JP2010249621A - 2次元画像検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】2次元画像検出装置2の良否を判定する基準である判定欠陥画素数および判定欠陥サイズの値について、頻繁に診断に使用される画像中央部より使用頻度の少ない画像周辺部で大きな値とすることにより、歩留まりを良好に維持すると同時にアーチファクトの生起がない2次元画像検出装置2の供給が可能である。
【選択図】 図1
Description
2 2次元画像検出装置
3 FPD
4 欠陥画素補間処理部
5 良否判定部
6 画像処理部
7 X線管制御部
8 FPD制御部
30 TFTガラス
31 画素電極
32A 蓄積容量
32a 電気配線
32B TFTスイッチ
32b 電気配線
35 ゲートドライバ
36 増幅器
37 マルチプレクサ
38 A/D変換器
41 欠陥画素抽出部
42 欠陥情報記憶部
43 補正部
51 中央部良否判定部
52 周辺部良否判定部
53 総合判定部
M 被検者
Claims (2)
- フラットパネル型X線検出部と、前記フラットパネル型X線検出部の欠陥画素を抽出し補間する欠陥画素補間処理部を備えた2次元画像検出装置において、前記抽出された欠陥画素数と判定欠陥画素数を比較し、あるいは/および前記抽出された欠陥画素の集合体の大きさと判定欠陥サイズを比較し前記フラットパネル型X線検出部の良否を判定する良否判定手段を備えることを特徴とする2次元画像検出装置。
- 前記判定欠陥画素数および判定欠陥サイズが画像中央部と画像周辺部で異なる値であることを特徴とする請求項1記載の2次元画像検出装置。
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Citations (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61113369A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-31 | アールシーエー ライセンシング コーポレーシヨン | Ccd上の画像の外周部の許容し得る変化をその外周部近傍の欠陥と誤認するのを防ぐ方法 |
JPH02224745A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-06 | Shimadzu Corp | X線透視画像の欠陥補償装置 |
JPH02306233A (ja) * | 1989-05-20 | 1990-12-19 | Fujitsu Ltd | デジタルx線装置 |
JPH0738811A (ja) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Sony Corp | 画像欠陥検出装置 |
JPH07288747A (ja) * | 1994-04-18 | 1995-10-31 | Hitachi Ltd | 撮像装置 |
JPH1127584A (ja) * | 1997-07-08 | 1999-01-29 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥検出回路及び欠陥検出方法、並びにこれらを用いたカメラ |
JP2000059689A (ja) * | 1998-08-06 | 2000-02-25 | Sharp Corp | 固体撮像素子の欠陥画素検出・補正装置 |
JP2000115644A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-21 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
JP2000253318A (ja) * | 1999-03-01 | 2000-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像素子の欠陥画素検出装置、欠陥画素補正装置およびビデオカメラ |
JP2002009272A (ja) * | 2000-06-26 | 2002-01-11 | Canon Inc | 光電変換装置及びそのリペア方法 |
JP2002101343A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-04-05 | Toshiba Medical System Co Ltd | X線平面検出器及びx線診断システム |
JP2003023563A (ja) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Canon Inc | カメラの異物検出装置及び異物検出方法 |
JP2003189189A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-04 | Hitachi Ltd | ビデオカメラ |
JP2003244540A (ja) * | 2002-02-20 | 2003-08-29 | Toshiba Corp | X線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、x線診断装置 |
JP2005124036A (ja) * | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Pentax Corp | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム |
JP2006165899A (ja) * | 2004-12-06 | 2006-06-22 | Sony Corp | 映像信号処理装置及び方法 |
JP2008017246A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子の検査方法、および装置 |
JP2008229102A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 |
WO2009031581A1 (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | 固体撮像装置 |
WO2009113418A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-17 | 株式会社 日立メディコ | X線診断装置 |
JP2010075675A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-04-08 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影支援装置、放射線画像撮影装置及びプログラム |
-
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Patent Citations (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61113369A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-31 | アールシーエー ライセンシング コーポレーシヨン | Ccd上の画像の外周部の許容し得る変化をその外周部近傍の欠陥と誤認するのを防ぐ方法 |
JPH02224745A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-06 | Shimadzu Corp | X線透視画像の欠陥補償装置 |
JPH02306233A (ja) * | 1989-05-20 | 1990-12-19 | Fujitsu Ltd | デジタルx線装置 |
JPH0738811A (ja) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Sony Corp | 画像欠陥検出装置 |
JPH07288747A (ja) * | 1994-04-18 | 1995-10-31 | Hitachi Ltd | 撮像装置 |
JPH1127584A (ja) * | 1997-07-08 | 1999-01-29 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥検出回路及び欠陥検出方法、並びにこれらを用いたカメラ |
JP2000059689A (ja) * | 1998-08-06 | 2000-02-25 | Sharp Corp | 固体撮像素子の欠陥画素検出・補正装置 |
JP2000115644A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-21 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
JP2000253318A (ja) * | 1999-03-01 | 2000-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像素子の欠陥画素検出装置、欠陥画素補正装置およびビデオカメラ |
JP2002009272A (ja) * | 2000-06-26 | 2002-01-11 | Canon Inc | 光電変換装置及びそのリペア方法 |
JP2002101343A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-04-05 | Toshiba Medical System Co Ltd | X線平面検出器及びx線診断システム |
JP2003023563A (ja) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Canon Inc | カメラの異物検出装置及び異物検出方法 |
JP2003189189A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-04 | Hitachi Ltd | ビデオカメラ |
JP2003244540A (ja) * | 2002-02-20 | 2003-08-29 | Toshiba Corp | X線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、x線診断装置 |
JP2005124036A (ja) * | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Pentax Corp | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム |
JP2006165899A (ja) * | 2004-12-06 | 2006-06-22 | Sony Corp | 映像信号処理装置及び方法 |
JP2008017246A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子の検査方法、および装置 |
JP2008229102A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 |
WO2009031581A1 (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | 固体撮像装置 |
WO2009113418A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-17 | 株式会社 日立メディコ | X線診断装置 |
JP2010075675A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-04-08 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影支援装置、放射線画像撮影装置及びプログラム |
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