JP2010221305A - 円盤状基板の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】円盤状基板の研磨に用いられるブラシの寿命を延ばす。
【解決手段】ブラシ24は、毛先が螺旋状に配列されたブラシ部61と、このブラシ部61の両端部に連続して形成され、一端と他端とを形成する軸62とを備えている。例えば、複数本のワイヤの間に、ブラシの毛70(材質:例えばナイロン(デュポン社の商品名)などの樹脂材料)を挟み込み、この毛70が挟み込まれたワイヤをねじることで、ブラシ部61を形成している。ブラシ部61におけるブラシの毛70は、上記ワイヤにより支持される柱状の基部71と、先端に設けられ且つ基部71よりも径の大きい径大部72とを備えている。ここで径大部72は、略球状に形成されている。
【選択図】図4

Description

本発明は、例えば磁気記録媒体用ガラス基板などの円盤状基板の製造方法に関する。
記録メディアとしての需要の高まりを受け、近年、円盤状基板であるディスク基板の製造が活発化している。このディスク基板の一つである磁気ディスク基板としては、アルミ基板とガラス基板とが広く用いられている。このアルミ基板は加工性も高く安価である点に特長があり、一方のガラス基板は強度、表面の平滑性、平坦性に優れている点に特長がある。特に最近ではディスク基板の小型化と高密度化の要求が著しく高くなり、基板の表面の粗さが小さく高密度化を図ることが可能なガラス基板の注目度が高まっている。
このような円盤状基板は、例えば、内外周の端面の研削、内外周のエッジ部の斜面取り、内外周の端面のポリッシング、主表面のポリッシング、などの工程を経て製造される(例えば、特許文献1参照)。ここで特許文献1に記載された技術では、内外周の端面のポリッシングがブラシにより行われている。
特開2008−119810号公報
ところで、ブラシを用いて円盤状基板の研磨を行う場合、研磨を行うに従いブラシの毛先が細くなってくる。そして、このように毛先が細くなると、研磨効率が低下し円盤状基板の生産性が低下してしまう。このため、ブラシは、所定回数の研磨が行われた後や、所定時間の研磨が行われた後に、新たなものに交換する必要がある。ここでブラシの寿命が長くブラシの交換頻度が少ないほど、円盤状基板の生産性を高め、生産コストを抑えることができる。
本発明は、円盤状基板の研磨に用いられるブラシの寿命を延ばすことを目的とする。
かかる目的のもと、本発明が適用される円盤状基板の製造方法は、円周端面と円周端面に続く斜面とを有する円盤状基板を研磨して円盤状基板を製造する円盤状基板の製造方法であって、先端部に径大部を有するブラシによって円周端面を研磨するようにしたことを特徴とする。
ここで、径大部は、略球状に形成されていることを特徴とすることができる。また、ブラシは、積層された複数枚の円盤状基板の円周端面を研磨し、ブラシの径大部は、一の円盤状基板の斜面と、一の円盤状基板の隣に配置された他の円盤状基板の斜面との間に入り込むことが可能な大きさで形成されていることを特徴とすることができる。さらに、径大部は、ブラシの先端部を火であぶることにより形成されることを特徴とすることができる。
他の観点から捉えると、本発明が適用される円盤状基板の製造方法は、円周端面と円周端面に続く斜面とを有する円盤状基板を研磨して円盤状基板を製造する円盤状基板の製造方法であって、樹脂材料により形成され毛先が加熱処理されたブラシによって円周端面を研磨するようにしたことを特徴とする。
ここで、円周端面の研磨に用いられ先鋭化した毛先を再加熱し、再加熱を行ったブラシを用いて円周端面を研磨することを特徴とすることができる。
円盤状基板の研磨に用いられるブラシの寿命を、本発明を採用しない場合に比べ、延ばすことが可能となる。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1−1(a)〜(d)、図1−2(e)〜(h)は、本実施の形態が適用される円盤状基板(ディスク基板)の製造工程を示した図である。
(1次ラップ工程)
図1−1(a)は1次ラップ工程を示している。この工程でまず、ラッピングマシン40により1回目のラッピングを行い、円盤状(ドーナツ状)基板の原材料であるワーク10の表面11を平滑に研削する。
ここで図2は、ラッピングマシン40の構造を示した図である。
図2に示したラッピングマシン40は、ワーク10が載置される下定盤21aと、ワーク10を上部から押えつけワーク10に対しラッピングを行うための圧力を加える上定盤21bとを備えている。
ここで、下定盤21aの外周部には歯部42が設けられている。また、下定盤21aの中央部には太陽歯車44が設けられている。さらに下定盤21aには、ラッピングが行われる際にワーク10を位置決めする円盤状のキャリア30が設置されている。
キャリア30は、図2に示すラッピングマシン40では5個設置されている。このキャリア30の外周部には歯部32が設けられ、キャリア30は、この歯部32を介して下定盤21aの歯部42および太陽歯車44の双方に噛合している。また下定盤21aおよび上定盤21bの中心部には、これらを回転させるための回転軸46a,46bがそれぞれ設けられている。
この1次ラップ工程においては、まずラッピングマシン40の下定盤21aにキャリア30を設置する。次いでワーク10の載置を行う。
図3は、キャリア30を更に詳しく説明した図である。図3に示したキャリア30には、上述の通り、外周部に歯部32が設けられている。また、キャリア30には、ラッピングを行う際にワーク10が内部に載置される円形形状の孔部34が複数開けられている。この孔部34の直径は、ワーク10の直径よりわずかに大きくなっている。このような形態とすることで、ラッピングを行う際に、ワーク10の外周端の一部に余分な応力がかかるのを抑制することができる。
ここで本実施の形態では、孔部34の直径はワーク10の直径より、例えば、約1mm大きくなっている。また孔部34は、ほぼ等間隔で並んでおり、本実施の形態の場合、例えば35個設けられている。より詳細に説明すると、キャリア30には、キャリア30の中心に最も近い箇所に、周方向に沿って設けられ且つ等間隔に配置された5つの孔部34が設けられている。また、この5つの孔部34よりも外周側に、同じく、周方向に沿って設けられ且つ等間隔に配置された12個の孔部34が設けられている。さらに、この12個の孔部34の外周側(キャリア30の最外周側)に、周方向に沿って設けられ且つ等間隔に配置された18個の孔部34が設けられている。
キャリア30の材料としては、特に限定されないが、例えば、アラミド繊維やガラス繊維を混入することで強化されたエポキシ樹脂を使用することができる。
ここで、キャリア30における孔部34の内部にワーク10を載置した後は、上定盤21bをワーク10に接触するまで移動させ、ラッピングマシン40を稼働させる。
この際のラッピングマシン40の動作を図2を参照して説明する。ラッピングマシン40が稼働する際には、図の上方の回転軸46bを一方向に回転させ、上定盤21bを、同様な一方向に回転させる。また、図の下方の回転軸46aを、回転軸46bの回転とは逆方向に回転させ、下定盤21aを回転軸46aと同様な方向に回転させる。これにより下定盤21aの歯部42も回転軸46aと同様な方向に回転する。また中央部の太陽歯車44も、回転軸46aと同様な方向に回転する。
このように上定盤21b、下定盤21a、太陽歯車44を回転させることにより、これらの歯車に噛み合うキャリア30は、自転運動と公転運動とが組み合わされたいわゆる遊星運動を行う。同様に、キャリア30における孔部34の内部に載置されたワーク10も遊星運動を行う。このようなラッピングマシン40を用いることによりワーク10のラッピングをより精度よく、また迅速に行うことができる。
なお、本実施の形態におけるラッピングは、研削剤を用いて行うことができる。研削剤としては、特に限定されるものではないが、例えば、アルミナやダイヤモンドからなる研削剤をスラリー化して使用することができる。また、上定盤21bや下定盤21aに、これらの研削剤が分散して含まれた砥石を設けてもよい。
(内外周研削工程)
図1−1(b)は内外周研削工程を示している。この工程では、ワーク10の開孔12の内周面、およびワーク10の外周13の外周面の荒削りである研削を行う。また本実施の形態では、内周面と外周面の研削を同時に行う。具体的には、ワーク10の中心に設けられた開孔12を内周砥石22によって研削し、ワーク10の外周13を外周砥石23によって研削する。このとき、内周砥石22と外周砥石23とでワーク10を挟み込んで同時加工する。これによりワーク10の内径と外径の同心度を確保し易くなる。
また本実施の形態において、内周砥石22および外周砥石23は、その表面形状が波形となっている。付言すれば、内周砥石22および外周砥石23は、その表面に、山となる凸部と谷となる凹部とを有している。ここで凸部および凹部は、複数設けられるとともに、内周砥石22、外周砥石23の軸方向に沿って交互に設けられている。このため、本実施形態では、ワーク10の開孔12の内周面および外周13の外周面を研削することができるだけでなく、開孔12および外周13における縁部の面取りを併せて行うことが可能となる。
(内周研磨工程)
図1−1(c)は内周研磨工程を示している。この工程では、図1−1(b)に示した内外周研削工程にて研削を行ったワーク10の内周面を更に平滑にする研磨を行う。
具体的には、まずワーク10を積層し、図示しないホルダにセットする。そして、このホルダにセットされたワーク10の開孔12にブラシ24を挿入する。そして研磨液をワーク10の開孔12に流し込みながら、ブラシ24を高速で回転させる。これによりワーク10の内周面がブラシ24により研磨される。本実施形態では、このようにブラシ24を使用しているので、ワーク10の内周面の研磨が可能となると共に、上記内外周研削工程において面取りされた部分の研磨も可能となる。なお研磨液としては、例えば酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。
ここで図4は、内周研磨工程において使用するブラシ24の一例を示した図である。このブラシ24は、毛先が螺旋状に配列されたブラシ部61と、このブラシ部61の両端部に連続して形成され、一端と他端とを形成する軸62とを備えている。例えば0.85インチ等の小径ディスクの内周面を研磨するような場合は、ブラシ24の芯を細くする必要がある。そこで本実施の形態では、例えば、複数本のワイヤ(材質:例えば、軟鋼線材(SWRM)、硬鋼線材(SWRH)、ステンレス線材(SUSW)、黄銅線(BSW)など)の間に、ブラシの毛70(材質:例えばナイロン(デュポン社の商品名)などの樹脂材料)を挟み込み、この毛70が挟み込まれたワイヤをねじることで、ブラシ部61を形成している。ここで、ワイヤをねじってブラシ部61を形成することで、ブラシ部61に形成されるブラシの毛先を螺旋状とすることができる。また、ブラシ部61に形成されるブラシの毛先を螺旋状とすることで、挿入されるワーク10の開孔12にて、研磨液を軸方向に流すことが可能となる。その結果、研磨液の搬送を良好に行うことができる。
ここでブラシ部61について更に詳細に説明すると、ブラシ部61におけるブラシの毛70は、上記ワイヤにより支持される柱状の基部71と、先端に設けられ且つ基部71よりも径の大きい径大部72とを備えている。ここで径大部72は、略球状に形成されている。なお、この径大部72は図5に示す方法により形成することができる。
図5は、径大部72の形成方法を示した図である。
径大部72は、例えば同図(A)に示すように、ブラシ部61の下方に配置された火によって加熱し(火であぶり)、ブラシ部61の先端(毛70の先端)を溶融させることで形成することができる。即ち焼成処理を行うことで形成することができる。なおこの加熱の際には、例えば、ブラシ24を周方向に回転させる。また、火に対してブラシ24を軸方向に相対移動させる。
また、径大部72は、例えば同図(B)に示すように、ヒータ等の加熱源80に対しブラシ部61(毛70の先端)を近接または接触させることにより形成することもできる。なお、この加熱の際には、例えばブラシ部24を周方向に回転させる。
(2次ラップ工程)
図1−1(d)は2次ラップ工程を示している。この工程では、図1−1(a)に示した1次ラップ工程においてラッピングを行ったワーク10の表面11に対し再度ラッピングを行うことにより更に平滑に研削する。
この2次ラップ工程では、図2に示したラッピングマシン40を使用する。また、1次ラップ工程と同様に、キャリア30に設けられた複数の孔部34の各々にワーク10を載置する。そして、上定盤21b、下定盤21a、太陽歯車44を回転させることにより、キャリア30を遊星運動させ、孔部34内に載置されたワーク10の表面11を研磨する。
(外周研磨工程)
図1−2(e)は外周研磨工程を示している。この工程では、図1−1(b)に示した内外周研削工程において研削を行ったワーク10の外周面を更に平滑にする研磨を行う。
具体的には、まずワーク10の開孔12の部分に治具25を通してワーク10を積層させ、ワーク10を治具25にセットする。そして研磨液をワーク10の外周13の箇所に流し込みながら、積層したワーク10にブラシ26を接触させ、高速で回転させる。これにより、ワーク10の外周面を研磨することができる。
この際、研磨するのにブラシ26を使用しているので、ワーク10の外周面の研磨が可能となると共に、上記内外周研削工程において面取りされた部分の研磨も可能となる。なお研磨液としては、内周研磨工程の場合と同様に、例えば酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。
(1次ポリッシュ工程)
図1−2(f)は、1次ポリッシュ工程を示している。この工程では、図1−1(d)に示した2次ラップ工程においてラッピングを行ったワーク10の表面11を、ポリッシングマシン50を用いてポリッシングを行うことで更に研磨し平滑度を上げていく。このポリッシングマシン50は、上述したラッピングマシン40とほぼ同様な構成を有するが、下記に示すように研磨に使用する材料等が一部異なる。
この1次ポリッシュ工程では、例えばウレタンにより形成された硬質研磨布を用いる。また、この1次ポリッシュ工程では、酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを研磨材として用いることができる。
(2次ポリッシュ工程)
図1−2(g)は、2次ポリッシュ工程を示している。この工程では、図1−2(f)に示した1次ポリッシュ工程においてポリッシングを行ったワーク10の表面11を、精密ポリッシングを行うことで更に研磨し表面11の最終的な仕上げを行う。
この2次ポリッシュ工程では、例えばスエード状の軟質研磨布を用いる。また、この2次ポリッシュ工程では、酸化セリウム砥粒若しくはコロイダルシリカを水等の溶媒に分散してスラリー化したものを研磨材として用いることができる。
(最終洗浄・検査工程)
図1−2(h)は、最終洗浄・検査工程を示している。最終洗浄では、上述した一連の工程において使用した研磨剤等の除去を行う。洗浄には超音波を併用した洗剤(薬品)による化学的洗浄などの方法を用いることができる。
また、検査工程においては、例えばレーザを用いた光学式検査器により、ワーク10の表面の傷やひずみの有無等の検査が行われる。
ここで、図1−1(c)に示した内周研磨工程について更に詳細に説明する。
図6は、内周研磨工程を説明するための図である。
この内周研磨工程では、同図(A)および上記のとおり、不図示のホルダにセットされ積層されたワーク10の開孔12にブラシ24を挿入する。そして研磨液をワーク10の開孔12に流し込みながら、ブラシ24を高速で回転させる。これによりワーク10の内周面がブラシ24により研磨される。
ここで内周研磨が行われる際には、同図(B)(同図(A)のA部を拡大した図)に示すように、毛70の径大部72がワーク10の内周面(円周端面)15に接触し、内周面15が研磨される。
また本実施形態におけるワーク10の各々には、上記内外周研削工程によって面取りが施された結果、開口12に面するワーク10の縁部に、内周面15に連続した斜面(面取り部)16が形成されている。そして本実施形態では、同図(B)中、上方に位置するワーク10の斜面16と下方に位置するワーク10の斜面16との間に、径大部72が入り込む。これにより、ワーク10の斜面16に対する研磨も行われる。
ここで、ワーク10の内周面15の研磨は、例えば同図(C)に示すブラシ部61によって行うこともできる。ここでこのブラシ部61を構成する毛70の先端には、径大部72は設けられていない。
ところでこのような毛70を有するブラシ部61によって研磨を行う場合、毛70の先端が上方に位置するワーク10の斜面16と下方に位置するワーク10の斜面16との間(以下、「斜面間」と称する場合がある)に入り込みやすくなる。即ち、斜面間に毛70が集中しやすくなる。この結果、毛70と内周面15とが接触しにくくなり、内周面15の研磨レートが低下してしまう。また内周面15と斜面16との交点にピットが生じやすくなる。また、毛70の先端が早期に細くなりやすくブラシとしての機能が早期に低下しやすい。即ち、短寿命となりやすい。そこで本実施形態では、上記のように毛70の先端に径大部72を設ける構成としている。
径大部72を設けた場合、毛70が斜面間に入り込める余地が小さくなる。このため、
同図(C)に示したような斜面間への毛70の集中が起こらず、同図(B)に示すように毛70は内周面15に接触するようになる。このため、同図(C)に示した態様に比べ、加工レートが上昇する。また、径大部72を設けた場合、毛70と内周面15との接触面積も増加し、同図(C)に示した態様よりも加工レートが上昇する。さらに径大部72を設けた場合、毛70が細くなるまでに時間を要し、同図(C)に示した態様に比べ、寿命が長くなる。
ここで、本実施形態におけるブラシ24であっても研磨を行っていくと、径大部72が先鋭化し加工レートが低下してくる。そこでこのような場合は、図5に示した加熱処理を再度行うことで毛70の先端に径大部72を再度形成することができる。この結果、ブラシ24を廃棄等することなく再度使用することが可能となる。なお、研磨を行っていくと、先鋭化の他に毛70の長さが短くなる。この結果、毛70と内周面15等との接触圧が低下してしまう。このため、研磨を行うに従いブラシ24と内周面15との距離を縮めることが好ましい。また、ブラシ24には、ブラシ24のブラシ外径がワーク10の開孔12に対してやや大きいブラシを用いることも可能である。
なお、上記実施形態では、内周面研磨工程を一例に説明したが、外周面研磨工程において使用するブラシ26(図1―2(e)参照)の毛先に径大部を設けてもよい。
円盤状基板(ディスク基板)の製造工程を示した図である。 円盤状基板(ディスク基板)の製造工程を示した図である。 ラッピングマシンの構造を示した図である。 キャリアを説明した図である。 内周研磨工程において使用するブラシの一例を示した図である。 径大部の形成方法を示した図である。 内周研磨工程を説明するための図である。
10…ワーク、15…内周面、16…斜面、24…ブラシ、61…ブラシ部、72…径大部

Claims (6)

  1. 円周端面と当該円周端面に続く斜面とを有する円盤状基板を研磨して円盤状基板を製造する円盤状基板の製造方法であって、
    先端部に径大部を有するブラシによって前記円周端面を研磨するようにしたことを特徴とする円盤状基板の製造方法。
  2. 前記径大部は、略球状に形成されていることを特徴とする請求項1記載の円盤状基板の製造方法。
  3. 前記ブラシは、積層された複数枚の前記円盤状基板の前記円周端面を研磨し、
    前記ブラシの径大部は、一の前記円盤状基板の前記斜面と、当該一の円盤状基板の隣に配置された他の当該円盤状基板の当該斜面との間に入り込むことが可能な大きさで形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の円盤状基板の製造方法。
  4. 前記径大部は、前記ブラシの先端部を火であぶることにより形成されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の円盤状基板の製造方法。
  5. 円周端面と当該円周端面に続く斜面とを有する円盤状基板を研磨して円盤状基板を製造する円盤状基板の製造方法であって、
    樹脂材料により形成され毛先が加熱処理されたブラシによって前記円周端面を研磨するようにしたことを特徴とする円盤状基板の製造方法。
  6. 前記円周端面の研磨に用いられ先鋭化した前記毛先を再加熱し、当該再加熱を行った前記ブラシを用いて当該円周端面を研磨することを特徴とする請求項5記載の円盤状基板の製造方法。
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