場合、まず、これまでに行った処理内容や警告を含む履歴としてのログ情報とともにエラー情報をHDD212やRAM202等に格納し、その後、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給を開始させる。
図4に示すフローチャート図を参照して、電源投入時のイニシャライズ動作における電源制御について詳細に説明する。ステップ400からイニシャライズ動作を開始し、まず、ステップ405で電源の投入を受け付け、ステップ410でCPU201が各デバイスの初期設定を行い、その設定に基づき動作確認を行う。この動作確認では、初期設定において設定された設定値に基づき、各デバイスが正常に動作するかの確認が行われる。
例えば、デバイスの1つであるスキャナユニットでは、蛍光ランプの光量やCCDイメージセンサの入力電圧等が設定され、その設定値に基づき、適切に読み取ることができるかの確認が行われる。
ステップ415において、その初期動作が正常に終了したかを確認する。例えば、各デバイスに問い合わせ、各デバイスから正常に終了した旨あるいは異常動作が発生した旨の応答を受け取ることにより、確認することができる。正常に終了した場合、ステップ420へ進み、ログ情報を収集して、HDD212やRAM202等に格納する。
ステップ420へ進む場合、CPU201は、各デバイスが正常に動作しているので、通常動作モードと判断し、ステップ425へ進み、省エネI/O制御部204に指示し、電源生成部213へ電源制御信号を送信させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにさせ、ステップ430でこの処理を終了する。
一方、ステップ415で異常動作が検出された場合、ステップ435へ進み、RTC210において時間計測を開始し、ステップ440で、ログ情報およびエラー情報を収集してHDD212やRAM202等に格納し、デバッグモードへ入る。デバッグモードは、デバッグ用プログラムを実行することにより入ることができる。
CPU201は、デバッグモードへ入る場合、ステップ445へ進み、省エネI/O制御部204に指示し、電源生成部213へ電源制御信号を送信させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオンにさせる。これにより、デバッグを開始し、デバッグインタフェース制御部215、シリアルインタフェース214を介してモニタやPCが備えるディスプレイにその異常を表示し、また、デバッグLED制御部216を介してデバッグ用のLED217を点灯または点滅させることができる。
解析作業を行う場合、HDD212やRAM202に格納されたログ情報やエラー情報へアクセスし、それらの情報の詳細な解析を行うことができる。このため、ステップ450で、モニタまたはPCからシリアル通信によるアクセスがあるかを判断する。なお、省エネI/O制御部204は、デバッグインタフェース制御部215にPCやモニタからのシリアル通信によるアクセスがあるかどうかの通信状態を監視している。
アクセスがある場合は、解析作業が行われているため、デバッグモードを維持し、ステップ430で、イニシャライズ動作を終了する。
一方、アクセスがない場合は、ステップ455へ進み、ステップ435において計測を開始した時間がT時間以上となったかを判断する。T時間未満である場合は、再びステップ450へ戻り、アクセスがあるかを判断する。アクセスがなく、経過時間もT時間以上になった場合、解析作業がない、あるいは終了したものと判断し、ステップ425へ進み、省エネI/O制御部204に指示し、電源生成部213へ電源制御信号を送信させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにさせ、ステップ430でイニシャライズ動作を終了する。
このように、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにして、T時間以降、不要なこれらへの消費電力を削減することができる。
Tは、設定値であり、操作部400上で管理者によって予め設定され、不揮発性メモリ205に格納される。
上記では、電源投入時のイニシャライズ動作について詳細に説明したが、このイニシャライズ動作後のシステム動作においても、上記のような動作確認を行うことができる。図5は、システム動作における電源制御の流れを示したフローチャート図である。
ステップ500からシステム動作を開始し、まず、ステップ505で指定された機能に従って動作を開始する。印刷であれば、原稿の読み取り、描画、印刷出力という動作を行う。これは、通常動作モードである。
ステップ510において、その動作が正常に終了したかを確認する。正常に終了した場合、ステップ515へ進み、ログ情報を収集して、HDD212やRAM202等に格納する。
CPU201は、バグ等がなく正常に終了していることから通常動作モードと判断し、ステップ520へ進み、省エネI/O制御部204に指示し、電源生成部213へ電源制御信号を送信させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにさせ、ステップ525でシステム動作を終了する。
一方、ステップ510で異常動作が検出された場合、ステップ530へ進み、RTC210において時間計測を開始し、ステップ535で、ログ情報およびエラー情報を収集してHDD212やRAM202等に格納し、デバッグモードへ入る。デバッグモードは、デバッグ用プログラムを実行することにより入ることができる。
CPU201は、デバッグモードへ入る場合、ステップ540へ進み、省エネI/O制御部204に指示し、電源生成部213へ電源制御信号を送信させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオンにさせる。これにより、デバッグを開始し、デバッグインタフェース制御部215およびシリアルインタフェース214を介してモニタやPCが備えるディスプレイにその異常を表示し、また、デバッグLED制御部216を介してデバッグ用のLED217を点灯または点滅させることができる。
解析作業を行う場合、HDD212やRAM202等に格納されたログ情報やエラー情報へアクセスし、それらの情報の詳細な解析を行う。このため、ステップ545で、モニタまたはPCからシリアル通信によるアクセスがあるかを判断する。なお、省エネI/O制御部204は、デバッグインタフェース制御部215にPCやモニタからのシリアル通信によるアクセスがあるかどうかの通信状態を監視している。
アクセスがある場合は、解析作業が行われているため、デバッグモードを維持し、ステップ525で、システム動作を終了する。
一方、アクセスがない場合は、ステップ550へ進み、ステップ530において計測を開始した時間がT時間以上となったかを判断する。T時間未満である場合は、再びステップ545へ戻り、アクセスがあるかを判断する。アクセスがなく、経過時間もT時間以上になった場合、解析作業がない、あるいは終了したものと判断し、ステップ520へ進み、省エネI/O制御部204に指示し、電源生成部213へ電源制御信号を送信させ、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにさせ、ステップ525でシステム動作を終了する。
この場合も、デバッグインタフェース制御部215およびデバッグLED制御部216への電源供給をオフにして、T時間以降、不要なこれらへの消費電力を削減することができる。
このTも、設定値であり、操作部400上で管理者によって予め設定され、不揮発性メモリ205に格納される。
これまで本発明を上述した実施の形態をもって説明してきたが、上記スイッチはモード切り替え部として機能し、省エネI/O制御部204はデバッグ用デバイスへの電源供給を制御する入出力制御部として機能し、CPU201はプログラムの実行によりモード切り替え部、正常動作か異常動作かを判定する動作判定部、デバッグ用デバイスが通信しているかを検出する通信検出部として機能し、RTC210は、異常動作と判定されてからの経過時間を計測する時間計測部として機能するものである。
また、本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、他の実施の形態、追加、変更、削除など、当業者が想到することができる範囲内で変更することができ、いずれの態様においても本発明の作用・効果を奏する限り、本発明の範囲に含まれるものである。したがって、電子機器であれば、MFPに限らず、PC等にも適用することができる。また、上記の電源制御を実現するためのコンピュータ可読な制御プログラムやその制御プログラムが記録された記録媒体も提供することができるものである。
10…MFP、20…ノートPC、30…ネットワーク、40…PC、100…エンジン制御部、101…スキャナ制御部、102…プロッタ制御部、103…周辺機制御部、104…電源生成部、200…コントローラ制御部、201…CPU、202…RAM、203…RAM制御部、204…省エネI/O制御部、205…不揮発性メモリ、206…FlashROM、207…EEPROM、208…SD CARDインタフェース、209…ネットワークインタフェース、210…RTC、211…画像処理制御部、212…HDD、213…電源生成部、214…シリアルインタフェース、215…デバッグインタフェース制御部、216…デバッグLED制御部、217…LED、218…ハードスイッチ、300…エンジンインタフェース、400…操作部、500…PSU部
Claims (11)
- 1以上の機能を備える電子機器であって、
前記機能に従って動作する通常動作モードと、バグを発見し修正するデバッグモードとを切り替えるモード切り替え部と、
切り替えられた前記モードに応じて、前記デバッグモードで使用されるデバッグ用デバイスへの電源供給を開始または停止させる入出力制御部とを備える、電子機器。 - 前記モード切り替え部が、スライド可能な端子を備えるハードスイッチである、請求項1に記載の電子機器。
- 前記モード切り替え部が、表示部上に表示し、前記通常動作モードまたは前記デバッグモードのいずれかの選択を受け付けるソフトスイッチである、請求項1に記載の電子機器。
- 前記モード切り替え部は、電源投入後の前記電子機器が備える各デバイスの初期設定および動作確認を行う初期動作において、前記各デバイスの動作確認結果に基づき、正常動作であるか、または異常動作であるかを判定する動作判定部を含み、前記異常動作と判定された場合に、前記モード切り替え部が前記デバッグモードへ切り替え、前記入出力制御部が、前記デバッグ用デバイスへの電源供給を開始する、請求項1に記載の電子機器。
- 前記動作判定部は、前記通常動作モードで動作中に前記正常動作または前記異常動作を判定する、請求項4に記載の電子機器。
- 前記動作判定部が前記異常動作と判定したことに応答して、前記異常動作と判定されてからの経過時間を計測する時間計測部と、前記デバッグ用デバイスが通信を行っているか否かを判断する通信検出部とをさらに備え、
前記入出力制御部は、前記時間計測部および前記通信検出部に問い合わせ、前記デバッグ用デバイスが通信を行っておらず、かつ計測されている前記時間が指定された時間を経過した旨の応答を受け取った場合に、前記デバッグ用デバイスへの電源供給を停止させる、請求項4または5に記載の電子機器。 - 1以上の機能を備える電子機器において供給する電源を制御する方法であって、
前記電子機器が備えるモード切り替え部により、前記機能に従って動作する通常動作モードと、バグを発見し修正するデバッグモードとを切り替えるステップと、
切り替えられた前記モードに応じて、前記電子機器が備える入出力制御部により、前記デバッグモードで使用されるデバッグ用デバイスへの電源供給を開始または停止させるステップとを含む、電源制御方法。 - 前記モード切り替え部が備える動作判定部により、電源投入後の前記電子機器が備える各デバイスの初期設定および動作確認を行う初期動作において、前記各デバイスの動作確認結果に基づき、正常動作であるか、または異常動作であるかを判定するステップを含み、
前記電源供給を開始または停止させるステップでは、前記判定するステップで異常動作と判定された場合に、前記デバッグモードへ切り替え、前記デバッグ用デバイスへの電源供給を開始する、請求項7に記載の電源制御方法。 - 前記判定するステップでは、前記通常動作モードで動作中に前記正常動作または前記異常動作を判定する、請求項7に記載の電源制御方法。
- 前記異常動作と判定したことに応答して、前記電子機器が備える時間計測部により、前記異常動作と判定されてからの経過時間を計測するステップと、前記電子機器が備える通信検出部により、前記デバッグ用デバイスが通信を行っているか否かを判断するステップとをさらに含み、
前記電源供給を開始または停止させるステップでは、前記時間計測部および前記通信検出部に問い合わせ、前記デバッグ用デバイスが通信を行っておらず、かつ計測されている前記時間が指定された時間を経過した旨の応答を受け取った場合に、前記デバッグ用デバイスへの電源供給を停止させる、請求項8または9に記載の電源制御方法。 - 請求項7〜10のいずれか1項に記載の電源制御方法を実行するためのコンピュータ可読な制御プログラム。
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2009
- 2009-06-26 JP JP2009151852A patent/JP2011008568A/ja active Pending
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