JP2010212091A - Elastic contact - Google Patents

Elastic contact Download PDF

Info

Publication number
JP2010212091A
JP2010212091A JP2009057039A JP2009057039A JP2010212091A JP 2010212091 A JP2010212091 A JP 2010212091A JP 2009057039 A JP2009057039 A JP 2009057039A JP 2009057039 A JP2009057039 A JP 2009057039A JP 2010212091 A JP2010212091 A JP 2010212091A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
elastic
contact
protrusion
external electrode
elastic contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2009057039A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Makoto Yoshida
信 吉田
Kaoru Soeda
薫 添田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
Priority to JP2009057039A priority Critical patent/JP2010212091A/en
Publication of JP2010212091A publication Critical patent/JP2010212091A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an elastic contact capable of being connected to an external electrode of an electronic component with a proper contact pressure and including a protrusion which is not easily deformed even if the protrusion comes into contact with the external electrode. <P>SOLUTION: An elastic contact 20 includes a protrusion 23 at an end 22b thereof. The elastic contact 20 has an internal elastic layer formed with Ni or an alloy containing Ni, and is connected to an external electrode 42 of an electronic component 40 with a proper contact pressure. A surface layer covering the elastic layer is formed with Au, and the protrusion 23 is formed with any one of: an alloy of Cu and Ni; Ni; and Au. Since the alloy of Cu and Ni, and Ni, have a hardness higher than Au forming the surface layer, the protrusion 23 is not easily deformed even if the elastic contact 20 comes into contact with the external electrode 42 by a great pressing force. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体デバイスの外部電極に接続される弾性接触子に係わり、特に外部電極に対して良好な接圧で接触することが可能な弾性接触子に関する。   The present invention relates to an elastic contact connected to an external electrode of a semiconductor device, and more particularly to an elastic contact capable of contacting the external electrode with a good contact pressure.

以下の特許文献1には、弾性腕の先端に設けられた当接部23の一方の面に当接凸部23aが、他方の面に当接凸部23bが、互いに重ならない位置に形成されてなるスパイラル型の接続端子20が開示されている。この接続端子20は、Niの表面に金メッキを施すことにより形成されている。   In Patent Document 1 below, the contact protrusion 23a is formed on one surface of the contact portion 23 provided at the tip of the elastic arm, and the contact protrusion 23b is formed on the other surface at a position where they do not overlap each other. A spiral connection terminal 20 is disclosed. The connection terminal 20 is formed by performing gold plating on the surface of Ni.

ICパッケージなどの電子部品の底面には複数の平面電極1aが設けられており、それぞれの平面電極1aを基台11上に設けられたスパイラル状の接続端子20に弾圧させると、一方の当接凸部23aが平面電極1aに接触し、他方の当接凸部23bが基台11側の上側接続部17aに接触するため、平面電極1aと上側接続部17aとの間を短い経路で接続できるようになっている。   A plurality of planar electrodes 1 a are provided on the bottom surface of an electronic component such as an IC package. When each planar electrode 1 a is pressed against a spiral connection terminal 20 provided on the base 11, one abutment is made. Since the convex portion 23a contacts the flat electrode 1a and the other abutting convex portion 23b contacts the upper connecting portion 17a on the base 11 side, the flat electrode 1a and the upper connecting portion 17a can be connected by a short path. It is like that.

特許文献1記載のものは、スパイラル型の接続端子20が有するインダクタンス成分を低く抑えることを目的とするものであり、このため接側端子の先端の両面に設けられた一方の当接凸部23aと他方の当接凸部23bを、平面電極1aと上側接続部17aとの間に強固に挟み込んで接側端子20が弾性機能を失わせた状態で使用される。   The thing of patent document 1 aims at suppressing the inductance component which the spiral type connection terminal 20 has low, and, for this reason, one contact convex part 23a provided in both surfaces of the front-end | tip of a contact side terminal. And the other abutting convex portion 23b are used in a state in which the contact-side terminal 20 loses its elastic function by being firmly sandwiched between the planar electrode 1a and the upper connecting portion 17a.

特開2006−71518号公報JP 2006-71518 A

上記のようなスパイラル型の接続端子は、例えば電子部品の検査用ソケットやバーンイン装置用のソケットなどに使用される。電子部品を保持するために必要となる押圧力は、電子部品1のピン数が増えるにしたがって増大するところ、ピン数の増加が顕著な電子部品においては、今後もより大きな押圧力を発生させるソケットが必要になる。   The spiral connection terminal as described above is used, for example, for an inspection socket for an electronic component or a socket for a burn-in device. The pressing force required to hold the electronic component increases as the number of pins of the electronic component 1 increases. However, in an electronic component in which the increase in the number of pins is remarkable, a socket that will generate a larger pressing force in the future. Is required.

しかし、大きな押圧力を発生させるソケットは、全体的に堅牢な作りとする必要があることから大型化しやすくなり、コスト的にも安価とすること難しいという問題がある。   However, a socket that generates a large pressing force needs to be made robust as a whole, so that it is easy to increase the size and it is difficult to reduce the cost.

このため、接続端子の弾性腕を曲げ弾性係数の低い材料で形成すること、すなわち接続端子全体を曲げ弾性係数の高いNiなどの材料を使用せずにそれよりも曲げ弾性係数の低い材料(Cuなど)を用いて形成することが考えられる。しかしながら、接続端子全体を曲げ弾性係数の低い材料で形成した場合には、押圧力を受けたときに当接凸部が変形しやすくなり、平面電極1aと上側接続部17aとの間で接続不良が起きやすくなるという問題がある。   For this reason, the elastic arm of the connection terminal is formed of a material having a low bending elastic modulus, that is, the entire connection terminal is not made of a material such as Ni having a high bending elastic modulus, and a material having a lower bending elastic modulus (Cu Etc.). However, when the entire connection terminal is formed of a material having a low bending elastic modulus, the contact convex portion is likely to be deformed when subjected to a pressing force, resulting in poor connection between the planar electrode 1a and the upper connection portion 17a. There is a problem that is likely to occur.

本発明は上記従来の課題を解決するためのものであり、電子部品の外部電極と適度な接圧を有して接触することができ、接触後も容易に変形することのない突出部(当接凸部)を備えた弾性接触子を提供することを目的としている。   The present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and can be brought into contact with an external electrode of an electronic component with an appropriate contact pressure, and does not easily deform even after contact (a It is an object of the present invention to provide an elastic contactor provided with a contact projection).

本発明は、電子部品の外部電極に当接して電気的に接続される弾性腕を備えた弾性接触子において、
前記弾性腕の先端に、前記外部電極に突き当たる突出部が、前記弾性腕の表面を形成する第1の材料と同じ材料、または前記第1の材料よりも硬度の高い第2の材料で形成されていることを特徴とするものである。
The present invention provides an elastic contactor having an elastic arm that is in contact with and electrically connected to an external electrode of an electronic component.
At the tip of the elastic arm, a projecting portion that abuts against the external electrode is formed of the same material as the first material that forms the surface of the elastic arm, or a second material that is harder than the first material. It is characterized by that.

本発明では、前記弾性腕の先端の突出部が、弾性腕よりも硬度の高い材料で形成されているため、弾性腕が適度な弾性力を発揮して先端の突出部が電子部品の外部電極に当接しても突出部自体の変形を防止できる。このため、電子部品側の外部電極と弾性接触子との間の接続を良好にすることができる。   In the present invention, since the protruding portion at the tip of the elastic arm is formed of a material having a hardness higher than that of the elastic arm, the elastic arm exhibits an appropriate elastic force and the protruding portion at the tip is the external electrode of the electronic component. Even if it abuts, the deformation of the protrusion itself can be prevented. For this reason, the connection between the external electrode on the electronic component side and the elastic contact can be improved.

例えば、前記第1の材料がAuで形成されており、前記第2の材料がCuとNiの合金、NiまたはAuのいずれかで形成されているものとして構成できる。   For example, the first material may be made of Au, and the second material may be made of an alloy of Cu and Ni, or Ni or Au.

また前記突出部が、バンプボンダーで形成されたバンプとすることができる。
さらには、前記突出部の頂部が、平坦面で形成されているものが好ましい。
Further, the protruding portion can be a bump formed by a bump bonder.
Furthermore, it is preferable that the top of the protrusion is formed as a flat surface.

上記手段では、平面型の外部電極と突出部との接触状態を安定させることができる。
例えば、前記突出部は、頂部の面積よりも底部の面積の方が広い裁頭円錐形状である。
With the above means, the contact state between the planar external electrode and the protrusion can be stabilized.
For example, the projecting portion has a truncated conical shape in which the area of the bottom is wider than the area of the top.

上記手段では、当接後も変形しにくい突出部とすることができる。
また前記弾性腕が渦巻き形状に形成されるものである。
With the above-described means, it is possible to provide a protruding portion that is not easily deformed even after contact.
The elastic arm is formed in a spiral shape.

本発明では、電子部品側の外部電極に対し、弾性腕の先端部に設けられた突出部が適度な弾性力を有して接触することができる。しかも接触後において突出部の変形を防止することができるため、電気的に良好な接続状態とすることができる。   In the present invention, the protrusion provided at the tip of the elastic arm can contact the external electrode on the electronic component side with an appropriate elastic force. Moreover, since the deformation of the protruding portion can be prevented after contact, an electrically good connection state can be obtained.

本発明の実施形態としての弾性接触子を拡大して示す平面図、The top view which expands and shows the elastic contact as an embodiment of the present invention, 弾性腕の断面図、Cross section of elastic arm, 弾性接触子を備えた接続装置の部分断面図、A partial cross-sectional view of a connection device with an elastic contact, 図3に示す接続装置の弾性接触子付近を示す拡大断面図、The expanded sectional view which shows the elastic contactor vicinity of the connection apparatus shown in FIG. 電子部品側の平面電極と接触した状態を示す図4同様の拡大断面図、FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view similar to FIG.

図1は本発明の実施形態としての弾性接触子を拡大して示す平面図、図2は弾性腕の断面図、図3は図1の弾性接触子を備えた接続装置の部分断面図、図4は図3に示す接続装置の弾性接触子付近を示す拡大断面図、図5は電子部品側の平面電極と接触した状態を示す図4同様の拡大断面図である。   FIG. 1 is an enlarged plan view showing an elastic contact as an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of an elastic arm, and FIG. 3 is a partial cross-sectional view of a connecting device provided with the elastic contact of FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing the vicinity of the elastic contact of the connecting device shown in FIG. 3, and FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view similar to FIG.

図1に示すように、本発明の弾性接触子20は、支持部21と弾性腕22が一体に連続して形成されている。弾性腕22は例えば渦巻き形状に形成されており、弾性腕22の巻き始端である基端部22aが、支持部21と一体化されている。弾性腕22の巻き終端である先端部22bは、渦巻きのほぼ中心部に位置している。先端部22bの表面には、上方(図4のZ1方向)に突出する突出部23が形成されている。   As shown in FIG. 1, in the elastic contact 20 of the present invention, a support portion 21 and an elastic arm 22 are integrally formed continuously. The elastic arm 22 is formed in, for example, a spiral shape, and a base end portion 22 a that is a winding start end of the elastic arm 22 is integrated with the support portion 21. The tip 22b, which is the winding end of the elastic arm 22, is located substantially at the center of the spiral. On the surface of the tip 22b, a protrusion 23 is formed that protrudes upward (Z1 direction in FIG. 4).

図4及び図5に示すように、弾性接触子20は先端部22bが基端部22aよりも上方に突出するように立体成形されており、基端部22aを基準として先端部22bがZ方向に弾性変形可能である。   As shown in FIGS. 4 and 5, the elastic contact 20 is three-dimensionally shaped so that the distal end portion 22b protrudes above the proximal end portion 22a, and the distal end portion 22b is in the Z direction with reference to the proximal end portion 22a. It can be elastically deformed.

なお、本発明では、弾性腕22の形状は渦巻き形状であることに限定されない。例えば、弾性腕22は帯状(直線状)や湾曲形状等であってもよい。   In the present invention, the shape of the elastic arm 22 is not limited to the spiral shape. For example, the elastic arm 22 may have a belt shape (straight shape), a curved shape, or the like.

図2に断面図で示すように、弾性腕22は、芯部22Aと芯部22Aの周囲を覆う弾性層22Bと、弾性層22Bの表面を覆う表面層22Cを有している。芯部22Aは、例えば、銅(Cu)または銅を含む合金の単層である。銅合金は、高い電気導電度と高い機械的強度を有するCu,Si,Niを有するコルソン合金が好ましく使用される。コルソン合金は、例えばCu−Ni−Si−Mgで、Cuが96.2質量%、Niが3.0質量%、Si(ケイ素)が0.65質量%、Mg(マグネシウム)が0.15質量%のものが使用される。   As shown in a cross-sectional view in FIG. 2, the elastic arm 22 includes a core portion 22A, an elastic layer 22B that covers the periphery of the core portion 22A, and a surface layer 22C that covers the surface of the elastic layer 22B. The core 22A is, for example, a single layer of copper (Cu) or an alloy containing copper. As the copper alloy, a Corson alloy having Cu, Si, Ni having high electric conductivity and high mechanical strength is preferably used. The Corson alloy is, for example, Cu—Ni—Si—Mg, Cu is 96.2 mass%, Ni is 3.0 mass%, Si (silicon) is 0.65 mass%, and Mg (magnesium) is 0.15 mass. % Are used.

弾性層22Bは、導電性であり且つ高い機械的強度と高い曲げ弾性係数を発揮する金属材料であり、ニッケル(Ni)層またはNiを含む合金層である。Ni合金は、Ni−X合金(ただしXは、P(リン)、W(タングステン)、Mn(マンガン)、Ti、Be(ベリリウム)、Co(コバルト)、B(ホウ素)のいずれか一種以上)が使用される。   The elastic layer 22B is a metal material that is conductive and exhibits high mechanical strength and a high flexural modulus, and is a nickel (Ni) layer or an alloy layer containing Ni. Ni alloy is Ni-X alloy (where X is one or more of P (phosphorus), W (tungsten), Mn (manganese), Ti, Be (beryllium), Co (cobalt), B (boron)). Is used.

弾性層22Bは、芯部22Aの周囲に電解メッキまたは無電解メッキを施すことで形成される。弾性層22Bは、好ましくは無電解メッキで形成されたNi−P合金である。Ni−P合金では、リン(P)の濃度を10at%以上で30at%以下(より好ましくは17〜25at%)とすることにより、少なくとも一部が非晶質となり(好ましくは全体が非晶質)、高い弾性係数と高い引っ張り強度を得ることができる。あるいは、弾性層22BはNi−W合金で形成される。この場合もタングステン(W)の濃度を10at%以上で30at%以下とすることにより、少なくとも一部が非晶質となり(好ましくは全体が非晶質)、高い弾性係数と高い引っ張り強度を得ることができる。   The elastic layer 22B is formed by performing electrolytic plating or electroless plating around the core portion 22A. The elastic layer 22B is preferably a Ni-P alloy formed by electroless plating. In the Ni-P alloy, by setting the concentration of phosphorus (P) to 10 at% or more and 30 at% or less (more preferably 17 to 25 at%), at least a part becomes amorphous (preferably the whole is amorphous). ), High elastic modulus and high tensile strength can be obtained. Alternatively, the elastic layer 22B is formed of a Ni—W alloy. Also in this case, by setting the tungsten (W) concentration to 10 at% or more and 30 at% or less, at least a part becomes amorphous (preferably the whole is amorphous), and a high elastic modulus and a high tensile strength can be obtained. Can do.

図2において、弾性層22Bの断面積は、芯部22Aの断面積の20%以上で80%以下であることが好ましい。この範囲であると、芯部22Aが導電性とばね性(弾性)の双方の機能を発揮できる。また図2の断面図において、芯部22Aの厚さ寸法および幅寸法は、共に10μm以上で100μm以下であることが好適である。   In FIG. 2, the cross-sectional area of the elastic layer 22B is preferably 20% or more and 80% or less of the cross-sectional area of the core portion 22A. Within this range, the core 22A can exhibit both functions of conductivity and springiness (elasticity). In the cross-sectional view of FIG. 2, the thickness and width of the core portion 22A are preferably 10 μm or more and 100 μm or less.

ただし、弾性層22Bが導電性および弾性を有するため、芯部22Aが形成されず、弾性層22Bのみで形成されてもよい。   However, since the elastic layer 22B has conductivity and elasticity, the core portion 22A may not be formed and may be formed only by the elastic layer 22B.

また表面層22Cの材料(第1の材料)としては、弾性腕22の導電性を高めるAuが好適に使用される。   As the material (first material) of the surface layer 22C, Au that enhances the conductivity of the elastic arm 22 is preferably used.

弾性接触子20は、例えば、薄い導電性金属板を打ち抜いて芯部22Aを形成し、この芯部22Aの表面に弾性層22B、さらには表面層22Cを上述のメッキ処理で形成される。あるいは、弾性接触子20は、芯部22Aを形成する工程を含むすべての工程をメッキ工程(電鋳)により形成することもできる。   For example, the elastic contact 20 is formed by punching a thin conductive metal plate to form a core portion 22A, and an elastic layer 22B and a surface layer 22C are formed on the surface of the core portion 22A by the above-described plating process. Or the elastic contactor 20 can also form all the processes including the process of forming 22 A of core parts by a plating process (electroforming).

例えば、後述する基材シート16とは別個のシートの表面に複数の弾性接触子20が複数のメッキ工程を経て形成され、シートが、基材シート16に重ね合わされて、それぞれの弾性接触子20が、導電性接着剤などで接続ランド17aに接合される(図4参照)。   For example, a plurality of elastic contacts 20 are formed through a plurality of plating processes on the surface of a sheet separate from the base sheet 16 described later, and the sheets are overlapped with the base sheet 16 so that each elastic contact 20 Is bonded to the connection land 17a with a conductive adhesive or the like (see FIG. 4).

なお、それぞれの弾性接触子20は、基材シート16に設置された後に、例えば、外力が与えられて立体形状に形成される。このとき、加熱処理で内部の残留応力が除去され、弾性接触子20は立体形状で弾性力を発揮できるようになる。   In addition, after each elastic contactor 20 is installed in the base material sheet 16, for example, external force is given and it is formed in a three-dimensional shape. At this time, the internal residual stress is removed by the heat treatment, and the elastic contact 20 can exhibit an elastic force in a three-dimensional shape.

突出部23の形成は、例えばバンプボンダーを用いて形成することができる。すなわち、弾性接触子20をボンディングステージ上面の規定位置に保持し、所定の金属ワイヤの先端部を溶かして形成したボールを毛細管によって、弾性接触子20の先端部22bの表面に移動させ、前記ボールを弾性接触子20の先端部22bの表面に接合することにより、バンプから形成される突出部23を得ることができる。   The protrusion 23 can be formed using, for example, a bump bonder. That is, the ball formed by holding the elastic contact 20 at a predetermined position on the upper surface of the bonding stage and melting the tip of a predetermined metal wire is moved to the surface of the tip 22b of the elastic contact 20 by a capillary tube. Is bonded to the surface of the front end portion 22b of the elastic contactor 20, whereby the protruding portion 23 formed from the bump can be obtained.

突出部23を形成する金属ワイヤの材料(第2の材料)はAuを使用することができる。これにより、バンプボンダーを用いて、弾性腕22の先端部22bの表面層22Cに対し、突出部23を同じAu(第2の材料)を用いて容易に形成することが可能となる。   Au can be used as the metal wire material (second material) for forming the protrusion 23. Thereby, it becomes possible to easily form the protrusion 23 using the same Au (second material) with respect to the surface layer 22C of the tip 22b of the elastic arm 22 using a bump bonder.

また突出部23は、先端部22b上に電鋳法を用いて形成することもできる。この場合、突出部23を形成する第2の材料としては、表面層22Cを形成するAu(第1の材料)よりも硬度の高い材料、例えばCuとNiの合金、あるいはNi単体などが好適に使用される。   Moreover, the protrusion part 23 can also be formed on the front-end | tip part 22b using an electroforming method. In this case, as the second material for forming the protrusion 23, a material having higher hardness than Au (first material) for forming the surface layer 22C, for example, an alloy of Cu and Ni, or Ni alone is preferably used. used.

このように、突出部23を硬度の高い第2の材料で形成しておくと、突出部23が電子部品1側の外部電極42に強く突き当たったとしても容易に変形することを防止することができる。このため、外部電極42と弾性接触子20との間に接触不良が生じにくくなり、良好な接続状態とすることができる。   As described above, if the protrusion 23 is formed of the second material having high hardness, it is possible to prevent the protrusion 23 from being easily deformed even if it strongly hits the external electrode 42 on the electronic component 1 side. it can. For this reason, it becomes difficult to produce a contact failure between the external electrode 42 and the elastic contactor 20, and it can be set as a favorable connection state.

突出部23の形状としては、頂部23aが平坦面で形成された凸形状が好ましく、より好ましくは底部23b側の面積が頂部23a側の面積よりも広い裁頭円錐形状である。なお、頂部23aの直径は、おおよそ20〜30μmである。   The shape of the protrusion 23 is preferably a convex shape in which the top 23a is formed as a flat surface, and more preferably has a truncated cone shape in which the area on the bottom 23b side is wider than the area on the top 23a side. In addition, the diameter of the top part 23a is about 20-30 micrometers.

このように、突出部23の頂部23aが平坦面で形成されていると、平面型の外部電極(平面電極)42に対して突出部23の頂部23aが安定して接触することが可能となる。よって、外部電極42から受ける力が突出部23に均等に作用しやすくなり、突出部23自体の変形を防止することが可能となる。   Thus, when the top 23a of the protrusion 23 is formed as a flat surface, the top 23a of the protrusion 23 can stably come into contact with the planar external electrode (planar electrode) 42. . Therefore, the force received from the external electrode 42 is likely to act on the protrusion 23 evenly, and deformation of the protrusion 23 itself can be prevented.

さらに突出部23が裁頭円錐形状で形成されていると、弾性接触子20に大きな押圧力が作用したとしても突出部23が押し潰され難くすることができる。このため、外部電極42と弾性接触子20との間の電気的な接続を良好な状態を維持することができ、接触不良の問題を解消することが可能となる。   Further, when the protruding portion 23 is formed in a truncated cone shape, the protruding portion 23 can be hardly crushed even if a large pressing force acts on the elastic contactor 20. For this reason, the electrical connection between the external electrode 42 and the elastic contact 20 can be maintained in a good state, and the problem of poor contact can be solved.

次に、上記弾性接触子20を用いた接続装置について説明する。
図3に示す接続装置10は、基台11を有している。基台11の平面形状は例えば四角形状であり、基台11の4辺のそれぞれにはほぼ垂直に立ち上がる側壁部10aが形成されている。4辺の側壁部10aで囲まれた領域は凹部であり、その底部10bの上面が支持面12である。支持面12の上には、接続シート15が設置されている。接続シート15は、例えば、可撓性の基材シート16の表面に複数の弾性接触子20が設けられた構成である。
Next, a connection device using the elastic contact 20 will be described.
A connecting device 10 shown in FIG. 3 has a base 11. The planar shape of the base 11 is, for example, a quadrangular shape, and side walls 10 a that rise substantially vertically are formed on each of the four sides of the base 11. A region surrounded by the four side wall portions 10 a is a concave portion, and the upper surface of the bottom portion 10 b is the support surface 12. A connection sheet 15 is installed on the support surface 12. The connection sheet 15 has, for example, a configuration in which a plurality of elastic contacts 20 are provided on the surface of a flexible base sheet 16.

図4に示すように、基材シート16には、多数のスルーホール16aが形成され、それぞれのスルーホール16aの内周面には導電体層17がメッキなどの手段で形成されている。基材シート16の表面には、導電体層17に導通する表側接続ランド17aが形成され、基材シート16の裏面には、導電体層17に導通する裏側接続ランド17bが形成されている。   As shown in FIG. 4, a large number of through holes 16 a are formed in the base sheet 16, and a conductor layer 17 is formed on the inner peripheral surface of each through hole 16 a by means such as plating. A front-side connection land 17 a that conducts to the conductor layer 17 is formed on the surface of the base material sheet 16, and a back-side connection land 17 b that conducts to the conductor layer 17 is formed on the back surface of the base material sheet 16.

そして、個々の弾性接触子20の支持部21が、表側接続ランド17aの表面に導電性接着剤などで接合されている。   And the support part 21 of each elastic contactor 20 is joined to the surface of the front side connection land 17a with a conductive adhesive.

図4に示すように、基材シート16の裏面側では、裏側接続ランド17bに個別に接続する導電性材料のバンプ電極18が形成されている。図3に示すように、接続シート15が基台10Aの底部10bの表面である支持面12に設置されると、バンプ電極18が、支持面12に設けられた導電部(図示せず)に接続される。   As shown in FIG. 4, on the back surface side of the base material sheet 16, bump electrodes 18 made of a conductive material that are individually connected to the back side connection land 17 b are formed. As shown in FIG. 3, when the connection sheet 15 is installed on the support surface 12 that is the surface of the bottom portion 10 b of the base 10 </ b> A, the bump electrode 18 is formed on a conductive portion (not shown) provided on the support surface 12. Connected.

支持面12上での弾性接触子20の配列ピッチは、例えば2mm以下であり、あるいは1mm以下である。弾性接触子20の外形寸法の最大値も2mm以下であり、あるいは1mm以下である。   The arrangement pitch of the elastic contacts 20 on the support surface 12 is, for example, 2 mm or less, or 1 mm or less. The maximum value of the outer dimension of the elastic contact 20 is also 2 mm or less, or 1 mm or less.

なお上記の接続シート15の構成は一例である。例えば、図4では基材シート16にスルーホール16aが設けられているが、スルーホール16aが形成されず、基材シート16の表面に弾性接触子20と導通する配線パターンが形成された構成でもよい。   The configuration of the connection sheet 15 is an example. For example, in FIG. 4, the through hole 16 a is provided in the base sheet 16, but the through hole 16 a is not formed, and the wiring pattern that is electrically connected to the elastic contact 20 is formed on the surface of the base sheet 16. Good.

図3に示すように、接続装置10は電子部品40が設置される。電子部品40はICパッケージ(半導体デバイス)などであり、ICベアチップなどの各種電子素子が本体部41内に密閉されている。本体部41の底面41aには、外部電極42として複数の平面型の電極(平面電極)が設けられており、それぞれの外部電極42が本体部41内の回路に導通している。この実施の形態の電子部品40は外部電極42が平面型の電極(平面電極)であるが、その他例えば球状電極、あるいは裁頭円錐形状の電極などの場合もある。   As shown in FIG. 3, the connection device 10 is provided with an electronic component 40. The electronic component 40 is an IC package (semiconductor device) or the like, and various electronic elements such as an IC bare chip are sealed in the main body 41. On the bottom surface 41 a of the main body 41, a plurality of planar electrodes (planar electrodes) are provided as the external electrodes 42, and each external electrode 42 is electrically connected to the circuit in the main body 41. In the electronic component 40 of this embodiment, the external electrode 42 is a planar electrode (planar electrode), but there may be other cases such as a spherical electrode or a truncated cone electrode.

接続装置10は、例えば、電子部品40の検査用ソケットであり、図3に示すように、被検査物である電子部品40が、基台11の凹部11A内に装着される。このとき、電子部品40は、本体部41の底面41aに設けられた個々の外部電極42が弾性接触子20の上に設置されるように位置決めされる。基台11の上には図示しない押圧用の蓋体が設けられており、この蓋体を基台11上に被せると、この蓋体により電子部品40が矢印方向へ押圧される。   The connection device 10 is, for example, an inspection socket for the electronic component 40, and the electronic component 40 that is an object to be inspected is mounted in the recess 11 </ b> A of the base 11 as shown in FIG. 3. At this time, the electronic component 40 is positioned so that each external electrode 42 provided on the bottom surface 41 a of the main body 41 is placed on the elastic contactor 20. A pressing lid (not shown) is provided on the base 11. When this lid is placed on the base 11, the electronic component 40 is pressed in the direction of the arrow by the lid.

図5に示すように、この押圧力により、それぞれの外部電極42が弾性接触子20に押し付けられる。このとき、外部電極42が弾性腕22の先端に設けられた突出部23に突き当たり、立体形状の弾性腕22が圧縮されて、外部電極42と弾性接触子20とが個別に導通させられ、電子部品40の本体部41内の回路が断線しているか否か、本体部41内の回路の動作試験が行われる。   As shown in FIG. 5, each external electrode 42 is pressed against the elastic contact 20 by this pressing force. At this time, the external electrode 42 hits the protruding portion 23 provided at the tip of the elastic arm 22, the three-dimensional elastic arm 22 is compressed, and the external electrode 42 and the elastic contact 20 are individually connected to each other. An operation test of the circuit in the main body 41 is performed to determine whether or not the circuit in the main body 41 of the component 40 is disconnected.

弾性接触子20は、弾性腕22が弾性層22Bを有しており、突出部23は表面層22Cを形成する第1の材料(Au)と同じ硬度か、それよりも高い硬度の第2の材料で形成されている。このため、弾性接触子20は、適度な弾性(ばね定数)と高い導電性を有するとともに、突出部23は大きな押圧力によっても押し潰されにくい。   In the elastic contact 20, the elastic arm 22 has an elastic layer 22 </ b> B, and the protrusion 23 has a second hardness that is the same as or higher than the first material (Au) that forms the surface layer 22 </ b> C. Made of material. For this reason, the elastic contact 20 has moderate elasticity (spring constant) and high conductivity, and the protrusion 23 is not easily crushed even by a large pressing force.

よって、押圧力により外部電極42が弾性接触子20に押し付けられても、弾性接触子20は外部電極42を押し返し、この間に適度な接圧を確保することができ、さらには突出部23と外部電極42との間の接続状態が安定するため、電気的に良好な接続状態とすることができる。   Therefore, even if the external electrode 42 is pressed against the elastic contact 20 by the pressing force, the elastic contact 20 can push back the external electrode 42 to ensure an appropriate contact pressure therebetween, and further, the protrusion 23 and the external contact can be secured. Since the connection state between the electrodes 42 is stable, an electrically good connection state can be obtained.

上記実施の形態では、先端部22bに突出部23を1つ設けた構成を示して説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、複数の突出部23を先端部22bに形成する構成であってもよい。このような構成では押圧力を各突出部23に分散させることができるため、より効果的に突出部23の変形を防止することが可能となり、電気的な接続をより確実なものとすることができる。   In the above-described embodiment, the configuration in which one protrusion 23 is provided on the tip 22b has been described. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and a plurality of protrusions 23 are provided on the tip 22b. The structure formed in this may be sufficient. In such a configuration, since the pressing force can be distributed to each protrusion 23, it is possible to more effectively prevent the protrusion 23 from being deformed and to make the electrical connection more reliable. it can.

また上記実施の形態では、突出部23を先端部22bのみに設けた構成を示して説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、先端部22b以外の弾性腕22上のいずれかの位置に突出部23を1ヶ、または弾性腕22に沿ってその表面に複数形成する構成とすることもできる。   In the above-described embodiment, the configuration in which the protruding portion 23 is provided only at the distal end portion 22b has been described. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the elastic arm 22 other than the distal end portion 22b is provided. It is also possible to adopt a configuration in which one protrusion 23 is formed at any of the positions, or a plurality of protrusions 23 are formed on the surface along the elastic arm 22.

10 接続装置
10a 基台の側壁部
10b 基台の底部
11 基台
12 支持面
15 接続シート
16 基材シート
16a スルーホール
17 導電体層
17b 接続ランド
18 バンプ電極
20 弾性接触子
21 支持部
22 弾性腕
22a 基端部
22b 先端部
23 突出部
23a 突出部の頂部
23b 突出部の底部
22A 芯部
22B 弾性層
22C 表面層
40 電子部品
41 電子部品の本体部
41a 本体部の底面
42 外部電極(平面電極)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Connection apparatus 10a Base part side wall part 10b Base base part 11 Base 12 Support surface 15 Connection sheet 16 Base sheet 16a Through hole 17 Conductor layer 17b Connection land 18 Bump electrode 20 Elastic contactor 21 Support part 22 Elastic arm 22a Base end part 22b Tip part 23 Projection part 23a Projection part top part 23b Projection part bottom part 22A Core part 22B Elastic layer 22C Surface layer 40 Electronic component 41 Electronic component body part 41a Body part bottom face 42 External electrode (planar electrode)

Claims (6)

電子部品の外部電極に当接して電気的に接続される弾性腕を備えた弾性接触子において、
前記弾性腕の先端に、前記外部電極に突き当たる突出部が、前記弾性腕の表面を形成する第1の材料と同じ材料、または前記第1の材料よりも硬度の高い第2の材料で形成されていることを特徴とする弾性接触子。
In an elastic contact provided with an elastic arm that contacts and electrically connects to an external electrode of an electronic component,
At the tip of the elastic arm, a projecting portion that abuts against the external electrode is formed of the same material as the first material that forms the surface of the elastic arm, or a second material that is harder than the first material. An elastic contact characterized by the above.
前記第1の材料がAuで形成されており、前記第2の材料がCuとNiの合金、NiまたはAuのいずれかで形成されている請求項1記載の弾性接触子。   The elastic contact according to claim 1, wherein the first material is made of Au, and the second material is made of an alloy of Cu and Ni, or Ni or Au. 前記突出部が、バンプボンダーで形成されたバンプである請求項1または2記載の弾性接触子。   The elastic contact according to claim 1, wherein the protrusion is a bump formed by a bump bonder. 前記突出部の頂部が、平坦面で形成されている請求項1ないし3のいずれか1項に記載の弾性接触子。   The elastic contactor of any one of Claim 1 thru | or 3 with which the top part of the said protrusion part is formed in the flat surface. 前記突出部は、頂部の面積よりも底部の面積の方が広い裁頭円錐形状である請求項4記載の弾性接触子。   The elastic contact according to claim 4, wherein the protruding portion has a truncated cone shape in which the area of the bottom portion is wider than the area of the top portion. 前記弾性腕が渦巻き形状に形成されている請求項1ないし5のいずれか1項に記載の弾性接触子。   The elastic contact according to any one of claims 1 to 5, wherein the elastic arm is formed in a spiral shape.
JP2009057039A 2009-03-10 2009-03-10 Elastic contact Withdrawn JP2010212091A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009057039A JP2010212091A (en) 2009-03-10 2009-03-10 Elastic contact

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009057039A JP2010212091A (en) 2009-03-10 2009-03-10 Elastic contact

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010212091A true JP2010212091A (en) 2010-09-24

Family

ID=42972045

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009057039A Withdrawn JP2010212091A (en) 2009-03-10 2009-03-10 Elastic contact

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010212091A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4924856B1 (en) * 2011-09-14 2012-04-25 オムロン株式会社 Contact and contact manufacturing method
JP2015032583A (en) * 2013-07-31 2015-02-16 ハイパータック ソシエテ アノニム Contact member between substrate and device, and electrical connector including the contact member
JP2016161418A (en) * 2015-03-02 2016-09-05 株式会社東芝 Electronic component measurement apparatus
KR20200057579A (en) * 2018-11-15 2020-05-26 주식회사 이노글로벌 Elastically contactable by-directional electrically conductive module

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326379A (en) * 1998-03-12 1999-11-26 Fujitsu Ltd Contactor for electronic component and manufacturing method thereof and apparatus for manufacturing contactor
JP2000249739A (en) * 1999-02-26 2000-09-14 Nec Corp Test carrier and inspection method for bare chip
JP2002529903A (en) * 1998-11-10 2002-09-10 フォームファクター,インコーポレイテッド Oriented sharp tip structure
JP2002343478A (en) * 2001-05-16 2002-11-29 Tyco Electronics Amp Kk Electrical contact and electrical connection member using the same
JP2006012427A (en) * 2004-06-22 2006-01-12 Sumitomo Electric Ind Ltd Contact terminal, its manufacturing method, probe card equipped with the contact terminal, and electronic device
JP2006525672A (en) * 2003-04-10 2006-11-09 フォームファクター, インコーポレイテッド Layered microelectronic contact and method of manufacturing the same
JP2008311017A (en) * 2007-06-13 2008-12-25 Alps Electric Co Ltd Connecting device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326379A (en) * 1998-03-12 1999-11-26 Fujitsu Ltd Contactor for electronic component and manufacturing method thereof and apparatus for manufacturing contactor
JP2002529903A (en) * 1998-11-10 2002-09-10 フォームファクター,インコーポレイテッド Oriented sharp tip structure
JP2000249739A (en) * 1999-02-26 2000-09-14 Nec Corp Test carrier and inspection method for bare chip
JP2002343478A (en) * 2001-05-16 2002-11-29 Tyco Electronics Amp Kk Electrical contact and electrical connection member using the same
JP2006525672A (en) * 2003-04-10 2006-11-09 フォームファクター, インコーポレイテッド Layered microelectronic contact and method of manufacturing the same
JP2006012427A (en) * 2004-06-22 2006-01-12 Sumitomo Electric Ind Ltd Contact terminal, its manufacturing method, probe card equipped with the contact terminal, and electronic device
JP2008311017A (en) * 2007-06-13 2008-12-25 Alps Electric Co Ltd Connecting device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4924856B1 (en) * 2011-09-14 2012-04-25 オムロン株式会社 Contact and contact manufacturing method
JP2012195277A (en) * 2011-09-14 2012-10-11 Omron Corp Contact and method of manufacturing the same
JP2015032583A (en) * 2013-07-31 2015-02-16 ハイパータック ソシエテ アノニム Contact member between substrate and device, and electrical connector including the contact member
JP2016161418A (en) * 2015-03-02 2016-09-05 株式会社東芝 Electronic component measurement apparatus
KR20200057579A (en) * 2018-11-15 2020-05-26 주식회사 이노글로벌 Elastically contactable by-directional electrically conductive module
KR102147744B1 (en) * 2018-11-15 2020-10-15 주식회사 이노글로벌 Elastically contactable by-directional electrically conductive module

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4884485B2 (en) High performance electrical connector
JP2006162617A (en) Connector for semiconductor package test
JPWO2008041484A1 (en) Joining method between metal terminals using elastic contact
JP5944755B2 (en) Vertical motion probe card
WO2005065238A2 (en) Micro pin grid array with pin motion isolation
JP2008180689A (en) Inspection probe device, and socket for inspection using the same
WO2007041585A1 (en) Cantilever probe structure for a probe card assembly
JP2005265720A (en) Electric contact structure, and forming method therefor, and element inspection method
JP2013007700A (en) Electric contact
JP2012173263A (en) Electrical contact and electrical contact unit
JP2008078032A (en) Connecting device
JP2010212091A (en) Elastic contact
JPWO2008111394A1 (en) Contact sheet and connection device provided with the same
KR20080105604A (en) Advanced probe pin for semiconductor test
JP2009139298A (en) Probe card
JP2010044983A (en) Contact and its manufacturing method, and connector equipped with the same, and its manufacturing method
KR100825294B1 (en) Probe
JP5386863B2 (en) Semiconductor device
JP2008311017A (en) Connecting device
JP3578708B2 (en) IC socket
JP3815571B2 (en) Manufacturing method of sheet-like probe
JP4365294B2 (en) Spiral connection terminal
JP5022408B2 (en) Element inspection method for electrical contact structure
KR20170072693A (en) Device for test socket having crown-type surface-treated pad and method for manufacturing the same
JP2008157800A (en) Connection member

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110915

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121228

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20130130